JP3450660B2 - 対物レンズの傾き調整装置 - Google Patents
対物レンズの傾き調整装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、基準面に対する対
物レンズの傾きを調整するのに用いられる対物レンズの
傾き調整装置に関する。
物レンズの傾きを調整するのに用いられる対物レンズの
傾き調整装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、光ディスクを用いた情報書込
・読取り装置では、光ディスクの情報記録面に対して、
光ピックアップの対物レンズが傾いていると、いわゆる
コマ収差が生じて、光ディスクへの情報書込みを高密度
で行うことができないという問題があり、また、情報読
み取りの際にはノイズの原因となるため、光ディスクの
情報記録面に対する対物レンズの傾きが所定の規格内に
入るように、調整することが行われている。
・読取り装置では、光ディスクの情報記録面に対して、
光ピックアップの対物レンズが傾いていると、いわゆる
コマ収差が生じて、光ディスクへの情報書込みを高密度
で行うことができないという問題があり、また、情報読
み取りの際にはノイズの原因となるため、光ディスクの
情報記録面に対する対物レンズの傾きが所定の規格内に
入るように、調整することが行われている。
【０００３】その対物レンズ１はモールド成形法により
成形され、その対物レンズ１には、図１（イ）に示すよ
うに、その傾きを検出するために、レンズ部２の外周を
囲むようにして環状平面部３が設けられ、その対物レン
ズ１の傾き調整は以下に説明する手順に従って行われ
る。
成形され、その対物レンズ１には、図１（イ）に示すよ
うに、その傾きを検出するために、レンズ部２の外周を
囲むようにして環状平面部３が設けられ、その対物レン
ズ１の傾き調整は以下に説明する手順に従って行われ
る。
【０００４】まず、図１（ロ）に示すように、検出光照
射系としてのヘリウム−ネオンレーザー４から出射され
た検出光として直径１ｍｍ〜２ｍｍのレーザービームＰ
を、そのヘリウム−ネオンレーザー４から約１ｍほど離
れた箇所に配置した光ディスク５の基準面としての情報
記録面６に照射し、その情報記録面６により反射された
レーザービームＰ´を検出光受光系としてのスクリーン
７により検出し、そのスクリーン７上でのレーザービー
ムＰ´の位置Ｑ（図１（ホ）参照）を求める。なお、図
１（ロ）において、符号Ｏ１は光ディスク６の回転中心
である。
射系としてのヘリウム−ネオンレーザー４から出射され
た検出光として直径１ｍｍ〜２ｍｍのレーザービームＰ
を、そのヘリウム−ネオンレーザー４から約１ｍほど離
れた箇所に配置した光ディスク５の基準面としての情報
記録面６に照射し、その情報記録面６により反射された
レーザービームＰ´を検出光受光系としてのスクリーン
７により検出し、そのスクリーン７上でのレーザービー
ムＰ´の位置Ｑ（図１（ホ）参照）を求める。なお、図
１（ロ）において、符号Ｏ１は光ディスク６の回転中心
である。
【０００５】次に、図１（ハ）に示すように、対物レン
ズ１を光ディスク５の配設箇所と略同じ箇所に配設し、
図１（ニ）に拡大して示すようにレーザービームＰを対
物レンズ１の一面側から環状平面部３の一部に照射し、
その環状平面部３により反射されたレーザービームＰ´
をスクリーン７により検出し、そのスクリーン７上での
レーザービームＰ´の位置Ｑ´を求める。スクリーン７
には目盛り８が図１（ホ）に示すように設けられてお
り、光ディスク５により反射されたレーザービームＰ´
の位置Ｑと環状平面部３により反射されたレーザービー
ムＰ´の位置Ｑ´との差を目盛り８により求め、この目
盛り上での差を角度に換算して、図１（ヘ）に示すよう
に、情報記録面６の法線Ｎに対する対物レンズ１の光軸
Ｏの傾き角θを検出している。
ズ１を光ディスク５の配設箇所と略同じ箇所に配設し、
図１（ニ）に拡大して示すようにレーザービームＰを対
物レンズ１の一面側から環状平面部３の一部に照射し、
その環状平面部３により反射されたレーザービームＰ´
をスクリーン７により検出し、そのスクリーン７上での
レーザービームＰ´の位置Ｑ´を求める。スクリーン７
には目盛り８が図１（ホ）に示すように設けられてお
り、光ディスク５により反射されたレーザービームＰ´
