JP2001183306A - 半田接合部の検査装置 - Google Patents

半田接合部の検査装置

Info

Publication number
JP2001183306A
JP2001183306A JP36427499A JP36427499A JP2001183306A JP 2001183306 A JP2001183306 A JP 2001183306A JP 36427499 A JP36427499 A JP 36427499A JP 36427499 A JP36427499 A JP 36427499A JP 2001183306 A JP2001183306 A JP 2001183306A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
solder joint
reflected
irradiating
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP36427499A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Ishigame
徹 石亀
Toshihiko Omachi
敏彦 大町
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP36427499A priority Critical patent/JP2001183306A/ja
Publication of JP2001183306A publication Critical patent/JP2001183306A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 周方向の輝度変動を抑えることができるとと
もに、急斜面に対する照射光量を増加させることができ
る半田接合部の検査装置を提供する。 【解決手段】 リングライトガイド411内の光ファイ
バ412から発光された光は、平滑板43に入光し、平
滑板43内で乱反射しながら長さ方向に進む。その結
果、周方向の輝度分布が平滑化され、周方向の輝度変動
が小さくなる。反斜面(1次反斜面)431で反射した
光は、一部が外界に出射し、残りが1次拡散面421に
照射される。光路Cから照射された光は、プリント基板
(2次反射面)1で反射し、この反射光は傾斜角γの斜
面で鉛直上方に反射する。その結果、半田接合部11の
急斜面(傾斜角γ)に対する照射光量が増加し、2次反
射の作用によって急斜面が明るくなる。また、カメラ5
によって撮像される画像が全体的に明るくなり、コント
ラストが増して見やすくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、基板上に形成さ
れた半田接合部を検査する半田接合部の検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来の半田接合部の検査装置の
概略構成図である。図9に示すように、特開平6−33
1564号公報には、リングライトガイド411を有す
るリング形光源41と、このリング形光源41からの光
を拡散させる拡散板42と、半田接合部11の反射光像
を撮像するカメラ5とを備える半田接合部の検査装置が
記載されている。
【0003】この半田接合部の検査装置では、リング形
光源41の照射光が拡散板42の端面から入射すると、
この入射光線が2次拡散面422で拡散反射して、拡散
板42から外界に出射する光の輝度が拡散板42の長さ
方向に沿って減衰する。そして、拡散板42から出射し
て光路A,Bを進む光がプリント基板1上の半田接合部
11に照射されると、半田接合部11で反射した反射光
のうち拡散板42の長さ方向に進む反射光の輝度が、反
射位置の傾斜角度α,βに応じて連続的に変化する。こ
の反射光像を撮像すると、撮像画像の濃淡情報が傾斜角
情報となり、半田接合部11の立体形状がこの濃淡情報
に基づいて検出され、半田接合部11の欠陥の有無が判
定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半田接合部の検
査装置では、光ファイバの本数に比例して出射光量が変
化するために、光ファイバをできるだけ均一に整列させ
る必要がある。このために、光ファイバの発光面がリン
グライトガイド411の中心に向くように、リングライ
トガイド411の周方向に沿って光ファイバを整列する
必要がある。しかし、光ファイバを手作業で整列してい
るために、出射光量の均一化に限界があった。このため
に、従来の半田接合部の検査装置では、リング形光源4
1から照射される光の周方向の輝度変動が大きかった。
【0005】また、従来の半田接合部の検査装置では、
