KR100609160B1 - 광 픽업장치의 렌즈 조정장치 및 방법 - Google Patents

광 픽업장치의 렌즈 조정장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 빔정형 광 픽업 장치에 있어서, 특히 광 픽업장치에서의 광의 평행도에 따라 콜리메이터 렌즈와 레이저 다이오드 사이의 거리를 조정할 수 있도록 한 렌즈조정 장치 및 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 광 픽업장치에서의 렌즈 조정장치는, 광학계의 빔 정형수단을 통해서 입사되는 평행 광을 수렴시키는 렌즈와; 상기 수렴되는 빔을 반사 및 투과시켜 두 개의 광으로 분리하는 빔 분리수단과; 상기 분리된 광을 각각 결상하고 상기 결상된 빔의 크기를 전기적 신호로 각각 변환하여 광의 평행도를 출력하는 촬상수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
레이저다이오드, 콜리메이터렌즈, 정형프리즘, 평행도

Description

광 픽업장치의 렌즈 조정장치 및 방법{LENS ADJUSTMENT APPARATUS AND METHOD IN OPTICAL PICK-UP DEVICE}
도 1은 레이저 광의 광세기 분포를 나타낸 도면.
도 2는 종래 정형 프리즘을 사용한 광학계를 나타낸 구성도.
도 3은 종래 다른 정형 프리즘을 사용한 광학계를 나타낸 구성도.
도 4는 종래 정형렌즈를 사용한 광학계를 나타낸 구성도.
도 5는 본 발명 실시 예에 따른 광 픽업장치에서의 렌즈 조정장치를 나타낸 구성도.
도 6은 본 발명에 있어, 콜리메이터 렌즈의 위치가 잘 맞는 경우의 촬상소자의 결상 상태도.
도 7 및 도 8은 본 발명에 있어, 콜리메이터의 위치가 틀어진 경우 촬상소자의 결상 상태도.
도 9는 본 발명 실시 예에 따른 광 픽업장치에서의 렌즈 조정방법을 나타낸 플로우 챠트.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
201...레이저 다이오드 202...콜리메이터 렌즈
203...정형 프리즘 210...측정장비
211...렌즈 212...빔 스플리터
213,214...촬상소자 215...모니터
본 발명은 빔정형 광 픽업 장치에 있어서, 특히 광 픽업장치의 빔의 평행도를 측정하여 콜리메이터 렌즈를 조정할 수 있도록 한 렌즈 조정 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 광을 이용한 기록매체, 예컨대 CD(Compact Disc) 등과 같은 통상의 디스크형 매체를 구동하는 광 기록/재생 장치는 디스크를 회전시키면서 레이저 빔(Laser Beam)을 디스크의 기록면에 조사하여 데이터를 기록하거나 재생한다.
그리고, 레이저 다이오드에서 발광되는 레이저광은 도 1과 같이 광의 세기분포가 일정하지 않고 중심치가 가장 강하며, 주변부로 갈수록 점점 약해지는 가우시안 형태의 분포를 이룬다. 그런데, 이 가우시안 분포의 형태가 수직방향(V)과 수평방향(H)이 상당히 차이가 난다. 따라서, 레이저광의 전체 세기 분포를 등고선으로 표시하면 타원형이 된다. 이러한 이유로 레이저 다이오드를 사용했을 때, 수직방향과 수평방향의 특성이 상당히 달라지는 경우가 발생한다.
예를 들면, 광 디스크의 기록, 재생 장치인 광 픽업(pick-up)의 경우 디스크에 집광된 빔의 크기(d)는 수학식 1과 같이 대물렌즈의 개구수(NA) 에 반비례하고, 사용하는 레이저의 파장(λ) 에 비례한다.
Figure 112003050840363-pat00001
여기서, d는 디스크에 집광된 빔의 크기, λ은 레이저의 파장, NA는 대물렌즈의 개구수이다. 그리고 수학식 1에서 사용된 상수(k)는 대물렌즈에 입사된 레이저 광의 빔 세기분포에 따라 좌우되는 비례상수이다.
따라서 레이저 다이오드의 수직방향과 수평방향의 광 세기분포가 서로 다르므로 디스크에 집광된 빔의 크기도 수직방향과 수평방향이 서로 다른 타원모양의 찌그러진 빔 모양이 된다. 이러한 비대칭이 심해지면 기록하는 광 픽업의 성능에 열화현상이 나타난다.
