JPH09198706A - 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系 - Google Patents
光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系Info
- Publication number
- JPH09198706A JPH09198706A JP8008248A JP824896A JPH09198706A JP H09198706 A JPH09198706 A JP H09198706A JP 8008248 A JP8008248 A JP 8008248A JP 824896 A JP824896 A JP 824896A JP H09198706 A JPH09198706 A JP H09198706A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hologram
- error detector
- focus error
- stem
- laser diode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/32—Holograms used as optical elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0943—Methods and circuits for performing mathematical operations on individual detector segment outputs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/133—Shape of individual detector elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 光学素子の製造誤差を吸収するフォーカス誤
差信号（ＦＥＳ）ビームの結像位置調整方法を達成でき
る光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系
を提供する。 【解決手段】 ホログラム光学系はステムと、ステムに
固定のレーザダイオードと、ステムに固定されたフォー
カス誤差検知器を含み、フォーカス誤差検知器は少なく
とも１つの直線状分割線により第１、２に分割され、更
に、レーザダイオード及びフォーカス誤差検知器を包囲
してステムに取り付けのキャップと、レーザダイオード
及びフォーカス誤差検知器に所定の位置関係でキャップ
に取り付のホログラムとを含む。フォーカス誤差検知器
の分割線が正の傾きでは、ホログラムの干渉縞ピッチの
Ｘ、Ｙ成分の変化率の積が負のホログラムの干渉縞分布
を形成し、分割線が負の傾きではホログラムの干渉縞ピ
ッチのＸ、Ｙの変化率積が正の干渉縞分布のホログラム
を使用する。
差信号（ＦＥＳ）ビームの結像位置調整方法を達成でき
る光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系
を提供する。 【解決手段】 ホログラム光学系はステムと、ステムに
固定のレーザダイオードと、ステムに固定されたフォー
カス誤差検知器を含み、フォーカス誤差検知器は少なく
とも１つの直線状分割線により第１、２に分割され、更
に、レーザダイオード及びフォーカス誤差検知器を包囲
してステムに取り付けのキャップと、レーザダイオード
及びフォーカス誤差検知器に所定の位置関係でキャップ
に取り付のホログラムとを含む。フォーカス誤差検知器
の分割線が正の傾きでは、ホログラムの干渉縞ピッチの
Ｘ、Ｙ成分の変化率の積が負のホログラムの干渉縞分布
を形成し、分割線が負の傾きではホログラムの干渉縞ピ
ッチのＸ、Ｙの変化率積が正の干渉縞分布のホログラム
を使用する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置用光
ピックアップ（光学ヘッド）のホログラム光学系に関す
る。
ピックアップ（光学ヘッド）のホログラム光学系に関す
る。
【０００２】光ディスクは近年急速に発展するマルチメ
ディア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴び
ており、通常カートリッジの中に収容された状態で使用
される。
ディア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴び
ており、通常カートリッジの中に収容された状態で使用
される。
【０００３】光ディスクカートリッジが光ディスク装置
内にローディングされ、光ピックアップにより光ディス
クへのデータのライト／リードが行われる。
内にローディングされ、光ピックアップにより光ディス
クへのデータのライト／リードが行われる。
【０００４】
【従来の技術】従来より光ディスク装置の光ピックアッ
プにホログラムを用いたものがいくつか提案されてい
る。ホログラムはレーザダイオード、光検知器（フォト
ディテクタ）と共に一体化され、サーボ制御のためのレ
ーザビームの誤差検知を行う。
プにホログラムを用いたものがいくつか提案されてい
る。ホログラムはレーザダイオード、光検知器（フォト
ディテクタ）と共に一体化され、サーボ制御のためのレ
ーザビームの誤差検知を行う。
【０００５】レーザビームの誤差検知にはビームの光デ
ィスク上へのフォーカスの誤差を検知するフォーカス誤
差検知と、ビームの光ディスクの所定のトラック上から
のずれを検知するトラッキング誤差検知がある。
ィスク上へのフォーカスの誤差を検知するフォーカス誤
差検知と、ビームの光ディスクの所定のトラック上から
のずれを検知するトラッキング誤差検知がある。
【０００６】フォーカス誤差信号（ＦＥＳ）ビームの結
像を行うホログラムは検知器とコリメータレンズとの間
に配置され、ＦＥＳビームはホログラムによって回折さ
れ、検知器に導かれる。
像を行うホログラムは検知器とコリメータレンズとの間
に配置され、ＦＥＳビームはホログラムによって回折さ
れ、検知器に導かれる。
【０００７】一枚のホログラムがレーザビームの光路中
に配置されている場合、レーザダイオードの波長変動に
伴い、ホログラムからのレーザビームの出射角度も変化
し、検知器上のビーム結像位置も変化する。
に配置されている場合、レーザダイオードの波長変動に
伴い、ホログラムからのレーザビームの出射角度も変化
し、検知器上のビーム結像位置も変化する。
【０００８】サーボ検知としてよく知られたダブルナイ
フエッジ法（フーコ法）を用いる場合には、光検知器を
２つに分割する分割線とビーム結像位置との関係は重要
であり、波長変動に応じて分割線に対するビームの結像
位置が変化してはならない。
フエッジ法（フーコ法）を用いる場合には、光検知器を
２つに分割する分割線とビーム結像位置との関係は重要
であり、波長変動に応じて分割線に対するビームの結像
位置が変化してはならない。
【０００９】波長変動による影響がサーボ検知に影響を
与えない従来の方法として、ホログラムからのビームの
回折方向と分割線の方向を平行にすることが提案されて
いる（特開昭62-97141号、特開平1-106341号、特開平2-
172025号、特開昭61-233441号) 。
与えない従来の方法として、ホログラムからのビームの
回折方向と分割線の方向を平行にすることが提案されて
いる（特開昭62-97141号、特開平1-106341号、特開平2-
172025号、特開昭61-233441号) 。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】光学素子の製造誤差に
よりＦＥＳビームの結像位置が、ビームが光ディスク上
にフォーカスしているのにもかかわらず光検知器の分割
線上からずれることがある。
よりＦＥＳビームの結像位置が、ビームが光ディスク上
にフォーカスしているのにもかかわらず光検知器の分割
