JP2001176122A - 光ヘッド装置 - Google Patents
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1372—Lenses
- G11B2007/13725—Catadioptric lenses, i.e. having at least one internal reflective surface
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高い周波数応答性能を有した光量モニター
と、半導体レーザの非点格差補正を、部品点数を少なく
簡素な構成で実現すること。 【解決手段】半導体レーザ光源１０１を出射した光のう
ち、外周側の光は光反射素子１０７によって光半導体レ
ーザ光源１０１の近傍に形成された前光モニター用光検
出器１０３に入射される。さらに、光反射素子の反射球
面はアナモフィックに形成されているため、光検出器上
では焦点になることはなく適正な大きさに集光されるの
で、高い周波数応答性能を有することができる。また光
反射素子１０７は、光半導体レーザ光源１０１の非点格
差を相殺するように、所定角度傾斜させて設置してい
る。また、光検出器１０３は、光反射素子１０７の傾き
によって反射光１０８が曲げられる方向に設置してお
り、光反射素子１０７の調整時の平行移動量を少なくす
るようになっている。
と、半導体レーザの非点格差補正を、部品点数を少なく
簡素な構成で実現すること。 【解決手段】半導体レーザ光源１０１を出射した光のう
ち、外周側の光は光反射素子１０７によって光半導体レ
ーザ光源１０１の近傍に形成された前光モニター用光検
出器１０３に入射される。さらに、光反射素子の反射球
面はアナモフィックに形成されているため、光検出器上
では焦点になることはなく適正な大きさに集光されるの
で、高い周波数応答性能を有することができる。また光
反射素子１０７は、光半導体レーザ光源１０１の非点格
差を相殺するように、所定角度傾斜させて設置してい
る。また、光検出器１０３は、光反射素子１０７の傾き
によって反射光１０８が曲げられる方向に設置してお
り、光反射素子１０７の調整時の平行移動量を少なくす
るようになっている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学式情報記録媒
体の記録または再生を行う光ヘッド装置に関するもので
ある。
体の記録または再生を行う光ヘッド装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】一般に書き換え型の光ディスクにおいて
信号の記録品質を確保するためには、ディスク記録面へ
の入射光量のモニターを高精度に行わなくてはならな
い。そのため、再生専用の光ヘッドで用いるようなレー
ザチップ後端面から出射する光で光量モニターする方式
では精度が良くないため、レーザ前端面より出射した光
（以降これを前光とよぶ）で光量モニターする必要があ
る。
信号の記録品質を確保するためには、ディスク記録面へ
の入射光量のモニターを高精度に行わなくてはならな
い。そのため、再生専用の光ヘッドで用いるようなレー
ザチップ後端面から出射する光で光量モニターする方式
では精度が良くないため、レーザ前端面より出射した光
（以降これを前光とよぶ）で光量モニターする必要があ
る。
【０００３】他方、大容量情報メモリとして光ディスク
が注目を集めている中で、光ディスクの記録再生に対す
る高速化の要望に光ヘッド装置が対処する必要が生じて
きた。そのためには半導体レーザ光源の変調を高速化す
る必要があり、それに伴い、前記前光モニターの応答性
も良くする必要がでてきた。
が注目を集めている中で、光ディスクの記録再生に対す
る高速化の要望に光ヘッド装置が対処する必要が生じて
きた。そのためには半導体レーザ光源の変調を高速化す
る必要があり、それに伴い、前記前光モニターの応答性
も良くする必要がでてきた。
【０００４】以下に従来の光ピックアップについて図面
を参照しながら説明する。図１４は従来の形態における
光ヘッド装置の構成概略図の一例を示している。半導体
レーザ光源８０１より出射された発散光８０２は、光軸
に対して斜めに設置された平行平板８０３を透過しコリ
メートレンズ８０４により平行光８０５に変換される。
を参照しながら説明する。図１４は従来の形態における
光ヘッド装置の構成概略図の一例を示している。半導体
レーザ光源８０１より出射された発散光８０２は、光軸
に対して斜めに設置された平行平板８０３を透過しコリ
メートレンズ８０４により平行光８０５に変換される。
【０００５】この平行光８０５は、偏光ビームスプリッ
タ８０６により一部は反射され、光検出器８０９に入射
する。また平行光８０５の大部分の光８１０は、偏光ビ
ームスプリッタ８０６を透過し、１／４波長板８１１に
より円偏光の光に変換された後、アクチュエータ８１２
に搭載された対物レンズ８１３により光ディスク８１４
に集光される。
タ８０６により一部は反射され、光検出器８０９に入射
する。また平行光８０５の大部分の光８１０は、偏光ビ
ームスプリッタ８０６を透過し、１／４波長板８１１に
より円偏光の光に変換された後、アクチュエータ８１２
に搭載された対物レンズ８１３により光ディスク８１４
に集光される。
【０００６】光ディスク８１４を反射した光は対物レン
ズ８１３を経て、１／４波長板８１１により半導体レー
ザ光源８０１の出射光の偏波面と直交する直線偏光の光
に変換され、偏光ビームスプリッタ８０６に入射され
る。
ズ８１３を経て、１／４波長板８１１により半導体レー
ザ光源８０１の出射光の偏波面と直交する直線偏光の光
に変換され、偏光ビームスプリッタ８０６に入射され
る。
【０００７】偏光ビームスプリッタ８０６に入射した光
は往路と偏波面が直交するため偏光ビームスプリッタ８
０６で反射され、ホログラム素子８１５によって回折さ
れ、入射光軸を対称軸とする＋１次回折光８１７，−１
次回折光８１８に分岐された後、検出レンズ８１７によ
って集光させられ、それぞれ信号検出器８２０，８２１
に入射しフォーカス、トラッキングなどの制御信号およ
びＲＦ信号などの検出をおこなう。
は往路と偏波面が直交するため偏光ビームスプリッタ８
０６で反射され、ホログラム素子８１５によって回折さ
れ、入射光軸を対称軸とする＋１次回折光８１７，−１
次回折光８１８に分岐された後、検出レンズ８１７によ
って集光させられ、それぞれ信号検出器８２０，８２１
に入射しフォーカス、トラッキングなどの制御信号およ
びＲＦ信号などの検出をおこなう。
【０００８】一方、偏光ビームスプリッタ８０６で反射
された光を検出する光検出器８０９は、半導体レーザ光
源８０１の出力光量モニタ−として作用する。
された光を検出する光検出器８０９は、半導体レーザ光
源８０１の出力光量モニタ−として作用する。
【０００９】ここで半導体レーザ光源８０１とコリメー
トレンズ８０４の間に、平行平板８０３を入射光軸に対
して斜めに設置する理由について説明する。一般に光ヘ
ッド装置の光源に用いられる半導体レーザは、光学特性
の観点から見ると、図１５に示すように、半導体レーザ
素子９０１の発振光のモードウエストが、半導体の接合
面（Ｘ−Ｚ軸面）内とこれに垂直な面（Ｙ−Ｚ面）内と
では異なっている。
トレンズ８０４の間に、平行平板８０３を入射光軸に対
して斜めに設置する理由について説明する。一般に光ヘ
ッド装置の光源に用いられる半導体レーザは、光学特性
の観点から見ると、図１５に示すように、半導体レーザ
素子９０１の発振光のモードウエストが、半導体の接合
面（Ｘ−Ｚ軸面）内とこれに垂直な面（Ｙ−Ｚ面）内と
では異なっている。
【００１０】すなわち、垂直面（Ｙ−Ｚ軸面）内では鏡
面９０２に一致する点であるのに対して、接合面（Ｘ−
Ｚ軸面）内では、半導体レーザ素子９０１の活性層９０
３、すなわち鏡面９０２より内方の共振器内に入った点
となる。
面９０２に一致する点であるのに対して、接合面（Ｘ−
Ｚ軸面）内では、半導体レーザ素子９０１の活性層９０
３、すなわち鏡面９０２より内方の共振器内に入った点
となる。
【００１１】したがって、接合面（Ｘ−Ｚ軸面）内とこ
れに垂直な面（Ｙ−Ｚ軸面）内とでは発振光の収束点で
異なり、光学上でいわれる非点格差９０４が発生する。
れに垂直な面（Ｙ−Ｚ軸面）内とでは発振光の収束点で
異なり、光学上でいわれる非点格差９０４が発生する。
【００１２】非点格差が生じるとビームスポットが歪
み、扁平な縦長もしくは横長なスポットとなる。そのた
め、ビームスポットが光ディスクの互いに隣接する記録
トラック間にかかるようになり、信号特性が劣化すると
いう問題点が生じる。
み、扁平な縦長もしくは横長なスポットとなる。そのた
め、ビームスポットが光ディスクの互いに隣接する記録
トラック間にかかるようになり、信号特性が劣化すると
いう問題点が生じる。
【００１３】そこで図１４において、半導体レーザ８０
１から出射された光ビームが有する非点収差を補正する
ために、平行平板８０３を所定角度傾斜して逆方向に設
置する。