傾斜角度に対応した輝度分布になるが、傾斜角度がある
角度を超えると、傾斜角度と輝度との間に直線的な関係
を保つことができなかった。このために、従来の半田接
合部の検査装置では、実装部品のフィレット部分のよう
な急峻な斜面に対する照射光量が不足して、急斜面が暗
くなって撮像が困難であった。
【0006】この発明の課題は、周方向の輝度変動を抑
えることができるとともに、急斜面に対する照射光量を
増加させることができる半田接合部の検査装置を提供す
ることである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明は、以下のよう
な解決手段により、前記課題を解決する。なお、この発
明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これ
に限定するものではない。請求項1の発明は、基板
(1)上に形成された半田接合部(11)の形状を検査
する半田接合部の検査装置であって、光を発光する発光
手段(41)と、前記発光手段が発光した光の輝度を均
一化させる均一化手段(43)と、前記均一化手段が均
一化した光を前記半田接合部に照射する照射手段(4
2)と、前記照射手段が照射した光のうち前記半田接合
部で反射する反射光を受光する受光手段(5)と、前記
受光手段が受光した反射光に基づいて、この反射光の反
射位置における前記半田接合部の傾斜角度を検出する検
出手段(6)とを含む半田接合部の検査装置である。
【0008】請求項2の発明は、請求項1に記載の半田
接合部の検査装置において、前記発光手段は、リング形
光源(41)であり、前記均一化手段は、前記リング形
光源からの光が端部に入射し、この光を内部で乱反射さ
せながら周方向の光の輝度分布を平滑化させる平滑筒
(43)であり、前記照射手段は、前記平滑筒からの光
が端部に入射し、この光を内部で乱反射させながら長さ
方向に沿って減衰させて、前記半田接合部に対する入射
角に応じて輝度の異なる光をこの半田接合部に向けて内
周面から出射する拡散筒(42)であり、前記受光手段
は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射光を受光し
て、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置(5)であ
ることを特徴とする半田接合部の検査装置である。
【0009】請求項3の発明は、請求項1に記載の半田
接合部の検査装置において、前記均一化手段が均一化し
た光を前記基板に照射し、この基板で反射する反射光を
前記半田接合部に照射させる補助照射手段(431)を
備え、前記受光手段は、前記補助照射手段が照射した光
のうち前記半田接合部で反射する反射光を受光すること
を特徴とする半田接合部の検査装置である。
【0010】請求項4の発明は、請求項3に記載の半田
接合部の検査装置において、前記発光手段は、リング形
光源(41)であり、前記均一化手段は、前記リング形
光源からの光が端部に入射し、この光を内部で乱反射さ
せながら周方向の光の輝度分布を平滑化させる平滑筒
(43)であり、前記照射手段は、前記平滑筒からの光
が端部に入射し、この光を内部で乱反射させながら長さ
方向に沿って減衰させて、前記半田接合部に対する入射
角に応じて輝度の異なる光をこの半田接合部に向けて内
周面から出射する拡散筒(42)であり、前記補助照射
手段は、前記平滑筒からの光を前記基板に向けて反射さ
せる反斜面(431)であり、前記受光手段は、前記拡
散筒の軸線方向に進む前記反射光を受光して、前記半田
接合部の像を撮像する撮像装置(5)であることを特徴
としている半田接合部の検査装置である。
【0011】請求項5の発明は、基板(1)上に形成さ
れた半田接合部(11)の形状を検査する半田接合部の
検査装置であって、光を発光する発光手段(41)と、
前記発光手段が発光した光を前記半田接合部に照射する
照射手段(42)と、前記発光手段が発光した光を前記
基板に照射し、この基板で反射する反射光を前記半田接
合部に照射させる補助照射手段(431)と、前記照射
手段及び前記補助照射手段が照射した光のうち前記半田
接合部で反射する反射光を受光する受光手段(5)と、
前記受光手段が受光した反射光に基づいて、この反射光
の反射位置における前記半田接合部の傾斜角度を検出す
る検出手段(6)とを含む半田接合部の検査装置であ
る。
【0012】請求項6の発明は、請求項5に記載の半田
接合部の検査装置において、前記発光手段は、リング形
光源(41)であり、前記照射手段は、前記リング形光
源からの光が端部に入射し、この光を内部で乱反射させ
ながら長さ方向に沿って減衰させて、前記半田接合部に
対する入射角に応じて輝度の異なる光をこの半田接合部
