JP2002090847A

JP2002090847A - カメラ及びカメラの製造システム

Info

Publication number: JP2002090847A
Application number: JP2000282699A
Authority: JP
Inventors: Yoshiaki Kobayashi; 芳明小林; Yuji Imai; 右二今井
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2000-09-18
Filing date: 2000-09-18
Publication date: 2002-03-27
Also published as: CN1955831A; CN1344967A; CN1293424C; CN100594417C

Abstract

(57)【要約】【課題】ユニットで調整を完結し、ユニットにて信頼性
の保証が可能となるとともに本流での調整工程が不要と
なるカメラ及びカメラの製造システムを提供する。【解決手段】カメラのユニット（例えば鏡枠ユニット５
０）と、ユニット内に設けられた、電気的に書込み可能
な不揮発性メモリ（例えば鏡枠ユニットＥＥＰＲＯＭ６
６）とを具備し、不揮発性メモリ（鏡枠ユニットＥＥＰ
ＲＯＭ６６）の内部には、個々のユニットにおいて発生
するバラツキを調整するための調整値と、個々のユニッ
トを識別するための識別ナンバーが記憶されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はカメラ及びカメラの
製造システムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えば特開昭６３−２５６９３１号公報
は、カメラの本体組み合わせ状態において、光電コリメ
ータを使用して鏡枠の部品寸法バラツキ、組み付けバラ
ツキにより発生するｆｃ誤差を測定し、カメラ本体内部
の電気的書込み可能な不揮発性メモリに記憶することを
開示している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】不揮発性メモリに記憶
するパラメータは、当該パラメータを記憶するユニット
を動作させてその値を決定する。しかし、不揮発性メモ
リはカメラ本体に一箇所存在するため、各ユニットを結
合した状態にならなくては不揮発性メモリのパラメータ
を決定することができないという問題があった。

【０００４】本発明はこのような課題に着目してなされ
たものであり、その目的とするところは、ユニットで調
整を完結し、ユニットにて信頼性の保証が可能となると
ともに本流での調整工程が不要となるカメラ及びカメラ
の製造システムを提供することにある。

【０００５】また、本発明の他の目的は、調整時のデー
タをデータベース化することで各ユニットで使用する部
品の故障及び各ユニット工程で異常が発生したときの早
期発見や、カメラ完成品で不合格品が発生したとき前工
程へのフィードバックが可能なカメラ及びカメラの製造
システムを提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明はカメラであって、カメラのユニット
と、上記ユニット内に設けられた、電気的に書込み可能
な不揮発性メモリとを具備し、上記不揮発性メモリに
は、個々のユニットにおいて発生するバラツキを調整す
るための調整値と、個々のユニットを識別するための識
別ナンバーが記憶されている。

【０００７】また、第２の発明はカメラの製造システム
であって、カメラを構成する複数のユニットの中の少な
くとも１つのユニットに対して、当該ユニットの特性を
検査するための検査装置と、上記検査装置により検査さ
れた検査データ及び対応したユニットの識別ナンバーを
記憶するためのデータ記憶装置とを具備する。

【０００８】また、第３の発明はカメラの製造システム
であって、カメラのユニットを調整又は検査するため
の、複数の調整検査装置と、カメラの製造工程を管理す
るための管理装置と、上記複数の調整検査装置と、上記
管理装置との間を接続する通信回線と、上記管理装置に
接続されたメモリ手段とを具備し、前記メモリ手段に
は、各調整検査装置からの調整データ、又は検査データ
が、対応するユニットの識別ナンバーと一対で記録され
ている。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態
が適用されるカメラの斜視図である。ここではわかり易
くするために、外装を模擬的に透明状態で示してある。
１は、撮影レンズを内蔵する鏡枠部である。２は、鏡枠
部１を固定するための前板である。鏡枠部１及び前板２
はユニット状態で接続されており、合わせて鏡枠ユニッ
ト３を構成している。

【００１０】４は、前板２の前面に取り付けられた前板
基板である。この前板基板４は、図示していないが、鏡
枠部１の内部より引出された鏡枠フレキ、後述する本体
部から引出された本体フレキと電気的に接続されてい
る。５は、前板基板４上に設けられた不揮発性メモリと
しての鏡枠ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ）
である。６は、鏡枠ユニット３をユニット状態で調整す
る時に、調整機から電気接続用のピンを立てるためのコ
ネクト部である。７は、本体部である。８は、本体部７
の上部に取り付けられたＡＦユニットである。９はスト
ロボユニットである。１０は、ストロボユニット９に設
けられたストロボ発光部である。１１は、ストロボ発光
エネルギーを蓄積するためのメインコンデンサーであ
る。

【００１１】１２は、ファインダー対物レンズである。
１３は、測光センサーのための窓である。１４は、本体
部７の上部に設けられたメイン基板である。１５は、メ
イン基板１４上に設けられた、シーケンス制御のための
ＣＰＵである。１６は、メイン基板１４上に設けられた
不揮発性メモリとしての本体ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｈ
−ＥＥＰＲＯＭ）である。

【００１２】図２は、本実施形態のカメラの内部構成を
示す図である。５０は、鏡枠ユニットである。５１は、
撮影レンズの一部を示す図である。５２は、ズーミング
（焦点距離可変）のためのレンズ群である。５３は、ズ
ーム駆動機構である。５４は、ズーム駆動のためのモー
タである。５５は、ズーム駆動モータ５４の駆動回路で
ある。５６は、ズーミングに応じてパルスを発生するた
めのズームパルス発生回路である。５７は、絞り兼用シ
ャッター（セクターシャッター）である。５８は、絞り
兼用シャッター内部のセクター羽根を駆動するための、
セクター羽根駆動機構である。５９は、セクター羽根駆
動機構５８を駆動するためのソレノイドである。６０
は、ソレノイド５９を駆動するためのソレノイド駆動回
路である。

【００１３】６１は、フォーカシングのためのレンズ群
である。６２は、レンズ群６１を駆動するためのフォー
カシングレンズ駆動機構である。６３は、フォーカシン
グレンズ駆動機構６２を駆動するためのレンズ駆動モー
タである。６４は、レンズ駆動モータ６３を駆動するた
めのレンズ駆動モータ駆動回路である。