１から出射された光ビームが有する非点収差を補正する
ために、平行平板８０３を所定角度傾斜して逆方向に設
置する。
【００１４】また、このような光ビームが有する非点収
差を補正する他の方法として、同じくレーザ光の光路に
シリンドリカルレンズを挿入して光スポットの非点収差
を相殺することも提案されている。
差を補正する他の方法として、同じくレーザ光の光路に
シリンドリカルレンズを挿入して光スポットの非点収差
を相殺することも提案されている。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の光ヘ
ッド装置において次の問題点があった。
ッド装置において次の問題点があった。
【００１６】一般に書き換え型の光ディスクに信号を記
録する場合、ディスク上での光パワーを十分に確保する
必要があり、したがって光ヘッドの光利用効率を確保す
る必要がある。
録する場合、ディスク上での光パワーを十分に確保する
必要があり、したがって光ヘッドの光利用効率を確保す
る必要がある。
【００１７】しかし、上記のような従来例の構成ではビ
ーム整形を行っていないため、対物レンズの設計の都合
上外周側の光を捨てている分、光量損失がある。
ーム整形を行っていないため、対物レンズの設計の都合
上外周側の光を捨てている分、光量損失がある。
【００１８】さらに、有効開口内のビームの一部を反射
して光検出器８０９で光量モニターを行っているため、
さらに損失が大きくなってしまう。これを防ぐために光
量モニターに導く光の光量を下げ、有効開口内の光量を
高めるとモニター信号のＳ／Ｎが悪くなってしまう。
して光検出器８０９で光量モニターを行っているため、
さらに損失が大きくなってしまう。これを防ぐために光
量モニターに導く光の光量を下げ、有効開口内の光量を
高めるとモニター信号のＳ／Ｎが悪くなってしまう。
【００１９】また、レーザの変調を高速にするためには
前光モニター自体の応答性を上げる必要がある。このた
め、光検出の応答周波数特性を上げるために光検出器の
受光面積を小さくしてビームを集光入力するのが望まし
い。
前光モニター自体の応答性を上げる必要がある。このた
め、光検出の応答周波数特性を上げるために光検出器の
受光面積を小さくしてビームを集光入力するのが望まし
い。
【００２０】しかし、一般に光検出器上に過度に集光し
た光を当てると、検出器面の単位面積あたりの光強度が
高くなるため、検出器の受光面のキャリア密度が上が
り、これが飽和することでキャリアの移動速度が遅くな
ってしまう恐れがある。すなわち、検出器上にビームを
集光しすぎると、光検出の応答周波数特性が悪くなると
いう問題があった。
た光を当てると、検出器面の単位面積あたりの光強度が
高くなるため、検出器の受光面のキャリア密度が上が
り、これが飽和することでキャリアの移動速度が遅くな
ってしまう恐れがある。すなわち、検出器上にビームを
集光しすぎると、光検出の応答周波数特性が悪くなると
いう問題があった。
【００２１】さらに、上記した半導体レーザ素子の非点
格差に起因して生じる光ビームの非点収差を補正するい
ずれもの方法が、透明な平行平板やシリンドリカルレン
ズ等の補正用の専用部品を別途設けなければならず、そ
のために、部品点数が増加しコストアップを余儀なくさ
れるという新たな問題点が発生していた。
格差に起因して生じる光ビームの非点収差を補正するい
ずれもの方法が、透明な平行平板やシリンドリカルレン
ズ等の補正用の専用部品を別途設けなければならず、そ
のために、部品点数が増加しコストアップを余儀なくさ
れるという新たな問題点が発生していた。
【００２２】さらに、ＲＦ信号やフォーカス、トラッキ
ング制御信号を行うための光検出器と、レーザ光量モニ
ター用の光検出器とが別々であるため部品点数も多くな
り、光学系も複雑化するので光ヘッドの小型化が困難で
あった。
ング制御信号を行うための光検出器と、レーザ光量モニ
ター用の光検出器とが別々であるため部品点数も多くな
り、光学系も複雑化するので光ヘッドの小型化が困難で
あった。
【００２３】本発明は、このような従来の光ヘッド装置
の各種課題を考慮し、光利用効率の高い光ヘッド装置を
提供することを目的とする。
の各種課題を考慮し、光利用効率の高い光ヘッド装置を
提供することを目的とする。
【００２４】また、本発明は、コンパクトな光ヘッド装
置を提供することを目的とする。
置を提供することを目的とする。
【００２５】また、本発明は、光検出の応答周波数特性
がよい光ヘッド装置を提供することを目的とする。
がよい光ヘッド装置を提供することを目的とする。
【００２６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、第１の本発明（請求項１に対応）は、半導体レーザ
光源と、前記半導体レーザ光源からの光の少なくとも一
部を受光する光検出器と、前記半導体レーザ光源からの
光の周辺の光を反射させ、前記光検出器に集光させる周
辺部分（２０３）、及び、前記半導体レーザ光源からの
光の中央の光を透過する中央部分（２０２）を有する光
反射素子（１０７）と、前記光反射素子を透過した光を
光ディスク上に集光する集光レンズとを備えた光ヘッド
装置であって、前記光反射素子の中央部分のそれぞれの
面は平面の形状をし、前記光反射素子の周辺部分の少な
くとも一面が球面もしくは非球面の形状をしていること
を特徴とする光ヘッド装置である。
に、第１の本発明（請求項１に対応）は、半導体レーザ
光源と、前記半導体レーザ光源からの光の少なくとも一
部を受光する光検出器と、前記半導体レーザ光源からの
光の周辺の光を反射させ、前記光検出器に集光させる周
辺部分（２０３）、及び、前記半導体レーザ光源からの
光の中央の光を透過する中央部分（２０２）を有する光
反射素子（１０７）と、前記光反射素子を透過した光を
光ディスク上に集光する集光レンズとを備えた光ヘッド
装置であって、前記光反射素子の中央部分のそれぞれの
面は平面の形状をし、前記光反射素子の周辺部分の少な
くとも一面が球面もしくは非球面の形状をしていること
を特徴とする光ヘッド装置である。
【００２７】第２の本発明（請求項２に対応）は、前記
光反射素子の周辺部分の集光機能に非点格差を持たせた
ことを特徴とする第１の本発明の光ヘッド装置である。
光反射素子の周辺部分の集光機能に非点格差を持たせた
ことを特徴とする第１の本発明の光ヘッド装置である。
【００２８】第３の本発明（請求項３に対応）は、前記
光反射素子の周辺部分の集光機能に球面収差を持たせた
ことを特徴とする第１又は２の本発明の光ヘッド装置で
ある。
光反射素子の周辺部分の集光機能に球面収差を持たせた
ことを特徴とする第１又は２の本発明の光ヘッド装置で
ある。
【００２９】第４の本発明（請求項４に対応）は、前記
光反射素子の中央部分の両面は平行であり、それらの面
は、記半導体レーザ光源からの光の光軸と直交する方向
に対して、所定の角度だけ傾斜して配置されており、前
記光反射素子の中央部分の傾斜配置によって生ずる非点
収差により、前記半導体レーザ光源の持つ非点格差が補
正されていることを特徴とする第１、２又は３の本発明
の光ヘッド装置である。
光反射素子の中央部分の両面は平行であり、それらの面
は、記半導体レーザ光源からの光の光軸と直交する方向
に対して、所定の角度だけ傾斜して配置されており、前
記光反射素子の中央部分の傾斜配置によって生ずる非点
収差により、前記半導体レーザ光源の持つ非点格差が補
正されていることを特徴とする第１、２又は３の本発明
の光ヘッド装置である。
【００３０】第５の本発明（請求項５に対応）は、前記
光反射素子の中央部分の一方の面が、他方の面に対して
非平行であることを特徴とする第１，２、又は３の本発
明の光ヘッド装置である。
光反射素子の中央部分の一方の面が、他方の面に対して
非平行であることを特徴とする第１，２、又は３の本発
明の光ヘッド装置である。
【００３１】第６の本発明（請求項６に対応）は、前記
光反射素子の周辺部分からの反射光の光軸は、前記半導
体レーザ光源からの光の光軸に対して傾いていることを
特徴とする第１から３のいずれかの本発明の光ヘッド装
置である。
光反射素子の周辺部分からの反射光の光軸は、前記半導
体レーザ光源からの光の光軸に対して傾いていることを
特徴とする第１から３のいずれかの本発明の光ヘッド装
置である。
【００３２】第７の本発明（請求項７に対応）は、半導
体レーザ光源と、前記半導体レーザ光源からの光の少な
くとも一部を受光する光検出器と、前記半導体レーザ光
源からの光の周辺部の光を反射させ、前記光検出器に集
光する機能及び、前記半導体レーザ光源からの光の中央
部の光を透過する機能を有する光反射素子と、前記光反
射素子を透過した光を光ディスク上に集光する集光レン
ズとを備えた光ヘッド装置であって、前記半導体レーザ
光源と前記光検出器とが一つのパッケージ内に形成され
ていることを特徴とする光ヘッド装置である。
体レーザ光源と、前記半導体レーザ光源からの光の少な
くとも一部を受光する光検出器と、前記半導体レーザ光
源からの光の周辺部の光を反射させ、前記光検出器に集
