JP2001242526A - カメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本流工程から調整機を排除して本流工程を軽く
するとともに、ユニット状態で完成品としての品質を保
証しつつ本流工程でのユニットに起因する不良の発生を
なくしたカメラを提供する。 【解決手段】撮影レンズ鏡枠を含む鏡枠ユニット５０
と、鏡枠ユニット５０内に設けられ、個々の製品により
異なる製造上のバラツキを補正するための、鏡枠ユニッ
ト状態にて調整された調整データが記憶されたＫ−ＥＥ
ＰＲＯＭ６６と、鏡枠ユニット５０以外のユニット（本
体ユニット７０）内に設けられ、個々の製品により異な
る製造上のバラツキを補正するために、鏡枠ユニット５
０以外の状態にて調整された調整データが記憶されたＨ
−ＥＥＰＲＯＭ８８と、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ６６及びＨ−
ＥＥＰＲＯＭ８８に記憶された調整データを用いてカメ
ラのシーケンスを実行するＣＰＵ７９とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はカメラに関し、特
に、製造上のバラツキを補正するための調整データを記
憶するための、電気的書換え可能な不揮発性メモリのカ
メラ内部での配置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＥＥＰＲＯＭなどの電気的書き換え可能
な不揮発性メモリに、カメラシステムの制御に必要な調
整データを記憶し、その調整データを利用してカメラの
制御を行う技術は公知である。例えば、日本国特許第２
７６３００２号公報には、電気的書き換え可能な不揮発
性メモリに、ピント位置を調整するための調整データを
記憶する技術が開示されている。フォーカシングレンズ
のパワーのバラツキ、又はレンズの鏡枠等の機械的な部
材のバラツキ、または組み上がりのバラツキ等が発生
し、このためピント位置がずれてしまう。このピント位
置のずれをｆｃ誤差と呼ぶ。このｆｃ誤差があると、フ
ォーカシングレンズの正しい繰出しができずピンボケに
なる。日本国特許第２７６３００２号は、機械的な調整
手段を用いずにこのピンボケの問題を解決している。

【０００３】最近のカメラでは、このｆｃ調整以外に
も、ズーム調整（焦点距離切換え機構の駆動特性に関す
る調整）、測光調整、シャッター調整（シャッターの駆
動特性に関する調整）、ストロボ充電電圧に関する調
整、ＡＦ調整なども、機械的な調整手段を用いずに、電
気的書換え可能な不揮発性メモリを利用して調整を行っ
ている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】通常、カメラ内部に搭
載される電気的書き換え可能な不揮発性メモリは１つで
あるが、電気的書き換え可能な不揮発性メモリに記憶す
べき調整データは、上記のように複数存在する。

【０００５】一方カメラは、複数のユニットの集合体で
あり、その製造工程は、ユニット製造工程と、ユニット
組合わせ工程（本流工程）に分かれる。ユニット製造工
程は、各ユニット毎に独立して存在し、ユニット組合わ
せ工程（本流工程）は、それらの複数のユニットを組み
合わせる工程である。ここで、電気的書き換え可能な不
揮発性メモリは１つであるため、通常上記の各種調整
は、ユニット組合わせ工程において、主要なユニットが
組み合わされた後に、各種調整が行われ、電気的書き換
え可能な不揮発性メモリに順次、調整データが記憶され
る。

【０００６】このため、本流工程には、上記の各種調整
に対応した調整機がずらりと配置されることになる。こ
こで問題点となることは、以下の２点である。

【０００７】１．本流工程が巨大化して本流の編成替え
が大変になる。最近のカメラは多機種少量生産に移行し
つつある。これはカメラの仕様が多様化しており、市場
を活性化するために短期間でマイナーチェンジ機種を投
入して行く必要があること、販売国や、販売店（ディス
カウント店、カメラ専門店）に応じてカメラの仕様を変
える必要があるためである。

【０００８】具体的には、ベース機種を中心として、焦
点距離を変えた製品、外装を変えた製品、撮影モードを
変えた製品などが派生製品として必要となることより、
生産工場ではこれら営業要請を受けて短期間で次々と新
しい製品に切換えて生産する必要がある。このことより
短期間で本流工程の編成替えが必要になるが、上記の様
に本流工程にずらりと調整機が並んでいると本流の編成
替えが大変になり、製造上のロスが発生する。

【０００９】２．本流工程で各種の調整を行う場合、そ
の調整工程により不良が発生する場合がある。本来前工
程である、ユニット状態で不良が発生すべきであるが、
本流工程で調整を行うため、その工程で、調整不可の状
態や、調整値異常（調整データが規格の範囲外）等の不
良が発生する場合がある。これはユニットの不良に起因
するものであり、ユニットを解体し、修理を行う必要が
ある。これも製造上のロスに繋がる。

【００１０】本発明はこのような課題に着目してなされ
たものであり、その目的とするところは、ユニットに電
気的書換え可能な不揮発性メモリを持たせ、ユニット状
態で各種調整を行うことにより、本流工程から調整機を
排除して本流工程を軽くするとともに、ユニット状態で
完成品としての品質を保証し、本流工程でのユニットに
起因する不良の発生をなくしたカメラを提供することに
ある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、カメラであって、撮影レンズ鏡枠
を含む鏡枠ユニットと、この鏡枠ユニット内に設けら
れ、個々の製品により異なる製造上のバラツキを補正す
るための、鏡枠ユニット状態にて調整された調整データ
が記憶された第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリ
と、前記鏡枠ユニット以外のユニット内に設けられ、個
々の製品により異なる製造上のバラツキを補正するため
の、鏡枠ユニット以外の状態にて調整された調整データ
が記憶された第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリ
と、上記第１及び上記第２の電気的書換え可能な不揮発
性メモリに記憶された調整データを用いてカメラのシー
ケンスを実行するシーケンス制御手段とを具備する。

【００１２】また、第２の発明は、カメラであって、測
距手段を含むユニットと、この測距手段を含むユニット
内に設けられ、個々の製品により異なる製造上のバラツ
キを補正するための、測距手段を含むユニット状態にて
調整された調整データが記憶された第１の電気的書換え
可能な不揮発性メモリと、上記測距手段を含むユニット
以外のユニット内に設けられ、個々の製品により異なる
製造上のバラツキを補正するための、測距手段を含むユ
ニット以外の状態にて調整された調整データが記憶され
た第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、上記第
１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリに記憶
された調整データを用いてカメラのシーケンスを実行す
るシーケンス制御手段とを具備する。

【００１３】また、第３の発明は、カメラであって、第
１のユニットと、この第１のユニット内に設けられ、上
記第１のユニットの製造工程にて調整された調整データ
が記憶されている第１の電気的書換え可能な不揮発性メ
モリと、第２のユニットと、この第２のユニット内に設
けられ、上記第２のユニットの製造工程にて調整された
調整データが記憶された第２の電気的書換え可能な不揮
発性メモリと、上記第１及び第２の電気的書換え可能な
不揮発性メモリに記憶された調整データを用いてカメラ
のシーケンスを実行するシーケンス制御手段とを具備す
る。