の位置Ｑと環状平面部３により反射されたレーザービー
ムＰ´の位置Ｑ´との差を目盛り８により求め、この目
盛り上での差を角度に換算して、図１（ヘ）に示すよう
に、情報記録面６の法線Ｎに対する対物レンズ１の光軸
Ｏの傾き角θを検出している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このように
して、情報記録面に対して規格内に傾き調整された対物
レンズ１は、次に干渉計にセットされ、最終的に、情報
記録面６に対する干渉縞の形状を観察することによっ
て、その傾き角度が規格に合致しているか否かが判断さ
れる。これには、情報書込み・読取り用レーザー光を発
生するレーザー照射系が干渉縞測定用レーザー光を発生
する光源として用いられ、対物レンズにはその他面側か
ら干渉縞測定用レーザー光としての情報書込み・読取り
用のレーザー光が照射される。
して、情報記録面に対して規格内に傾き調整された対物
レンズ１は、次に干渉計にセットされ、最終的に、情報
記録面６に対する干渉縞の形状を観察することによっ
て、その傾き角度が規格に合致しているか否かが判断さ
れる。これには、情報書込み・読取り用レーザー光を発
生するレーザー照射系が干渉縞測定用レーザー光を発生
する光源として用いられ、対物レンズにはその他面側か
ら干渉縞測定用レーザー光としての情報書込み・読取り
用のレーザー光が照射される。
【０００７】その干渉縞が規格に合致していないときに
は、その対物レンズ１は対物レンズの傾き調整光学系を
用いて、その傾きが再調整されるのであるが、その対物
レンズ１の傾き再調整の際に、そのレーザー照射系をオ
フして検出光Ｐを対物レンズ１に照射するかあるいはレ
ーザー照射系をオンしたままで情報書込み・読取り用レ
ーザー光の光量を減光し、対物レンズ１により反射され
た検出光のスクリーン７上での位置を検出している。
は、その対物レンズ１は対物レンズの傾き調整光学系を
用いて、その傾きが再調整されるのであるが、その対物
レンズ１の傾き再調整の際に、そのレーザー照射系をオ
フして検出光Ｐを対物レンズ１に照射するかあるいはレ
ーザー照射系をオンしたままで情報書込み・読取り用レ
ーザー光の光量を減光し、対物レンズ１により反射され
た検出光のスクリーン７上での位置を検出している。
【０００８】ところが、対物レンズ１の干渉縞の観察と
対物レンズ１の傾き調整の繰り返し頻度が多い場合、レ
ーザー照射系のオン・オフを繰り返し行うこと、あるい
は、情報書込み・読取り用レーザー光の光量の減光を繰
り返し行うことにすると、対物レンズ１の傾き調整を迅
速に行うことができず、逆に、レーザー照射系をオンし
て光量を減光せずに対物レンズ１の傾き調整を行うこと
にすると、干渉縞測定用レーザー光としての情報書込み
・読取り用レーザー光が検出光受光系に混入し、検出光
の検出の際のノイズとなり、正確に対物レンズ１の傾き
角を検出できないという問題点がある。
対物レンズ１の傾き調整の繰り返し頻度が多い場合、レ
ーザー照射系のオン・オフを繰り返し行うこと、あるい
は、情報書込み・読取り用レーザー光の光量の減光を繰
り返し行うことにすると、対物レンズ１の傾き調整を迅
速に行うことができず、逆に、レーザー照射系をオンし
て光量を減光せずに対物レンズ１の傾き調整を行うこと
にすると、干渉縞測定用レーザー光としての情報書込み
・読取り用レーザー光が検出光受光系に混入し、検出光
の検出の際のノイズとなり、正確に対物レンズ１の傾き
角を検出できないという問題点がある。
【０００９】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、干渉縞測定用レーザー
光としての情報書込み・読取り用レーザー光を発生する
レーザー照射系をオンして減光しない状態のままでも、
対物レンズの傾き角検出精度を損なうことなく、対物レ
ンズの傾き調整を迅速に行うことのできる対物レンズの
傾き調整装置を提供することにある。
ので、その目的とするところは、干渉縞測定用レーザー
光としての情報書込み・読取り用レーザー光を発生する
レーザー照射系をオンして減光しない状態のままでも、
対物レンズの傾き角検出精度を損なうことなく、対物レ
ンズの傾き調整を迅速に行うことのできる対物レンズの
傾き調整装置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の対物レ
