JP2001210926A - 集合基板および回路基板、および集合基板を用いた回路基板の製造方法 - Google Patents

集合基板および回路基板、および集合基板を用いた回路基板の製造方法

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JP2001210926A
JP2001210926A JP2000015810A JP2000015810A JP2001210926A JP 2001210926 A JP2001210926 A JP 2001210926A JP 2000015810 A JP2000015810 A JP 2000015810A JP 2000015810 A JP2000015810 A JP 2000015810A JP 2001210926 A JP2001210926 A JP 2001210926A
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Hidenori Kitaguchi
秀紀 北口
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 集合基板の状態で、回路基板部の検査又は調
整が必要な集合基板において、回路基板の小型化が図
れ、かつ、回路基板の製造工程を簡素化することができ
る集合基板を提供する。 【解決手段】 第一の回路基板部11の第一の回路部1
12の検査等をするための端子部124を第二の回路基
板部12に設ける。そして、第一の回路部112の検査
等をした後、第一の回路基板部11の境界で切断するこ
とにより、回路基板を製造する。 【効果】 第一の回路部の検査等をするための端子部を
第一の回路基板部以外の部分に設けているため、回路基
板の小型化が図れる集合基板を提供できる。集合基板を
回路基板に分割すると同時に端子部と第一の回路部との
接続を切断できるため、これらの接続を切断する工程及
び確実に切断が行なわれたことを確認する工程をなくす
ことができ、回路基板の製造が容易な集合基板を提供で
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集合基板および回
路基板、および集合基板を用いた回路基板の製造方法、
特に集合基板の状態で回路基板部の検査や調整等が可能
な集合基板および回路基板、および集合基板を用いた回
路基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、基板内外に所定の回路パターン
を形成し、必要に応じて部品を配置して用いられる回路
基板を製造する場合には、作業効率を上げるため、複数
個の回路基板部を同一平面に配設させた集合基板を用い
ることがある。回路基板部とは、回路基板に必要な回路
パターン形成及び部品の配置がされた部分で、集合基板
から切断することにより回路基板になる部分である。
【0003】図13は、従来の集合基板7を示す平面図
である。図13において、集合基板7は、複数の回路基
板部71及び側縁部73からなる。複数の回路基板部7
1の各々は、破線で示す各回路基板部71の境界で集合
基板7から切断することにより回路基板になる部分であ
る。側縁部73は切取りしろであり、最終的に廃棄され
る部分である。
【0004】まず、集合基板7を用いた回路基板の製造
工程を示す。回路基板の製造工程は、集合基板7の状態
で各回路基板部71に必要な回路のパターン形成及び部
品の配置をし、その後、各回路基板部71の検査又は調
整を行う第一工程と、集合基板7を各回路基板部71の
境界で切断することにより回路基板を製造する第二工程
とからなる。
【0005】図14は、図13に示す回路基板部71を
含む部分7−xの拡大図である。図14において、回路
基板部71は、基体711と基体711に配置された第
一の回路部712と、第一の回路部712に接続された
配線713と、配線713に接続された端子部714と
を有している。ここで、第一の回路部712は、集合基
板7の状態で検査又は調整が可能な回路である。端子部
714は、集合基板7の状態で外部から第一の回路部7
12の検査又は調整をするために必要な端子である。こ
のような構成を有する集合基板7は、端子部714を用
いて回路基板部71の検査又は調整ができる。
【0006】図15は、従来の別の集合基板8を示す平
面図である。図15において、集合基板8は、複数の回
路基板部81及び側縁部83からなる。複数の回路基板
部81の各々は、破線で示す各回路基板部81の境界で
集合基板8から切断することにより回路基板になる部分
である。側縁部83は切り取りしろであり、最終的に廃
棄される部分である。
【0007】図16は、図15に示す回路基板部81を
含む部分8−xの拡大図である。図16において、回路
基板部81は、基体811と基体811に配置された第
一の回路部812と端子部814と第二の回路部818