光する機能及び、前記半導体レーザ光源からの光の中央
部の光を透過する機能を有する光反射素子と、前記光反
射素子を透過した光を光ディスク上に集光する集光レン
ズとを備えた光ヘッド装置であって、前記半導体レーザ
光源と前記光検出器とが一つのパッケージ内に形成され
ていることを特徴とする光ヘッド装置である。
【００３３】第８の本発明（請求項８に対応）は、半導
体レーザ光源と、前記半導体レーザ光源に隣接して設け
られた複数の光検出器と、前記半導体レーザ光源からの
光の周辺の光を反射回折させ、前記複数の光検出器の一
つに集光させる周辺部及び、前記半導体レーザ光源から
の光の中央の光を透過する中央部分を有する反射型ホロ
グラム素子と、前記反射型ホログラム素子の中央部分を
透過した光を光ディスク上に集光する集光レンズとを備
えた光ヘッド装置であって、前記反射回折してきた光を
受光する光検出器は、前記半導体レーザ光源を基準とし
て、前記半導体レーザ光源から出射される光の楕円状フ
ァーフィールドパターン（far field pattern）の楕円
長軸方向と楕円短軸方向のうち、楕円長軸方向により近
い方向に、配置され、前記光ディスクからの信号光を検
出する光検出器は、前記半導体レーザ光源を基準とし
て、前記半導体レーザ光源から出射される光の楕円状フ
ァーフィールドパターンの楕円長軸方向と楕円短軸方向
のうち、楕円短軸方向により近い方向に、配置されてい
ることを特徴とする光ヘッド装置である。
体レーザ光源と、前記半導体レーザ光源に隣接して設け
られた複数の光検出器と、前記半導体レーザ光源からの
光の周辺の光を反射回折させ、前記複数の光検出器の一
つに集光させる周辺部及び、前記半導体レーザ光源から
の光の中央の光を透過する中央部分を有する反射型ホロ
グラム素子と、前記反射型ホログラム素子の中央部分を
透過した光を光ディスク上に集光する集光レンズとを備
えた光ヘッド装置であって、前記反射回折してきた光を
受光する光検出器は、前記半導体レーザ光源を基準とし
て、前記半導体レーザ光源から出射される光の楕円状フ
ァーフィールドパターン（far field pattern）の楕円
長軸方向と楕円短軸方向のうち、楕円長軸方向により近
い方向に、配置され、前記光ディスクからの信号光を検
出する光検出器は、前記半導体レーザ光源を基準とし
て、前記半導体レーザ光源から出射される光の楕円状フ
ァーフィールドパターンの楕円長軸方向と楕円短軸方向
のうち、楕円短軸方向により近い方向に、配置されてい
ることを特徴とする光ヘッド装置である。
【００３４】第９の本発明（請求項９に対応）は、前記
反射型ホログラム素子は、前記半導体レーザ光源から出
射される光の楕円状ファーフィールドパターンの楕円長
軸方向の光を楕円短軸方向の光より多く反射回折するこ
とを特徴とする第８の本発明の光ヘッド装置である。
反射型ホログラム素子は、前記半導体レーザ光源から出
射される光の楕円状ファーフィールドパターンの楕円長
軸方向の光を楕円短軸方向の光より多く反射回折するこ
とを特徴とする第８の本発明の光ヘッド装置である。
【００３５】第１０の本発明（請求項１０に対応）は、
前記反射型ホログラム素子のホログラム形成領域が、前
記半導体レーザの楕円状ファーフィールドパターン軸中
心に対して楕円長軸方向へより広く形成されていること
を特徴とする第８又は９の本発明の光ヘッド装置であ
る。
前記反射型ホログラム素子のホログラム形成領域が、前
記半導体レーザの楕円状ファーフィールドパターン軸中
心に対して楕円長軸方向へより広く形成されていること
を特徴とする第８又は９の本発明の光ヘッド装置であ
る。
【００３６】第１１の本発明（請求項１１に対応）は、
前記反射型ホログラム素子の周辺部分の集光機能に非点
格差を持たせたことを特徴とする第８から１０のいずれ
かの本発明の光ヘッド装置である。
前記反射型ホログラム素子の周辺部分の集光機能に非点
格差を持たせたことを特徴とする第８から１０のいずれ
かの本発明の光ヘッド装置である。
【００３７】第１２の本発明（請求項１２に対応）は、
前記反射型ホログラム素子の周辺部分の集光機能に球面
収差を持たせたことを特徴とする第８から１１のいずれ
かの本発明の光ヘッド装置である。
前記反射型ホログラム素子の周辺部分の集光機能に球面
収差を持たせたことを特徴とする第８から１１のいずれ
かの本発明の光ヘッド装置である。
【００３８】第１３の本発明（請求項１３に対応）は、
前記反射型ホログラム素子の中央部分の両面は平行であ
り、それらの面は、記半導体レーザ光源からの光の光軸
と直交する方向に対して、所定の角度だけ傾斜して配置
されており、前記反射型ホログラム素子の中央部分の傾
斜配置によって生ずる非点収差により、前記半導体レー
ザ光源の持つ非点格差が補正されていることを特徴とす
る第８から１２のいずれかの本発明の光ヘッド装置であ
る。
前記反射型ホログラム素子の中央部分の両面は平行であ
り、それらの面は、記半導体レーザ光源からの光の光軸
と直交する方向に対して、所定の角度だけ傾斜して配置
されており、前記反射型ホログラム素子の中央部分の傾
斜配置によって生ずる非点収差により、前記半導体レー
ザ光源の持つ非点格差が補正されていることを特徴とす
る第８から１２のいずれかの本発明の光ヘッド装置であ
る。
【００３９】第１４の本発明（請求項１４に対応）は、
前記反射型ホログラム素子の中央部分の一方の面が、他
方の面に対して非平行であることを特徴とする第９から
１２のいずれかの本発明の光ヘッド装置である。
前記反射型ホログラム素子の中央部分の一方の面が、他
方の面に対して非平行であることを特徴とする第９から
１２のいずれかの本発明の光ヘッド装置である。
【００４０】第１５の本発明（請求項１５）は、前記反
射型ホログラム素子の周辺部分からの反射回折光の光軸
は、前記半導体レーザ光源からの光の光軸に対して傾い
ていることを特徴とする第８から１２のいずれかの本発
明の光ヘッド装置である。
射型ホログラム素子の周辺部分からの反射回折光の光軸
は、前記半導体レーザ光源からの光の光軸に対して傾い
ていることを特徴とする第８から１２のいずれかの本発
明の光ヘッド装置である。
【００４１】第１６の本発明（請求項１６に対応）は、
前記半導体レーザ光源と、それに隣接して設けられた複
数の光検出器は一つのパッケージ内に形成されているこ
とを特徴とする第８の本発明の光ヘッド装置である。
前記半導体レーザ光源と、それに隣接して設けられた複
数の光検出器は一つのパッケージ内に形成されているこ
とを特徴とする第８の本発明の光ヘッド装置である。
【００４２】第１７の本発明（請求項１７に対応）は、
前記レーザ光源からの光は透過し、前記光ディスクによ
り反射された光は回折する偏光性ホログラム素子をさら
に備え、前記偏光性ホログラム素子が対物レンズと共に
対物レンズアクチュエータの可動子に搭載されており、
前記反射型ホログラム素子の中央部分の光透過領域が、
前記対物レンズアクチュエータのトラッキング動作方向
に長軸を有する略楕円形状をなしていることを特徴とす
る第８の本発明載の光ヘッド装置である。
前記レーザ光源からの光は透過し、前記光ディスクによ
り反射された光は回折する偏光性ホログラム素子をさら
に備え、前記偏光性ホログラム素子が対物レンズと共に
対物レンズアクチュエータの可動子に搭載されており、
前記反射型ホログラム素子の中央部分の光透過領域が、
前記対物レンズアクチュエータのトラッキング動作方向
に長軸を有する略楕円形状をなしていることを特徴とす
る第８の本発明載の光ヘッド装置である。
【００４３】第１８の本発明（請求項１８に対応）は、
前記レーザ光源からの光は透過し、前記光ディスクによ
り反射された光は回折する偏光性ホログラム素子をさら
に備え、前記偏光性ホログラム素子と、前記反射型ホロ
グラム素子とが一体化されていることを特徴とする第８
の本発明の光ヘッド装置である。
前記レーザ光源からの光は透過し、前記光ディスクによ
り反射された光は回折する偏光性ホログラム素子をさら
に備え、前記偏光性ホログラム素子と、前記反射型ホロ
グラム素子とが一体化されていることを特徴とする第８
の本発明の光ヘッド装置である。
【００４４】第１９の本発明（請求項１９に対応）は、
前記反射型ホログラム素子による集光点が室温において
前記光検出器の受光素子の面と離れており、温度変化に
よる波長変動でその集光点が移動し、前記光ヘッド装置
の使用温度範囲の中間点近傍で前記集光点が前記受光素
子の面に一致することを特徴とする第８の本発明の光ヘ
ッド装置である。
前記反射型ホログラム素子による集光点が室温において
前記光検出器の受光素子の面と離れており、温度変化に
よる波長変動でその集光点が移動し、前記光ヘッド装置
の使用温度範囲の中間点近傍で前記集光点が前記受光素
子の面に一致することを特徴とする第８の本発明の光ヘ
ッド装置である。
【００４５】第２０の本発明（請求項２０に対応）は、
前記反射型ホログラム素子のホログラムの形成領域が、
前記半導体レーザ光源からの光の光軸を中心として非点
対称に形成されていることを特徴とする第８の本発明の