【００１４】また、第４の発明は、カメラであって、カ
メラのシーケンス制御を行うための制御回路を含む第１
のユニットと、この第１のユニット内に設けられ、上記
第１のユニットの状態で調整された調整データ又は、上
記第１のユニットを含む複数のユニットの組合わせ状態
で調整された調整データが記憶された第１の電気的書換
え可能な不揮発性メモリと、第２のユニットと、この第
２のユニット内に設けられ、上記第２のユニットの製造
工程にて調整された調整データが記憶された第２の電気
的書換え可能な不揮発性メモリと、上記第１のユニット
内に設けられ、上記第１及び上記第２の電気的書換え可
能な不揮発性メモリに記憶された調整データを用いてカ
メラのシーケンスを実行するシーケンス制御手段とを具
備する。

【００１５】

【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施形態に係る
カメラの斜視図である。ここではわかり易くするために
外装を模擬的に透明状態で示すこととし、カメラに内蔵
されている構成要素を実線で描いている。

【００１６】図１において、鏡枠部１は撮影レンズを内
蔵するものである。前板２は鏡枠部１を固定するための
板である。鏡枠部１と前板２とはユニット状態で接続さ
れており、合わせて鏡枠ユニット３を構成している。

【００１７】前板２の前面には前板基板４が取り付けら
れている。この前板基板４は、不図示であるが、鏡枠部
１の内部より引出された鏡枠フレキ及び本体部７から引
出された本体フレキと電気的に接続されている。前板基
板４上には鏡枠ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯ
Ｍ）５が設けられている。コネクト部６は鏡枠ユニット
３をユニット状態で調整する時に、調整機から電気接続
用のピンを立てるためのコネクト部である。

【００１８】本体部７の上部にはＡＦユニット８が取り
付けられている。ストロボユニット９上にはストロボ発
光部１０が設けられている。メインコンデンサー１１は
ストロボ発光エネルギーを蓄積するためのコンデンサー
である。

【００１９】カメラ前面には、ファインダー対物レンズ
１２、測光センサーのための窓１３が設けられている。

【００２０】さらに本体上部にはメイン基板１４が設け
られている。メイン基板１４上にはシーケンス制御のた
めのＣＰＵ１５と、本体ＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯ
Ｍ）１６とが設けられている。

【００２１】図２は本発明の一実施形態に係るカメラの
内部構成を示す図であり、鏡枠ユニット５０と、本体ユ
ニット７０と、ＡＦユニット９０と、ストロボユニット
４０とから構成される。鏡枠ユニット５０と本体ユニッ
ト７０とはコネクト部６８により電気的に接続可能であ
る。また、本体ユニット７０とＡＦユニット９０とはコ
ネクト部１００により電気的に接続可能である。また、
ストロボユニット４０と本体ユニット７０とはコネクト
部４７により電気的に接続可能である。８２はインター
フェース回路８０と外部制御装置８１とを電気的に接続
するためのコネクト部である。

【００２２】鏡枠ユニット５０は、一部の撮影レンズ５
１と、ズーミング（焦点距離可変）のためのレンズ群５
２と、ズーム駆動機構５３と、ズーム駆動機構５３のた
めのズーム駆動モータ５４と、ズーム駆動モータ５４の
駆動回路５５と、ズーミングに応じてパルスを発生する
ためのズームパルス発生回路５６と、絞り兼用シャッタ
ー（セクターシャッター）５７と、絞り兼用シャッター
内部のセクター羽根を駆動するためのセクター羽根駆動
機構５８と、セクター羽根駆動機構５８を駆動するため
のソレノイド５９と、ソレノイド５９を駆動するための
ソレノイド駆動機構６０と、フォーカシングのためのレ
ンズ群６１と、レンズ群６１を駆動するためのフォーカ
シングレンズ駆動機構６２と、フォーカシングレンズ駆
動機構６２を駆動するためのレンズ駆動モータ６３と、
レンズ駆動モータ６３を駆動するためのレンズ駆動モー
タ駆動回路６４と、フォーカシングレンズ駆動機構６２
の駆動量をモニタするためのＬＤパルスを発生するＬＤ
パルス発生回路６５と、鏡枠ユニット内部にあるＥＥＰ
ＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ）６６と、鏡枠ユニットをユ
ニット状態で調整する時に、調整機から電気接続用のピ
ンを立てるための、鏡枠ユニット外部コネクト端子群６
７とを具備している。

【００２３】また、本体ユニット７０は、カメラ内部に
装填されたフィルムカートリッジ７１と、フィルム７３
の巻き付いたスプール部７２とを有する。フィルム７３
はカメラ内部の撮影開口部に引出されている。

【００２４】本体ユニット７０はさらに、フィルム給送
機構７４と、フィルム給送モータ７５と、フィルム給送
モータ駆動回路７６と、テレ側にズーミングするための
ＴＥＬＥ ＳＷ７７と、ワイド側にズーミングするため
のＷＩＤＥ ＳＷ７８と、カメラのシーケンス制御を行
うためのＣＰＵ７９と、外部制御装置８１とＣＰＵ７９
を接続するためのインターフェース回路８０と、被写体
輝度を測光するための測光センサー８３と、測光センサ
ー８３からの、測光光電流を対数圧縮するための対数圧
縮回路８４と、電源のＯＮ／ＯＦＦを設定するためのパ
ワーＳＷ（ＰＷＳＷ）８５と、レリーズボタンの第１ス
トロークでＯＮする１ＲＳＷ８６と、レリーズボタンの
第２ストロークでＯＮする２ＲＳＷ８７と、本体ユニッ
トに設けられたＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ）８８
と、カメラ内部に装填された電源電池４５と、この電源
電池４５のチェックを行うためのＢＣ回路４６とを具備
する。

【００２５】また、ＡＦユニット９０は公知の赤外アク
ティブ式の測距方式を用いており、測距のための赤外発
光ダイオード（ＩＲＥＤ）９１と、ＩＲＥＤ９１からの
光エネルギーを効率良く被写体９５に投射するための投
光レンズ９２と、半導体ポジションセンサー（ＰＳＤ）
９３と、被写体９５からのＩＲＥＤ反射光を効率良く受
光するための受光レンズ９４と、ＩＲＥＤ９１を駆動す
るための駆動回路、ＰＳＤからの出力電流を処理するた
めの処理回路を内蔵するＡＦＩＣ９６と、ＡＦユニット
９０の内部にあるＡＦ−ＥＥＰＲＯＭ９７とを具備す
る。

