JPH08320260A - 調節可能な光路長差を有する干渉計装置 - Google Patents

調節可能な光路長差を有する干渉計装置

Info

Publication number
JPH08320260A
JPH08320260A JP8045674A JP4567496A JPH08320260A JP H08320260 A JPH08320260 A JP H08320260A JP 8045674 A JP8045674 A JP 8045674A JP 4567496 A JP4567496 A JP 4567496A JP H08320260 A JPH08320260 A JP H08320260A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interferometer
signal
optical path
interferometer device
grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8045674A
Other languages
English (en)
Inventor
Andreas Dorsel
ドルセル アンドレアズ
Karl-Heinz Donnerhacke
ドンナーハッケ カール・ハインツド
Moeller Beate
メラ− ビ−テ
Maschke Guenter
マシュケ ギュンター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Carl Zeiss Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH, Carl Zeiss Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Publication of JPH08320260A publication Critical patent/JPH08320260A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02062Active error reduction, i.e. varying with time
    • G01B9/02067Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
    • G01B9/02069Synchronization of light source or manipulator and detector
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/1005Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring distances inside the eye, e.g. thickness of the cornea
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02062Active error reduction, i.e. varying with time
    • G01B9/02064Active error reduction, i.e. varying with time by particular adjustment of coherence gate, i.e. adjusting position of zero path difference in low coherence interferometry
    • G01B9/02065Active error reduction, i.e. varying with time by particular adjustment of coherence gate, i.e. adjusting position of zero path difference in low coherence interferometry using a second interferometer before or after measuring interferometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/0207Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
    • G01B9/02071Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer by measuring path difference independently from interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 少ない費用で純粋な測定信号を受けとること
のできる干渉計装置。 【解決手段】 干渉計アームと第一の光電受光素子にお
ける光路長差が調節可能である干渉計装置であって、光
路長差の変化手段と結合した増分発生器を備え、この増
分発生器が、光路長差の変化速度と独立に参照信号の周
波数と干渉信号の周波数を変化させる参照信号を発生す
るようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【発明の属する技術分野】本発明は、調節可能な光路長
差を有する干渉計装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば短コヒーレンス長の光源の、眼の
第一境界面から反射した光を別の境界面から反射した光
と、干渉計装置により観測光路内で統合し、その際、変
位可能なミラーにより反射光部分間の光路長差が補償さ
れることは、すでに周知である(ドイツ特許第3201
801号)。ミラーの変位は、この場合、調査する境界
面間の間隔の尺度となる。
【0003】さらに、例えば"Lasers in Surgery and M
edicine"(外科と内科におけるレーザ)13:447−
452(1993)から、例えばレーザダイオードを用
いて干渉計の部分光線の間の調節可能な光路長差を有す
る干渉計装置により照明光路を眼に合わせ、眼から反射
した光線部分の発生する干渉の干渉コントラストを、光
電検出装置による光路長差の調節に依存して検出するこ
とは、知られている。この場合、光路長差の調節は、干
渉計アーム内を動力により変位可能な反射板、例えば三
角プリズムを使用して行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定方式におい
ては、測定すべき境界面の低い反射率により、検出すべ
き干渉信号の強度はきわめて小さく、ノイズが重畳す
る。そこで測定信号は、選択的に証明すべきである。変
位可能な反射板が速度vで動く場合、検出すべき測定信
号は周波数fs=Zv/λを有し、光源のコヒーレンス
長に対応して振幅変調される。ここで、λは短コヒーレ
ンス光源の波長である。
【0005】測定信号を狭帯域電子フィルタの利用によ
り選択する周知かつ自明の手法では、速度の変動が妨げ
となる。それと共に干渉計内の光路差が、したがって信
号周波数fsが変化するからである。この場合、短時間
の速度変動も、信号周波数がフィルタ帯域の外部にあ
り、測定信号が検出できないか、または不純な検出をも
たらす。
【0006】例えば、光路長差の調節のために三角プリ
ズムを駆動するモータ駆動部の高精度の調節は、必要と
される速度の一定性を比較的高い周波数部分(100H
z以上)の領域でも保証しなければならない場合にはき
わめて高価となる。
【0007】
【課題を解決するための手段】従って本発明は、少ない
費用で純粋な測定信号を受け取るという課題から出発す
る。
【0008】この課題は、請求項1の特徴により解決さ
れる。好ましい別形態は、従属請求項に記載されてい
る。
【0009】格子発生器により、光路長差の変更のため
に移動させたミラーまたは再帰反射板の運動から直接に
参照信号が誘導される。格子発生器を適切に配置する
と、例えば、この参照信号の周期が測定信号の周期と同
じ値を有するようになり有利となる。
【0010】格子発生器は干渉計内の光路長差の変化を
直接把握するので、速度の変動が参照周波数および測定
信号周波数に等しく作用する。従って参照周波数が、測
定信号の復調に利用できる。参照信号に対する測定信号
の位相位置が未知なので、ここでは通常の意味での復調
器は利用できず、むしろ90°位相のずれた二つの経路
における復調および後続の座標変換のための装置が重要
である。格子発生器の周期(基準格子)は、信号周波数
の倍数または分数でよい。この場合、測定信号と同じ周
波数の参照信号の発生は、電子的補間または分割により
行われる。ただし、速度変化が完全に把握できるよう
に、格子発生器の周期は速度変化の周期より小さくすべ
きである。
【0011】光線に沿って干渉計内で動くミラーまたは
再帰反射板では測定信号の周期は、短コヒーレンス光源
の光の平均半波長に対応する。この場合、信号周期が同
様に半波長となる干渉計格子発生器が好都合に使用でき
る。
【0012】これは、格子定数Gが短コヒーレンス光源
の平均波長と同じであり、次数+1および−1の干渉に
利用される格子発生器により可能である。このとき、格
子発生器信号の周波数fgはfg=Zv/Gとなる。た
だしvは運動速度を示す。平均波長が場合により模範的
に変動するので、予測すべき最短平均波長に対応する格
子定数を有する格子発生器を使用し、他の波長のために
格子発生器全体(例えば参照格子と基準格子の二格子発
生器の場合)を運動方向に対して回転させるのが有意義
なことがある。この場合、基準格子が十分拡張されて、
分割された領域から出てしまうことを回避しなければな
らない。
【0013】もちろん多重格子発生器も利用可能であ
る。垂直照明格子発生器の利用は特に好都合であるが、
透過照明格子発生器も使用できる。
【0014】信号評価は、例えばデジタル計算器など他
の方法でも行うことができる。例えば、まず参照信号と
測定信号をデジタル化し、その後デジタル計算器によ
り、90°位相のずれた二つの経路による位相感応整流
と、デカルト座標から極座標への後続の座標変換による
平均化(低域帯)を実施することができる。別の可能性
は、座標変換のみをデジタル計算機により実施すること
である。
【0015】
【発明の実施の形態】ビームスプリッタ1は、三角プリ
ズム2および変位可能な三角プリズム3と共に干渉計装
置を形成し、そこに高輝度ダイオード4またはレーザダ
