JP2001195147A - 電子制御装置及び電子制御システム - Google Patents
電子制御装置及び電子制御システムInfo
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- JP2001195147A JP2001195147A JP2000006639A JP2000006639A JP2001195147A JP 2001195147 A JP2001195147 A JP 2001195147A JP 2000006639 A JP2000006639 A JP 2000006639A JP 2000006639 A JP2000006639 A JP 2000006639A JP 2001195147 A JP2001195147 A JP 2001195147A
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- oscillation circuit
- electronic control
- clock signal
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- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 クリスタル発振回路よりも精度の劣る第２発
振回路のクロック信号をシステムクロックとした場合に
も、処理能力の低下や誤差の発生を良好に抑制すること
のできる電子制御装置または電子制御システムの提供。 【解決手段】 発振切り替え部１４は、通常は、クリス
タル発振回路１２が発生するクロック信号をシステムク
ロックとしてマイコン１１に入力するが、リンプホーム
時には、ＣＲ発振回路１３（第２発振回路）のクロック
信号をシステムクロックとする。しかしながら、ＣＲ発
振回路１３は精度が劣る。そこで、出荷時にＥＣＵ１０
を計測器２０に接続し、ＣＲ発振回路１３のクロック信
号に基づいて１０ｍｓのワンショットパルスを計測器２
０に出力し、計測データとして返送される実際のパルス
幅と比較することによってＣＲ発振補正値を算出する。
そのＣＲ発振補正値を用いて、ＣＲ発振回路１３使用時
の処理精度を向上させる。
振回路のクロック信号をシステムクロックとした場合に
も、処理能力の低下や誤差の発生を良好に抑制すること
のできる電子制御装置または電子制御システムの提供。 【解決手段】 発振切り替え部１４は、通常は、クリス
タル発振回路１２が発生するクロック信号をシステムク
ロックとしてマイコン１１に入力するが、リンプホーム
時には、ＣＲ発振回路１３（第２発振回路）のクロック
信号をシステムクロックとする。しかしながら、ＣＲ発
振回路１３は精度が劣る。そこで、出荷時にＥＣＵ１０
を計測器２０に接続し、ＣＲ発振回路１３のクロック信
号に基づいて１０ｍｓのワンショットパルスを計測器２
０に出力し、計測データとして返送される実際のパルス
幅と比較することによってＣＲ発振補正値を算出する。
そのＣＲ発振補正値を用いて、ＣＲ発振回路１３使用時
の処理精度を向上させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、システムクロック
に基づいて各種処理を行う電子制御装置に関し、詳しく
は、そのシステムクロックの供給源を、クリスタル発振
回路またはそれよりも精度の劣る第２発振回路に切り替
えることのできる電子制御装置に関する。
に基づいて各種処理を行う電子制御装置に関し、詳しく
は、そのシステムクロックの供給源を、クリスタル発振
回路またはそれよりも精度の劣る第２発振回路に切り替
えることのできる電子制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、この種の電子制御装置とし
て、クリスタル発振回路と、該クリスタル発振回路より
精度の劣る第２発振回路と、上記クリスタル発振回路ま
たは上記第２発振回路が発生するクロック信号の内のい
ずれをシステムクロックとするかを切り替える切り替え
手段と、上記システムクロックに基づいて処理を行う処
理手段と、を備えたものが考えられている。このように
構成された電子制御装置では、通常は、クリスタル発振
回路が発生するクロック信号をシステムクロックとし
て、処理手段が各種処理を実行する。クリスタル発振回
路は、高周波数でしかも極めて正確なクロック信号を発
生することができる。このため、このクリスタル発振回
路のクロック信号をシステムクロックとすることによ
り、処理手段は、各種処理を迅速にかつ正確に実行する
ことができる。
て、クリスタル発振回路と、該クリスタル発振回路より
精度の劣る第２発振回路と、上記クリスタル発振回路ま
たは上記第２発振回路が発生するクロック信号の内のい
ずれをシステムクロックとするかを切り替える切り替え
手段と、上記システムクロックに基づいて処理を行う処
理手段と、を備えたものが考えられている。このように
構成された電子制御装置では、通常は、クリスタル発振
回路が発生するクロック信号をシステムクロックとし
て、処理手段が各種処理を実行する。クリスタル発振回
路は、高周波数でしかも極めて正確なクロック信号を発
生することができる。このため、このクリスタル発振回
路のクロック信号をシステムクロックとすることによ
り、処理手段は、各種処理を迅速にかつ正確に実行する
ことができる。
【０００３】ところが、クリスタル発振回路には電源電
圧の低下等によって異常が生じることがある。そこで、
このような場合、上記電子制御装置では切り換え手段に
よって第２発振回路のクロック信号をシステムクロック
とするように切り替え、処理手段による処理を継続的に
実行可能としている（例えば、特開平７−７８１２５号
公報参照）。なお、第２発振回路としては、例えばＣＲ
発振回路を利用することが考えられている。ＣＲ発振回
路等はクリスタル発振回路に比べて安価であるので、シ
ステムクロックの供給源を複数設けることによるコスト
アップを良好に抑制することができる。
圧の低下等によって異常が生じることがある。そこで、
このような場合、上記電子制御装置では切り換え手段に
よって第２発振回路のクロック信号をシステムクロック
とするように切り替え、処理手段による処理を継続的に
実行可能としている（例えば、特開平７−７８１２５号
