JP2001242499A - 第二高調波発生装置 - Google Patents
第二高調波発生装置Info
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Abstract
第二高調波へと変換する光導波路を備えた変換用基板
と、光導波路の温度を制御する手段とを備えたデバイス
において、第二高調波の出力の経時的な減少を防止す
る。 【解決手段】第二高調波発生装置11Aは、ヒートシン
ク6、ヒートシンク6の上に支持されているマウント、
マウントに支持されている、基本波を発振する半導体レ
ーザー1、マウントに支持されている、基本波を第二高
調波へと変換する光導波路を備えた変換用基板2、およ
び光導波路の温度を制御するための温度制御手段8を備
えている。マウントは熱伝導部4、5と断熱部3Aとを
備えている。半導体レーザー1が熱伝導部4、5を介し
てヒートシンク6上に支持されている。変換用基板2と
ヒートシンク6との間に少なくとも断熱部3Aが介在し
ている。
Description
等に好適に使用できる第二高調波発生装置に関するもの
である。
CAL REVIEW」 Vol. 3 ,No. 6B(1996) 481-483 頁に記
載されているように、ニオブ酸リチウムやニオブ酸カリ
ウムリチウムのような非線形光学結晶からなる基板に光
導波路を形成し、この光導波路と半導体レーザーとを結
合し、高出力の青色レーザーを得ようとしている。非線
形光学結晶の第二高調波の位相整合波長の許容幅は、一
般に1nm以下と狭く、第二高調波の位相整合波長の温
度特性は、半導体レーザーの波長の温度特性とは異なっ
ている。このため、半導体レーザーから出力される基本
波の波長を安定化し、コントロールする技術が重要な課
題となっている。
高調波発生装置の具体的な制御方式を検討していく過程
で、更に次の改善点を見出した。即ち、最初に半導体レ
ーザーからの出力と波長とを一定値にロックし、更に波
長変換用光導波路における位相整合波長をロックし、第
二高調波の出力を一定値に設定する。ところが、半導体
レーザーの発振を継続すると、第二高調波の出力が徐々
に低下してくることが分かった。通常、半導体レーザー
からの基本波の発振出力は、発振を始めてから時間が経
過してもほぼ一定に保持されているはずなので、第二高
調波の経時的な出力低下は問題であり、その解決が望ま
れていた。
レーザーと、基本波を第二高調波へと変換するための波
長変換用光導波路を備えた変換用基板と、光導波路の温
度を制御するための温度制御手段とを備えたデバイスに
おいて、第二高調波の出力の経時的な減少を防止するこ
とである。
ク、このヒートシンクの上に支持されているマウント、
マウントに支持されている、基本波を発振するための半
導体レーザー、マウントに支持されている、基本波を第
二高調波へと変換するための波長変換用光導波路を備え
た変換用基板、および波長変換用光導波路の温度を制御
するための温度制御手段を備えており、マウントが熱伝
導部と断熱部とを備えており、半導体レーザーが熱伝導
部を介してヒートシンク上に支持されており、変換用基
板とヒートシンクとの間に少なくとも断熱部が介在して
いることを特徴とする、第二高調波発生装置に係るもの
である。
効果について述べる。
経時的減少の原因について検討した結果、次の発見に至
った。即ち、第二高調波発生装置を駆動させると、半導
体レーザー1から多量の熱量が定常的に発生する。半導
体レーザー1から発生する熱量によってその温度が上昇
すると、半導体レーザー1の発振出力が低下する。
ーザーの出力特性は、利得条件によって決定される。利
得は、下記式によって表される。 利得=ξa(T)[(n−ng)−b(λ−λO
(T)] (n:キャリア密度 λ:発振波長 ξ:
閉じ込め係数 a(T):微分利得係数 ng:自然放出キャリア密
度 b:材料定数 λO(T):波長オフセット値)
と、温度が上昇するとゲインが小さくなり、出力が低下
する。このように半導体レーザーの出力が変化すると、
第二高調波の出力もそれに比例して低下する。このた
め、第二高調波を安定して発振させるためには、半導体
レーザーを継続して稼働させたときにその温度の上昇を
防止する必要がある。このため、通常は半導体レーザー
の下にステンレス等の金属からなる支持台4を設置し、
その下に放熱用のヒートシンク6を設置することによっ
て、半導体レーザー1から発生する熱量をヒートシンク
6へと逃がしている。これによって半導体レーザー1の
温度上昇は抑制されていたはずであった。
生装置においては、薄膜ヒーター8などによって変換用
基板2を温度制御して、光導波路の屈折率を変化させ、
光導波路における位相整合波長を半導体レーザー1の発
振波長に合わせている。この位相整合波長は、特に温度
による影響を受けやすい。また、薄膜ヒーター8から変
換用基板2へと入熱する熱量が一定であったとしても、
