JP2001242193A - 極細コンタクトプローブ及びその製造法 - Google Patents
極細コンタクトプローブ及びその製造法Info
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Abstract
き、ピッチ間隔の狭いプリント基板の検査を支障なく実
施することができる極細コンタクトプローブ及びその製
法を提供する 【解決手段】極細線状体からなる中心導体にバネ性を有
する薄板を一体として連設してコンタクトプローブを形
成し、該薄板の幅は前記極細線状体の径より小さくし、
薄板の弾性力によって、中心導体を前後方向に弾性移動
し得るように構成した。
Description
隔の半導体、液晶等の基板電極若しくはパターン等の断
線、ショート等を精密にトライ検査することができる極
細コンタクトプローブ及びその製法に関する。
ョート等を点検するため、従来から一体型コンタクトプ
ローブが使用されている。
に示すように、筒状スリーブ1内に中心導体2を嵌合さ
せ、スリーブ1の後端に形成した突起部4と中心導体2
の後端との間に、小球5を介してコイルスプリング3を
固定し、中心導体2の先端部がプリント基板の被測定面
に押し当てられたときに、中心導体2がスリーブ1に対
して相対移動可能に構成されている。
るプリント基板のピッチ間隔が非常に狭くなってきてい
るので、更なる細く且つ信頼性、高寿命のプローブ開発
が求められているので、ニードル部の先端が振れないコ
ンタクトプローブが強く求められている。
ニードル部の先端が目的としない被測定面に当たる恐れ
が生じるからである。ニードル部を極細に形成すること
によって、それに比例してスリーブ側とのクリアランス
が縮小されるので、スリーブとの間隙を小さくすること
ができるから、ニードル部の先端の振れが改善される。
は、コイルスプリング3が必要であるので、コンタクト
プローブの径を細くするには、自ずから限界があった。
うとするものであり、従来のプローブよりも著しく細く
することができ、ピッチ間隔の狭いプリント基板の検査
を支障なく実施することができる極細コンタクトプロー
ブ及びその製法を提供することを目的とする。
め、本発明者は鋭意研究の結果、コイルスプリングを使
用せずに、極細線状体からなるコンタクトプローブを弾
性材料から形成し、該線状体の中央部を薄板に形成し
て、該薄板にコイルスプリングの役割を付与させること
を想到し、本発明に到達した。
極細線状体にバネ性を有する薄板を一体として連設して
コンタクトプローブを形成し、該薄板の幅は前記極細線
状体の径より小さくし、薄板の弾性力によって、中心導
体を前後方向に弾性移動し得るように構成したことを特
徴とする。
料からなる線状体の一部を、スェージング加工法によっ
て更に細い極細線状体とし、該細くした極細線状体をプ
レスして前記薄板を形成したことを特徴とする。
て説明する。
のであり、筒状スリーブ1aに内装するコンタクトプロ
ーブ7の中央部を薄板6に形成し、該薄板6の弾性力に
よって、中心導体2aがスリーブ1aに対して、相対移
動可能に構成した例を示す。尚、薄板6の幅は、中心導
体2aの径より若干小さく形成している。
スプリングと同様の弾性力を付与させるため、コンタク
トプローブを、鋼、銅合金若しくはタングステンのよう
なバネ性を有する材料から形成する。
は、線状体であると中心導体2aの径を越えて横方向に
突出し、スリーブ1aに強く当たって中心導体が動かな
くなるからである。
導体2の径は、110μ以下(図2に示すコンタクトプ
ローブのスリーブ1aとして160μ以下)にはできな
かったが、本発明によれば、中心導体60〜100μ
(図2に示すコンタクトプローブのスリーブ1aとして
90〜130μ)、好ましくは60〜70μ(図2に示
すコンタクトプローブのスリーブ1aとして90〜10
0μ)にすることができる。
は、長さ200〜1000μ、厚さはプローブ外径等に
比例して、20〜40μ程度とするのが良い。
示すように、スリーブ1aを使用しないで、絶縁ボード
11に多数本摺動自在に嵌合させて使用することもでき
る。
は、リード線に接続することも、或いは図3に示すよう
に、両端摺動型コンタクトプローブとして、被測定物
9′に当接するようにしても良い。
いが、図3に示すように、ボード11裏面にプラスチッ
クフイルム10を貼着させて、これを抜けとめとしても
良い。
絶縁体被膜で被覆し、これらコンタクトプローブを複数
本外部筒体に内装することもできる。
外周を絶縁体被膜で被覆した2個の本発明のコンタクト
プローブ7を、スリーブ1bに内装した例を示す。尚、
図中4aは、コンタクトプローブ7の後端部8の抜け止
めの突起である。
れるもので、電流と電圧を同時にかけるので、相手から
の信号を正確に読み取ることができ、精密に検査するこ
とができる。
のような極細プローブを、ケルビン法とすることは全く
知られていないし、従来の丸型プローブでのケルビン法
の採用は困難視されていた。
あるが、4探針プローブとしても、或いはそれ以上のプ
ローブを内装しても差し支えない。内装するプローブの
数は、特に限定されない。
が、プローブ7は極細なので、ボードは、上下に間隔付
けて配設するのが好ましい。尚、図中15は、被検査デ
バイス電極である。
めは、図10下図に示すように、外周に凹状溝17を形
成し、図10上図に示すように、該凹状溝17に隣接し
た部分に必然的に形成された凸条部18を抜け止めとす
れば良い。
延時のトルク位置によりコンタクトプローブ7は、必ず
しも完全な直線とならないので、このままでもボードの
壁に接触して脱落防止が出来る。
トプローブ7は、鋼、銅合金若しくはタングステンのよ
うなバネ性を有する弾性材料から、細長い線状体を形成