【００２６】また、ストロボユニット４０は、ストロボ
発光回路４１と、ストロボ充電回路４２と、ストロボ発
光部４３とを具備する。

【００２７】図３は、本発明の一実施形態のカメラを製
造する際の工程図である。図３において、ＡＦユニット
の製造工程１５０は、ＡＦユニット組立工程１５１と、
ＡＦ調整工程１５２とからなる。鏡枠ユニットの製造工
程１５３は、鏡枠ユニット組立工程１５４と、ズーム調
整工程１５５と、ｆｃ調整工程１５６と、シャッター秒
時調整工程１５７とからなる。ストロボユニットの製造
工程１５８は、ストロボユニット組立工程１５９からな
る。Ｍ基板ユニットの製造工程１６６は、Ｍ基板ユニッ
ト電気部品を実装する工程１６７と、ＢＣ電圧調整（バ
ッテリーチェック電圧調整）を行う工程１６８とからな
る。その他のユニットの製造工程１６０はその他のユニ
ット組立工程１７０からなる。

【００２８】本流工程１６１は、製造された各々のユニ
ットを組合わせて、完成されたカメラを製造する工程で
あり、各々のユニットを組合わせる本流組立工程１６２
と、ストロボ充電電圧調整工程１６３と、外装組立工程
１６４と、測光調整工程１６５とからなる。

【００２９】図４（ａ）、（ｂ）は絞り兼用シャッター
の構成を示す図である。２５０は不図示のシャッター地
板に設けられた露出用の開口、２５１，２５２は一対の
セクター、２５３，２５４はシャッター地板に植立され
たピンである。一対のセクター２５１，２５２は、ピン
２５３，２５４に嵌入して保持されている。また一対の
セクター２５１，２５２は開口２５０を遮蔽する閉位置
（図４（ａ））と、露呈する開位置（図４（ｂ））とに
回動自在になっている。

【００３０】セクターレバー２５５は前記シャッター地
板に回動自在に軸支されている。その一方の腕部の先端
に植立されたピン２５５ｂがセクター２５１，２５２の
カム穴に摺動可能に嵌合している。他方の腕部先端に植
立されたピン２５５ａがソレノイド５９のプランジャ２
５９の端面に当接している。

【００３１】上記セクターレバー２５５には、セクター
２５１，２５２を開口２５０の開放方向に付勢するため
の開口バネ２５６がシャッター地板との間に懸架されて
いる。このプランジャ２５９が吸引若しくは開放動作を
行うことにより、セクターレバー２５５が回動してセク
ター２５１，２５２が開閉することになる。

【００３２】図５はフォーカシングレンズの駆動機構に
ついて説明するための図である。図５において、フォー
カシングレンズ枠３５２はフォーカシングレンズ群６１
（図２）を保持するためのものである。フォーカシング
レンズ枠３５２の一端にはフォーカシング枠ギヤ３５３
が設けられている。フォーカシング枠ギヤ３５３には動
力伝達機構３４６が係合している。フォーカシングレン
ズ枠３５２の外周部にはヘリコイド３５４が形成されて
いる。

【００３３】６３はフォーカシングの駆動源となるレン
ズ駆動モータである。レンズ駆動モータ６３の出力軸に
はピニオンギヤ３４２が設けられている。ピニオンギヤ
３４２にはギヤ３４３，３４４，３４５が順次噛合して
いる。ギヤ３４２〜３４５で動力伝達機構３４６を構成
している。

【００３４】回転スリット３４７はギヤ３４３と同軸に
配設され同じ回転数で回転する。フォトインタラプタ３
４８は、回転スリット３４７の回転量をモニタするため
のものである。回転スリット３４７，フォトインタラプ
タ３４８を合わせてＬＤパルス発生回路６５を構成す
る。このＬＤパルス発生回路６５の出力は、ＣＰＵ７９
（図２）に入力される。ＣＰＵ７９は、このパルス発生
回路６５から出力されるパルス信号を入力してフォーカ
シングレンズの繰出し量を検出する。

【００３５】図６はＢＣ回路４６の詳細な内部構成を示
す図である。

【００３６】スイッチングトランジスタ３０はＣＰＵ７
９からのＢＣＣＮＴ信号ラインによって制御される。す
なわち、ＢＣＣＮＴ信号ラインがＬレベルになるとこの
スイッチングトランジスタ３０がＯＮしてＢＣ回路４６
が動作を開始する。電源電池の出力電圧ＶＣＣは分圧抵
抗３１，３２によって分圧される。基準電圧発生回路３
３は安定化された基準電圧を発生する。

【００３７】出力電圧ＶＣＣは、電源電池の消耗状態に
応じて変動するが、基準電圧発生回路３３の発生する基
準電圧は一定の電圧を保つ。

【００３８】Ａ／Ｄ変換回路３４は基準電圧発生回路３
３から出力された基準電圧を基準として、分圧抵抗３
１，３２の中間点の電圧をＡ／Ｄ変換（アナログ−デジ
タル変換）する。このＡ／Ｄ変換回路３４の出力ライン
群ＢＣＤＡＴＡは、ＣＰＵ７９に出力される ３５はダミーロード回路である。バッテリーチェック時
にはこのダミーロードをＯＮ状態に制御して電源電池よ
り所定の負荷電流を流した状態にする。無負荷の状態で
のＶＣＣの電圧判定では、電池の消耗状態を正しく判定
することはできない。

【００３９】図７はズーム調整機を説明するための図で
ある。ズーム調整のための調整用台４００には、完成さ
れた鏡枠ユニット５０を取り付けるための取付部４０１
と、レーザ変位計４０７を支持するための支持台４０８
とが取り付けられている。レーザ変位計４０７は、レン
ズの先端の光軸方向の変位を計測するためのものであ
る。

【００４０】コネクトピン４０２は調整の時に、調整機
と鏡枠ユニットの電気的な接続を行うためのコネクトピ
ンであり、コネクト板４０３によって固定される。この
コネクト板４０３は取付部４０１に設置された腕部４０
４によって支持される。コネクト板４０３は、腕部４０
４に対して回動自在になっている。さらにコネクトピン
４０２は、前板基板４上に設けられた、鏡枠ユニット外
部コネクト端子群６７（図２）に対して接触可能となっ
ている。コンピュータ４０５はズーム調整のシーケンス
制御を行うためのものである。

【００４１】コネクト板４０３と通信インタフェース回
路４０６間、通信インタフェース回路４０６とコンピュ
ータ４０５間は接続コードにて電気的に接続されてい
る。

【００４２】図８はズーム調整工程の手順を説明するた
めのフローチャートである。図７に示すように、鏡枠ユ
ニット５０をズーム調整機にセットして以下の処理を行
う。以下はコンピュータ４０５の制御シーケンスであ
る。ステップＳ１では、通信インターフェース回路４０
６を介して、鏡枠ユニット５０に対して信号を送りワイ
ドセットを行う。ワイドセットとは、沈胴状態にある鏡
枠をワイド位置に繰出すことである。ワイド位置は、部
品寸法バラツキ、鏡枠組み上がりバラツキによりばらつ
くが、この状態は調整前であるので、設計標準値として
の、パルス数（ディフォルト・パルス数）でワイドセッ
トを行う。