と回路配線819と配線813aとを有している。ここ
で、第一の回路部812は、集合基板8の状態で検査又
は調整が可能な部品であり、第二の回路部818は、回
路基板の状態では電気的に動作し、かつ集合基板8の状
態で第一の回路部812の検査又は調整をするときには
電気的に動作しない。
【0008】回路基板部81は、端子部814と第二の
回路部818とが回路配線819を介して接続してい
る。すなわち、端子部814は、第二の回路部818の
外部端子である。また、集合基板8の状態においては、
端子部814と第一の回路部812とが配線813aを
介して接続している。集合基板8の状態で第一の回路部
812の検査又は調整をする場合には、第二の回路部8
18は電気的に動作しないので、端子部814を使って
第一の回路部812の検査又は調整をすることができ
る。
【0009】また、第一の回路部812の検査又は調整
が済んだ後は、配線813aをその中間部813bで切
断する。このようにすることにより、製品である回路基
板の状態では、端子部814は、第二の回路部818の
みが接続された外部端子となる。
【0010】このように、第一の回路部812と第二の
回路部818とを有する回路基板部81においては、本
来、回路基板の状態で、第二の回路部818の外部端子
として使用される端子部814を、集合基板8の状態で
は第一の回路部812にも接続しておくことにより、第
一の回路部812の検査又は調整のための端子として用
いることができる。したがって、このような構成を有す
る集合基板8は、回路基板部81に、新たに、第一の回
路部812の検査又は調整のための端子を設ける必要が
ない分だけ、回路基板の小型化が図れる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】図13に示した集合基
板7によれば、回路基板部71に端子部714を設けた
分だけスペースを必要とし、回路基板の小型化に支障を
きたすという問題がある。また、基体711に設けた端
子部714とその他の部品や配線との間隔が十分にない
ときには、第一の回路部712とその他の部品や配線と
が短絡するおそれがあるという問題がある。
【0012】特に、回路基板部71の第一の回路部71
2を設けた面に、端子部714を設けるスペースがない
ときは、回路基板部71にスルーホールを設け、第一の
回路部712を設けた面の裏面に端子部714を設けな
ければならない場合がある。そして、この場合は、回路
基板部71がその境界で切断されて回路基板になり、回
路基板がマザーボードに実装されるときに、端子部71
4がマザーボードの配線と短絡するおそれがあるという
問題がある。
【0013】また、図15に示した集合基板8によれ
ば、本来、第二の回路部818の外部端子として使用さ
れる端子部814を、第一の回路部812の検査又は調
整のための端子として用いるため、回路基板部81に新
たに端子を設ける必要がないので、回路基板の小型化が
図れる。しかし、集合基板8によれば、回路基板を製造
する工程に、配線813aを中間部813bで切断する
工程が必要になってしまうという問題がある。特に、配
線813aの中間部813bでの切断が不十分であれ
ば、第一の回路部812と第二の回路部818とが影響
を与え合い、回路基板が正常に動作しなくなる。このた
め、配線813aを中間部813bで切断する工程にお
いては、切断部分に削りかすが残っていないかなど、第
一の回路部812と第二の回路部818との接続が確実
に切断されたことを確認する工程が必要になるという問
題もある。
【0014】そこで本発明は、集合基板の状態で回路基
板部の検査又は調整をするために必要な端子部を、新た
に設ける必要がないので、回路基板の小型化が図れ、ま
た、第一の回路部とその他の部品や配線とが短絡するお
それがない集合基板および回路基板、および集合基板を
用いた回路基板の製造方法を提供することを目的とす
る。
【0015】また、本発明は、端子部を検査用の端子と
して用いた場合であっても、第一の回路部と第二の回路
部との接続を切断する工程及び確実に切断されたことを
確認する工程をなくすことにより、製造が容易な集合基
板および回路基板、および集合基板を用いた回路基板の
製造方法を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の集合基板は、第一の回路基板部を有する集
合基板であって、前記第一の回路基板部は、第一の回路
部と前記第一の回路部に接続された第一の配線とを有
し、前記集合基板の第一の回路基板部以外の部分は、端
子部と前記端子部に接続された第二の配線とを有し、前
記第一の配線と前記第二の配線とは接続していることを
特徴とする。
【0017】また、本発明の集合基板は、第二の回路基
板部を更に有し、前記第二の回路基板部は、前記端子部
と前記第二の配線とを有することを特徴とする。