ンズの傾き調整装置は、レンズ部の外周を囲むようにし
て設けられた環状平面部を有する対物レンズの傾き検出
用の検出光を該対物レンズの一面側から前記環状平面部
に向けて照射する検出光照射系および前記環状平面部に
より反射された検出光を受光する検出光受光系を有する
調整光学系と、光源部から照射される情報書込み・読取
り用レーザー光を、前記対物レンズをその他面側から照
射する干渉縞測定用レーザー光として用いる干渉計とを
備え、前記対物レンズにより収束される前記干渉縞測定
用レーザー光によって前記干渉計の画像処理装置の画面
上に表示される干渉縞を観測することにより前記対物レ
ンズの基準面に対する傾きが規格内にあるか否かが判定
可能であり、前記干渉縞測定用レーザー光の照射下で前
記調整光学系を用いて前記環状平面部から反射された前
記検出光の検出位置に基づいて前記対物レンズの基準面
に対する傾きを調整する対物レンズの傾き調整装置であ
って、前記検出光受光系に、該検出光受光系への前記干
渉縞測定用レーザー光の透過光の混入を阻止すべく前記
干渉縞測定用レーザー光の透過を阻止しかつ前記検出光
を透過させる偏光板を設けたことを特徴とする。
ンズの傾き調整装置は、レンズ部の外周を囲むようにし
て設けられた環状平面部を有する対物レンズの傾き検出
用の検出光を該対物レンズの一面側から前記環状平面部
に向けて照射する検出光照射系および前記環状平面部に
より反射された検出光を受光する検出光受光系を有する
調整光学系と、光源部から照射される情報書込み・読取
り用レーザー光を、前記対物レンズをその他面側から照
射する干渉縞測定用レーザー光として用いる干渉計とを
備え、前記対物レンズにより収束される前記干渉縞測定
用レーザー光によって前記干渉計の画像処理装置の画面
上に表示される干渉縞を観測することにより前記対物レ
ンズの基準面に対する傾きが規格内にあるか否かが判定
可能であり、前記干渉縞測定用レーザー光の照射下で前
記調整光学系を用いて前記環状平面部から反射された前
記検出光の検出位置に基づいて前記対物レンズの基準面
に対する傾きを調整する対物レンズの傾き調整装置であ
って、前記検出光受光系に、該検出光受光系への前記干
渉縞測定用レーザー光の透過光の混入を阻止すべく前記
干渉縞測定用レーザー光の透過を阻止しかつ前記検出光
を透過させる偏光板を設けたことを特徴とする。
【００１１】請求項２に記載の対物レンズの傾き調整装
置は、請求項１に記載のものにおいて、前記干渉縞測定
用レーザー光の偏向方向と前記偏向板の偏向方向とが略
直交していることを特徴とする。請求項３に記載の対物
レンズの傾き調整装置は、請求項１または２に記載のも
のにおいて、前記検出光がレーザー光であることを特徴
とする。
置は、請求項１に記載のものにおいて、前記干渉縞測定
用レーザー光の偏向方向と前記偏向板の偏向方向とが略
直交していることを特徴とする。請求項３に記載の対物
レンズの傾き調整装置は、請求項１または２に記載のも
のにおいて、前記検出光がレーザー光であることを特徴
とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】図２は対物レンズの傾き調整用光
学系９を備える対物レンズの傾き調整装置を示し、この
図２において、１０は検出光照射系、１１は検出光受光
系、１２は光ピックアップである。検出光照射系１０は
ヘリウム−ネオンレーザー１３と、減光フィルター１４
と、ハーフミラー１５とから大略構成されている。ヘリ
ウム−ネオンレーザー１３は検出光として直径１ｍｍな
いし２ｍｍの平行なレーザー光Ｐ１を出射する。ハーフ
ミラー１５は減光フィルター１４により光量調整された
レーザー光Ｐ１を対物レンズ１の一面側に向けて照射す
る。対物レンズ１の環状平面部３の一部がそのレーザー
光Ｐ１によって照明される。
学系９を備える対物レンズの傾き調整装置を示し、この
図２において、１０は検出光照射系、１１は検出光受光
系、１２は光ピックアップである。検出光照射系１０は
ヘリウム−ネオンレーザー１３と、減光フィルター１４
と、ハーフミラー１５とから大略構成されている。ヘリ
ウム−ネオンレーザー１３は検出光として直径１ｍｍな
いし２ｍｍの平行なレーザー光Ｐ１を出射する。ハーフ
ミラー１５は減光フィルター１４により光量調整された
