JPH0433381B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0433381B2
JPH0433381B2 JP9372286A JP9372286A JPH0433381B2 JP H0433381 B2 JPH0433381 B2 JP H0433381B2 JP 9372286 A JP9372286 A JP 9372286A JP 9372286 A JP9372286 A JP 9372286A JP H0433381 B2 JPH0433381 B2 JP H0433381B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
aperture
objective lens
variable aperture
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP9372286A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62250318A (ja
Inventor
Shigeru Horii
Yoshiharu Oosaki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP9372286A priority Critical patent/JPS62250318A/ja
Publication of JPS62250318A publication Critical patent/JPS62250318A/ja
Publication of JPH0433381B2 publication Critical patent/JPH0433381B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、輝度測定視野の変更に対して感度校
正が不要な輝度計測装置に関するものである。
従来の技術 近年、輝度計測の分野においては、屋内照明施
設での照明器具の発光面の輝度測定や、道路・ト
ンネルでの路面・壁面の輝度測定のように、測定
対象に応じた種々の形状の測定視野の輝度測定が
必要となつてきている。さらに、これらの測定視
野では輝度分布が不均一な場合が多く、測定対象
の形状に合致した測定が望まれている。このた
め、測定視野の形状を変化させながら輝度測定を
実施しなければならない場合が多い。
以下、従来の輝度計測装置について説明する。
第6図は、2つの測定視野を切換えて測定する
従来の輝度計測装置の構成図を示すものであり、
1は対物レンズ、14,17はミラー、18はフ
アインダレチクル、19は接眼レンズ、15は可
変アパーチヤ、16は受光部、10はA/D変換
器、11は表示部である。なお、ミラー14は対
物レンズになるべく近い位置に設置される。
以上のように構成された従来の輝度計測装置に
ついて以下その動作を説明する。
測定対象を含む周辺視野は、対物レンズ1によ
つて可変アパーチヤ15およびフアインダレチク
ル18上に結像される。可変アパーチヤ15の開
口部を測定対象視野の形状に合わせ、可変アパー
チヤ15の開口部を通過した光が受光部16で検
出される。第6図で受光部16はオペアンプの電
流−電圧変換増幅回路を用いた例を示しており、
受光素子16aと受光素子16aからの光電流を
増幅するオペアンプ16bと、フイードバツク抵
抗R11,R12および増幅度切換スイツチ16cか
ら構成される。フイードバツク抵抗R11,R12は、
それぞれ測定視野に対応して設けられ、可変アパ
ーチヤ15の開口部面積に反比例して抵抗値が決
定される。すなわち、開口部面積が大きくなると
フイードバツク抵抗を小さくする。このフイード
バツク抵抗R11,R12を可変アパーチヤ15の測
定視野切換動作に連動させて切換スイツチ16c
で選択する。この結果、可変アパーチヤ15の開
口部面積が変化しても、受光部16からは測定視
野面輝度に応じた光電信号が得られる。得られた
光電信号は、A/D変換器10でデイジタル値化
され、表示部11で輝度値として表示される。な
お、ミラー14は対物レンズを通過した光の一部
をミラー17、フアインダレチクル18、接眼レ
ンズ19からなるフアインダ系に導く。フアイン
ダレチクル18には、可変アパーチヤの開口部に
対応する表示が入れられ、測定視野がフアインダ
内で確認できる。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような構成で可変アパー
チヤを用いて対象物ごとに測定視野を変化させな
がら対象物の輝度測定を行なうには、測定面積に
対応してあらかじめ増幅度を設定し、これらの増
幅度を個別に調整する必要があつた。
さらに、測定視野の形状が異なる場合、特に測
定視野の形状が非対象な場合、受光部に保有すべ
