JP2001226735A - タングステン材料とその製造方法 - Google Patents

タングステン材料とその製造方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 粉末冶金法と塑性加工法を用いて製造された
タングステン材料よりも更に耐放電特性の優れた電極を
開発し、この電極とその製造方法とを提供する。 【解決手段】 純度の高いタングステン粉末から製造さ
れたインゴットに塑性加工を施したタングステン又はタ
ングステン合金からなるタングステン材料であって、前
記インゴットは、JISに規定されるタングステン材料
の分析方法によるタングステン純分が99.99%以上
であり、前記インゴットは、窒素、酸素、及び炭素の含
有量の合計が0.05%を越えず且つ加熱処理後のタン
グステン粒子の平均粒径が20μm〜600μmであ
り、前記塑瀬性加工は、断面減少率30%以上の加工で
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放電灯用タングス
テン電極とそれに用いられるタングステン又はタングス
テン合金からなるタングステン材料と、それらの製造方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から放電灯用の電極は、その特性
上、高い融点が求められるため、タングステン材料で製
造されていた。しかし、タングステンは、融点が高く、
溶解法による製造が困難で有るため粉末冶金法を用いて
製造されている。その代表的なタングステン電極の製造
方法としては、水素還元法で製造された粒度1〜5μ
m、純度99.95 %程度の粉末を金型プレスもしく
は静水圧プレスを用いて圧粉体を製造し、その後、圧粉
体を水素雰囲気中で焼結を行い、インゴットを製造する
方法がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来、粉末冶金法で製
造されたインゴットは、その特性上内部に多数の閉空孔
が存在し、本来のタングステンの真比重まで密度が上が
っていない。内部に空孔が有り緻密化されていないタン
グステンを放電灯の陽極として使用した場合、熱伝導度
が低下し先端の放電部のみ温度上昇が起きることが考え
られる。また、この場合、先端部の温度がタングステン
の融点近くまで上昇し先端部が溶融・変形・蒸発する原
因となる。
【0004】従来から、タングステン電極用素材は、イ
ンゴットを加熱圧延又は熱間鍛造法等により塑性加工を
行い緻密化させた後、電極として使用していた。
【0005】しかしながら、現在では、さらに耐放電特
性が優れていて、寿命の長いタングステン材料が要求さ
れている。
【0006】よって、本発明の技術的課題は、粉末冶金
法と塑性加工法を用いて製造されたタングステン材料よ
りも更に耐放電特性の優れた電極を開発し、この電極と
その製造方法とを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、多岐にわ
たる試験を繰り返した後、上記課題を解決する為には以
下の様な手段を講じる必要があるとの知見を得、本発明
をなすに至ったものである。
【0008】本発明によれば、純度の高いタングステン
粉末から製造されたインゴットに塑性加工を施したタン
グステン又はタングステン合金からなるタングステン材
料であって、前記インゴットは、JIS(JIS H
1403)に規定されるタングステン材料の分析方法に
よるタングステン純分が99.99%以上であり、前記
インゴットは、窒素、酸素、及び炭素の含有量の合計が
0.05%を越えず且つ加熱処理後のタングステン粒子
の平均粒径が20μm〜600μmであり、前記塑性加
工は、断面減少率30%以上の加工であることを特徴と
するタングステン材料が得られる。
【0009】また、本発明によれば、前記タングステン
材料において、Al、SiO の内少なくとも1
種類を0.001〜0.5%含有していることを特徴と
するタングステン材料が得られる。
【0010】また、本発明によれば、前記いずれかのタ
ングステン材料からなることを特徴とするタングステン
電極が得られる。
【0011】また、本発明によれば、純度の高いタング
ステン粉末からインゴットを製造し、塑性加工を施すタ
ングステン又はタングステン合金からなるタングステン
材料の製造方法であって、前記インゴットは、JISに
規定されるタングステン材料の分析方法によるタングス
テン純分が99.99%以上であり、窒素、酸素、及び
炭素の含有量の合計が0.05%を越えず且つ加熱処理
後のタングステン粒子の平均粒径が20μm〜600μ
mであり、前記塑性加工は、断面減少率30%以上の加
工であり、前記塑性加工の後、真空中で2600℃の温
度で、先端部を熱処理することを特徴とするタングステ
ン材料の製造方法が得られる。
【0012】また、本発明によれば、前記タングステン
材料の製造方法において、Al 、SiOの内少
なくとも1種類を0.001〜0.5%含有させる工程
を備えていることを特徴とするタングステン材料の製造
方法が得られる。
【0013】また、本発明によれば、前記いずれかのタ
ングステン材料の製造方法によりタングステン電極を製
造することを特徴とするタングステン電極の製造方法が
得られる。
【0014】
【発明の実施の形態】まず、本発明の原理について説明
する。