レーザー光Ｐ１を対物レンズ１の一面側に向けて照射す
る。対物レンズ１の環状平面部３の一部がそのレーザー
光Ｐ１によって照明される。
【００１３】レーザー光Ｐ１は偏光しており、その偏光
方向は、ここでは符号Ｘ１’で示すように紙面に直交す
る方向である。検出光受光系１１はオートコリメータに
よって構成され、コリメートレンズ１６と、撮像カメラ
（ＣＣＤカメラ）１７とを備えている。そのコリメート
レンズ１６と撮像カメラ１７との間には、偏光板１８が
設けられている。この偏光板１８の役割は後述する。
方向は、ここでは符号Ｘ１’で示すように紙面に直交す
る方向である。検出光受光系１１はオートコリメータに
よって構成され、コリメートレンズ１６と、撮像カメラ
（ＣＣＤカメラ）１７とを備えている。そのコリメート
レンズ１６と撮像カメラ１７との間には、偏光板１８が
設けられている。この偏光板１８の役割は後述する。
【００１４】光ピックアップ１２は、図３、図４に示す
ように、光ディスク装置１２Ａのガイドレール１９に可
動可能に支持されている。その図３、図４において、符
号１９Ａ、１９Ａはガイドレール１９の支柱である。そ
の光ディスク装置１２Ａにはスピンドル２０が設けら
れ、そのスピンドル２０の上部には光ディスク６（図１
（ロ）参照）が取り付けられるものであるが、ここで
は、対物レンズ１の傾き調整のためダミーディスクとし
てのカバーガラス２１が設けられている。その光ピック
アップ１２はそのガイドレール１９に沿って、光ディス
ク装置１２Ａの内周側と外周側との間で往復動される。
その光ディスク装置１２Ａの外周側には対物レンズの傾
き調整光学系９が設けられ、その光ディスク装置１２Ａ
の内周側には干渉計２２が設けられている。この干渉計
２２は、コリメートレンズ２３とビームスプリッタ２４
と、コーナキューブ２５、２６と、結像レンズ２７Ａ
と、撮像カメラ２７とからなる。その撮像カメラ２７の
出力と撮像カメラ１７の出力とは画像処理装置２８Ａに
入力されている。この画像処理装置２８Ａは、パーソナ
ルコンピュータ２８Ｂ、操作手段としてのキーボード２
８Ｃ、マウス２８Ｄ、及びモニタＭ等を有する。光ディ
スク装置１２Ａには、レーザー照射系としての光源部２
８が設けられている。この光源部２８はレーザー光Ｐ２
を発生し、このレーザー光Ｐ２は通常情報書込・読取り
用に用いられるが、対物レンズ１の傾き角が規格内にあ
るか否かを検査するため、光ピックアップ１２が干渉計
２２にセットされた際には、干渉縞測定用レーザー光と
して用いられる。このレーザー光Ｐ２も偏光しており、
その偏光方向は符号Ｘ２’で示すように紙面と平行方向
である。光ピックアップ１２には、光源部２８から出射
されたレーザー光Ｐ２を対物レンズ１の他面側に向けて
偏向する立ち上げミラー２９と、対物レンズ１を搭載す
るレンズホルダー３０とから大略構成される。そのレー
ザー光Ｐ２は平行光束として対物レンズ１のレンズ部２
に入射される。
ように、光ディスク装置１２Ａのガイドレール１９に可
動可能に支持されている。その図３、図４において、符
号１９Ａ、１９Ａはガイドレール１９の支柱である。そ
の光ディスク装置１２Ａにはスピンドル２０が設けら
れ、そのスピンドル２０の上部には光ディスク６（図１
（ロ）参照）が取り付けられるものであるが、ここで
は、対物レンズ１の傾き調整のためダミーディスクとし
てのカバーガラス２１が設けられている。その光ピック
アップ１２はそのガイドレール１９に沿って、光ディス
ク装置１２Ａの内周側と外周側との間で往復動される。
その光ディスク装置１２Ａの外周側には対物レンズの傾
き調整光学系９が設けられ、その光ディスク装置１２Ａ
の内周側には干渉計２２が設けられている。この干渉計
２２は、コリメートレンズ２３とビームスプリッタ２４
と、コーナキューブ２５、２６と、結像レンズ２７Ａ
と、撮像カメラ２７とからなる。その撮像カメラ２７の
出力と撮像カメラ１７の出力とは画像処理装置２８Ａに
入力されている。この画像処理装置２８Ａは、パーソナ
ルコンピュータ２８Ｂ、操作手段としてのキーボード２
８Ｃ、マウス２８Ｄ、及びモニタＭ等を有する。光ディ
スク装置１２Ａには、レーザー照射系としての光源部２
８が設けられている。この光源部２８はレーザー光Ｐ２
を発生し、このレーザー光Ｐ２は通常情報書込・読取り