【００１４】６５は、フォーカシングレンズ駆動機構６
２の駆動量をモニタするためのＬＤパルスを発生する回
路である。６６は、鏡枠ユニット５０の内部にある鏡枠
ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯＭ）である。６
７は、鏡枠ユニット５０をユニット状態で調整する時
に、調整機から電気接続用のピンを立てるためのコネク
ト部である。６８は、鏡枠ユニット５０と、本体ユニッ
ト７０を電気的に接続するためのコネクト部である。

【００１５】７１は、カメラ内部に装填されたフィルム
カートリッジである。７２は、フィルムの巻き付いたス
プール部を示す。７３は、カメラ内部の撮影開口部に引
出されたフィルムを示す。７４は、フィルム給送機構で
ある。７５は、フィルム給送モータである。７６は、フ
イルム給送モータ駆動回路である。７７は、テレ側にズ
ーミングするためのテレスイッチ（ＴＥＬＥＳＷ）で
ある。７８は、ワイド側にズーミングするためのワイド
スイッチ（ＷＩＤＥＳＷ）である。７９は、カメラの
シーケンス制御を行うためのＣＰＵである。８０は、外
部制御装置８１とＣＰＵ７９を接続するためのインター
フェース回路である。

【００１６】８２は、インターフェース回路８０と外部
制御装置８１とを電気的に接続するためのコネクト部で
ある。８３は、被写体輝度を測光するための測光センサ
ーである。８４は、測光センサー８３からの測光光電流
を対数圧縮するための、対数圧縮回路である。８５は、
電源のＯＮ／ＯＦＦを設定するためのパワーＳＷ（ＰＷ
ＳＷ）である。８６は、レリーズボタンの第１ストロー
クでＯＮする１ＲＳＷである。８７は、レリーズボタン
の第２ストロークでＯＮする２ＲＳＷである。８８は、
本体ユニット７０に設けられた不揮発性メモリとしての
本体ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ）であ
る。

【００１７】４５は、カメラ内部に装填された電源電池
である。４６は、バッテリーチェックを行うためのＢＣ
回路である。９０は、ＡＦユニットであり、ここでは公
知の赤外アクティブ式の測距方式を用いている。９１
は、測距のための赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）であ
る。９２は、ＩＲＥＤ９１からの光エネルギーを効率良
く被写体９５に投射するための投光レンズである。

【００１８】９３は、半導体ポジションセンサー（ＰＳ
Ｄ）である。９４は、被写体９５からの、ＩＲＥＤ反射
光を効率良く受光するための受光レンズである。９６
は、ＩＲＥＤ９１を駆動するための駆動回路であり、Ｐ
ＳＤ９３からの出力電流を処理するための処理回路を内
蔵するＡＦＩＣとなっている。９７はＡＦユニット９０
内に設けられた不揮発性メモリとしてのＡＦ−ＥＥＰＲ
ＯＭである。９９は、ＡＦユニット９０と、本体ユニッ
ト７０との間の電気的な接続を行うためのコネクト部で
ある。

【００１９】４０は、ストロボユニットである。４１
は、ストロボ発光回路である。４２は、ストロボ充電回
路である。４３は、ストロボ発光部である。４７は、ス
トロボユニット４０と、本体ユニット７０との間の電気
的な接続を行うためのコネクト部である。

【００２０】図３は、本実施形態のカメラを製造する際
の工程図である。１５０は、ＡＦユニットの製造工程で
あり、ＡＦユニット組立工程１５１とＡＦ調整工程１５
２とからなる。１５３は、鏡枠ユニットの製造工程であ
り、鏡枠ユニット組立工程１５４と、ズーム調整工程１
５５と、ｆｃ調整工程１５６と、シャッター秒時調整工
程１５７とからなる。１５８は、ストロボユニットの製
造工程であり、ストロボユニット組立工程１５９からな
る。

【００２１】１６６は、Ｍ（メイン）基板ユニットの製
造工程であり、Ｍ基板上に電気部品を実装する工程１６
７と、ＢＣ電圧調整（バッテリーチェック電圧調整）を
行う工程１６８とからなる。１６０は、その他のユニッ
トの製造工程である。

【００２２】１６１は、製造された各々のユニットを組
合わせて、完成されたカメラを製造する本流工程であ
り、各々のユニットを組合わせる本流組立工程１６２
と、ストロボ充電電圧調整工程１６３と、外装組立工程
１６４と、測光調整工程１６５とから構成される。

【００２３】図６は、上記したＢＣ回路４６の内部詳細
を示す図である。３０は、ＣＰＵ７９からのＢＣＣＮＴ
信号ラインによって制御されるスイッチング用のトラン
ジスタである。ＢＣＣＮＴ信号ラインがＬレベルになる
と、トランジスタ３０がＯＮし、ＢＣ回路４６が動作を
開始する。

【００２４】３１，３２は、電源電池の出力電圧ＶＣＣ
を分圧するための抵抗である。３３は、安定化した基準
電圧を発生する基準電圧発生回路である。ＶＣＣは電源
電池４５の消耗状態に応じて変動するが、基準電圧発生
回路３３の発生する基準電圧は一定状態を保つ。

【００２５】３４は、基準電圧発生回路３３から出力さ
れた基準電圧を基準として、抵抗３１，３２の中間点の
電圧をＡ／Ｄ変換（アナログ−デジタル変換）するため
の、Ａ／Ｄ回路である。このＡ／Ｄ回路３４の出力ライ
ン群ＢＣＤＡＴＡは、ＣＰＵ７９に出力される。

【００２６】３５は、ダミーロード回路を示す。バッテ
リーチェック時には、このダミーロード回路３５をＯＮ
状態にして、電源電池４５より、所定の負荷電流を流し
た状態にする。無負荷の状態でのＶＣＣの電圧判定で
は、電源電池４５の消耗状態を正しく判定することはで
きない。

【００２７】図４は、絞り兼用シャッターの構成を示す
図である。２５０は、不図示のシャッター地板に設けら
れた露出用の開口である。２５１，２５２は、一対のセ
クターである。２５３，２５４は、シャッター地板に植
立されたピンである。一対のセクター２５１，２５２
は、ピン２５３，２５４に嵌入して保持されている。ま
たセクター２５１，２５２は、開口２５０を遮蔽する閉
位置（図４（ａ））と、露呈する開位置（図４（ｂ））
とに回動自在になっている。