【0018】また、本発明の集合基板は、側縁部を更に
有し、前記側縁部は、前記端子部と前記第二の配線とを
有することを特徴とする。
【0019】また、本発明の集合基板は、側縁部を更に
有し、前記側縁部は、第三の配線を有し、前記第一の回
路基板部と前記第二の回路基板部とは前記側縁部を介し
て隣接し、前記第一の配線と前記第二の配線とは前記第
三の配線を介して接続していることを特徴とする。
【0020】また、本発明の集合基板は、前記第二の回
路基板部が、前記端子部に回路配線を介して接続された
第二の回路部を有し、前記第二の回路部は集合基板の状
態では回路動作をしないことを特徴とする。
【0021】また、本発明の回路基板は、前記集合基板
を、前記第一の回路基板部の境界で切断して製造された
ことを特徴とする。
【0022】また、本発明の回路基板の製造方法は、前
記集合基板の前記第一の回路部を前記端子部を用いて検
査又は調整する第一工程と、前記集合基板を前記第一の
回路基板部の境界で切断する第二工程とを順に施すこと
を特徴とする。
【0023】上記構成を有する集合基板は、集合基板の
状態で第一の回路基板部の第一の回路部の検査又は調整
をするために必要な端子部を、集合基板の第一の回路部
が形成された第一の回路基板部以外の場所に設けている
ため、第一の回路基板部に新たに、端子部を設ける必要
がなく、回路基板の小型化が図れ、また、第一の回路部
とその他の部品や配線とが短絡するおそれがない。
【0024】また、上記構成を有する集合基板は、集合
基板の状態で、端子部が第一の回路部を設けた面の裏面
に設けられている場合でも、回路基板部の境界で切断さ
れた回路基板がマザーボードに実装されるときに、端子
部がマザーボードの配線と短絡するおそれがない。
【0025】また、上記構成を有する集合基板は、第二
の回路部が接続している端子部を検査端子として用いる
ため、回路基板部に新たに端子部を設ける必要がないの
で、回路基板の小型化が図れる。
【0026】また、上記構成を有する集合基板は、集合
基板を回路基板部の境界で切断する際に、第一の回路部
と第二の回路部との接続が確実に切断できるため、第一
の回路部と第二の回路部との接続を切断する工程と、確
実に切断されたことを確認する工程とを省くことができ
るので、回路基板の製造が容易な集合基板を提供するこ
とができる。
【0027】また、上記構成を有する回路基板、及び、
回路基板の製造方法についても、上述した効果と同様の
効果を奏するものである。
【0028】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の集合基板の一実
施例を示す平面図であり、図2は、図1に示す第一の回
路基板部11を含む部分1−xの拡大図である。図1及
び図2において、図13乃至図16と同一もしくは同等
の部分には同じ記号を付し、その説明を省略する。
【0029】図1に示すように、集合基板1は、同一形
状の複数の回路基板部11、12と、側縁部13とを有
している。各回路基板部11、12は、図1、2におい
て破線で示す境界線において切断され、個々の回路基板
になる部分であり、側縁部13は、廃棄される部分であ
る。
【0030】図2において、第一の回路基板部11は、
基体111と基体111上に配置された第一の回路部1
12と端子部114と第一の回路部112に接続された
第一の配線113と端子部114に接続された第二の配
線115とを有する。回路基板部11と隣接する第二の
回路基板部12は、基体121と基体121に配置され
た第一の回路部122と端子部124と第一の回路部1
22に接続された第一の配線123と端子部124に接
続された第二の配線125とを有する。そして、第一の
配線113と第二の配線125とは接続されている。こ
こで、第一の回路部112、122は、集合基板1の状
態で検査又は調整が必要な回路であり、端子部114、
124とは、集合基板の状態において、外部から第一の
回路部を検査又は調整するための端子部である。
【0031】例えば、回路基板部11、12を前記境界
線において切断して形成される回路基板がPLLモジュ
ールである場合には、第一の回路基板部11は、第一の
回路部である発振回路112と、図示を省略したPLL
回路とを有する。そして、集合基板1の状態でPLL回
路を停止状態に保ちつつ、端子部124に制御電圧を印
加することにより、発振回路112を動作させ、その周
波数を調整することができる。なお、回路基板は、PL
Lモジュール以外のものでもよく、第一の回路部112
も発振回路以外の回路やICなどでもよい。また、基体
111、121としては、エポキシ基板やセラミック基
板などを用いてもよく、第一の配線113、第二の配線
125は、印刷パターンなどで形成してもよい。
【0032】このような構成を有する本発明の集合基板
1は、集合基板1の状態で端子部124を用いて第一の
回路部112の検査又は調整ができる。