用に用いられるが、対物レンズ１の傾き角が規格内にあ
るか否かを検査するため、光ピックアップ１２が干渉計
２２にセットされた際には、干渉縞測定用レーザー光と
して用いられる。このレーザー光Ｐ２も偏光しており、
その偏光方向は符号Ｘ２’で示すように紙面と平行方向
である。光ピックアップ１２には、光源部２８から出射
されたレーザー光Ｐ２を対物レンズ１の他面側に向けて
偏向する立ち上げミラー２９と、対物レンズ１を搭載す
るレンズホルダー３０とから大略構成される。そのレー
ザー光Ｐ２は平行光束として対物レンズ１のレンズ部２
に入射される。
【００１５】レンズホルダー３０には図５（イ）に拡大
して示すように円錐形状の受け面３０ａが形成されてい
る。対物レンズ１の環状平面部３がその受け面３０ａに
当接されて、対物レンズ１がレンズホルダー３０に支持
されている。この対物レンズ１の傾きを調整するには、
図３に示すように、光ピックアップ１２を傾き調整光学
系９の真下に移動させ、傾き調整治具３１、傾き調整治
具移動機構（図示を略す）を用いて対物レンズ１の傾き
調整を行う。その傾き調整治具は図５（イ）、図５
（ロ）に拡大して示すように、爪３１ａを有し、この爪
３１ａを環状平面部３に当て、各爪３１ａを介して環状
平面部３に加わる傾き調整治具移動機構のそれぞれの方
向からの押圧力を加減することにより、対物レンズ１の
傾きが調整される。レーザー光Ｐ１を照射すると、レー
ザー光Ｐ１は環状平面部３の一部により反射されて反射
レーザー光Ｐ１´となり、ハーフミラー１５を透過して
コリメートレンズ１６に導かれ、このコリメートレンズ
１６により集光される。レーザー光Ｐ２は対物レンズ１
のレンズ部２を透過し、一旦収束された後、発散しつつ
ハーフミラー１６に導かれ、そのレーザー光Ｐ２の一部
の透過レーザー光Ｐ２´がコリメートレンズ１６により
集光される。
して示すように円錐形状の受け面３０ａが形成されてい
る。対物レンズ１の環状平面部３がその受け面３０ａに
当接されて、対物レンズ１がレンズホルダー３０に支持
されている。この対物レンズ１の傾きを調整するには、
図３に示すように、光ピックアップ１２を傾き調整光学
系９の真下に移動させ、傾き調整治具３１、傾き調整治
具移動機構（図示を略す）を用いて対物レンズ１の傾き
調整を行う。その傾き調整治具は図５（イ）、図５
（ロ）に拡大して示すように、爪３１ａを有し、この爪
３１ａを環状平面部３に当て、各爪３１ａを介して環状
平面部３に加わる傾き調整治具移動機構のそれぞれの方
向からの押圧力を加減することにより、対物レンズ１の
傾きが調整される。レーザー光Ｐ１を照射すると、レー
ザー光Ｐ１は環状平面部３の一部により反射されて反射
レーザー光Ｐ１´となり、ハーフミラー１５を透過して
コリメートレンズ１６に導かれ、このコリメートレンズ
１６により集光される。レーザー光Ｐ２は対物レンズ１
のレンズ部２を透過し、一旦収束された後、発散しつつ
ハーフミラー１６に導かれ、そのレーザー光Ｐ２の一部
の透過レーザー光Ｐ２´がコリメートレンズ１６により
集光される。
【００１６】偏光板１８の偏光方向はレーザー光Ｐ１の
偏光方向と同方向又はレーザー光Ｐ１の偏向板１８によ
り透過される成分が撮像素子１７において充分に受光さ
れる光量を有するような方向に設定され、反射レーザー
光Ｐ１´が撮像素子１７の撮像面１７ａに導かれ、透過
レーザー光Ｐ２は偏光板１８によりその通過が阻止され
る。従って、光源部２８をオンして減光しない状態のま
まで、対物レンズ１の傾き調整を行ったとしても、対物
レンズ１の傾き角検出精度は損なわれない。撮像素子１
７の撮像面１７ａには、反射レーザー光Ｐ１’によりビ
ームスポットＳ３が形成され、このビームスポットＳ３
がモニタＭの画面Ｇに表示され、このモニタＭの画面Ｇ
上でビームスポットＳ３を見つつ対物レンズ１の傾き調
整が行われる。
偏光方向と同方向又はレーザー光Ｐ１の偏向板１８によ
り透過される成分が撮像素子１７において充分に受光さ
れる光量を有するような方向に設定され、反射レーザー
光Ｐ１´が撮像素子１７の撮像面１７ａに導かれ、透過
レーザー光Ｐ２は偏光板１８によりその通過が阻止され
る。従って、光源部２８をオンして減光しない状態のま
まで、対物レンズ１の傾き調整を行ったとしても、対物
レンズ１の傾き角検出精度は損なわれない。撮像素子１
７の撮像面１７ａには、反射レーザー光Ｐ１’によりビ