【００４３】ステップＳ２では、レーザ変位計４０７を
使用して、ワイド状態での最前面のレンズの位置を計測
する。ステップＳ３ではディフォルト・パルス数で、テ
レセットを行う。ステップＳ４ではレーザ変位計４０７
を使用して、テレ状態での最前面のレンズの位置を計測
する。

【００４４】ステップＳ５ではズーム調整値の演算を行
う。ここではステップＳ２，Ｓ３で計測したレンズの実
測値と、設計値を比較演算し、ワイド位置と、テレ位置
のそれぞれのズームパルスの調整値を演算する。この調
整値は、ディフォルトパルスからのずれを調整値とす
る。ステップＳ６では、ズーム調整値をＫ−ＥＥＰＲＯ
Ｍに記憶する。ステップＳ７では、鏡枠ユニットのシリ
アルＮｏ．、ユニット種別Ｎｏ．をＫ−ＥＥＰＲＯＭに
記憶する。ステップＳ８では、ズーム調整年月日、ズー
ム調整工場、ズーム調整機Ｎｏ．、ズーム調整機作業者
をＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。次にステップＳ９で沈
胴動作を行って終了する。

【００４５】図９はｆｃ調整機について説明するための
図である。ここで図７と同一番号の部材は、同一機能の
部材であるので、説明を省略する。

【００４６】鏡枠取付箱４５０はｆｃ調整のためのもの
であり、その内部にはＣＣＤエリアセンサ４５１がフィ
ルム等価面に設置されている。ＣＣＤ駆動処理回路４５
２は、ＣＣＤエリアセンサ４５１に対する駆動と、出力
信号の処理を行う回路である。このＣＣＤ駆動処理回路
４５２は、通信インターフェース回路４５３を介してｆ
ｃ調整を行うためのコンピュータ４５４に接続されてい
る。

【００４７】ｆｃ調整のためのコリメータ４５５の内部
には、格子状のパターンが設けられたｆｃ調整のための
チャート４５６が取り付けられている。４５６′はチャ
ート４５６を鏡枠側から光軸方向に沿って見たところを
示している。中央部に格子状のパターン４５６Ａが設け
られている。

【００４８】コリメータ４５５の内部にはさらに、チャ
ート４５６からの光線を平行光線に変換するためのコリ
メータレンズ４５７が設けられている。このコリメータ
レンズ４５７は、チャート４５６が等価的に無限遠方に
あるように見せかけるためのレンズである。チャート４
５６は光源４５８からの光線によって所定の明るさに照
らされる。

【００４９】図１０はｆｃ調整工程の手順を説明するた
めのフローチャートである。図９に示すように、鏡枠ユ
ニット５０をｆｃ調整機にセットして以下の処理を行
う。以下は、コンピュータ４５４の制御シーケンスであ
る。ステップＳ１００では、通信インターフェース回路
４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送り、シャ
ッターを開く。ステップＳ１０１では通信インターフェ
ース回路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送
り、ズーム駆動機構を動かし、ワイドセットを行う。ス
テップＳ１０２では通信インターフェース回路４５３を
介して、鏡枠ユニット５０に信号を送り、レンズリセッ
ト駆動を行う。レンズリセット駆動とは、図５のフォー
カシングレンズの駆動機構において、レンズ駆動モータ
６３を、フォーカシングレンズが繰込む方向に回転させ
て、不図示のメカストッパ位置に当て付ける動作のこと
である。

【００５０】ステップＳ１０３ではＣＣＤ撮像素子上に
できる、チャートの像のピントが合うまでフォーカシン
グレンズを繰出す。ＣＣＤ撮像素子上にできる、チャー
トの像のコントラストが最大の所がピントの最良地点で
ある。

【００５１】ステップＳ１０４ではｆｃ調整値をＫ−Ｅ
ＥＰＲＯＭに記憶する。ｆｃ調整値は、上記繰出しパル
スの実測値と、設計値を比較演算し、その差をｆｃ調整
値とする。ステップＳ１０５では、焦点距離（ズーム位
置）がテレ位置にあるかどうかを判断し、ＹＥＳの場合
にはステップＳ１０７に進み、そうで無い場合には、ス
テップＳ１０６に進む。

【００５２】ステップＳ１０６では、通信インターフェ
ース回路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送
り、ズーム駆動機構を動かし、テレセットを行う。ま
た、ステップＳ１０７では、通信インターフェース回路
４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送り、シャ
ッターを閉じる。

【００５３】ステップＳ１０８では、ｆｃ調整年月日、
ｆｃ調整工場、ｆｃ調整機Ｎｏ．、ｆｃ調整機作業者を
Ｋ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。次にステップＳ１０９に
おいて沈胴動作を行って終了する。

【００５４】図１１はシャッター秒時調整機を示す図で
ある。ここでは図７と同一番号の部材は、同一機能の部
材であるので、説明を省略する。

【００５５】鏡枠取付箱５００は、シャッター秒時調整
のためのものである。この鏡枠取付箱５００の内部には
光センサ５０１がフィルム等価面に設けられている。光
センサ処理回路５０２は光センサ５０１からの出力を処
理する。

【００５６】光センサ処理回路５０２には通信インター
フェース回路５０３を介してシャッター秒時調整を行う
ためのコンピュータ５０４が接続されている。５０５は
撮影レンズの前面より、均一照明を与えるための輝度箱
である。

【００５７】図１２はシャッター秒時調整工程の手順を
説明するためのフローチャートである。図１１に示すよ
うに、鏡枠ユニット５０を、シャッター秒時調整機にセ
ットし、以下の処理を行う。以下は、コンピュータ５０
４の制御シーケンスである。

【００５８】ステップＳ１５０では通信インターフェー
ス回路５０３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送
り、ワイドセットを行う。ステップＳ１５１では通信イ
ンターフェース回路５０３を介して、鏡枠ユニット５０
に信号を送り、シャッター秒時１／２５０秒にて、シャ
ッター動作を行う。この段階では、シャッター調整前な
ので、シャッター秒時１／２５０秒に対応した、正しい
ソレノイド通電時間は求められていないので、設計的な
標準値でシャッターを動作させる。シャッター秒時１／
２５０秒は、このカメラの最高速シャッター秒時であ
る。

【００５９】ステップＳ１５２では、ステップＳ５０
１，Ｓ５０２を利用して、シャッター開口波形を求め
る。ステップＳ１５３ではシャッター調整値ΔＳＳを演
算して求める。ステップＳ１５４ではシャッター調整値
ΔＳＳをＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ１５
５ではシャッター調整年月日、シャッター調整工場、シ
ャッター調整機Ｎｏ．、シャッター調整機作業者をＫ−
ＥＥＰＲＯＭに記憶する。次のステップＳ１５６で沈胴
動作を行って終了する。