に向けて内周面から出射する拡散筒(42)であり、前
記補助照射手段は、前記リング形光源からの光を前記基
板に向けて反射させる反斜面(431)であり、前記受
光手段は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射光を受
光して、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置(5)
であることを特徴とする半田接合部の検査装置である。
【0013】請求項7の発明は、請求項5に記載の半田
接合部の検査装置において、前記発光手段が発光した光
の輝度を均一化させる均一化手段(43)を備え、前記
照射手段は、前記均一化手段が均一化した光を前記半田
接合部に照射し、前記補助照射手段は、前記均一化手段
が均一化した光を前記基板に照射し、この基板で反射す
る反射光を前記半田接合部に照射させることを特徴とす
る半田接合部の検査装置である。
【0014】請求項8の発明は、請求項7に記載の半田
接合部の検査装置において、前記発光手段は、リング形
光源(41)であり、前記均一化手段は、前記リング形
光源からの光が端部に入射し、この光を内部で乱反射さ
せながら周方向の光の輝度分布を平滑化させる平滑筒
(42)であり、前記照射手段は、前記平滑筒からの光
が端部に入射し、この光を内部で乱反射させながら長さ
方向に沿って減衰させて、前記半田接合部に対する入射
角に応じて輝度の異なる光をこの半田接合部に向けて内
周面から出射する拡散筒(43)であり、前記補助照射
手段は、前記平滑筒からの光を前記基板に向けて反射さ
せる反斜面(431)であり、前記受光手段は、前記拡
散筒の軸線方向に進む前記反射光を受光して、前記半田
接合部の像を撮像する撮像装置(5)であることを特徴
としている半田接合部の検査装置である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明を説明
する。図1は本発明の一実施例の概略構成図である。こ
の発明の実施形態にかかる半田接合部の検査装置は、プ
リント基板1上に装着された実装部品2に光を照射し、
この実装部品2の半田接合状態を外観上から検出して、
この半田接合状態の欠陥の有無を判定する装置である。
図1において、1はプリント基板、2はプリント基板1
上に装着された実装部品である。実装部品2は半田によ
りプリント基板1に接合されていて、半田接合部が検査
対象となる。3はプリント基板1が載置されていて基板
面に沿った2次元方向にプリント基板1を移動して位置
決めするXY駆動テーブルである。4はプリント基板1
の上方に配置された照明手段で、リング形光源41と拡
散板42などからなる。拡散板42は、リング形光源4
1の内側に配置されている。リング形光源41と拡散板
42の中心軸は一致している。5は撮像手段としてのカ
メラであり、照明手段4の上方に配置されていて、検査
対象の反射光像を撮像する。6は検査処理系コントロー
ル部であり、カメラ5の撮像画像から半田接合部の立体
形状を検出し、検出した立体形状から半田接合部の欠陥
の有無を判定する。検査処理コントロール部6は、A/
D変換器61、画像メモリ62、画像処理部63、画像
判定部64を有し、これらを用いて欠陥の有無を判定す
る。7は駆動系コントロール部であり、照明手段4の駆
動を制御する照明コントロール部71、XY駆動テーブ
ルのX方向とY方向の移動をそれぞれ制御するX軸駆動
部72とY軸駆動部73を有する。
【0016】図2及び図3は図1の装置の具体的構成例
を示した図である。図3は図2の二点鎖線で囲んだA部
分の拡大図である。図2及び図3で図1及び図9と同一
のものは同一符号を付ける。以下、図において同様とす
る。図2及び図3において、リングライトガイド411
内には光ファイバ412が引かれていて、ハロゲンラン
プ等の光源(図示せず)の光は光ファイバ412によっ
て導かれ、リング形光源41のリング部分に伝えられ
る。リング部分では、光ファイバ412の発光面を中心
に向けて配置している。発光面を中心に向けた光ファイ
バがリングの周方向に沿って配列されている。拡散板4
2は、例えばメタクリル樹脂パイプで構成された円筒状
部材である。拡散板42は、下端面内側のエッジが面取
りされバフ研磨されており、1次拡散面421が形成さ
れている。拡散板42は、外周面が白色に塗装されてい
る。
【0017】平滑板43は、例えばメタクリル樹脂パイ
プで構成された円筒状部材である。平滑板43は、拡散
板42の外側に配置されており、平滑板43と拡散板4
2の中心軸は一致している。平滑板43の上端部は、光
ファイバ412の発光面から出射した光が平滑板43内
に入るように、リング形光源41のリング部分と接触し
ている。平滑板43は、下端面外側のエッジが面取りさ
