JP2021179331A - 表面検査装置及び表面検査方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 156
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 59
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 8
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 30
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 235000013361 beverage Nutrition 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
そうした検査において見つかる欠陥の例として、金属板等の材料の表面に生じる筋状の汚れ欠陥がある。このような筋状の汚れ欠陥は、周囲とは光透過率が異なる薄い膜が材料表面に付着することで発生するものと考えられる。このような筋状の汚れ欠陥は、材料表面に凹凸が形成されるキズとは異なり、凹凸に起因する明暗が生じないため、コントラストが小さく、目視検査によって検出することが困難であった。
図1に示すように、ライン状の照明装置100から、一方向に搬送される検査対象物101に向けて照明光が照射され、その反射光を撮像装置102によって撮像することで、検査対象物101の表面の撮像画像が生成される。照明装置100が、LED光源を1列に並べたライン状のライン照明であり、ライン照明の長さ方向が、撮像装置102の光軸と検査対象物101の搬送方向の双方に垂直に配置された構成である場合には、撮像装置102の光軸と検査対象物101との交点を含み、搬送方向に直交する検査対象物101上の線Aから見た照明光の見込み角θ(撮像装置102の光軸と検査対象物101との交点を含み、搬送方向に直交する検査対象物101上の線Aから照明装置100を見た場合に、照明光が見える角度を、検査対象物101の搬送方向と撮像装置102の光軸とがなす面で規定した角度)は、小さくなる。
図2A及び図2Bは、それぞれ本発明の実施形態に係る表面検査装置10の構成の一例を示す側面図及び斜視図である。
本実施形態において検査対象物50は、例えば、飲料缶用として用いる電気クロムめっきを施した鋼板のような、表面に電気めっき処理が施された、帯状の形状を有する鋼板であり、長手方向(X方向)に沿って一定の速度で搬送される。なお、検査対象物50は、例えば、鋼板以外の金属板、樹脂等の金属以外の材料からなるシート状または板状の材料等であってもよい。一方、照明装置20及び撮像装置30は固定されている。
本実施形態において、図2Bに示すように、発光領域20aの検査対象物50の幅方向(Y方向)に沿った長さLは、検査対象物50の幅方向(Y方向)の全域に照明光を照射することができる長さを有する。照明装置20の発光領域20aとなる光出射面Sは、検査対象物50の表面に対して傾いており、照明光は検査対象物50の表面(より具体的には、撮像装置30の光軸Oと検査対象物50との交点を含み、搬送方向に直交する検査対象物50上の線A)に対して斜め上方向から入射する。
光源21は、図3Aに示すように、一方向に配列された複数のLED等の点光源であってもよい。また、光源21は、図3Bに示すように、拡散部材22の面に沿ってマトリックス状に配列された複数の点光源であってもよい。拡散部材22は、光透過性を有するシート状または板状の部材であり、光源21からの光が透過する方向をより多様な方向に(好ましくは、検査対象物50に向かうランダムな方向に)変える機能を有する。拡散部材22としては、市販の拡散シートまたは拡散板を用いることが可能である。光源21からの光が拡散部材22で多様な方向に向けられるため、拡散部材22の表面全体が、照明装置20の光出射面S(即ち、発光領域20a)となる。上記の構成の照明装置20によれば、光出射面Sにおける輝度分布が略均一となり、光出射面Sから拡散光を出射することが可能となる。
撮像装置30は、検査対象物50の幅方向(Y方向)に亘る視野を持った1又は複数のラインセンサを含んでおり、検査対象物50の幅方向(Y方向)の全域を撮像視野に収め、当該視野を撮像することで、撮像画像を生成することが可能である。すなわち、撮像装置30は、検査対象物50上の検査対象位置(即ち、筋状の汚れ欠陥等を検査するための位置)が、撮像装置30の光軸Oと検査対象物50との交点を含み、搬送方向に直交する検査対象物50上の線Aの位置に来た時に、線Aを視野に収めて撮像を行う。表面検査装置10の撮像位置に含まれる線Aは、検査対象物50の幅方向(Y方向)の全域に亘っている。そのため、検査対象物50がX方向に搬送されることで、検査位置にある検査対象物50の表面上における線Aの位置は、X方向に沿って時々刻々変化するため、検査対象物50の表面の全域(全幅及び全長)を撮像することが可能となる。
なお、撮像装置30の光軸Oは、図2Aに示すように、検査対象物50の法線に対してΦだけ傾いているが、この傾きΦは、筋状の汚れ欠陥が生じていることが予め分かっているサンプルを検査対象物50の代わりに撮像して、検出したい筋状の汚れ欠陥のS/N比が最も高くなるようにして、決めることが好ましい。
なお、上記では検査対象物50が搬送されて移動し、照明装置20及び撮像装置30が固定されている例を用いて説明したが、検査対象物50と、照明装置20及び撮像装置30とは、相対的に移動していればよいため、上記とは逆に、検査対象物50が固定され、照明装置20及び撮像装置30が移動するようにしてもよい。
