JP2001232307A - 洗浄方法および洗浄装置 - Google Patents

洗浄方法および洗浄装置

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JP2001232307A
JP2001232307A JP2000042745A JP2000042745A JP2001232307A JP 2001232307 A JP2001232307 A JP 2001232307A JP 2000042745 A JP2000042745 A JP 2000042745A JP 2000042745 A JP2000042745 A JP 2000042745A JP 2001232307 A JP2001232307 A JP 2001232307A
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JP
Japan
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wafer
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cleaning
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Takeshi Baba
毅 馬場
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄中にブラシがウエハに接触するのを防止
する。 【解決手段】 ウエハ洗浄装置10はウエハ1を保持し
て回転軸15により回転されるウエハホルダ11と、ウ
エハ1に純水17を供給するノズル16と、ブラシホル
ダ19に保持されたブラシ20をウエハ1の周辺部と中
心部とを結ぶ線に沿って移動させる揺動アーム18とを
備えており、回転軸15はブラシ20がウエハ1の中心
部にあるときにはブラシ20がウエハ1の周辺部にある
ときよりも回転速度を高めるように構成されている。 【効果】 ウエハの回転速度の調整によりブラシの被洗
浄面に対する周速度を全体で一定としてブラシを洗浄液
膜に常に浮かせることにより、ブラシが被洗浄面に接触
するのを防止できるため、ブラシが被洗浄面の中央部に
接触して異物を増加させる現象を回避でき、被洗浄面を
全体にわたって均一に洗浄できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、洗浄技術に関し、
特に、回転する被洗浄物の被洗浄面が洗浄液が供給され
ながらブラシによって洗浄される洗浄技術に関し、例え
ば、半導体装置の製造工程において、半導体ウエハ(以
下、ウエハという。)の表面を洗浄するのに利用して有
効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程において、例え
ば、ウエハに絶縁膜や金属膜を形成する成膜工程におい
ては、ウエハの表面に付着した異物を除去するためにウ
エハ洗浄装置が用いられている。従来のこの種のウエハ
洗浄装置としては、例えば、特開平9−134896号
公報に記載されているものがある。
【0003】すなわち、このウエハ洗浄装置は、ウエハ
を保持して回転駆動手段によって回転されるウエハホル
ダと、ウエハに洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、ブ
ラシを保持するブラシホルダと、ブラシホルダに保持さ
れたブラシをウエハの周辺部と中心部とを結ぶ線に沿っ
て移動させるブラシ移動手段とを備えており、ブラシホ
ルダがブラシの大径部を包囲するとともに小径部を開口
部から突出させた形でブラシを保持するように構成され
ている。
【0004】そして、このウエハ洗浄装置においては、
ブラシの成形時の外寸をブラシホルダの内寸より充分に
小さく設定してブラシホルダに装着することにより、ブ
ラシが洗浄液を含んで膨張してもウエハに接する面が突
出することなく、均一な圧力でウエハに接触するように
構成されており、ブラシとウエハとの接触面全面で接触
圧を均一にすることで、異物の除去能力を高めるととも
に、傷の発生を防止している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たウエハ洗浄装置においては、ウエハの回転速度や洗浄
液の供給量について充分に配慮されていないため、ブラ
シがウエハの中央部に移動した時にブラシがウエハに接
触し、洗浄後のウエハの中央部において異物が増加する
という問題点があることが本発明者によって明らかにさ
れた。
【0006】本発明の目的は、被洗浄面を全体的に均一
に洗浄することができる洗浄技術を提供することにあ
る。
【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0009】すなわち、洗浄装置は被洗浄物を保持して
回転駆動手段によって回転される被洗浄物ホルダと、前