れて反射面431が形成されており、反射効率を向上さ
せて乱反射を促すために、この反斜面431がサンドブ
ラストされ白色に塗装されている。平滑板43の下端部
は、反射面431で反射した光が1次拡散面421に当
たって拡散板42内に入るように、拡散板42の下端部
から突出しており、平滑板43の下端部と拡散板42の
下端部には約6mmの段差がある。リング形光源41、
拡散板42、平滑板43及びカメラ5の中心軸は一致し
ていてこれらの中心軸にプリント基板1の基板面が直交
している。
【0018】このように構成した装置の動作を説明す
る。まず、図1を用いて動作を説明する。照明手段4と
カメラ5の位置は固定されている。駆動系コントロール
部7の制御によってXY駆動テーブル3が移動すること
によって、検査対象となった半田接合部が照明手段4の
直下にくるようにプリント基板1が位置決めされる。位
置決め完了後、カメラ5が半田接合部を撮像し、検査処
理コントロール部6は撮像画像から半田接合部の立体形
状を認識し、所定の条件に基づいて半田接合部の欠陥の
有無を判定する。
【0019】ここで、本発明の特徴となる検出原理につ
いて説明する。図4〜図6は検出原理の説明図である。
図4において、8は円筒面状の照明で本発明の拡散板4
2に相当する。9は鏡面性の球面で本発明の半田接合面
11に相当する。円筒面の高さ方向に対して放射強度が
図5に示すように連続的に変化する光を、円筒面状の照
明8から鏡面性の球面9に対して照射する。このとき、
鏡面性の球面9で反射した光の中で円筒面の高さ方向に
進む光は、反射光のもとになる照射光の照射角に応じて
異なる光路をとる。これは、円筒面の高さ方向に進む反
射光は、そのもとになる照射光の照射角が異なれば、球
面9上の反射位置が異なるためである。図に示す傾斜角
Θは、反射位置における球面の接線と水平線とのなす角
である。円筒面の高さ方向に進む各反射光は、反射位置
の傾斜角Θがそれぞれ異なる。このことから、円筒面の
高さ方向に進む反射光を鏡面性の球面9の真上から観測
すると、その光束の輝度は傾斜角Θに対応した値をもつ
ことになる。光束の輝度Φと傾斜角Θの関係は、例えば
図6に示すようになる。
【0020】このような検出原理を適用した本発明の動
作を図2と図3を用いて説明する。リングライトガイド
411内の光ファイバ412から発光された光は、平滑
板43に入光し、平滑板43内で乱反射しながら長さ方
向に進み、周方向の輝度分布が平滑化される。このよう
に、平滑板43の内面で光が乱反射を繰り返して進むこ
とにより、周方向の輝度変動を小さくすることができ
る。
【0021】反斜面431で反射した光は、一部が外界
に出射し、残りが1次拡散面421に照射される。この
1次拡散面421で反射した光は、拡散板42を媒体と
して2次拡散面422で拡散反射し、拡散板42の内面
と外界の境界面から一部が外界に出射される。ここで、
外界に出射されなかった光は、拡散板42の内部で全反
射し、再び2次拡散面422で拡散反射し、その一部が
外界に出射される。外界に出射した光は半田接合部11
に照射される。
【0022】これを繰り返すことにより、拡散板42の
入光位置から離れるに従って外界に出射する光の輝度が
連続的に減衰していく。これによって、拡散板42の内
周面からは、拡散板42の長さ方向に沿って照射角と強
度が異なる光が照射される。図2で、半田接合部11に
対して、光路Aから照射された光は傾斜角αの斜面で鉛
直上方に反射し、光路Bから照射された光は傾斜角βの
斜面で鉛直上方に反射する。
【0023】また、図2及び図3で、半田接合部11に
対して、光路Cから照射された光は、反斜面(1次反斜
面)431から出射すると、プリント基板(2次反射
面)1で反射し、この反射光は傾斜角γの斜面で鉛直上
方に反射する。その結果、平滑板42の反射面421か
ら直接外界に発光することにより、半田接合部11の急
峻な斜面(傾斜角γ)に対する照射光量が増加し、2次
反射の作用によって、急峻な斜面が明るくなる。また、
カメラ5によって撮像される画像が全体的に明るくな
り、コントラストが増して見やすくなる。
【0024】このように、それぞれの光の反射位置が異
なるため、各反射光の光路A,B,Cは異なる。すなわ
ち、鉛直上方に進む反射光は、反射位置の傾斜角に応じ
た輝度になっている。また、反斜面(1次反斜面)43
1から外界に出射する光は、1次拡散面421に入射し
2次拡散面422で拡散反射してから外界に出射する光
に比べて輝度が高く、傾斜角α,β,γの斜面で反射し
た反射光は、傾斜角の大きいものから順に輝度が高くな
る。従って、反射光の輝度情報が傾斜角情報になってい
る。このような反射光をカメラ5で取り込むことによ
り、半田接合部11の立体形状が検出される。