光ヘッド装置である。
前記反射型ホログラム素子のホログラムの形成領域が、
前記半導体レーザ光源からの光の光軸を中心として非点
対称に形成されていることを特徴とする第８の本発明の
光ヘッド装置である。
【００４６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１から図７を用いて説明する。なお、従来例と同
じ働きをするものについては詳細な説明は省略する。
て、図１から図７を用いて説明する。なお、従来例と同
じ働きをするものについては詳細な説明は省略する。
【００４７】図１は本発明の実施の形態における光ヘッ
ド装置の概略構成を示し、図２はその構成として用いら
れている光反射素子およびレーザと光検出器の配置を示
す図である。図１の構成において用いられている光反射
素子１０７はガラスで作られており、図２に示すように
レーザ光軸２０１を中心に中心部（本発明の中央部分に
対応する）は平面に形成された透過面２０２があり、そ
の外周側の輪帯状領域（本発明の周辺部分に対応する）
に非球面に形成されたアルミ蒸着面２０３がある。
ド装置の概略構成を示し、図２はその構成として用いら
れている光反射素子およびレーザと光検出器の配置を示
す図である。図１の構成において用いられている光反射
素子１０７はガラスで作られており、図２に示すように
レーザ光軸２０１を中心に中心部（本発明の中央部分に
対応する）は平面に形成された透過面２０２があり、そ
の外周側の輪帯状領域（本発明の周辺部分に対応する）
に非球面に形成されたアルミ蒸着面２０３がある。
【００４８】図１の半導体レーザ光源１０１を出射した
光のうち、光の周辺部の光は光反射素子１０７によって
反射集光され、半導体レーザ光源１０１の近傍に形成さ
れた前光モニター用光検出器１０３に集光される。ま
た、半導体レーザ光源１０１と前光モニター用光検出器
１０３は、光集積モジュール１０９に集積化され、小型
軽量化を行っている。
光のうち、光の周辺部の光は光反射素子１０７によって
反射集光され、半導体レーザ光源１０１の近傍に形成さ
れた前光モニター用光検出器１０３に集光される。ま
た、半導体レーザ光源１０１と前光モニター用光検出器
１０３は、光集積モジュール１０９に集積化され、小型
軽量化を行っている。
【００４９】一方、光の中央部の光についてはコリメー
トレンズ１０４により平行光になり、偏光ビームスプリ
ッタ１０６を透過したのちアクチュエータ１１２に搭載
された対物レンズ１１３により光ディスク面１１４上に
集光される。
トレンズ１０４により平行光になり、偏光ビームスプリ
ッタ１０６を透過したのちアクチュエータ１１２に搭載
された対物レンズ１１３により光ディスク面１１４上に
集光される。
【００５０】光ディスク面１１４で反射した光は対物レ
ンズ１１３を経て１／４波長板１１１により半導体レー
ザ出射光の偏波面と直交する直線偏光の光に変換され偏
光ビームスプリッタ１０６に入射される。
ンズ１１３を経て１／４波長板１１１により半導体レー
ザ出射光の偏波面と直交する直線偏光の光に変換され偏
光ビームスプリッタ１０６に入射される。
【００５１】偏光ビームスプリッタ１０６に入射した光
は往路と偏波面が直交するため偏光ビームスプリッタ１
０６で反射され、ホログラム素子１１５によって回折さ
れる。その回折光は、入射光軸を対称軸とする＋１次回
折光１１７，−１次回折光１１８に分岐され、検出レン
ズ１１６によって集光され、それぞれ信号検出器１１
９，１２０に入射され、フォーカス、トラッキングなど
の制御信号およびＲＦ信号などに利用される。
は往路と偏波面が直交するため偏光ビームスプリッタ１
０６で反射され、ホログラム素子１１５によって回折さ
れる。その回折光は、入射光軸を対称軸とする＋１次回
折光１１７，−１次回折光１１８に分岐され、検出レン
ズ１１６によって集光され、それぞれ信号検出器１１
９，１２０に入射され、フォーカス、トラッキングなど
の制御信号およびＲＦ信号などに利用される。
【００５２】また、半導体レーザ１０１から出射された
光ビームが有する非点収差は、光反射素子１０７を所定
角度傾斜することにより補正する。
光ビームが有する非点収差は、光反射素子１０７を所定
角度傾斜することにより補正する。
【００５３】また、図１に示すように、光反射素子１０
７の傾きによって、反射光１０８の光軸は、半導体レー
ザ光源からの光の光軸に対して傾斜している。そして、
その反射光１０８の方向に光検出器１０３が設置されて
いる。ところで、製造時には、光検出器１０３に反射光
１０８が入射するように調整する必要がある。そのため
に、光反射素子１０８の反射球面の中心軸を図１の矢印
方向に適宜平行移動して調整する必要があるが、上記光
検出器１０３の傾斜によって、この平行移動量を、傾斜
しない場合に比べて少なくできる。
７の傾きによって、反射光１０８の光軸は、半導体レー
ザ光源からの光の光軸に対して傾斜している。そして、
その反射光１０８の方向に光検出器１０３が設置されて
いる。ところで、製造時には、光検出器１０３に反射光
１０８が入射するように調整する必要がある。そのため
に、光反射素子１０８の反射球面の中心軸を図１の矢印
方向に適宜平行移動して調整する必要があるが、上記光
検出器１０３の傾斜によって、この平行移動量を、傾斜
しない場合に比べて少なくできる。
【００５４】また、このように調整のための平行移動量
を少なくできるということは、光反射素子１０７の中央
平面部の面積を小さくすることができ、より周辺部の光
反射面を大きく形成し、より多くの反射光量を取り込め
ることができる。つまり、調整の際の平行移動量が大き
いと、光反射素子１０７の中央平面部は前もって余裕を
もって大きく設計しておく必要があるからである。
を少なくできるということは、光反射素子１０７の中央
平面部の面積を小さくすることができ、より周辺部の光
反射面を大きく形成し、より多くの反射光量を取り込め
ることができる。つまり、調整の際の平行移動量が大き
いと、光反射素子１０７の中央平面部は前もって余裕を
もって大きく設計しておく必要があるからである。
【００５５】また、傾斜によって、反射球面の反射角を
より小さく設計することができるため、光反射素子１０
７の反射面は曲率の小さい球面となり、より成型しやす
くなる。
より小さく設計することができるため、光反射素子１０
７の反射面は曲率の小さい球面となり、より成型しやす
くなる。
【００５６】さらに、光反射素子１０７の周辺部分を、
アナモフィックな非球面に形成した場合は、図２に示す
ように、光反射素子１０７によって反射集光される焦点
が、図２のｘ−z軸面とこれに垂直な面であるｙ−ｚ軸
面では異なっている。すなわち、光検出器１０３の表面
上ではスポットの焦点は図３に示すように非点格差をも
つことになる。そこで、各光学部品の取り付け誤差によ
りデフォーカスを生じても、このことにより、検出器面
の単位面積あたりの光強度が強くなく、キャリアが集中
することによって生じる周波数応答性の劣化を防ぐこと
ができる。
アナモフィックな非球面に形成した場合は、図２に示す
ように、光反射素子１０７によって反射集光される焦点
が、図２のｘ−z軸面とこれに垂直な面であるｙ−ｚ軸
面では異なっている。すなわち、光検出器１０３の表面
上ではスポットの焦点は図３に示すように非点格差をも
つことになる。そこで、各光学部品の取り付け誤差によ
りデフォーカスを生じても、このことにより、検出器面
の単位面積あたりの光強度が強くなく、キャリアが集中
することによって生じる周波数応答性の劣化を防ぐこと
ができる。
【００５７】図４は図１の実施形態において、反射収束
光に非点格差を持たした光反射素子１０７の代わりに、
反射収束光に球面収差を持たした光反射素子４０７を用
いた形態である。この場合、光検出器１０３の表面上で
はスポットの焦点は図５に示すように球面収差をもつこ
とになる。このことにより、各光学部品の取り付け誤差
によりデフォーカスを生じても、検出器面の単位面積あ
たりの光強度が球面収差のないスポットと比較して弱い
状態を保ち、キャリアが集中することによって生じる周
波数応答性の劣化をなくすことができる。
光に非点格差を持たした光反射素子１０７の代わりに、
反射収束光に球面収差を持たした光反射素子４０７を用
いた形態である。この場合、光検出器１０３の表面上で
はスポットの焦点は図５に示すように球面収差をもつこ
とになる。このことにより、各光学部品の取り付け誤差
によりデフォーカスを生じても、検出器面の単位面積あ
たりの光強度が球面収差のないスポットと比較して弱い
状態を保ち、キャリアが集中することによって生じる周
波数応答性の劣化をなくすことができる。
【００５８】図６は本発明の別の実施の形態における概
略図を示しである。図６の構成において用いられている
反射型ホログラム素子６０７は図７に示すようにレーザ
光軸７０１を中心とする周辺部の輪帯状領域（本発明の
周辺部分に対応する）に反射ホログラム面７０３が形成
されており、レーザ光軸７０１の近傍（本発明の中央部
分に対応する）に円形状に光透過領域７０２がある。