公報参照）。なお、第２発振回路としては、例えばＣＲ
発振回路を利用することが考えられている。ＣＲ発振回
路等はクリスタル発振回路に比べて安価であるので、シ
ステムクロックの供給源を複数設けることによるコスト
アップを良好に抑制することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＣＲ発
振回路等は前述のようにクリスタル発振回路に比べて精
度が劣るので、これらの第２発振回路のクロック信号を
システムクロックとした場合、処理手段の処理能力が低
下したり処理結果に誤差が生じたりする可能性がある。
例えば、ＣＲ発振回路の出力精度は一般的に±１〜１０
％と、クリスタル発振回路に比べて１桁ほど精度が悪
く、これが処理結果に誤差として反映される可能性があ
る。そこで、本発明は、クリスタル発振回路よりも精度
の劣る第２発振回路のクロック信号をシステムクロック
とした場合にも、処理能力の低下や誤差の発生を良好に
抑制することのできる電子制御装置または電子制御シス
テムを提供することを目的としてなされた。
振回路等は前述のようにクリスタル発振回路に比べて精
度が劣るので、これらの第２発振回路のクロック信号を
システムクロックとした場合、処理手段の処理能力が低
下したり処理結果に誤差が生じたりする可能性がある。
例えば、ＣＲ発振回路の出力精度は一般的に±１〜１０
％と、クリスタル発振回路に比べて１桁ほど精度が悪
く、これが処理結果に誤差として反映される可能性があ
る。そこで、本発明は、クリスタル発振回路よりも精度
の劣る第２発振回路のクロック信号をシステムクロック
とした場合にも、処理能力の低下や誤差の発生を良好に
抑制することのできる電子制御装置または電子制御シス
テムを提供することを目的としてなされた。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】上記目的
を達するためになされた請求項１記載の発明は、クリス
タル発振回路と、該クリスタル発振回路より精度の劣る
第２発振回路と、上記クリスタル発振回路または上記第
２発振回路が発生するクロック信号の内のいずれをシス
テムクロックとするかを切り替える切り替え手段と、上
記システムクロックに基づいて処理を行う処理手段と、
を備えた電子制御装置であって、上記第２発振回路が発
生するクロック信号の誤差を記憶する誤差記憶手段と、
上記第２発振回路が発生するクロック信号が上記コンピ
ュータのシステムクロックとされるとき、上記誤差記憶
手段に記憶された誤差に基づいて上記処理手段の処理を
補正する補正手段と、を備えたことを特徴としている。
を達するためになされた請求項１記載の発明は、クリス
タル発振回路と、該クリスタル発振回路より精度の劣る
第２発振回路と、上記クリスタル発振回路または上記第
２発振回路が発生するクロック信号の内のいずれをシス
テムクロックとするかを切り替える切り替え手段と、上
記システムクロックに基づいて処理を行う処理手段と、
を備えた電子制御装置であって、上記第２発振回路が発
生するクロック信号の誤差を記憶する誤差記憶手段と、
上記第２発振回路が発生するクロック信号が上記コンピ
ュータのシステムクロックとされるとき、上記誤差記憶
手段に記憶された誤差に基づいて上記処理手段の処理を
補正する補正手段と、を備えたことを特徴としている。
【０００６】このように、本発明では、第２発振回路が
発生するクロック信号の誤差を誤差記憶手段が記憶して
おり、その誤差に基づいて、補正手段は、第２発振回路
が発生するクロック信号が上記システムクロックとされ
るときに、処理手段の処理を補正する。この補正によっ
て、本発明の電子制御装置では、第２発振回路のクロッ
ク信号をシステムクロックとした場合にも、処理手段の
処理能力が低下したり処理結果に誤差が生じたりするの
を良好に抑制することができる。
発生するクロック信号の誤差を誤差記憶手段が記憶して
おり、その誤差に基づいて、補正手段は、第２発振回路
が発生するクロック信号が上記システムクロックとされ
るときに、処理手段の処理を補正する。この補正によっ
て、本発明の電子制御装置では、第２発振回路のクロッ
ク信号をシステムクロックとした場合にも、処理手段の
処理能力が低下したり処理結果に誤差が生じたりするの
を良好に抑制することができる。
【０００７】請求項２記載の発明は、請求項１記載の構
成に加え、上記第２発振回路がＣＲ発振回路であること
を特徴としている。ＣＲ発振回路はクリスタル発振回路
に比べて極めて安価である。このため、本発明では、請
求項１記載の発明の効果に加えて、システムクロックの
供給源を複数設ける（すなわち、クリスタル発振回路に
加えて第２発振回路を設ける）ことによるコストアップ
を良好に抑制することができるといった効果が生じる。
成に加え、上記第２発振回路がＣＲ発振回路であること
を特徴としている。ＣＲ発振回路はクリスタル発振回路
に比べて極めて安価である。このため、本発明では、請
求項１記載の発明の効果に加えて、システムクロックの
供給源を複数設ける（すなわち、クリスタル発振回路に
加えて第２発振回路を設ける）ことによるコストアップ
を良好に抑制することができるといった効果が生じる。
【０００８】請求項３記載の発明は、請求項１または２
記載の構成に加え、上記第２発振回路が発生するクロッ
ク信号に基づいて、所定幅のワンショットパルスを、該
ワンショットパルスの実際のパルス幅を計測する計測装
置に対して出力するパルス出力手段と、上記計測装置に
よって計測された上記ワンショットパルスの実際のパル
ス幅に基づき、上記誤差を算出する誤差算出手段とを、
更に備えたことを特徴としている。
記載の構成に加え、上記第２発振回路が発生するクロッ
ク信号に基づいて、所定幅のワンショットパルスを、該
ワンショットパルスの実際のパルス幅を計測する計測装
置に対して出力するパルス出力手段と、上記計測装置に
よって計測された上記ワンショットパルスの実際のパル
ス幅に基づき、上記誤差を算出する誤差算出手段とを、
更に備えたことを特徴としている。
【０００９】本発明では、パルス出力手段は、第２発振
回路が発生するクロック信号に基づいて、所定幅のワン
ショットパルスを計測装置に出力する。すると、計測装
置は、そのワンショットパルスの実際のパルス幅を計測