【００２８】２５５は、前記シャッター地板に回動自在
に軸支されているセンターレバーである。その一方の腕
部の先端に植立されたピン２５５ｂがセクター２５１，
２５２のカム穴に摺動可能に嵌合している。他方の腕部
先端に植立されたピン２５５ａがソレノイド５９のプラ
ンジャ２５９の端面に当接している。

【００２９】上記セクタレバー２５５には、セクター２
５１，２５２を開口２５０の開放方向に付勢するための
開口バネ２５６がシャッター地板との間に懸架されてい
る。このプランジャ２５９が、吸引若しくは開放動作を
行うことにより、セクタレバー２５５が回動し、セクタ
２５１，２５２が開閉することになる。

【００３０】図５は、フォーカシングレンズの駆動機構
について示す図である。３５２は、フォーカシングレン
ズ群６１を保持するためのフォーカシングレンズ枠であ
る。３５３は、フォーカシングレンズ枠３５２の一端に
設けられたフォーカシング枠ギヤである。３４６は、フ
ォーカシング枠ギヤ３５３に係合する動力伝達機構であ
る。３５４は、フォーカシングレンズ枠３５２の外周部
に形成されたヘリコイドである。

【００３１】６３は、フォーカシングの駆動源となるレ
ンズ駆動モータである。３４２は、レンズ駆動モータ６
３の出力軸に設けられたピニオンギヤである。３４３，
３４４，３４５は、ピニオンギヤ３４２に順次歯合する
ギヤである。上記したピニオンギヤ３４２、ギヤ３４
３，３４４，３４５で動力伝達機構３４６を構成する。
３４７は、ギヤ３４３と同軸に配設され同じ回転数で回
転する回転スリットである。３４８は、回転スリット３
４７の回転量をモニタするためのフォトインタラプタで
ある。上記回転スリット３４７及びフォトインタラプタ
３４８を合わせて、ＬＤパルス発生回路６５を構成す
る。ＬＤパルス発生回路６５の出力は、ＣＰＵ７９に入
力される。ＣＰＵ７９は、このＬＤパルス発生回路６５
から出力されるパルス信号を入力して、フォーカシング
レンズの繰出し量を検出する。

【００３２】図７は、ズーム調整機の詳細を説明する図
である。４００は、ズーム調整のための調整用台であ
る。５０は、完成された鏡枠ユニットである。４０１
は、鏡枠ユニット５０を取付るための取付部である。４
０２は、調整の時に、調整機と鏡枠ユニット５０の電気
的な接続を行うためのコネクトピンである。４０３は、
コネクトピン４０２を固定するためのコネクト板であ
る。４０４は、取付部４０１に設置された腕部であり、
コネクト板４０３を支持する。コネクト板４０３は、腕
部４０４に対して回動自在になっている。

【００３３】４０５は、ズーム調整のシーケンス制御を
行うためのコンピュータである。４０６は、コンピュー
タ４０５とコネクト板４０３の間に介在する通信インタ
ーフェース回路である。４０３〜４０６間、４０６〜４
０５間は接続コードにて、電気的に接続されている。４
は、前板基板である。コネクトピン４０２は、前板基板
４上に設けられた、鏡枠ユニット外部コネクト端子群６
７に対して接触するようになっている。４０７は、レン
ズの先端の、光軸方向の変位を計測するためのレーザ変
位計である。４０８は、レーザ変位計４０７を支持する
ための支持台である。

【００３４】図８は、ズーム調整工程を示す図である。
まず図７に示すように、鏡枠ユニット５０をズーム調整
機にセットし、以下の処理を行う。以下は、コンピュー
タ４０５の制御シーケンスである。まず、ステップＳ１
で通信インターフェース回路４０６を介して、鏡枠ユニ
ット５０に対して信号を送りワイドセットを行う。ワイ
ドセットとは、沈胴状態にある鏡枠をワイド位置に繰出
すことである。ワイド位置は、部品寸法バラツキ、鏡枠
組み上がりバラツキによりばらつくが、この状態は調整
前であるので、設計標準値としてのパルス数（デフォル
ト・パルス数）でワイドセットを行う次のステップＳ２
では、レーザ変位計を使用して、ワイド状態での最前面
のレンズの位置を計測する。ステップＳ３では、デフォ
ルト・パルス数で、テレセットを行う。ステップＳ４で
は、レーザ変位計を使用して、テレ状態での最前面のレ
ンズの位置を計測する。ステップＳ５では、ズーム調整
値の演算を行う。ここではステップＳ２，Ｓ３で計測し
た、レンズの実測値と、設計値を比較演算し、ワイド位
置とテレ位置のそれぞれのズームパルスの調整値を演算
する。この調整値は、デフォルトパルスからのずれを調
整値とする。

【００３５】ステップＳ６では、ズーム調整値をＫ−Ｅ
ＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ７では、鏡枠ユニッ
ト５０のシリアルＮｏ．、ユニット識別Ｎｏ．をＫ−Ｅ
ＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ８では、ズーム調整
年月日、ズーム調整工場、ズーム調整機Ｎｏ．、ズーム
調整機作業者をＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。

【００３６】ステップＳ９では沈胴動作を行う。ステッ
プＳ１０では、調整値を含む必要データをサーバ上のハ
ードディスクに記憶する。図２６（Ａ）は、調整すべき
データの一覧を示す図である。

【００３７】図９は、ｆｃ調整機について説明するため
の図である。図７と同一番号の部材は、同一機能の部材
であるので説明を省略する。４５０はｆｃ調整のための
鏡枠取付箱である。４５１は、鏡枠取付箱４５０内部に
設置されたＣＣＤエリアセンサであり、フィルム等価面
に設置されている。４５２は、ＣＣＤエリアセンサ４５
１に対する駆動と、出力信号の処理を行う回路である。

【００３８】４５３は、通信インターフェース回路であ
る。４５４は、ｆｃ調整を行うためのコンピュータであ
る。４５５は、ｆｃ調整のためのコリメータである。４
５６は、ｆｃ調整のためのチャートであり、格子上のパ
ターンが設けられている。４５６′は、チャート４５６
を鏡枠側から光軸方向に沿って見た所を示す。中央部に
格子上のパターンが設けられている。

【００３９】４５７は、チャート４５６からの光線を平
行光線に変換するための、コリメータレンズである。こ
のコリメータレンズ４５７は、チャート４５６が等価的
に無限遠方にあるように見せかけるためのレンズであ
る。４５８は、チャート４５６を所定の明るさに照らす
ための光源である。