し、放電加工によって薄板部を形成することもできる
が、スェージング加工によって、薄板部6を形成するの
が、安価に形成できることから好ましい。
体の長さ方向と直角の方向に圧縮して成形する加工法で
あり、これ自体は公知の方法である。
方法を図面に基づいて説明する。
くはタングステンのようなバネ性を有する弾性材料か
ら、直径約0.1mmの細長い線状体12を形成し、図
6に示すように、スェージング加工によって、直径約
0.04〜0.05mmの極細線状体13に圧延加工
し、次いで図7に示すように、プレス加工により厚さ約
0.02〜0.03mmのリボンバネ状薄板(C)6に
加工する。
径より若干マイナスとする。例えば、(A)、(B)を
100とした場合に、(C)の幅は70〜80程度とす
るのが好ましい。
与するために、凹凸部14を形成する。凹凸部14は、
3ヶ所以上形成する。
ると、それぞれに押圧により略均一に伸縮した波型(ス
トローク)が生じる。ストローク量は、凹凸部14の数
に比例する。
形成することによって、コイルスプリングの役割を付与
させたので、コンタクトプローブを従来よりも著しく細
く形成することができる。
とは誰でも考えたことであるが、現実に本発明のような
超極細の超精密な製品を得ることは、従来は全く不可能
な事であった。
数のコンタクトプローブを支障なく内装することができ
るので、電流と電圧とを同時に掛けることができるか
ら、より精密な検査をすることができる。
に記載の発明によれば、コンタクトプローブを従来の半
分程度の極細とすることができるので、ピッチ間隔の狭
いプリント基板等の検査を支障なく行うことができると
共に、先端ニードル部が中心から移動し難くなるので、
先端が目的としない被測定物に当たる恐れを効果的に回
避できるというこの種従来のコンタクトプローブには、
全く見られない絶大な効果を奏する。
記本発明のコンタクトプローブを安価に且つ容易に形成
することができる。
である。
る。
図である。
図である。
図である。
ある。
た状態の側面図である。
る。
た状態の断面図である。
断面図である。
しないでボードに保持される状態を示す側面図である。
Claims (7)
- 【請求項1】先端にニードル部を有する極細線状体にバ
ネ性を有する薄板を一体として連設してコンタクトプロ
ーブを形成し、該薄板の幅は前記極細線状体の径より小
さくし、薄板の弾性力によって、極細線状体を前後方向
に弾性移動し得るように構成したことを特徴とする極細
コンタクトプローブ。 - 【請求項2】前記極細線状体の径が、50〜100μで
ある請求項1に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項3】前記コンタクトプローブを、鋼、銅合金若
しくはタングステンから形成してなる請求項1又は2に
記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項4】前記コンタクトプローブの外周を絶縁体被
膜で被覆し、これらコンタクトプローブを複数個スリー
ブに内装してなる請求項1〜3のいずれか1項に記載の
コンタクトプローブ。 - 【請求項5】バネ性を有する材料からなる極細線状体の
一部を、スェージング加工法によって更に細い極細線状
体とし、該細くした極細線状体をプレスして前記薄板に
形成することを特徴とする請求項1に記載のコンタクト
プローブの製造法。 - 【請求項6】前記薄板に、凹凸部を交互に形成する請求
項5に記載のコンタクトプローブの製造法。 - 【請求項7】前記凹凸部を3ヶ所以上形成する請求項6
に記載のコンタクトプローブの製造法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000052027A JP4476416B2 (ja) | 2000-02-28 | 2000-02-28 | 極細コンタクトプローブの製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2001242193A true JP2001242193A (ja) | 2001-09-07 |
JP4476416B2 JP4476416B2 (ja) | 2010-06-09 |
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JP (1) | JP4476416B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005283359A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Kiyota Seisakusho:Kk | ケルビンプローブ |
-
2000
- 2000-02-28 JP JP2000052027A patent/JP4476416B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2005283359A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Kiyota Seisakusho:Kk | ケルビンプローブ |
JP4562122B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2010-10-13 | 有限会社清田製作所 | 半田ボール検査用2探針ケルビンプローブ |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4476416B2 (ja) | 2010-06-09 |
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