記被洗浄物に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、ブラ
シを保持するブラシホルダと、前記ブラシホルダに保持
された前記ブラシを前記被洗浄物の周辺部と中心部とを
結ぶ線に沿って移動させるブラシ移送手段とを備えてお
り、前記回転駆動手段は前記ブラシが前記被洗浄物の中
心部にあるときには前記ブラシが前記被洗浄物の周辺部
にあるときよりも回転速度を高めるように構成されてい
ることを特徴とする。
【0010】前記した手段によれば、ブラシが被洗浄面
の中心部にあるときにはブラシが被洗浄面の周辺部にあ
るときよりも回転速度を高めて、被洗浄面のブラシに対
する周速度を全体にわたって一定にすることにより、被
洗浄面の上に形成された洗浄液膜にブラシを常に浮かせ
ることができるため、ブラシが被洗浄面に接触するのを
防止することができ、その結果、ブラシが被洗浄面の中
央部に接触して異物を増加させる現象を回避することが
でき、被洗浄面を全体にわたって均一に洗浄することが
できる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施の形態を示
すウエハ洗浄装置の一部切断側面図である。図2はその
斜視図である。図3はその作用を説明するための洗浄後
のウエハの各平面図であり、(a)は従来の場合を示
し、(b)は本実施の形態の場合を示している。
【0012】本実施の形態において、本発明に係る洗浄
装置は、半導体装置の製造工程におけるウエハを洗浄す
るものとして構成されている。すなわち、図1および図
2に示されているように、このウエハ洗浄装置10は被
洗浄物としてのウエハ1と略等しい外径の円盤形状に形
成されたウエハホルダ11を備えており、ウエハホルダ
11の上面には保持面12が形成されている。保持面1
2には真空吸着口13が全体にわたって開設されてお
り、真空吸着口13にはウエハホルダ11に形成された
排気通路14が接続されている。排気通路14は真空排
気装置(図示せず)に接続されており、ウエハホルダ1
1は排気通路14を通じて真空吸着口13に供給される
真空排気装置の負圧によって保持面12においてウエハ
1の裏面を真空吸着保持するようになっている。
【0013】ウエハホルダ11は回転軸15の上端に直
交して固定されている。回転軸15は回転駆動手段とし
ての電動モータによって回転駆動されるようになってお
り、電動モータは制御装置(図示せず)によって回転速
度が制御されるようになっている。したがって、ウエハ
1はウエハホルダ11に真空吸着保持された状態で、回
転速度を制御されつつ回転されるようになっている。
【0014】図2に示されているように、ウエハホルダ
11の上方には洗浄液供給手段としてのノズル16が設
置されており、ノズル16は洗浄液として純水17をウ
エハホルダ11に保持されたウエハ1の上に供給するよ
うになっている。
【0015】また、ウエハホルダ11の上方には往復回
動装置(図示せず)によって往復回動される揺動アーム
18の自由端部が張り出されており、揺動アーム18の
自由端部はウエハホルダ11の中心部と周辺部との間を
往復移動するようになっている。揺動アーム18の先端
部にはブラシ20を保持したブラシホルダ19が垂直方
向下向きに吊持されており、ブラシ20はウエハホルダ
11に保持されたウエハ1の上面に略当接するようにブ
ラシホルダ19に保持されている。
【0016】ブラシ20はポリビニルアルコール(PV
A)によってスポンジ状の円盤形状に形成されており、
ブラシホルダ19はブラシ20の下端部を露出させた状
態でブラシ20の上側を嵌合保持している。そして、揺
動アーム18はウエハ1とブラシ20との間に純水17
を介在させる間隙が形成される位置にブラシ20を配置
するように支承されているとともに、ブラシ20をウエ
ハ1の周辺部と中心部とを結ぶ線に沿って移動させるよ
うになっている。
【0017】次に、前記構成に係るウエハ洗浄装置の作
用を説明することにより、本発明の一実施の形態である
ウエハ洗浄方法を説明する。
【0018】洗浄に際して、図1および図2に示されて
いるように、被洗浄物としてのウエハ1はウエハホルダ
11の保持面12に同心円に置かれて真空吸着口13に
供給された負圧によって真空吸着保持される。
【0019】次いで、ウエハ1が回転軸15によって回
転されるとともに、ウエハ1の表面には洗浄液としての
純水17がノズル16によって供給される。ウエハ1の
表面に供給された純水17はウエハ1の回転に伴ってウ
エハ1の全面に均一に拡散された状態になるため、図2
に示されているように、ウエハ1の被洗浄面としての上
面には純水17の膜17Aが形成される。
【0020】続いて、ブラシホルダ19を吊持した揺動
アーム18が往復揺動され、ブラシホルダ19に保持さ
れたブラシ20がウエハ1の中心部と周辺部との間を水
平に往復移動される。このブラシ20が往復移動する過
程において、ウエハホルダ11を支持した回転軸15の
回転数(例えば、1000〜2000rpm)がブラシ