支持台5を通してヒートシンク6へと逃げる熱量が比較
的に大きく、このため光導波路の温度を一定値に留めて
おくためには、定常的に比較的に大きな熱量を薄膜ヒー
ター8から変換用基板2へと投入する必要がある。この
ように、変換用基板2の下側の支持台5には、定常的に
大きな熱量が出入りしており、このため光導波路の温度
が変化しやすい状態にあった。
熱量が、支持台4、5を通過してヒートシンク6に逃げ
ずに変換用基板へと伝搬すると、薄膜ヒーター8から継
続的に変換用基板2へと入熱される熱量と相まって熱量
が過剰となり、変換用基板2の温度が徐々に上昇する傾
向があった。更に、薄膜ヒーター8からの熱量が支持台
5を通過してヒートシンク6に逃げずに半導体レーザー
1の下側の支持台4へと伝わり、半導体レーザー1へと
入熱することで、その発振状態を不安定するさせるとい
う現象もあった。これらの原因が相まって、第二高調波
の出力の経時的低下を生じていたものと思われる。
の支持面5aと変換用基板2の底面2bとの間に、断熱
部として断熱層3Aを介在させている。
から発生する熱量は、支持台4、5の底面4b、5dか
らヒートシンク6へと逃げるので、半導体レーザー1を
稼働させたときの温度上昇を防止できる。つまり、半導
体レーザー1の方は、稼働に伴って不可避的に発生する
熱量を効果的に逃がすことが必要だからである。
ーター8によって加熱される変換用基板2の下側には、
断熱層3Aを設けて、熱量の出入りを遮蔽することにし
た。これによって、変換用基板2から支持台5、ヒート
シンク6へと逃げる熱量が著しく減少することから、支
持台5、ヒートシンク6へと逃げる熱量による変換用基
板2の温度の変化が少なくなる。これと同時に、半導体
レーザー1から支持台4、5を伝搬してきた熱量は、断
熱層3Aで遮蔽され、そのほとんどがヒートシンク6へ
と逃げる。また、薄膜ヒーター8から発生した熱量は、
支持台4へと伝達しにくいので、半導体レーザー1へと
この熱量が到達して相乗的に半導体レーザー1へと悪影
響を与えることもない。
ザー1の稼働に伴って継続的に半導体レーザー1から発
生する熱量は、ヒートシンク6へと効果的に逃がし、同
時に薄膜ヒーターによって加熱される変換用基板2と支
持台4、5との間の熱量の出入りは、半導体レーザー1
とは反対に遮断することで、変換用基板2の温度変化を
防止し、かつ半導体レーザー1への悪影響を防止した。
が、変換用基板の底面を支持する断熱層である。また、
特に図1−図2においては、熱伝導部が、半導体レーザ
ーを支持する第一の支持台と、第一の支持台と別体の断
熱層を支持する第二の支持台とを備えている。
料、例えばアルミニウム、銅、コバールからなる。この
上に、第一の支持台4と第二の支持台5とが載置されて
いる。支持台4の支持面4cに半導体レーザー1が載置
されている。また、支持台5の支持面5aに断熱層3A
が載置されており、断熱層の上に変換用基板2が載置さ
れている。本例では、別体の支持台4の側面4aと支持
台5の突出部5bの側面5cとが互いに接触している。
第一の支持面4cと第二の支持面5aとの間には溝16
が形成されている。変換用基板2の上面2aの上に薄膜
ヒーター8が形成されている。
た熱量は支持台4から底面4bを通過してヒートシンク
6へと流れると共に、側面4a、5cを通過して支持台
5へと流れる。ここで、支持台5に入熱した熱量のほと
んどは、断熱層3Aの作用によって変換用基板2へは至
らず、ヒートシンク6へと入熱する。この際、支持台4
の底面4bと支持台5の底面5dとの合計面積は大きい
ので、半導体レーザー1で発生した熱量を効果的にヒー
トシンク6へと逃がすことができる。
は、変換用基板2へと流れ、断熱層3Aによって遮蔽さ
れる。この際、変換用基板2の温度を監視し、その温度
が一定になるように薄膜ヒーターへの投入電力を制御す
る。この投入電力をいったん制御し終わった後は、前述
した理由から変換用基板2の温度はほとんど変動しな
い。このため、光導波路における位相整合波長の変化を
防止できる。
A)の材質の熱伝導率は、マウントの熱伝導部(例えば
支持台4、5)を構成する材質の熱伝導率の1/5以下
であることが好ましく、1/10以下であることが更に
好ましい。こうした材質としては、熱伝導率が低いと共
に、熱膨張が変換用基板と合致することが必要であり、
ソーダガラス、石英ガラス、低熱伝導セラミック、BK
T、ニオブ酸カリウムリチウム−タンタル酸カリウムリ
チウム固溶体、ニオブ酸カリウムリチウム、ニオブ酸リ
チウムが好ましく、ソーダガラスが特に好ましい。
の第一の支持面4cと変換用基板2の下側の第二の支持
面との間に溝16を設けることによって、更に次の作用
効果が得られる。即ち、各支持台の各支持面に近い側面
が互いに接触していると、この領域を通って熱量が流
れ、断熱層3Aおよび変換用基板2へと伝達しやすい。
これに対して、溝16を設けることで、こうした支持台