【0015】まず、タングステン材料のタングステン純
分について説明する。
【0016】従来において、タングステン棒の純分は日
本工業規格(JIS H 4462の照明及び電子機器
用タングステン棒)として1種と2種とが定められその
純度が1種99.96%以上、2種99.9%以上と定
められ、広く世の中の基準となっている。
【0017】しかしながら、本発明者らは、タングステ
ン中に含まれる不純分は、タングステンと合金を形成
し、タングステンの融点を下げ、電極として使用したと
き寿命の原因となりうるとの知見を得た。
【0018】そこで、本発明者らは、独自の技術により
99.99%以上の高い純度の粉末を精製しこれを使用
することで、課題の糸口を見出だした。
【0019】また、この粉末を用いて本発明の製造方法
により作られたインゴットの成分の酸素、炭素、窒素の
各元素の合計が0.05%以下である事を確認した。
【0020】又、用途によつてはタングステン材料中に
Al、SiOの内少なくとも1種類を0.00
1〜0.5%含有させることで、更に寿命が改善される
事も確認した。
【0021】これは、タングステンを放電灯の電極とし
て使用する場合、電源の入力エネルギー変動の大きな使
用方法をした場合、電極の熱膨張、収縮による歪みが生
じ、この歪みを基に電極中の結晶粒径が粗大化すること
が確認された。この粗大化が寿命低下の原因になつてお
りAl,SiOは、結晶粒径の粗大化を抑制し
均一な放電を促す役割を果たしていると考えている。
【0022】添加されるAl、SiOはその量
が多いほど結晶粒の粗大化の抑制効果が認められるが、
0.5%以上添加した場合には加工性の低下と電極とし
て使用中に添加元素の蒸発による寿命の短縮が起こるた
め0.5%を上限とした。
【0023】次に、本発明のタングステン材料の製造方
法について説明する。
【0024】本発明者らは、確認試験の中で得た知見を
基にタングステンの純度、結晶特性を満たすためには、
次の様な製法を用いるべきであるとの確信を得た。
【0025】まず、静水圧プレス又は金型プレスを用い
て圧粉体を製造する。この圧粉体を水素雰囲気又は真空
中で焼結する。この時、焼結されたタングステンインゴ
ットの密度は、相対密度で88〜93%である。
【0026】次に、熱間での圧延又は/及び転打加工に
より断面減少率で30%以上の加工を行う。このことに
より、密度99%以上に緻密化する事ができる。上記の
製法によつて製造されたタングステンは、純度、密度が
高く、電極として使用される場合に最適な性能を示す。
【0027】又、電極としての使用中に結晶粒が粗大化
して短寿命化するのを防止するために、タングステン電
極を電子ビーム、ブラズマ、及び高周波加熱等を用いて
真空中又は水素雰囲気中で2650℃以上の温度に加熱
処理することで、更なる長寿命化が得られる事も見いだ
した。これは、特に放電が集中する先端部又は全体を加
熱処理することで使用中の結晶粒の成長を著しく抑制す
る事が出来、その効果が得られる。
【0028】従来のものでも一部には、間接加熱により
2400℃以下の熱処理が行われる場合があったが、本
発明では、2次再結晶粒の成長を防止するために間接加
熱では、到達不可能な2650℃以上の高温で処理する
事が最大のポイントとなる。
【0029】次に、本発明のタングステン電極材料の製
造の具体例について説明する。
【0030】タングステン粉末の製造に当たり独自の精
製を行い、純度の高い粉末を製造した。次に、静水圧プ
レスを用いて2256N/cm(22.56MPa)
の圧力でそれぞれの圧粉体を製造した。その圧粉体を水
素雰囲気炉の中で1720℃×50時間焼結を行い、イ
ンゴットを製造した。
【0031】できあがったインゴットを分析したとこ
ろ、成分は以下の表1の通りであった。また、比重を測
定したところ、17.81であった(以下、素材1と呼
ぶ)。
【0032】
【表1】
【0033】また、更に、タングステンにAl
びSiOを添加した粉末を製造し、同じ条件でインゴ
ットの製造を行った。この時のインゴットの成分は下記
表2の通りである。また、比重を測定したところ、1
7.81であった(以下、素材2と呼ぶ)。
【0034】
【表2】
【0035】次に、比較用に従来より使用されている一
般的なタングステン粉末を用意し、同じ条件でインゴッ
トを製造した、成分は下記の表3の通りであった。ま
た、比重を測定したところ、17.80であった(以
下、素材3と呼ぶ)。
【0036】
【表3】
【0037】上記3種類のインゴットを、それぞれ以下
に示すような熱間圧延法によって加工し、その後、熱処
理を行い、電極として放電灯に組み込みまれる。
【0038】ここで、熱間圧延方法について更に詳しく
説明する。熱間圧延の方法としては、溝ロールを用いて
1400℃に加熱した後加工を行い電極を製造した。こ
の時のインゴットからの断面減少率は35%であり、比
重は素材1で19.17、素材2で19.08、素材3
で19.15であった。
【0039】さらに、続く加熱処理について詳しく説明
する。
【0040】本来、電子ビーム等の高エネルギー源を用
いればタングステン粉末から直接電極素材を溶融し鋳造
することやインゴットを直接熱処理することでも寿命を
改善することは可能であるが、直接鋳造した場合、不純
分の偏析が発生する可能性があり、本来の粉末の特性に
よる寿命の差が観察し難くなる可能性があるため、本発
明の実施の形態においては、水素雰囲気中で焼結した素