【0025】図7は、拡散板の周方向の輝度分布を平滑
板の有無により比較して示す図であり、図7(A)は、
本発明の実施形態に係る半田接合部による輝度分布を示
し、図7(B)は、従来の半田接合部の検査装置による
輝度分布を示す。図7に示す縦軸は照度計の読みであ
り、横軸は円周方向の方位角である。図7に示す輝度分
布は、基準位置から高さ30mmの位置において、円周
方向に3.78度ごとに記録した相対輝度である。図7
(B)に示すように、従来の半田接合部の検査装置で
は、拡散板42の周方向の輝度分布にばらつきがある。
一方、図7(A)に示すように、この発明の実施形態に
係る半田接合部の検査装置では、拡散板42の周方向の
輝度分布にばらつきが少ない。
【0026】図8は、傾斜角に対する反射光の輝度を平
滑板の有無により比較して示す図であり、図8(A)
は、本発明の実施形態に係る半田接合部の検査装置にお
ける反射光の輝度を示し、図8(B)は、従来の半田接
合部の検査装置による反射光の輝度を示す。図8に示す
縦軸は反射光の輝度であり、横軸はスチールボールの傾
斜角である。図8に示す反射光の輝度は、図3及び図4
に示すような形状のスチールボールの中心から同一半径
上における画素の輝度レベルの最大値及び平均値であ
る。図8(B)に示すように、従来の半田接合部の検査
装置では、傾斜角が22.5度を超えると、傾斜角と反
射光の輝度との間に直線的な関係がなくなり、傾斜角が
35度を超えると、反射光の輝度が著しく低下してい
る。一方、図8(A)に示すように、この発明の実施形
態に係る半田接合部の検査装置では、傾斜角が33.5
度程度まで、傾斜角と反射光の輝度との間に直線的な関
係がある。また、図8(A)に示すように、傾斜角が5
6.0度近辺で2次反射成分により反射光の輝度が上昇
し、反射光の輝度の低下を抑えることができる。
【0027】この発明の実施形態に係る半田接合部の検
査装置には、以下に記載するような効果がある。 (1) この発明の実施形態では、リング形光源41か
らの光の輝度を平滑板43によって均一化し、この均一
化された光を拡散板42によって拡散させるので、拡散
板42の円周方向における輝度の変動を少なくすること
ができる。
【0028】(2) この発明の実施形態では、リング
形光源41からの光を反射面431によってプリント基
板1に向けて照射し、このプリント基板1で反射した反
射光を半田接合部11に照射する。このために、半田接
合部11の急峻な斜面が照射光量の増加によって明るく
なる。その結果、撮像した画像が全体的に明るくなっ
て、コントラストが増し、画像を見やすくすることがで
きる。例えば、実装部品などの半田付け領域であるパッ
ド部分のように、半田付けにより急斜面になる部分の照
射光量を増加させることができる。
【0029】この発明は、以上説明した実施形態に限定
するものではなく、種々の変形又は変更が可能であり、
これらもこの発明の範囲内である。例えば、この発明の
実施形態では、平滑板43によって均一化された光を反
射面431によって半田接合部11の急斜面に照射して
いるが、この拡散板42とは別に補助的な拡散板など
を、拡散板42の下端部外側から突出させて配置しても
よい。また、この発明の実施形態では、主として実装部
品をリフローにより半田付けした後に検査する場合を例
に挙げて説明したが、クリーム半田の塗布状態を検査す
ることもできる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による
と、発光した光の輝度を均一化してから拡散させるの
で、周方向の輝度変動を抑えることができる。また、こ
の発明によると、光を基板に照射してこの基板で反射す
る反射光を半田接合部に照射するので、急斜面に対する
照射光量を増加させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の概略構成図である。
【図2】図1の装置の具体的構成例を示した図である。
【図3】図1の装置の具体的構成例を示した図である。
【図4】検出原理の説明図である。
【図5】検出原理の説明図である。
【図6】検出原理の説明図である。
【図7】拡散板の周方向の輝度分布を平滑板の有無によ
り比較して示す図であり、(A)は、本発明の実施形態
に係る半田接合部による輝度分布を示し、(B)は、従
来の半田接合部の検査装置による輝度分布を示す。
【図8】傾斜角に対する反射光の輝度を平滑板の有無に
より比較して示す図であり、(A)は、本発明の実施形
態に係る半田接合部の検査装置における反射光の輝度を
示し、(B)は、従来の半田接合部の検査装置による反
射光の輝度を示す。
【図9】従来の半田接合部の検査装置の概略構成図であ
る。
【符号の説明】
