JP2013239548A - シート基板、電子部品、電子機器、電子部品の検査方法、及び電子部品の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マトリックス状に複数配列された基板領域56を有するとともに、各基板領域56に集積回路50が配置され、集積回路50と電気的に接続する実装電極18A及び実装電極18Bが各基板領域56に配置されるシート基板54である。そして、本発明のシート基板54は、実装電極18Aを、基板領域56の行ごとに並列に接続する第1の端子62A〜62Cと、実装電極18Bを、基板領域56の列ごとに並列に接続する第2の端子66A〜66Cと、を有し、集積回路50のうち、選択された第1の端子62A〜62C及び第2の端子66A〜66Cにより特定される任意の集積回路50を起動可能としたことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
特許文献1においては、各基板領域の接続電極から配線が引き出され、基板領域の外部で配線を並列に接続するとともに、電子部品を並列に接続した配線から電力を投入して電子部品を複数同時に起動して電子部品を検査する構成が開示されている。
[適用例1]マトリックス状に複数配列された基板領域を有するとともに、各基板領域に電子素子が配置され、前記電子素子と電気的に接続する第1の実装電極及び第2の実装電極が各基板領域に配置されるシート基板であって、前記第1の実装電極を、前記基板領域の行ごとに並列に接続する第1の端子と、前記第2の実装電極を、前記基板領域の列ごとに並列に接続する第2の端子と、を有し、前記電子素子のうち、選択された前記第1の端子及び前記第2の端子により特定される任意の前記電子素子を起動可能としたことを特徴とするシート基板。
上記構成により、任意の電子素子を選択的に起動できるので、互いに隣接する電子素子同士の干渉を回避することができる。また、検査用プローブ等を、検査対象となる基板領域に配置された電極に接触させる必要もなくなるため、電子素子の検査を容易に行うことが可能なシート基板となる。
上記構成により、起動した電子素子の第3の実装電極に接続した第3の端子と、起動した電子素子の第4の実装電極に接続した第3の端子と、が互いに異なることになる。よって、第3の端子のみで、起動した電子素子に接続した第3の実装電極及び第4の実装電極に対する電気的接続を行なうことができる。
上記構成により、起動した電子素子の第2の実装電極の接続先となる第2の端子と、起動した電子素子の第5の実装電極の接続先となる第2の端子と、が互いに異なることになる。よって、第2の端子のみで、起動した電子素子に接続した第2の実装電極及び第5の実装電極に電気的に接続することができる。
適用例1と同様の理由により、電子素子同士の干渉を回避し、容易に電子素子の検査が可能な電子部品となる。
適用例1と同様の理由により、電子素子同士の干渉を回避し、容易に電子素子の検査が可能な電子機器となる。
適用例1と同様の理由により、電子素子同士の干渉を回避し、容易に電子素子の検査が可能な電子部品の検査方法となる。
適用例1と同様の理由により、電子素子同士の干渉を回避し、容易に電子素子の検査が可能な電子部品の製造方法となる。
図5に示すように、ベース基板12の搭載面14の引出電極46A、46Bに対向する位置にはマウント電極24A,24Bが配置されている。また搭載面14のパッド電極52に対向する位置には接続電極20(X1,X2,Vdd,GND,OUT,Vc,T)が配置されている。一方、図4、図5に示すように、ベース基板12の実装面16の下面の周縁には実装電極18A(Vdd),18B(GND),18C(OUT),18D(Vc),18E(T)が配置されている。
接続電極20(OUT)は、実装電極18Cの真上となる位置に配置され、貫通電極26を介して実装電極18Cと電気的に接続されている。
ベース基板12の搭載面14の圧電振動片38及び集積回路50を囲む位置には枠形状のメタライズ28が配置されている。メタライズ28は接続電極20(GND)と接続されている。よって、メタライズ28は、実装電極18Bと電気的に接続される。このメタライズ28を接合面として金属製のキャップ32(図3)がベース基板12に接合される。よって、キャップ32は、圧電振動片38及び集積回路50を気密封止するとともに、キャップ32内の収容空間を外部から静電遮蔽し、圧電振動片38及び集積回路50に対する電気的な外乱を低減することができる。