略図を示しである。図６の構成において用いられている
反射型ホログラム素子６０７は図７に示すようにレーザ
光軸７０１を中心とする周辺部の輪帯状領域（本発明の
周辺部分に対応する）に反射ホログラム面７０３が形成
されており、レーザ光軸７０１の近傍（本発明の中央部
分に対応する）に円形状に光透過領域７０２がある。
【００５９】図６において半導体レーザ光源１０１を出
射した光のうち、光の外周側の光は反射ホログラム６０
７により反射回折されるが、この反射型ホログラムはレ
ーザ光の入射光、入射位置に応じてそのピッチ、溝方向
が異なっており、反射回折光６０８は半導体レーザ光源
１０１の近傍に配置された光検出器１０３に集光入射す
る。
射した光のうち、光の外周側の光は反射ホログラム６０
７により反射回折されるが、この反射型ホログラムはレ
ーザ光の入射光、入射位置に応じてそのピッチ、溝方向
が異なっており、反射回折光６０８は半導体レーザ光源
１０１の近傍に配置された光検出器１０３に集光入射す
る。
【００６０】さらにこの反射型ホログラム素子６０７は
前記光反射素子１０７と同様に、非点格差を持つように
形成されていることから、スポットでは焦点とならず焦
線となる。これにより、各光学部品の取り付け誤差等に
よりデフォーカスを生じても、検出器面の単位面積あた
りの光強度が非点格差のないスポットと比較して弱い状
態を保ち、キャリアが集中することによって生じる周波
数応答性の劣化をなくすことができる。
前記光反射素子１０７と同様に、非点格差を持つように
形成されていることから、スポットでは焦点とならず焦
線となる。これにより、各光学部品の取り付け誤差等に
よりデフォーカスを生じても、検出器面の単位面積あた
りの光強度が非点格差のないスポットと比較して弱い状
態を保ち、キャリアが集中することによって生じる周波
数応答性の劣化をなくすことができる。
【００６１】さらに、図６において反射型ホログラム素
子６０７は、製造時調整のため、図中の矢印の方向に平
行移動することによって光検出器にその反射収束光を入
射させる必要がある。その際、図６に示すように、傾斜
させた反射型ホログラム素子６０７によって光が反射し
てくる方向に光検出器１０３を設置しておくことで、反
射型ホログラム素子６０７の調整のための平行移動量を
軽減することができる。
子６０７は、製造時調整のため、図中の矢印の方向に平
行移動することによって光検出器にその反射収束光を入
射させる必要がある。その際、図６に示すように、傾斜
させた反射型ホログラム素子６０７によって光が反射し
てくる方向に光検出器１０３を設置しておくことで、反
射型ホログラム素子６０７の調整のための平行移動量を
軽減することができる。
【００６２】このことにより、反射型ホログラム素子６
０７を傾斜させない場合に比べて、反射型ホログラム素
子６０７の回折角を小さく押さえることができ、反射型
ホログラム素子４０７のピッチが、広く設計することが
できるため、ホログラムの加工ピッチ限界に対して優度
を確保できる。
０７を傾斜させない場合に比べて、反射型ホログラム素
子６０７の回折角を小さく押さえることができ、反射型
ホログラム素子４０７のピッチが、広く設計することが
できるため、ホログラムの加工ピッチ限界に対して優度
を確保できる。
【００６３】なお、図６の実施の形態において、反射回
折光に非点格差を持たした反射ホログラム素子６０７の
代わりに、反射回折光に球面収差を持たした光反射素子
を用いた場合も図４の実施例の場合と同様な効果が得ら
れることはいうまでもない。
折光に非点格差を持たした反射ホログラム素子６０７の
代わりに、反射回折光に球面収差を持たした光反射素子
を用いた場合も図４の実施例の場合と同様な効果が得ら
れることはいうまでもない。
【００６４】図８（ａ）は本発明の別の実施の形態にお
ける光ヘッド装置の概略構成を示し、図８（ｂ）はその
構成として用いられている反射型ホログラム素子および
レーザと光検出器の配置を示す図である。
ける光ヘッド装置の概略構成を示し、図８（ｂ）はその
構成として用いられている反射型ホログラム素子および
レーザと光検出器の配置を示す図である。
【００６５】図８（ａ）の構成において用いられている
反射型ホログラム素子２には、図８（ｂ）に示すように
レーザ光軸１５を中心とする外周側の輪帯状領域に、反
射型ホログラム１０が形成されており、レーザ光軸１５
の近傍に円形状に光透過領域１１がある。
反射型ホログラム素子２には、図８（ｂ）に示すように
レーザ光軸１５を中心とする外周側の輪帯状領域に、反
射型ホログラム１０が形成されており、レーザ光軸１５
の近傍に円形状に光透過領域１１がある。
【００６６】図８（ａ）の半導体レーザー光源１を出射
した光のうち、光の外周側の光２２は反射型ホログラム
１０により反射回折されるが、この反射ホログラムはレ
ーザ光の入射角、入射位置に応じてそのピッチ、溝方向
が異なっており、反射回折光２３は半導体レーザ光源１
の近傍に形成された前光モニター用光検出器６に集光入
射する。
した光のうち、光の外周側の光２２は反射型ホログラム
１０により反射回折されるが、この反射ホログラムはレ
ーザ光の入射角、入射位置に応じてそのピッチ、溝方向
が異なっており、反射回折光２３は半導体レーザ光源１
の近傍に形成された前光モニター用光検出器６に集光入
射する。
【００６７】一方、半導体レーザ光源からの光のうち、
光の内周側の光については反射型ホログラム素子２を開
口制限されつつ透過し、偏光性ホログラム素子５，１／
４波長板２０を経てコリメートレンズ３により平行光に
なり、アクチュエータ９に搭載された対物レンズ４によ
り光ディスク面８上に集光される。
光の内周側の光については反射型ホログラム素子２を開
口制限されつつ透過し、偏光性ホログラム素子５，１／
４波長板２０を経てコリメートレンズ３により平行光に
なり、アクチュエータ９に搭載された対物レンズ４によ
り光ディスク面８上に集光される。
【００６８】光ディスク面８を反射した光は対物レンズ
４，コリメートレンズ３、１／４波長板２０、偏光性ホ
ログラム素子５を経て光が回折され、それぞれ、半導体
レーザ光源１に隣接して形成された、ＲＦ信号やフォー
カス、トラッキング制御信号などの信号検出用光検出器
７に入力され、信号検出を行う。
４，コリメートレンズ３、１／４波長板２０、偏光性ホ
ログラム素子５を経て光が回折され、それぞれ、半導体
レーザ光源１に隣接して形成された、ＲＦ信号やフォー
カス、トラッキング制御信号などの信号検出用光検出器
７に入力され、信号検出を行う。
【００６９】以上のような構成により元々使用していな
い外周側の光を前光モニター用に使用するため光ヘッド
の光利用効率を高めることができ、かつ半導体レーザ光
源１と信号検出用検出器７、前光モニター用検出器６を
すべて集積ユニット化することができ、光ヘッド装置の
部品点数を少なくすることができる。
い外周側の光を前光モニター用に使用するため光ヘッド
の光利用効率を高めることができ、かつ半導体レーザ光
源１と信号検出用検出器７、前光モニター用検出器６を
すべて集積ユニット化することができ、光ヘッド装置の
部品点数を少なくすることができる。
【００７０】さらに反射型ホログラム１０が集光作用を
有するためレンズなどの別の集光手段を用いずに光を小
さい面積の光検出器に集光入力でき、前光モニターの高
速応答性を確保しつつ光ヘッド装置の小型化、簡素化が
実現できる。
有するためレンズなどの別の集光手段を用いずに光を小
さい面積の光検出器に集光入力でき、前光モニターの高
速応答性を確保しつつ光ヘッド装置の小型化、簡素化が
実現できる。
【００７１】ここで図８（ｂ）に示すように、半導体レ
ーザ光源１、前光モニター用光検出器６、信号検出用光
検出器７は以下のように配置されている。
ーザ光源１、前光モニター用光検出器６、信号検出用光
検出器７は以下のように配置されている。
【００７２】すなわち、図８（ｂ）において破線で示す
ようなレーザ出射ファーフィールドパターン１２に対
し、その楕円長軸方向１３に近い方向に前光モニター用
光検出器６を配置し、楕円短軸方向１４に近い方向に光
ディスクからの信号検出用光検出器７を配置している。
ようなレーザ出射ファーフィールドパターン１２に対
し、その楕円長軸方向１３に近い方向に前光モニター用
光検出器６を配置し、楕円短軸方向１４に近い方向に光
ディスクからの信号検出用光検出器７を配置している。
【００７３】すなわち、前光モニター用光検出器６は、
半導体レーザ光源からの光の光軸を基準として、楕円長
軸方向と楕円短軸方向とのうち、楕円長軸方向により近
い方向に配置されている。また、信号検出用光検出器７
は、楕円短軸方向により近い方向に配置されている。た
とえば、それぞれ楕円長軸方向上、短軸方向上に配置さ
れていることが望ましい。
半導体レーザ光源からの光の光軸を基準として、楕円長
軸方向と楕円短軸方向とのうち、楕円長軸方向により近
い方向に配置されている。また、信号検出用光検出器７
は、楕円短軸方向により近い方向に配置されている。た
とえば、それぞれ楕円長軸方向上、短軸方向上に配置さ