20の位置に応じて電動モータの制御装置によって制御
されることにより変更される。すなわち、ブラシ20に
対するウエハ1の周速度がウエハ1の中心部から周辺部
にわたって常に一定になるように、ブラシ20がウエハ
1の中心部にあるときにはブラシ20がウエハ1の周辺
部にあるときよりも回転速度(回転数)が高く調整され
る。
【0021】このようにしてウエハ1に対するブラシ2
0の周速度が全体にわたって一定に調整されると、ウエ
ハ1の被洗浄面である上面の上に形成された純水膜17
Aの上にブラシ20を常に浮かせることができるため、
ブラシ20が被洗浄面であるウエハ1の上面に接触する
のを防止することができる。
【0022】ところで、ウエハ1がブラシ20の位置に
よらず一定の回転数で回転される従来例の場合には、ウ
エハ1の上に形成された純水膜17Aがウエハ1の遠心
力の影響を受けてウエハ1の中心部において薄くなるた
め、ブラシ20がウエハ1の上面に接触することによ
り、図3(a)に示されているように、洗浄後のウエハ
1の上面における中心部において異物2が増える傾向が
ある。
【0023】これに対して、本実施の形態においては、
ブラシ20はウエハ1の上面に形成された純水膜17A
の上に常に浮いていることにより、ブラシ20がウエハ
1の上面に接触するのを防止することができるため、ブ
ラシ20がウエハ1の上面の中央部に接触して異物を増
加させる現象を回避することができる。その結果、図3
(b)に示されているように、ウエハ1の被洗浄面であ
る上面における中心部に異物2が増加するのを防止する
ことができ、ウエハ1の被洗浄面である上面を全体にわ
たって均一に洗浄することができる。
【0024】前記実施形態によれば、次の効果が得られ
る。
【0025】1) ブラシ20がウエハ1の上面に形成さ
れた純水膜17Aに浮いた状態でウエハ1の被洗浄面で
ある上面を洗浄することにより、ブラシ20がウエハ1
の上面に接触するのを防止することができるため、ブラ
シ20がウエハ1の上面の中心部に接触して異物を増加
させる現象を回避することができ、その結果、ウエハ1
の被洗浄面である上面を全体にわたって均一に洗浄する
ことができる。
【0026】2) 前記1)により、ウエハ洗浄方法の品質
および信頼性を高めることができ、ひいては半導体装置
の製造方法の歩留りおよび生産性を高めることができ
る。
【0027】図4は本発明の他の実施の形態であるウエ
ハ洗浄装置を示す一部切断側面図である。
【0028】本実施の形態が前記実施の形態と異なる点
は、ノズル16を用いる代わりに、揺動アーム18に純
水17を供給する第一導入路21が設けられているとと
もに、ブラシホルダ19の中心部に第一導入路21に連
通する第二導入路22が形成されており、さらに、ブラ
シ20の中心部に第二導入路22からの純水17をウエ
ハ1上に供給する供給路23が形成されている点にあ
る。
【0029】本実施の形態においては、ウエハ1が回転
されながら、揺動アーム18の揺動によってブラシ20
がウエハ1の中心部と周辺部とを結ぶ線に沿って往復動
される過程において、ブラシ20の中心部からウエハ1
の上面の上に純水17が両導入路21、22および供給
路23から供給される。この純水17の供給により、ウ
エハ1とブラシ20との間には純水膜17Aが常に確実
に形成されるため、ブラシ20が常に浮上した状態にな
るため、ウエハ1の回転速度やブラシ20の位置によら
ず、ブラシ20がウエハ1の被洗浄面である上面に接触
するのを防止することができる。その結果、前記実施の
形態と同様に、ブラシ20がウエハ1の上面の中央部に
接触して異物を増加させる現象を回避することができる
ため、ウエハ1の被洗浄面である上面を全体にわたって
均一に洗浄することができる。
【0030】図5は本発明の他の実施の形態であるウエ
ハ洗浄装置を示す一部切断平面図である。
【0031】本実施の形態が前記実施の形態と異なる点
は、ブラシ20のウエハ1との対向面である下面に案内
溝24がウエハ1の回転方向に対して接線方向に延在す
るように没設されている点である。
【0032】本実施の形態においては、ウエハ1の回転
に伴って案内溝24にウエハ1の上面の上に形成された
純水膜17Aの純水17の一部を取り込むことにより浮
き上げられる状態になるため、ブラシ20がウエハ1の
上面に形成された純水膜17Aに浮いた状態でウエハ1
の被洗浄面である上面を洗浄する状態になる。したがっ
て、前記実施の形態と同様に、ブラシ20がウエハ1の
上面の中央部に接触して異物を増加させる現象を回避す
ることができるため、ウエハ1の被洗浄面である上面を
全体にわたって均一に洗浄することができる。
【0033】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0034】例えば、洗浄液としては純水を使用するに
限らず、酸性やアルカリ性の洗浄液を使用することがで
きる。
【0035】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるウエハ
洗浄技術に適用した場合について説明したが、それに限
定されるものではなく、ハードディスク(HD)やコン
パクトディスク(CD)、レーザディスク(LD)、デ
ジタルビデオディスク(DVD)、さらには、ホトマス
クや液晶パネル、ガラス基板、プリント配線基板等を洗
浄する洗浄技術全般に適用することができる。
【0036】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0037】ブラシを被洗浄面に形成された洗浄液膜に
浮かせた状態で、ブラシによって被洗浄面を洗浄するこ
とにより、ブラシが被洗浄面に接触するのを防止するこ
とができるため、ブラシが被洗浄面の中央部に接触して
異物を増加させる現象を回避することができ、その結
果、被洗浄面を全体にわたって均一に洗浄することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を示すウエハ洗浄装置を
示す一部切断側面図である。
【図2】その斜視図である。
【図3】その作用を説明するための洗浄後のウエハの各
平面図であり、(a)は従来の場合を示し、(b)は本
実施の形態の場合を示している。
【図4】本発明の他の実施形態であるウエハ洗浄装置を
示す一部切断側面図である。
【図5】本発明の別の他の実施形態であるウエハ洗浄装
置を示す一部切断平面図である。
【符号の説明】
1…ウエハ、2…異物、10…ウエハ洗浄装置(洗浄装
置)、11…ウエハホルダ、12…保持面、13…真空
吸着口、14…排気通路、15…回転軸、16…ノズル
(洗浄液供給手段)、17…純水(洗浄液)、18…揺
動アーム、19…ブラシホルダ、20…ブラシ、21…
第一導入路、22…第二導入路、23…供給路、24…
案内溝。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する被洗浄物の被洗浄面が洗浄液が
    供給されながらブラシによって洗浄される洗浄方法であ
    って、前記ブラシが前記被洗浄面に形成された前記洗浄
    液膜に浮いた状態で前記被洗浄面を洗浄することを特徴
    とする洗浄方法。
  2. 【請求項2】 前記被洗浄物の回転速度は、前記ブラシ
    が前記被洗浄面の中心部にあるときには前記ブラシが前
    記被洗浄面の周辺部にあるときよりも速く調整されるこ
    とを特徴とする請求項1記載の洗浄方法。
  3. 【請求項3】 前記洗浄液が前記ブラシから前記被洗浄
    面に供給されて、前記洗浄液膜が形成されることを特徴
    とする請求項1に記載の洗浄方法。
  4. 【請求項4】 被洗浄物を保持して回転駆動手段によっ
    て回転される被洗浄物ホルダと、前記被洗浄物に洗浄液
    を供給する洗浄液供給手段と、ブラシを保持するブラシ
    ホルダと、前記ブラシホルダに保持された前記ブラシを
    前記被洗浄物の周辺部と中心部とを結ぶ線に沿って移動
    させるブラシ移動手段とを備えており、前記回転駆動手
    段は前記ブラシが前記被洗浄物の中心部にあるときには
    前記ブラシが前記被洗浄物の周辺部にあるときよりも回
    転速度を高めるように構成されていることを特徴とする
    洗浄装置。
  5. 【請求項5】 被洗浄物を保持して回転駆動手段によっ
    て回転される被洗浄物ホルダと、前記被洗浄物に洗浄液
    を供給する洗浄液供給手段と、ブラシを保持するブラシ
    ホルダと、前記ブラシホルダに保持されたブラシを前記
    被洗浄物の周辺部と中心部とを結ぶ線に沿って移動させ
    るブラシ移動手段とを備えており、前記ブラシホルダに
    は前記洗浄液を導入する導入路が形成され、前記ブラシ
    には前記ブラシホルダの導入路に導入された洗浄液を前
    記被洗浄物上に供給する供給路が形成されていることを
    特徴とする洗浄装置。
JP2000042745A 2000-02-21 2000-02-21 洗浄方法および洗浄装置 Pending JP2001232307A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100839154B1 (ko) * 2001-10-13 2008-06-19 삼성전자주식회사 포토레지스트 클리닝 장치
KR100879415B1 (ko) 2006-05-17 2009-01-19 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 기판처리방법 및 기판처리장치

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KR100839154B1 (ko) * 2001-10-13 2008-06-19 삼성전자주식회사 포토레지스트 클리닝 장치
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