이러한 현상을 막기 위해서 광 경로 상에 정형프리즘이나 정형렌즈 등을 사용하여, 입사빔의 좌우방향의 세기분포와 수직방향의 세기분포를 비슷하게 만들어 주게 된다.
도 1은 종래 광 픽업장치에 있어서, 광학계를 나타낸 구성도이다.
도 1을 참조하면, 광빔을 발생하는 레이저 다이오드(101)와, 평행 빔으로 변환하는 콜리메이터렌즈(102)와, 일정한 빔의 분포를 갖도록 하는 정형 프리즘(103)과, 입사빔을 반사하는 반사미러(104)와, 디스크(106)에 집광하는 대물렌즈(105)와, 센서렌즈(107) 및 반사빔을 전기적 신호로 검출하는 광 검출기(PD)(108)로 구성된다.
도 1에 도시된 광 픽업 장치는, 레이저 다이오드(101)는 수평 방사각과 수직 방사각의 광빔을 발산시킨다. 콜리메이터 렌즈(102)는 레이저 다이오드(101)로부터 정형프리즘(103) 쪽으로 진행하는 발산형의 광빔을 평행 빔으로 변환하여 빔의 누설을 방지한다.
여기서, 정형프리즘(103)은 레이저다이오드(101)로부터 콜리메이터렌즈(102)를 경유하여 진행되는 입사 빔을 반사미러(104) 쪽으로 진행하도록 통과시키게 된다. 이때, 정형프리즘(103)은 수평빔의 광량 분포를 2배 이상 넓게 하여 정형프리즘(103)을 통과한 빔이 일정한 빔의 분포를 갖도록 한다.
상기 반사미러(104)는 정형프리즘(103)으로부터의 입사 빔을 대물렌즈(105) 쪽으로 반사시킴과 아울러 대물렌즈(105)로부터의 반사빔을 정형프리즘(103) 쪽으로 반사된다. 여기서, 대물렌즈(106)는 반사미러(104)에 의해 반사된 입사빔을 광디스크(106)의 기록면에 집속시킨다. 이렇게 광디스크(12)에 광빔을 조사하여 정보를 기록함과 아울러 정보를 재생하게 된다.
상기 정형프리즘(103)은 광디스크(106)에서 반사되어 대물렌즈(105) 및 반사미러(104)를 경유하여 진행되는 반사빔을 센서렌즈(107) 쪽으로 반사시키게 된다.
그리고, 센서렌즈(107)는 광디스크(106)에서 반사되어 대물렌즈(105), 반사미러(104) 및 정형프리즘(103)을 경유하여 입사되는 반사빔을 광검출기(108)에 집속시키게 된다. 광검출기(108)는 센서렌즈(107)에 의해 집속된 반사빔의 광량을 검출하여 전기적신호로 변환하게 된다.
한편, 이러한 정형 프리즘은 실시 예로서, 도 3과 같은 구조로도 적용이 가능하다. 레이저 다이오드(121)와 정형 프리즘(123) 사이에 콜리메이터 렌즈(122)를 구성하고, 정형 프리즘(123)은 콜리메이터 렌즈(122)로부터 입사되는 평행 빔이 일정한 광량 분포를 갖도록 빔을 정형시켜 준다.
이와 같이, 빔이 일정한 분포를 가지도록 도 2 및 도 3과 같은 정형 프리즘(103,123)을 사용하거나, 도 4와 같이 레이저 다이오드(131) 및 콜리메이터 렌즈(133) 사이에 정형렌즈(132)를 사용하는 경우도 있다.
그런데, 정형 프리즘(103)(123)을 사용하는 방식은 콜리메이터 렌즈(102)(122)와 레이저 다이오드(101)(121) 사이의 거리(d1)(d2) 오차에 따라 빔의 분포 광량이 매우 민감하고, 정형렌즈(132)를 사용하는 방식은 정형렌즈(132)의 위치에 빔 성능이 매우 민감하게 된다.
만약, 도 2 및 3에서 레이저 다이오드(101,121)와 콜리메이터 렌즈(102,122) 사이의 거리(d1,d2) 오차가 발생되면, 평행 빔이 아닌 발산 혹은 수렴된 광이 정형 프리즘(103,123)을 입사하게 되고, 이 빔은 정형 프리즘(103,123)을 투과하여 나오게 되면, 비점수차라고 하는 수차를 가진 품질이 열화된 광으로 변하게 된다.