【００６０】図１３はシャッター秒時１／２５０秒にて
シャッターを動作させた時の開口波形の一例を示す図で
ある。横軸は時間を示し、縦軸は光センサー５０１から
の光量に対応する出力電流値を示す。５２０はシャッタ
ー開口波形の実測値を示す。５２１はシャッター開口波
形の設計目標値を示す。この５２０，５２１の波形のピ
ークの時間的なずれを、調整値ΔＳＳとする。

【００６１】図１４はＡＦ調整機を示す図である。ＡＦ
ユニット８は支持部５５０により支持されている。ＡＦ
ユニット８からはＡＦフレキ（フレキシブル基板）５５
１が引き出されている。このＡＦフレキ５５１は、図１
のメイン基板に接続する部分のフレキである。

【００６２】コネクトピン５５２は、調整の時に、調整
機と鏡枠ユニットの電気的な接続を行うためのものであ
る。コネクトピン５５２はコネクト板５５３によって固
定されている。ＡＦ調整を行うためのコンピュータ５５
５が通信インターフェース回路５５４を介して接続され
ている。５５６はＡＦ調整のためのチャートである。こ
のチャート５５６は、灰色のチャートで、ＡＦユニット
から所定の距離の位置に設置されている 図１５はＡＦ調整工程の手順を説明するためのフローチ
ャートである。図１４に示すように、ＡＦユニット８を
ＡＦ調整機にセットして以下の処理を行う。

【００６３】以下は、コンピュータ５５５の制御シーケ
ンスである。ステップＳ２００では通信インターフェー
ス回路５５４を介して、ＡＦユニット８に信号を送り、
測距を行う。ステップＳ２０１では通信インターフェー
ス回路５５４を介して、ＡＦユニット８より測距データ
を入力する。

【００６４】ステップＳ２０２ではＡＦ調整値を演算す
る。ステップＳ２００で求められる測距データは、ＡＦ
ユニット８で使用される部品のバラツキ等により、製品
個々によって異なるものとなる。ここで、測距データと
しての設計標準値に対する、ステップＳ２００での実測
値のズレを、ＡＦ調整値として求める。

【００６５】ステップＳ２０３では上記ＡＦ調整値をＡ
Ｆ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ２０４でＡＦ
調整年月日、ＡＦ調整工場、ＡＦ調整機Ｎｏ．、ＡＦ調
整機作業者、ＡＦユニットシリアルＮｏ．ユニット種別
Ｎｏ．をＡＦ−ＥＥＰＲＯＭに記憶して終了する。

【００６６】図１６はストロボ充電電圧調整機を示す図
である。ＢＣ電圧調整と同様に、充電電圧を検出する回
路の部品のバラツキにより、調整無しでは正しい充電電
圧の検出はできない。従って、調整無しでは、充電を正
しい上限電圧に停止することができない。そこでここで
は充電電圧調整を行う。

【００６７】６５０は本流組立工程１６２（図３）を経
たカメラを示している。この状態ではまだカメラの外装
は付いていない。このカメラ６５０は台６５１上に固定
されている。９はストロボ基板である。コネクトピン６
５２はストロボ基板９と電気的な接続を行うためのもの
である。

【００６８】コネクト板６５３は不図示の油圧式ジャッ
キによりアップダウン可能となっている。６５３はダウ
ン位置（電気的な接続有り）、６５３’はアップ位置
（電気的な接続無し）である。

【００６９】この調整機では、ストロボ充電の停止電圧
（充電を止める電圧）を高電圧電源６５４から出力して
ストロボ基板に印加している。

【００７０】ストロボ充電電圧調整のためのコンピュー
タ６５６は、通信インターフェース回路６５５を介して
接続されている。６５７は、通信インターフェース回路
６５５からの通信ラインをカメラ６５０に接続するため
のコネクト部である。

【００７１】図１７はストロボ充電電圧調整工程の手順
を説明するためのフローチャートである。

【００７２】図１６に示すように、カメラ６５０をスト
ロボ充電電圧調整機にセットして以下の処理を行う。以
下は、コンピュータ６５６の制御シーケンスである。

【００７３】ステップＳ３００では高電圧電源６５４か
らの出力電圧を不図示のリレーを動作させてストロボ基
板９上に印加する。ステップＳ３０１ではストロボ基板
９上に実装されたストロボ充電エネルギーを蓄積するた
めのメインコンデンサー（メインＣ）の充電電圧を不図
示の充電電圧検出回路でＡ／Ｄ変換する。メインＣの充
電電圧は、上記の高電圧電源６５４から印加された高電
圧により充電されている。

【００７４】ステップＳ３０２では上記充電電圧Ａ／Ｄ
値をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ３０３に
おいてストロボ充電電圧調整年月日、ストロボ充電電圧
調整工場、ストロボ充電電圧調整機Ｎｏ．、ストロボ充
電電圧調整機作業者をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶して終了
する。

【００７５】図１８は測光調整機を示す図である。台７
０１上には外装組立後のカメラ７００が固定されてい
る。

【００７６】測光調整のためのコンピュータ７０３が通
信インターフェース回路７０２を介して接続されてい
る。７０４は通信インターフェース回路７０２からの通
信ラインをカメラ７００に接続するためのコネクト部で
ある。７０５はカメラ前面より、均一照明を与えるため
の輝度箱である。７０６は測光センサー８３（図２）に
被写体からの光を取り込むための測光窓である。

【００７７】図１９はγ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整値
について説明するための図である。横軸は輝度箱の明る
さを示し、縦軸は測光データを示す。７１０は設計上の
測光標準特性であり、７１１は実測した測光データＬ、
測光データＨにより決定される測光実測特性である。測
光データは輝度箱の明るさが明るい程大きくなる。

【００７８】ここで、ＯＦＦＳＥＴ調整値は、図１９に
おいて、低輝度における測光データのことである。また
γ調整値は、測光実測特性の直線の傾きのことである。

【００７９】図２０は測光調整工程の手順を説明するた
めのフローチャートである。図１８に示すように、カメ
ラ７００を測光調整機にセットして以下の処理を行う。
以下は、コンピュータ７０３の制御シーケンスである。

【００８０】ステップＳ３５０では通信インターフェー
ス回路７０２を介して、輝度箱７０５に対して信号を送
り、輝度箱７０５に対して低輝度を設定する。ステップ
Ｓ３５１では通信インターフェース回路７０２を介して
カメラ７００に信号を送り測光を行う。ステップＳ３５
２では通信インターフェース回路７０２を介して、カメ
ラ７００より、測光データＬ（低輝度での測光データ）
を入力する。

【００８１】ステップＳ３５３では通信インターフェー
ス回路７０２を介して、輝度箱７０５に対して信号を送
り、輝度箱７０５に対して高輝度を設定する。ステップ
Ｓ３５４では通信インターフェース回路７０２を介し
て、カメラ７００に信号を送り測光を行う。ステップＳ
３５５では通信インターフェース回路７０２を介して、
カメラ７００より、測光データＨ（高輝度での測光デー
タ）を入力する。ステップＳ３５６では測光調整値を演
算する。測光調整値は、γ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整
値の二つよりなる。