する。誤差算出手段は、その計測装置によって計測され
た上記ワンショットパルスの実際のパルス幅に基づき、
上記誤差を算出する。すなわち、第２発振回路のクロッ
ク信号に基づいてパルス出力手段が発生しようとしたパ
ルス幅と実際に計測されたパルス幅とを比較することに
よって、第２発振回路のクロック信号の誤差を算出する
のである。
回路が発生するクロック信号に基づいて、所定幅のワン
ショットパルスを計測装置に出力する。すると、計測装
置は、そのワンショットパルスの実際のパルス幅を計測
する。誤差算出手段は、その計測装置によって計測され
た上記ワンショットパルスの実際のパルス幅に基づき、
上記誤差を算出する。すなわち、第２発振回路のクロッ
ク信号に基づいてパルス出力手段が発生しようとしたパ
ルス幅と実際に計測されたパルス幅とを比較することに
よって、第２発振回路のクロック信号の誤差を算出する
のである。
【００１０】このように、本発明では、実際の計測デー
タに基づいて第２発振回路のクロック信号の誤差を算出
している。そして、その誤差は誤差記憶手段に記憶され
て補正手段による上記補正に適用されるので、上記補正
を極めて正確に行うことができる。従って、請求項１ま
たは２記載の発明の効果に加えて、処理手段の処理結果
に誤差が生じるのを一層良好に抑制することができると
いった効果が生じる。また、本発明では、電子制御装置
自身が上記パルス手段及び誤差算出手段を備えているの
で、その電子制御装置の実装状態でも上記誤差の算出が
可能となる。このため、上記誤差を一層正確に算出する
と共に、定期的に上記誤差を算出することによって上記
誤差の経時変化にも対応することができ、処理手段の処
理結果に誤差が生じるのを更に一層良好に抑制すること
ができる。
タに基づいて第２発振回路のクロック信号の誤差を算出
している。そして、その誤差は誤差記憶手段に記憶され
て補正手段による上記補正に適用されるので、上記補正
を極めて正確に行うことができる。従って、請求項１ま
たは２記載の発明の効果に加えて、処理手段の処理結果
に誤差が生じるのを一層良好に抑制することができると
いった効果が生じる。また、本発明では、電子制御装置
自身が上記パルス手段及び誤差算出手段を備えているの
で、その電子制御装置の実装状態でも上記誤差の算出が
可能となる。このため、上記誤差を一層正確に算出する
と共に、定期的に上記誤差を算出することによって上記
誤差の経時変化にも対応することができ、処理手段の処
理結果に誤差が生じるのを更に一層良好に抑制すること
ができる。
【００１１】請求項４記載の発明は、請求項３記載の構
成に加え、上記計測装置がオシロスコープであることを
特徴としている。オシロスコープは、ワンショットパル
スが入力された場合にそのワンショットパルスの実際の
パルス幅を計測し、計測データとして出力する機能を標
準的に備えている。本発明では、上記計測装置としてこ
のようなオシロスコープを利用しているので、請求項３
記載の発明の効果に加えて、上記誤差の算出が極めて手
軽に実行できるといった効果が生じる。
成に加え、上記計測装置がオシロスコープであることを
特徴としている。オシロスコープは、ワンショットパル
スが入力された場合にそのワンショットパルスの実際の
パルス幅を計測し、計測データとして出力する機能を標
準的に備えている。本発明では、上記計測装置としてこ
のようなオシロスコープを利用しているので、請求項３
記載の発明の効果に加えて、上記誤差の算出が極めて手
軽に実行できるといった効果が生じる。
【００１２】請求項５記載の発明は、請求項３記載の電
子制御装置を複数備えた電子制御システムであって、一
つの上記電子制御装置の上記パルス出力手段から上記ワ
ンショットパルスが出力されたとき、もう一つの上記電
子制御装置の上記処理手段が、その電子制御装置の上記
クリスタル発振回路が発生するクロック信号をシステム
クロックとして上記ワンショットパルスの実際のパルス
幅を計測することを特徴としている。
子制御装置を複数備えた電子制御システムであって、一
つの上記電子制御装置の上記パルス出力手段から上記ワ
ンショットパルスが出力されたとき、もう一つの上記電
子制御装置の上記処理手段が、その電子制御装置の上記
クリスタル発振回路が発生するクロック信号をシステム
クロックとして上記ワンショットパルスの実際のパルス
幅を計測することを特徴としている。
【００１３】すなわち、本発明の電子制御システムで
は、その電子制御システムに備えられた複数の請求項３
記載の電子制御装置の内、一つの電子制御装置に対する
上記計測装置として、同一の電子制御システム内のもう
一つの電子制御装置を利用している。このため、本発明
の電子制御システムでは、そのシステム内に備えられた
上記各電子制御装置のみによって請求項３記載の発明と
同様の効果が生じ、しかも、上記誤差の算出を外部の計
測装置に接続することなくシステムの内部だけで実行す
ることができる。従って、上記誤差の算出を定期的に行
うことが容易となり、第２発振回路が発生するクロック
信号の誤差の経時変化に一層良好に対応することがで
き、延いては、処理手段の処理結果に誤差が生じるのを
一層良好に抑制することができる。
は、その電子制御システムに備えられた複数の請求項３
記載の電子制御装置の内、一つの電子制御装置に対する
上記計測装置として、同一の電子制御システム内のもう
一つの電子制御装置を利用している。このため、本発明
の電子制御システムでは、そのシステム内に備えられた
上記各電子制御装置のみによって請求項３記載の発明と
同様の効果が生じ、しかも、上記誤差の算出を外部の計
測装置に接続することなくシステムの内部だけで実行す
ることができる。従って、上記誤差の算出を定期的に行
うことが容易となり、第２発振回路が発生するクロック
信号の誤差の経時変化に一層良好に対応することがで
き、延いては、処理手段の処理結果に誤差が生じるのを
一層良好に抑制することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
と共に説明する。図１は、本発明が適用された電子制御
装置としてのＥＣＵ１０の構成を、計測器２０（ここで
はオシロスコープ）の構成と共に表すブロック図であ
る。図１に示すように、ＥＣＵ１０は、マイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンという）１１と、クリスタル発