1 プリント基板 11 半田接合部 2 実装部品 4 照明手段 41 リング形光源 42 拡散板 43 平滑板 431 反射面 5 カメラ 6 検査処理系コントロール部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA15 AA31 AA49 AA51 BB05 CC01 CC26 CC28 DD09 EE04 FF42 GG02 GG17 HH12 HH14 JJ03 JJ09 JJ19 JJ26 LL00 LL02 LL49 NN02 NN20 PP12 QQ03 QQ24 TT02 2G051 AA65 AB14 BB02 BB17 CA04 CB01 DA07 EA16

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に形成された半田接合部の形状を
    検査する半田接合部の検査装置であって、 光を発光する発光手段と、 前記発光手段が発光した光の輝度を均一化させる均一化
    手段と、 前記均一化手段が均一化した光を前記半田接合部に照射
    する照射手段と、 前記照射手段が照射した光のうち前記半田接合部で反射
    する反射光を受光する受光手段と、 前記受光手段が受光した反射光に基づいて、この反射光
    の反射位置における前記半田接合部の傾斜角度を検出す
    る検出手段と、 を含む半田接合部の検査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記発光手段は、リング形光源であり、 前記均一化手段は、前記リング形光源からの光が端部に
    入射し、この光を内部で乱反射させながら周方向の光の
    輝度分布を平滑化させる平滑筒であり、 前記照射手段は、前記平滑筒からの光が端部に入射し、
    この光を内部で乱反射させながら長さ方向に沿って減衰
    させて、前記半田接合部に対する入射角に応じて輝度の
    異なる光をこの半田接合部に向けて内周面から出射する
    拡散筒であり、 前記受光手段は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射
    光を受光して、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置
    であること、を特徴とする半田接合部の検査装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記均一化手段が均一化した光を前記基板に照射し、こ
    の基板で反射する反射光を前記半田接合部に照射させる
    補助照射手段を備え、 前記受光手段は、前記補助照射手段が照射した光のうち
    前記半田接合部で反射する反射光を受光すること、 を特徴とする半田接合部の検査装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記発光手段は、リング形光源であり、 前記均一化手段は、前記リング形光源からの光が端部に
    入射し、この光を内部で乱反射させながら周方向の光の
    輝度分布を平滑化させる平滑筒であり、 前記照射手段は、前記平滑筒からの光が端部に入射し、
    この光を内部で乱反射させながら長さ方向に沿って減衰
    させて、前記半田接合部に対する入射角に応じて輝度の
    異なる光をこの半田接合部に向けて内周面から出射する
    拡散筒であり、 前記補助照射手段は、前記平滑筒からの光を前記基板に
    向けて反射させる反斜面であり、 前記受光手段は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射
    光を受光して、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置
    であること、 を特徴とする半田接合部の検査装置。
  5. 【請求項5】 基板上に形成された半田接合部の形状を
    検査する半田接合部の検査装置であって、 光を発光する発光手段と、 前記発光手段が発光した光を前記半田接合部に照射する
    照射手段と、 前記発光手段が発光した光を前記基板に照射し、この基
    板で反射する反射光を前記半田接合部に照射させる補助
    照射手段と、 前記照射手段及び前記補助照射手段が照射した光のうち
    前記半田接合部で反射する反射光を受光する受光手段
    と、 前記受光手段が受光した反射光に基づいて、この反射光
    の反射位置における前記半田接合部の傾斜角度を検出す
    る検出手段と、 を含む半田接合部の検査装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記発光手段は、リング形光源であり、 前記照射手段は、前記リング形光源からの光が端部に入
