JP2001203321A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置

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JP2001203321A
JP2001203321A JP2000013363A JP2000013363A JP2001203321A JP 2001203321 A JP2001203321 A JP 2001203321A JP 2000013363 A JP2000013363 A JP 2000013363A JP 2000013363 A JP2000013363 A JP 2000013363A JP 2001203321 A JP2001203321 A JP 2001203321A
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semiconductor
chip
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JP2000013363A
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Koji Furusato
広治 古里
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Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複数個の半導体チップを樹脂封止する構造にお
いて小型、薄型化を達成するため接続端子と半導体チッ
プの構成を小型、薄型に抑え、実装基板のパターン配線
を使って回路を構成する樹脂封止型半導体装置である。 【解決手段】接続端子にリードフレームもしくは個別の
接続子を用い、半導体チップを接続し、半導体チップと
接続端子との接続面を樹脂封止内に配置して樹脂封止し
半導体チップの反対面は樹脂面から露出する様に構成す
る。実装基板のパターンに直接半導体チップを接続する
ことにより、ブリッジ回路もしくはアレー回路を構成
し、かつ実装基板に直接放熱することができることで、
小型、薄型の樹脂封止型半導体装置を提供できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、電気及び電子機器等に
使用される小型・薄型タイプの樹脂封止型半導体装置の
構造と、その製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の樹脂封止型半導体装置は、実用新
案登録第2566480号記載のように、リードフレー
ム上に半導体チップ等を組立した後、トランスファーモ
ールド法等により樹脂封止して製造しているが、近年の
電子機器の小型化、薄型化、及び低価格化の要求を満足
するには、安定した生産工程で、生産性の高い構造が必
要となっているが、携帯機器市場等の急速な小型化、薄
型化に対して、十分に要求に応えられない状況になって
いる。
【0003】図7は従来タイプの樹脂封止型半導体装置
を示すものである。図7で半導体チップ1と接続端子2
の間に接合剤4を介して電気的に接続(例えば、はんだ
接続)した後、封止樹脂3で覆って樹脂封止型半導体装
置を形成している。
【0004】しかし、半導体チップの下側に接続端子及
び封止樹脂を有している為、薄型化出来ず、幅方向も外
部端子を形成し、熱放散のために樹脂封止寸法を大きく
する為、小型化出来ない欠点がある。
【0005】
【本発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来
技術の問題点を鑑みてなされたもので、その目的は、半
導体チップの接合面と接続端子を接続し、半導体チップ
と接続端子の接続面を樹脂封止内に配置し、半導体チッ
プの反対面を露出させ、実装基板上のパターンと直接接
続できる構造にしたことにより、接続端子の板厚とモー
ルド樹脂部分の厚みを削減でき、実装基板上のパターン
との接続が容易になる小型化、薄型化に適した樹脂封止
型半導体装置を提供できる。
【0006】実装基板に配線パターンを形成し、この配
線パターンと前記樹脂封止型半導体装置を接続し組み合
わせることでブリッジ回路及び、アレー回路を構成する
ことができる。
【0007】実装基板の配線に直接半導体チップを接続
することで熱抵抗が減少し、樹脂封止寸法を小型化した
樹脂封止型半導体装置が提供できる。
【0008】半導体チップの露出面と接続端子に同一の
表面処理を施すことにより、実装基板と接合することが
容易にできる。
【0009】
【課題を解決しようとする手段】上記目的を達成するた
めになされた請求項記載の発明は、半導体チップの接合
面に接続端子を接続し、半導体チップと接続端子を樹脂
封止してなる半導体装置であって、前記半導体チップの
接合面側と接続端子の接続点を樹脂封止内に配置し、半
導体チップの他方の面が樹脂封止面と略同一面もしくは
0から0.2mmの範囲で露出しており、半導体チップ
露出面と接続端子は予備はんだもしくはメッキがされて
いることを特徴とする。
【0010】一般に接続端子を複数個配置したリードフ
レームの所定位置に半導体チップを固着した後に、樹脂
封止を成形する。したがって、請求項記載の発明のよう
に、接続端子に固着済み半導体チップの他方の面と接続
端子を略同一面または0から0.2mm露出して形成す
ることが可能になり、露出面を実装基板に接続すること
が可能となる。
【0011】実装基板上の配線と組み合わせてブリッジ
回路を構成するパターンに形成しておくと、前記半導体
装置を接続してブリッジ回路を構成することができ、従
来樹脂封止内に形成していた配線のための接続端子厚さ
で必要な高さと封止樹脂の厚さを削減することができ、
薄型の樹脂封止型半導体装置を提供できる。
【0012】複数個の半導体チップと接続端子の接続も
しくは実装基板の接続を単独に使うことで、ダイオード
アレーとしての回路を構成でき、利用が可能である。4
個の半導体チップからなるダイオードアレーを形成し実
装基板上のパターン配線を組み合わせることによりブリ
ッジ回路を構成することもできる。
【0013】したがって、請求項1記載の発明のよう
に、半導体チップの接続端子と接合している他方の面
が、同一樹脂封止面に略同一面もしくは0から0.2m
mの範囲で露出し、実装基板のパターン配線を他の接続
部としてブリッジもしくはアレー回路を形成することが
可能になる。
【0014】また、請求項2記載の発明のように、請求
項1記載の発明において、前記半導体チップの露出面側
に金属めっき又は蒸着を施すことも実装基板との接続を
容易にすることができ効果的である。
【0015】さらに、請求項3記載の発明のように、請
求項1記載の発明において、前記半導体チップの露出面
側に予備はんだ方法等ではんだを施すと基板実装時に有
効である。
【0016】個々の接続端子を共通に一体化した場合
は、複数の半導体チップを配置して、アレー回路を構成
する場合に適している。
【0017】したがって、請求項4記載の発明のよう
に、1つの接続端子に複数の半導体チップを接続した半
導体装置を形成することが可能になる。
【0019】半導体チップは実装基板に直接接続されて
いるため、半導体チップから発熱する熱を実装基板上へ
直接放熱することができ、小型かつ薄型の樹脂封止型半
導体装置を提供できる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を用いて本発明に
係る樹脂封止型半導体装置及びその製造方法の実施形態
を説明する。なお、図面の説明において同一部材には同
じ符号を付し、重複する説明は省略する。
【0021】図1は本発明の実施形態を示しており、図
1aはその平面透視図、同図bは正面図、同図cは下面
図、同図dは断面側面図である。この半導体装置1は、
縦が約5mm、横が約6mm、高さが約0.7mmの小型で薄
型の表面実装タイプの樹脂封止型半導体装置である。
【0022】すべての接続端子は、図2に示すように複
数個が連続的に配置されているリードフレームになって
おり、内部接続を必要とする場合は個別の接続子もしく
はリードフレームの形状を変形することにより接続する
ことができる。
【0023】半導体チップ1の接合面に近傍の面をリー
ドフレームの個別接続子を接続した後、接続点を樹脂封
止内になるよう樹脂封止を成形し、金属めっき又は蒸着
6を施して樹脂封止型半導体装置とする。
【0024】図1は内部の配線を行うことにより容易に
ブリッジ回路を構成することができるようにしたもの
で、この場合においても高さ方向の削減を実現すること
ができる。
【0025】図3は、半導体チップがダイオード特性を
有しており、4個の半導体チップを配置して接続端子と
接続することにより、実装基板パターン5と組み合わせ
るとブリッジ構成が容易に出来る。半導体チップの配置
は、実施例以外にも4個を直線的に並べても同様の効果
が得られることは明らかであり、類似の変形も考慮でき
る。
【0026】図4は、半導体チップが樹脂封止面より凸
になっている場合である。封止樹脂を形成する際に用い
るモールド金型を凸寸法に対応して、凹形状を設けるこ
とにより、容易に凸寸法tをコントロールすることが容
易である。半導体チップの外周部分は成形時にクラック
等の特性に悪い影響を与える恐れがあるため、凹形状を
多少大きめにすると良い。
【0027】図5の半導体装置はダイオードアレーを示
す図で、半導体チップと接続端子の接続をそれぞれ分離
独立に構成することにより、ダイオードアレーを形成す
ることができる。またこれは図3と同様にに実装基板の
配線パターンを考慮することでブリッジ回路としても構
成できる。接続端子は、同一方向に配置しても良いが沿
面距離を確保するためには両側に配置した方が好まし
い。
【0028】半導体チップと接続端子を実装基板に実装
した場合、電流容量の大きいパワーデバイスでは、半導
体チップからの発熱を放熱する機能に適する。
【0029】
【発明の効果】半導体チップ、接続用のリードフレー
ム、接合剤及び成形樹脂のみで、小型で薄型の樹脂封止
型半導体装置を提供でき、実装基板の配線パターンを組
み合わせることでブリッジ回路及び、アレー回路を構成
することができる。
【0030】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す半導体装置である。
【図2】本発明の一実施例を示すリードフレームであ
る。
【図3】本発明のブリッジ構成を有する一実施例を示す
半導体装置である。
【図4】本発明の凸部を有する一実施例を示す半導体装
置である。
【図5】本発明のアレー構成を有する半導体装置の一実
施例である。
【図6】本発明のアレー構成を有する半導体装置の一実
施例である。
【図7】従来方式の半導体装置である。
【符号の説明】
半導体チップ 接続端子 封止樹脂 接合剤 基板パターン 金属めっき又は蒸着 リードフレーム
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成12年1月25日(2000.1.2
5)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【図3】
【図4】
【図6】
【図1】
【図5】
【図7】