の支持面に近い側面における熱伝導を遮断できるので、
変換用基板2の温度上昇を更に抑制できる。その上、各
支持台のヒートシンク6(底面4b、5d)に近い領域
は互いに接触しているので、ヒートシンク6への熱の流
入はほとんど妨げられることはない。
っても、断熱層における熱抵抗を上昇させることができ
る。図2は、こうした実施形態に係る第二高調波発生装
置11Bを模式的に示す断面図である。図1において既
に説明した構成部分には、図1と同じ符号を付け、その
説明は省略する。
側は平坦であるが、下側には複数の凹部12が空隙部分
として形成されている。このため、凹部12の間の突出
部分13のみが支持台5に対して接触している。従っ
て、断熱層3Bの支持台5への接触面積が小さくなる。
凹部の面積と突出部分の面積との合計に対する、突出部
分13の面積の比率は、50%以下であることが好まし
く、20%以下であることが更に好ましい。また、安定
支持の観点からは、10%以上であることが好ましい。
また、この断熱層3Bの材質の熱伝導率は、支持台5の
熱伝導率の1/5以下であることが好ましく、1/10
以下であることが更に好ましい。
揮するという観点からは1mm以上であることが好まし
い。
態に係る装置11C、1Dを模式的に示す断面図であ
る。
台15を使用している。支持台15は、第一の部分15
aと第二の部分15dとからなっている。ヒートシンク
6上に支持台15の底面15cが載置されている。第一
の部分15aの支持面15b上に半導体レーザー1が載
置されている。第二の部分15dの支持面15eの上に
断熱層3Aが載置されており、断熱層3Aの上に変換用
基板2が載置されている。第一の部分15aの支持面1
5bは、第二の部分15dの支持面15eよりも高い位
置にある。
に一体の支持台15を使用している。そして、断熱層3
Bは、図2の断熱層と同様である。
層状でなくともよく、断熱部それ自体が変換用基板を支
持する支持台であってもよい。この場合には、熱伝導性
材料からなる支持台が変換用基板に接触していないこと
が好ましい。この実施形態において特に好ましくは、熱
伝導部が、半導体レーザーを支持する第一の支持台と、
第一の支持台に連結されており、かつヒートシンク上に
設置されている第二の支持台とを備えている。更に、断
熱部が、ヒートシンク上に設置された第三の支持台を備
えており、これが変換用基板の底面を支持している、第
一の支持台とヒートシンクとの間に隙間が設けられてい
る。
示す概略断面図である。第一の支持台4Aの底面4bは
ヒートシンク6に接触しておらず、両者の間に隙間19
が設けられている。そして、第一の支持台4Aは、やは
り熱伝導材料製の第二の支持台18の突出部18bの側
面18cに接合されている。支持台18の底面18dは
樹脂等によってヒートシンク6に接着されている。支持
第18の上面18aと変換用基板の底面2bとの間には
隙間20が形成されている。
1を支持台4Aに取り付けた状態で、半導体レーザーと
変換用基板の光導波路との間で調芯を行う。そして、調
芯が終了した時点で、支持台4Aを支持台18に対して
樹脂等で接着し、固定できる。この際、支持台4Aの底
面4bとヒートシンク6とに隙間があり、接着されてい
ると、調芯が容易になる。更に、ヒートシンクおよび支
持台4A、18、17の熱膨張による応力が側面4aに
作用するのを低減できる。
A、18を介して、ヒートシンク6へと逃がすことがで
きる。一方、ヒートシンク6上に、第三の支持台17の
底面17cが載っており、支持台17の上面17aが変
換用基板の底面に接着されている。なお、本例では支持
台17の側面17bと支持台18の側面とが接着されて
いるが、両者は離れていても良い。支持台17は、断熱
部であり、即ち断熱性材料によって形成されている。更
に、変換用基板2の底面2bと熱伝導性の支持台18と
の間には隙間20が設けられており、熱伝導が生じな
い。
ましいが、外部ヒーターを使用することもできる。しか
し、薄膜ヒーターを波長変換用光導波路上に設けること
によって、光導波路の全体にわたって小さい電力でムラ
なく加熱できる。薄膜ヒーターの代りに、ペルチエ素子
を設けることができる。
ニオブ酸カリウムリチウム、ニオブ酸カリウムリチウム
−タンタル酸カリウムリチウム固溶体、ニオブ酸カリウ
ム、チタニルリン酸カリウムが好ましい。
a、Pt、Crが好ましい。
えば390nm−470nmの紫外光領域まで発生させ
ることが可能である。従って、こうした短波長の光を利
用することで、光ディスクメモリー用、医学用、光化学
用、各種光計測用等の幅広い応用が可能である。
うな装置11Aを作製した。
て形成した(熱伝導率26.4W/m・K)。ヒートシ
ンク6をアルミニウム金属によって形成した。マウント
4、5をヒートシンク6に対してハンダによって接着し
た。マウント4の支持面4cに半導体レーザー1をハン