線上からずれることがある。
【００１１】レーザダイオードと光検知器の一体化が行
われていない従来の光ピックアップでは、光検知器を調
整することによりＦＥＳビームの結像位置を分割線上に
合わせることが可能であった。
われていない従来の光ピックアップでは、光検知器を調
整することによりＦＥＳビームの結像位置を分割線上に
合わせることが可能であった。
【００１２】しかし、小型化を実現するために最近の光
ピックアップでは、レーザダイオードと光検知器は同一
のステム上に形成されている。このため、光検知器の位
置を調整することによりＦＥＳビームの結像位置を分割
線上に合わせる方法を採用できなくなり、製造誤差を吸
収する別の調整方法が要求されている。
ピックアップでは、レーザダイオードと光検知器は同一
のステム上に形成されている。このため、光検知器の位
置を調整することによりＦＥＳビームの結像位置を分割
線上に合わせる方法を採用できなくなり、製造誤差を吸
収する別の調整方法が要求されている。
【００１３】よって本発明の目的は、光学素子の製造誤
差を吸収する調整方法に使用するのに適した光ディスク
装置用光ピックアップのホログラム光学系を提供するこ
とである。
差を吸収する調整方法に使用するのに適した光ディスク
装置用光ピックアップのホログラム光学系を提供するこ
とである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明によると、ステム
と；前記ステムに固定されたレーザダイオードと；前記
ステムに固定されたフォーカス誤差検知器を第１領域と
第２領域に分割する少なくとも１つの直線状分割線を有
するフォーカス誤差検知器と；前記レーザダイオード及
び前記フォーカス誤差検知器を包囲するように前記ステ
ムに取り付けられたキャップと；前記レーザダイオード
及び前記フォーカス誤差検知器に対して所定の位置関係
で前記キャップに取り付けられたホログラムとを具備
し；前記フォーカス誤差検知器の分割線は正の傾きを有
しており、前記ホログラムの干渉縞ピッチのＸ成分の変
化率とＹ成分の変化率の積が負であることを特徴とする
光ディスク装置用光ピックアップが提供される。
と；前記ステムに固定されたレーザダイオードと；前記
ステムに固定されたフォーカス誤差検知器を第１領域と
第２領域に分割する少なくとも１つの直線状分割線を有
するフォーカス誤差検知器と；前記レーザダイオード及
び前記フォーカス誤差検知器を包囲するように前記ステ
ムに取り付けられたキャップと；前記レーザダイオード
及び前記フォーカス誤差検知器に対して所定の位置関係
で前記キャップに取り付けられたホログラムとを具備
し；前記フォーカス誤差検知器の分割線は正の傾きを有
しており、前記ホログラムの干渉縞ピッチのＸ成分の変
化率とＹ成分の変化率の積が負であることを特徴とする
光ディスク装置用光ピックアップが提供される。
【００１５】本発明の他の側面によると、ステムと；前
記ステムに固定されたレーザダイオードと；前記ステム
に固定されたフォーカス誤差検知器を第１領域と第２領
域に分割する少なくとも１つの直線状分割線を有するフ
ォーカス誤差検知器と；前記レーザダイオード及び前記
フォーカス誤差検知器を包囲するように前記ステムに取
り付けられたキャップと；前記レーザダイオード及び前
記フォーカス誤差検知器に対して所定の位置関係で前記
キャップに取り付けられたホログラムとを具備し；前記
フォーカス誤差検知器の分割線は負の傾きを有してお
り、前記ホログラムの干渉縞ピッチのＸ成分の変化率と
Ｙ成分の変化率の積が正であることを特徴とする光ディ
スク装置用光ピックアップのホログラム光学系が提供さ
れる。
記ステムに固定されたレーザダイオードと；前記ステム
に固定されたフォーカス誤差検知器を第１領域と第２領
域に分割する少なくとも１つの直線状分割線を有するフ
ォーカス誤差検知器と；前記レーザダイオード及び前記
フォーカス誤差検知器を包囲するように前記ステムに取
り付けられたキャップと；前記レーザダイオード及び前
記フォーカス誤差検知器に対して所定の位置関係で前記
キャップに取り付けられたホログラムとを具備し；前記
フォーカス誤差検知器の分割線は負の傾きを有してお
り、前記ホログラムの干渉縞ピッチのＸ成分の変化率と
Ｙ成分の変化率の積が正であることを特徴とする光ディ
スク装置用光ピックアップのホログラム光学系が提供さ
れる。
【００１６】上述したような干渉縞のピッチ分布を有す
るホログラムを使用して、光ディスク装置製造時の光ピ
ックアップの調整を、ホログラムを移動することにより
行う。本発明の光ピックアップのホログラムは、この調
整に適した干渉縞分布を有している。
るホログラムを使用して、光ディスク装置製造時の光ピ
ックアップの調整を、ホログラムを移動することにより
行う。本発明の光ピックアップのホログラムは、この調
整に適した干渉縞分布を有している。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１を参照すると、本発明の第１
実施形態に係る光ピックアップのホログラム光学系２の
斜視図が示されている。ステム４上にはレーザダイオー
ド６及びＦＥＳビーム検知用のフォトダイオード（光検
知器）８，１０がダイボンディング等により搭載されて
いる。
実施形態に係る光ピックアップのホログラム光学系２の
斜視図が示されている。ステム４上にはレーザダイオー
ド６及びＦＥＳビーム検知用のフォトダイオード（光検
知器）８，１０がダイボンディング等により搭載されて
いる。
【００１８】ステム４上には上部に開口１５を有する樹
脂キャップ１４が接着等により固定されている。樹脂キ
ャップ１４上にはレーザダイオード６及びフォトダイオ
ード８，１０に対して所定の位置関係となるように調整
されたホログラムユニット１６が接着されている。
脂キャップ１４が接着等により固定されている。樹脂キ
ャップ１４上にはレーザダイオード６及びフォトダイオ
ード８，１０に対して所定の位置関係となるように調整
されたホログラムユニット１６が接着されている。
【００１９】ホログラムユニット１６はガラス基板１８
と、ガラス基板１８上に形成されたホログラム２０とか
ら構成される。符号１２はレーザダイオード６及びフォ
トダイオード８，１０の端子を示している。
と、ガラス基板１８上に形成されたホログラム２０とか
ら構成される。符号１２はレーザダイオード６及びフォ
トダイオード８，１０の端子を示している。
【００２０】図２を参照すると、本発明のホログラム光
学系が適用される光ピックアップの全体構成図が示され
ている。レーザダイオード６から出射したレーザビーム
はホログラムユニット１６のガラス基板１８及びホログ
ラム２０を透過して、コリメータレンズ２２でコリメー
トビームにされる。このコリメートビームはビームスプ
リッタ２４を透過し、対物レンズ２６で光ディスク２８
上にフォーカスされる。
学系が適用される光ピックアップの全体構成図が示され
ている。レーザダイオード６から出射したレーザビーム
はホログラムユニット１６のガラス基板１８及びホログ
ラム２０を透過して、コリメータレンズ２２でコリメー
トビームにされる。このコリメートビームはビームスプ
リッタ２４を透過し、対物レンズ２６で光ディスク２８
上にフォーカスされる。
【００２１】光ディスク２８からの反射光は対物レンズ
２６によりコリメートビームにされてから、ビームスプ
リッタ２４により信号用ビームとサーボ検知用ビームに
分割される。
２６によりコリメートビームにされてから、ビームスプ
リッタ２４により信号用ビームとサーボ検知用ビームに
分割される。
【００２２】信号用ビームはレンズ３０によりフォトダ
イオード３２にフォーカスされ、フォトダイオード３２
により光−電気変換されて光ディスク２８のデータが読
み出される。
イオード３２にフォーカスされ、フォトダイオード３２
により光−電気変換されて光ディスク２８のデータが読
み出される。
【００２３】サーボ検知用ビームはコリメータレンズ２
２を透過し、ホログラム２０により４つの一次回折ビー