【0033】また、本発明の集合基板1は、各回路基板
部11、12がその境界で切断され回路基板になった後
は、端子部124には回路や電子部品などが何も接続さ
れていないので、端子部124とその他の部品や配線と
が短絡しても問題がない。したがって、端子部124と
その他の部品や配線との間隔を狭めることができるの
で、製品である回路基板の小型化が図れる。
【0034】なお、第一の回路部122、端子部114
については、更に隣接する別の回路基板部や側縁部との
間に第一の回路部112、端子部124と同様の配線接
続がなされるものでもよい。
【0035】図3は、本発明の集合基板の別の実施例を
示す平面図であり、図4は、図3に示す回路基板部11
aを含む部分1a−xの拡大図である。図3及び図4に
おいて、図1又は図2と同一もしくは同等の部分には同
じ記号を付し、その説明を省略する。
【0036】図3に示すように、集合基板1aは、同一
形状の複数の回路基板部11a、12aと、側縁部13
aとを有している。
【0037】また、図4において、第一の回路基板部1
1aは、基体111と基体111上に配置された第一の
回路部112と第二の回路部118と端子部114と第
一の回路部112に接続された第一の配線113と端子
部114に接続された第二の配線115と第二の回路部
118と端子部114とを接続する回路配線119とを
有する。第一の回路基板部11aに隣接する第二の回路
基板部12aは、基体121と基体121上に配置され
た第一の回路部122と第二の回路部128と端子部1
24と第一の回路部122に接続された第一の配線12
3と端子部124に接続された第二の配線125と第二
の回路部128と端子部124とを接続する回路配線1
29とを有する。そして、第一の配線113と第二の配
線125とは接続されている。ここで、第二の回路部1
18、128は、回路基板の状態では電気的に動作し、
集合基板1の状態で第一の回路部112、122の検査
又は調整をするときには電気的に動作しない回路であ
り、端子部114、124は、回路基板の状態では第二
の回路部118、128の外部端子として用いる入出力
端子である。以下、第二の回路部をこの意味で用い、回
路基板部が第二の回路部を持つ場合は端子部をこのよう
に使用する。なお、例えば、回路基板がPLLモジュー
ルである場合には、第二の回路部118、128は、P
LL回路を構成する。
【0038】このような構成を有する集合基板1aにお
いて、第二の回路部128は集合基板1aの状態で第一
の回路部112の検査又は調整をする場合には電気的に
動作しないので、端子部124を使って第一の回路部1
12の検査又は調整ができる。
【0039】また、このような構成を有する集合基板1
aは、第一の回路部112と第二の回路部128との接
続は、第一の回路部112の検査又は調整が済んだ後、
各回路基板部11a、12aをその境界で切断する際に
確実に切断される。そして、製品である回路基板の状態
では、端子部124は、第二の回路部128のみが接続
された外部端子となる。
【0040】すなわち、上記構成を有する集合基板1a
は、第一の回路部112と第二の回路部128とを有し
ている。そして、本来、回路基板の状態で、第二の回路
部128の外部端子として使用される端子部124が、
集合基板1aの状態では第一の回路部112と接続して
いるので、端子部124を第一の回路部112の検査又
は調整のための端子として用いることができる。したが
って、回路基板部11a又は12aに、新たに端子部を
設ける必要がないので、その分だけ製品となる回路基板
の小型化が図れる。
【0041】また、上記構成を有する集合基板1aは、
第一の回路基板部11aと隣接する第二の回路基板部1
2aとをその境界で切断する際に、第一の回路部112
と第二の回路部128との接続が確実に切断される。し
たがって、第一の回路部と第二の回路部128との接続
を切断する工程と、確実に切断されたことを確認する工
程とをなくすことができる。
【0042】なお、第一の回路部122、第二の回路部
118、端子部114については、第一の回路部11
2、第二の回路部128、端子部124と同様の配線を
することにより、同様の作用をすることができる。
【0043】図5は、本発明の集合基板の更に別の実施
例を示す平面図であり、図6は、図5に示す回路基板部
21を含む部分2−xの拡大図である。図5に示すよう
に、集合基板2は、複数の回路基板部21、22と、側
縁部23とを有している。
【0044】図6において、第一の回路基板部21は、
基体211と基体211上に配置された第一の回路部2
12と第一の回路部212に接続された第一の配線21
3と端子部214と端子部214に接続された第二の配
線215とを有する。第一の回路基板部21と隣接する
第二の回路基板部22は、基体221と基体221に形
成された端子部224と端子部224に接続された第二