ダによって接着した。断熱層3Aを、厚さ1mmのソー
ダライムガラス板(熱伝導率1.4W/m・K)によっ
て形成した。断熱層3Aをマウント5の支持面5aに紫
外線硬化型樹脂によって接着した。断熱層3Aの上に変
換用基板2(熱伝導率4.6W/m・K)を紫外線硬化
型樹脂によって接着した。
なく、光導波路に対して直接に入射させた。100mW
の出力で、光導波路入力は80mWであった。半導体レ
ーザー光の発振波長は、波長変換用光導波路の反射波長
にロックされ、840nmで安定に発振した。
え、電流を流して発熱させ、波長変換用光導波路の位相
整合波長を発振波長に合わせることに成功した。420
nmの第二高調波が得られた。この出力は5mWであっ
た。
を発生させた。この間、薄膜ヒーターに対する供給電力
を変更しなかった。この結果、第二高調波の出力の変化
は、最大5%程度であった。
本波を発振する半導体レーザーと、基本波を第二高調波
へと変換するための波長変換用光導波路を備えた変換用
基板と、光導波路の温度を制御するための温度制御手段
とを備えたデバイスにおいて、第二高調波の出力の経時
的な減少を防止することができる。
11Aを模式的に示す断面図である。断熱層3Aを支持
台5の支持面5aと変換用基板2の底面2bとの間に介
在させている。
断面図であり、空隙部分12を有する断熱層3Bを使用
している。
示す断面図であり、一体の支持台15を使用している。
示す断面図であり、一体の支持台15を使用しており、
空隙部分12を有する断熱層3Bを使用している。
示す断面図であり、第一の支持台4A(熱伝導部)、第
二の支持台18(熱伝導部)および第三の支持台17
(断熱部)を備えている。
b 変換用基板2の底面 3A 断熱層(断熱
部) 3B 空隙部分12が形成されている断熱
層(断熱部) 4 第一の支持台(熱伝導部) 4a 第一の支持台4の側面(第二の支持台との接触
面) 4b 第一の支持台4の底面 4c
第一の支持台4の支持面 4A ヒートシンク
から離れている第一の支持台(熱伝導部) 5、
18 第二の支持台(熱伝導部) 5a、18a
第二の支持台の支持面 5c、18c 第二の
支持台の側面(第一の支持台との接触面) 5
d、18d第二の支持台の底面 6 ヒートシン
ク 8 薄膜ヒーター(温度制御手段)
11A、11B、11C、11D、11E 第二高調波
発生装置 12 凹部(空隙部分) 13
突出部分(接触部分) 15 一体型の支持台 15a 第一の部分
15b 第一の部分の支持面 15c 支持
台15の底面 15d 第二の部分 15e 第二の部分の支持面 16 溝
17 第三の支持台(断熱部) 19 第一の支
持台とヒートシンクとの隙間 20第二の支持台
と変換用基板との隙間
Claims (9)
- 【請求項1】ヒートシンク、 このヒートシンクの上に支持されているマウント、 前記マウントに支持されている、基本波を発振するため
の半導体レーザー、 前記マウントに支持されている、前記基本波を第二高調
波へと変換するための波長変換用光導波路を備えた変換
用基板、および前記波長変換用光導波路の温度を制御す
るための温度制御手段を備えており、前記マウントが熱
伝導部と断熱部とを備えており、前記半導体レーザーが
前記熱伝導部を介して前記ヒートシンク上に支持されて
おり、前記変換用基板と前記ヒートシンクとの間に少な
くとも前記断熱部が介在していることを特徴とする、第
二高調波発生装置。 - 【請求項2】前記断熱部の材質の熱伝導率が、前記熱伝
導部の材質の熱伝導率の1/5以下であることを特徴と
する、請求項1記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項3】前記断熱部が、前記変換用基板の底面を支
持する断熱層であることを特徴とする、請求項1または
2記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項4】前記断熱層に空隙部分が設けられているこ
とを特徴とする、請求項3記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項5】前記熱伝導部が、前記半導体レーザーを支
持する第一の支持台と、第一の支持台と別体の前記断熱
層を支持する第二の支持台とを備えていることを特徴と
する、請求項3または4記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項6】前記熱伝導部が、前記半導体レーザーを支
持する第一の支持台と、前記第一の支持台に連結されて
おり、かつ前記ヒートシンク上に設置されている第二の
支持台とを備えており、前記断熱部が、前記ヒートシン
ク上に設置されており、かつ前記変換用基板の底面を支
持している第三の支持台を備えており、前記第一の支持
台と前記ヒートシンクとの間に隙間が設けられているこ
とを特徴とする、請求項1または2記載の第二高調波発