ムに分割される。即ち、ホログラム２０によりフォーカ
スエラー検知用のビーム２本とトラックエラー検知用の
ビーム２本に分割される。
２を透過し、ホログラム２０により４つの一次回折ビー
ムに分割される。即ち、ホログラム２０によりフォーカ
スエラー検知用のビーム２本とトラックエラー検知用の
ビーム２本に分割される。
【００２４】本実施形態ではフォーカスエラーの検知に
はフーコ法（ダブルナイフエッジ法）を用いる。フーコ
法ではフォーカスエラー検知用の光検知器が１つのビー
ムについて１つ用意され、２ビームで合計２つの光検知
器８，１０が用いられる。
はフーコ法（ダブルナイフエッジ法）を用いる。フーコ
法ではフォーカスエラー検知用の光検知器が１つのビー
ムについて１つ用意され、２ビームで合計２つの光検知
器８，１０が用いられる。
【００２５】光ディスク上にレーザビームがフォーカス
すると、フォーカスエラー検知用ビームは光検知器８，
１０の分割線上に結合し、分割線で分割された２つの領
域からの出力が同量となる。
すると、フォーカスエラー検知用ビームは光検知器８，
１０の分割線上に結合し、分割線で分割された２つの領
域からの出力が同量となる。
【００２６】光ディスク上でビームがディフォーカスし
た状態では、フォーカスエラー検知用のビームはディフ
ォーカス状態となり、各領域からの出力がディフォーカ
ス量に応じてアンバランスとなり、ディフォーカスであ
ることが検知される。
た状態では、フォーカスエラー検知用のビームはディフ
ォーカス状態となり、各領域からの出力がディフォーカ
ス量に応じてアンバランスとなり、ディフォーカスであ
ることが検知される。
【００２７】しかし、ホログラム光学系の組み立てに当
たり、光ディスク上にビームがフォーカスしているのに
関わらず、光学素子の製造誤差によりフォーカスエラー
検知用のビームが光検知器の分割線上に結像することな
く、分割線からオフセットした位置で結像することがあ
る。これはサーボ系によるビームの光ディスク上へのフ
ォーカスの誤検知を招くことになる。
たり、光ディスク上にビームがフォーカスしているのに
関わらず、光学素子の製造誤差によりフォーカスエラー
検知用のビームが光検知器の分割線上に結像することな
く、分割線からオフセットした位置で結像することがあ
る。これはサーボ系によるビームの光ディスク上へのフ
ォーカスの誤検知を招くことになる。
【００２８】本実施形態ではビームフォーカスの誤検知
を回避するために、光学素子の製造誤差によるビームの
結像位置ずれをホログラムを移動することにより補正
し、この補正をした後に図１に示すようにホログラムユ
ニット１６を樹脂キャップ１５に接着する。
を回避するために、光学素子の製造誤差によるビームの
結像位置ずれをホログラムを移動することにより補正
し、この補正をした後に図１に示すようにホログラムユ
ニット１６を樹脂キャップ１５に接着する。
【００２９】光ディスク上にレーザビームがフォーカス
している状態で、フォーカスエラー検知用のビームが光
検知器の分割線上に結像するようにホログラムを移動す
る。ホログラムの移動補正はＸ方向移動、Ｙ方向移動及
び回転移動のうちの少なくとも２つを用いる。
している状態で、フォーカスエラー検知用のビームが光
検知器の分割線上に結像するようにホログラムを移動す
る。ホログラムの移動補正はＸ方向移動、Ｙ方向移動及
び回転移動のうちの少なくとも２つを用いる。
【００３０】ホログラムを移動することによるビームの
結像位置の補正では、ホログラムの移動によってホログ
ラムからの一次回折光の出射角が変化し、さらに光検知
器の分割線上にビーム結像位置を合わせるために都合の
よい出射角変化が起こらなければならない。出射角変化
はホログラムの干渉縞の分布制御により行うが、最適な
干渉縞の分布制御を得るためには光検知器の分割線の角
度がパラメータとなる。
結像位置の補正では、ホログラムの移動によってホログ
ラムからの一次回折光の出射角が変化し、さらに光検知
器の分割線上にビーム結像位置を合わせるために都合の
よい出射角変化が起こらなければならない。出射角変化
はホログラムの干渉縞の分布制御により行うが、最適な
干渉縞の分布制御を得るためには光検知器の分割線の角
度がパラメータとなる。
【００３１】図３は本実施形態のホログラムをＸ方向に
移動したときの、フォトダイオード１０上のビーム結像
位置の移動量を示している。実線がビーム移動量のＸ成
分を、破線がＹ成分をそれぞれ示している。
移動したときの、フォトダイオード１０上のビーム結像
位置の移動量を示している。実線がビーム移動量のＸ成
分を、破線がＹ成分をそれぞれ示している。
【００３２】図４は上記ホログラムをＸ方向に移動した
ときの、フォトダイオード８，１０上におけるビーム結
像位置の移動の様子を示している。フォトダイオード８
は分割線９により第１領域８ａと第２領域８ｂに分割さ
れている。（＋）（−）はホログラムを＋，−方向に移
動させた場合のビームスポットの移動方向を示す。
ときの、フォトダイオード８，１０上におけるビーム結
像位置の移動の様子を示している。フォトダイオード８
は分割線９により第１領域８ａと第２領域８ｂに分割さ
れている。（＋）（−）はホログラムを＋，−方向に移
動させた場合のビームスポットの移動方向を示す。
【００３３】同様に、フォトダイオード１０は分割線１
１により第１領域１０ａと第２領域１０ｂとに分割され
ている。フォトダイオード８，１０の分割線９と１１は
Ｙ軸に対して対称となっている。
１により第１領域１０ａと第２領域１０ｂとに分割され
ている。フォトダイオード８，１０の分割線９と１１は
Ｙ軸に対して対称となっている。
【００３４】ホログラムを正のＸ方向に直線移動する
と、フォトダイオード８上のビームスポット３４は左下
方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームスポッ
ト３６は左上方向に移動する。
と、フォトダイオード８上のビームスポット３４は左下
方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームスポッ
ト３６は左上方向に移動する。
【００３５】一方、ホログラムを負のＸ方向に直線移動
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右上方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６は右下方向に移動する。
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右上方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６は右下方向に移動する。
【００３６】フォトダイオード８において、ビームスポ
ット３４が分割線９より左側に移動すると光ディスクに
対して焦点が浅いことを示しており、右側に移動すると
焦点が深いことを示している。
ット３４が分割線９より左側に移動すると光ディスクに
対して焦点が浅いことを示しており、右側に移動すると
焦点が深いことを示している。
【００３７】一方、フォトダイオード１０において、ビ
ームスポット３６が分割線１１より左側に移動すると光
ディスクに対して焦点が深いことを示しており、右側に
移動すると焦点が浅いことを示している。
ームスポット３６が分割線１１より左側に移動すると光
ディスクに対して焦点が深いことを示しており、右側に
移動すると焦点が浅いことを示している。
【００３８】２つのフォトダイオード８，１０上でビー
ム結像位置がいずれも分割線９，１１に一致するように
ホログラムを移動して、光学素子の製造誤差に起因する
ビームの結像位置を補正する。
ム結像位置がいずれも分割線９，１１に一致するように
ホログラムを移動して、光学素子の製造誤差に起因する
ビームの結像位置を補正する。
【００３９】図５は上記ホログラムをＹ方向に移動した
ときの、フォトダイオード１０上のビーム結像位置の移
