JP2022052913A - 洗浄装置 - Google Patents

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誠也 上月
Seiya Kozuki
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Abstract

Figure 2022052913000001
【課題】洗浄液の排液性を向上させて、基板上の汚染物の残留を低減できる洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄装置1は、基板Wを回転駆動する回転駆動部10と、回転する基板Wの少なくとも一方の面に、回転するブラシを接触させることにより、基板Wの面を洗浄する洗浄ヘッド20と、洗浄ヘッド20を基板Wの面に平行な方向に移動させるブラシ駆動部30と、洗浄ヘッド20とともにブラシ駆動部30により移動可能に且つ非回転に設けられ、回転するブラシの外方向に、複数の吐出口4aから洗浄液を吐出する洗浄液吐出部40と、を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、洗浄装置に関する。
半導体装置の製造工程においては、基板である半導体のウエーハの表面を高い清浄度で洗浄することが要求される場合がある。例えば、基板の表面を平坦化するために、化学機械研磨(CMP:Chemical Mechanical Polishing)を行った後は、基板の表面に、有機物、金属を含む研磨屑やスラリの残渣屑などのパーティクル(以下、汚染物とする)が付着している。
汚染物は、平坦な成膜の妨げや、回路パターンのショートにつながるため、製品不良を起こすことになる。そのため、基板を洗浄液で洗浄することにより、除去する必要がある。このような洗浄を行う装置として、回転するブラシを用いる洗浄装置が知られている(特許文献1参照)。
この洗浄装置は、基板を回転駆動するとともに、回転するブラシを、洗浄液を介して基板の表面に接触させて、基板と平行な方向に移動させる。これにより、洗浄液によって基板の表面に付着した汚染物が浮いて、ブラシによって基板の外に排出されるので、基板が全体に亘って洗浄される。
基板は、周縁部を溝もしくは段部付きのローラによって保持し、そのローラを回転駆動することにより回転させる。一方、洗浄ブラシは揺動アームの先端部に設けられ、揺動アームを揺動することで、洗浄ブラシを円弧状に移動させる。洗浄液は、ノズルによって、基板の外側から基板の中央付近に向けて、つまり、ブラシの移動経路の途中に向けて吹き付けられる。
特開平7-283180号公報
基板の表面上に付着する汚染物を除去するには、基板の表面にある汚染物にブラシが接触したとしても、その汚染物を取り込んで掃き出すには、ある程度の時間が必要となる。つまり、基板上の汚染物をブラシが取りこぼすことがある。このため、上記のような洗浄装置においては、基板を比較的低速で回転させる必要がある。しかし、基板の回転が遅いと遠心力が弱く、洗浄液が外部に流出し難くなるので、基板の表面に滞留して、汚染物が再付着してしまう可能性がある。また、洗浄液は基板の外側から、基板に向かって吹き付けられるので、基板の外側から内側に向かう流れが生じて、洗浄液が外部に流出し難くなる。さらに、基板の回転による流れは、渦巻状となるため、外部へと向かう流れが阻害されるとともに、基板全体における洗浄液の量が不均一になり、洗浄ムラの発生を招く。
これに対処するため、基板の回転速度を上げたり、洗浄水の流量を増加させることが考えられる。しかし、基板の回転速度を上げることは、上記のように、ブラシが汚染物を取り込んだり、掃き出したりするにはある程度の時間が必要となるため、ブラシが汚染物を取りこぼす可能性が高まる。さらに、基板の回転速度が上がると、ブラシと基板表面との摩擦が増えるので、基板の表面に傷(スクラッチ)が付きやすくなる。また、洗浄水の流量を増加させても、流れの方向は改善されないため、外部への排出は不十分となる。
本発明は、上述のような課題を解決するために提案されたものであり、その目的は、洗浄液の排液性を向上させて、基板上の汚染物の残留を低減できる洗浄装置を提供することにある。
