JP4562122B2 - 半田ボール検査用2探針ケルビンプローブ - Google Patents

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この発明は、半田ボール検査用2探針ケルビンプローブに係り、詳記すれば、半導体の裏側の半田ボールに2探針を当てて支障無く検査することができる2探針ケルビンプローブに関する。
エレクトロニクスの分野において、半導体の裏側には半田ボールが使用されている。以前はこの半田ボールは検査されていなかったが、最近になってこの半田ボールの導通検査の必要性が指摘され、検査されるようになってきている。
また、デバイスのピッチ間隔が狭くなることに伴って、半田ボール間のピッチが日増しにファイン化されてきている。しかして、半田ボールの導通検査においては、従来は1本のプローブを当てて検査していたが、最近になって半田電極が益々ファイン化することに伴い検査値の完璧さを期する目的で、2探針ケルビンプローブが広く求められるようになってきている。しかして従来、半田ボールを検査し得る2探針ケルビンプローブは、全く知られていない。
この発明は、このような点に着目してなされたものであり、半田ボールを2探針で支障なく検査し得る半田ボール検査用2探針ケルビンプローブを提供することを目的とする。
上記目的に沿う本発明の構成は、直径0.3〜1.0mmの絶縁性熱収縮チューブ内に、2本の細い金属線状体を嵌合させ、該チューブから突出した部分をニードル部としてなり、該チューブ内には線状のダミー部材を嵌合させ前記熱収縮チューブの熱収縮によりこれらを一体化させ、前記チューブが略円形を保持するように構成し、前記両線状体の両ニードル部先端コンタクト部は、両先端コンタクト部が一緒になって山形の凹部を形成するような斜面に形成し、該山形の凹部斜面が半田ボールに当接して前記一体化した略円形チューブが一体として上下動し得るように構成したことを特徴とする。
尚、絶縁性熱収縮チューブは、プローブを束ね、外径が大きくなるのを防止する役割をしている。
上記したように、該山形凹部斜面が半田ボールに当接するようにすれば、小径の半田ボールでも支障なく2探針検査をすることができる。この山形の凹部は、断面逆V字形でV字の角度は、鋭角とするのが好ましい。
前記両線状体の先端コンタクト部は、半田の付着を拒否する材料で構成するのが好ましい(請求項)。このような材料としては、硬い材質のチタン合金で形成するのが好ましい。また、先端コンタクト部に、イリジウムの粉体をコーティングすることもできる。
板体に多数の貫通孔を穿設し、該貫通孔に上記プローブを嵌合固定することによって、多数の半田ボールを同時に検査するプローブとすることができる(請求項)。
板体と対向してプローブ後方に、第2の板体を設け、両板体をバネで連結することにより、前記プローブを上下動し得るように構成することができる(請求項)。
要するに本発明は、細い金属線状体をダミー部材と共に絶縁性熱収縮チューブに嵌合させることによって、略円形形状を保持し得るようにすると共に細い線状体でも十分な強度を有する2探針ケルビンプローブとしたことを要旨とするものである。また2探針の先端コンタクト部を、逆V字形とすることによって、小径の半田ボールでも支障なく2探針検査することができる。
本発明によれば、小さな半田ボールであっても2探針で支障なく検査し得るので、半田ボールの検査値の完璧さを期することができるという従来のプローブでは全く得られない絶大な効果を奏する。
図1(A)及び(B)は、本発明の一実施例を示すものであり、円筒状絶縁性熱収縮チューブ1内に、2本の細い金属線状体2,2´が嵌合し、前記チューブ1内には線状のダミー部材3,3´を嵌合して、前記チューブ1が略円形を保持するように構成した例を示す。
金属線状体2,2´の外周は、絶縁材をコーティングするか、金属線状体2と2´との間に絶縁材を介装する。
ダミー線材3,3´は、プラスチックのような絶縁材で形成するか、金属線に絶縁材をコーティングして使用する。
両線状体2,2´の両ニードル部4,4´先端コンタクト部は、両線状体が一緒になって逆V字形(山形)の凹部を形成するような斜面6,6´に形成されている。山形の凹部の斜面6,6´が半田ボール5に当接する。山形の凹部の山形頂点の角度は、鋭角とするのが好ましく、更に好ましくは60〜90℃であり、特に好ましくは70〜85°である。
両線状体2,2´のチューブ1から上方に突出した線状体7,7´は、リード線の役割をするようになっている。
金属線状体2,2´は、半田の付着を拒否する硬度のあるチタン合金で形成されているので、繰り返し支障なく使用することができる。
このプローブを、多数の半田ボールを同時に検査し得るプローブとするには、板体に多数の貫通孔を穿設し、該貫通孔にプローブを嵌合固定すれば良い。
また、このプローブを半田ボールに当接させることによって上下動させるには、板体と対向してプローブ後方に第2の板体を設け、両板体をバネで連結すればよい。
金属線状体2,2´としては、例えば、銅、銅合金から形成することができる。また、金属線状体2,2´の径は、好ましくは0.1〜0.5mm、特に好ましくは0.2〜0.3mmである。
絶縁性熱収縮チューブ1の径は、0.3〜1.0mm、特に好ましくは、0.4〜0.7mmである。ダミー線材3,3´の径は、金属線状体2,2´を挟む隙間に嵌合し得る大きさとすれば良い。絶縁性熱収縮チューブ1に、金属線状体2,2´とダミー線材3,3´とを嵌合させた後、熱収縮チューブ1を加熱収縮させる。
熱収縮チューブ1の長さは、10〜30mmとするのが好ましく、金属製線状体2,2´のチューブ1から突出しているニードル部4,4´の長さは、3mm〜15mmとするのが好ましい。ダミー線材3,3´の長さは、絶縁性熱収縮チューブ1の長さと同程度の長さとするのが好ましい。
金属製線状体2,2´は、先端斜面6,6´の中央コンタクト部を除いて絶縁体被膜が形成されている。絶縁材は、好ましくは3〜5μコーティングするのが良い。
本発明の一実施例を示す(A)横断面図、(B)縦断面図である。
1・・………絶縁性熱収縮チューブ
2,2´・・………金属線状体
3,3´・・………ダミー部材(ダミー線状体)
4,4´・・………ニードル部
5・・………半田ボール
6,6´・・………先端斜面
7,7´・・………リード線