動量を示している。実線がビーム移動量のＸ成分を、破
線がＹ成分をそれぞれ示している。
ときの、フォトダイオード１０上のビーム結像位置の移
動量を示している。実線がビーム移動量のＸ成分を、破
線がＹ成分をそれぞれ示している。
【００４０】図６は上記ホログラムをＹ方向に移動した
ときの、フォトダイオード８，１０上におけるビーム結
像位置の移動の様子をそれぞれ示している。ホログラム
を正のＹ方向に直線移動すると、フォトダイオード８上
のビームスポット３４は左下方向に移動し、フォトダイ
オード１０上のビームスポット３６は右下方向に移動す
る。
ときの、フォトダイオード８，１０上におけるビーム結
像位置の移動の様子をそれぞれ示している。ホログラム
を正のＹ方向に直線移動すると、フォトダイオード８上
のビームスポット３４は左下方向に移動し、フォトダイ
オード１０上のビームスポット３６は右下方向に移動す
る。
【００４１】一方、ホログラムを負のＹ方向に直線移動
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右上方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６は左上方向に移動する。
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右上方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６は左上方向に移動する。
【００４２】図７は上記ホログラムを回転したときのフ
ォトダイオード１０上でのビーム結像位置の移動量を示
している。実線がビーム結像位置のＸ成分を、破線がＹ
成分をそれぞれ示している。
ォトダイオード１０上でのビーム結像位置の移動量を示
している。実線がビーム結像位置のＸ成分を、破線がＹ
成分をそれぞれ示している。
【００４３】図８は上記ホログラムを回転したときのフ
ォトダイオード８，１０上におけるビーム結像位置の移
動の様子を示している。ホログラムを時計回り方向に回
転すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４
は左方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６も左方向に移動する。
ォトダイオード８，１０上におけるビーム結像位置の移
動の様子を示している。ホログラムを時計回り方向に回
転すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４
は左方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームス
ポット３６も左方向に移動する。
【００４４】一方、ホログラムを反時計回り方向に回転
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームスポ
ット３６も右方向に移動する。
すると、フォトダイオード８上のビームスポット３４は
右方向に移動し、フォトダイオード１０上のビームスポ
ット３６も右方向に移動する。
【００４５】フォトダイオード上でのビーム結像位置の
動きはホログラムの干渉縞分布或いは空間周波数分布と
関係している。図９を参照すると、ビーム結像位置調整
時のビームの移動方向と分割線との関係が示されてい
る。分割線１１は正の傾きを有している。
動きはホログラムの干渉縞分布或いは空間周波数分布と
関係している。図９を参照すると、ビーム結像位置調整
時のビームの移動方向と分割線との関係が示されてい
る。分割線１１は正の傾きを有している。
【００４６】図９から明らかなように、分割線１１が正
の傾きを有しているときは、ホログラムの移動によっ
て、Ａ方向にビームの結像位置が変化した方がＢ方向に
変化するよりも、ホログラムの移動量が少量で済むこと
がわかる。
の傾きを有しているときは、ホログラムの移動によっ
て、Ａ方向にビームの結像位置が変化した方がＢ方向に
変化するよりも、ホログラムの移動量が少量で済むこと
がわかる。
【００４７】これは分割線１１の傾きが、ビーム結像位
置の移動ベクトルの傾きと反対となっている方がホログ
ラムの補正移動量を少なくすることができ、ビーム結像
位置の調整に都合がよいことを示している。
置の移動ベクトルの傾きと反対となっている方がホログ
ラムの補正移動量を少なくすることができ、ビーム結像
位置の調整に都合がよいことを示している。
【００４８】以下、ビーム結像位置の調整とホログラム
の干渉縞との関係について説明する。分割線の傾きが正
のときには、ホログラムのＸ方向及びＹ方向移動時のＦ
ＥＳビームの結像位置の移動ベクトルの傾きが負である
ことが望ましい。
の干渉縞との関係について説明する。分割線の傾きが正
のときには、ホログラムのＸ方向及びＹ方向移動時のＦ
ＥＳビームの結像位置の移動ベクトルの傾きが負である
ことが望ましい。
【００４９】移動ベクトルの傾きが負であるということ
は、ＦＥＳビーム結像位置が調整によりＸ方向に増加し
且つＹ方向に減少するか、或いはＸ方向に減少し且つＹ
方向に増加することである。
は、ＦＥＳビーム結像位置が調整によりＸ方向に増加し
且つＹ方向に減少するか、或いはＸ方向に減少し且つＹ
方向に増加することである。
【００５０】これをホログラム干渉縞の空間周波数で表
すと以下の通りである。ホログラムのＸ方向の微小移動
Δｘに対する回折角θd は、回折格子の入出射の関係式
すと以下の通りである。ホログラムのＸ方向の微小移動
Δｘに対する回折角θd は、回折格子の入出射の関係式
【００５１】
【数３】
【００５２】となる。微小移動Δｘに対してδｆｘ／δ
ｘが正の場合は、ビーム結像位置の変化方向が正とな
り、δｆｘ／δｘが負の場合は、ビーム結像位置の変化
方向が負となる。ただし、回折角θd が増加すればビー
ム結像位置も増加することを用いている。
ｘが正の場合は、ビーム結像位置の変化方向が正とな
り、δｆｘ／δｘが負の場合は、ビーム結像位置の変化
方向が負となる。ただし、回折角θd が増加すればビー
ム結像位置も増加することを用いている。
【００５３】従って、空間周波数又は干渉縞ピッチのＸ
成分のＸ方向の変化率とＹ成分のＸ方向の変化率の積が
負となり、Ｘ成分のＹ方向の変化率とＹ成分のＹ方向の
変化率の積が負になればよいことになる。
成分のＸ方向の変化率とＹ成分のＸ方向の変化率の積が
負となり、Ｘ成分のＹ方向の変化率とＹ成分のＹ方向の
変化率の積が負になればよいことになる。
【００５４】これを干渉縞の伝達関数φ（ｘ，ｙ）を用
いて数式で表現すれば次のようになる。
いて数式で表現すれば次のようになる。
【００５５】
【数４】
【００５６】従って空間周波数のＸ成分のＸ方向の変化
率とＹ成分のＹ方向の変化率の積が負になり、Ｘ成分の
Ｙ方向の変化率とＹ成分のＹ方向の変化率の積が負にな
る条件は
率とＹ成分のＹ方向の変化率の積が負になり、Ｘ成分の
Ｙ方向の変化率とＹ成分のＹ方向の変化率の積が負にな
る条件は
【００５７】
【数５】
【００５８】
【数６】
【００５９】同様に、分割線の傾きが負であるなら、ホ
ログラムの回転及びＹ方向移動時のＦＥＳビーム結像位
置の移動ベクトルの傾きは正であることが望ましい。移
動ベクトルの傾きが正であるということは、ＦＥＳビー
ム結像位置が調整によりＸ方向に増加し且つＹ方向に増
加するか、或いはＸ方向に減少し且つＹ方向に減少する
ことである。
ログラムの回転及びＹ方向移動時のＦＥＳビーム結像位
置の移動ベクトルの傾きは正であることが望ましい。移
動ベクトルの傾きが正であるということは、ＦＥＳビー
ム結像位置が調整によりＸ方向に増加し且つＹ方向に増
加するか、或いはＸ方向に減少し且つＹ方向に減少する
ことである。
【００６０】
【数７】
【００６１】以上をまとめると、ビーム結像位置の調整
に適したホログラムの干渉縞の条件は次の通りになる。
即ち、分割線の傾きが正のときには、位相伝達関数の係
数ｃ３及びｃ５を同符号に、係数ｃ３及びｃ４を異符号
にする。このことは以下の態様を含んでいる。