の配線225と第一の回路部222と第一の回路部22
2に接続された第一の配線223とを有している。ま
た、第一の配線213と第二の配線225とは接続さ
れ、第一の配線223と第二の配線215とは接続され
ている。
【0045】このような構成を有する集合基板2は、端
子部224を用いて第一の回路部212の検査又は調整
ができる。また、端子部214を用いて第一の回路部2
22の検査又は調整ができる。
【0046】このように、集合基板2は、端子部224
及び214を第二の回路基板部22及び第一の回路基板
部21に有するため、側縁部23に端子部を設ける必要
がないので、側縁部23を省いた構成にすることもでき
る。
【0047】なお、端子部224又は214には、第二
の回路部が接続していてもよく、そのときは、第二の回
路部の外部端子に使用する端子部を検査端子として用い
れば、新たに端子部を設ける必要がないので、その分だ
け回路基板の小型化が図れる。
【0048】図7は、本発明の集合基板の更に別の実施
例を示す平面図であり、図8は、図7に示す回路基板部
31を含む部分3−xの拡大図である。図7、8に示す
ように、集合基板3は、同一形状の複数の回路基板部3
1と、側縁部32とを有している。第一の回路基板部3
1は、基体311と基体311に配置された第一の回路
部312と端子部314と第一の回路部312に接続さ
れた第一の配線313と端子部314に接続された第二
の配線315とを有している。側縁部32は、基体32
1と基体321に形成された端子部324と端子部32
4に接続された第二の配線325とを有している。ま
た、第一の配線313と第二の配線325とは接続され
ている。
【0049】このような構成を有する集合基板3は、端
子部324を用いて第一の回路部312の検査又は調整
ができる。
【0050】なお、端子部314については、図2に示
した第一実施例の端子部124と同様のものであり、詳
細な説明は省略する。
【0051】図9は、本発明の集合基板の更に別の実施
例を示す平面図であり、図10は、図9に示す回路基板
部41を含む部分4−xの拡大図である。図9に示すよ
うに、集合基板4は、同一形状の複数の回路基板部4
1、42と、側縁部43とを有している。
【0052】図10において、第一の回路基板部41
は、基体411と基体411に配置された第一の回路部
412と第一の回路部412に接続された第一の配線4
13と端子部414と端子部414に接続された第二の
配線415とを有する。側縁部43を介して第一の回路
基板部41に隣接する第二の回路基板部42は、基体4
21と基体421に配置された第一の回路部422と第
一の回路部422に接続された第一の配線423と端子
部424と端子部424に接続された第二の配線425
とを有する。側縁部43は、基体431と基体431に
形成された第三の配線436とを有している。また、第
一の配線413と第二の配線425とは第三の配線43
6を介して接続されている。
【0053】このような構成を有する集合基板4は、端
子部424を用いて第一の回路部412の検査又は調整
ができる。
【0054】このように、第一の回路基板部41と第二
の回路基板部42との間には、側縁部43や他の回路基
板部が存在していてもよく、必ずしも第一の回路基板部
41と第二の回路基板部42とは隣接していなくてもよ
い。
【0055】なお、第一の回路部422、端子部414
については、更に隣接する別の回路基板部や側縁部との
間に第一の回路部412、端子部424と同様の配線を
することにより、同様の作用をすることができる。な
お、端子部424又は414には、第二の回路部が接続
していてもよく、そのときは、第二の回路部の外部端子
に使用する端子部を検査端子として用いれば、新たに検
査用の端子を設ける必要がないので、その分だけ回路基
板の小型化が図れる。
【0056】次に、図11を用いて、本発明の回路基板
の製造方法の一実施例を説明する。図11は、本発明の
集合基板の更に別の実施例を示す平面図である。また、
図12は本発明の回路基板の製造方法により製造された
回路基板6である。
【0057】回路基板6の製造方法は、集合基板5の状
態で第一の回路基板部51を検査又は調整をする第一工
程と、集合基板5を第一の回路基板部51の境界で切断
する第二工程とからなる。
【0058】まず、集合基板5は、第一の回路基板部5
1と、側縁部53と、第二の回路基板部52とを有す
る。第一の回路基板部51は、基体511と基体511
に配置された第一の回路部512と第一の回路部512
に接続された第一の配線513と図示を省略した第二の
回路部518と、図示を省略した回路配線519と、回
路配線519を介して第二の回路部518が接続された
図示を省略した端子部514と、端子部514に接続さ
れた第二の配線515とを有する。第二の回路基板部5
2は、基体521と基体521に配置された第一の回路