第3の配線68A,68Bは端子領域58まで延出し、それぞれ第3の端子70A,70Bに接続されている。
図4に示すように、補助配線72Aは、1番、4番、7番の基板領域56の実装電極18Eを、引き回し電極82及び貫通電極26を介して電気的に並列に接続している。
図4に示すように、補助配線72Bは、1番、4番、7番の基板領域56の実装電極18Dを、引き回し電極82及び貫通電極26を介して電気的に並列に接続している。
図4に示すように、補助配線72Cは、3番、6番、9番の基板領域56の実装電極18Cを、引き回し電極82及び貫通電極26を介して電気的に並列に接続している。補助配線72A,72B,72Cは端子領域58に延出して、それぞれ補助端子74A,74B,74Cに接続されている。
第3の配線68Abは、2番、5番、8番の電子部品10の実装電極18Dを並列に接続するとともに、その端部が第3の端子70Abに接続されている。
第3の配線68Bbは、3番、6番、9番の電子部品10の実装電極18Dを並列に接続するとともに、その端部が第3の端子70Bbに接続されている。
Claims (7)
- マトリックス状に複数配列された基板領域を有するとともに、各基板領域に電子素子が配置され、前記電子素子と電気的に接続する第1の実装電極及び第2の実装電極が各基板領域に配置されるシート基板であって、
前記第1の実装電極を、前記基板領域の行ごとに並列に接続する第1の端子と、
前記第2の実装電極を、前記基板領域の列ごとに並列に接続する第2の端子と、を有し、
前記電子素子のうち、選択された前記第1の端子及び前記第2の端子により特定される任意の前記電子素子を起動可能としたことを特徴とするシート基板。 - 各基板領域に配置され、前記電子素子と電気的に接続する第3の実装電極及び第4の実装電極と、
前記基板領域のうち、互いに隣接する行同士または列同士として一方向にそれぞれ配列された前記基板領域同士であって、一方の配列に含まれる前記基板領域に配置された前記第3の実装電極と、他方の配列に含まれる前記基板領域に配置された前記第4の実装電極と、をそれぞれ並列に接続する第3の端子と、を有することを特徴とする請求項1に記載のシート基板。 - 各基板領域には、前記電子素子に接合する第5の実装電極が配置され、
前記第2の端子は、
前記基板領域のうち、互いに隣接する列同士として一方向にそれぞれ配列された前記基板領域同士であって、一方の配列に含まれる前記基板領域に配置された前記第2の実装電極と、他方の配列に含まれる前記基板領域に配置された前記第5の実装電極と、をそれぞれ並列に接続していることを特徴とする請求項1または2に記載のシート基板。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載のシート基板の各基板領域に前記電子素子を配置し、前記シート基板を前記基板領域の境界に沿って分割して個片化されたことを特徴とする電子部品。
- 請求項4に記載の電子部品を搭載したことを特徴とする電子機器。
- マトリックス状に複数配列された基板領域を有するシート基板に対し、各基板領域に電子素子を配置し、前記電子素子と電気的に接続する第1の実装電極及び第2の実装電極を各基板領域に配置することにより、前記シート基板において基板領域ごとに構成された電子部品の検査方法であって、
前記第1の実装電極を、前記基板領域の行ごとに第1の端子に接続し、
前記第2の実装電極を、前記基板領域の列ごとに第2の端子に接続し、
前記電子素子のうち、選択された前記第1の端子及び前記第2の端子により特定される任意の前記電子素子を起動することを特徴とする電子部品の検査方法。 - マトリックス状に複数配列された基板領域を有するシート基板に対し、各基板領域に電子素子を配置し、前記電子素子と電気的に接続する第1の実装電極及び第2の実装電極を各基板領域に配置することにより、前記シート基板において基板領域ごとに構成された電子部品の製造方法であって、
前記第1の実装電極を、前記基板領域の行ごとに並列に接続する第1の端子と、前記第2の実装電極を、前記基板領域の列ごとに並列に接続する第2の端子と、を配置する第1工程と、
前記電子素子のうち、選択された前記第1の端子及び前記第2の端子により特定される任意の前記電子素子を起動する第2工程と、
前記シート基板を前記基板領域の境界に沿って分割する第3工程と、
を有することを特徴とする電子部品の製造方法。
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