に適したホログラムの干渉縞の条件は次の通りになる。
即ち、分割線の傾きが正のときには、位相伝達関数の係
数ｃ３及びｃ５を同符号に、係数ｃ３及びｃ４を異符号
にする。このことは以下の態様を含んでいる。
【００６２】（１）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの
正方向に沿ってＸ方向の成分が粗から密に変化し、且つ
Ｙ方向の成分が密から粗に変化する。 （２）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの正方向に沿っ
てＸ方向の成分が密から粗に変化し、且つＹ方向の成分
が粗から密に変化する。
正方向に沿ってＸ方向の成分が粗から密に変化し、且つ
Ｙ方向の成分が密から粗に変化する。 （２）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの正方向に沿っ
てＸ方向の成分が密から粗に変化し、且つＹ方向の成分
が粗から密に変化する。
【００６３】（３）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの
正方向に沿ってＸ方向の成分が粗から密に変化し、且つ
Ｙ方向の成分が密から粗に変化する。 （４）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの正方向に沿っ
てＸ方向の成分が密から粗に変化し、且つＹ方向の成分
が粗から密に変化する。
正方向に沿ってＸ方向の成分が粗から密に変化し、且つ
Ｙ方向の成分が密から粗に変化する。 （４）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの正方向に沿っ
てＸ方向の成分が密から粗に変化し、且つＹ方向の成分
が粗から密に変化する。
【００６４】一方、分割線の傾きが負のときには、位相
伝達関数の係数ｃ３，ｃ４及びｃ５を同符号にする。こ
のことは以下の態様を含んでいる。 （１）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの正方向に沿っ
てＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に粗から密に変化す
る。
伝達関数の係数ｃ３，ｃ４及びｃ５を同符号にする。こ
のことは以下の態様を含んでいる。 （１）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの正方向に沿っ
てＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に粗から密に変化す
る。
【００６５】（２）ホログラムの干渉縞のピッチがＸの
正方向に沿ってＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に密か
ら粗に変化する。 （３）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの正方向に沿っ
てＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に粗から密に変化す
る。
正方向に沿ってＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に密か
ら粗に変化する。 （３）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの正方向に沿っ
てＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に粗から密に変化す
る。
【００６６】（４）ホログラムの干渉縞のピッチがＹの
正方向に沿ってＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に密か
ら粗に変化する。また、ホログラムの回転をＦＥＳビー
ムの結像位置の調整に用いた場合には、上記条件
（１），（２），（３），（４）と同様に
正方向に沿ってＸ方向の成分とＹ方向の成分が共に密か
ら粗に変化する。また、ホログラムの回転をＦＥＳビー
ムの結像位置の調整に用いた場合には、上記条件
（１），（２），（３），（４）と同様に
【００６７】
【数８】
【００６８】を条件とすればよい。図１０はホログラム
２０をフォトダイオード８，１０，３８，４０と同一平
面上に投影したときのホログラム２０の干渉縞分布とフ
ォトダイオード８，１０，３８，４０との関係を示して
いる。ホログラム２０は４つの領域２０ａ，２０ｂ，２
０ｃ，２０ｄに分割され、それぞれの領域に独立した干
渉縞が形成されている。
２０をフォトダイオード８，１０，３８，４０と同一平
面上に投影したときのホログラム２０の干渉縞分布とフ
ォトダイオード８，１０，３８，４０との関係を示して
いる。ホログラム２０は４つの領域２０ａ，２０ｂ，２
０ｃ，２０ｄに分割され、それぞれの領域に独立した干
渉縞が形成されている。
【００６９】フォトダイオード８，１０はＦＥＳビーム
検知用のフォトダイオードであり、フォトダイオード３
８，４０はトラッキング誤差信号（ＴＥＳ）ビーム検知
用のフォトダイオードである。
検知用のフォトダイオードであり、フォトダイオード３
８，４０はトラッキング誤差信号（ＴＥＳ）ビーム検知
用のフォトダイオードである。
【００７０】上述したように、フォトダイオード８の分
割線９とフォトダイオード１０の分割線１１はＹ軸に対
して対称であり、それぞれの分割線９，１１の延長線は
ホログラム２０の中心Ｏを通過する光学系の光軸と交わ
る。
割線９とフォトダイオード１０の分割線１１はＹ軸に対
して対称であり、それぞれの分割線９，１１の延長線は
ホログラム２０の中心Ｏを通過する光学系の光軸と交わ
る。
【００７１】ホログラム２０の領域２０ａで回折された
ＦＥＳビームはフォトダイオード８上にフォーカスさ
れ、領域２０ｂで回折されたＦＥＳビームはフォトダイ
オード１０上にフォーカスされる。
ＦＥＳビームはフォトダイオード８上にフォーカスさ
れ、領域２０ｂで回折されたＦＥＳビームはフォトダイ
オード１０上にフォーカスされる。
【００７２】一方、ホログラム２０の領域２０ｃで回折
されたＴＥＳビームはフォトダイオード３８上にフォー
カスされ、領域２０ｄで回折されたＴＥＳビームはフォ
トダイオード４０上にフォーカスされる。
されたＴＥＳビームはフォトダイオード３８上にフォー
カスされ、領域２０ｄで回折されたＴＥＳビームはフォ
トダイオード４０上にフォーカスされる。
【００７３】図１１を参照すると、本発明第２実施形態
の斜視図が示されている。ＦＥＳビーム検知用のフォト
ダイオード８Ａ，１０Ａは共にＹ軸に平行な分割線９，
１１を有している。
の斜視図が示されている。ＦＥＳビーム検知用のフォト
ダイオード８Ａ，１０Ａは共にＹ軸に平行な分割線９，
１１を有している。
【００７４】このとき、ガラス基板１８上に形成された
ホログラム２０Ａの干渉縞はフォトダイオード８Ａ，１
０Ａ上でのビームの結像位置がＸ軸に沿ってほぼ移動す
るような分布を有している。即ち、ホログラム２０Ａ
は、ホログラムの干渉縞ピッチのＹ方向成分がＸ方向或
いはＹ方向で概略一定である干渉縞分布を有している。
ホログラム２０Ａの干渉縞はフォトダイオード８Ａ，１
０Ａ上でのビームの結像位置がＸ軸に沿ってほぼ移動す
るような分布を有している。即ち、ホログラム２０Ａ
は、ホログラムの干渉縞ピッチのＹ方向成分がＸ方向或
いはＹ方向で概略一定である干渉縞分布を有している。
【００７５】図１２を参照すると、本発明第３実施形態
の斜視図が示されている。本実施形態では、ＦＥＳビー
ム検知用のフォトダイオード８Ｂ，１０ＢはＸ軸に平行
な分割線９，１１を有している。
の斜視図が示されている。本実施形態では、ＦＥＳビー
ム検知用のフォトダイオード８Ｂ，１０ＢはＸ軸に平行
な分割線９，１１を有している。
【００７６】ガラス基板１８上に形成されたホログラム