【００４０】図１０は、ｆｃ調整工程の手順を示すフロ
ーチャートである。まず図９に示すように、鏡枠ユニッ
ト５０をｆｃ調整機にセットし、以下の処理を行う。以
下は、コンピュータ４５４の制御シーケンスである。ま
ずステップＳ１００で通信インターフェース回路４５３
を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送り、シャッタ−
を開く。ステップＳ１０１では通信インターフェース回
路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送り、ズ
ーム駆動機構を動かし、ワイドセットを行う。

【００４１】ステップＳ１０２では通信インターフェー
ス回路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送
り、レンズリセット駆動を行う。レンズリセット駆動と
は、図５のフォーカシングレンズの駆動機構において、
レンズ駆動モータ６３を、フォーカシングレンズが繰込
む方向に回転させて、不図示のメカストッパ位置に当て
付ける動作のことであるステップＳ１０３では、ＣＣＤ
撮像素子上にできる、チャートの像のピントが合うまで
フォーカシングを繰出す。ＣＣＤ撮像素子上にできる、
チャート像のコントラストが最大の所がピントの最良地
点である。

【００４２】ステップＳ１０４では、ｆｃ調整値をＫ−
ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ｆｃ調整値は、上記繰出しパ
ルスの実測値と、設計値を比較演算し、その差をｆｃ調
整値とする。

【００４３】ステップＳ１０５では、焦点距離（ズーム
位置）がテレ位置かどうかを判断し、テレ位置の場合に
はステップＳ１０７に進み、そうで無い場合には、ステ
ップＳ１０６に進む。ステップＳ１０６では通信インタ
ーフェース回路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信
号を送り、ズーム駆動機構を動かし、テレセットを行
う。また、ステップＳ１０７では、通信インターフェー
ス回路４５３を介して、鏡枠ユニット５０に信号を送
り、シャッターを閉じる。次のステップＳ１０８では、
ｆｃ調整年月日、ｆｃ調整工場、ｆｃ調整機Ｎｏ．、ｆ
ｃ調整機作業者をＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。

【００４４】以降のステップＳ１０９〜Ｓ１１１は上記
したステップＳ１００〜Ｓ１０２と同じなので説明を省
略する。ステップＳ１１２では、ステップＳ１０３で求
めたワイド調整値に従いレンズを∞位置に繰り出す。次
のステップＳ１１３では、図２４に示す様に画面中心部
１０００および画面４隅１００１〜１００４の部分のＭ
ＴＦを求める。ＭＴＦとは明るさの分布が、正弦波的に
変化する格子を被写体として入力し、被検レンズにてそ
の格子を結像させた場合の出力像を測定することによ
り、被写体の規定コントラストに対し、出力像のコント
ラストがどの程度劣化するかを各周波数（正弦波格子の
ピッチで解像力本数に匹敵する）成分について表わした
ものであるステップＳ１１４は上記したステップＳ１０
６と同様である。ステップＳ１１５はステップＳ１０２
と同様である。ステップＳ１１６では、ステップＳ１０
３で求めたテレ調整値に従いレンズを∞位置に繰り出
す。ステップＳ１１７は、ステップＳ１１３と同様であ
る。ステップＳ１１８ではシャッターを閉じる。ステッ
プＳ１１９では沈胴動作を行う。

【００４５】次のステップＳ１２０では、測定されたＭ
ＴＦ値（テレ、ワイド合計１０点）をそれぞれのＭＴＦ
合格レベルと比較し、合格レベル以上ならばステップＳ
１２２に進み、そうでないならばステップＳ１２１に進
む。ステップＳ１２１では、ＭＴＦが合格レベル以下の
ものがあるので、この鏡枠ユニットは不合格品であるこ
とを示す「ＮＧ表示」を行う。

【００４６】ステップＳ１２２では、調整データ、ＭＴ
Ｆデータ、その他の必要データをサーバ上のハードディ
スクに記憶する。

【００４７】以下に、ＭＴＦデータをサーバ上に記憶す
ることの効果を述べる。

【００４８】１．カメラの完成状態で撮影に関する描写
特性を最終特性としてチェックするが、不合格品が出た
時に、不合格ボディの鏡枠ユニットのＭＴＦ特性にさか
のぼって原因の解析が出来る。鏡枠のＭＴＦ特性と、カ
メラ完成品の描写力特性の間には強い相関特性がある。
このため、カメラ完成品の不合格品が出た時に鏡枠ユニ
ットのＭＴＦ合格レベルが甘すぎる事になり、鏡枠ユニ
ットのＭＴＦ合格レベルの見直し等の工程フィードバッ
クが可能となる。

【００４９】２．ＭＴＦデータの平均値（ｘ）や標準偏
差（ａ）等の推移を長期的に監視することにより使用し
ている部品や工程で発生した異状等を発見することがで
きる。

【００５０】３．各調整値をサーバ上にデータベースと
しておく事により、インターネットや通信回線を介して
遠隔地からのアクセスが可能となる。

【００５１】図１１は、シャッター秒時調整機を示す図
である。図７と同一番号の部材は、同一機能の部材であ
るので説明を省略する。５００は、シャッター秒時調整
のための鏡枠取付箱である。５０１は、鏡枠取付箱５０
０内部に設けられている光センサであり、フィルム等価
面に設けられている。５０２は、光センサ５０１からの
出力を処理する処理回路である。５０３は、通信インタ
ーフェース回路である。５０４は、シャッター秒時調整
を行うためのコンピュータである。５０５は、撮影レン
ズの前面より均一照明を与えるための輝度箱である。

【００５２】図１２は、シャッター秒時調整工程の詳細
を示すフローチャートである。図１１に示すように、鏡
枠ユニット５０をシャッター秒時調整機にセットし、以
下の処理を行う。以下は、コンピュータ５０４の制御シ
ーケンスである。

【００５３】まずステップＳ１５０では、通信インター
フェース回路５０３を介して、鏡枠ユニット５０に信号
を送り、ワイドセットを行う。ステップＳ１５１では、
通信インターフェース回路５０３を介して、鏡枠ユニッ
ト５０に信号を送り、シャッター秒時１／２５０秒に
て、シャッター動作を行う。この段階では、シャッター
調整前なので、シャッター秒時１／２５０秒に対応し
た、正しい、ソレノイド通電時間は求められていないの
で、設計的な標準値でシャッターを動作させる。シャッ
ター秒時１／２５０秒は、このカメラの最高速シャッタ
ー秒時である。