上記の課題を解決するため、本発明の洗浄装置は、基板を回転駆動する回転駆動部と、回転する前記基板の少なくとも一方の面に、回転するブラシが接触することにより、前記基板の面を洗浄する洗浄ヘッドと、前記洗浄ヘッドを前記基板の面に平行な方向に移動させるブラシ駆動部と、前記洗浄ヘッドとともに前記ブラシ駆動部により移動可能に且つ非回転に設けられ、回転する前記ブラシの外方向に、複数の吐出口から洗浄液を吐出する洗浄液吐出部と、を有する。
本発明の洗浄装置は、洗浄液の排液性を向上させて、基板上の汚染物の残留を低減できる。
実施形態の洗浄装置の概略構成を示す斜視図 解放位置にあるローラ(A)、保持位置にあるローラ(B)を示す側面図 解放位置にあるローラ(A)、保持位置にあるローラ(B)を示す平面図 洗浄ヘッドを示す側面図 洗浄ヘッドを示す軸方向断面図 単一のブラシを配置した例(A)、複数のブラシを配置した例(B)を示す底面図 洗浄の開始位置にある洗浄ヘッド(A)、洗浄中の洗浄ヘッド(B)、終了位置にある洗浄ヘッド(C)を示す平面図 サイドノズルの変形例を示す側面図 吐出口の変形例を示す側面図 吐出口の変形例を示す側面図 洗浄液の流量の調整部を示す説明図
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。本実施形態は、図1に示すように、基板Wを回転させながら、洗浄液とブラシによって洗浄する洗浄装置1である。基板Wは、典型的には半導体のウエーハであるが、表示装置用の基板等であってもよい。
図1に示すように、洗浄装置1は、回転駆動部10、洗浄ヘッド20、ブラシ駆動部30、洗浄液吐出部40を有する。回転駆動部10は、基板Wを回転駆動する。回転駆動部10は、第1の保持部11、第2の保持部12、第1の駆動部13及び第2の駆動部14を有する。第1の保持部11及び第2の保持部12は、基板Wを挟んで対向する位置に配置される。
第1の保持部11、第2の保持部12は、それぞれ一対のローラ10aを有する。ローラ10aは、基板Wに直交する軸を中心に回転可能に設けられている。第1の保持部11と第2の保持部12における各ローラ10aは、大径部及びこの上面に設けられた小径部を有し、大径部及び小径部の側面は、互いが接する境界が縮径するようにテーパ状をなしている。各ローラ10aの大径部と小径部との境界部分が基板Wに接することにより、基板Wの周縁部を保持する。
第1の駆動部13及び第2の駆動部14は、それぞれ第1の保持部11、第2の保持部12を支持し、ローラ10aを、その軸を中心に回転させるとともに、ローラ10aが基板Wに接離する方向に移動させる。第1の駆動部13、第2の駆動部14内には、ローラ10aを駆動する回動機構(図示せず)が収納されている。
回動機構は、例えば、ベルトドライブ機構である。つまり、駆動源であるモータの駆動軸と一方のローラ10aの駆動軸に設けられたプーリの間、一対のローラ10aの駆動軸に設けられたプーリの間に、それぞれタイミングベルトが架け渡されることにより、駆動源により一対のローラ10aが回転可能に設けられている。なお、回動機構は、これには限定されず、例えば、各ローラ10aにそれぞれ設けられたモータによって、各ローラ10aを回転させるように構成してもよい。
また、第1の駆動部13及び第2の駆動部14には、第1の保持部11及び第2の保持部12を、ローラ10aが基板Wに接離する方向に移動させる駆動機構(図示せず)が第1の保持部11の下端と第2の保持部12の下端のそれぞれに設けられている。駆動機構は、第1の駆動部13及び第2の駆動部14の下端に、それぞれに設けられた駆動軸を、基板Wの面に平行な方向に沿って、互いに逆方向に移動させるロータリシリンダを有する。
駆動機構が、第1の保持部11及び第2の保持部12が互いに離れる方向に移動させることにより、図2(A)、図3(A)に示すように、ローラ10aが基板Wから離れる解放位置となる。駆動機構が、第1の保持部11及び第2の保持部12を、互いに近づく方向に移動させることにより、図2(B)、図3(B)に示すように、ローラ10aが基板Wに接して保持する保持位置となる。
洗浄ヘッド20は、回転する基板Wの面に、回転するブラシ25を接触させることにより、基板Wの面を洗浄する。なお、ここでいう接触は、ブラシ25が直接接する場合も、洗浄液が介在して接する場合も含む。図4の側面図、図5の断面図に示すように、洗浄ヘッド20は、胴部21、モータ22、ブラシホルダ23、支持体24、ブラシ25を有する。胴部21は、円筒形状の容器であり、内部にモータ22を収容している。モータ22は、ブラシ25を回転させる駆動源であり、駆動軸が筒状の中空モータである。