き設定増幅度の数が多くなり、受光部の構成が複
雑になるという問題点を有していた。
一方、受光部の増幅度を可変アパーチヤの形状
に応じて比例的に変化させる方法もあるが、この
場合、測定視野の形状と面積の変化を受光部の増
幅度に対応させるには、複雑な構成が必要とな
る。
問題点を解決するための手段 本発明は、上記問題点を解消するもので、輝度
計測が標準比視感度に合致した可視光域で行なわ
れることを利用し、可変アパーチヤに、可変アパ
ーチヤの開口部よりも大きな径の可視光以外(輝
度計測波長域以外)の波長の光を平行に照射し、
可変アパーチヤの開口部を通過させて受光部に入
射させ、受光部からの反射光を用いて可変アパー
チヤの開口部面積を自動的に検出し、この結果で
輝度計の校正、すなわち、増幅度の決定を行なう
輝度計測装置を提供することを目的とする。
本発明、対物レンズ側の面を無反射処理し対物
レンズの光軸に垂直に配置した可変アパーチヤ
と、可変アパーチヤの後面に光軸に垂直に配置し
た可視光以外を反射し可視光を検出する受光部
と、可変アパーチヤおよび受光部の対物レンズ側
の面に可変アパーチヤの開口部よりも大きな径の
可視光以外の光を光軸に平行に照射し、その反射
光を検出するアパーチヤ径検出部と、アパーチヤ
径検出部で検出した可変アパーチヤの面積に応じ
た増幅度で光電信号を増幅する増幅度可変増幅回
路とを備えた輝度計測装置であり、アパーチヤの
面積を光学的に検出することによりアパーチヤ変
化に対して適切な増幅度を設定して輝度計測を行
なうことができるものである。
作 用 本発明では、アパーチヤ径検出部から、可変ア
パーチヤの開口部よりも大きな径の可視光以外の
平行光を対物レンズの光軸と平行に可変アパーチ
ヤに照射する。照射光は可変アパーチヤに入射
し、可変アパーチヤの開口部を通過した光は受光
部に垂直に入射し受光部内の反射特性により可視
光以外が平行光として反射されたアパーチヤ径検
出部で検出される。可変アパーチヤの開口部外に
照射された光は可変アパーチヤの無反射処理によ
り吸収され反射されない。したがつて、アパーチ
ヤ開口部面積に比例する可視光以外の反射光がア
パーチヤ径検出部にフイードバツクされる。一
方、アパーチヤ径検出部から照射された光は可視
光以外であり、受光部は可視光のみ検出するた
め、アパーチヤ径検出部からの照射光は受光部で
光電変換されない。さらに増幅度可変増幅器でア
パーチヤ面積に応じて設定された増幅度で輝度信
号を増幅し、輝度値を正確に測定する。
実施例 第1図は本発明の実施例における輝度計測装置
の構成を示すものである。なお、第1図は対物レ
ンズの直後に可視域透過フイルタを設けた例を示
している。第1図において、1は対物レンズ、2
は可視域透過フイルタ、3は可変アパーチヤ、4
は受光部、5はアパーチヤ径検出部、6は増幅度
可変増幅回路、8はA/D変換器、9は表示部、
7はフアインダ系である。フアインダ系7はミラ
ー7a、フアインダレチ7b、接眼レンズ7cか
ら構成する。アパーチヤ径検出部5は、両面ミラ
ー5aと投光部5bと受光部5cとから構成した
例を示し、投光部5bはハーフミラー5b1,可視
カツトフイルタ5b2、レンズ5b3と光源5b4から
構成し、受光部5cはレンズ5c1、受光部5c2
オペアンプ5c3の電流.電圧変換増幅器を用いた
例を示している。また、受光部4は、可視域を透
過し可視域以外を反射するフイルタ4aと受光素
子4bとオペアンプ4cの電流−電圧変換増幅器
を用いた例を、増幅度可変増幅回路6は、フオト
カプラ6bとオペアンプ6aの非反転増幅回路を
用いた例を示している。
なお、可視透過フイルタ2およびフイルタ4a
の透過波長特性を第5図に示す。フイルタ4aは
反射波長特性は第5図に示す特性の逆の特性とな
る。また、可視カツトフイルタ5b2の透過波長特
性を第4図に示す。第4図,第5図に示すよう
に、可視域透過フイルタ2およびフイルタ4aの
透過波長特性と、可視カツトフイルタ5b2の透過
波長特性とで可視域と可視域以外で分離するよう
に設定する。
第1図において、両面ミラー5aは対物レンズ
1の光軸上に光軸と45゜の角度で、対物レンズ1
の光路の一部を占有し、対物レンズになるべく近
い位置に配置する。また、可変アパーチヤ3とフ
イルタ4aの入射面が対物レンズ1の光軸上に入
射面が光軸と垂直になるように配置し、可変アパ
ーチヤ3の対物レンズ側を無反射処理する。さら
に、アパーチヤ径検出部5のうち、両面ミラー5
a以外は対物レンズ1の光路外に配置する。
以上のように構成された本実施例の輝度計測装
置について以下、その動作を説明する。
測定対象を含む周辺視野は対物レンズ1によつ
て可変アパーチヤ3上に結像し、可変アパーチヤ
3の開口部形状によつて測定視野が限定される。
この時可変アパーチヤ3への入射光は可視域透過
フイルタ2によつて可視光のみとなる。両面ミラ