ームスポットＳ３が形成され、このビームスポットＳ３
がモニタＭの画面Ｇに表示され、このモニタＭの画面Ｇ
上でビームスポットＳ３を見つつ対物レンズ１の傾き調
整が行われる。
【００１７】対物レンズ１の傾き調整後、図４に示すよ
うに、光ピックアップ１２は干渉計２２の真下に移動さ
れる。レーザー光Ｐ２は立ち上げミラー２９によって対
物レンズ１に向けて偏向される。そのレーザー光Ｐ２は
対物レンズ１により収束されてカバーガラス２１に導か
れる。カバーガラス２１は光ディスク６をエミュレート
する役割を果たす。そのカバーガラス２１を透過したレ
ーザー光Ｐ２はコリメートレンズ２３により集光され、
光路Ｘを通ってビームスプリッタ２４に導かれる。その
ビームスプリッタ２４に導かれたレーザー光Ｐ２はコー
ナーキューブ２５に向かう光路Ｘ１への光束とコーナー
キューブ２６に向かう光路Ｘ２への光束とに分割され
る。コーナーキューブ２５に向かう光路Ｘ１への光束と
コーナーキューブ２６に向かう光路Ｘ２への光束はそれ
ぞれのコーナキューブでビームスプリッタ２４に向けて
反射され、結果的に光路Ｘ３で合成され、結像レンズ２
７Ａにより撮像カメラ２７に結像され、撮像カメラ２７
により受光される。その撮像カメラ２７の受光出力は画
像処理装置２８Ａに向けて出力され、対物レンズ１がカ
バーガラス２１に対して傾いていると干渉縞が発生し、
図４に示すように、画面Ｇ上にこの干渉縞Ｋが表示され
る。その干渉縞Ｋの本数は対物レンズ１の傾き角に依存
し、干渉縞Ｋの形状は対物レンズ１の傾きの方向に依存
する。この観測により得られた干渉縞Ｋが波面規格内に
ないときには、再び光ピックアップ１２を傾き検出用光
学系９の真下に移動させて、対物レンズ１の傾きを調整
し、その傾き調整後、干渉計２２の真下に移動させて再
度干渉縞Ｋの観測を行う。干渉縞が波面規格内になるま
で、この調整及び観測が繰り返し行われ、 干渉縞が波
面規格内にあると判断されたときには、対物レンズ１を
レンズホルダー３０に接着により固定し、傾き調整作業
を終了する。
うに、光ピックアップ１２は干渉計２２の真下に移動さ
れる。レーザー光Ｐ２は立ち上げミラー２９によって対
物レンズ１に向けて偏向される。そのレーザー光Ｐ２は
対物レンズ１により収束されてカバーガラス２１に導か
れる。カバーガラス２１は光ディスク６をエミュレート
する役割を果たす。そのカバーガラス２１を透過したレ
ーザー光Ｐ２はコリメートレンズ２３により集光され、
光路Ｘを通ってビームスプリッタ２４に導かれる。その
ビームスプリッタ２４に導かれたレーザー光Ｐ２はコー
ナーキューブ２５に向かう光路Ｘ１への光束とコーナー
キューブ２６に向かう光路Ｘ２への光束とに分割され
る。コーナーキューブ２５に向かう光路Ｘ１への光束と
コーナーキューブ２６に向かう光路Ｘ２への光束はそれ
ぞれのコーナキューブでビームスプリッタ２４に向けて
反射され、結果的に光路Ｘ３で合成され、結像レンズ２
７Ａにより撮像カメラ２７に結像され、撮像カメラ２７
により受光される。その撮像カメラ２７の受光出力は画
像処理装置２８Ａに向けて出力され、対物レンズ１がカ
バーガラス２１に対して傾いていると干渉縞が発生し、
図４に示すように、画面Ｇ上にこの干渉縞Ｋが表示され
る。その干渉縞Ｋの本数は対物レンズ１の傾き角に依存
し、干渉縞Ｋの形状は対物レンズ１の傾きの方向に依存
する。この観測により得られた干渉縞Ｋが波面規格内に
ないときには、再び光ピックアップ１２を傾き検出用光
学系９の真下に移動させて、対物レンズ１の傾きを調整
し、その傾き調整後、干渉計２２の真下に移動させて再
度干渉縞Ｋの観測を行う。干渉縞が波面規格内になるま
で、この調整及び観測が繰り返し行われ、 干渉縞が波
面規格内にあると判断されたときには、対物レンズ１を
レンズホルダー３０に接着により固定し、傾き調整作業
を終了する。
【００１８】
【発明の効果】本発明に係わる対物レンズの傾き調整装
置は、以上説明したように構成したので、干渉縞測定用
レーザー光を発生するレーザー照射系をオンして減光し
ない状態のままでも、対物レンズの傾き角検出精度を損
なうことなく、対物レンズの傾き調整を迅速に行うこと
ができるという効果を奏する。
置は、以上説明したように構成したので、干渉縞測定用
レーザー光を発生するレーザー照射系をオンして減光し