れていることが望ましい。
【００７４】すなわち、そのように配置することによっ
て次のような効果がある。反射ホログラム１０により、
前光モニター用光検出器６の方向に回折する次数の光
と、その反対側に回折する次数の光と、０次回折光とが
発生するが、前光モニター用光検出器６の方向に回折す
る次数の光以外の不要な光の方向が、ファーフィールド
パターンの楕円長軸方向に進むため、光ディスクからの
信号検出用光検出器７にこれらの光が迷光として入射し
てしまうことがない。
て次のような効果がある。反射ホログラム１０により、
前光モニター用光検出器６の方向に回折する次数の光
と、その反対側に回折する次数の光と、０次回折光とが
発生するが、前光モニター用光検出器６の方向に回折す
る次数の光以外の不要な光の方向が、ファーフィールド
パターンの楕円長軸方向に進むため、光ディスクからの
信号検出用光検出器７にこれらの光が迷光として入射し
てしまうことがない。
【００７５】また、それぞれの光検出器をレーザチップ
の近傍に近接して配置できるため反射ホログラム１０や
偏光ホログラム素子５による回折角が小さくて済むので
ホログラムピッチが大きくでき、ホログラムの加工ピッ
チ限界に対して祐度を確保できる。
の近傍に近接して配置できるため反射ホログラム１０や
偏光ホログラム素子５による回折角が小さくて済むので
ホログラムピッチが大きくでき、ホログラムの加工ピッ
チ限界に対して祐度を確保できる。
【００７６】図９は本発明の別の実施の形態に於ける反
射型ホログラム素子２の平面図を示しており、半導体レ
ーザ光源の出射ファーフィールドパターン１２の楕円長
軸方向１４の光を多く反射回折するように、レーザ光源
の拡がり角とホログラムの領域および光源とホログラム
の相対距離関係を設定している。
射型ホログラム素子２の平面図を示しており、半導体レ
ーザ光源の出射ファーフィールドパターン１２の楕円長
軸方向１４の光を多く反射回折するように、レーザ光源
の拡がり角とホログラムの領域および光源とホログラム
の相対距離関係を設定している。
【００７７】一般に半導体レーザの強度分布はその短軸
方向の方が長軸方向より温度などの変化に対する変化が
大きい。この変化は前光モニター光量と反射ホログラム
素子２を透過する光との光量のリニアリティに影響す
る。したがって、非常に高い精度の光量制御が要求され
るシステムにおいては、本実施形態のように長軸方向の
光のみを前光モニター用の光として利用することが望ま
しい。つまり、反射型ホログラム素子２のホログラム１
０形成領域が、前記半導体レーザの楕円状ファーフィー
ルドパターン軸中心に対して楕円長軸方向へより広く形
成されている。
方向の方が長軸方向より温度などの変化に対する変化が
大きい。この変化は前光モニター光量と反射ホログラム
素子２を透過する光との光量のリニアリティに影響す
る。したがって、非常に高い精度の光量制御が要求され
るシステムにおいては、本実施形態のように長軸方向の
光のみを前光モニター用の光として利用することが望ま
しい。つまり、反射型ホログラム素子２のホログラム１
０形成領域が、前記半導体レーザの楕円状ファーフィー
ルドパターン軸中心に対して楕円長軸方向へより広く形
成されている。
【００７８】図１０は、本発明の別の実施形態における
反射型ホログラムの平面図および光検出器の配置を示
す。本実施形態では反射型ホログラム１０の領域が、レ
ーザ光軸１５を中心として非点対称に形成されている。
すなわちレーザ光軸１５とずれた位置にある前光モニタ
ー用光検出器６にレーザ光を反射回折させて集光入射さ
せる場合、その入射角と位置とでホログラムのピッチが
連続的に異なるわけであるがこのピッチにも加工限界が
あるため、この限界点に従って領域が制限される。
反射型ホログラムの平面図および光検出器の配置を示
す。本実施形態では反射型ホログラム１０の領域が、レ
ーザ光軸１５を中心として非点対称に形成されている。
すなわちレーザ光軸１５とずれた位置にある前光モニタ
ー用光検出器６にレーザ光を反射回折させて集光入射さ
せる場合、その入射角と位置とでホログラムのピッチが
連続的に異なるわけであるがこのピッチにも加工限界が
あるため、この限界点に従って領域が制限される。
【００７９】しかしながら方位によってはピッチの加工
限界までの光軸からの距離が大きく取れるため図１０の
ような点非対称な領域で示される加工ピッチ限界の境界
１７まで反射型ホログラム１０を形成することで、前光
モニター用反射回折光の光量をできる限り高めることが
できる。
限界までの光軸からの距離が大きく取れるため図１０の
ような点非対称な領域で示される加工ピッチ限界の境界
１７まで反射型ホログラム１０を形成することで、前光
モニター用反射回折光の光量をできる限り高めることが
できる。
【００８０】図１１（ａ）は、本発明の別の実施形態に
於ける光ヘッド装置、図１１（ｂ）はその構成に用いら
れる反射型ホログラム素子の平面図を示している。
於ける光ヘッド装置、図１１（ｂ）はその構成に用いら
れる反射型ホログラム素子の平面図を示している。
【００８１】図１１（ｂ）に示すように反射型ホログラ
ム素子２はその中央の光透過領域１１が楕円状ないしは
長穴状になっている。図１１（ａ）において、光ディス
クからの反射光を回折させフォーカス、トラッキング等
の信号検出用光検出器７に光を導くための偏光性ホログ
ラム素子５および１／４波長板２０が、対物レンズ４と
共に対物レンズアクチュエータ９の可動子に搭載されて
いる。
ム素子２はその中央の光透過領域１１が楕円状ないしは
長穴状になっている。図１１（ａ）において、光ディス
クからの反射光を回折させフォーカス、トラッキング等
の信号検出用光検出器７に光を導くための偏光性ホログ
ラム素子５および１／４波長板２０が、対物レンズ４と
共に対物レンズアクチュエータ９の可動子に搭載されて
いる。
【００８２】したがって対物レンズ４が光ディスクの偏
芯によるトラッキング誤差に追従するためにトラック直
交方向に移動する際、偏光ホログラム素子５で回折した
光２５も一緒に移動する（実線矢印２５→破線矢印２
５’）。
芯によるトラッキング誤差に追従するためにトラック直
交方向に移動する際、偏光ホログラム素子５で回折した
光２５も一緒に移動する（実線矢印２５→破線矢印２
５’）。
【００８３】図１１（ｂ）の反射型ホログラム素子２に
よれば、この移動方向に反射ホログラム１０の光透過領
域１１が広い形状になっているため前光モニター用の反
射回折光量をできるだけ減らさずにかつ信号検出用の光
が遮光されない構造が実現できる。なお、図１１（ａ）
と（ｂ）では、トラッキング動作方向が縦横反対に描か
れている。
よれば、この移動方向に反射ホログラム１０の光透過領
域１１が広い形状になっているため前光モニター用の反
射回折光量をできるだけ減らさずにかつ信号検出用の光
が遮光されない構造が実現できる。なお、図１１（ａ）
と（ｂ）では、トラッキング動作方向が縦横反対に描か
れている。
【００８４】図１２は、本発明の別の実施形態における
光ヘッド装置の一部を示しており、図１２において２枚
のガラス板に偏光ホログラム層２６および１／４波長フ
ィルム１９を挟持して偏光ホログラム素子が形成されて
いる。また片側のガラス基板には反射型ホログラム１０
が形成されている。
光ヘッド装置の一部を示しており、図１２において２枚
のガラス板に偏光ホログラム層２６および１／４波長フ
ィルム１９を挟持して偏光ホログラム素子が形成されて
いる。また片側のガラス基板には反射型ホログラム１０
が形成されている。
【００８５】これにより素子が一体化されて光ヘッドの
構成がより簡素化されると共に、反射型ホログラム１０
の反射回折光のスポットをモニター用光検出器に位置決
めする際、同時に信号検出用ホログラムの位置決めが行
えるため、光ヘッドの製造工程における調整を簡素化で
きる。
構成がより簡素化されると共に、反射型ホログラム１０
の反射回折光のスポットをモニター用光検出器に位置決
めする際、同時に信号検出用ホログラムの位置決めが行
えるため、光ヘッドの製造工程における調整を簡素化で
きる。
【００８６】図１３は、本発明の別の実施の形態の光ヘ
ッド装置における、反射型ホログラム素子２と前光モニ
ター用光検出器６、および反射型ホログラムによる回折
光を示している。
ッド装置における、反射型ホログラム素子２と前光モニ
ター用光検出器６、および反射型ホログラムによる回折
光を示している。
【００８７】図１３のように反射型ホログラム素子２に
よる反射回折光の集光点は、温度変化などによりレーザ
光源の波長が変動するために、光検出器６前後でディフ
ォーカスする。
よる反射回折光の集光点は、温度変化などによりレーザ
光源の波長が変動するために、光検出器６前後でディフ
ォーカスする。
【００８８】このようなディフォーカスにより光が前光
モニター用光検出器６からはみださないようにするた
め、光ヘッドの使用温度範囲の最低温度でのフォーカス
点３１と、最高温度でのフォーカス点３０の中間点３２
で光検出器面と集光点が一致するように設計することが