振回路１２と、ＣＲ発振回路１３と、発振切り替え部１
４とを備えている。
と共に説明する。図１は、本発明が適用された電子制御
装置としてのＥＣＵ１０の構成を、計測器２０（ここで
はオシロスコープ）の構成と共に表すブロック図であ
る。図１に示すように、ＥＣＵ１０は、マイクロコンピ
ュータ（以下、マイコンという）１１と、クリスタル発
振回路１２と、ＣＲ発振回路１３と、発振切り替え部１
４とを備えている。
【００１５】発振切り替え部１４は、クリスタル発振回
路１２またはＣＲ発振回路１３が発生するクロック信号
の内、いずれをシステムクロックとしてマイコン１１に
入力するかを切り替える。マイコン１１は、信号等を出
力する出力ピン１１ａと、主として双方向のデータ通信
を行うための通信ピン１１ｂとを備え、内部には、計時
等を司るタイマ機能１６、各種演算処理を実行するＣＰ
Ｕ１７、外部との通信を司る外部通信機能１８、各種デ
ータを不揮発的に記憶するフラッシュメモリ１９、等を
備えている。マイコン１１に内蔵された上記各部１６〜
１９は、発振切り替え部１４を介して入力された上記シ
ステムクロックに同期して各種動作を実行する。
路１２またはＣＲ発振回路１３が発生するクロック信号
の内、いずれをシステムクロックとしてマイコン１１に
入力するかを切り替える。マイコン１１は、信号等を出
力する出力ピン１１ａと、主として双方向のデータ通信
を行うための通信ピン１１ｂとを備え、内部には、計時
等を司るタイマ機能１６、各種演算処理を実行するＣＰ
Ｕ１７、外部との通信を司る外部通信機能１８、各種デ
ータを不揮発的に記憶するフラッシュメモリ１９、等を
備えている。マイコン１１に内蔵された上記各部１６〜
１９は、発振切り替え部１４を介して入力された上記シ
ステムクロックに同期して各種動作を実行する。
【００１６】発振切り替え部１４は、通常は、クリスタ
ル発振回路１２が発生するクロック信号をシステムクロ
ックとしてマイコン１１に入力する。クリスタル発振回
路１２は高周波数でしかも極めて正確なクロック信号を
発生することができるので、クリスタル発振回路１２の
クロック信号をシステムクロックとすることにより、マ
イコン１１のＣＰＵ１７は、各種処理を迅速にかつ正確
に実行することができる。ところが、クリスタル発振回
路１２には電源電圧の低下等によって異常が生じること
がある。そこで、このようないわゆるリンプホーム時に
は、発振切り替え部１４はＣＲ発振回路１３のクロック
信号をシステムクロックとしてマイコン１１に入力す
る。これによって、ＣＰＵ１７は処理を継続的に実行可
能となる。
ル発振回路１２が発生するクロック信号をシステムクロ
ックとしてマイコン１１に入力する。クリスタル発振回
路１２は高周波数でしかも極めて正確なクロック信号を
発生することができるので、クリスタル発振回路１２の
クロック信号をシステムクロックとすることにより、マ
イコン１１のＣＰＵ１７は、各種処理を迅速にかつ正確
に実行することができる。ところが、クリスタル発振回
路１２には電源電圧の低下等によって異常が生じること
がある。そこで、このようないわゆるリンプホーム時に
は、発振切り替え部１４はＣＲ発振回路１３のクロック
信号をシステムクロックとしてマイコン１１に入力す
る。これによって、ＣＰＵ１７は処理を継続的に実行可
能となる。
【００１７】しかしながら、ＣＲ発振回路１３はクリス
タル発振回路１２に比べて精度が劣るので、ＣＲ発振回
路１３のクロック信号をそのままシステムクロックとす
ると、ＣＰＵ１７の処理能力が低下したり演算結果に誤
差が生じたりする可能性がある。そこで、ＥＣＵ１０で
は、ＣＲ発振回路１３のクロック信号の誤差を次のよう
にフラッシュメモリ１９に記憶しておき、上記処理能力
の低下や誤差の発生を防止している。続いて、このＣＲ
発振回路１３のクロック信号の誤差に関連してＥＣＵ１
０が実行する処理について説明する。
タル発振回路１２に比べて精度が劣るので、ＣＲ発振回
路１３のクロック信号をそのままシステムクロックとす
ると、ＣＰＵ１７の処理能力が低下したり演算結果に誤
差が生じたりする可能性がある。そこで、ＥＣＵ１０で
は、ＣＲ発振回路１３のクロック信号の誤差を次のよう
にフラッシュメモリ１９に記憶しておき、上記処理能力
の低下や誤差の発生を防止している。続いて、このＣＲ
発振回路１３のクロック信号の誤差に関連してＥＣＵ１
０が実行する処理について説明する。
【００１８】ＥＣＵ１０の出荷時には、計測器２０を用
いて、ＣＲ発振回路１３のクロック信号の誤差を次のよ
うにして算出する作業が施される。計測器２０としての
オシロスコープは、ワンショットパルスが入力された場
合にそのワンショットパルスの実際の幅を計測するパル
ス幅計測機能２１と、その計測されたパルス幅等を計測
データとして双方向通信等によって外部に出力する外部
通信機能２２とを標準的に備えている。そこで、ＥＣＵ
１０の出荷時には、作業者はＥＣＵ１０の出力ピン１１
ａを計測器２０のパルス幅計測機能２１に対応するピン
に接続し、ＥＣＵ１０の通信ピン１１ｂを計測器２０の
外部通信機能２２に対応するピンに接続する。そして、
ＥＣＵ１０に所定の命令を入力することによって、ＣＰ
Ｕ１７に、図２（Ａ）に示す補正値算出処理を実行させ
る。
いて、ＣＲ発振回路１３のクロック信号の誤差を次のよ
うにして算出する作業が施される。計測器２０としての
オシロスコープは、ワンショットパルスが入力された場
合にそのワンショットパルスの実際の幅を計測するパル
ス幅計測機能２１と、その計測されたパルス幅等を計測
データとして双方向通信等によって外部に出力する外部
通信機能２２とを標準的に備えている。そこで、ＥＣＵ
１０の出荷時には、作業者はＥＣＵ１０の出力ピン１１
ａを計測器２０のパルス幅計測機能２１に対応するピン
に接続し、ＥＣＵ１０の通信ピン１１ｂを計測器２０の
外部通信機能２２に対応するピンに接続する。そして、
ＥＣＵ１０に所定の命令を入力することによって、ＣＰ
Ｕ１７に、図２（Ａ）に示す補正値算出処理を実行させ
る。
【００１９】図２（Ａ）に示すように、この補正値算出
処理を開始するとＣＰＵ１７は、先ず、Ｓ１（Ｓはステ
ップを表す：以下同様）にて、ＣＲ発振回路１３が出力
するクロック信号に、上記システムクロックを強制的に