２０Ｂは、フォトダイオード８Ｂ，１０Ｂ上のビームの
結像位置がＹ軸にほぼ沿って移動するような干渉縞分布
を有している。即ち、ホログラム２０Ｂはホログラムの
干渉縞ピッチのＸ方向の成分がＸ方向又はＹ方向で概略
一定である干渉縞分布を有している。
２０Ｂは、フォトダイオード８Ｂ，１０Ｂ上のビームの
結像位置がＹ軸にほぼ沿って移動するような干渉縞分布
を有している。即ち、ホログラム２０Ｂはホログラムの
干渉縞ピッチのＸ方向の成分がＸ方向又はＹ方向で概略
一定である干渉縞分布を有している。
【００７７】図１３を参照すると、本発明第４実施形態
の斜視図が示されている。フォトダイオード４２は２つ
の分割線４３ａ，４３ｂにより３つの領域に分割されて
おり、フォトダイオード４４も２つの分割線４５ａ，４
５ｂにより３つの領域に分割されている。
の斜視図が示されている。フォトダイオード４２は２つ
の分割線４３ａ，４３ｂにより３つの領域に分割されて
おり、フォトダイオード４４も２つの分割線４５ａ，４
５ｂにより３つの領域に分割されている。
【００７８】ガラス基板１８上には所定の干渉縞分布を
有するホログラム２０Ｃが形成されている。このように
１つの光検知器を３分割しているような構成でも、本発
明によるＦＥＳビームの結像位置調整時のビームの移動
を最適にするホログラム干渉縞分布は有効である。この
場合の検知方法は上述したフーコ法とは異なるスポット
サイズ検知（ＳＳＤ）法が用いられる。
有するホログラム２０Ｃが形成されている。このように
１つの光検知器を３分割しているような構成でも、本発
明によるＦＥＳビームの結像位置調整時のビームの移動
を最適にするホログラム干渉縞分布は有効である。この
場合の検知方法は上述したフーコ法とは異なるスポット
サイズ検知（ＳＳＤ）法が用いられる。
【００７９】図１４乃至図１６を参照して、ＳＳＤ法を
概略的に説明する。このＳＳＤ法は、レーザビームの光
ディスク上でのディフォーカス量をＦＥＳ検知用に整形
されたビームのスポットサイズの変化により検出する方
法である。
概略的に説明する。このＳＳＤ法は、レーザビームの光
ディスク上でのディフォーカス量をＦＥＳ検知用に整形
されたビームのスポットサイズの変化により検出する方
法である。
【００８０】光ディスクで反射されたビームの一部はレ
ンズ４６でハーフミラー４８を透過して第１光検知器５
０に集光され、残りのビームはハーフミラー４８で反射
されて第２光検知器５２上に集光される。
ンズ４６でハーフミラー４８を透過して第１光検知器５
０に集光され、残りのビームはハーフミラー４８で反射
されて第２光検知器５２上に集光される。
【００８１】図１５に示すように、第１光検知器５０は
２つの分割線５１ａ，５１ｂにより３つの領域Ａ，Ｂ，
Ｃに分割されている。同様に、図１６に示すように第２
光検知器５２は２つの分割線５３ａ，５３ｂにより３つ
の領域Ｄ，Ｅ，Ｆに分割されている。
２つの分割線５１ａ，５１ｂにより３つの領域Ａ，Ｂ，
Ｃに分割されている。同様に、図１６に示すように第２
光検知器５２は２つの分割線５３ａ，５３ｂにより３つ
の領域Ｄ，Ｅ，Ｆに分割されている。
【００８２】図１４でビーム５４ａの場合には、図１５
（Ａ）に示すように第１光検知器５０上に所定サイズの
ビームスポット５６が形成され、図１６（Ａ）に示すよ
うに第２光検知器５２上に所定サイズのビームスポット
５８が形成される。即ちこの場合は、光ディスクに対し
てレーザビームの焦点が合っている場合である。
（Ａ）に示すように第１光検知器５０上に所定サイズの
ビームスポット５６が形成され、図１６（Ａ）に示すよ
うに第２光検知器５２上に所定サイズのビームスポット
５８が形成される。即ちこの場合は、光ディスクに対し
てレーザビームの焦点が合っている場合である。
【００８３】レーザビームの焦点が光ディスクの手前に
ある場合には、光ディスクで反射されたビームは図１４
のビーム５４ｂのようになる。この場合には、第１光検
知器５０上には、図１５（Ｂ）に示すようなビームスポ
ットが形成され、第２光検知器５２上には図１６（Ｂ）
に示すようなビームスポットが形成される。
ある場合には、光ディスクで反射されたビームは図１４
のビーム５４ｂのようになる。この場合には、第１光検
知器５０上には、図１５（Ｂ）に示すようなビームスポ
ットが形成され、第２光検知器５２上には図１６（Ｂ）
に示すようなビームスポットが形成される。
【００８４】一方、レーザビームの焦点が光ディスクよ
りも遠方にある場合には、光ディスクで反射されたビー
ムは図１４のビーム５４ｃのようになる。この場合に
は、第１光検知器５０上には、図１５（Ｃ）に示すよう
なビームスポットが形成され、第２光検知器５２上には
図１６（Ｃ）に示すようなビームスポットが形成され
る。
りも遠方にある場合には、光ディスクで反射されたビー
ムは図１４のビーム５４ｃのようになる。この場合に
は、第１光検知器５０上には、図１５（Ｃ）に示すよう
なビームスポットが形成され、第２光検知器５２上には
図１６（Ｃ）に示すようなビームスポットが形成され
る。
【００８５】よって、第１及び第２光検知器５０，５２
のＦＥＳ信号出力ＦＥＳSSD1, ＦＥＳSSD2は以下のよう
になる。 ＦＥＳSSD1＝（Ａ＋Ｃ）−Ｂ ＦＥＳSSD2＝（Ｄ＋Ｆ）−Ｅ よって、２つの光検知器５０，５２のＦＥＳ信号出力Ｆ
ＥＳC-SSD は、 ＦＥＳC-SSD ＝ＦＥＳSSD1−ＦＥＳSSD2 ＝〔（Ａ＋Ｃ）−Ｂ〕−〔（Ｄ＋Ｆ）−Ｅ〕 ＝（Ａ＋Ｃ＋Ｅ）−（Ｂ＋Ｄ＋Ｆ） となる。
のＦＥＳ信号出力ＦＥＳSSD1, ＦＥＳSSD2は以下のよう
になる。 ＦＥＳSSD1＝（Ａ＋Ｃ）−Ｂ ＦＥＳSSD2＝（Ｄ＋Ｆ）−Ｅ よって、２つの光検知器５０，５２のＦＥＳ信号出力Ｆ
ＥＳC-SSD は、 ＦＥＳC-SSD ＝ＦＥＳSSD1−ＦＥＳSSD2 ＝〔（Ａ＋Ｃ）−Ｂ〕−〔（Ｄ＋Ｆ）−Ｅ〕 ＝（Ａ＋Ｃ＋Ｅ）−（Ｂ＋Ｄ＋Ｆ） となる。
【００８６】よって、レーザビームの焦点が光ディスク
に合っている場合にはＦＥＳ＝０となり、焦点が光ディ
スクよりも近い場合にはＦＥＳ＞０となり、焦点が光デ
ィスクよりも遠い場合にはＦＥＳ＜０となる。
に合っている場合にはＦＥＳ＝０となり、焦点が光ディ
スクよりも近い場合にはＦＥＳ＞０となり、焦点が光デ
ィスクよりも遠い場合にはＦＥＳ＜０となる。
【００８７】図１７（Ａ）及び図１７（Ｂ）を参照する
と、ホログラムを使用したＳＳＤシステムが概略的に示
されている。図１７（Ａ）に示すように、ＦＥＳビーム
検知用の２つのフォトダイオード６６，６８の間にレー
ザダイオード６４が配置されている。図１７（Ｂ）に示
すように、フォトダイオード６６，６８はそれぞれ２つ
の分割線により３つの領域に分割されている。
と、ホログラムを使用したＳＳＤシステムが概略的に示
されている。図１７（Ａ）に示すように、ＦＥＳビーム
検知用の２つのフォトダイオード６６，６８の間にレー
ザダイオード６４が配置されている。図１７（Ｂ）に示
すように、フォトダイオード６６，６８はそれぞれ２つ
の分割線により３つの領域に分割されている。
【００８８】光ディスクからの反射ビームはレンズ６０
を通過した後ホログラム６２に入射する。ホログラム６
２の＋１次回折光がフォトダイオード６６上に集光さ
れ、−１次回折光がフォトダイオード６８上に集光され
る。フォトダイオード６６，６８上のスポットサイズを
検出することにより、光ディスクに対するレーザビーム
のフォーカシングを調整することができる。
を通過した後ホログラム６２に入射する。ホログラム６
２の＋１次回折光がフォトダイオード６６上に集光さ
れ、−１次回折光がフォトダイオード６８上に集光され
る。フォトダイオード６６，６８上のスポットサイズを
検出することにより、光ディスクに対するレーザビーム
のフォーカシングを調整することができる。
【００８９】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のホログラ
ム光学系は光検知器の分割線に対して所定の関係の干渉
縞分布を有するホログラムを使用しているため、光ディ