ブラシホルダ23は、モータ22の駆動軸に取り付けられ、支持体24が着脱可能に設けられた円盤形状の部材である。ブラシホルダ23は、胴部21とは独立して回転可能に設けられている。支持体24は、ブラシ25が固定され、ブラシホルダ23に、チャック機構等により着脱される円盤形状の部材である。なお、ブラシホルダ23と支持体24の中心には、後述するセンターノズル42が貫通する貫通孔が設けられている。
ブラシ25は、図6(A)に示すように、柔軟性と弾性を有する材質で形成された円柱形状の部材である。ブラシ25の中心には貫通孔が形成されている。本実施形態のブラシ25は、PVA(ナイロン系樹脂)、PTFE(フッ素系樹脂)などのスポンジ状の樹脂を用いる。なお、同様の樹脂製の毛ブラシを用いてもよい。つまり、本実施形態のブラシ25には、スポンジ状の塊のものも、多数の毛状体が密集したものも含まれる。また、支持体24に設けられるブラシ25の数は、図6(A)に示すような単一であっても、図6(B)に示すように、複数であってもよい。なお、図6(B)は、図6(A)の貫通孔に相当する箇所を囲むように、複数のブラシ25が配置されている。
図1に示すように、ブラシ駆動部30は、洗浄ヘッド20を基板Wの面に平行な方向に移動させる。ブラシ駆動部30は、アーム31、駆動機構32を有する。アーム31は、基板Wに平行な方向の部材であり、一端に洗浄ヘッド20が取り付けられている。駆動機構32は、揺動機構と昇降機構を有する。揺動機構は、図7(A)~(C)に示すように、アーム31を、洗浄ヘッド20と反対側の端部を軸とする円弧の軌跡で、基板Wに平行な方向に往復動させる。揺動機構は、アーム31から基板Wの面に直交する方向に延びた支軸と、支軸を回動させる駆動源であるモータ(図示せず)を有する。アーム31は、基板Wの洗浄を行わないときは、基板Wの外部にある待機位置(図示せず)に位置付けられている。
昇降機構は、図2(A)、(B)に示すように、アーム31を、洗浄ヘッド20が基板Wに接離する方向に移動させる。昇降機構としては、アーム31の支軸を昇降させるボールねじ機構、シリンダ等が適用できる。
洗浄液吐出部40は、洗浄ヘッド20とともに、ブラシ駆動部30により移動可能に且つ非回転に設けられ、回転するブラシ25の外方向に、複数の吐出口4aから洗浄液を吐出する(図7(A)~(C)参照)。洗浄液は、オゾン水や純水、SC-1(アンモニア水と過酸化水素水を混合した洗浄液)である。例えば、ブラシ25がPVAの時は、純水で洗浄する。また、ブラシ25がPTFEの場合、オゾン水やSC-1を使用する。PTFEは、耐液性があるため、オゾン水やSC1のような洗浄液を併用できる。回転するブラシ25の外方向とは、ブラシ25の回転中心から外側に向かう方向をいい、複数のブラシ25の場合には、全体の回転中心から外側に向かう方向をいう。複数の吐出口4aは、洗浄ヘッド20の周囲から、放射状に洗浄液を吐出する。つまり、ブラシ25が基板Wの中央に位置する場合、洗浄ヘッド20の周囲から、基板Wの外周に向けて吐出される(図7(B)参照)。また、吐出口4aは洗浄ヘッド20の周囲に等間隔で配置されている。
より具体的には、洗浄液吐出部40は、サイドノズル41、センターノズル42を有する。サイドノズル41は、胴部21の外周に、等間隔で固定された4つの管である。サイドノズル41の一端は、基板Wの表面に対して、45°度となるように屈曲され、洗浄液が基板Wに向かって吐出される吐出口4aが設けられている。
サイドノズル41の他端側は、ブラシ駆動部30のアーム31に沿って支持され、さらにアーム31を越えて、図示しない洗浄液の供給装置に接続されている。供給装置は、純水製造装置(純水貯留タンク)、オゾン水製造装置(オゾン水貯留タンク)及びSC-1供給装置に接続された送液装置、バルブ等を有し、純水、オゾン水及びSC-1のいずれかを切り替えて供給可能である。
センターノズル42は、モータ22の筒状の駆動軸を貫通し、さらにブラシホルダ23、支持体24の貫通孔を貫通した1本の管である(図5参照)。ブラシホルダ23、支持体24の貫通孔を貫通して延びたセンターノズル42の一端には、洗浄液が基板Wに向かって吐出される吐出口4aが設けられ、この吐出口4aは、さらにブラシ25の貫通孔にまで達している。この吐出口4aは、ブラシ内吐出口である。センターノズル42の他端側は、ブラシ駆動部30のアーム31に沿って支持され、さらにアーム31を越えて、洗浄液の供給装置に接続されている。この供給装置は、サイドノズル41と同様に、純水製造装置、オゾン水製造装置及びSC-1供給装置を含み、いずれかを切り替えて、洗浄液を供給可能である。