材1〜3のインゴットを熱間圧延加工を行った後、10
−5torr(≒1.33×10−3Pa)の真空中で
電子ビーム法により放電灯先端部を2650℃の加熱処
理をおこなった。
【0041】以下の表4に、素材と加工方向並びに熱処
理後の素材の平均粒径を示す。
【0042】
【表4】
【0043】表1乃至表3に示される3種類のインゴッ
トを熱間圧延及び熱処理を行いタングステン電極として
の寿命についての比較を行った。寿命は、黒化の進行に
よる照度の低下で評価し、初期状態を100%として5
00時間経過迄の照度を比較した。その結果を図1及び
図2に示す。
【0044】図1は図2本発明の実施の形態によるタン
グステン電極の寿命を示す図で、図1は圧延加工しただ
けのW電極の照度の経時変化を示す図、図2は圧延加工
の後熱処理したW電極の寿命を示す図である。
【0045】図1及図2を参照すると、素材1及び素材
2は、従来からの素材である素材3よりも、照度の低下
が少なく、素材として従来の物より優れていることが判
明した。
【0046】また、圧延後、さらに、高温熱処理をする
事で照度の低下が減少しているのは本発明の重要な効果
であると考えられる。これは使用中のタングステンの結
晶粒の粗大化と関係付けられる。以下の表5に本発明で
観察された代表的な結晶粒径を示す。
【0047】
【表5】
【0048】上記表5に示すように、圧延加工後260
0℃で熱処理されたものは500時間経過後でもあまり
結晶粒が成長していないのに対し、圧延加工のみで電極
として使用されたものは著しく粒成長しており、本発明
の効果が顕れたものと考えられる。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
粉末冶金法と塑性加工法を用いて製造されたタングステ
ン材料よりも更に耐放電特性の優れた電極を開発し、こ
の電極とその製造方法とを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態による圧延加工しただけの
W電極の照度の経時変化を示す図で、併せて従来の素材
3も示してある。
【図2】本発明の実施の形態による圧延加工後、熱処理
したW電極の照度の経時変化を示す図で、併せて従来の
素材も示してある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C22F 1/00 628 C22F 1/00 628 684 684B 687 687 691 691B 694 694A (72)発明者 田辺 成光 富山県富山市岩瀬古志町2番地 東京タン グステン株式会社富山製作所内 Fターム(参考) 4K018 AA20 AB01 AC01 BA09 FA09 KA37

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 純度の高いタングステン粉末から製造さ
    れたインゴットに塑性加工を施したタングステン又はタ
    ングステン合金からなるタングステン材料であって、 前記インゴットは、JISに規定されるタングステン材
    料の分析方法によるタングステン純分が99.99%以
    上であり、前記インゴットは、窒素、酸素、及び炭素の
    含有量の合計が0.05%を越えず且つ加熱処理後のタ
    ングステン粒子の平均粒径が20μm〜600μmであ
    り、前記塑性加工は、断面減少率30%以上の加工であ
    ることを特徴とするタングステン材料。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のタングステン材料におい
    て、Al及びSiOの内少なくとも1種を0.
    001〜0.5%含有していることを特徴とするタング
    ステン材料。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載のタングステン材料
    から実質的になることを特徴とするタングステン電極。
  4. 【請求項4】 純度の高いタングステン粉末からインゴ
    ットを製造し、塑性加工を施すタングステン又はタング
    ステン合金からなるタングステン材料の製造方法であっ
    て、 前記インゴットは、JISに規定されるタングステン材
    料の分析方法によるタングステン純分が99.99%以
    上であり、窒素、酸素、及び炭素の含有量の合計が0.
    05%を越えず且つ加熱処理後のタングステン粒子の平
    均粒径が20μm〜600μmであり、 前記塑性加工は、断面減少率30%以上の加工であり、 前記塑性加工の後、真空中で2600℃の温度で、先端
    部を熱処理することを特徴とするタングステン材料の製
    造方法。
  5. 【請求項5】 請求項4記載のタングステン材料の製造
    方法において、Al 及びSiOの内少なくとも
    1種を0.001〜0.5%含有させる工程を備えてい
    ることを特徴とするタングステン材料の製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項4又は5記載のタングステン材料
    の製造方法によりタングステン電極を製造することを特
    徴とするタングステン電極の製造方法。
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