Claims (4)

  1. 直径0.3〜1.0mmの絶縁性熱収縮チューブ内に、2本の細い金属線状体を嵌合させ、該チューブから突出した部分をニードル部としてなり、該チューブ内には線状のダミー部材を嵌合させ前記熱収縮チューブの熱収縮によりこれらを一体化させ、前記チューブが略円形を保持するように構成し、前記両線状体の両ニードル部先端コンタクト部は、両先端コンタクト部が一緒になって山形の凹部を形成するような斜面に形成し、該山形の凹部斜面が半田ボールに当接して前記一体化した略円形チューブが一体として上下動し得るように構成したことを特徴とする半田ボール検査用2探針ケルビンプローブ。
  2. 前記両線状体の先端コンタクト部を、半田の付着を拒否する材料で構成してなる請求項1記載のプローブ。
    ーブ。
  3. 板体に多数の貫通孔を穿設し、該貫通孔に請求項1に記載のプローブを嵌合固定したことを特徴とするプローブ。
  4. 前記板体と対向してプローブ後方に、第2の板体を設け、両板体をバネで連結して、前記プローブが上下動し得るように構成してなる請求項3に記載のプローブ。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4574588B2 (ja) * 2006-04-19 2010-11-04 ルネサスエレクトロニクス株式会社 ケルビンコンタクト測定装置および測定方法
JP4313827B2 (ja) 2007-05-25 2009-08-12 東光株式会社 球状外部電極を有する半導体装置の検査方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5741168U (ja) * 1980-08-20 1982-03-05
JPS6333472U (ja) * 1986-08-20 1988-03-03
JPH02245673A (ja) * 1989-03-17 1990-10-01 Fujitsu Ltd 電気抵抗の測定方法
JPH06273484A (ja) * 1993-03-18 1994-09-30 I C T:Kk 半導体素子の検査装置
JPH0723284U (ja) * 1993-10-01 1995-04-25 日置電機株式会社 ファインピッチ用プローブユニット
JP2001242193A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Kiyota Seisakusho:Kk 極細コンタクトプローブ及びその製造法
JP2002005958A (ja) * 2000-06-26 2002-01-09 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法
JP2002065598A (ja) * 2000-06-13 2002-03-05 Olympus Optical Co Ltd 内視鏡用処置具
JP2003043104A (ja) * 2001-08-01 2003-02-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5741168U (ja) * 1980-08-20 1982-03-05
JPS6333472U (ja) * 1986-08-20 1988-03-03
JPH02245673A (ja) * 1989-03-17 1990-10-01 Fujitsu Ltd 電気抵抗の測定方法
JPH06273484A (ja) * 1993-03-18 1994-09-30 I C T:Kk 半導体素子の検査装置
JPH0723284U (ja) * 1993-10-01 1995-04-25 日置電機株式会社 ファインピッチ用プローブユニット
JP2001242193A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Kiyota Seisakusho:Kk 極細コンタクトプローブ及びその製造法
JP2002065598A (ja) * 2000-06-13 2002-03-05 Olympus Optical Co Ltd 内視鏡用処置具
JP2002005958A (ja) * 2000-06-26 2002-01-09 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd プローブカード用測定針、プローブカード及び測定針形成方法
JP2003043104A (ja) * 2001-08-01 2003-02-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の検査装置

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