部522と第一の回路部522に接続された第一の配線
523とを有する。側縁部53は、基体531と基体5
31に形成された端子部534と端子部534に接続さ
れた第二の配線535とを有する。そして、第一の配線
513と第二の配線535とは接続し、第一の配線52
3と第二の配線515とは接続している。
【0059】このような構成を有する集合基板5を用い
て、本発明の第一工程においては、集合基板5の状態で
各回路基板部51、52の検査又は調整が行われる。ま
ず、第一の配線513と第二の配線535とは接続され
ているので、端子部534を用いて第一の回路部512
の検査又は調整をする。そして、第一の配線523と第
二の配線515とは接続されているので、端子部514
を用いて第一の回路部522の検査又は調整をする。
【0060】第二工程では、集合基板5が回路基板部5
1の境界で切断され、回路基板6が製造される。この第
一の回路基板部51と側縁部53とが切断される際に、
第一の回路部512と端子部534との接続が確実に切
断され、第一の回路基板部51と第二の回路基板部52
とが切断される際に、第一の回路部522と第二の回路
部518との接続が確実に切断される。
【0061】このような二つの工程により、第一の回路
基板部51の境界で切断されて製造された回路基板6
は、基体511と、基体511に配置された第一の回路
部512と、一端が第一の回路部512に接続され他端
が開放された第一の配線513と、第二の回路部518
と、外部端子として使用する端子部514と、第二の回
路部518と端子部514とを接続する回路配線519
と、一端が端子部514に接続され他端が開放された第
二の配線515とを有する。なお、第二の回路基板部5
2の境界で切断されて製造される回路基板も、回路基板
6と同様の構成を有するものである。
【0062】
【発明の効果】本発明の集合基板は、集合基板の状態で
第一の回路基板部の第一の回路部の検査又は調整をする
ために必要な端子部を、集合基板の第一の回路基板部以
外の部分に設けているため、第一の回路基板部に自らの
検査又は調整をするための端子部が存在しないので、回
路基板の状態で端子部とその他の部品や配線とが短絡す
るおそれがなく、また、回路基板の小型化を図ることが
できる。
【0063】また、本発明の集合基板は、第二の回路部
が接続している端子部を検査用の端子として用いるとき
は、回路基板部に新たに端子部を設ける必要がないの
で、回路基板の小型化を図ることができる。
【0064】また、本発明の集合基板は、第二の回路部
が接続している端子部を検査用の端子として用いるとき
は、集合基板を第一の回路基板部の境界で切断する際
に、第一の回路部と第二の回路部との接続が確実に切断
されるため、第一の回路部と第二の回路部との接続を切
断する工程と、確実に切断がされたことを確認する工程
とをなくすことができ、回路基板の製造が容易になる。
【0065】なお、本発明の回路基板、及び、本発明の
回路基板の製造方法も同様の効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の集合基板の一実施例を示す平面図であ
る。
【図2】図1の集合基板の部分拡大図である。
【図3】本発明の集合基板の別の実施例を示す平面図で
ある。
【図4】図3の集合基板の部分拡大図である。
【図5】本発明の集合基板の更に別の実施例を示す平面
図である。
【図6】図5の集合基板の部分拡大図である。
【図7】本発明の集合基板の更に別の実施例を示す平面
図である。
【図8】図7の集合基板の部分拡大図である。
【図9】本発明の集合基板の更に別の実施例を示す平面
図である。
【図10】図9の集合基板の部分拡大図である。
【図11】本発明の回路基板の製造方法の一実施例を示
す平面図である。
【図12】本発明の回路基板の一実施例を示す平面図で
ある。
【図13】従来の集合基板を示す平面図である。
【図14】図13の集合基板の部分拡大図である。
【図15】従来の別の集合基板を示す平面図である。
【図16】図15の集合基板の部分拡大図である。
【符号の説明】
1、1a、2、3、4、5…集合基板 回路基板…6 11、11a、21、31、41、51…第一の回路基
板部 12、12a、22、42、52…第二の回路基板部 13、13a、23、32、43、53…側縁部 111、121、211、221、311、321、4
11、421、431、511、521、531…基体 112、122、212、222、312、412、4
22、512、522…第一の回路部 114、124、214、224、314、324、4
14、424、514、534…端子部 113、123、213、223、313、413、4
23、513、523…第一の配線 115、125、215、225、315、325、4
15、425、515、535…第二の配線

