JPH0415535A - 光情報記憶装置の光学特性測定装置 - Google Patents

光情報記憶装置の光学特性測定装置

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JPH0415535A
JPH0415535A JP11767590A JP11767590A JPH0415535A JP H0415535 A JPH0415535 A JP H0415535A JP 11767590 A JP11767590 A JP 11767590A JP 11767590 A JP11767590 A JP 11767590A JP H0415535 A JPH0415535 A JP H0415535A
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JP
Japan
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optical
astigmatism
objective lens
displayed
light beam
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Application number
JP11767590A
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English (en)
Inventor
Shinji Nagano
長野 新治
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ビームを対物レンズにより収束して記録
媒体に照射して情報を記録または再生する光情報記憶装
置の光学系の非点収差を測定する光学特性測定装置に関
する。
〔従来の技術〕
光情報記憶装置として、例えば第5図に示すような光磁
気記録再生装置が知られている。第5図において、半導
体レーザ1から出射された光ビームは、コリメータレン
ズ2により平行光束とされたのち、整形プリズム3でビ
ーム整形され、その後偏光子4およびビームスプリッタ
5を経て対物レンズ6により収束されて光磁気記録媒体
7に投射されるようになっている。また、光磁気記録媒
体7での反射光は、対物レンズ6を経てビームスプリッ
タ5で往路と分離され、検光子8を経て光検出器9で受
光されるようになっている。
かかる光磁気記録再生装置においては、例えば半導体レ
ーザ1から媒体磁化の臨界温度を得るに必要な記録パワ
ーの光ビームを出射させて光磁気記録媒体7に投射しな
がら、光磁気記録媒体7を介して対物レンズ6と対向す
る電磁コイル10を記録すべき情報に応じて変調して磁
化反転することにより情報を記録でき、また半導体レー
ザ1から記録パワーよりも低いパワーの光ビームを出射
させて光磁気記録媒体7に投射しながら、その反射光を
光検出器9で受光することにより、その出力に基づいて
記録された情報を再生することができる。
しかし、上記のように整形プリズム3を用いてビーム形
状を整形する場合には、整形プリズム3に光ビームを斜
めから入射させるため、これによって非点収差が発生す
る。このように非点収差が発生ずると、光磁気記録媒体
7が対物レンズ6の焦点位置から光軸方向の一方にずれ
ると、例えば第6図Aに示すように、光磁気記録媒体7
上でのビームスポット15はトラック17の延在方向に
長軸を持つ楕円形状となり、他方にずれると第6図Bに
示すように、トラック17の幅方向に長軸を持つ楕円形
状となり、また光磁気記録媒体7が対物レンズ6の焦点
位置に位置する合焦状態では、第6図Cに示すように最
小錯乱円のビームスポット15となる。
このため、第6図Aの状態で記録が行われた場合には、
トラック方向の記録領域の熱的干渉により再生時に符号
量干渉が起こり、第6図Bの状態で記録が行われた場合
には、記録領域がトラック方向で狭く、トラック幅方向
で広くなるために、隣接トラックとのクロストークが発
生し、また第6図Cの状態で記録が行われた場合には、
最小錯乱円は非点収差が無いときの合焦時のスポットよ
りも大きいため、記録領域が大きくなる。したがって、
非点収差があると、再生信号に含まれるジッタ成分は第
7図に曲線イで示すようになり、曲線口で示す非点収差
が無い場合よりも大きくなって、記録性能が劣化する。
また、第5図に示した光学系の非点収差は、上記の整形
プリズム3による他、往路中に配置される光学素子によ
っても発生する。
そこで、従来は、第8図に示すように、治具21に第5
図に示した光学系を有する光ピツクアップ22を対物レ
ンズの光軸方向に変位可能に取り付け、光ピツクアップ
22の対物レンズにより収束されて投射される光ビーム
を、その収束光を物点とする対物レンズ23を有する拡
大光学系24を経てTV左カメラ5でデフォーカス状態