切り替える。続くＳ３では、タイマ機能１６を介して、
１０ｍｓのワンショットパルスを出力ピン１１ａから出
力する。ここでいう「１０ｍｓ」は、ＣＲ発振回路１３
のクロック信号に基づいて計時したものであり、多少の
誤差を含んでいる。更に、続くＳ５では、通信ピン１１
ｂを介して計測器２０から計測データを受信するまで待
機する。
処理を開始するとＣＰＵ１７は、先ず、Ｓ１（Ｓはステ
ップを表す：以下同様）にて、ＣＲ発振回路１３が出力
するクロック信号に、上記システムクロックを強制的に
切り替える。続くＳ３では、タイマ機能１６を介して、
１０ｍｓのワンショットパルスを出力ピン１１ａから出
力する。ここでいう「１０ｍｓ」は、ＣＲ発振回路１３
のクロック信号に基づいて計時したものであり、多少の
誤差を含んでいる。更に、続くＳ５では、通信ピン１１
ｂを介して計測器２０から計測データを受信するまで待
機する。
【００２０】一方、計測器２０は、ＥＣＵ１０から上記
ワンショットパルスが入力されると、図２（Ｂ）に示す
処理を実行する。すなわち、上記ワンショットパルスの
実際のパルス幅（以下、Ｔａｃｔ（ｍｓ）とする）を計
測し（Ｓ５１）、続いて、そのパルス幅Ｔａｃｔを計測
データとしてＥＣＵ１０に送信する（Ｓ５３）。
ワンショットパルスが入力されると、図２（Ｂ）に示す
処理を実行する。すなわち、上記ワンショットパルスの
実際のパルス幅（以下、Ｔａｃｔ（ｍｓ）とする）を計
測し（Ｓ５１）、続いて、そのパルス幅Ｔａｃｔを計測
データとしてＥＣＵ１０に送信する（Ｓ５３）。
【００２１】すると、マイコン１１は通信ピン１１ｂを
介して上記パルス幅Ｔａｃｔを計測データとして受信し
（Ｓ５：ＹＥＳ）、ＣＰＵ１７の処理はＳ５に続くＳ７
へ移行する。Ｓ７では、上記受信したパルス幅Ｔａｃｔ
に基づき、ＣＲ発振補正値を算出する。例えば、Ｔａｃ
ｔ＝１１ｍｓであったとすると、 ＣＲ発振補正値＝１０ｍｓ／Ｔａｃｔｍｓ＝１０ｍｓ／
１１ｍｓ＝０．９０９ とする。続くＳ９では、Ｓ７にて算出したＣＲ発振補正
値をフラッシュメモリ１９に記憶して、処理を終了す
る。以上の処理により、ＣＲ発振回路１３のクロック信
号の誤差が、その逆数であるＣＲ発振補正値としてフラ
ッシュメモリ１９に記憶される。
介して上記パルス幅Ｔａｃｔを計測データとして受信し
（Ｓ５：ＹＥＳ）、ＣＰＵ１７の処理はＳ５に続くＳ７
へ移行する。Ｓ７では、上記受信したパルス幅Ｔａｃｔ
に基づき、ＣＲ発振補正値を算出する。例えば、Ｔａｃ
ｔ＝１１ｍｓであったとすると、 ＣＲ発振補正値＝１０ｍｓ／Ｔａｃｔｍｓ＝１０ｍｓ／
１１ｍｓ＝０．９０９ とする。続くＳ９では、Ｓ７にて算出したＣＲ発振補正
値をフラッシュメモリ１９に記憶して、処理を終了す
る。以上の処理により、ＣＲ発振回路１３のクロック信
号の誤差が、その逆数であるＣＲ発振補正値としてフラ
ッシュメモリ１９に記憶される。
【００２２】次に、図３は、上記ＣＲ発振補正値を用い
てＣＰＵ１７が実際に制御値を算出する場合の処理を表
すフローチャートである。なお、図３の処理に対応する
制御値としては、例えばガソリンの噴射量を決定する噴
射時間の制御値が挙げられる。この種の制御値は、デジ
タルで演算された制御値を、アナログである噴射時間出
力に変換する際に、システムクロックの誤差が反映され
てしまう。前述の例では、デジタルである制御値は１０
ｍｓであったものが、実際の出力は１１ｍｓとなりシス
テムクロックの誤差を含むこととなる。
てＣＰＵ１７が実際に制御値を算出する場合の処理を表
すフローチャートである。なお、図３の処理に対応する
制御値としては、例えばガソリンの噴射量を決定する噴
射時間の制御値が挙げられる。この種の制御値は、デジ
タルで演算された制御値を、アナログである噴射時間出
力に変換する際に、システムクロックの誤差が反映され
てしまう。前述の例では、デジタルである制御値は１０
ｍｓであったものが、実際の出力は１１ｍｓとなりシス
テムクロックの誤差を含むこととなる。
【００２３】すなわち、図３に示すように、処理を開始
するとＣＰＵ１７は、先ず、Ｓ９１にて通常通りの演算
によって制御値を算出する。続くＳ９３では、ＣＲ発振
回路１３を使用中であるか否かを判断する。ＣＲ発振回
路１３を使用中でない場合は（Ｓ９３：ＮＯ）、クリス
タル発振回路１２を使用して正確な処理が実行されてい
るので、Ｓ９５にて、上記通常通りの演算によって算出
された制御値（通常演算制御値という）をそのまま最終
制御値として処理を終了する。
するとＣＰＵ１７は、先ず、Ｓ９１にて通常通りの演算
によって制御値を算出する。続くＳ９３では、ＣＲ発振
回路１３を使用中であるか否かを判断する。ＣＲ発振回
路１３を使用中でない場合は（Ｓ９３：ＮＯ）、クリス
タル発振回路１２を使用して正確な処理が実行されてい
るので、Ｓ９５にて、上記通常通りの演算によって算出
された制御値（通常演算制御値という）をそのまま最終
制御値として処理を終了する。
【００２４】一方、ＣＲ発振回路１３を使用中である場
合は（Ｓ９３：ＹＥＳ）、システムクロックに前述の誤
差が含まれ、その誤差が出力値にも反映されているもの
と考えられる。そこで、この場合、処理はＳ９７へ移行
し、フラッシュメモリ１９から前述のＣＲ発振補正値を
読み出し、その補正値を上記通常演算制御値にかけた値
を最終制御値として処理を終了する。この処理によっ
て、ＣＲ発振回路１３のクロック信号をシステムクロッ
クとした場合にも、ＣＰＵ１７の処理能力が低下したり
算出された最終制御値に誤差が生じたりするのを良好に
抑制することができる。
合は（Ｓ９３：ＹＥＳ）、システムクロックに前述の誤
差が含まれ、その誤差が出力値にも反映されているもの
と考えられる。そこで、この場合、処理はＳ９７へ移行
し、フラッシュメモリ１９から前述のＣＲ発振補正値を
読み出し、その補正値を上記通常演算制御値にかけた値
を最終制御値として処理を終了する。この処理によっ
て、ＣＲ発振回路１３のクロック信号をシステムクロッ
クとした場合にも、ＣＰＵ１７の処理能力が低下したり
算出された最終制御値に誤差が生じたりするのを良好に
抑制することができる。
【００２５】また、ＥＣＵ１０がこのように車両制御用
の電子制御回路である場合、計測器２０を接続してなさ
れる上記補正値算出処理は、出荷時のみならずディーラ
での定期検査時等にも実行してもよい。ＣＲ発振回路１