図7は、本発明の第2の実施形態に係る表面検査装置10Aの構成の一例を示す斜視図である。表面検査装置10Aにおいて、照明装置20Aは、検査対象物50と撮像装置30の間に配置されている。照明装置20Aは、光透過性を有する導光板23と、導光板23の少なくとも1つの辺に沿って設けられた光源21とを含む。図7においては、光源21が導光板23の互いに対向する2つの辺に沿って配置されている構成が例示されているが、導光板23の1つまたは3つ以上の各辺に沿って光源21を配置してもよい。光源21は、例えばLEDアレイ等の複数の点光源であってもよい。導光板23は、導光板23の辺から入射した光源21からの光を、検査対象物50と対向する光出射面Sを面状の発光領域20aとして、出射する。
20 照明装置
20a 発光領域
21 光源
22 拡散部材
23 導光板
30 撮像装置
40 判定装置
50 検査対象物
Claims (6)
- 検査対象物の表面の欠陥を検査する表面検査装置において、
面状の発光領域を有し、前記面状の発光領域から前記検査対象物の表面に対して、拡散光を照射する照明装置と、
前記照明装置が照明した前記検査対象物の表面を撮像して撮像画像を生成する撮像装置と、
前記撮像画像に基づいて、前記検査対象物の表面の欠陥の有無を判定する判定装置と、を有し、
前記照明装置は、前記撮像装置の光軸の前記検査対象物の表面における正反射方向と、前記発光領域の中心における前記発光領域の法線とが一致するように、配置される、表面検査装置。 - 前記照明装置は、
一方向に又はマトリックス状に配列された点光源からなる光源と、
前記光源の投光方向前方に配置され、前記光源からの光を拡散して透過させる拡散部材と、
を有し、
前記拡散部材が、前記面状の発光領域となる、請求項1に記載の表面検査装置。 - 前記照明装置は、
光透過性を有する導光板と、
前記導光板の少なくとも1つの辺に沿って設けられた光源と、
を有し、
前記照明装置は、前記検査対象物と前記撮像装置の間に配置されており、
前記導光板が、前記面状の発光領域となる、請求項1に記載の表面検査装置。 - 前記検査対象物は、表面に電気めっき処理が施された鋼板であり、
前記撮像装置は、前記拡散光に対して10°以上の見込み角を有している、請求項1〜3のいずれか1項に記載の表面検査装置。 - 検査対象物の表面の欠陥を検査する表面検査方法において、
面状の発光領域を有する照明装置を用いて、前記面状の発光領域から前記検査対象物の表面に対して、拡散光を照射する拡散光照射ステップと、
撮像装置を用いて、前記照明装置が照明した前記検査対象物の表面を撮像して撮像画像を生成する撮像ステップと、
前記撮像画像に基づいて、前記検査対象物の表面の欠陥の有無を判定する欠陥判定ステップと、
を有し、
前記照明装置は、前記撮像装置の光軸の前記検査対象物の表面における正反射方向と、前記発光領域の中心における前記発光領域の法線とが一致するように、配置される、表面検査方法。 - 前記撮像装置の撮像位置における前記拡散光の見込み角を変化させた場合の、前記撮像画像中におけるSN比の変化に基づいて、前記見込み角を決定する、請求項5に記載の表面検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020083765A JP7448808B2 (ja) | 2020-05-12 | 2020-05-12 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020083765A JP7448808B2 (ja) | 2020-05-12 | 2020-05-12 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021179331A true JP2021179331A (ja) | 2021-11-18 |
JP7448808B2 JP7448808B2 (ja) | 2024-03-13 |
Family
ID=78511205
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020083765A Active JP7448808B2 (ja) | 2020-05-12 | 2020-05-12 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7448808B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024084782A1 (ja) * | 2022-10-17 | 2024-04-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置、検査装置、及び画像取得方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3932812B2 (ja) | 2001-02-20 | 2007-06-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 帯状金属処理面の検査装置 |
JP5323320B2 (ja) | 2006-07-19 | 2013-10-23 | 有限会社シマテック | 表面検査装置 |
JP2015114175A (ja) | 2013-12-10 | 2015-06-22 | リコーエレメックス株式会社 | 検査装置および検査方法 |
JP6310372B2 (ja) | 2014-09-24 | 2018-04-11 | 富士フイルム株式会社 | 検査装置 |
-
2020
- 2020-05-12 JP JP2020083765A patent/JP7448808B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024084782A1 (ja) * | 2022-10-17 | 2024-04-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置、検査装置、及び画像取得方法 |
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JP7448808B2 (ja) | 2024-03-13 |
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