で撮像して、その像をコントローラ26を介してモニタ
27に表示し、このモニタ27に表示されるスポットの
像を観察しながら、第5図に示したコリメータレンズ2
を光軸方向に変位させて、非点収差が最小となるように
調整している。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上述したように、デフォーカス状態での
スポット像を単にモニタ27に表示するだけでは、非点
収差を定量的に判断できないため、そのスポット像を観
察しながら光学系を調整すると、個人差により最良調整
位置が異なり、正確な位置調整ができないという問題が
ある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、非点収差を定量的に容易に判断でき、したが
って個人差に影響されることなく、光学系を常に最良の
位置に調整できるよう適切に構成した光情報記憶装置の
光学特性測定装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明は、光ビームを対物レンズにより
収束して記録媒体に照射して情報を記録または再生する
光情報記憶装置の光学系の非点収差を測定する光学特性
測定装置であって、前記対物レンズで収束される光ビー
ムをデフォーカス状態で撮像する撮像手段と、この撮像
手段の出力に基づいて非点収差の火線の方向と前記記録
媒体のトラック方向との成す角度および撮像した光ビー
ムスポットの扁平率をそれぞれ演算する演算手段と、こ
の演算手段で演算した前記角度および扁平率を表示する
表示手段とを具えることを特徴とするものである。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示すものである。
この実施例は、第5図に示した光学系を有する光ピツク
アップ22を、非点収差が最小となるように調整するた
めに、その非点収差を定量的に測定して表示するもので
ある。このため、この実施例は、治具21に光ピツクア
ップ22を対物レンズの光軸方向に変位可能に取り付け
て、光ピツクアップ22の対物レンズにより収束されて
投射される光ビームを、その収束光を物点とする対物レ
ンズ23を有する拡大光学系24を経てTV右カメラ5
でデフォーカス状態で撮像するようにする。このTV右
カメラ5の出力は、コントローラ26を介して画像処理
装置31に供給し、ここでコンピュータ32の制御のも
とに所要の画像処理を施してその結果をモニタ27に表
示するようにする。
以下、この実施例の動作を第2図に示すフローチャート
を参照しながら説明する。
先ず、治具21により光ピツクアップ22をその対物レ
ンズの光軸方向に移動させて、対物レンズ23に対して
合焦合わせを行う。この合焦合わせは、例えばTV右カ
メラ5で撮像されるスポット像をモニタ27で観察しな
がら、そのスポットが最小となる位置に調整する。次に
、合焦調整した位置から、光ピツクアップ22を治具2
1により対物レンズ光軸の一方向、例えば収束光の強度
分布の劣化が大きい方向に所定量、この実施例では2μ
m移動させてデフォーカス状態とし、そのときの対物レ
ンズ23の物点のスポット像を拡大光学系24を経てT
V右カメラ5で撮像して、その画像情報をコントローラ
26を介して画像処理装置31に取り込む。
デフォーカス状態でのスポット像の画像情報を取り込ん
だら、その画像情報に対して背景処理や平滑化処理等の
前処理を施した後、2値化処理し、これにより第3図A
に示すようなスポット像の等強度分布線から、第3図B
に示すような所要の強度以上のスポット像の輪郭を抽出
する。
その後、2値化処理によって抽出したスポット像の輪郭
を、第4図に示すようにモニタ27に表示する。この実
施例では、モニタ27の縦軸を、光ビームを記録媒体に
照射したときのトラック方向に対応させる。また、2値
化処理によって抽出したスポット像の輪郭データに基づ
いて図形計測し、これにより非点収差の火線の方向(第
3図Bにおいて楕円形のスポット像の長袖方向)とトラ
ック方向との成す角度θおよびスポット像の扁平率をそ
れぞれ求め、これらを第4図に示すようにモニタ27に
表示する。なお、スポット像の扁平率は、第3図Bにお
いて楕円形のスポット像の長軸をa、短軸をbとすると
、扁平率−(a−b)/aで求めることができ、また長
軸aおよび短軸すは、公知の方法により楕円形のスポッ
ト像に対して最小の外接長方形を回転させながら求める
ことができる。
また、角度θおよび扁平率を求めたら、それらが許容値
内にあるかをチエツクし、それらの結果を第4図に示す
ようにモニタ27に表示する。ここで、角度θはそれが
小さい程、非点収差による楕円がトラック方向に長くな
り、光パワーを有効に利用できることがら、その許容値
は例えば±30゜とし、その範囲内にあるときは「OK