イオード6の光が別のビームスプリッタ5を介して測定
光源ないし調節光源として選択的に入射する。
【0016】照明光は、フォトダイオード9に対して制
御部分を遮るための絞り7および平面板8を通り偏光ビ
ームスプリッタ10および四分の一波長板11を介して
患者の眼12に到達する。
【0017】眼から反射する光は、偏光ビームスプリッ
タ10と結像システム14、ならびにビームスプリッタ
15を経て観測面ないし光電検出器17、好ましくはア
バランチェ・フォトダイオード上に結像される。
【0018】光源(SLD)4と(LD)6、三角プリ
ズム3の変位のための変位装置18、およびフォトダイ
オード9、17は、外部メモリ20およびプリンタ,プ
ロッタ等21と接続できる制御/評価ユニット場合によ
り分離型コントローラ19に結合される。
【0019】図2に概略図として本発明の基本的要素を
示す。もう一つのレーザダイオード22には、可動な基
準格子に関して固定的に変位装置18と結合される格子
発生器24が帰属する。
【0020】レーザダイオード22の光はコリメータ2
3により拡大され、平行光束として変位装置を経て可動
基準格子24aと固定参照格子24bから成る格子発生
器24に到達する。発生する明/暗信号は、増幅器組み
込み光電受光素子25(フォトダイオード)に到達す
る。
【0021】光電受光素子25の増幅器に発生する参照
信号は、アバランチェ・フォトダイオード17の受光前
段増幅器の出力部に発生しノイズの重畳する測定信号と
同じ周波数の正弦信号である。両信号は、90°位相の
ずれた二つの経路における復調および後続の座標変換の
ための装置26に到達する。この装置は、干渉コントラ
ストに比例する振幅変調測定信号の包絡線を生成する。
【0022】90°位相のずれた二つの経路における復
調および後続の座標変換のための装置の出力信号は、A
/D変換器27に誘導され、デジタル化したあと制御評
価ユニット(PC)19に格納される。変位装置18の
モータの増分発生器により生成される信号も、同様に制
御評価ユニット19に供給され、測定信号の包絡線が変
位場所の関数として表現可能となる。格子発生器からの
信号を利用して変位場所を記録することも有利である。
【0023】図3aにおいて、90°位相のずれた二つ
の経路における復調および後続の座標変換のための装置
の特に有利な動作が示される。
【0024】アバランチェ・フォトダイオード17から
のノイズの重畳する測定信号は、広帯域増幅器37を通
過し、二つの二重平衡混合器(DBM)28と29の各
入力部に到達する。光電受光素子25の参照信号は、広
帯域移相器30に到達し、そこで相互に90°位相のず
れた二つの信号(正弦および余弦)が発生し、それも同
様に二重平衡混合器28と29の各入力部に到達する。
【0025】格子発生器によりすでに90°位相のずれ
た正弦または方形の二つの信号が生成される場合、それ
らは移相器なしに直接二重平衡混合器28、29に到達
できる。
【0026】二重平衡混合器28、29において入力信
号は相互に混合、すなわち増倍ないし位相敏感整流され
る。二重平衡混合器28、29の出力信号は、残留搬送
周波数の低域帯31、32を経て解放される。
【0027】低域帯31、32のあとに発生する信号
は、図3bのようにそれぞれ信号を総合して加算する二
乗器33、34を通過する。二乗された信号の和は、開
平器36に転送できる。
【0028】発生する出力信号は、アバランチェ・フォ
トダイオードの測定信号の包絡線であり、図2のように
A/D変換器に到達する。
【0029】制御評価ユニット19は、光源4と6のス
イッチ入れ、および変位装置18のモータの運動を制御
するが、その際同時に、デジタル化した値が把握され表
示される。
【図面の簡単な説明】
【図1】人間の眼の各層間の間隔の測定のための干渉計
構造を示す図である。
【図2】本発明による評価回路の図である。
【図3a】および
【図3b】90°位相のずれた二つの経路における復調
および後続の座標変換のための装置の構造を示す図であ
る。
【符号の説明】
1 ビームスプリッタ 2、3 三角プリズム 4 高輝度ダイオード 5 ビームスプリッタ 6 レーザダイオード 7 絞り 8 平面板 9 フォトダイオード 10 偏光ビームスプリッタ 11 四分の一波長板 12 患者の眼 14 結像システム 15 ビームスプリッタ 16 観測者 17 アバランチェ・フォトダイオード 18 変位装置 20 外部メモリ 21 プリンタ、プロッタなど 22 レーザダイオード 23 コリメータ 24 格子発生器 24a 可動基準格子 24b 固定参照格子 25 光電受光素子 26 復調および座標変換装置 27 A/D変換器 28、29 二重平衡混合器 30 広帯域移相器 31、32 低域帯 33、34 二乗器 37 広帯域増幅器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 カール・ハインツド ドンナーハッケ ドイツ D−07747 イエナ アルテ ス トラッセ 5 (72)発明者 ビ−テ メラ− ドイツ D−07743 イエナ クロセビッ ツァ− ストラッセ 34 (72)発明者 ギュンター マシュケ ドイツ D−07745 イエナ クロンフェ ルトストラッセ 34