이를 위해, 매우 정밀한 평행도를 가진 평행 광을 만들도록 콜리메이터 렌즈의 위치를 조정해 주어야 하는데, 콜리메이터 렌즈의 초점거리가 10mm정도일 때, 수용할 만한 거리오차는 대략 5~6mm 정도이다. 이때, 수용 거리 오차로 조정하기 위해서는 수용할만한 오차이내에 들어왔다고 판별하기 위한 별도의 수단이 필요하게 된다. 보통 많이 사용하는 판별수단으로 사용하는 장비는 간섭계가 있다.
즉, 정형프리즘에서 나오는 광을 간섭계에 입사하여, 간섭계로부터 나오는 간섭무늬를 분석하여 발산, 수렴 정도와 빔이 가진 수차를 정량적으로 분석할 수 있다.
그러나 상기의 간섭계는 매우 정밀한 장비로서 고가의 장비이며, 진동에도 민감한 장비이다.따라서 대량생산 등에 적용하기에는 적합하지가 않아서 저가의 대체 장비가 필요하다.
본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로서, 콜리메이터 렌즈를 거쳐서 정형 프리즘을 통하여 나오는 광의 평행도를 정확히 측정하고 정밀하게 조정할 수 있도록 한 광 픽업 장치용 평행광 측정장치 및 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
상기한 목적 달성을 위한 본 발명에 따른 광 픽업 장치용 평행광 측정장치는,
정형 프리즘을 통해서 입사되는 평행 빔이 수렴되도록 투과시키는 렌즈와;
상기 수렴되는 빔을 투과 및 반사하여 두 개의 광으로 분리하는 빔 분리수단과,
빔의 평행도를 측정하기 위해, 상기 분리된 빔을 결상하여 전기적신호로 각각 변환하여 출력하는 촬상수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 촬상수단은 상기 빔 분리수단의 초점을 지나서 결상된 빔을 전기적 신호로 검출하는 제 1촬상소자와, 빔 분리수단의 초점 이전에 반사되어 결상된 빔을 전기적 신호로 검출하는 제 2촬상소자를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 5에 도시된 바와 같이, 광 픽업장치에서 레이저 빔을 발생하는 레이저 다이오드(201)와, 레이저 다이오드(201)로부터 발생되는 빔을 평행하게 변환하는 콜리메이터 렌즈(202)와, 상기 콜리메이터 렌즈(202)로부터 출사된 평행 빔을 정형하여 투과시키는 정형 프리즘(203)과, 상기 정형 프리즘(203)을 통과하는 평행 광을 입사받아 그 평행도를 측정하는 평행도 측정 장비(210)로서, 렌즈(211), 빔 스플리터(212), 촬상수단인 제 1촬상소자(CCD1)(213) 및 제 2촬상소자(CCD2)(214)로 구성된다.
여기서, 상기 렌즈(211)는 정형프리즘(203)을 통해서 나오는 평행 광이 투과하여 수렴되고, 빔 스플리터(212)는 상기 렌즈(211)에 의해 수렴되는 광을 두 개의 광으로 나누며, 하나의 광은 초점을 지나서 투과되게 하고, 나머지 하나는 초점 이전에 반사된다.
그리고, 제 1 및 제2촬상소자(213,214)는 빔 스플리터(212)로부터 투과 및 반사되는 빔을 결상시키고 결상된 빔을 전기적인 신호로 변환하여 출력하게 된다.
상기와 같이 구성되는 본 발명 실시 예에 따른 광 픽업 장치용 빔 평행도 측정 장치는 도 5에 도시된 바와 같다.
먼저, 광 픽업장치는 레이저 다이오드(201)와 정형 프리즘(203) 사이에 콜리메이터 렌즈(202)를 배치하고, 레이저 다이오드(201)로부터 발생되는 레이저 광을 콜리메이터 렌즈(202)에서 평행 광으로 변환하게 된다.
그리고, 상기 정형 프리즘(203)은 상기 콜리메이터 렌즈(202)의 입사면에 수직으로 입사된 타원형태의 강도분포를 가지는 광을 일정한 분포를 가지도록 정형한다.
이러한 정형 프리즘(203)을 통과한 광의 평행도를 정밀하게 측정하기 위해, 본 발명은 광의 평행도 측정 장비(210)를 이용하게 된다.
상기 측정 장비(210)에서는 정형 프리즘(203) 또는 다른 정형 프리즘 또는 정형렌즈를 사용하는 광학계에 적용 가능되며, 콜리메이터 렌즈(202) 및 레이저 다이오드(201)간의 거리오차로 인한 광의 평행도를 측정하게 된다.
