JP2001188025A - 波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡 - Google Patents

波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡

Info

Publication number
JP2001188025A
JP2001188025A JP37522399A JP37522399A JP2001188025A JP 2001188025 A JP2001188025 A JP 2001188025A JP 37522399 A JP37522399 A JP 37522399A JP 37522399 A JP37522399 A JP 37522399A JP 2001188025 A JP2001188025 A JP 2001188025A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
wavefront
wavefront sensor
sensor
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP37522399A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4549468B2 (ja
Inventor
Hidekazu Yanagi
英一 柳
Makoto Fujino
誠 藤野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP37522399A priority Critical patent/JP4549468B2/ja
Priority to US09/748,894 priority patent/US6480267B2/en
Priority to KR10-2000-0082642A priority patent/KR100383330B1/ko
Priority to AT00250459T priority patent/ATE290686T1/de
Priority to EP00250459A priority patent/EP1113251B1/en
Priority to DE60018540T priority patent/DE60018540T2/de
Priority to CNB001377574A priority patent/CN1188674C/zh
Publication of JP2001188025A publication Critical patent/JP2001188025A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4549468B2 publication Critical patent/JP4549468B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Telescopes (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 波面形状にかかわらず光点の大きなボケを回
避して、測定を常に高精度に行うことのできる波面セン
サを提供する。 【解決手段】 本発明に係る波面センサ4は、同一平面
内に設けられた複数のレンズ8と、各レンズ8を透過し
て集光された光束を光点として受光するエリアセンサ7
とを備え、各レンズ8は互いに焦点距離が異なる複数の
同心状の領域からなり、最小の焦点距離を有する領域を
通るときに平面波が結像する位置と最大の焦点距離を有
する領域を通るときに平面波が結像する位置との略中間
にエリアセンサ7が配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光束の波面形状を
測定する波面センサと、この波面センサを用いたレンズ
メータ及び能動光学式反射望遠鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、光束の波面形状を測定する波
面センサとして、ハルトマンタイプのものが知られてい
る。このハルトマンタイプの波面センサは、複数の微小
開口が一定の間隔で規則的に形成されたハルトマンプレ
ートと呼ばれる板状体と、ハルトマンプレートと平行に
配置されたエリアセンサとを備える。ハルトマンプレー
トにはエリアセンサと反対側から光束が入射され、この
入射光束は各開口を通過して細い光線となり、エリアセ