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 干渉計により生成される干渉信号の把握
    のため少なくとも一つの干渉計アームと第一の光電受光
    素子における光路長差が調節可能である干渉計装置であ
    って、光路長差の変化手段と結合した増分発生器を備
    え、この増分発生器が、光路長差の変化速度と独立に参
    照信号の周波数と干渉信号の周波数を変化させる、参照
    信号を発生する、干渉計装置。
  2. 【請求項2】 格子発生器の可動な基準格子と固定的に
    結合した、光路長差を変化させるための変位ユニットを
    備え、このユニットが光源の光路内にあって第二の光電
    受光素子がそれに割り当てられ、その際に、第一と第二
    の光電受光素子が評価ユニットと結合していることを特
    徴とする請求項1に記載の干渉計装置。
  3. 【請求項3】 少なくとも評価ユニットが計算機と結合
    されることを特徴とする請求項2に記載の干渉計装置。
  4. 【請求項4】 格子発生器の出力信号が干渉信号と同じ
    周期を有することを特徴とする請求項1ないし3のいず
    れか一項に記載の干渉計装置。
  5. 【請求項5】 可動な格子の格子定数が例えば測定波長
    に対応し、その際,次数−1および+1の干渉が検出さ
    れることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項
    に記載の干渉計装置。
  6. 【請求項6】 第一の光電受光素子により生成される測
    定信号、および格子発生器に後置される第二の光電受光
    素子により生成される参照信号が、A/D変換器を介し
    て評価計算機と接続された、90°位相のずれた二つの
    経路における復調および後続の座標変換のための装置に
    供給されることを特徴とする請求項1ないし5のいずれ
    か一項に記載の干渉計装置。
  7. 【請求項7】 90°位相のずれた二つの経路における
    復調および後続の座標変換のための装置が第一および第
    二の乗算混合器(MM)から成り、その際、参照信号が
    90°位相のずれた二つの部分から成り、第一の部分が
    第一の乗算混合器の入力部に、第二の部分か第二の乗算
    混合器の入力部に到達し、測定信号が広帯域増幅器を経
    て二重平衡混合器のそれぞれ別の入力部に到達し、乗算
    混合器の信号が低域帯、およびデカルト座標から極座標
    への座標変換のための装置を経てA/D変換器に供給さ
    れることを特徴とする請求項6に記載の干渉計装置。
  8. 【請求項8】 広帯域90°移相器が乗算混合器に前置
    されることを特徴とする請求項7に記載の干渉計装置。
  9. 【請求項9】 座標変換のための装置が、二つの二乗器
    から成り、その信号が総合されて開平器に供給されるこ
    とを特徴とする請求項7または8のいずれか一項に記載
    の干渉計装置。
  10. 【請求項10】 生眼の各層間の間隔の干渉計による把
    握に応用されることを特徴とする請求項1ないし9のい
    ずれか一項に記載の干渉計装置。
  11. 【請求項11】 乗算混合器が二重平衡混合器であるこ
    とを特徴とする請求項6、7または8のいずれか一項に
    記載の干渉計装置。 【0001】
JP8045674A 1995-02-10 1996-02-08 調節可能な光路長差を有する干渉計装置 Pending JPH08320260A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19504444.4 1995-02-10
DE19504444A DE19504444B4 (de) 1995-02-10 1995-02-10 Interferometeranordnung mit verstellbarer optischer Weglängendifferenz