上記のような洗浄ヘッド20、ブラシ駆動部30、洗浄液吐出部40は、図2に示すように、基板Wの上下の面(表面及び裏面とも言う)を洗浄可能となるように、基板Wを挟んで上下に一対設けられている。つまり、一対の洗浄ヘッド20が、それぞれのブラシ25及び吐出口4aが基板Wに向かうように、ブラシ駆動部30の一対のアーム31が基板Wの上下に配置される。駆動機構32は、一対のブラシ25が基板Wを挟むように接触する接触位置(図2(B))と、基板Wから離れる離隔位置(図2(A))との間で、一対のアーム31を移動させる。また、駆動機構32は、一対のアーム31を揺動させることにより、図7(A)~(C)に示すように、円弧の軌跡で、接触位置にある一対のブラシ25を移動させる。平面視で見た場合、接触位置は、図7(A)に示すように、ブラシ25が揺動する始点であり、離間位置は、図7(C)に示すように、ブラシ25が揺動する終点である。また、接触位置は、基板Wの外周上であって、離間位置は、接触位置とは反対の基板Wの外周上にある。
(動作)
上記のような構成の洗浄装置1の動作を説明する。まず、前工程において、処理済みの基板Wの表面にはオゾン水がかけられており、酸化膜が形成されることにより、親水化されている。この酸化膜が形成された基板Wの表面には、前々工程であるCMP工程で残存した、有機系汚染物(スラリー等)や金属汚染物などが付着した状態となっている。これは、基板Wの表裏面に汚染物が付着したまま、オゾン水が供給された状態となっていること、つまり、汚染物が付着したまま、酸化膜が形成されていることを意味する。オゾン水には有機物を除去する能力はあるが、この前工程は、有機物を除去する工程ではなく、あくまでも基板Wの表裏面を親水化することが目的の工程である。搬送ロボットは、前工程から基板Wを搬出して、洗浄装置1に搬送し、図2(A)、図3(A)に示すように、第1の保持部11及び第2の保持部12のローラ10aの間に搬入する。第1の保持部11及び第2の保持部12は、図2(B)に示すように、互いに近付く方向に移動して、4つのローラ10aが基板Wの周縁に接することにより、基板Wを保持する。
ローラ10aが回転することにより、基板Wが回転する。例えば、20~60rpmの低速で回転する。上下のアーム31は、最初は、基板Wの外部にある待機位置に待機した状態にある。待機位置にある上下のアーム31は、モータ22によってブラシ25を回転させながら、図7(A)に示すように、基板Wの外周上まで揺動して、一旦停止する。そして、上下のアーム31が互いに基板Wに近づく方向に移動することにより、上下の洗浄ヘッド20のブラシ25が、図2(B)に示すように、基板Wの表面、裏面に接触することにより、基板Wを挟む。
このとき、サイドノズル41及びセンターノズル42の吐出口4aは、洗浄液を吐出している。すると、図7(A)の点線の矢印に示すように、サイドノズル41からの洗浄液が、基板Wの外周に向かう方向へ流れる。なお、ブラシ25の進行方向に沿う吐出口4aのうち、前側の洗浄液については、ブラシ25の進行と相まって、基板Wの外周に向かう流れが促進される。また、センターノズル42からの洗浄液によって、ブラシ25と基板Wとの間に洗浄液が流れている。なお、図中の黒塗りの矢印は、基板Wの回転方向を示す。
そして、上下のアーム31が回動することにより、上下のブラシ25が水平移動する。つまり、図7(A)、(B)に示すように、基板Wの外周の一方から移動を開始したブラシ25が、図中、白塗りの矢印で示す円弧の軌跡で移動しながら、洗浄液とともに汚染物を基板Wの外周に押し出して行く。図7(C)に示すように、ブラシ25が基板Wの外周の他方を越えて、基板Wから外れると、ブラシ25は回転を停止して、吐出口4aからの洗浄液の吐出を停止して、洗浄処理を終了する。
なお、基板Wの外周側と中心側では周速が異なり、外周は周速が速く、1回転当たりで洗浄すべき面積が大きいので、ブラシ25の水平方向の移動を遅くする。つまり、ブラシ駆動部30によるアーム31の移動速度を遅くする。中心に近付くほど周速が遅く、1回転当たりで洗浄すべき面積が小さくなるので、ブラシ25の水平方向の移動を速くする。つまり、ブラシ駆動部30によるアーム31の移動速度を速くする。なお、ブラシ25の揺動ための移動速度は、一定としてもよい。