ない状態のままでも、対物レンズの傾き角検出精度を損
なうことなく、対物レンズの傾き調整を迅速に行うこと
ができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 従来の対物レンズの傾き調整用光学系を用い
て対物レンズの傾き角度の検出を説明するための説明図
であって、（イ）は傾き調整される対物レンズの平面
図、（ロ）は光ディスクの情報記録面に検出光を照射し
た状態を示す説明図、（ハ）は対物レンズの環状平面部
に検出光を照射した状態を示す説明図、（ニ）は対物レ
ンズの環状平面部により反射された検出光をスクリーン
に受像した状態を示す説明図、（ホ）は環状平面部によ
り反射された検出光に基づきスクリーンに形成されたス
ポットの説明図、（ヘ）は光ディスクの情報記録面に対
する対物レンズの傾き角度の説明図である。
て対物レンズの傾き角度の検出を説明するための説明図
であって、（イ）は傾き調整される対物レンズの平面
図、（ロ）は光ディスクの情報記録面に検出光を照射し
た状態を示す説明図、（ハ）は対物レンズの環状平面部
に検出光を照射した状態を示す説明図、（ニ）は対物レ
ンズの環状平面部により反射された検出光をスクリーン
に受像した状態を示す説明図、（ホ）は環状平面部によ
り反射された検出光に基づきスクリーンに形成されたス
ポットの説明図、（ヘ）は光ディスクの情報記録面に対
する対物レンズの傾き角度の説明図である。
【図２】 本発明に係わる対物レンズの傾き調整用光学
系を示す拡大図である。
系を示す拡大図である。
【図３】 本発明に係わる傾き調整用光学系を用いての
傾き調整を説明するための説明図であって、対物レンズ
が傾き調整用光学系の真下に位置された状態を示してい
る。
傾き調整を説明するための説明図であって、対物レンズ
が傾き調整用光学系の真下に位置された状態を示してい
る。
【図４】 本発明に係わる傾き調整用光学系を用いての
傾き調整を説明するための説明図であって、対物レンズ
が干渉計の真下に位置された状態を示している。
傾き調整を説明するための説明図であって、対物レンズ
が干渉計の真下に位置された状態を示している。
【図５】 本発明に係わる対物レンズの傾き調整の説明
図であって、（イ）はレンズホルダーに保持された対物
レンズに傾き調整治具の爪を当てた状態を示す拡大側面
図、（ロ）は（イ）に示す環状調整治具と対物レンズと
を上面から目視した状態を示す平面図、（ハ）は対物レ
ンズにより反射された検出光に基づき撮像面に形成され
たビームスポットの説明図である。
図であって、（イ）はレンズホルダーに保持された対物
レンズに傾き調整治具の爪を当てた状態を示す拡大側面
図、（ロ）は（イ）に示す環状調整治具と対物レンズと
を上面から目視した状態を示す平面図、（ハ）は対物レ
ンズにより反射された検出光に基づき撮像面に形成され
たビームスポットの説明図である。
１…対物レンズ
２…レンズ部
３…環状平面部
６…情報記録面（基準面）
１０…検出光照射系
１１…検出光受光系
１８…偏光板
２８…光源部（レーザー照射系）
Ｐ１…レーザー光（検出光）
Ｐ２…干渉縞測定用レーザー光（情報書込み・読取り用
レーザー光）
レーザー光）
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平10−91968（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−129761（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−259782（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−76304（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−217173（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−168937（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 7/08 - 7/22
G02B 7/00 - 7/02
Claims (3)
- 【請求項１】 レンズ部の外周を囲むようにして設けら
れた環状平面部を有する対物レンズの傾き検出用の検出