【００８２】ステップＳ３５７では測光調整値をＨ−Ｅ
ＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ３５８では測光調整
年月日、測光調整工場、測光調整機Ｎｏ．、測光調整機
作業者をＨ−ＥＥＰＲＯＭ記憶する。ステップＳ３５９
ではユニット種別Ｎｏ．、本体ユニットシリアルＮ
ｏ．、ＡＦユニットのシリアルＮｏ．、鏡枠ユニットの
シリアルＮｏ．がＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶される。これ
ら組み合わされるＡＦユニットのシリアルＮｏ．、鏡枠
ユニットのシリアルＮｏ．は、各ユニットにあるＥＥＰ
ＲＯＭの内部に記憶されており、各ユニットのＥＥＰＲ
ＯＭと通信して読み取られる。Ｈ−ＥＥＰＲＯＭに組み
合わされるユニットのシリアルＮｏ．をＨ−ＥＥＰＲＯ
Ｍに記憶する理由は下記の通りである。

【００８３】例えば、完成品の抜取り検査等で、不良が
発生した場合や、市場でカメラが故障した場合は、カメ
ラを分解して修理する必要があるが、分解した結果、本
体ユニット、鏡枠ユニット、ＡＦユニット等の組合わせ
が不明確になる可能性がある。ここで、各ユニットに
は、シリアルＮｏ．が記憶されており、またＨ−ＥＥＰ
ＲＯＭには、各ユニットのシリアルＮｏ．が記憶されて
いるので、これらシリアルＮｏ．を通信用の機器を使用
することによって読み出して確認し、正しいユニットの
組合わせで再組立することができる。

【００８４】図２４は、各ユニット内部のＥＥＰＲＯＭ
の内容一覧を示す図である。

【００８５】各調整における、調整年月日、調整工場、
調整機Ｎｏ．、調整機作業者をＥＥＰＲＯＭに記憶する
ようにしているが、これは、不良等が発生した時の、原
因を解析し易くするために記憶している。

【００８６】図２１はカメラ内部のＣＰＵ７９（図２）
の制御フローである。ステップＳ５００ではＰＷＳＷ８
５の状態をモニタし、ＯＮならばステップＳ５０３に進
み、ＯＦＦならばステップＳ５０１に進む。ステップＳ
５０１ではズーム駆動機構を介して、沈胴を行う。ステ
ップＳ５０２ではパワーＯＦＦ処理を行う。パワーＯＦ
Ｆ処理とは、各回路を省電力モードに設定してスタンバ
イ・モードに入ることを意味する。

【００８７】ステップＳ５０３ではパワーＯＮ処理を行
う。ここでは各回路を省電力モードから起こして動作モ
ードにする。ステップＳ５５０ではバッテリー・チェッ
クを行う。バッテリー・チェックは、ＢＣ電圧調整値を
Ｈ−ＥＥＰＲＯＭより読み出し、この調整よりもＶＣＣ
のＡ／Ｄ変換値が高ければ、電源電池の状態は良好と判
断し、この調整値よりもＡ／Ｄ変換値が低い場合は、電
源電池の状態は、良好で無いと判断して、それ以降のシ
ーケンスを中止する。

【００８８】ステップＳ５０４ではズーム駆動機構を介
してワイド・セットを行う。この時、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ
に記憶されたワイド・ズーム調整値を読み出し、その調
整値から、ワイドへのズーム駆動パルス数を求めて、ワ
イド・セットを行う。ステップＳ５０５では１ＲＳＷ８
６の状態をモニタし、ＯＮならばステップＳ５５１に進
み、ＯＦＦならばステップＳ５２０に進む。ステップＳ
５５１ではバッテリー・チェックを行う。ステップＳ５
５０と同じシーケンスとなる。ステップＳ５０６では測
光を行う。

【００８９】ステップＳ５０７ではＨ−ＥＥＰＲＯＭよ
り測光調整値を読み出し、その調整値と、上記ステップ
Ｓ５０６で求めた測光値より、補正された測光データを
得る。ステップＳ５０８では測距を行う。ステップＳ５
０９ではステップＳ５０８で求めた測距データと、Ｋ−
ＥＥＰＲＯＭから読み出したｆｃ調整値と、ＡＦ−ＥＥ
ＰＲＯＭから読み出したＡＦ調整値より、補正されたレ
ンズ繰出量を求める。

【００９０】ここでｆｃ調整値は、ワイドｆｃ調整値
と、テレｆｃ調整値の２種類を持つが、設定されたズー
ム位置が、ワイド位置と、テレ位置の中間位置にある場
合は、両調整値から補間演算により、その時のズーム位
置に対応した、ｆｃ調整値を求めて制御を行う。

【００９１】ステップＳ５１０では露出演算を行う。こ
こではステップＳ５０７で求めた補正された測光データ
と、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭに記憶されたシャッター調整値か
ら、補正されたシャッター駆動時間を求める。ステップ
Ｓ５１１では２ＲＳＷ８７の状態をモニタし、ＯＮなら
ばステップＳ５１３に進み、ＯＦＦならばステップＳ５
１２に進む。ステップＳ５１２では１ＲＳＷの状態をモ
ニタし、ＯＮならばステップＳ５１１に進み、ＯＦＦな
らばステップＳ５２４に進む。

【００９２】ステップＳ５１３ではフォーカシングレン
ズ駆動機構を介して、フォーカシングレンズの繰出しを
行う。ステップＳ５１４ではシャッター機構（５８，５
９，６０）を駆動して露出を行う。ステップＳ５１５で
はフォーカシングレンズの繰込み（繰出したレンズを初
期位置に戻す）を行う。ステップＳ５１６ではフィルム
の巻上げを行う。ステップＳ５１７ではストロボの充電
を行う。充電電圧の停止検出には、Ｈ−ＥＥＰＲＯＭか
ら読み出したストロボ充電電圧調整値を利用する。

【００９３】一方、ステップＳ５２０ではＷＩＤＥ Ｓ
Ｗ７７の状態をモニタし、ＯＮならばステップＳ５２１
に進み、ＯＦＦならばステップＳ５２２に進む。ステッ
プＳ５２１ではワイド側へズーム駆動を行う。ワイド端
の検出には、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭから読み出した、ワイド
・ズーム調整値を利用して行う。ステップＳ５２２では
ＴＥＬＥ ＳＷ７８の状態をモニタし、ＯＮならばステ
ップＳ５２３に進み、ＯＦＦならばステップＳ５２４に
進む。

【００９４】ステップＳ５２３ではテレ側へズーム駆動
を行う。テレ端の検出には、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭから読み
出したテレ・ズーム調整値を利用して行う。ステップＳ
５２４ではＰＷＳＷ８５（図２）の状態をモニタし、Ｏ
ＮならばステップＳ５０５に戻り、ＯＦＦならばステッ
プＳ５０１に戻る。