そして、上下のアーム31が互いに離れる方向に移動することにより、上下のブラシ25が離れ、さらに、アーム31が揺動することにより、基板Wの外周の外にある待機位置に退避する。なお、その後、上記の動作を繰り返すことにより、ブラシ25による洗浄を複数回行ってもよい。この場合、1回の洗浄毎に、アーム31は洗浄を開始する位置に戻る(図2(A)、図7(A)参照)。
(作用効果)
(1)以上のような本実施形態の洗浄装置1は、基板Wを回転駆動する回転駆動部10と、回転する基板Wの少なくとも一方の面に、回転するブラシ25を接触させることにより、基板Wの面を洗浄する洗浄ヘッド20と、洗浄ヘッド20を基板Wの面に平行な方向に移動させるブラシ駆動部30と、洗浄ヘッド20とともにブラシ駆動部30により移動可能に且つ非回転に設けられ、回転するブラシ25の外方向に、複数の吐出口4aから洗浄液を吐出する洗浄液吐出部40と、を有する。
このため、ブラシ25の外方向に向かう洗浄液の流れが生じるので、基板Wの外周に向かう洗浄液の流れが促進され、ブラシ25によって基板Wから剥がれた若しくは掃き出された汚染物が基板Wの外へ排出されやすくなり、基板Wへの再付着が低減するので、基板Wの清浄度が向上する。従来は、基板Wの回転によって渦巻状となった洗浄液の流れが、基板Wの外周の位置によって、液膜の厚さが薄くなるか、洗浄液があまり無いという不均一な状態となり、洗浄ムラが発生することがあった。これに対して、本実施形態では、非回転の洗浄液吐出部40によって、ブラシ25の外方向に洗浄液を吐出することにより、基板Wの外周の位置にかかわらず、洗浄液を行き渡らせて、洗浄液の流れを形成させることができる。このため、基板Wにおける洗浄液の量の不均一が低減するので、汚染物が外周に付着せずに排出され、洗浄ムラが改善される。
このように、本実施形態では、従来、認識されていなかった基板Wからの排液性の向上という課題に着目し、ブラシ25で処理している部分に洗浄液を供給するのとは逆に、ブラシ25が処理していない部分に敢えて洗浄液を供給しようとするものである。そして、本実施形態では、ブラシ25の外方向に洗浄液を吐出しながら、ブラシ25による洗浄を行い、排液性の向上を図っている。
(2)複数の前記吐出口4aは、洗浄ヘッド20の周囲から放射状に洗浄液を吐出する。このため、ブラシ25の周囲から放射状に流れる洗浄液によって、洗浄液の大半の流れが基板Wの外周に向かうようになり、基板Wからの排液性が向上する。つまり、洗浄ヘッド20が揺動しながら、洗浄液を放射上に吐出し、さらに、基板Wの回転による遠心力もあるので、基板Wの全外周に対する液量が増えることになり、排液性が向上する。
(3)複数の前記吐出口4aは、前記洗浄ヘッドの周囲に均等に配置されている。このため、ブラシ25の周囲から洗浄液をムラなく流すことができるので、基板W上の液ムラを低減し、洗浄ムラを改善できる。
(4)洗浄液吐出部40は、ブラシ25の中心から洗浄液を吐出する吐出口4aを有する。このため、ブラシ25に付着している汚染物も、外方向へ向かう洗浄液の流れとともに、排出することができる。
(変形例)
本実施形態は、上記の態様に限定されるものではなく、以下のような変形例も構成可能である。例えば、吐出口4aの数、サイドノズル41の数は、複数であればよく、上記の4つには限定されない。また、吐出口4aの形状も、円形には限定されない。また、上記の態様では、基板Wの両面を洗浄する装置であったが、洗浄ヘッド20、ブラシ駆動部30、洗浄液吐出部40が、基板Wの一方の面側にのみ設けられ、基板Wの一方の面のみを洗浄する装置であってもよい。
また、サイドノズル41をブラシ25側に延ばして、吐出口4aがある先端の角度を、基板Wの面に沿う角度としてもよい。基板Wの面に沿う角度とは、上記の45°よりも小さい角度、つまり、基板Wの面に平行な角度又は平行に近似した角度をいう。例えば、図8に示すように、サイドノズル41の先端の角度を、基板Wに対して平行となるようにしてもよい。これにより、吐出口4aから吐出する洗浄液が、より基板Wの外周に近い位置に吐出されて着液するので、基板Wの外周に洗浄液が届きやすくなる。また、基板Wに近く、基板Wの面に平行又はこれに近似した角度で洗浄液が吐出されることにより、洗浄液の落下によって洗浄液が分散したり、流速が減殺されることを抑制して、基板W上の外周に向かう洗浄液の流れを促進することができる。