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数個の半導体チップのそれぞれ一方に
    接続端子を接続し、前記半導体チップと接続端子を樹脂
    封止してなる半導体装置において、半導体チップの接合
    面側を接続端子に接続するとともに樹脂封止内に配置
    し、半導体チップの接続端子が接合している他方の面
    が、樹脂封止面に略同一面もしくは0から0.2mmの
    範囲で露出し、実装基板のパターン配線を他の接続部と
    してブリッジもしくはアレー回路を形成することを特徴
    とする樹脂封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】請求項1の樹脂封止型半導体装置におい
    て、半導体チップの接合端子と接合している他方の面に
    金属めっき又は蒸着したことを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置
  3. 【請求項3】請求項1又は請求項2の樹脂封止型半導体
    装置において、半導体チップの接続端子と接合している
    他方の面にはんだ付けしたことを特徴とする樹脂封止型
    半導体装置。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至請求項3の樹脂封止型半導
    体装置において、1つの接続端子に複数の半導体チップ
    を接続したことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6979843B2 (en) 2002-03-08 2005-12-27 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Power semiconductor device
JP2007242649A (ja) * 2006-03-06 2007-09-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置とその製造方法
US7924301B2 (en) 2006-03-31 2011-04-12 Citizen Holdings Co., Ltd. Image forming apparatus for disk-shaped media

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