【００５４】ステップＳ１５２では、光センサ５０１，
処理回路５０２を利用して、シャッター開口波形を求め
る。

【００５５】次のステップＳ１５３では、シャッター調
整値ΔＳＳを演算して求める。ステップＳ１５４では、
シャッター調整値ΔＳＳをＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶す
る。ステップＳ１５５では、シャッター調整年月日、シ
ャッター調整工場、シャッター調整機Ｎｏ．、シャッタ
ー調整機作業者をＫ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステッ
プＳ１５６では沈胴動作を行う。ステップＳ１５７で
は、調整値を含む必要データをサーバのハードディスク
に記憶する。図２６（Ａ）は、調整すべきデータの一覧
を示している。

【００５６】図１３は、シャッター秒時１／２５０秒に
てシャッターを動作させた時の開口波形の一例を示す。
横軸は時間を示し、縦軸は光センサ５０１からの出力電
流値を示す。５２０は、シャッター開口波形の実測値を
示す。５２１は、シャッター開口波形の設計目標値を示
す。この５２０，５２１の波形のピークの時間的なずれ
を調整値ΔＳＳとする。

【００５７】図１４はＡＦ調整機を示す図である。８
は、ＡＦユニットである。５５０は、ＡＦユニットを支
持する支持部である。５５１は、ＡＦユニット８から引
出されるＡＦフレキ（フレキシブル基板）である。この
ＡＦフレキ５５１は、図１のメイン基板に接続する部分
のフレキである。５５２は、調整の時に、調整機と鏡枠
ユニットの電気的な接続を行うためのコネクトピンであ
る。５５３は、コネクトピン５５２を固定するためのコ
ネクト板である。５５４は、通信インターフェース回路
である。５５５は、ＡＦ調整を行うためのコンピュータ
である。５５６は、ＡＦ調整のためのチャートを示す。
このチャートは灰色のチャートで、ＡＦユニット８から
所定の距離の位置に設置されている。

【００５８】図１５は、ＡＦ調整工程の手順を示す図で
ある。図１４に示すように、ＡＦユニット８をＡＦ調整
機にセットし、以下の処理を行う。以下は、コンピュー
タ５５５の制御シーケンスである。

【００５９】まずＳ２００では通信インターフェース回
路５５４を介して、ＡＦユニット８に信号を送り測距を
行う。次のステップＳ２０１では、通信インターフェー
ス回路５５４を介して、ＡＦユニット８により測距デー
タを入力する。ステップＳ２０２では、ＡＦ調整値を演
算する。上記ステップＳ２００で求められる測距データ
は、ＡＦユニット８で使用される部品のバラツキ等によ
り、製品個々によって異なるものとなる。ここで、測距
データとしての設計標準値に対する、ステップＳ２００
での実測値のズレをＡＦ調整値として求める。ステップ
Ｓ２０３では、上記ＡＦ調整値をＡＦ−ＥＥＰＲＯＭ９
７に記憶する。ステップＳ２０４では、ＡＦ調整年月
日、ＡＦ調整工場、ＡＦ調整機Ｎｏ．、ＡＦ調整機作業
者、ＡＦユニットシリアルＮｏ．、ユニット種別Ｎｏ．
をＡＦ−ＥＥＰＲＯＭ９７に記憶する。ステップＳ２０
５では、調整値を含む必要データをサーバ上のハードデ
ィスクに記憶する。図２６（Ｂ）は、調整すべきデータ
の一覧を示す図である。

【００６０】図２２は、ＢＣ電圧調整機の詳細を示す図
である。このＢＣ電圧調整を行う目的は以下の通りであ
る。すなわち、図６に示すように、ＢＣ回路４６におい
ては、ＶＣＣを分圧する抵抗３１，３２の抵抗値のバラ
ツキ、基準電圧回路３３の出力する基準電圧のバラツ
キ、Ａ／Ｄ回路の変換誤差（リニアリティ誤差や、オフ
セット誤差）により、ＢＣ電圧調整無しでは正しいバッ
テリーチェックの電圧判定ができないからである。

【００６１】１４は、電気部品が実装されたＭ基板ユニ
ットである。６００は、Ｍ基板ユニットを固定するため
の固定台である。６０１は、Ｍ基板ユニット１４に対し
て電気的な接続を取るためのコネクトピンである。６０
２は、コネクトピン６０１を固定するためのコネクト板
である。コネクト板６０２は、不図示の油圧式のジャッ
キにより、ダウン位置（６０２の状態：Ｍ基板に対し
て、コネクトピンを接続する状態）と、アップ位置６０
２′との間で、アップダウン可能になっている。

【００６２】６０３は、通信インターフェース回路であ
る。６０４は、充電電圧調整を行うためのコンピュータ
である。

【００６３】図２３は、ＢＣ電圧調整工程の手順を示す
図である。図２２に示す様に、Ｍ基板ユニット１４を、
ＢＣ電圧調整機にセットし、以下の処理を行う。以下
は、コンピュータ６０４の制御シーケンスである。

【００６４】ステップＳ２５０では、ＶＣＣにＶＣＣBC
を印加する。ＶＣＣBCは、バッテリロック電圧である。
カメラのバッテリ・チェックシーケンスにおいては、Ｖ
ＣＣがＶＣＣBC以上では、電源電池の消耗状態は、カメ
ラの動作可能なレベルと判断し、ＶＣＣBC未満では、カ
メラの動作不可能なレベルと判定する。ステップＳ２５
１ではＶＣＣをＡ／Ｄ変換する。ステップＳ２５２で
は、上記Ａ／Ｄ変換値をＢＣ電圧調整値としてＨ−ＥＥ
ＰＲＯＭに記憶する。

【００６５】ステップＳ２５３では、ＢＣ電圧調整年月
日、ＢＣ電圧調整工場、ＢＣ電圧調整機Ｎｏ．、ＢＣ電
圧調整機作業者、Ｍ基板シリアルＮｏ．をＨ−ＥＥＰＲ
ＯＭに記憶する。ステップＳ２５４では、調整値を含む
必要データをサーバ上のハードディスクに記憶する。

