JP2001296242A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
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- JP2001296242A JP2001296242A JP2000116537A JP2000116537A JP2001296242A JP 2001296242 A JP2001296242 A JP 2001296242A JP 2000116537 A JP2000116537 A JP 2000116537A JP 2000116537 A JP2000116537 A JP 2000116537A JP 2001296242 A JP2001296242 A JP 2001296242A
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Abstract
定装置を提供することである。 【解決手段】光源1の光を測定対象7に投光する光学的
測定装置において、光源1の光の結像位置に、測定対象
7に応じた任意形状の開口を有するスリット4を設けた
もので、たとえば、スリット4は、帯状の移動する測定
対象7の流れ方向に沿って長い長方形や、測定対象7の
形状に対応した凹形状又は二重丸形状などの開口とし、
光を投光する光学的測定装置である。
Description
定する光学的測定装置に関するものである。
投光し、その反射光や、透過光から材質、厚さ、成分、
水分等を測定する光学的測定装置が知られている。
は、測定対象に投光されるスポットは、丸や四角形など
に限られており、また、特別な配慮はなされていなかっ
た。このため、測定対象の種々の条件対応できず、十分
な測定精度が得られない等の問題点があった。
な構成で、高精度の測定が可能な光学的測定装置を提供
することである。
測定対象に投光する光学的測定装置において、光源の光
の結像位置に測定対象に応じた任意形状の開口を有する
スリットを設けたことを特徴とする光学的測定装置で、
スリットは、帯状の移動する測定対象の流れ方向に沿っ
て長い長方形や測定対象の形状に対応した形状の開口と
した光学的測定装置である。
の光学的測定装置の構成説明図である。図1において、
投光ランプのような光源1から放射される放射エネルギ
ー光は、レンズ1Aを介しモータMで回転する回転板2
に投光される。この回転板2は、円盤の円周上に配置さ
れた複数のフィルタ31〜3Nを有しこれが分光手段を
構成し、光源1からの光Lは、測定時に各フィルタ31
〜3Nのいずれかを順次透過して集光される。光源1の
集光・結像位置に任意形状の異形の開口を有するスリッ
ト4が設けられ、ミラー5を介し、投光窓ないし投光レ
ンズよりなる光学体61より、スリット4の任意形状の
開口に対応したスポットの光が測定対象7に投光され
る。測定対象7からの反射ないし透過した光は、受光窓
ないし受光レンズよりなる光学体62を介して、凹面鏡
81で集光され、凸面鏡82を反射し検出素子9に入射
する。
は、図示しない同期検出器で波長毎に分離されAD変換
器などを内蔵したμCPU等の処理手段9に入力され
る。また、周囲温度Tを検出する温度検出器20の出
力、およびLCD表示器等の表示手段12を参照してキ
ースイッチ等の設定手段11その他で設定された検量線
データなどの設定信号データ等の必要な他の信号が処理
手段10に入力される。処理手段10は、内蔵したAD
変換器でアナログ信号をデジタル信号に変換し、設定デ
ータ等を用いて所定の演算処理を行い、測定対象の所望
の水分率、厚み等の性状信号を得ることができる。例え
ば、水分の吸収波長帯の光の信号と非吸収波長帯の光の
信号との比を取ることで水分率等が測定できる。
対象7が帯状のフィルム等で長手方向に流れて移動する
ような場合において、この流れる測定対象7の幅方向に
光学的測定装置を往復スキャン走査させて測定するとき
など、この帯状の移動する測定対象7の流れ方向に沿っ
て長い長方形の開口4aを有するスリットとし、これに
対応した流れ方向に長い長方形状のスポットの光を測定
対象7に投光する。このことにより、流れ方向に関して
より多くの光量が得られ、流れ方向に沿った測定精度を
向上させることができる。また、図2(b)、(c)
は、スリット4の他の一例で、測定対象7が、紙の上に
塗布される糊などで、その塗布パターンが二重丸のと
き、あるいは、凹形状のとき、これに合わせた二重丸の
開口2b、あるいは凹形状の開口2cを有するスリット
4を用いて、測定対象7の形状に相当するスポットとす
ることで、測定対象7の必要部分からの無駄のない大き
な測定光量が得られ、測定精度の向上が図れる。なお、
スリット4の開口の形状は、どのようなものでもよく、
測定対象に合わせた最適なスポット形状となるようにす
ればよく、また、交換も容易で、光学系の余分な変更も
不要である。
する光学的測定装置において、光源の光の結像位置に測
定対象に応じた任意形状の開口を有するスリットを設け
たことを特徴とする光学的測定装置で、スリットは、帯
状の移動する測定対象の流れ方向に沿って長い長方形や
測定対象の形状に対応した凹形状又は二重丸形状などの
開口とした光学的測定装置である。このことにより、測
定対象の各点につき流れ方向に関してより多くの光量が
得られ流れ方向に沿った測定分精度向上させることがで
きる。また、測定対象としての塗布糊のパターンが二重
丸、あるいは、凹形状などのとき、これに合わせた二重
丸の開口、あるいは凹形状のなど開口を有するスリット
を用い、測定対象の形状に相当するスポットとすること
で、測定対象の必要部分からの無駄のない大きな測定光
量が得られ、測定精度の向上が図れる。なお、スリット
の開口の形状は、どのようなものでもよく、測定対象に
応じた最適なものとすればよく、また、交換も容易で、
光学系の余分な変更も不要である。
Claims (3)
- 【請求項1】光源の光を測定対象に投光する光学的測定
装置において、前記光源からの光の結像位置に測定対象
に応じた任意形状の開口を有するスリットを設けたこと
を特徴とする光学的測定装置。 - 【請求項2】前記スリットは、帯状の移動する測定対象
の流れ方向に沿って長い長方形の開口となるようにした
ことを特徴とする請求項1記載の光学的測定装置。 - 【請求項3】前記スリットは、測定対象の形状に対応し
た開口としたことを特徴とする請求項1記載の光学的測
定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000116537A JP2001296242A (ja) | 2000-04-18 | 2000-04-18 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000116537A JP2001296242A (ja) | 2000-04-18 | 2000-04-18 | 光学的測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001296242A true JP2001296242A (ja) | 2001-10-26 |
Family
ID=18627987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000116537A Pending JP2001296242A (ja) | 2000-04-18 | 2000-04-18 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001296242A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242822A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
JP2006242824A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
JP2006242823A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
-
2000
- 2000-04-18 JP JP2000116537A patent/JP2001296242A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242822A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
JP2006242824A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
JP2006242823A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Chino Corp | 光学的測定装置 |
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