のぞましい。これによって、レーザの波長変動があって
もモニター光量の変動が少なく、安定した光量制御が製
品の保証温度範囲で可能となる。
モニター用光検出器６からはみださないようにするた
め、光ヘッドの使用温度範囲の最低温度でのフォーカス
点３１と、最高温度でのフォーカス点３０の中間点３２
で光検出器面と集光点が一致するように設計することが
のぞましい。これによって、レーザの波長変動があって
もモニター光量の変動が少なく、安定した光量制御が製
品の保証温度範囲で可能となる。
【００８９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ヘッド
装置によれば、光検出器上で所定の大きさにビームを集
光することで高速応答性を有す前光モニタを実現するこ
とができ、この光反射素子で半導体レーザのもつ非点格
差を補正することができ、半導体レーザと光検出器を集
積化することが可能なので、光ヘッドの小型化、簡素化
も実現することができる。
装置によれば、光検出器上で所定の大きさにビームを集
光することで高速応答性を有す前光モニタを実現するこ
とができ、この光反射素子で半導体レーザのもつ非点格
差を補正することができ、半導体レーザと光検出器を集
積化することが可能なので、光ヘッドの小型化、簡素化
も実現することができる。
【００９０】また、本発明の構成によれば、開口外の光
を有効利用してレーザ出射光の光量モニターを行うた
め、光量損失をより低減できる上、反射回折格子の領域
や配置を最適にすることでモニター光量も大きくできる
ため、モニター信号のＳ／Ｎも良い。
を有効利用してレーザ出射光の光量モニターを行うた
め、光量損失をより低減できる上、反射回折格子の領域
や配置を最適にすることでモニター光量も大きくできる
ため、モニター信号のＳ／Ｎも良い。
【００９１】さらに反射型ホログラム自身が高い集光作
用を有するため、光検出器上の光スポットを小さくでき
るのに伴い、光検出面積も小さくできるため高速応答性
を有する前光モニタを実現でき、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの
記録型光ヘッドによる記録品質を安定にできる。
用を有するため、光検出器上の光スポットを小さくでき
るのに伴い、光検出面積も小さくできるため高速応答性
を有する前光モニタを実現でき、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの
記録型光ヘッドによる記録品質を安定にできる。
【００９２】さらに前光モニター用光検出器、レーザチ
ップ、信号検出用光検出器などを集積化して、構成して
いる光ヘッドの小型化、簡素化が実現できる。
ップ、信号検出用光検出器などを集積化して、構成して
いる光ヘッドの小型化、簡素化が実現できる。
【図１】本発明の一実施の形態における光ヘッドの概略
構成図
構成図
【図２】本発明の一実施の形態で用いる素子の構成を表
す図
す図
【図３】本発明の一実施の形態におけるスポット形状の
概略図
概略図
【図４】本発明の一実施の形態における光ヘッドの概略
構成図
構成図
【図５】本発明の一実施の形態におけるスポット形状の
概略図
概略図
【図６】本発明の一実施の形態における光ヘッドの概略
構成図
構成図
【図７】本発明の一実施の形態で用いる素子の構成を表
す図
す図
【図８】本発明の一実施の形態おける光ヘッド装置の構
成図、
成図、
【図９】本発明の一実施の形態おける反射型ホログラム
の平面図
の平面図
【図１０】本発明の一実施の形態おける反射型ホログラ
ム素子とレーザ光源、光検出器の配置図
ム素子とレーザ光源、光検出器の配置図
【図１１】本発明の一実施の形態おける光ヘッド装置の
構成図
構成図
【図１２】本発明の一実施の形態おける反射型ホログラ
ム素子とレーザ光源、光検出器の配置図
ム素子とレーザ光源、光検出器の配置図
【図１３】本発明の一実施の形態おける反射型ホログラ
ム素子と光検出器の配置図
ム素子と光検出器の配置図
【図１４】従来の形態の光ヘッド装置を示す図
【図１５】半導体レーザの非点格差を示す概略図
１ レーザ光源 ２ 反射型ホログラム素子 ３ コリメートレンズ ４ 対物レンズ ５ 偏光ホログラム素子 ６ 前光モニター用光検出器 ７ 信号検出用光検出器 ８ 光ディスク面 ９ アクチュエータ １０ 反射ホログラム １０１ 半導体レーザ光源 １０２ 発散光 １０３ 光検出器 １０４ コリメートレンズ １０５ 平行光 １０６ 偏光ビームスプリッタ １０７ 光反射素子 １０８ 反射光 １０９ 光集積モジュール １１０ 透過光 １１１ １／４波長板 １１２ アクチュエータ １１３ 対物レンズ １１４ 光ディスク １１５ ホログラム素子 １１６ 検出レンズ １１７ ＋１次回折光 １１８ −１次回折光 １１９ 信号検出器 １２０ 信号検出器 ２０１ レーザ光軸 ２０２ 透過面 ２０３ アルミ蒸着面 ４０７ 光反射素子 ６０７ 反射型ホログラム素子 ６０８ 反射回折光 ７０１ レーザ光軸 ７０２ 透過面 ７０３ 反射ホログラム面 ８０１ 半導体レーザ光源 ８０２ 発散光 ８０３ 平行板 ８０４ コリメートレンズ ８０５ 平行光 ８０６ 偏光ビームスプリッタ ８０７ 反射光 ８０９ 光集積モジュール ８１０ 透過光 ８１１ １／４波長板 ８１２ アクチュエータ ８１３ 対物レンズ ８１４ 光ディスク ８１５ ホログラム素子 ８１６ 検出レンズ ８１７ ＋１次回折光 ８１８ −１次回折光 ８１９ 信号検出器 ８２０ 信号検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/13 Ｇ１１Ｂ 7/13 (72)発明者 高橋 雄一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 長島 賢治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 松宮 寛昭 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 斉藤 陽一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 百尾 和雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 2H049 CA01 CA05 CA08 CA15 CA17 CA20 5D118 AA13 BA01 CC06 DA20 DB02 5D119 AA01 AA43 BA01 EC02 EC06 FA05 FA28 HA13 JA09 JA12 JA14 JA57 KA04 LB07
Claims (20)
- 【請求項１】半導体レーザ光源と、 前記半導体レーザ光源からの光の少なくとも一部を受光
する光検出器と、 前記半導体レーザ光源からの光の周辺の光を反射させ、
前記光検出器に集光させる周辺部分２０３、及び、前記
半導体レーザ光源からの光の中央の光を透過する中央部
分２０２を有する光反射素子１０７と、 前記光反射素子を透過した光を光ディスク上に集光する
集光レンズとを備えた光ヘッド装置であって、 前記光反射素子の中央部分のそれぞれの面は平面の形状
をし、 前記光反射素子の周辺部分の少なくとも一面が球面もし
くは非球面の形状をしていることを特徴とする光ヘッド
装置。 - 【請求項２】前記光反射素子の周辺部分の集光機能に非
点格差を持たせたことを特徴とする請求項１記載の光ヘ
ッド装置。 - 【請求項３】前記光反射素子の周辺部分の集光機能に球
面収差を持たせたことを特徴とする請求項１または２に
記載の光ヘッド装置。 - 【請求項４】前記光反射素子の中央部分の両面は平行で
あり、それらの面は、記半導体レーザ光源からの光の光
軸と直交する方向に対して、所定の角度だけ傾斜して配
置されており、前記光反射素子の中央部分の傾斜配置に
よって生ずる非点収差により、前記半導体レーザ光源の
持つ非点格差が補正されていることを特徴とする請求項
１から３のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項５】前記光反射素子の中央部分の一方の面が、
他方の面に対して非平行であることを特徴とする請求項
１から３のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項６】前記光反射素子の周辺部分からの反射光の
光軸は、前記半導体レーザ光源からの光の光軸に対して
傾いていることを特徴とする１から３のいずれかに記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項７】半導体レーザ光源と、 前記半導体レーザ光源からの光の少なくとも一部を受光
する光検出器と、 前記半導体レーザ光源からの光の周辺部の光を反射さ
せ、前記光検出器に集光する機能及び、前記半導体レー
ザ光源からの光の中央部の光を透過する機能を有する光
反射素子と、 前記光反射素子を透過した光を光ディスク上に集光する
集光レンズとを備えた光ヘッド装置であって、 前記半導体レーザ光源と前記光検出器とが一つのパッケ