ンサ上に開口の数に応じた複数の光点を形成して受光さ
れる。
【0003】その入射光束が平面波である場合には、ハ
ルトマンプレートにおける開口の間隔とエリアセンサ上
の光点の間隔とは等しくなる。また、その開口の間隔と
光点の間隔とに異なるところがある場合にも、ハルトマ
ンプレートからエリアセンサまでの距離及びハルトマン
プレート上の開口の位置は既知であるため、エリアセン
サ上の光点の位置から透過光束の光線方向を算出するこ
とができる。この光線方向は入射光束の波面の法線方向
に相当するので、複数の光線方向から入射光束の波面形
状が測定される。
【0004】ところで、S/N比の向上を図るため、ハ
ルトマンプレートの各開口には通常同一仕様の単焦点レ
ンズが取り付けられており、エリアセンサはその各レン
ズの焦点位置に配置されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の波面センサでは、その各開口に取り付けられ
たレンズが単焦点でかつこの焦点位置にエリアセンサを
配置することより、入射光束が平面波である場合にはS
/N比を十分に向上させることができるものの、平面波
でない場合にはエリアセンサ上における光点がボケてS
/N比が著しく低下するという問題がある。
【0006】すなわち、図12(a)に示すように、ハ
ルトマンプレート1に取り付けられたレンズ2に入射す
る光束Pが平面波である場合には、レンズ2の透過光束
はエリアセンサ3上の一点に集光されて光点Q1を形成
し、この光点Q1は図12に実線で示すような光量分布
を有する。ところが、図12(b)、(c)に示すよう
に、その入射光束Pが発散光又は収束光である場合に
は、レンズ2の透過光束はエリアセンサ3上には集光せ
ずにエリアセンサ3上に比較的大面積の光点Q2,Q3
形成する。この光点Q2,Q3はともに図13に破線で示
すような光量分布を有し、光点Q1のように明確な光量
差を持たず甚だボケた状態にある。よって、例えばゴミ
や傷の存在によりエリアセンサ3の受光量が減少すると
光点Q2,Q3はその影響を受けやすく、場合によっては
光点として認識されなくなるおそれがある。
【0007】また、このようにボケた光点の外縁は不明
確であるとともに、光点の中心から外方に大きく広がっ
ているので、エリアセンサ3上において隣接する光点同
士がくっつき重なり合うおそれがある。これを回避する
にはハルトマンプレート1とエリアセンサ3との離間距
離を小さくするか、ハルトマンプレート1の開口間隔を
広げる必要があるが、前者では平面波以外のときの光点
のずれが小さくなって移動感度が鈍くなり、後者では光
点の密度が小さくなって測定点が減少するので、波面形
状の測定精度の低下をきたす。
【0008】特に、レンズの透過光束等のように波面が
平面から大きく変位しているものを測定する場合には、
以上のような問題は軽視することができず、光点の大き
なボケを回避して測定精度を改善する必要性が高い。
【0009】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、波面形状にかかわらず光点の大きなボケを回避し
て、測定を常に高精度に行うことのできる波面センサ、
この波面センサを用いたレンズメータ及び反射式望遠鏡
を提供することを課題としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、同一平面内に設けられた複数の
レンズと、各レンズを透過して集光された光束を光点と
して受光するエリアセンサとを備え、該エリアセンサ上
の光点の位置に基づいて前記レンズの入射光束の波面形
状を測定する波面センサにおいて、前記各レンズは互い
に焦点距離が異なる複数の同心状の領域からなり、最小
の焦点距離を有する領域を通るときに平面波が結像する
位置と最大の焦点距離を有する領域を通るときに平面波
が結像する位置との略中間に前記エリアセンサが配置さ
れていることを特徴とする。
【0011】請求項2の発明は、請求項1に記載の波面
センサにおいて、前記複数の同心状の領域の各焦点距離
が前記レンズの中心部から周縁部に向けて連続的に又は
段階的に変化していることを特徴とする。
【0012】請求項3の発明は、請求項2に記載の波面
センサにおいて、前記レンズの中心部が最大の焦点距離
を有し、前記レンズの周縁部が最小の焦点距離を有する
ことを特徴とする。
【0013】請求項4の発明は、請求項1乃至請求項3
のいずれか1項に記載の波面センサにおいて、前記レン
ズが回折光学素子からなることを特徴とする。
【0014】請求項5の発明は、請求項1乃至請求項4