이를 위해 측정 장비(210)에는 광의 수렴을 위한 렌즈(211), 두 개의 광으로 만드는 빔 스플리터(212), 촬상수단인 제 1촬상소자(213) 및 제 2촬상소자(214)로 구성된다.
상기 렌즈(211)는 정형 프리즘(203)으로부터 출사되는 광이 수렴되도록 투과시키는 특성을 갖고 있으며, 빔 스플리터(212)는 상기 수렴되는 광을 두 개의 광으로 나누어, 하나의 광은 초점을 지나서 제 1촬상소자(213)에 상이 맺히게 되고, 다른 하나는 초점 이전에 제 2촬상소자(214)에 상이 맺히게 된다. 실시 예로서, 상기 렌즈(211)는 수차가 보정된 정밀한 렌즈로 하는 것이 바람직하다.
여기서, 빔 스플리터(212)는 렌즈(211)로부터 수렴되는 광을 투과 및 반사하 여 두 개의 광으로 나누고, 하나의 광은 제 1촬상소자(213)에 결상되며, 다른 하나의 광은 제 2촬상소자(214)에 결상된다.
이때, 제 1촬상소자(213) 및 제 2찰상소자(214)의 결상 위치는 조절이 가능하므로 이를 조절하여 두 개의 촬상소자(213,214)의 결상 위치를 맞추게 된다. 즉, 대량 생산되는 광학계에서 어느 하나의 제품을 기준 모델로 하여 두 개의 광이 결상되는 위치를 조정(d11,d12)하여, 기준 위치로 설정하게 된다.
그러면, 정형 프리즘(203)으로부터 출사되는 광이 평행광인 경우, 제 1촬상소자(213)에 결상된 빔의 형태와 제 2촬상소자(214)에 결상된 빔의 형태가 거의 같게 되므로, 도 6과 같이 두 개의 촬상소자(213,214)에 맺히는 빔의 형태가 거의 같도록 맞출 수가 있다.
만약, 콜리메이터 렌즈(202)의 거리 오차가 5um 틀어진 경우, 광이 상기 측정 장비(210)에 입사하게 되면, 도 7과 같이 두 개의 촬상소자(213,214)에 맺히는 빔의 크기는, 하나의 광은 빔 크기가 커지게 되고 다른 하나의 광은 빔 크기가 작아지면서 비점 수차를 가지게 되어, 찌그러진 모양을 가지게 된다.
또한, 콜리메이터 렌즈(202)의 위치가 10um 틀어진 경우 광이 상기 측정 장비(210)에 입사하게 되면, 촬상소자(213,214)에는 맺히는 두 개의 빔의 크기는 도 8과 같이 결상된 빔 모양이 차이가 난다. 즉, 두 개의 빔 크기의 차이가 더욱 커지게 된다.
도 7 및 도 8과 같이 제 1촬상소자(CCD1)(213)에 맺힌 상의 크기 및 형태와 제 2촬상소자(CCD2(214)에 맺히 상의 크기 및 형태를 비교해서 두개의 차이가 크게 나면 평행도가 틀어진 것이고, 도 6과 같이 두 개의 차이가 적을 때 평행도의 조절이 잘되었다고 판단한다.
에컨대, 콜리메이터 렌즈의 위치를 조정하기 위해서, 제 1촬상소자(213)의 빔 크기가 제 2촬상소자(214)의 빔 크기 보다 더 큰 경우에는, 콜리메이타 렌즈(202)의 위치가 정 위치보다 레이저 다이오드(201) 쪽으로 가까이 위치하여 발산광이 된 경우이므로, 콜리메이터 렌즈의 위치를 뒤로 이동시켜 주면서 빔의 크기를 확인하고 정위치에 오도록 조정한다.
반대로, 제 1촬상소자의 빔 크기가 제 2촬상소자의 빔 크기 보다 작은 경우에는 콜리메이타렌즈(202)의 위치가 정 위치보다 레이저 다이오드(201)로부터 멀리 위치하여 수렴광이 된 경우이므로, 콜리메이터 렌즈(201)의 위치를 앞으로 이동시켜 주면서 빔의 크기를 확인하고 정 위치에 오도록 조정하게 된다. 따라서 콜리메이터 렌즈(202)를 앞뒤로 조정하다보면 두개의 상의 크기가 같아지는 위치가 나타나고 이때의 위치가 정 위치입니다.