また、図9に示すように、吐出口4aを、基板Wの面に沿う細長の孔であるスリット形状としてもよい。例えば、基板Wの面に平行なスリットとする。これにより、洗浄液の流速を高めて、排液性を高めることができる。スリットの幅を長くすれば、広範囲に洗浄液を流すことができる。また、円形の吐出口4aと比較して、吐出される洗浄液が上下方向に膨らむことが抑制されるので、洗浄液が効率良く基板Wの面に沿って流れる。
また、吐出口4aは、ノズルの先端に設ける場合には限定されない。図10に示すように、洗浄ヘッド20の周囲に筒状の容器であって、洗浄液の供給装置に接続された洗浄液の収容体43を設け、その外周に、吐出口4aを設けてもよい。
さらに、複数の吐出口4aからの洗浄液の吐出量を調整する調整部50を設けてもよい。例えば、洗浄液の供給装置とサイドノズル41との間に接続された配管に、洗浄液の単位時間当たりの供給量を、個別に調整するマスフローコントローラ(MFC)51を設ける。MFC51は、流体の流量を計測する質量流量計と流量を制御する電磁弁を有する。
MFC51に接続された制御装置は、例えば、洗浄ヘッド20の円弧の移動方向に沿う2つの吐出口4aについて、洗浄の開始前には進行方向の後方の吐出口4aからの吐出量を抑え、洗浄開始後に吐出量を増加させる。洗浄の終了に近づいた場合には、進行方向の前方の吐出口4aからの吐出量を抑える。これにより、基板Wにかからない洗浄液の吐出量を抑えて、洗浄液の無駄を防止できる。
また、実験等により、渦巻状の流れによって洗浄液の液膜が薄くなる箇所を記録しておき、このような箇所を通過する吐出口4aの吐出量を増加させるように、制御装置が制御してもよい。これにより、基板Wの全面に亘って均一に排液性を高めて、洗浄ムラを低減できる。
[他の実施形態]
以上、本発明の実施形態及び各部の変形例を説明したが、この実施形態や各部の変形例は、一例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述したこれら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明に含まれる。
1 洗浄装置
4a 吐出口
10 回転駆動部
10a ローラ
11 第1の保持部
12 第2の保持部
13 第1の駆動部
14 第2の駆動部
20 洗浄ヘッド
21 胴部
22 モータ
23 ブラシホルダ
24 支持体
25 ブラシ
30 ブラシ駆動部
31 アーム
32 駆動機構
40 洗浄液吐出部
41 サイドノズル
42 センターノズル
43 収容体
50 調整部
51 MFC

Claims (6)

  1. 基板を回転駆動する回転駆動部と、
    回転する前記基板の少なくとも一方の面に、回転するブラシを接触させることにより、前記基板の面を洗浄する洗浄ヘッドと、
    前記洗浄ヘッドを前記基板の面に平行な方向に移動させるブラシ駆動部と、
    前記洗浄ヘッドとともに前記ブラシ駆動部により移動可能に且つ非回転に設けられ、回転する前記ブラシの外方向に、複数の吐出口から洗浄液を吐出する洗浄液吐出部と、
    を有することを特徴とする洗浄装置。
  2. 複数の前記吐出口は、前記洗浄ヘッドの周囲から放射状に洗浄液を吐出することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
  3. 複数の前記吐出口は、前記洗浄ヘッドの周囲に等間隔で配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の洗浄装置。
  4. 前記吐出口が、前記基板の面に沿うスリット形状であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の洗浄装置。
  5. 前記洗浄液吐出部は、複数の前記吐出口からの洗浄液の吐出量を調整する調整部を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の洗浄装置。
  6. 前記洗浄液吐出部は、前記ブラシの中心から洗浄液を吐出するブラシ内吐出口を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の洗浄装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN115863227A (zh) * 2023-03-02 2023-03-28 拓思精工科技(苏州)有限公司 一种晶圆精洗工装及其使用方法

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