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08320260A true JPH08320260A (ja) 1996-12-03

Family

ID=7753641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8045674A Pending JPH08320260A (ja) 1995-02-10 1996-02-08 調節可能な光路長差を有する干渉計装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5719673A (ja)
JP (1) JPH08320260A (ja)
DE (1) DE19504444B4 (ja)
GB (1) GB2297838B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111693133A (zh) * 2020-06-24 2020-09-22 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 光纤水听器光程差测试装置、方法、计算机设备

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19704602B4 (de) * 1997-02-07 2008-08-28 Carl Zeiss Meditec Ag Interferometrische Anordnung zur Abtastung eines Objektes
US5883548A (en) * 1997-11-10 1999-03-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Demodulation system and method for recovering a signal of interest from an undersampled, modulated carrier
DE19810980B4 (de) * 1998-03-13 2007-03-01 Carl Zeiss Meditec Ag Anordnung zum Messen von Abständen zwischen optischen Grenzflächen
US6154308A (en) * 1998-07-30 2000-11-28 Litton Systems, Inc. Two step discrete phase shift demodulation method for fiber optic sensor arrays
DE10128219A1 (de) * 2001-06-11 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnungen für Kohärenz-topographisches Ray Tracing am Auge
WO2004018983A1 (fr) * 2002-08-26 2004-03-04 Vitaliy Atnashev Procede de spectrometrie et dispositif de mise en oeuvre de ce procede (variantes)
US7474407B2 (en) * 2003-02-20 2009-01-06 Applied Science Innovations Optical coherence tomography with 3d coherence scanning
US8394084B2 (en) 2005-01-10 2013-03-12 Optimedica Corporation Apparatus for patterned plasma-mediated laser trephination of the lens capsule and three dimensional phaco-segmentation
US7400410B2 (en) * 2005-10-05 2008-07-15 Carl Zeiss Meditec, Inc. Optical coherence tomography for eye-length measurement
CN104287888B (zh) 2007-03-13 2016-11-09 眼科医疗公司 用于创建眼睛手术和松弛切口的装置
US9186059B2 (en) * 2007-12-21 2015-11-17 Bausch & Lomb Incorporated Ophthalmic instrument alignment apparatus and method of using same
DE102008029479A1 (de) * 2008-06-20 2009-12-24 Carl Zeiss Meditec Ag Kurzkohärenz-Interferometerie zur Abstandsmessung
US8294971B2 (en) * 2008-12-18 2012-10-23 Bausch • Lomb Incorporated Apparatus comprising an optical path delay scanner
JP5232038B2 (ja) 2009-02-12 2013-07-10 株式会社ニデック 眼寸法測定装置
DE102009022958A1 (de) * 2009-05-28 2010-12-02 Carl Zeiss Meditec Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Messung von Relativabständen
CN103712689B (zh) * 2014-01-02 2015-07-01 上海朗研光电科技有限公司 基于光学频率梳的连续激光器光谱线宽测量装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3201801A1 (de) * 1982-01-21 1983-09-08 Adolf Friedrich Prof. Dr.-Phys. 4300 Essen Fercher Verfahren und anordnung zur messung der teilstrecken des lebenden auges
GB2163548B (en) * 1984-08-09 1987-11-25 Perkin Elmer Ltd Interferometric apparatus particularly for use in ft spectrophotometer
US5270790A (en) * 1990-04-18 1993-12-14 Advantest Corporation Moving reflector driving part of a Michelson inteferometer
DE4113842A1 (de) * 1991-04-27 1992-11-05 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Verfahren und einrichtung zur messung und bestimmung einer wegdifferenz in interferometern nach michelson
WO1992019930A1 (en) * 1991-04-29 1992-11-12 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for optical imaging and measurement
US5402230A (en) * 1991-12-16 1995-03-28 Tsinghua University Heterodyne interferometric optical fiber displacement sensor for measuring displacement of an object
JPH07239272A (ja) * 1994-02-28 1995-09-12 Ando Electric Co Ltd 光波長計
JPH07270245A (ja) * 1994-03-31 1995-10-20 Ando Electric Co Ltd 測長器を用いた光波長計
JPH08101072A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Ando Electric Co Ltd 光波長計

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111693133A (zh) * 2020-06-24 2020-09-22 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 光纤水听器光程差测试装置、方法、计算机设备

Also Published As

Publication number Publication date
GB2297838B (en) 1999-05-05
GB9602274D0 (en) 1996-04-03
GB2297838A (en) 1996-08-14
US5719673A (en) 1998-02-17
DE19504444A1 (de) 1996-08-14
DE19504444B4 (de) 2004-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08320260A (ja) 調節可能な光路長差を有する干渉計装置
US5737085A (en) Precision optical displacement measurement system
EP1724550B1 (en) Interferometer and shape measuring method
US6178002B1 (en) Method and device for measuring and stabilization using signals from a Fabry-Perot
JPH01503172A (ja) 光学的ヘテロダイン処理を有する2波長のインターフェロメトリーのための方法および装置と位置または距離測定のための使用
JPH10267631A (ja) 光学測定装置
JP4503902B2 (ja) 角度測定系
EP1645854B1 (en) Method and apparatus for measurement of optical detector linearity
JPS6162885A (ja) 距離速度計
US5117440A (en) Digital quadrature phase detection
Gault et al. Divided mirror technique for measuring Doppler shifts with a Michelson interferometer
US3856411A (en) Optical noncontacting diameter gauge
JPH0518896A (ja) 小さな吸光量の検出用測定方法
JPH116719A (ja) 干渉測定装置
JPH0915334A (ja) レーザ測距装置
JP2993836B2 (ja) コヒーレンス度を利用する干渉計
JP2521872B2 (ja) 周波数変調光ファイバ変位測定装置
JPH06289137A (ja) 光学式距離計
EP0307451A1 (en) DEVICE AND METHOD FOR LOCATING THE DIRECTION OF AN ATOMIC JET.
JP2763271B2 (ja) 透過光測定装置
EP3164667B1 (en) Optical coherence tomography microscopy apparatus and method
GB2236178A (en) Monitoring arrangements
JPS62263428A (ja) 位相変化測定装置
SU894364A1 (ru) Устройство дл нанесени шкал
JPH0755418A (ja) 変位計

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050308

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20050519

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20050524

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051108

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060703

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060905