ー5aの対物レンズ側の面に対物レンズ1から入
射した光は、ミラー7a、フアインダレチクル7
b、接眼レンズ7cからなるフアインダ系7に導
かれ、可変アパーチヤ3の開口部の外周形状に合
致したパターンをもつフアインダレチクル7bで
測定視野を確認することができる。すなわち、両
面ミラー5aによつて、対物レンズ1への入射光
の一部をフアインダ側へ、他を可変アパーチヤ3
側へ分離する。アパーチヤ径検出部5内の光源5
b4から発せられた光はレンズ5b3で可変アパーチ
ヤ3の最大長より大きな平行光に変換し、可視域
カツトフイルタ5b2で可視域をカツトし、可視域
以外の光としてハーフミラー5b1を通じて両面ミ
ラー5aの可変アパーチヤ3側の面を照射する。
両面ミラー5aでは、投光部5bからの照射光を
対物レンズ1の光軸を中心とする平行光とし可変
アパーチヤ3を照射する。
この結果、可変アパーチヤ3のには、第2図に
示すように、アパーチヤ径検出部5内投光部5b
からの可視光以外の平行光成分(第2図でイ,
ロ,ハ,ニで示す)と、測定対象視野および周辺
からの光のうち可視光のみが入射する。なお、可
視光以外の光(第2図でリに示す)は可視域透過
フイルタ2で除去される。このうち可変アパーチ
ヤ3の開口部に入射する光は第2図でホ,ヘで示
す。これらの入射光のうち、可変アパーチヤ3の
開口部外に入射する光(第2図でイ,ニに示す)
は、入射面の無反射処理により反射されず、他の
光が受光部4内のフイルタ4aに入射する。フイ
ルタ4aは可視光のみを透過するので、可視域通
過フイルタ2を通過した光はすべて受光素子4b
に入射する。ここで、フイルタ4aの表面平坦度
を向上させておく。この結果、フイルタ4aにア
パーチヤ径検出部5から入射した可視光以外の平
行光は、フイルタ4aの表面で反射され、両面ミ
ラー5aおよびハーフミラー5b1で反射されて、
アパーチヤ径検出部5内の受光部5c1へ導かれ
る。
アパーチヤ径検出部5の両面ミラー5aへの照
射光レベルをPとし、可変アパーチヤの開口部面
積をS、フイルタ4aの可視光以外の反射率をρ
とすると、可変アパーチヤ3、受光素子4bに照
射される光のうち、両面ミラー5a側に反射され
る光はP・S・ρと表わせる。この光はハーフミ
ラー5b1を通つて受光部5cに入射され、光電変
換される。したがつて、受光部5cの出力をV1
とすると、 V1=K1・P・S・ρ ……(1) となる。ここで、K1は両面ミラー5aおよびハ
ーフミラー5b1の反射率を考慮した受光部4の増
幅度で一定値となる。(1)式で、照射光レベルPを
一定とすると、受光部5cからの出力1は可変ア
パーチヤ3の開口部面積Sに比例する。
一方、受光部4は、受光部4bに入射した光を
光電変換する。受光部4の出力をV2とすると、 V2=K2・S・η・L ……(2) となる。ここで、Lは測定対象視野の輝度レベル
に相当する光電信号、ηは受光素子4bの変換効
率、K2はオペアンプ4cの増幅度である。
さらに受光部4の出力は増幅度可変増幅回路6
に供給する。一方、増幅度可変増幅回路6にはア
パーチヤ径検出部5の出力を入力し、フオトカプ
ラ6bの発光ダイオードD1への印加電圧とする。
増幅度可変増幅回路6の出力V4は V4=K3・K2・S・η・L ……(3) となる。ここで、K3は増幅度切換形増幅回路6
の増幅度を表わすものである。第1図で、アパー
チヤ径検出部の出力電圧V1が上昇すると、フオ
トカプラ6b内の発光ダイオードD1の発光量が
大きくなり抵抗R4が減少する。すなわち、K3
可変アパーチヤの開口部面積Sの増減特性と逆の
動作特性を示す。発光ダイオードD1の動作特性
を、印加電圧と電流間に直線の存在する部分に設
定すれば、(3)式の出力は、可変アパーチヤの開口
部面積Sの変化に依存しなくなる。そこで、アパ
ーチヤ径検出部5の出力をダイオード特性と逆特
性をもつように構成すれば、V1とR4の間に反比
例の関係を保つことができる。この結果(5)式は V4=K4・η・L=K5・L ……(4) と表わすことができる。ここで、K4およびK5
定数である。すなわち、可変アパーチヤ3の開口
部面積に関係なく増幅度可変増幅回路6からは、
輝度信号に対応した出力が得られる。
増幅度可変増幅回路6の出力はA/D変換器8
でデイジタル信号化され、表示部9で輝度値とし
て表示する。
以上のように本実施例によれば、可視光以外を
反射し、可視光のみを検出する受光部とアパーチ
ヤ径検出部と増幅度可変増幅回路とを設け、可変
アパーチヤにアパーチヤ開口部面積検出用の可視
光以外の平行光を照射し、受光部に可視光以外を
反射する特性をもたせ、その反射光を検出しアパ
ーチヤ開口部面積に応じた増幅度を設定し、受光
部からの光電信号を増幅することにより、アパー
チヤ開口部の形状や面積を考慮せずに対象物の任
意の視野の輝度測定が実施できる。
したがつて、アパーチヤの形状や面積を急激に