のいずれか1項に記載の波面センサを用いたレンズメー
タを特徴とする。
【0015】請求項6の発明は、請求項1乃至請求項4
のいずれか1項に記載の波面センサを用いた能動光学式
反射望遠鏡を特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0017】図1は本発明に係るハルトマンタイプの波
面センサの概略構成を示す。この波面センサ4は、複数
の開口5が一定の間隔で規則的に形成されたハルトマン
プレート6と、ハルトマンプレート6と平行に配置され
たエリアセンサ7とを備える。ハルトマンプレート6に
はエリアセンサ7と反対側から光束Pが入射され、この
入射光束Pは各開口5を透過して細い光線となり、エリ
アセンサ7上に開口5の数に応じた複数の光点を形成す
る。
【0018】ハルトマンプレート6の各開口5には、部
位によって異なる焦点距離を有するレンズ8が取り付け
られている。ここでは、図2に示すように、レンズ8は
互いに焦点距離が異なる三つの同心円状の領域8a,8
b,8cからなり、レンズ8の中心部(領域8a)から
周縁部(領域8c)に向けて段階的に焦点距離が短くな
っている。また、このレンズ8は製作上の便宜から図3
に示すような回折光学素子からなるものが望ましい。
【0019】エリアセンサ7は、最小の焦点距離f3
有する領域8cを通るときに平面波が結像する位置と、
最大の焦点距離f1を有する領域8aを通るときに平面
波が結像する位置との略中間に配置されている。すなわ
ち、ハルトマンプレート6からエリアセンサ7までの距
離をLとすると、 f3<L<f1 の関係が満たされている。
【0020】[波面センサのレンズメータへの適用]図
4は波面センサ4をレンズメータに適用する場合の具体
的形態を示し、この波面センサ9の波面センサ4に対応
する要素には同一符号を付して説明を省略する。図5は
その波面センサ9を用いたレンズメータ10の概略構成
を示す。
【0021】波面センサ9のハルトマンプレート6及び
エリアセンサ7の中心はレンズメータ10において光軸
と合致する。ハルトマンプレート6にはその中心を中心
とする円周上に四つの開口5が等間隔に(90°ピッチ
で)形成されている。この開口5は、測定するレンズ特
性が球面度数、円柱度数、円柱軸角度、又は偏心量であ
れば三つあれば足りるが、測定精度等の観点からは本実
施の形態のように四つ以上あることが望ましい。
【0022】レンズメータ10は、光源11と、ピンホ
ール12と、コリメータレンズ13と、レンズ受け14
と、波面センサ9とを備える。ピンホール12はコリメ
ータレンズ13の前側焦点位置に配置され、レンズ受け
14には被検レンズTLが載置される。また、図中WF
は光束Pの波面を表している。
【0023】光源11の出射光はピンホール12により
点光源となり、この点光源からの光束はコリメータレン
ズ13を透過して平面波(平行光束)となる。レンズ受
け14に被検レンズTLが設置されていない場合には、
その平面波がそのままレンズ8に入射してエリアセンサ
7に受光される。このとき、エリアセンサ7上の光点の
間隔はハルトマンプレート6における開口5の間隔と等
しくなる。
【0024】レンズ受け14に被検レンズTLが設置さ
れると、被検レンズTLに入射した平面波は被検レンズ
TLの性質に応じて球面波に変換され、ハルトマンプレ
ート6の各開口5を透過する。被検レンズTLがプラス
レンズの場合には、エリアセンサ7上の光点間隔はハル
トマンプレート6における開口間隔よりも小さくなり、
被検レンズTLがマイナスレンズの場合には、エリアセ
ンサ7上の光点間隔はハルトマンプレート6における開
口間隔よりも大きくなる。したがって、エリアセンサ7
上の光点間隔を求めることにより、光路中に挿入した被
検レンズTLの光学特性を算出することができる。例え
ば、被検レンズTLの裏面頂点からハルトマンプレート
6までの距離をΔL、ハルトマンプレート6における開
口5の間隔をd、被検レンズTLが非設置の場合に対す
るエリアセンサ7上の光点の変位量をΔdとすると、設
置された被検レンズTLのバックフォーカスBfは次式
により算出される。
【0025】Bf=ΔL−L・d/Δd 以下、より具体的な実施例について比較例と対比して説
明する。
【0026】[比較例]比較例では、図12に示す波面
センサを波面センサ9の代わりにレンズメータ10に用
いる。この従来の波面センサを構成するハルトマンプレ
ート1及びエリアセンサ3は波面センサ9のハルトマン
プレート6及びエリアセンサ7と同様であるが、レンズ
2は単焦点であるためレンズ8と異なる。
【0027】被検レンズTLの屈折力が0D近傍の場合