スク用光ピックアップの製造時に、使用する光学素子の
製造誤差を吸収して、光検知器上でのＦＥＳビームの結
像位置を分割線上に容易に合わす調整を行うことができ
る。
ム光学系は光検知器の分割線に対して所定の関係の干渉
縞分布を有するホログラムを使用しているため、光ディ
スク用光ピックアップの製造時に、使用する光学素子の
製造誤差を吸収して、光検知器上でのＦＥＳビームの結
像位置を分割線上に容易に合わす調整を行うことができ
る。
【図１】本発明の一実施形態に係るホログラム光学系の
斜視図である。
斜視図である。
【図２】本発明のホログラム光学系を採用した光ピック
アップの全体構成図である。
アップの全体構成図である。
【図３】ホログラムをＸ方向に移動したときのビーム結
像位置の移動量を示す図である。
像位置の移動量を示す図である。
【図４】ホログラムをＸ方向に移動したときの光検知器
上でのビーム結像位置の移動の様子を示す図である。
上でのビーム結像位置の移動の様子を示す図である。
【図５】ホログラムをＹ方向に移動したときのビーム結
像位置の移動量を示す図である。
像位置の移動量を示す図である。
【図６】ホログラムをＹ方向に移動したときの光検知器
上でのビーム結像位置の移動の様子を示す図である。
上でのビーム結像位置の移動の様子を示す図である。
【図７】ホログラムを回転したときのビーム結像位置の
移動量を示す図である。
移動量を示す図である。
【図８】ホログラムを回転したときの光検知器上でのビ
ーム結像位置の移動の様子を示す図である。
ーム結像位置の移動の様子を示す図である。
【図９】ＦＥＳビームの結像位置調整時のビームの移動
方向と分割線方向との関係を示す図である。
方向と分割線方向との関係を示す図である。
【図１０】ホログラムの干渉縞分布と光検知器との関係
を示す図である。
を示す図である。
【図１１】本発明第２実施形態斜視図である。
【図１２】本発明第３実施形態斜視図である。
【図１３】本発明第４実施形態斜視図である。
【図１４】ＳＳＤ法の説明図である。
【図１５】第１光検知器の説明図である。
【図１６】第２光検知器の説明図である。
【図１７】ホログラムを使用したＳＳＤシステムを示す
図である。
図である。
２ ホログラム光学系 ４ ステム ６ レーザダイオード ８，１０ フォトダイオード ９，１１ 分割線 １４ 樹脂キャップ １８ ガラス基板 ２０ ホログラム ２２ コリメータレンズ ２４ ビームスプリッタ ２６ 対物レンズ ２８ 光ディスク
Claims (6)
- 【請求項１】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は正の傾きを有しており、前記ホログラムの干
渉縞ピッチのＸ成分の変化率とＹ成分の変化率の積が負
であることを特徴とする光ディスク装置用光ピックアッ
プのホログラム光学系。 - 【請求項２】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は負の傾きを有しており、前記ホログラムの干
渉縞ピッチのＸ成分の変化率とＹ成分の変化率の積が正
であることを特徴とする光ディスク装置用光ピックアッ
プのホログラム光学系。 - 【請求項３】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は正の傾きを有しており、前記ホログラムの位
相伝達関数を、 【数１】 で表したとき、係数ｃ３とｃ５が同符号であり、係数ｃ
３とｃ４が異符号であることを特徴とする光ディスク装
置用光ピックアップのホログラム光学系。 - 【請求項４】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は負の傾きを有しており、前記ホログラムの位
相伝達関数を、 【数２】 で表したとき、係数ｃ３，ｃ４，ｃ５が同符号であるこ
とを特徴とする光ディスク装置用光ピックアップのホロ
グラム光学系。 - 【請求項５】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は所定軸に概略平行であり、前記ホログラムの
干渉縞ピッチの所定軸方向成分が所定軸と垂直方向で概
略一定であることを特徴とする光ディスク装置用光ピッ
クアップのホログラム光学系。 - 【請求項６】 ステムと；前記ステムに固定されたレー
ザダイオードと；前記ステムに固定された、フォーカス
誤差検知器を第１領域と第２領域に分割する少なくとも
１つの直線状分割線を有するフォーカス誤差検知器と；
前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知器を
包囲するように前記ステムに取り付けられたキャップ
と；前記レーザダイオード及び前記フォーカス誤差検知
器に対して所定の位置関係で前記キャップに取り付けら
れたホログラムとを具備し；前記フォーカス誤差検知器
の分割線は所定軸に概略平行であり、前記ホログラムの
干渉縞ピッチの所定軸方向成分が所定軸方向で概略一定
であることを特徴とする光ディスク装置用光ピックアッ
プのホログラム光学系。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8008248A JPH09198706A (ja) | 1996-01-22 | 1996-01-22 | 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系 |
| US08/681,810 US5696748A (en) | 1996-01-22 | 1996-07-29 | Hologram optical system for optical pickup for optical disk drive |
| DE19631400A DE19631400C2 (de) | 1996-01-22 | 1996-08-04 | Optisches Hologrammsystem für einen optischen Aufnehmer für ein optisches Plattenlaufwerk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8008248A JPH09198706A (ja) | 1996-01-22 | 1996-01-22 | 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09198706A true JPH09198706A (ja) | 1997-07-31 |
Family
ID=11687848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8008248A Pending JPH09198706A (ja) | 1996-01-22 | 1996-01-22 | 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5696748A (ja) |
| JP (1) | JPH09198706A (ja) |
| DE (1) | DE19631400C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6757224B2 (en) | 2000-09-29 | 2004-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Integrated optical component and optical pick-up device |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100600297B1 (ko) * | 2004-03-08 | 2006-07-13 | (주)아이엠 | 트랙 피치가 상이한 광디스크용 광픽업 장치 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0746439B2 (ja) * | 1985-04-09 | 1995-05-17 | キヤノン株式会社 | 光ヘツド装置 |