ージ内に形成されていることを特徴とする光ヘッド装
置。 - 【請求項８】半導体レーザ光源と、 前記半導体レーザ光源に隣接して設けられた複数の光検
出器と、 前記半導体レーザ光源からの光の周辺の光を反射回折さ
せ、前記複数の光検出器の一つに集光させる周辺部及
び、前記半導体レーザ光源からの光の中央の光を透過す
る中央部分を有する反射型ホログラム素子と、 前記反射型ホログラム素子の中央部分を透過した光を光
ディスク上に集光する集光レンズとを備えた光ヘッド装
置であって、 前記反射回折してきた光を受光する光検出器は、前記半
導体レーザ光源を基準として、前記半導体レーザ光源か
ら出射される光の楕円状ファーフィールドパターン（fa
r field pattern）の楕円長軸方向と楕円短軸方向のう
ち、楕円長軸方向により近い方向に、配置され、 前記光ディスクからの信号光を検出する光検出器は、前
記半導体レーザ光源を基準として、前記半導体レーザ光
源から出射される光の楕円状ファーフィールドパターン
の楕円長軸方向と楕円短軸方向のうち、楕円短軸方向に
より近い方向に、配置されていることを特徴とする光ヘ
ッド装置。 - 【請求項９】前記反射型ホログラム素子は、前記半導体
レーザ光源から出射される光の楕円状ファーフィールド
パターンの楕円長軸方向の光を楕円短軸方向の光より多
く反射回折することを特徴とする請求項８記載の光ヘッ
ド装置。 - 【請求項１０】前記反射型ホログラム素子のホログラム
形成領域が、前記半導体レーザの楕円状ファーフィール
ドパターン軸中心に対して楕円長軸方向へより広く形成
されていることを特徴とする請求項８又は９記載の光ヘ
ッド装置。 - 【請求項１１】前記反射型ホログラム素子の周辺部分の
集光機能に非点格差を持たせたことを特徴とする請求項
８から１０のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１２】前記反射型ホログラム素子の周辺部分の
集光機能に球面収差を持たせたことを特徴とする請求項
８から１１のいずれかにに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１３】前記反射型ホログラム素子の中央部分の
両面は平行であり、それらの面は、記半導体レーザ光源
からの光の光軸と直交する方向に対して、所定の角度だ
け傾斜して配置されており、前記反射型ホログラム素子
の中央部分の傾斜配置によって生ずる非点収差により、
前記半導体レーザ光源の持つ非点格差が補正されている
ことを特徴とする請求項８から１２のいずれかに記載の
光ヘッド装置。 - 【請求項１４】前記反射型ホログラム素子の中央部分の
一方の面が、他方の面に対して非平行であることを特徴
とする請求項９から１２のいずれかに記載の光ヘッド装
置。 - 【請求項１５】前記反射型ホログラム素子の周辺部分か
らの反射回折光の光軸は、前記半導体レーザ光源からの
光の光軸に対して傾いていることを特徴とする請求項８
から１２のいずれかに記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１６】前記半導体レーザ光源と、それに隣接し
て設けられた複数の光検出器は一つのパッケージ内に形
成されていることを特徴とする請求項８記載の光ヘッド
装置。 - 【請求項１７】前記レーザ光源からの光は透過し、前記
光ディスクにより反射された光は回折する偏光性ホログ
ラム素子をさらに備え、 前記偏光性ホログラム素子が対物レンズと共に対物レン
ズアクチュエータの可動子に搭載されており、 前記反射型ホログラム素子の中央部分の光透過領域が、
前記対物レンズアクチュエータのトラッキング動作方向
に長軸を有する略楕円形状をなしていることを特徴とす
る請求項８記載の光ヘッド装置。 - 【請求項１８】前記レーザ光源からの光は透過し、前記
光ディスクにより反射された光は回折する偏光性ホログ
ラム素子をさらに備え、 前記偏光性ホログラム素子と、前記反射型ホログラム素
子とが一体化されていることを特徴とする請求項８記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項１９】前記反射型ホログラム素子による集光点
が室温において前記光検出器の受光素子の面と離れてお
り、温度変化による波長変動でその集光点が移動し、前
記光ヘッド装置の使用温度範囲の中間点近傍で前記集光
点が前記受光素子の面に一致することを特徴とする請求
項８記載の光ヘッド装置。 - 【請求項２０】前記反射型ホログラム素子のホログラム
の形成領域が、前記半導体レーザ光源からの光の光軸を
中心として非点対称に形成されていることを特徴とする
請求項８記載の光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000121233A JP4309019B2 (ja) | 1999-04-23 | 2000-04-21 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11588699 | 1999-04-23 | ||
| JP28435799 | 1999-10-05 | ||
| JP11-115886 | 1999-10-05 | ||
| JP11-284357 | 1999-10-05 | ||
| JP2000121233A JP4309019B2 (ja) | 1999-04-23 | 2000-04-21 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001176122A true JP2001176122A (ja) | 2001-06-29 |
| JP4309019B2 JP4309019B2 (ja) | 2009-08-05 |
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ID=26454306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000121233A Expired - Fee Related JP4309019B2 (ja) | 1999-04-23 | 2000-04-21 | 光ヘッド装置 |
Country Status (4)
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|---|---|
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| JP (1) | JP4309019B2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2701654B2 (ja) | 1992-04-14 | 1998-01-21 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップ |
| EP0582958B1 (en) * | 1992-08-07 | 1998-05-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | A semiconductor laser device, an optical device and a method of producing the same |
| KR100326688B1 (ko) * | 1993-01-04 | 2002-06-20 | 요트.게.아. 롤페즈 | 광주사장치및방사원검출장치 |
| JPH06309685A (ja) * | 1993-04-26 | 1994-11-04 | Nippon Conlux Co Ltd | 光学式情報記録再生装置のレーザ出力制御装置 |
| KR100269710B1 (ko) | 1996-01-23 | 2000-10-16 | 윤종용 | 광출력장치 및 이를 채용한 광픽업장치 |
| JP3450660B2 (ja) * | 1996-07-26 | 2003-09-29 | ペンタックス株式会社 | 対物レンズの傾き調整装置 |
| US6084844A (en) | 1997-03-21 | 2000-07-04 | Sankyo Seiki Mfg.Co., Ltd. | Optical head assembly |
| JP3382846B2 (ja) * | 1998-05-11 | 2003-03-04 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド及び光ヘッドに於ける光源出力のモニター方法 |
| US6674709B1 (en) * | 1999-04-23 | 2004-01-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head apparatus |
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