には、平面波に近い波面がハルトマンプレート1に入射
するため、エリアセンサ3上に点光源であるピンホール
12の像が結像して光点Q1が明確に現れる(図12
(a))。この場合、光点Q1のピーク光量が高く(図
13の実線参照)、S/N比に優れるので、光点Q1
位置検出を高精度で行うことができる。また、被検レン
ズTLの表面に多少の傷や汚れがあっても、測定結果は
これらの影響を受けにくい。
【0028】一方、被検レンズTLの屈折力が大きい場
合には、ハルトマンプレート1に入射する光束Pの波面
が曲率の小さい球面波となり、被検レンズTLがプラス
の強度数のときにはエリアセンサ3の遥か手前で結像し
(図12(b))、被検レンズTLがマイナスの強度数
のときにはエリアセンサ3の遥か奥で結像するので(図
12(c))、エリアセンサ3上の光点Q2,Q3は大き
くボケてしまう。このため、光点Q2,Q3のピーク光量
は低く(図13の破線参照)、S/N比が低下するの
で、光点Q2,Q3の位置検出精度が極端に悪化する。ま
た、被検レンズTLの表面に傷や汚れ等があると、測定
結果に誤差を生じやすくなる。
【0029】なお、ハルトマンプレート1の開口を小さ
くし焦点深度を深くして光点をボケにくくすることも可
能ではあるが、この場合はエリアセンサ3上での光量が
低下するので好ましくない。また、被検レンズTLの度
数に応じてエリアセンサ3等を移動させ、常にエリアセ
ンサ3上に合焦した状態とする方法も考えられるが、移
動機構の追加、光学系の複雑化によるレンズメータの大
型化、コストアップの原因を招き、測定に時間がかかる
等の不都合をも生じる。
【0030】[実施例]実施例では、波面センサ9にお
けるレンズ8の領域8a,8b,8cの焦点距離f1
2,f3をそれぞれ、レンズメータ10において+10
D、0D、−10Dの被検レンズTLが設置された際に
エリアセンサ7上に結像するように設定する。例えばΔ
L=5[mm]、L=15[mm]とすると、焦点距離
1,f2,f3はそれぞれ+17.8、+15、+1
3.1[mm]とすればよい。
【0031】このレンズ8に+10Dの被検レンズTL
による球面波が入射すると、図6(a)、図7(a)に
示すように、領域8aを透過した光束P1がエリアセン
サ7上に結像する。このとき、領域8bを透過した光束
2はエリアセンサ7の手前で結像し、領域8cを透過
した光束P3はさらにその手前で結像する。
【0032】また、レンズ8に0Dの被検レンズTLに
よる平面波が入射すると、図6(b)、図7(b)に示
すように、領域8bを透過した光束P2がエリアセンサ
7上に結像する。このとき、領域8aを透過した光束P
1はエリアセンサ7の奥で結像し(実際にはエリアセン
サ7に遮光されて結像には至らない。)、領域8cを透
過した光束P3はエリアセンサ7の手前で結像する。
【0033】レンズ8に−10Dの被検レンズTLによ
る球面波が入射すると、図6(c)、図7(c)に示す
ように、領域8cを透過した光束P3がエリアセンサ7
上に結像する。このとき、領域8bを透過した光束P2
はエリアセンサ7の奥に結像し、領域8aを透過した光
束P1はさらにその奥に結像する。
【0034】なお、図7(a)〜(c)において、
1,R2,R3はそれぞれ光束P1,P2,P3の結像点を
示している。
【0035】この実施例では、入射光束Pの波面形状に
かかわらず、その光束Pの一部はレンズ8の領域8a,
8b,8cのいずれかによってエリアセンサ7上又はそ
の近傍に結像するので、たとえ平面波に対する領域8
a,8cのように対応しない領域に入射した光束Pの残
部がエリアセンサ7上に結像しなくても、図8に示すよ
うな光量分布を確保することができる。この光量分布
は、従来合焦していた0D近傍についての光量分布(図
13の実線)と比較するとピーク光量が低くボケた光点
を表すが、エリアセンサ7による光点の検出精度に影響
が及ぶ程のものではなく、逆に従来合焦していなかった
屈折力の大きな被検レンズTLについての光量分布(図
13の破線)と比較すると、ピーク光量が高く径の小さ
な光点を表し測定精度を向上させることができる。
【0036】すなわち、比較例に示した波面センサで
は、入射光束Pの波面形状により光点の光量や径に大幅
な違いを生じて測定精度を一定に保つことが難しかった
が、この実施例に示した波面センサ9では、入射光束P
の波面形状にかかわらず光点の光量や径を一定に維持す
ることができ、常に高精度に測定を行うことができる。
【0037】なお、上記の例ではレンズ8の焦点距離を
1,f2,f3と段階的に変化させたが、図9に示す球