【００６６】図１６は、ストロボ充電電圧調整器を示す
図である。充電電圧調整を行う目的は、ＢＣ電圧調整と
同様に、充電電圧を検出する回路の部品のバラツキによ
り、調整無しでは、正しい充電電圧の検出はできない。
従って、調整無しでは、充電を正しい上限電圧に停止す
ることができないからである。

【００６７】６５０は、本流組立工程１６２を経たカメ
ラを示す。この状態ではまだカメラの外装は付いていな
い。６５１は、上記カメラを固定するための台である。
９は、ストロボ基板である。６５２は、ストロボ基板９
と、電気的な接続を行うためのコネクトピンである。６
５３は、コネクト板であり、不図示の油圧式ジャッキに
よりアップダウンが可能となっている。６５３は、ダウ
ン位置（電気的な接続有り）、６５３′はアップ位置
（電気的な接続無し）である。

【００６８】６５４は、高電圧電源である。この調整機
では、ストロボ充電の停止電圧（充電を止める電圧）を
この高電圧電源より出力してストロボ基板に印加する。
６５５は、通信インターフェース回路である。６５６
は、ストロボ充電電圧調整のためのコンピュータを示
す。６５７は、通信インターフェースからの通信ライン
をカメラに接続するためのコネクト部である。

【００６９】図１７は、ストロボ充電電圧調整工程を示
す図である。図１６に示すように、カメラ６５０を、ス
トロボ充電電圧調整機にセットし、以下の処理を行う。
以下は、コンピュータ６５６の制御シーケンスである。

【００７０】ステップＳ３００では、高電圧６５４から
の出力電圧を不図示のリレーを蓄積させてストロボ基板
上に印加する。ステップＳ３０１では、ストロボ基板上
に実装されたストロボ充電エネルギーを蓄積するための
メインコンデンサー（メインＣ）の充電電圧を不図示の
充電電圧検出回路でＡ／Ｄ変換する。メインＣの充電電
圧は、上記の高電圧電源から印加された高電圧により充
電されている。

【００７１】ステップＳ３０２では、上記充電電圧Ａ／
Ｄ値をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステップＳ３０３
では、ストロボ充電電圧調整年月日、ストロボ充電電圧
調整工場、ストロボ充電電圧調整機Ｎｏ．、ストロボ充
電電圧調整機作業者をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ス
テップＳ３０４では、調整値を含む必要データをサーバ
上のハードディスクに記憶する。図２６（Ｃ）は、調整
すべきデータの一覧を示している。

【００７２】図１８は、測光調整機の詳細を示す図であ
る。７００は、外装組立後のカメラを示す。７０１は、
上記カメラ７００を固定するための台を示す。７０２
は、通信インターフェース回路を示す。７０３は、測光
調整のためのコンピュータを示す。７０４は、通信イン
ターフェース回路７０２からの通信ラインをカメラに接
続するためのコネクト部である。７０５は、カメラ前面
より、均一照明を与えるための輝度箱を示す。７０６
は、測光センサー８３に被写体からの光を取り込むため
の測光窓を示す。

【００７３】図２０は、測光調整工程の詳細を示す図で
ある。図１８に示すように、カメラ７００を、測光調整
機にセットし、以下の処理を行う。以下は、コンピュー
タ７０３の制御シーケンスである。

【００７４】ステップＳ３５０では、通信インターフェ
ース回路７０２を介して、輝度箱に対して信号を送り、
輝度箱に対して低輝度を設定する。ステップＳ３５１で
は、通信インターフェース回路７０２を介してカメラに
信号を送り、測光を行う。ステップＳ３５２では、通信
インターフェース回路７０２を介して、カメラより、測
光データＬ（低輝度での測光データ）を入力する。

【００７５】ステップＳ３５３では、通信インターフェ
ース回路７０２を介して、輝度箱に対して信号を送り、
輝度箱に対して高輝度を設定する。ステップＳ３５４で
は、通信インターフェース回路７０２を介してカメラに
信号光を送り、測光を行う。ステップＳ３５５では、通
信インターフェース回路７０２を介して、カメラより測
光データＨ（高輝度での測光データ）を入力する。ステ
ップＳ３５６では、測光調整値を演算する。測光調整値
は、γ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整値の二つよりなる。

【００７６】図１９は、γ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整
値について説明するための図である。図１９において、
横軸は輝度箱の明るさを示し、縦軸は測光データを示
す。測光データは輝度箱の明るさが明るい程大きくな
る。７１０は設計的な標準特性を示す。７１１は実測し
た測光データＬ、測光データＨにより決定される測光実
測特性を示す。ここで、ＯＦＦＳＥＴ調整値は、図１９
において、低輝度における測光データのことである。ま
たγ調整値は、測光実測特性の直線の傾きのことであ
る。

【００７７】ここで図２０に戻って、ステップＳ３５７
では、測光調整値をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する。ステ
ップＳ３５８では、測光調整年月日、測光調整工場、測
光調整機Ｎｏ．、測光調整機作業者をＨ−ＥＥＰＲＯＭ
に記憶する。ステップＳ３５９では、ユニット種別Ｎ
ｏ．、本体ユニットＮｏ．、ＡＦユニットのシリアルＮ
ｏ．、鏡枠ユニットのシリアルＮｏ．がＨ−ＥＥＰＲＯ
Ｍに記憶される。これら組み合わされるＡＦユニットの
シリアルＮｏ．、鏡枠ユニットのシリアルＮｏ．は、各
ユニットにあるＥＥＰＲＯＭの内部に記憶されている、
各ユニットのＥＥＰＲＯＭと通信して、シリアルＮｏ．
を読み取ったものである。ステップＳ３６０では、調整
値を含む必要データをサーバ上のハードディスクに記憶
する。図２６（Ｃ）は、調整すべきデータの一覧を示し
ている。

【００７８】Ｈ−ＥＥＰＲＯＭに組み合わされるユニッ
トのシリアルＮｏ．をＨ−ＥＥＰＲＯＭに記憶する理由
は下記の通りである。

【００７９】例えば、完成品の抜取り検査等で、不良が
発生した場合や、市場でカメラが故障した場合は、カメ
ラを分解して修理する必要が有るが、分解した結果、本
体ユニット、鏡枠ユニット、ＡＦユニット等の組合わせ
が不明確になる可能性がある。ここで、各ユニットに
は、シリアルＮｏ．が記憶されており、またＨ−ＥＥＰ
ＲＯＭには、各ユニットのシリアルＮｏ．が記憶されて
いるので、これらシリアルＮｏ．を通信用の機器を使用
することによって、読み出し確認して、正しいユニット
の組合わせで再組立することができる。