光を該対物レンズの一面側から前記環状平面部に向けて
照射する検出光照射系および前記環状平面部により反射
された検出光を受光する検出光受光系を有する調整光学
系と、光源部から照射される情報書込み・読取り用レー
ザー光を、前記対物レンズをその他面側から照射する干
渉縞測定用レーザー光として用いる干渉計とを備え、前
記対物レンズにより収束される前記干渉縞測定用レーザ
ー光によって前記干渉計の画像処理装置の画面上に表示
される干渉縞を観測することにより前記対物レンズの基
準面に対する傾きが規格内にあるか否かが判定可能であ
り、前記干渉縞測定用レーザー光の照射下で前記調整光
学系を用いて前記環状平面部から反射された前記検出光
の検出位置に基づいて前記対物レンズの基準面に対する
傾きを調整する対物レンズの傾き調整装置であって、 前記検出光受光系に、該検出光受光系への前記干渉縞測
定用レーザー光の透過光の混入を阻止すべく前記干渉縞
測定用レーザー光の透過を阻止しかつ前記検出光を透過
させる偏光板を設けたことを特徴とする対物レンズの傾
き調整装置。 - 【請求項２】 前記干渉縞測定用レーザー光の偏向方向
と前記偏向板の偏向方向とが略直交している請求項１に
記載の対物レンズの傾き調整装置。 - 【請求項３】 前記検出光がレーザー光である請求項１
または２に記載の対物レンズの傾き調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19950097A JP3450660B2 (ja) | 1996-07-26 | 1997-07-25 | 対物レンズの傾き調整装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19731596 | 1996-07-26 | ||
| JP8-197315 | 1996-07-26 | ||
| JP19950097A JP3450660B2 (ja) | 1996-07-26 | 1997-07-25 | 対物レンズの傾き調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1091994A JPH1091994A (ja) | 1998-04-10 |
| JP3450660B2 true JP3450660B2 (ja) | 2003-09-29 |
Family
ID=26510295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19950097A Expired - Fee Related JP3450660B2 (ja) | 1996-07-26 | 1997-07-25 | 対物レンズの傾き調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3450660B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6674709B1 (en) * | 1999-04-23 | 2004-01-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head apparatus |
| WO2005109420A1 (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-17 | Pulstec Industrial Co., Ltd. | 光ピックアップの調整装置および調整方法 |
| JP4881589B2 (ja) * | 2005-07-27 | 2012-02-22 | 株式会社カツラ・オプト・システムズ | 変位・チルト補正装置 |
| JP4710630B2 (ja) * | 2006-02-02 | 2011-06-29 | パナソニック株式会社 | レンズ計測装置、及び計測方法 |
-
1997
- 1997-07-25 JP JP19950097A patent/JP3450660B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1091994A (ja) | 1998-04-10 |
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