面収差曲線のようにレンズの焦点距離を中心部から周縁
部に向けて連続的に変化させてもよい。例えば+25D
の被検レンズTLの透過光束が光軸を含むレンズ8の中
心部を透過した場合にエリアセンサ7上に結像し、−2
5Dの被検レンズTLの透過光束がレンズ8の最外縁部
を透過した場合にエリアセンサ7上に結像するとする
と、その中心部の焦点距離を26.3[mm]、最外縁
部の焦点距離を11.3[mm](最外縁部の球面収差
を−15[mm])とし、その間の領域の焦点距離を2
6.3[mm]から11.3[mm]の間で連続的に変
化させればよい。
【0038】あるいは、以上でレンズ8の中心部から周
縁部に向けて焦点距離を小さくしたのはレンズ製作上の
便宜等のためであり、必ずしもこれに限られる必要はな
く、周縁部から中心部に向けて焦点距離を小さくして
も、若しくは、半径方向に沿って焦点距離に連続性、段
階性を持たせなくてもかまわない。
【0039】また、このような非球面レンズは研磨加工
により製造するのは難しいことから、上記同様に回折光
学素子として製造するのが望ましく、図10に示すよう
に一枚のバイナリーレンズアレイとして一体的に成形し
てもよい。
【0040】[波面センサの反射望遠鏡への適用]図1
1は本発明に係る波面センサを用いる能動光学式反射望
遠鏡の概略構成を模式的に示す。この反射望遠鏡15で
は、遠方からの入射光束Pが凹面ミラー16により凸面
ミラー17に向けて反射され、凸面ミラー17の反射光
束が凹面ミラー16の中央部に形成された開口18を通
過し、ビームスプリッタ19を透過した後に観察面20
に導かれる。一方、ビームスプリッタ19により反射さ
れた一部の光束は、コリメータレンズ21を通過して平
行光束となり、レンズ8が取り付けられたハルトマンプ
レート6とエリアセンサ7とを有する波面センサ22に
導かれる。
【0041】凹面ミラー16の裏面には、その鏡面を変
形させるための複数のアクチュエータ23が設けられて
いる。このアクチュエータ23を駆動して凹面ミラー1
6の鏡面を変形させることにより、歪んだ波面WFを整
った球面波WF’に変換することができる。この際、入
射波面WFの歪み量を検出し、これを補正するための鏡
面の変形量を求め、この変形量に応じたアクチュエータ
23の駆動量を決定する必要があるが、波面センサ22
はその歪み量の検出に使用され、波面センサ22に接続
された演算回路24によりアクチュエータ23の駆動量
が決定されてアクチュエータ23が駆動される。
【0042】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成した
ので、各レンズのいずれかの領域を透過する光束がエリ
アセンサ上又はその近傍に結像し、波面形状にかかわら
ず光点の大きなボケを回避して測定を常に高精度に行う
ことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る波面センサの概略構成を示す説明
図である。
【図2】波面センサに取り付けられるレンズを示す説明
図である。
【図3】レンズを構成する回折光学素子を示す説明図で
ある。
【図4】本発明に係る波面センサをレンズメータに適用
する場合の態様を示す説明図である。
【図5】本発明に係る波面センサを用いたレンズメータ
の概略構成を示す説明図である。
【図6】波面センサにおける結像状態を示し、(a)は
収束光束が入射した場合、(b)は平行光束が入射した
場合、(c)は発散光束が入射した場合を示す説明図で
ある。
【図7】図6のエリアセンサ近傍における結像状態を拡
大して示し、(a)は図6(a)に対応する拡大図、
(b)は図6(b)に対応する拡大図、(c)は図6
(c)に対応する拡大図である。
【図8】図6の波面センサのエリアセンサ上における光
量分布を示す説明図である。
【図9】レンズの焦点距離が連続的に変化する例を示す
説明図である。
【図10】複数のレンズが同一平面内に一体的に形成さ
れた例を示す説明図である。
【図11】本発明に係る波面センサを用いた能動光学式
反射望遠鏡の概略構成を示す説明図である。
【図12】従来の波面センサにおける結像状態を示し、
(a)は平行光束が入射した場合、(b)は収束光束が
入射した場合、(c)は発散光束が入射した場合を示す
説明図である。
【図13】図12の波面センサのエリアセンサ上におけ
る光量分布を示す説明図である。
【符号の説明】
4,9,22 波面センサ 5 開口 6 ハルトマンプレート 7 エリアセンサ 8 レンズ 8a,8b,8c 領域 10 レンズメータ 15 能動光学式反射望遠鏡