    射し、この光を内部で乱反射させながら長さ方向に沿っ
    て減衰させて、前記半田接合部に対する入射角に応じて
    輝度の異なる光をこの半田接合部に向けて内周面から出
    射する拡散筒であり、 前記補助照射手段は、前記リング形光源からの光を前記
    基板に向けて反射させる反斜面であり、 前記受光手段は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射
    光を受光して、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置
    であること、 を特徴とする半田接合部の検査装置。
  7. 【請求項7】 請求項5に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記発光手段が発光した光の輝度を均一化させる均一化
    手段を備え、 前記照射手段は、前記均一化手段が均一化した光を前記
    半田接合部に照射し、 前記補助照射手段は、前記均一化手段が均一化した光を
    前記基板に照射し、この基板で反射する反射光を前記半
    田接合部に照射させること、 を特徴とする半田接合部の検査装置。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載の半田接合部の検査装置
    において、 前記発光手段は、リング形光源であり、 前記均一化手段は、前記リング形光源からの光が端部に
    入射し、この光を内部で乱反射させながら周方向の光の
    輝度分布を平滑化させる平滑筒であり、 前記照射手段は、前記平滑筒からの光が端部に入射し、
    この光を内部で乱反射させながら長さ方向に沿って減衰
    させて、前記半田接合部に対する入射角に応じて輝度の
    異なる光をこの半田接合部に向けて内周面から出射する
    拡散筒であり、 前記補助照射手段は、前記平滑筒からの光を前記基板に
    向けて反射させる反斜面であり、 前記受光手段は、前記拡散筒の軸線方向に進む前記反射
    光を受光して、前記半田接合部の像を撮像する撮像装置
    であること、 を特徴とする半田接合部の検査装置。
JP36427499A 1999-12-22 1999-12-22 半田接合部の検査装置 Pending JP2001183306A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36427499A JP2001183306A (ja) 1999-12-22 1999-12-22 半田接合部の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36427499A JP2001183306A (ja) 1999-12-22 1999-12-22 半田接合部の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001183306A true JP2001183306A (ja) 2001-07-06

Family

ID=18481422

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP36427499A Pending JP2001183306A (ja) 1999-12-22 1999-12-22 半田接合部の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001183306A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007145224A1 (ja) * 2006-06-12 2007-12-21 Sharp Kabushiki Kaisha 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置、照明手段の位置を決定する方法、ムラ検査装置、照明位置決定装置
KR100796257B1 (ko) 2006-12-29 2008-01-21 주식회사 화성에스티에스 스테인리스 파이프의 용접불량 감시장치
US7889358B2 (en) 2006-04-26 2011-02-15 Sharp Kabushiki Kaisha Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus
JP2015055569A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 株式会社Fdkエンジニアリング 画像外観検査装置