이에 따라 두 빔 사이의 차가 크지 않으면 콜리메이터 렌즈(202)의 위치가 정확하다고 판단할 수 있으며, 반대로 두 빔의 크기의 차이가 상대적으로 크게 나오면 콜리메이터 렌즈(202)의 위치가 틀어졌다고 판단할 수 있다. 바람직하게, 상기 촬상소자(213,214)로부터 결상된 빔을 전기적 신호로 작업자에게 표시해주어 콜리메이터 렌즈의 거리 오차를 조정할 수 있도록 모니터 수단(215)에 제공하는 것이 바람직하다.
도 9는 본 발명의 빔 정형 광학계에서의 렌즈 조정 방법을 나타낸 플로우 챠트이다.
도 9를 도 5의 도면을 참조하여 설명하면, 광학계의 빔 정형수단을 통해 평행광이 측정 장비(210)에 입사되면 렌즈(211)에 의해 수렴특성을 갖고 투과된다(S201,S203). 상기 수렴되는 평행광은 빔 스플리터(212)를 통해 두 개의 광으로 나누어지며(S205), 나누어진 두 개의 광은 각각의 촬상소자(CCD1,CCD2)에 결상된다(S207).
그리고, 결상된 빔의 크기를 각각 검출하고(S209), 상기 검출된 빔의 크기를 비교하여, 두 개의 빔 크기가 동일 범위 내에 있는가를 확인하게 된다(S211). 여기서 동일 범위 여부는 작업자가 모니터를 통해 확인이 가능한 크기이거나 수치로 표현되는 것이 바람직하다.
이때, 두 개의 빔 크기가 동일 범위 내에 있으면 콜리메이터 렌즈(202)의 거리 위치가 정확하다고 판단하여 콜리메이터 렌즈의 위치 조정을 하지 않고(S213), 두 개의 빔 크기가 차이가 날 경우 콜리메이터 렌즈(202)의 거리 위치가 틀어졌다고 판단하여 콜리메이터 렌즈의 위치를 전/후 조정하게 된다(S215,S217).
따라서, 측정장비(210)를 이용하여 광학계로부터 출사되는 평행 광의 평행도를 보다 정확하게 측정할 수 있고, 이를 통해 콜리메이터 렌즈(202)의 위치 조정이 가능하게 됨으로써, 비점수차를 줄일 수 있다.
이와 같이, 콜리 메이터렌즈(202)의 위치를 조정하게 됨에 따라 보다 정밀한 평행광이 만들어지므로 세기 분포를 균일하게 만들어줄 수 있다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시 예를 중심으로 살펴보았으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적 기술 범위 내에서 상기 본 발명의 상세한 설명과 다른 형태의 실시 예들을 구현할 수 있을 것이다. 여기서 본 발명의 본질적 기술범위는 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 광 픽업장치에서의 렌즈 조정장치 및 방법에 의하면, 광의 평행도를 간단한 측정장비로서 측정할 수 있으므로, 정형프리즘이나 정형렌즈를 사용하는 광학계에 적용하여 대량생산되는 제품의 신뢰성을 향상시켜 줄 수 있다.



Claims (4)

  1. 광학계의 빔 정형수단을 통해서 입사되는 평행 광을 수렴시키는 렌즈와;
    상기 수렴되는 빔을 두 개의 광으로 분리하는 빔 분리수단과;
    빔의 평행도를 측정하기 위해, 상기 분리된 광을 각각 결상하고 상기 결상된 빔의 크기를 전기적 신호로 각각 변환하는 촬상수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업장치의 렌즈 조정장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 촬상수단은 빔 분리수단으로부터 분리된 두 개의 광이 맺히는 빔의 크기를 각각 검출하기 위한 제 1 및 제 2촬상소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치의 렌즈 조정장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 촬상수단은 제 1촬상소자 및 제 2촬상소자에 맺히는 빔의 크기를 모니터 수단에 제공해 주는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치의 렌즈 조정장치.
  4. 광학계의 빔 정형수단을 통해 입사되는 평행 광이 렌즈를 투과하여 수렴되도록 하는 단계;
    상기 수렴되는 평행 광을 빔 분리수단을 이용하여 복수 개의 광을 분리시켜 반사 및 투과시키는 단계;
    상기 분리된 광을 각각 결상하고 결상된 빔의 크기를 각각 검출하는 단계;
    상기 두 개의 빔 크기를 비교한 후, 두 개의 빔 크기가 서로 동일 범위 내에 있지 않을 경우 콜리메이터 렌즈의 거리 오차를 조정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 픽업 장치의 렌즈 조정방법.
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