変化させたり、あるいは、連続的に変化させて
も、アパーチヤの開口部面積に比例した増幅度が
設定でき、輝度計の校正が容易となり、正確な輝
度測定が行なえる。また、両面ミラーで対物レン
ズの光路外からフアインダ用光路の反対側を使用
して平行光を照射するので、可変アパーチヤへの
対物レンズからの入射光を変化させずに開口部面
積が検出できる。さらに、アパーチヤ面積検出用
に実際に輝度計測に用いる可視光以外を使用して
いるので、アパーチヤ面積検出動作が輝度測定動
作に及ぼす影響をなくすることができる。
第3図はアパーチヤ径検出部の他の実施例を示
したものであり、投光部10と2つの受光部1
1,12とから構成する。投光部10は第1図の
実施例と同一であり説明は省略する。投光部10
から発せられた平行光は、ハーフミラー10aで
光路分離し、1つは両面ミラー5a(a側)へ照
射し、他は受光部11内のレンズ11a、受光素
子11b、オペアンプ11cの電流−電圧変換増
幅回路で光電信号に変換する。受光部11の出力
は投光部10からの照射光レベルに比例した値と
なる。
一方、受光部12には第1図の実施例と同様に
可変アパーチヤ3の開口部面積に比例した光量が
入射する。受光部11の出力は受光部12のオペ
アンプ12dのフイードバツクループにフオトカ
プラ12cを介して接続する。投光部10の出力
レベルが増大すると、受光部11の出力が増加
し、フオトカプラ12cを通じてフイードバツク
抵抗R6が減少し、受光部12の増幅度が減少す
る。この場合、発光ダイオードの非直線性は第1
図の増幅度可変増幅回路の場合と同様な方法で補
正すればよい。
次に、投光部10の照射光レベルが減少する
と、受光部11の出力電圧が低下し、抵抗R6
増加して受光部12の増幅度が増加する。このよ
うに投光部10の出力光のレベルに応じて受光部
12の増幅度が変化し、受光部12からは投光部
10の出力光レベルの変化に関係なく可変アパー
チヤ開口部面積に比例した安定な光電出力が得ら
れる。
本実施例では両面ミラーを用いたが、片面ミラ
ーを併置しても同様の効果が得られる。また、両
面ミラーの対物レンズ光軸となす角度を45゜とし
たが、可変アパーチヤへの照射光が光軸と平行光
となれば、角度は45゜以外でもよい。
また、本実施例では、対物レンズ1の直後に可
視視透過フイルタ2を設けたが、可視透過フイル
タ2がなくても、フイルタ4aの表面の平坦度が
良ければアパーチヤ径検出部5の検出精度に対物
レンズ1から入射した光が影響することはない。
すなわち、可変アパーチヤ3に対物レンズ1の光
軸に平行でない可視光以外の光が入射した時、換
言すれば、測光視野内からの可視光以外の光が入
射した場合、第2図に示すように、フイルタ4a
の表面の反射特性によつて対物レンズ1の光軸と
非平行な方向(第2図でト,チに示す)に反射さ
れ、アパーチヤ径検出部5では検出されない。
発明の効果 本発明の輝度計測装置は、対物レンズ側を無反
射処理し対物レンズの光軸に垂直に配置した可変
アパーチヤと、可変アパーチヤの後面に光軸に垂
直に配置した可視光以外を反射し、可視光を検出
する受光部と、可変アパーチヤおよび受光部の対
物レンズの面に可変アパーチヤの開口部より大き
な径の可視光以外の光を光軸に平行に照射し、そ
の反射光を検出するアパーチヤ径検出部とアパー
チヤ径検出部で検出した可変アパーチヤの面積に
応じた増幅度で光電信号を増幅する増幅度可変増
幅回路とを設けることにより、アパーチヤの開口
部面積の大きさに応じて輝度信号の増幅度を自動
的に変化させることができ、アパーチヤ開口部の
形状や面積の変化の影響を受けずに対象物の輝度
を正確に測定することができ、その実用的効果は
大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における輝度計測装置
の構成図、第2図はその光学系の拡大図、第3図
はアパーチヤ径検出部の他の実施例の構成図、第
4図は可視カツトフイルタの透過特性例を示す
図、第5図は可視域透過フイルタの透過特性例を
示す図、第6図は従来の輝度計測装置の構成図で
ある。 1……対物レンズ、2……可視域透過フイル
タ、3,15……可変アパーチヤ、4,5c,1
1,12,16……受光部、5……アパーチヤ径
検出部、5b,10……投光部、5a……両面ミ
ラー、6……増幅度可変増幅回路、7……フアイ
ンダ系、8……A/D変換器、9……表示部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 対物レンズと、対物レンズの結像位置にあつ
    て測定範囲を制限し、対物レンズ側の面を無反射
    処理し、対物レンズの光軸に垂直に配置した可変
    アパーチヤと、可変アパーチヤの通過光のうち可
    視光以外を反射し可視光のみを検出する受光部
    と、可変アパーチヤの対物レンズ側の面に、可変