３のクロック信号の誤差は経時変化を起こすことがある
が、このように定期的に補正値算出処理を実行する場
合、上記誤差の経時変化に良好に対応することができ、
上記最終制御値に誤差が生じるのを一層良好に抑制する
ことができる。更に、オシロスコープの代わりに車両に
搭載可能な計測器２０を使用すれば、ＥＣＵ１０に計測
器２０を常時接続しておき、イグニッションスイッチが
ＯＮ位置まで回動する毎に上記補正値算出処理を実行さ
せることもできる。この場合、上記経時変化に一層良好
に対応することができ、上記誤差の発生を更に一層良好
に抑制することができる。
の電子制御回路である場合、計測器２０を接続してなさ
れる上記補正値算出処理は、出荷時のみならずディーラ
での定期検査時等にも実行してもよい。ＣＲ発振回路１
３のクロック信号の誤差は経時変化を起こすことがある
が、このように定期的に補正値算出処理を実行する場
合、上記誤差の経時変化に良好に対応することができ、
上記最終制御値に誤差が生じるのを一層良好に抑制する
ことができる。更に、オシロスコープの代わりに車両に
搭載可能な計測器２０を使用すれば、ＥＣＵ１０に計測
器２０を常時接続しておき、イグニッションスイッチが
ＯＮ位置まで回動する毎に上記補正値算出処理を実行さ
せることもできる。この場合、上記経時変化に一層良好
に対応することができ、上記誤差の発生を更に一層良好
に抑制することができる。
【００２６】図４に示すＥＣＵ３０は、マイコン１１と
ほぼ同様の二つのマイコン３１，４１を備えている。マ
イコン３１には、クリスタル発振回路３２またはＣＲ発
振回路３３のクロック信号が、発振切り替え部３４を介
してシステムクロックとして入力され、マイコン４１に
は、クリスタル発振回路４２またはＣＲ発振回路４３の
クロック信号が、発振切り替え部４４を介してシステム
クロックとして入力されている。また、マイコン３１，
４１は、それぞれマイコン１１と同様に、タイマ機能３
６，４６、ＣＰＵ３７，４７、外部通信機能３８，４
８、及び、フラッシュメモリ３９，４９を備えている。
なお、マイコン３１，４１のタイマ機能３６，４６は、
計測器２０のパルス幅計測機能２１と同様の機能も備え
ている。
ほぼ同様の二つのマイコン３１，４１を備えている。マ
イコン３１には、クリスタル発振回路３２またはＣＲ発
振回路３３のクロック信号が、発振切り替え部３４を介
してシステムクロックとして入力され、マイコン４１に
は、クリスタル発振回路４２またはＣＲ発振回路４３の
クロック信号が、発振切り替え部４４を介してシステム
クロックとして入力されている。また、マイコン３１，
４１は、それぞれマイコン１１と同様に、タイマ機能３
６，４６、ＣＰＵ３７，４７、外部通信機能３８，４
８、及び、フラッシュメモリ３９，４９を備えている。
なお、マイコン３１，４１のタイマ機能３６，４６は、
計測器２０のパルス幅計測機能２１と同様の機能も備え
ている。
【００２７】この場合、例えばＣＲ発振回路３３に対す
るＣＲ発振補正値を算出する場合、マイコン３１にＣＲ
発振回路３３のクロック信号をシステムクロックとして
入力すると共に、マイコン４１にクリスタル発振回路４
２のクロック信号をシステムクロックとして入力する。
そして、その状態でマイコン３１のタイマ機能３６から
ワンショットパルスをマイコン４１のタイマ機能４６に
入力し、そのワンショットパルスの実際のパルス幅Ｔａ
ｃｔを計測データとしてマイコン４１からマイコン３１
に送信すれば、前述のようにＣＲ発振補正値を算出する
ことができる。
るＣＲ発振補正値を算出する場合、マイコン３１にＣＲ
発振回路３３のクロック信号をシステムクロックとして
入力すると共に、マイコン４１にクリスタル発振回路４
２のクロック信号をシステムクロックとして入力する。
そして、その状態でマイコン３１のタイマ機能３６から
ワンショットパルスをマイコン４１のタイマ機能４６に
入力し、そのワンショットパルスの実際のパルス幅Ｔａ
ｃｔを計測データとしてマイコン４１からマイコン３１
に送信すれば、前述のようにＣＲ発振補正値を算出する
ことができる。
【００２８】逆に、マイコン３１にクリスタル発振回路
３２のクロック信号をシステムクロックとして入力する
と共に、マイコン４１にＣＲ発振回路４３のクロック信
号をシステムクロックとして入力すれば、ＣＲ発振回路
４３に対するＣＲ発振補正値を算出することができる。
３２のクロック信号をシステムクロックとして入力する
と共に、マイコン４１にＣＲ発振回路４３のクロック信
号をシステムクロックとして入力すれば、ＣＲ発振回路
４３に対するＣＲ発振補正値を算出することができる。
【００２９】このように、一つのＥＣＵ３０（ネットワ
ーク化された一連のＥＣＵであってもよい）に設けられ
た複数のマイコンの内の一つ（例えばマイコン４１）が
もう一つのマイコン（例えば３１）に対する計測装置と
して機能する場合、前述のように、イグニッションスイ
ッチがＯＮ位置まで回動する毎にＣＲ発振補正値を算出
する処理等が極めて容易となる。従って、ＥＣＵ３０で
は、ＣＲ発振回路３３等のクロック信号の誤差の経時変
化に極めて良好に対応することができる。なお、車両制
御用の電子制御回路において、ＣＲ発振補正値を算出す
るタイミングとしては、イグニッションスイッチがＯＮ
位置まで回動する毎の他、イグニッションスイッチがＯ
ＦＦ位置からＡＣＣ位置まで回動する毎、車両が所定距
離走行する毎、電子制御回路に所定時間通電がなされる
毎、等のように、車両または内燃機関の運転状態に応じ
た種々のタイミングに設定することができる。
ーク化された一連のＥＣＵであってもよい）に設けられ
た複数のマイコンの内の一つ（例えばマイコン４１）が
もう一つのマイコン（例えば３１）に対する計測装置と
して機能する場合、前述のように、イグニッションスイ
ッチがＯＮ位置まで回動する毎にＣＲ発振補正値を算出
する処理等が極めて容易となる。従って、ＥＣＵ３０で
は、ＣＲ発振回路３３等のクロック信号の誤差の経時変
化に極めて良好に対応することができる。なお、車両制
御用の電子制御回路において、ＣＲ発振補正値を算出す
るタイミングとしては、イグニッションスイッチがＯＮ
位置まで回動する毎の他、イグニッションスイッチがＯ
ＦＦ位置からＡＣＣ位置まで回動する毎、車両が所定距
離走行する毎、電子制御回路に所定時間通電がなされる