【００８０】図２６は、各ユニット内部のＥＥＰＲＯＭ
の内容一覧を示す図である。各調整における、調整年月
日、調整工場、調整機Ｎｏ．、調整機作業者をＥＥＰＲ
ＯＭに記憶するようにしているが、これは、不良等が発
生した時の原因を解析し易くするために記憶している。

【００８１】図２１は、上記したカメラの動作を示す、
カメラ内部のＣＰＵ７９の制御フローである。ステップ
Ｓ５００は、ＰＷＳＷ８５の状態をモニタし、ＯＮなら
ばＳ５０３に進み、ＯＦＦならばＳ５０１へ進む。ステ
ップＳ５０１では、ズーム駆動機構を介して、沈胴を行
う。ステップＳ５０２では、パワーＯＦＦ処理を行う。
パワーＯＦＦ処理とは、各回路を省電力モードに設定し
て、スタンバイ・モードに入ることである。一方、ステ
ップＳ５０３では、パワーＯＮ処理を行う。各回路を省
電力モードから起こして、動作モードにする。

【００８２】ステップＳ５５０では、バッテリ・チェッ
クを行う。バッテリ・チェックは、ＢＣ電圧調整値をＨ
−ＥＥＰＲＯＭより読み出し、この調整よりもＶＣＣの
Ａ／Ｄ変換値が高ければ電源電池の状態は良好と判断
し、この調整値よりもＡ／Ｄ変換値が低い場合は、電源
電池の状態は良好で無いと判断して、それ以降のシーケ
ンスを中止する。

【００８３】ステップＳ５０４では、ズーム駆動機構を
介してワイド・セットを行う。この時、Ｋ−ＥＥＰＲＯ
Ｍに記憶されたワイド・ズーム調整値を読み出し、その
調整値から、ワイドへのズーム駆動パルス数を求めて、
ワイド・セットを行う。ステップＳ５０５では、１ＲＳ
Ｗ８６の状態をモニタし、ＯＮならばステップＳ５５１
に進み、ＯＦＦならばステップＳ５０６に進む。

【００８４】ステップＳ５５１では、バッテリ・チェッ
クを行う。ここでのバッテリ・チェックはステップＳ５
５０と同じシーケンスとなる。ステップＳ５０６では、
測光を行う。ステップＳ５０７では、Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ
より測光調整値を読み出し、その調整値と、上記ステッ
プＳ５０６で求めた測光値より、補正された測光データ
を得る。ステップＳ５０８では測距を行う。ステップＳ
５０９では、上記ステップＳ５０８で求めた測距データ
と、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭから読み出したｆｃ調整値と、Ａ
Ｆ−ＥＥＰＲＯＭ９７から読み出したＡＦ調整値より、
補正されたレンズ繰出量を求める。ここで、ｆｃ調整値
は、ワイドｆｃ調整値と、テレｆｃ調整値の２種類を持
つが、設定されたズーム位置が、ワイド位置と、テレ位
置の中間位置にある場合は、両調整値から補間演算によ
り、その時のズーム位置に対応した、ｆｃ調整値を求め
て制御を行う。

【００８５】ステップＳ５１０では露出演算を行う。こ
こではステップＳ５０７で求めた補正された測距データ
と、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭに記憶されたシャッター調整値と
から、補正されたシャッター駆動時間を求める。ステッ
プＳ５１１では、２ＲＳＷ８７の状態をモニタし、ＯＮ
ならばＳ５１３に進み、ＯＦＦならばＳ５１２に進む。

【００８６】ステップＳ５１２では１ＲＳＷの状態をモ
ニタし、ＯＮならばステップＳ５１１に戻り、ＯＦＦな
らばステップＳ５２４に進む。ステップＳ５１３では、
フォーカシングレンズ駆動機構を介して、フォーカシン
グレンズの繰出しを行う。

【００８７】ステップＳ５１４では、シャッター機構
（５８，５９，６０）を駆動して、露出を行う。ステッ
プＳ５１５では、フォーカシングレンズの繰込み（繰出
したレンズを初期位置に戻す）を行う。ステップＳ５１
６ではフィルムの巻上げを行う。ステップＳ５１７では
ストロボの充電を行う。充電電圧の停止検出には、Ｈ−
ＥＥＰＲＯＭから読み出した、ストロボ充電電圧調整値
を利用する。

【００８８】一方、ステップＳ５０５にて１ＲＳＷがＯ
ＦＦ状態のときにはステップＳ５２０に進んでＷＩＤＥ
ＳＷ７７の状態をモニタし、ＯＮならばステップＳ５
２１に進み、ＯＦＦならばステップＳ５２２に進む。ス
テップＳ５２１ではワイド側へズーム駆動を行う。ワイ
ド端の検出には、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭから読み出した、ワ
イド・ズーム調整値を利用して行う。ステップＳ５２２
では、ＴＥＬＥＳＷ７８の状態をモニタし、ＯＮなら
ばステップＳ５２３に進み、ＯＦＦならばステップＳ５
２４に進む。ステップＳ５２３ではテレ側へズーム駆動
を行う。テレ端の検出には、Ｋ−ＥＥＰＲＯＭから読み
出した、テレ・ズーム調整値を利用して行う。ステップ
Ｓ５２４ではＰＷＳＷ８５の状態をモニタし、ＯＮなら
ばステップＳ５０５に戻り、ＯＦＦならばステップＳ５
０１に戻る。

【００８９】図２５は、本発明のカメラを製造する際の
工程ネットワークシステムを示す。２００１は、Ａ工場
にあるＡＦ調整機である。２００２〜２００４は、Ｂ工
場にあるズーム調整機、ｆｃ調整機、シャッター秒時調
整機を示す。２００５は、Ｃ工場にあるＢＣ電圧調整機
を示す。２００６，２００７は、Ｄ工場にあるストロボ
充電電圧調整機および測光調整機を示す。２００８は、
工程ネットワークシステム全体の制御を行うサーバを示
す。

【００９０】２００９は、サーバ２００８に接続されて
いるデータベース用のハードディスクを示す。このハー
ドディスク２００９上には、各工程での調整データや特
性チェックデータが項目毎に分類されて、データベース
が形成されている。２０１０は、ハードディスク２００
９内部に形成されたデータベースの構造を示す。データ
ベース２０１０において、２０１１は本発明のカメラで
ある機種Ａに関するデータの集合である。２０１２は機
種Ｂに関するデータの集合である。２０１３は機種Ｃに
関するデータの集合である。