| NL8502835A (nl) * | 1985-10-17 | 1987-05-18 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. |
| NL8702245A (nl) * | 1987-09-21 | 1989-04-17 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak. |
| NL8802689A (nl) * | 1988-11-03 | 1990-06-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend oppervlak. |
| US5361244A (en) * | 1991-04-10 | 1994-11-01 | Hitachi, Ltd. | Optical head and information recording apparatus |
| US5377177A (en) * | 1991-09-27 | 1994-12-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup having first and second reflecting surfaces and hologram |
| US5422870A (en) * | 1991-09-27 | 1995-06-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pickup for information recording/reproducing apparatus |
| US5446719A (en) * | 1992-02-05 | 1995-08-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
| EP0598592B1 (en) * | 1992-11-17 | 1999-09-01 | Seiko Epson Corporation | Optical head |
-
1996
- 1996-01-22 JP JP8008248A patent/JPH09198706A/ja active Pending
- 1996-07-29 US US08/681,810 patent/US5696748A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-04 DE DE19631400A patent/DE19631400C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6757224B2 (en) | 2000-09-29 | 2004-06-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Integrated optical component and optical pick-up device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19631400C2 (de) | 1999-03-18 |
| DE19631400A1 (de) | 1997-07-24 |
| US5696748A (en) | 1997-12-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5391865A (en) | Optical pickup apparatus and optical grating assembly therefor | |
| KR930007024B1 (ko) | 광픽업 | |
| EP0463295B1 (en) | Optical pickup head | |
| US7274632B2 (en) | Optical head device and method for correcting spherical aberration | |
| KR19980080238A (ko) | 광 픽업 장치 및 이를 이용한 광학 기록 매체 구동 장치 | |
| JP2001176122A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| KR100831138B1 (ko) | 광학적 정보 기록 재생장치 | |
| JP3193105B2 (ja) | チルトエラー検出装置 | |
| US5648946A (en) | Optical pick-up apparatus with holographic optical element to diffract both forward and return light beams | |
| US7064900B2 (en) | Optical pickup device and optical disk device and optical device and composite optical element | |
| JP3500158B2 (ja) | 光ヘッド | |
| US7345982B2 (en) | Optical pickup device, optical disk drive, optical device and composite optical element | |
| JP2626106B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH09198706A (ja) | 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系 | |
| EP1351227B1 (en) | Optical pickup and optical disc drive | |
| EP1005031A2 (en) | Multi-beam optical pickup apparatus appropriately controlling distance between objective lens and optical information recording medium. | |
| JP3630902B2 (ja) | 光ピックアップ装置およびそれを用いた光学記録媒体駆動装置 | |
| JP2957983B2 (ja) | 光ヘッド装置および光ヘッド装置における往路の回折光の遮光方法 | |
| JPH0675300B2 (ja) | 光学式ヘッド装置 | |
| JPH05307760A (ja) | 光ピックアップ | |
| JP3440783B2 (ja) | 光学式位置検出装置およびその調整方法 | |
| JP2641258B2 (ja) | 光学式ヘッド装置 | |
| JP2690550B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH10241190A (ja) | 光ピックアップ装置およびそれを用いた光学記録媒体駆動装置 | |
| JPH10162408A (ja) | 光ヘッド装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051121 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051206 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060123 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060516 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060926 |