WO2018163278A1 (ja) * 2017-03-07 2018-09-13 ヤマハ発動機株式会社 外観検査装置、外観検査方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7889358B2 (en) 2006-04-26 2011-02-15 Sharp Kabushiki Kaisha Color filter inspection method, color filter manufacturing method, and color filter inspection apparatus
WO2007145224A1 (ja) * 2006-06-12 2007-12-21 Sharp Kabushiki Kaisha 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置、照明手段の位置を決定する方法、ムラ検査装置、照明位置決定装置
JP2008020431A (ja) * 2006-06-12 2008-01-31 Sharp Corp 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置
JP4597946B2 (ja) * 2006-06-12 2010-12-15 シャープ株式会社 端部傾斜角測定方法、起伏を有する被検査物の検査方法および検査装置
KR100796257B1 (ko) 2006-12-29 2008-01-21 주식회사 화성에스티에스 스테인리스 파이프의 용접불량 감시장치
JP2015055569A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 株式会社Fdkエンジニアリング 画像外観検査装置
WO2018163278A1 (ja) * 2017-03-07 2018-09-13 ヤマハ発動機株式会社 外観検査装置、外観検査方法
CN110383001A (zh) * 2017-03-07 2019-10-25 雅马哈发动机株式会社 外观检查装置、外观检查方法
JPWO2018163278A1 (ja) * 2017-03-07 2019-11-07 ヤマハ発動機株式会社 外観検査装置、外観検査方法
CN110383001B (zh) * 2017-03-07 2020-12-25 雅马哈发动机株式会社 外观检查装置、外观检查方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5323320B2 (ja) 表面検査装置
JP4619880B2 (ja) 円筒状物体の外観検査装置
KR100269731B1 (ko) 영상 프로세서용 광원장치
JP3299193B2 (ja) バンプ検査方法/装置、情報記憶媒体
JP2010107254A (ja) Ledチップ検査装置、ledチップ検査方法
JP2001183306A (ja) 半田接合部の検査装置
JP2007322166A (ja) プリント基板検査装置
JP3156442B2 (ja) 半田接合部の検査装置
JP2006242814A (ja) 表面検査装置
JP2643550B2 (ja) 外観検査装置
JP2021179331A (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JP2008139126A (ja) 欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP2001249083A (ja) 外観検査装置用照明装置及び外観検査装置
JP3548601B2 (ja) 画像処理装置の光源装置
JPH10185832A (ja) 外観検査方法及び外観検査装置
JP3366211B2 (ja) 鏡面対象物の撮像方式
US11821843B2 (en) Electronic component inspection apparatus and electronic component inspection method
JPH11218406A (ja) 基板位置認識マーク検出装置および基板位置認識マーク検出方法
JPH11296657A (ja) 画像処理装置の撮像光学系
JPH0814846A (ja) 半田接合部の検査装置
JPH07174539A (ja) 画像処理装置
JP3100448B2 (ja) 表面状態検査装置
JP3376054B2 (ja) 画像処理方法及びその装置
JP3054227B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JP2001124523A (ja) バンプ頂点検出方法並びにこれを用いたバンプ高さ測定方法及び装置