【００９１】２０１４は機種Ａに関するＡＦ関連のデー
タを示す。このデータの詳細は、図２７の（Ａ）に示さ
れている。また、２０１５は機種Ａに関するズーム関連
のデータを示す。このデータの詳細は、図２７の（Ｂ）
に示されている。また、２０１６は機種Ａに関するｆｃ
関連のデータを示す。このデータの詳細は、図２７の
（Ｃ）に示されている。また、２０１７は機種Ａに関す
るシャッター関連のデータを示す。このデータの詳細
は、図２７の（Ｄ）に示されている。また、２０１８は
機種Ａに関するストロボ関連のデータを示す。このデー
タの詳細は、図２８の（Ｂ）に示されている。また、２
０１９は機種Ａに関する測光関連のデータを示す。この
データの詳細は、図２８の（Ｃ）に示されている。ま
た、２０２０は機種Ａに関するＢＣ電圧関連のデータを
示す。このデータの詳細は、図２８の（Ａ）に示されて
いる。

【００９２】（付記）上記した具体的実施形態から以下
のような構成の発明が抽出可能である。

【００９３】１．電気的に書込み可能な不揮発性メモ
リを内部に備えたカメラであって、前記不揮発性メモリ
には、個々のカメラにおいて発生するバラツキを調整す
るための調整値と、個々のカメラを識別するための識別
ナンバーが記憶されていることを特徴とするカメラ。

【００９４】２．カメラの製造システムであって、カメ
ラを構成する複数のユニットの中の少なくとも１つのユ
ニットに対して、当該ユニットの個々において発生する
バラツキを調整するための調整装置と、上記調整装置に
より調整された個々のユニットの調整値及び対応するユ
ニットの識別ナンバーを記憶するためのデータ記憶装置
と、を具備することを特徴とするカメラの製造システ
ム。

【００９５】

【発明の効果】本発明によれば、ユニットで調整を完結
し、ユニットにて信頼性の保証が可能となるとともに本
流での調整工程が不要となるカメラ及びカメラの製造シ
ステムを提供することができる。

【００９６】また、本発明によれば、調整時のデータを
データベース化することで各ユニットで使用する部品の
故障及び各ユニット工程で異常が発生したときの早期発
見や、カメラ完成品で不合格品が発生したとき当該工程
へのフィードバックが可能なカメラ及びカメラの製造シ
ステムを提供することにある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態が適用されるカメラの斜視
図である。

【図２】本実施形態のカメラの内部構成を示す図であ
る。

【図３】本実施形態のカメラを製造する際の工程図であ
る。

【図４】絞り兼用シャッターの構成を示す図である。

【図５】フォーカシングレンズの駆動機構について示す
図である。

【図６】ＢＣ回路４６の内部詳細を示す図である。

【図７】ズーム調整機の詳細を説明する図である。

【図８】ズーム調整工程を示す図である。

【図９】ｆｃ調整機について説明するための図である。

【図１０】ｆｃ調整機について説明するための図であ
る。

【図１１】シャッター秒時調整機を示す図である。

【図１２】シャッター秒時調整工程の詳細を示すフロー
チャートである。

【図１３】シャッター秒時１／２５０秒にてシャッター
を動作させた時の開口波形の一例を示す図である。

【図１４】ＡＦ調整機を示す図である。

【図１５】ＡＦ調整工程の手順を示す図である。

【図１６】ストロボ充電電圧調整器を示す図である。

【図１７】ストロボ充電電圧調整工程を示す図である。

【図１８】測光調整機の詳細を示す図である。

【図１９】γ調整値と、ＯＦＦＳＥＴ調整値について説
明するための図である。

【図２０】測光調整工程の詳細を示す図である。

【図２１】カメラ内部のＣＰＵ７９の制御フローであ
る。

【図２２】ＢＣ電圧調整機の詳細を示す図である。

【図２３】ＢＣ電圧調整工程の手順を示す図である。

【図２４】画面中心部１０００および画面４隅１００１
〜１００４の部分のＭＴＦを求める方法を説明するため
の図である。

【図２５】本発明のカメラを製造する際の工程ネットワ
ークシステムを示す図である。

【図２６】調整すべきデータの一覧を示す図である。

【図２７】ＡＦデータ、ズームデータ、ｆｃデータ、シ
ャッターデータの詳細を示す図である。

【図２８】ＢＣデータ、ストロボデータ、測光データの
詳細を示す図である。

【符号の説明】

１鏡枠部２前板３鏡枠ユニット４前板基板５、６６鏡枠ユニットＥＥＰＲＯＭ（Ｋ−ＥＥＰＲＯ
Ｍ）６コネクト部７本体８ＡＦユニット９ストロボユニット１０ストロボ発光部１１メインコンデンサー１２ファインダー対物レンズ１３測光センサー用窓１４メイン基板１５、７９ＣＰＵ１６、８８本体ＥＥＰＲＯＭ（Ｈ−ＥＥＰＲＯＭ）９７ＡＦ−ＥＥＰＲＯＭ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】カメラのユニットと、上記ユニット内に設けられた、電気的に書込み可能な不
揮発性メモリとを具備し、上記不揮発性メモリには、個々のユニットにおいて発生
するバラツキを調整するための調整値と、個々のユニッ
トを識別するための識別ナンバーが記憶されていること
を特徴とするカメラ。
【請求項２】カメラを構成する複数のユニットの中の
少なくとも１つのユニットに対して、当該ユニットの特
性を検査するための検査装置と、上記検査装置により検査された検査データ及び対応する
ユニットの識別ナンバーを記憶するためのデータ記憶装
置と、を具備することを特徴とするカメラの製造システム。
【請求項３】カメラのユニットを調整又は検査するた
めの、複数の調整検査装置と、カメラの製造工程を管理するための管理装置と、上記複数の調整検査装置と、上記管理装置との間を接続
する通信回線と、上記管理装置に接続されたメモリ手段と、を具備し、前記メモリ手段には、各調整検査装置からの調整デー
タ、又は検査データが、対応するユニットの識別ナンバ
ーと一対で記録されていることを特徴とするカメラの製
造システム。