【００９５】図２２はＢＣ電圧調整機の構成を示す図で
ある。図６に示すように、ＢＣ回路においては、ＶＣＣ
を分圧する抵抗３１，３２の抵抗値のバラツキ、基準電
圧回路３３の出力する基準電圧のバラツキ、Ａ／Ｄ回路
の変換誤差（リニアリティ誤差や、オフセット誤差）に
より、調整無しでは、正しいバッテリーチェックの電圧
判定ができない。そこでここではＢＣ電圧調整を行うよ
うにしている。電気部品が実装されたＭ基板ユニット１
４は、固定台６００上に固定されている。コネクトピン
６０１は、Ｍ基板ユニット１４に対して電気的な接続を
取るためのものである。コネクト板６０２はコネクトピ
ン６０１を固定するためのものであり、不図示の油圧式
のジャッキにより、ダウン位置（６０２の状態：Ｍ基板
に対して、コネクトピン６０１を接続する状態）と、ア
ップ位置６０２′との間で、アップダウン可能になって
いる。

【００９６】充電電圧調整を行うためのコンピュータ６
０４は、通信インターフェース回路６０３を介して接続
されている。

【００９７】図２３は、ＢＣ電圧調整工程の手順を説明
するためのフローチャートである。図２２に示すよう
に、Ｍ基板ユニット１４を、ＢＣ電圧調整機にセットし
て以下の処理を行う。以下は、コンピュータ６０４の制
御シーケンスである。

【００９８】ステップＳ２５０ではＶＣＣにＶＣＣBCを
印加する。ＶＣＣBCは、バッテリロック電圧である。カ
メラのバッテリチェックシーケンスにおいては、ＶＣＣ
がＶＣＣBC以上では、電源電池の消耗状態は、カメラの
動作可能のレベルと診断し、ＶＣＣBC未満では、カメラ
の動作不可能なレベルと判定する。

【００９９】ステップＳ２５１ではＶＣＣをＡ／Ｄ変換
する。ステップＳ２５２では上記Ａ／Ｄ変換値をＢＣ電
圧調整値としてＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステップ
Ｓ２５３では、ＢＣ電圧調整年月日、ＢＣ電圧調整工
場、ＢＣ調整機Ｎｏ．、ＢＣ電圧調整機作業者、Ｍ基板
シリアルＮｏ．をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶して終了す
る。

【０１００】なお、上記した具体的実施形態から以下の
ような構成の発明が抽出される。

【０１０１】１． 撮影レンズ鏡枠を含む鏡枠ユニット
と、この鏡枠ユニット内に設けられ、個々の製品により
異なる製造上のバラツキを補正するための、鏡枠ユニッ
ト状態にて調整された調整データが記憶された第１の電
気的書換え可能な不揮発性メモリと、前記鏡枠ユニット
以外のユニット内に設けられ、個々の製品により異なる
製造上のバラツキを補正するために、鏡枠ユニット以外
の状態にて調整された調整データが記憶された第２の電
気的書換え可能な不揮発性メモリと、上記第１及び上記
第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリに記憶された
調整データを用いてカメラのシーケンスを実行するシー
ケンス制御手段と、を具備することを特徴とするカメ
ラ。

【０１０２】２． 構成１のカメラにおいて、前記第１
の電気的書換え可能な不揮発性メモリには、カメラのｆ
ｃ調整データ（ピント合わせ調整データ）が記憶されて
いる。

【０１０３】３． 構成１のカメラにおいて、前記鏡枠
ユニット内にはさらに焦点距離切換え機構を有し、前記
第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリ内には、前記
焦点距離切換え機構の駆動特性に関する調整データが記
憶されている。

【０１０４】４． 構成１のカメラにおいて、前記鏡枠
ユニット内には、さらにシャッター機構を有し、前記第
１の電気的書換え可能な不揮発性メモリ内には、前記シ
ャッター機構の駆動特性に関する調整データが記憶され
ている。

【０１０５】５． 撮影レンズ鏡枠を含む鏡枠ユニット
と、この鏡枠ユニット内に設けられ、個々の製品により
異なる製造上のバラツキを補正するための、鏡枠ユニッ
ト状態にて調整された調整データが記憶された第１の電
気的書換え可能な不揮発性メモリと、本体内に設けら
れ、個々の製品により異なる、製造上のバラツキを補正
するための、本体状態にて調整された調整データが記憶
された第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、上
記第１および第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリ
に記憶された調整データを用いてカメラのシーケンスを
実行するシーケンス制御手段と、を具備することを特徴
とするカメラ。

【０１０６】６ 測距手段を含むユニットと、この測距
手段を含むユニット内に設けられ、個々の製品により異
なる製造上のバラツキを補正するための、測距手段を含
むユニット状態にて調整された調整データが記憶された
第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、上記測距
手段を含むユニット以外のユニット内に設けられ、個々
の製品により異なる製造上のバラツキを補正するため
の、測距手段を含むユニット以外の状態にて調整された
調整データが記憶された第２の電気的書換え可能な不揮
発性メモリと、上記第１及び第２の電気的書換え可能な
不揮発性メモリに記憶された調整データを用いてカメラ
のシーケンスを実行するシーケンス制御手段と、を具備
することを特徴とするカメラ。

【０１０７】７． 測距手段を含むユニットと、この測
距手段を含むユニット内に設けられ、個々の製品により
異なる製造上のバラツキを補正するための、測距手段を
含むユニット状態にて調整された調整データが記憶され
た第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、本体内
部に設けられ、個々の製品により異なる製造上のバラツ
キを補正するための、本体状態にて調整された調整デー
タが記憶された第２の電気的書換え可能な不揮発性メモ
リと、上記第１及び上記第２の電気的書換え可能な不揮
発性メモリに記憶された調整データを用いてカメラのシ
ーケンスを実行するシーケンス制御手段と、を具備する
ことを特徴とするカメラ。

【０１０８】８． 構成７のカメラにおいて、上記第１
の電気的書換え可能な不揮発性メモリ内には、測距に関
する調整データが記憶されている。

【０１０９】９． カメラのユニットと、このユニット
内に設けられ、上記ユニットの製造工程にて調整された
調整データが記憶された第１の電気的書換え可能な不揮
発性メモリと、前記ユニットの組み合わせ工程にて調整
された調整データが記憶された第２の電気的書換え可能
な不揮発性メモリと、上記第１及び第２の電気的書換え
可能な不揮発性メモリに記憶された調整データを用いて
カメラのシーケンスを実行するシーケンス制御手段と、
を具備することを特徴とするカメラ。

【０１１０】１０． 第１のユニットと、この第１のユ
ニット内に設けられ、上記第１のユニットの製造工程に
て調整された調整データが記憶されている第１の電気的
書換え可能な不揮発性メモリと、第２のユニットと、こ
の第２のユニット内に設けられ、上記第２のユニットの
製造工程にて調整された調整データが記憶された第２の
電気的書換え可能な不揮発性メモリと、上記第１及び第
２の電気的書換え可能な不揮発性メモリに記憶された調
整データを用いてカメラのシーケンスを実行するシーケ
ンス制御手段と、を具備することを特徴とするカメラ。