」を、範囲から外れているときは「NG」を表示させる
ようにする。また、扁平率はそれが大きくなる程、楕円
の程度が強くなり、トラック方向での符号量干渉や隣接
トラックとのクロストークが発生することから、その許
容値は例えば0〜0.2の範囲とし、その範囲内にある
ときは「OK」を、範囲から外れているときは「NG」
を表示さぜるようにする。
以後は、モニタ27に表示される角度θおよび扁平率が
共に「OK」となるまで、光ピツクアップ22のコリメ
ータレンズ2(第5図参照)を光軸方向に調整しながら
上記の動作を繰り返す。
この実施例によれば、モニタ27にデフォーカス状態で
のスポット像の輪郭(形状)を表示すると共に、そのス
ポット像の非点収差の火線の方向とトラック方向との成
す角度θおよび扁平率をそれぞれ求めて表示し、かつこ
れら角度θおよび扁平率の許容値に対する判定結果をも
表示するようにしたので、非点収差を定量的に容易に判
断でき、したがって個人差に影響されることなく、光学
系を常に最良の位置に容易に調整することができる。
なお、この発明は上述した光磁気記録再生装置における
光ピツクアップの光学特性の測定に限らず、追記形の光
記録再生装置やその他の光情報記憶装置の光学特性の測
定にも有効に用いることができる。また、上述した実施
例では、スポット像の形状を表示すると共に、角度θお
よび扁平率の判定結果をも表示するようにしたが、角度
θおよび扁平率のみを表示するようにしてもよい。
〔発明の効果〕
以」二のように、この発明によれば、デフォーカス状態
でのスポット像の画像情報に基づいて非点収差の火線の
方向とトラック方向との成す角度および扁平率をそれぞ
れ演算して表示するようにしたので、非点収差を定量的
に容易に判断でき、したがって個人差に影響されること
なく、光学系を常に最良の位置に容易に調整することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図および第
3図A、  Bはその動作を説明するための図、 第4図は第1図に示すモニタの表示態様を示す図、 第5図、第6図A−C,第7図および第8図は従来の技
術を説明するための図である。 半導体レーザ 整形プリズム 光磁気記録媒体 トラック 光ピツクアップ 拡大光学系 コントローラ 画像処理装置 コリメータレンズ 対物レンズ ビームスポット 治具 対物レンズ TVカメラ モニタ コンピュータ 区 く 色 第7図 手 続 補 正 1を 第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光ビームを対物レンズにより収束して記録媒体に照
    射して情報を記録または再生する光情報記憶装置の光学
    系の非点収差を測定する光学特性測定装置であって、 前記対物レンズで収束される光ビームをデフォーカス状
    態で撮像する撮像手段と、 この撮像手段の出力に基づいて非点収差の火線の方向と
    前記記録媒体のトラック方向との成す角度および撮像し
    た光ビームスポットの扁平率をそれぞれ演算する演算手
    段と、 この演算手段で演算した前記角度および扁平率を表示す
    る表示手段とを具えることを特徴とする光情報記憶装置
    の光学特性測定装置。
JP11767590A 1990-05-09 1990-05-09 光情報記憶装置の光学特性測定装置 Pending JPH0415535A (ja)

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JP (1) JPH0415535A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0725738U (ja) * 1993-10-22 1995-05-16 敏夫 阪中 樹木用ポット
JP2006023219A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Pioneer Electronic Corp 光ピックアップの出射光測定装置、及び測定方法
JP2021020234A (ja) * 2019-07-26 2021-02-18 株式会社ディスコ 比較方法及びレーザー加工装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0725738U (ja) * 1993-10-22 1995-05-16 敏夫 阪中 樹木用ポット
JP2006023219A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Pioneer Electronic Corp 光ピックアップの出射光測定装置、及び測定方法
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