生装置。 - 【請求項7】前記第二の支持台の上面の上方に前記変換
用基板が設置されており、かつ前記第二の支持台と前記
変換用基板の底面との間に隙間が設けられていることを
特徴とする、請求項6記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項8】前記マウントの前記半導体レーザーを支持
する第一の支持面と、前記マウントの前記変換用基板を
支持する第二の支持面との間に溝が形成されていること
を特徴とする、請求項1−7のいずれか一つの請求項に
記載の第二高調波発生装置。 - 【請求項9】前記温度制御手段が前記波長変換用光導波
路上の薄膜ヒーターであることを特徴とする、請求項1
−8のいずれか一つの請求項に記載の第二高調波発生装
置。
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004049526A1 (ja) * | 2002-11-12 | 2004-06-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | レーザモジュールおよびその作製方法 |
JP2006323354A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-30 | Seiko Epson Corp | 光走査装置及び画像表示装置 |
JP2006343369A (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光モジュール |
JP2009164443A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Seiko Epson Corp | 光源装置、照明装置及び画像表示装置 |
DE102008005114A1 (de) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Eagleyard Photonics Gmbh | Vorrichtung zur Frequenzänderung |
WO2009116132A1 (ja) * | 2008-03-18 | 2009-09-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
JP2009246407A (ja) * | 2009-07-31 | 2009-10-22 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
EP2226909A1 (en) * | 2007-12-28 | 2010-09-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser light source device |
JP2011209736A (ja) * | 2005-04-21 | 2011-10-20 | Seiko Epson Corp | 光走査装置及び画像表示装置 |
JP2014215528A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社島津製作所 | 波長変換素子の温度制御装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0363610A (ja) * | 1989-07-31 | 1991-03-19 | Nec Corp | 光受信モジュール |
JPH07234428A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-09-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 短波長光源モジュールおよび波長変換素子 |
JPH09197457A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-07-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光発生装置及びその製造方法 |
-
2000
- 2000-02-28 JP JP2000050739A patent/JP4565690B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0363610A (ja) * | 1989-07-31 | 1991-03-19 | Nec Corp | 光受信モジュール |
JPH07234428A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-09-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 短波長光源モジュールおよび波長変換素子 |