【０１１１】１１． 構成１または５のカメラにおい
て、前記第１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メ
モリ内には、鏡枠ユニットの識別データ（又はシリアル
Ｎｏ．）が記憶されている。

【０１１２】１２． 構成６または７のカメラにおい
て、前記第１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メ
モリ内には、測距手段を含むユニットの識別データ（又
はシリアルＮｏ．）が記憶されている。

【０１１３】１３． 構成９のカメラにおいて、前記第
１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリ内に
は、ユニットの識別データ（又はシリアルＮｏ．）が記
憶されている。

【０１１４】１４． 構成１、５、６、７、９、１０の
いずれか１つのカメラにおいて、前記第１の電気的書換
え可能な不揮発性メモリ内には、ユニット状態で調整工
程の行われた年月日又は時刻に関するデータが記憶され
ている。

【０１１５】１５． 構成１、５、６、７、９のいずれ
か１つのカメラにおいて、前記第２の電気的書換え可能
な不揮発性メモリ内には、調整工程の行われた年月日又
は時刻に関するデータが記憶されている。

【０１１６】

【発明の効果】本発明によれば、ユニットに電気的書換
え可能な不揮発性メモリを持たせ、ユニット状態で各種
調整を行うようにしたので、本流工程から調整機を排除
して本流工程を軽くするとともに、ユニット状態で完成
品としての品質を保証しつつ本流工程でのユニットに起
因する不良の発生をなくしたカメラを提供することが可
能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るカメラの斜視図であ
る。

【図２】本発明の一実施形態に係るカメラの内部構成を
示す図である。

【図３】本発明の一実施形態のカメラを製造する際の工
程図である。

【図４】絞り兼用シャッターの構成を示す図である。

【図５】フォーカシングレンズの駆動機構について説明
するための図である。

【図６】ＢＣ回路４６の詳細な内部構成を示す図であ
る。

【図７】ズーム調整機を説明するための図である。

【図８】ズーム調整工程の手順を説明するためのフロー
チャートである。

【図９】ｆｃ調整機について説明するための図である。

【図１０】ｆｃ調整工程の手順を説明するためのフロー
チャートである。

【図１１】シャッター秒時調整機を示す図である。

【図１２】シャッター秒時調整工程の手順を説明するた
めのフローチャートである。

【図１３】シャッター秒時１／２５０秒にてシャッター
を動作させた時の開口波形の一例を示す図である。

【図１４】ＡＦ調整機を示す図である。

【図１５】ＡＦ調整工程の手順を説明するためのフロー
チャートである。

【図１６】ストロボ充電電圧調整機を示す図である。

【図１７】ストロボ充電電圧調整工程の手順を説明する
ためのフローチャートである。

【図１８】測光調整機を示す図である。

【図１９】γ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整値について説
明するための図である。

【図２０】測光調整工程の手順を説明するためのフロー
チャートである。

【図２１】カメラ内部のＣＰＵ７９の制御フローであ
る。

【図２２】ＢＣ電圧調整機の構成を示す図である。

【図２３】ＢＣ電圧調整工程の手順を説明するためのフ
ローチャートである。

【図２４】各ユニット内部のＥＥＰＲＯＭの内容一覧を
示す図である。

【符号の説明】

１ 鏡枠部 ２ 前板 ３ 鏡枠ユニット ４ 前板基板 ５ 鏡枠ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ） ６ コネクト部 ７ 本体部 ８ ＡＦユニット ９ ストロボユニット １０ ストロボ発光部 １１ メインコンデンサー １２ ファインダー対物レンズ １３ 測光センサーのための窓 １４ メイン基板 １５ シーケンス制御のためのＣＰＵ １６ 本体ＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ） ５０ 鏡枠ユニット ６６ ＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ） ７０ 本体ユニット ７９ ＣＰＵ ８８ ＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ） ９０ ＡＦユニット ９７ ＡＦ−ＥＥＰＲＯＭ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 芳明 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Ｆターム(参考） 2H011 AA01 DA00 2H044 AJ01 2H051 CA17 GB11 2H100 FF01

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮影レンズ鏡枠を含む鏡枠ユニットと、 この鏡枠ユニット内に設けられ、個々の製品により異な
   る製造上のバラツキを補正するための、鏡枠ユニット状
   態にて調整された調整データが記憶された第１の電気的
   書換え可能な不揮発性メモリと、 前記鏡枠ユニット以外のユニット内に設けられ、個々の
   製品により異なる製造上のバラツキを補正するための、
   鏡枠ユニット以外の状態にて調整された調整データが記
   憶された第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、 上記第１及び上記第２の電気的書換え可能な不揮発性メ
   モリに記憶された調整データを用いてカメラのシーケン
   スを実行するシーケンス制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。
2. 【請求項２】 測距手段を含むユニットと、 この測距手段を含むユニット内に設けられ、個々の製品
   により異なる製造上のバラツキを補正するための、測距
   手段を含むユニット状態にて調整された調整データが記
   憶された第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、 上記測距手段を含むユニット以外のユニット内に設けら
   れ、個々の製品により異なる製造上のバラツキを補正す
   るための、測距手段を含むユニット以外の状態にて調整
   された調整データが記憶された第２の電気的書換え可能
   な不揮発性メモリと、 上記第１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリ
   に記憶された調整データを用いてカメラのシーケンスを
   実行するシーケンス制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。
3. 【請求項３】 第１のユニットと、 この第１のユニット内に設けられ、上記第１のユニット
   の製造工程にて調整された調整データが記憶されている
   第１の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、 第２のユニットと、 この第２のユニット内に設けられ、上記第２のユニット
   の製造工程にて調整された調整データが記憶された第２
   の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、 上記第１及び第２の電気的書換え可能な不揮発性メモリ
   に記憶された調整データを用いてカメラのシーケンスを
   実行するシーケンス制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。
4. 【請求項４】 カメラのシーケンス制御を行うための制
   御回路を含む第１のユニットと、 この第１のユニット内に設けられ、上記第１のユニット
   の状態で調整された調整データ又は、上記第１のユニッ
   トを含む複数のユニットの組合わせ状態で調整された調
   整データが記憶された第１の電気的書換え可能な不揮発
   性メモリと、 第２のユニットと、 この第２のユニット内に設けられ、上記第２のユニット
   の製造工程にて調整された調整データが記憶された第２
   の電気的書換え可能な不揮発性メモリと、 上記第１のユニット内に設けられ、上記第１及び上記第
   ２の電気的書換え可能な不揮発性メモリに記憶された調
   整データを用いてカメラのシーケンスを実行するシーケ
   ンス制御手段と、 を具備することを特徴とするカメラ。