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第一の回路基板部を有する集合基板であ
    って、前記第一の回路基板部は、第一の回路部と前記第
    一の回路部に接続された第一の配線とを有し、前記集合
    基板の第一の回路基板部以外の部分は、端子部と前記端
    子部に接続された第二の配線とを有し、前記第一の配線
    と前記第二の配線とは接続していることを特徴とする、
    集合基板。
  2. 【請求項2】 第二の回路基板部を更に有し、前記第二
    の回路基板部は、前記端子部と前記第二の配線とを有す
    ることを特徴とする、請求項1に記載の集合基板。
  3. 【請求項3】 側縁部を更に有し、前記側縁部は、前記
    端子部と前記第二の配線とを有することを特徴とする、
    請求項1に記載の集合基板。
  4. 【請求項4】 側縁部を更に有し、前記側縁部は、第三
    の配線を有し、前記第一の回路基板部と前記第二の回路
    基板部とは前記側縁部を介して隣接し、前記第一の配線
    と前記第二の配線とは前記第三の配線を介して接続して
    いることを特徴とする、請求項2に記載の集合基板。
  5. 【請求項5】 前記第二の回路基板部は、前記端子部に
    回路配線を介して接続された第二の回路部を有し、前記
    第二の回路部は集合基板の状態では回路動作をしないこ
    とを特徴とする、請求項2又は4に記載の集合基板。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載の集合
    基板を、前記第一の回路基板部の境界で切断して製造さ
    れたことを特徴とする回路基板。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至5のいずれかに記載の前記
    集合基板の前記第一の回路部を前記端子部を用いて検査
    又は調整する第一工程と、 前記集合基板を前記第一の回路基板部の境界で切断する
    第二工程とを順に施すことを特徴とする、回路基板の製
    造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005303199A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Kamaya Denki Kk 電子部品用集合基板及び電子部品の製造方法
JP2008034678A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Epson Toyocom Corp シート状基板母材及び電子デバイス
JP2013239800A (ja) * 2012-05-14 2013-11-28 Seiko Epson Corp 電子部品の製造方法、電子部品の検査方法、シート基板、電子部品、及び電子機器
JP2013239548A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Seiko Epson Corp シート基板、電子部品、電子機器、電子部品の検査方法、及び電子部品の製造方法
CN103427786A (zh) * 2012-05-16 2013-12-04 精工爱普生株式会社 电子部件及其制造方法和检查方法、片状基板、电子设备

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005303199A (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Kamaya Denki Kk 電子部品用集合基板及び電子部品の製造方法
JP4504075B2 (ja) * 2004-04-15 2010-07-14 釜屋電機株式会社 電子部品用集合基板及び電子部品の製造方法
JP2008034678A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Epson Toyocom Corp シート状基板母材及び電子デバイス
JP2013239800A (ja) * 2012-05-14 2013-11-28 Seiko Epson Corp 電子部品の製造方法、電子部品の検査方法、シート基板、電子部品、及び電子機器
JP2013239548A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Seiko Epson Corp シート基板、電子部品、電子機器、電子部品の検査方法、及び電子部品の製造方法
CN103427786A (zh) * 2012-05-16 2013-12-04 精工爱普生株式会社 电子部件及其制造方法和检查方法、片状基板、电子设备

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