毎、等のように、車両または内燃機関の運転状態に応じ
た種々のタイミングに設定することができる。
【００３０】一方、前述のように計測器２０としてオシ
ロスコープを利用する場合、オシロスコープはパルス幅
計測機能２１及び外部通信機能２２を標準的に備えてい
るので、上記ＣＲ発振補正値の算出が極めて手軽に実行
できる。なお、上記各実施の形態において、ＣＲ発振回
路１３，３３，４３が第２発振回路に、発振切り替え部
１４，３４，４４が切り替え手段に、ＣＰＵ１７，３
７，４７が処理手段に、フラッシュメモリ１９，３９，
４９が誤差記憶手段に、ＣＰＵ１７，３７，４７におけ
るＳ９７の処理に関わる構成が補正手段に、タイマ機能
１６，３６，４６がパルス出力手段に、ＣＰＵ１７，３
７，４７におけるＳ７の処理に関わる構成が誤差算出手
段に、ＥＣＵ３０が請求項５記載の電子制御システム
に、マイコン３１，クリスタル発振回路３２，ＣＲ発振
回路３３，及び発振切り替え部３４と、マイコン４１，
クリスタル発振回路４２，ＣＲ発振回路４３，及び発振
切り替え部４４とが請求項５における各電子制御装置
に、それぞれ相当する。
ロスコープを利用する場合、オシロスコープはパルス幅
計測機能２１及び外部通信機能２２を標準的に備えてい
るので、上記ＣＲ発振補正値の算出が極めて手軽に実行
できる。なお、上記各実施の形態において、ＣＲ発振回
路１３，３３，４３が第２発振回路に、発振切り替え部
１４，３４，４４が切り替え手段に、ＣＰＵ１７，３
７，４７が処理手段に、フラッシュメモリ１９，３９，
４９が誤差記憶手段に、ＣＰＵ１７，３７，４７におけ
るＳ９７の処理に関わる構成が補正手段に、タイマ機能
１６，３６，４６がパルス出力手段に、ＣＰＵ１７，３
７，４７におけるＳ７の処理に関わる構成が誤差算出手
段に、ＥＣＵ３０が請求項５記載の電子制御システム
に、マイコン３１，クリスタル発振回路３２，ＣＲ発振
回路３３，及び発振切り替え部３４と、マイコン４１，
クリスタル発振回路４２，ＣＲ発振回路４３，及び発振
切り替え部４４とが請求項５における各電子制御装置
に、それぞれ相当する。
【００３１】また、本発明は上記実施の形態に何等限定
されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々の形態で実施することができる。例えば、第２発振
回路としては、ＣＲ発振回路の他、チップレゾネータ
（商品名：京セラ製）等の種々の発振回路を適用するこ
とができる。但し、ＣＲ発振回路はクリスタル発振回路
に比べて極めて安価である。このため、上記実施の形態
では、システムクロックの供給源を複数設けることによ
るコストアップを良好に抑制することができる。
されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々の形態で実施することができる。例えば、第２発振
回路としては、ＣＲ発振回路の他、チップレゾネータ
（商品名：京セラ製）等の種々の発振回路を適用するこ
とができる。但し、ＣＲ発振回路はクリスタル発振回路
に比べて極めて安価である。このため、上記実施の形態
では、システムクロックの供給源を複数設けることによ
るコストアップを良好に抑制することができる。
【００３２】また、ＣＲ発振回路１３のクロック信号の
誤差は、ＥＣＵ１０に組み込む前に予め他の計測装置で
計測しておき、その計測値をフラッシュメモリ１９に書
き込んでもよい。但し、上記各実施の形態のようにＣＲ
発振回路１３をＥＣＵ１０に実装した上で上記クロック
信号の誤差を計測する場合、その誤差の値が実際の使用
時の値と極めて良好に一致し、通常演算制御値の補正を
極めて正確に行うことができる。従って、ＣＰＵ１７の
処理能力が低下したり算出された制御値に誤差が生じた
りするのを一層良好に抑制することができる。しかも、
上記実施の形態では、ワンショットパルスを出力すると
共にその実際のパルス幅を計測することによって上記誤
差を計測しているので、上記誤差の計測処理（補正値算
出処理）が極めて容易となるといった効果が生じる。
誤差は、ＥＣＵ１０に組み込む前に予め他の計測装置で
計測しておき、その計測値をフラッシュメモリ１９に書
き込んでもよい。但し、上記各実施の形態のようにＣＲ
発振回路１３をＥＣＵ１０に実装した上で上記クロック
信号の誤差を計測する場合、その誤差の値が実際の使用
時の値と極めて良好に一致し、通常演算制御値の補正を
極めて正確に行うことができる。従って、ＣＰＵ１７の
処理能力が低下したり算出された制御値に誤差が生じた
りするのを一層良好に抑制することができる。しかも、
上記実施の形態では、ワンショットパルスを出力すると
共にその実際のパルス幅を計測することによって上記誤
差を計測しているので、上記誤差の計測処理（補正値算
出処理）が極めて容易となるといった効果が生じる。
【００３３】更に、上記各実施の形態では、通常演算制
御値にＣＲ発振補正値をかけることによって補正を行っ
ているが（Ｓ９７）、処理手段の処理を補正する補正手
段の構成としては、この他にも種々の形態が考えられ
る。例えば、ＣＲ発振回路１３等のクロック信号自体に
変形を加えてもよく、制御値の算出（Ｓ９１）に使用さ
れるデータに補正を行ってもよい。
御値にＣＲ発振補正値をかけることによって補正を行っ
ているが（Ｓ９７）、処理手段の処理を補正する補正手
段の構成としては、この他にも種々の形態が考えられ
る。例えば、ＣＲ発振回路１３等のクロック信号自体に
変形を加えてもよく、制御値の算出（Ｓ９１）に使用さ
れるデータに補正を行ってもよい。
【図１】 本発明が適用されたＥＣＵの構成を表すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】 そのＥＣＵの補正値算出処理を表すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】 そのＥＣＵの制御値算出時の処理を表すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図４】 本発明が適用された他のＥＣＵの構成を表す
ブロック図である。
ブロック図である。
１０，３０…ＥＣＵ １１，３１，４１
…マイクロコンピュータ １２，３２，４２…クリスタル発振回路 １３，３
３，４３…ＣＲ発振回路 １４，３４，４４…発振切り替え部 １６，３