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】同一平面内に設けられた複数のレンズと、
    各レンズを透過して集光された光束を光点として受光す
    るエリアセンサとを備え、該エリアセンサ上の光点の位
    置に基づいて前記レンズの入射光束の波面形状を測定す
    る波面センサにおいて、 前記各レンズは互いに焦点距離が異なる複数の同心状の
    領域からなり、最小の焦点距離を有する領域を通るとき
    に平面波が結像する位置と最大の焦点距離を有する領域
    を通るときに平面波が結像する位置との略中間に前記エ
    リアセンサが配置されていることを特徴とする波面セン
    サ。
  2. 【請求項2】前記複数の同心状の領域の各焦点距離が前
    記レンズの中心部から周縁部に向けて連続的に又は段階
    的に変化していることを特徴とする請求項1に記載の波
    面センサ。
  3. 【請求項3】前記レンズの中心部が最大の焦点距離を有
    し、前記レンズの周縁部が最小の焦点距離を有すること
    を特徴とする請求項2に記載の波面センサ。
  4. 【請求項4】前記レンズが回折光学素子からなることを
    特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載
    の波面センサ。
  5. 【請求項5】請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記
    載の波面センサを用いたことを特徴とするレンズメー
    タ。
  6. 【請求項6】請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記
    載の波面センサを用いたことを特徴とする能動光学式反
    射望遠鏡。
JP37522399A 1999-12-28 1999-12-28 レンズメータ Expired - Fee Related JP4549468B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP37522399A JP4549468B2 (ja) 1999-12-28 1999-12-28 レンズメータ
US09/748,894 US6480267B2 (en) 1999-12-28 2000-12-26 Wavefront sensor, and lens meter and active optical reflecting telescope using the same
AT00250459T ATE290686T1 (de) 1999-12-28 2000-12-27 Wellenfrontsensor mit multifokaler hartmannplatte und seine verwendung in einer linsenmessvorrichtung oder einem aktiven optischen reflexionsteleskop
EP00250459A EP1113251B1 (en) 1999-12-28 2000-12-27 Wavefront sensor with a Hartmann plate with multifocal lenses, and a lens meter and an active optical reflecting telescope using the sensor
KR10-2000-0082642A KR100383330B1 (ko) 1999-12-28 2000-12-27 파면센서, 이것을 이용한 렌즈미터 및 능동광학식 반사망원경
DE60018540T DE60018540T2 (de) 1999-12-28 2000-12-27 Wellenfrontsensor mit multifokaler Hartmannplatte und seine Verwendung in einer Linsenmessvorrichtung oder einem aktiven optischen Reflexionsteleskop
CNB001377574A CN1188674C (zh) 1999-12-28 2000-12-28 波前传感器及用它的透镜检查仪和主动反射式光学望远镜