JPH09197457A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-07-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光発生装置及びその製造方法 |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100358196C (zh) * | 2002-11-12 | 2007-12-26 | 松下电器产业株式会社 | 激光器模块及其制造方法 |
US7494286B2 (en) | 2002-11-12 | 2009-02-24 | Panasonic Corporation | Laser module and method for manufacturing the same |
WO2004049526A1 (ja) * | 2002-11-12 | 2004-06-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | レーザモジュールおよびその作製方法 |
JP2006323354A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-30 | Seiko Epson Corp | 光走査装置及び画像表示装置 |
JP2011209736A (ja) * | 2005-04-21 | 2011-10-20 | Seiko Epson Corp | 光走査装置及び画像表示装置 |
JP4690117B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2011-06-01 | 日本電信電話株式会社 | 光モジュール |
JP2006343369A (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光モジュール |
US8553738B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser light source device |
EP2226909A4 (en) * | 2007-12-28 | 2012-07-04 | Mitsubishi Electric Corp | LASER LIGHT SOURCE DEVICE |
EP2226909A1 (en) * | 2007-12-28 | 2010-09-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser light source device |
JP2009164443A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Seiko Epson Corp | 光源装置、照明装置及び画像表示装置 |
US7983315B2 (en) | 2008-01-16 | 2011-07-19 | Eagley Ard Photonics GmbH | Frequency changing device |
DE102008005114B4 (de) * | 2008-01-16 | 2010-06-02 | Eagleyard Photonics Gmbh | Vorrichtung zur Frequenzänderung |
DE102008005114A1 (de) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Eagleyard Photonics Gmbh | Vorrichtung zur Frequenzänderung |
WO2009116132A1 (ja) * | 2008-03-18 | 2009-09-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
JP5208200B2 (ja) * | 2008-03-18 | 2013-06-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
JP2009246407A (ja) * | 2009-07-31 | 2009-10-22 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
JP2014215528A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社島津製作所 | 波長変換素子の温度制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4565690B2 (ja) | 2010-10-20 |
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