６，４６…タイマ機能 １７，３７，４７…ＣＰＵ １８，２２，３
８，４８…外部通信機能 １９，３９，４９…フラッシュメモリ ２０…計測器
２１…パルス幅計測機能
…マイクロコンピュータ １２，３２，４２…クリスタル発振回路 １３，３
３，４３…ＣＲ発振回路 １４，３４，４４…発振切り替え部 １６，３
６，４６…タイマ機能 １７，３７，４７…ＣＰＵ １８，２２，３
８，４８…外部通信機能 １９，３９，４９…フラッシュメモリ ２０…計測器
２１…パルス幅計測機能
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０３Ｂ 5/32 Ｇ０６Ｆ 1/04 ３１０Ａ
Claims (5)
- 【請求項１】 クリスタル発振回路と、 該クリスタル発振回路より精度の劣る第２発振回路と、 上記クリスタル発振回路または上記第２発振回路が発生
するクロック信号の内のいずれをシステムクロックとす
るかを切り替える切り替え手段と、 上記システムクロックに基づいて処理を行う処理手段
と、 を備えた電子制御装置であって、 上記第２発振回路が発生するクロック信号の誤差を記憶
する誤差記憶手段と、 上記第２発振回路が発生するクロック信号が上記コンピ
ュータのシステムクロックとされるとき、上記誤差記憶
手段に記憶された誤差に基づいて上記処理手段の処理を
補正する補正手段と、 を備えたことを特徴とする電子制御装置。 - 【請求項２】 上記第２発振回路がＣＲ発振回路である
ことを特徴とする請求項１記載の電子制御装置。 - 【請求項３】 上記第２発振回路が発生するクロック信
号に基づいて、所定幅のワンショットパルスを、該ワン
ショットパルスの実際のパルス幅を計測する計測装置に
対して出力するパルス出力手段と、 上記計測装置によって計測された上記ワンショットパル
スの実際のパルス幅に基づき、上記誤差を算出する誤差
算出手段と、 を、更に備えたことを特徴とする請求項１または２記載
の電子制御装置。 - 【請求項４】 上記計測装置がオシロスコープであるこ
とを特徴とする請求項３記載の電子制御装置。 - 【請求項５】 請求項３記載の電子制御装置を複数備え
た電子制御システムであって、 一つの上記電子制御装置の上記パルス出力手段から上記
ワンショットパルスが出力されたとき、もう一つの上記
電子制御装置の上記処理手段が、その電子制御装置の上
記クリスタル発振回路が発生するクロック信号をシステ
ムクロックとして上記ワンショットパルスの実際のパル
ス幅を計測することを特徴とする電子制御システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000006639A JP4192379B2 (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 電子制御システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000006639A JP4192379B2 (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 電子制御システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001195147A true JP2001195147A (ja) | 2001-07-19 |
| JP4192379B2 JP4192379B2 (ja) | 2008-12-10 |
Family
ID=18535139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000006639A Expired - Fee Related JP4192379B2 (ja) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | 電子制御システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4192379B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009159426A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Yokogawa Electric Corp | パルス出力装置 |
| JP2010056986A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Fujitsu Ltd | 水晶発振器の温度制御方法及び装置 |
| JP2010061470A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Denso Corp | 処理装置及び電子装置 |
| JP2011164674A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-08-25 | Mitsubishi Electric Corp | 電子制御装置 |
-
2000
- 2000-01-14 JP JP2000006639A patent/JP4192379B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009159426A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Yokogawa Electric Corp | パルス出力装置 |
| JP2010056986A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Fujitsu Ltd | 水晶発振器の温度制御方法及び装置 |
| JP2010061470A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Denso Corp | 処理装置及び電子装置 |
| JP2011164674A (ja) * | 2010-02-04 | 2011-08-25 | Mitsubishi Electric Corp | 電子制御装置 |
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