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP37522399A JP4549468B2 (ja) 1999-12-28 1999-12-28 レンズメータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001188025A true JP2001188025A (ja) 2001-07-10
JP4549468B2 JP4549468B2 (ja) 2010-09-22

Family

ID=18505177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP37522399A Expired - Fee Related JP4549468B2 (ja) 1999-12-28 1999-12-28 レンズメータ

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6480267B2 (ja)
EP (1) EP1113251B1 (ja)
JP (1) JP4549468B2 (ja)
KR (1) KR100383330B1 (ja)
CN (1) CN1188674C (ja)
AT (1) ATE290686T1 (ja)
DE (1) DE60018540T2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011043394A (ja) * 2009-08-20 2011-03-03 Canon Inc 測定方法及び測定装置
JP2014147169A (ja) * 2013-01-28 2014-08-14 Mitsubishi Electric Corp 形状可変鏡装置

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8300042B2 (en) 2001-06-05 2012-10-30 Microsoft Corporation Interactive video display system using strobed light
US8035612B2 (en) 2002-05-28 2011-10-11 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Self-contained interactive video display system
US20050122308A1 (en) * 2002-05-28 2005-06-09 Matthew Bell Self-contained interactive video display system
US7710391B2 (en) 2002-05-28 2010-05-04 Matthew Bell Processing an image utilizing a spatially varying pattern
EP1543767A4 (en) * 2002-09-26 2008-03-19 Topcon Corp SYSTEM FOR MEASURING CHARACTERISTIC EYE FEATURES
WO2004055776A1 (en) * 2002-12-13 2004-07-01 Reactrix Systems Interactive directed light/sound system
CN100451577C (zh) * 2003-10-15 2009-01-14 中国科学院光电技术研究所 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器
EP1676442A2 (en) 2003-10-24 2006-07-05 Reactrix Systems, Inc. Method and system for managing an interactive video display system
US20050151961A1 (en) * 2003-12-31 2005-07-14 Mcgraw John T. Surface layer atmospheric turbulence differential image motion measurement
US8103045B2 (en) * 2005-01-04 2012-01-24 Stc.Unm Structure function monitor
US9128519B1 (en) 2005-04-15 2015-09-08 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Method and system for state-based control of objects
US8081822B1 (en) 2005-05-31 2011-12-20 Intellectual Ventures Holding 67 Llc System and method for sensing a feature of an object in an interactive video display
US20080296477A1 (en) * 2005-08-31 2008-12-04 U.S.A. as represented by the Administrator of the National Aeronautics and Space Adm. Optical system for inducing focus diversity
US8098277B1 (en) 2005-12-02 2012-01-17 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Systems and methods for communication between a reactive video system and a mobile communication device
US7445335B2 (en) * 2006-01-20 2008-11-04 Clarity Medical Systems, Inc. Sequential wavefront sensor
CN100573065C (zh) * 2006-08-07 2009-12-23 中国科学院光电技术研究所 一种基于线性相位反演的波前测量方法
JP5430572B2 (ja) 2007-09-14 2014-03-05 インテレクチュアル ベンチャーズ ホールディング 67 エルエルシー ジェスチャベースのユーザインタラクションの処理
US8159682B2 (en) 2007-11-12 2012-04-17 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Lens system
US8259163B2 (en) * 2008-03-07 2012-09-04 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Display with built in 3D sensing
US8595218B2 (en) 2008-06-12 2013-11-26 Intellectual Ventures Holding 67 Llc Interactive display management systems and methods
JP2010230578A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Fujifilm Corp 偏芯量測定方法
US9182289B2 (en) * 2011-10-14 2015-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus and method for estimating wavefront parameters
US20170054499A1 (en) 2015-08-21 2017-02-23 SA Photonics, Inc. Free space optical (fso) system
CN108352895B (zh) * 2015-08-21 2020-03-24 Sa光子学公司 自由空间光学(fso)系统
US9973274B1 (en) 2015-10-07 2018-05-15 SA Photonics, Inc. Fast tracking free space optical module
CN106500968B (zh) * 2016-11-16 2019-07-02 中国科学院云南天文台 一种基于杨氏双缝干涉理论检测望远镜成像质量的方法
CN109556834B (zh) * 2017-09-26 2022-04-05 株式会社拓普康 镜片特性测量装置及镜片特性测量方法
CN112197876A (zh) * 2020-09-27 2021-01-08 中国科学院光电技术研究所 基于四象限离散相位调制的单远场型深度学习波前复原方法
CN113238374B (zh) * 2020-09-30 2022-08-05 南京航空航天大学 一种高功率激光器准直系统设计方法
CN113092076B (zh) * 2021-04-23 2022-10-14 航天科工微电子系统研究院有限公司 大口径变焦反射望远镜现场焦距检测方法及检测光路
US11909439B2 (en) 2021-04-23 2024-02-20 SA Photonics, Inc. Wavefront sensor with inner detector and outer detector