    アパーチヤの開口部をカバーする大きさの可視光
    以外の平行光を照射し、その反射光量を検出する
    アパーチヤ径検出部と、受光部に接続し、アパー
    チヤ径検出部の出力をもとに増幅度を変え受光部
    出力信号を増幅する増幅度可変増幅回路からなる
    輝度計測装置。 2 アパーチヤ径検出部が、対物レンズと可変ア
    パーチヤ間の光軸中心上に配置し、かつ可変アパ
    ーチヤの開口部をカバーする大きさのミラーと、
    対物レンズの光路外から前記ミラーに平行光を照
    射する投光部と、前記ミラーからの反射光を検出
    する受光部とからなる特許請求の範囲第1項記載
    の輝度計測装置。
JP9372286A 1986-04-23 1986-04-23 輝度計測装置 Granted JPS62250318A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9372286A JPS62250318A (ja) 1986-04-23 1986-04-23 輝度計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9372286A JPS62250318A (ja) 1986-04-23 1986-04-23 輝度計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62250318A JPS62250318A (ja) 1987-10-31
JPH0433381B2 true JPH0433381B2 (ja) 1992-06-02

Family

ID=14090301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9372286A Granted JPS62250318A (ja) 1986-04-23 1986-04-23 輝度計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62250318A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030074967A (ko) * 2002-03-15 2003-09-22 동광전자 주식회사 컴퓨터용 화상 카메라를 이용한 광측정 방법
JP5865160B2 (ja) * 2012-04-06 2016-02-17 大塚電子株式会社 輝度測定装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62250318A (ja) 1987-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100242670B1 (ko) 스펙트럼식 반사측정 및 투과측정을 위한 방법 및 장치
US4123172A (en) Comparison type colorimeter
SU1584759A3 (ru) Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев
US4767934A (en) Active ranging system
JP2604754B2 (ja) 分光光度計
JPH09184803A (ja) 赤外線ガス分析計
JP2002181698A (ja) 分光反射率測定装置および分光反射率測定方法
EP0223485A2 (en) Absorption gauge for determining the thickness, moisture content or other parameter of a film or coating
JPS637338B2 (ja)
JPH0433381B2 (ja)
JPH0829258A (ja) 色彩・光沢度測定装置
JPH0433382B2 (ja)
JP2002048714A (ja) 濁度測定装置
JPS6029050B2 (ja) 色材の褪色を判別する装置
US5323230A (en) Method of measuring the reflection density of an image
JPS62250317A (ja) 輝度計測装置
KR890004719B1 (ko) 더블빔 형식의 색측정용 광학필터 분광 광도계
JPS63175731A (ja) 輝度計測装置
JPH06273330A (ja) 濁度測定装置
JP2790571B2 (ja) カラー濃度計
JPH0968462A (ja) 反射率測定装置
JPS60235027A (ja) 狭波長帯域投受光装置
JP2006242822A (ja) 光学的測定装置
JPH08159876A (ja) 分光測定装置
JPH02187604A (ja) 受光位置検出装置