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07198909A (ja) * 1993-01-06 1995-08-01 Holo Or Ltd 多焦点回折レンズ
JPH07294379A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Nidek Co Ltd レンズメ−タ
JPH09139878A (ja) * 1995-11-16 1997-05-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像処理システム
JPH09288040A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Topcon Corp レンズメータ
JPH10507825A (ja) * 1994-06-14 1998-07-28 ヴィジョニクス・リミテッド 光要素をマッピングするための装置
JPH10210371A (ja) * 1997-01-28 1998-08-07 Sanyo Electric Co Ltd 固体撮像装置
JPH11125581A (ja) * 1997-10-24 1999-05-11 Topcon Corp オートレンズメータ
JP2000214429A (ja) * 1999-01-22 2000-08-04 Communication Research Laboratory Mpt 液晶光変調装置およびその駆動方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4405232A (en) * 1981-09-02 1983-09-20 United Technologies Corporation Wave front sensing device
JPH07119893B2 (ja) * 1986-09-22 1995-12-20 オリンパス光学工業株式会社 内視鏡光学系
JPH02238338A (ja) * 1989-03-13 1990-09-20 Hitachi Ltd レンズ検査装置
JPH0355501A (ja) * 1989-07-25 1991-03-11 Nippon Sheet Glass Co Ltd レンズアレイ板
US5233174A (en) * 1992-03-11 1993-08-03 Hughes Danbury Optical Systems, Inc. Wavefront sensor having a lenslet array as a null corrector
US5300766A (en) * 1993-04-13 1994-04-05 Eastman Kodak Company Scanning scene-based wavefront sensor having a linear image sensor array and a pupil sensor array
US5493391A (en) * 1994-07-11 1996-02-20 Sandia Corporation One dimensional wavefront distortion sensor comprising a lens array system
JP3203972B2 (ja) * 1994-09-16 2001-09-04 三菱電機株式会社 波面センサ
US5610707A (en) * 1995-07-07 1997-03-11 Lockheed Missiles & Space Co., Inc. Wavefront sensor for a staring imager
JPH09257644A (ja) * 1996-03-26 1997-10-03 Topcon Corp レンズメーター
JPH11137522A (ja) * 1997-11-11 1999-05-25 Topcon Corp 光学特性測定装置
US5912731A (en) * 1997-12-04 1999-06-15 Trw Inc. Hartmann-type optical wavefront sensor
JP3431828B2 (ja) * 1998-04-09 2003-07-28 三菱電機株式会社 波面センサー
US6184974B1 (en) * 1999-07-01 2001-02-06 Wavefront Sciences, Inc. Apparatus and method for evaluating a target larger than a measuring aperture of a sensor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07198909A (ja) * 1993-01-06 1995-08-01 Holo Or Ltd 多焦点回折レンズ
JPH07294379A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Nidek Co Ltd レンズメ−タ
JPH10507825A (ja) * 1994-06-14 1998-07-28 ヴィジョニクス・リミテッド 光要素をマッピングするための装置
JPH09139878A (ja) * 1995-11-16 1997-05-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像処理システム
JPH09288040A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Topcon Corp レンズメータ
JPH10210371A (ja) * 1997-01-28 1998-08-07 Sanyo Electric Co Ltd 固体撮像装置
JPH11125581A (ja) * 1997-10-24 1999-05-11 Topcon Corp オートレンズメータ
JP2000214429A (ja) * 1999-01-22 2000-08-04 Communication Research Laboratory Mpt 液晶光変調装置およびその駆動方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011043394A (ja) * 2009-08-20 2011-03-03 Canon Inc 測定方法及び測定装置
JP2014147169A (ja) * 2013-01-28 2014-08-14 Mitsubishi Electric Corp 形状可変鏡装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100383330B1 (ko) 2003-05-12
CN1301954A (zh) 2001-07-04
ATE290686T1 (de) 2005-03-15
US6480267B2 (en) 2002-11-12
CN1188674C (zh) 2005-02-09
DE60018540D1 (de) 2005-04-14
EP1113251A3 (en) 2003-09-17
DE60018540T2 (de) 2006-02-23
EP1113251A2 (en) 2001-07-04
KR20010062745A (ko) 2001-07-07
EP1113251B1 (en) 2005-03-09
JP4549468B2 (ja) 2010-09-22
US20010006210A1 (en) 2001-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001188025A (ja) 波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡
US5940181A (en) Measuring method and measuring apparatus
US6536900B2 (en) Eye characteristic measuring apparatus
JP2002071513A (ja) 液浸系顕微鏡対物レンズ用干渉計および液浸系顕微鏡対物レンズの評価方法
JPS6134941A (ja) 合焦検知装置
JPS6230214A (ja) 光ビ−ム走査光学系
US5309214A (en) Method for measuring distributed dispersion of gradient-index optical elements and optical system to be used for carrying out the method
US6392819B1 (en) Objective lens and fabrication method thereof
JP4133884B2 (ja) 光学的変位測定器
JPS60196605A (ja) 散乱光検出光学装置
JP3749152B2 (ja) レンズメータ
US6100519A (en) Photo-detector based calculating means having a grating wheel with integrated lenses
JPH0540072A (ja) 鏡面の測定装置
JP7111598B2 (ja) 光プローブ、光学変位計、および表面形状測定機
JPS6212269Y2 (ja)
JPH11125581A (ja) オートレンズメータ
JP2005024504A (ja) 偏心測定方法、偏心測定装置、及びこれらにより測定された物
JP2001091227A (ja) レンズの測定装置およびレンズの測定方法
JP2002335033A (ja) レーザダイオードユニットの調整装置及び方法、光学ユニットの製造方法
JP2003057025A (ja) 光学素子の位置検出方法およびその位置検出装置
JP2010071732A (ja) 検品方法
JP2002090302A (ja) 光量測定装置
JP2000097657A (ja) 干渉計
JP2001027580A (ja) レンズの透過偏心測定方法及び装置
JP2001324314A (ja) 測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080925

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081028

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100706

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100707

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4549468

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees