JP2001156035A - 基板処理装置及びその隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法 - Google Patents
基板処理装置及びその隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法Info
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- JP2001156035A JP2001156035A JP33474799A JP33474799A JP2001156035A JP 2001156035 A JP2001156035 A JP 2001156035A JP 33474799 A JP33474799 A JP 33474799A JP 33474799 A JP33474799 A JP 33474799A JP 2001156035 A JP2001156035 A JP 2001156035A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 隣接する処理槽間において飛沫の入り込みに
よる各処理液の混合を防止することができる基板処理装
置を提供すること。 【解決手段】 搬送口20を有する隔壁2を隔てて連設
された処理槽3,4を備えており、搬送口20を通じて
各処理槽3,4に基板Bを搬送して処理を行う基板処理
装置である。搬送口20に基板Bの幅よりも広い幅に亘
って液体を帯状に流出する流出手段6を設けた。
よる各処理液の混合を防止することができる基板処理装
置を提供すること。 【解決手段】 搬送口20を有する隔壁2を隔てて連設
された処理槽3,4を備えており、搬送口20を通じて
各処理槽3,4に基板Bを搬送して処理を行う基板処理
装置である。搬送口20に基板Bの幅よりも広い幅に亘
って液体を帯状に流出する流出手段6を設けた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル、
PDP(Plasma Display Panel)、LSI用の各種基板
に種々の表面処理を施す基板処理装置及び基板処理装置
の隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法に関するものであ
る。
PDP(Plasma Display Panel)、LSI用の各種基板
に種々の表面処理を施す基板処理装置及び基板処理装置
の隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】液晶基板や半導体基板等の基板は、洗
浄、レジスト現像、エッチング、レジスト剥離、基板乾
燥等の種々の表面処理工程を経て製造される。かかる処
理を行う基板処理装置は、搬送口を有する隔壁を隔てて
連設された複数の処理槽を備えており、搬送口を通じて
各処理槽に基板を搬送して各処理槽内で基板の所定の処
理を行っているが、各処理工程においては、洗浄、現
像、エッチング、剥離等の処理に応じた異なる処理液が
使用され、上流側処理槽において処理された基板表面に
上流側処理液が付着したまま搬送口を通じて下流側処理
槽へ搬送されると、下流側処理液に上流側処理液が混合
されて下流側処理液の性状が変化し、基板が適切に処理
できなくなるため、そのための種々の防止策が施されて
いる。
浄、レジスト現像、エッチング、レジスト剥離、基板乾
燥等の種々の表面処理工程を経て製造される。かかる処
理を行う基板処理装置は、搬送口を有する隔壁を隔てて
連設された複数の処理槽を備えており、搬送口を通じて
各処理槽に基板を搬送して各処理槽内で基板の所定の処
理を行っているが、各処理工程においては、洗浄、現
像、エッチング、剥離等の処理に応じた異なる処理液が
使用され、上流側処理槽において処理された基板表面に
上流側処理液が付着したまま搬送口を通じて下流側処理
槽へ搬送されると、下流側処理液に上流側処理液が混合
されて下流側処理液の性状が変化し、基板が適切に処理
できなくなるため、そのための種々の防止策が施されて
いる。
【0003】かかる上流側処理槽と下流側処理槽との処
理液の混合を防ぐ従来技術としては、例えば、特開平9
−08267号公報及び特開平9−082592号公報
に記載された技術(以下、従来技術1及び2ともい
う。)が知られている。かかる従来技術では、上流側処
理槽と下流側処理槽との境界部分に基板の表裏面に対向
したエアーナイフを設け、このエアーナイフから基板表
裏面へ気体を噴射させて上流側処理液が下流側処理槽内
に浸入できないようにしている。
理液の混合を防ぐ従来技術としては、例えば、特開平9
−08267号公報及び特開平9−082592号公報
に記載された技術(以下、従来技術1及び2ともい
う。)が知られている。かかる従来技術では、上流側処
理槽と下流側処理槽との境界部分に基板の表裏面に対向
したエアーナイフを設け、このエアーナイフから基板表
裏面へ気体を噴射させて上流側処理液が下流側処理槽内
に浸入できないようにしている。
【0004】一方、かかる従来技術1及び2とは別に、
特開平9−213668号公報及び特開平9−2136
69号公報に開示された技術(以下、従来技術3及び4
ともいう。)が知られている。これらの従来技術では、
搬送口の上流側処理槽内に液体を帯状に高圧で噴射する
リキッドナイフを設けて基板表裏面に液体を噴射させ
て、基板表裏面を乾燥させずに、かつ上流側処理槽から
下流側処理槽への処理液の浸入量をできるだけ少なくし
ている。
特開平9−213668号公報及び特開平9−2136
69号公報に開示された技術(以下、従来技術3及び4
ともいう。)が知られている。これらの従来技術では、
搬送口の上流側処理槽内に液体を帯状に高圧で噴射する
リキッドナイフを設けて基板表裏面に液体を噴射させ
て、基板表裏面を乾燥させずに、かつ上流側処理槽から
下流側処理槽への処理液の浸入量をできるだけ少なくし
ている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術1
及び2では、エアーナイフから噴出される気体によっ
て、基板表裏面が部分的に乾燥し、これによって上流側
処理液が乾燥して基板表裏面に上流側処理液の残留物が
固着する場合があり、このような残留物が固着した基板
に下流側処理槽において処理を行った場合、その残留物
の固着した部分が下流側処理槽でなされるべき所望の処
理の進行を妨げて処理にむらが発生する問題があった。
及び2では、エアーナイフから噴出される気体によっ
て、基板表裏面が部分的に乾燥し、これによって上流側
処理液が乾燥して基板表裏面に上流側処理液の残留物が
固着する場合があり、このような残留物が固着した基板
に下流側処理槽において処理を行った場合、その残留物
の固着した部分が下流側処理槽でなされるべき所望の処
理の進行を妨げて処理にむらが発生する問題があった。
【0006】また、従来技術1〜4におけるような、エ
アーナイフやリキッドナイフを用いた従来技術では、気
体又は液体の帯状の流れを安定的に維持する必要上、流
体に高い圧力をかけて噴射しているため、流体が基板に
衝突した際に、上流側処理槽で基板表裏面に付着した処
理液が跳ね返り、霧状の飛沫が発生する問題がある。
アーナイフやリキッドナイフを用いた従来技術では、気
体又は液体の帯状の流れを安定的に維持する必要上、流
体に高い圧力をかけて噴射しているため、流体が基板に
衝突した際に、上流側処理槽で基板表裏面に付着した処
理液が跳ね返り、霧状の飛沫が発生する問題がある。
【0007】このような飛沫は、隔壁に設けられた搬送
口を通じて互いに隣接する処理槽に浸入し、当該隣接す
る別の処理槽における処理液と混合してしまう問題があ
る。
口を通じて互いに隣接する処理槽に浸入し、当該隣接す
る別の処理槽における処理液と混合してしまう問題があ
る。
【0008】特に、上流側処理槽が処理液をスプレーノ
ズルによりスプレー状に噴射して所定の処理を施す処理
槽である場合、スプレーされた処理液は処理槽内で飛沫
となって充満し、下流側の処理槽がエアーナイフもしく
はスピン処理によって基板乾燥を行う処理槽であった場
合には、隔壁の搬送口を通じて上流側処理槽から下流側
処理槽へ飛沫が入り込んで乾燥した基板表面に付着し、
基板の乾燥不良を引き起こす問題がある。
ズルによりスプレー状に噴射して所定の処理を施す処理
槽である場合、スプレーされた処理液は処理槽内で飛沫
となって充満し、下流側の処理槽がエアーナイフもしく
はスピン処理によって基板乾燥を行う処理槽であった場
合には、隔壁の搬送口を通じて上流側処理槽から下流側
処理槽へ飛沫が入り込んで乾燥した基板表面に付着し、
基板の乾燥不良を引き起こす問題がある。
【0009】したがって、本発明の目的は、隣接する処
理槽への飛沫の浸入を確実に防止することができる基板
処理装置及び基板処理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入
防止方法を提供することにある。
理槽への飛沫の浸入を確実に防止することができる基板
処理装置及び基板処理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入
防止方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る基板処理装置は、搬送口を有する隔壁を
隔てて連設された複数の処理槽を備えており、前記搬送
口を通じて前記各処理槽内に基板を搬送して該基板の処
理を行う基板処理装置において、前記搬送口に前記基板
の幅よりも広い幅に亘って液体を帯状に流出させる流出
手段を配設したことを第1の特徴としている。
の本発明に係る基板処理装置は、搬送口を有する隔壁を
隔てて連設された複数の処理槽を備えており、前記搬送
口を通じて前記各処理槽内に基板を搬送して該基板の処
理を行う基板処理装置において、前記搬送口に前記基板
の幅よりも広い幅に亘って液体を帯状に流出させる流出
手段を配設したことを第1の特徴としている。
【0011】また、本発明は、前記第1の特徴を有する
基板処理装置において、前記流出手段を、前記搬送口の
上下に対向して配設したことを第2の特徴としている。
基板処理装置において、前記流出手段を、前記搬送口の
上下に対向して配設したことを第2の特徴としている。
【0012】また、本発明は、前記第1又は第2の特徴
を有する基板処理装置において、前記流出手段が、前記
基板の表面に前記液体を帯状に導く導液板部を備えてい
ることを第3の特徴としている。
を有する基板処理装置において、前記流出手段が、前記
基板の表面に前記液体を帯状に導く導液板部を備えてい
ることを第3の特徴としている。
【0013】また、本発明は、搬送口を有する隔壁を隔
てて連設された複数の処理槽を備えた基板処理装置の該
隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法であって、前記搬送
口において基板の幅よりも広い幅に亘って液体を帯状に
流出させ、帯状に流出させた該液体で飛沫を回収するこ
とを特徴としている。
てて連設された複数の処理槽を備えた基板処理装置の該
隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法であって、前記搬送
口において基板の幅よりも広い幅に亘って液体を帯状に
流出させ、帯状に流出させた該液体で飛沫を回収するこ
とを特徴としている。
【0014】また、本発明は、前記特徴を有する基板処
理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法において、
前記帯状に流出する液体の液膜の厚さを3〜5mmとす
ることを特徴としている。
理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法において、
前記帯状に流出する液体の液膜の厚さを3〜5mmとす
ることを特徴としている。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面に基づいて説明する。なお、本発明は、本実施形態に
限定されるものではない。
面に基づいて説明する。なお、本発明は、本実施形態に
限定されるものではない。
【0016】図1及び図2は、本発明の基板処理装置の
一実施形態を示したものである。同図において、符号1
は基板処理装置、Bは基板を示している。図1に示した
ように、基板処理装置1は、搬送口20を有する隔壁2
を隔てて連設された複数の処理槽(図では、処理槽3,
4の二槽のみ図示。)を備えており、搬送口20を通じ
て各処理槽に基板Bを搬送して当該基板Bの洗浄、レジ
スト現像、エッチング、レジスト剥離、基板乾燥等の種
々の表面処理を行う装置である。なお、以下の説明で
は、処理槽3は処理液をスプレー噴射する噴射装置(図
示せず)を備えた処理槽、処理槽4は乾燥処理槽として
説明する。
一実施形態を示したものである。同図において、符号1
は基板処理装置、Bは基板を示している。図1に示した
ように、基板処理装置1は、搬送口20を有する隔壁2
を隔てて連設された複数の処理槽(図では、処理槽3,
4の二槽のみ図示。)を備えており、搬送口20を通じ
て各処理槽に基板Bを搬送して当該基板Bの洗浄、レジ
スト現像、エッチング、レジスト剥離、基板乾燥等の種
々の表面処理を行う装置である。なお、以下の説明で
は、処理槽3は処理液をスプレー噴射する噴射装置(図
示せず)を備えた処理槽、処理槽4は乾燥処理槽として
説明する。
【0017】処理槽3,4内には、それぞれ基板Bの搬
送方向に直交する方向に軸心を有するローラコンベア5
が当該搬送方向に沿って並設されている。ローラコンベ
ア5は処理槽3,4内で搬送口20と略同じ高さで、か
つ、基板Bを角度±5度の範囲内で略水平に姿勢維持で
きるように配置されている。処理槽3における処理を終
えた基板Bは、これらのローラコンベア5上に略水平に
載置された状態で当該ローラコンベア5の回転駆動によ
り搬送口20を通って処理槽4へ搬送される。
送方向に直交する方向に軸心を有するローラコンベア5
が当該搬送方向に沿って並設されている。ローラコンベ
ア5は処理槽3,4内で搬送口20と略同じ高さで、か
つ、基板Bを角度±5度の範囲内で略水平に姿勢維持で
きるように配置されている。処理槽3における処理を終
えた基板Bは、これらのローラコンベア5上に略水平に
載置された状態で当該ローラコンベア5の回転駆動によ
り搬送口20を通って処理槽4へ搬送される。
【0018】搬送口20には上下に対向して上部流出手
段6及び下部流出手段7が配設されている。
段6及び下部流出手段7が配設されている。
【0019】図2に示したように、上部流出手段6は、
液流通管60と、この液流通管60を収容する液溜め部
61と、この液溜め部61からオーバーフローした純水
を帯状に流出させる導液板部62とを備えている。そし
て、後述の再処理系統から循環供給された純水が、液流
通管60を通じて液溜め部61に導かれ、液溜め部61
の容積以上に供給された純水は、導液板部62を伝わり
その下端部から基板B表面に向けて帯状に流出されるよ
うになっている。
液流通管60と、この液流通管60を収容する液溜め部
61と、この液溜め部61からオーバーフローした純水
を帯状に流出させる導液板部62とを備えている。そし
て、後述の再処理系統から循環供給された純水が、液流
通管60を通じて液溜め部61に導かれ、液溜め部61
の容積以上に供給された純水は、導液板部62を伝わり
その下端部から基板B表面に向けて帯状に流出されるよ
うになっている。
【0020】導液板部62の長さ(突出長)は、3mm
〜20mmとすることが好ましい。3mm未満では液体
を帯状に流出させるに充分でなく、20mmを越えると
搬送口の間口を必要以上に大きくしなくてはならないた
めである。また、導液板部62の下端から基板Bの表面
までの距離は、5mm〜50mmとすることが好まし
い。5mm未満では搬送口を通じての基板の搬送に支障
を来し、また50mmを越えると流出させる液体の液厚
をコントロールしづらくなるからである。
〜20mmとすることが好ましい。3mm未満では液体
を帯状に流出させるに充分でなく、20mmを越えると
搬送口の間口を必要以上に大きくしなくてはならないた
めである。また、導液板部62の下端から基板Bの表面
までの距離は、5mm〜50mmとすることが好まし
い。5mm未満では搬送口を通じての基板の搬送に支障
を来し、また50mmを越えると流出させる液体の液厚
をコントロールしづらくなるからである。
【0021】下部流出手段7は、内部に液流通管路70
を備えるとともに、当該液流通管路70の上方にスリッ
ト71を備えたノズル72から構成されている。ノズル
72の上面は、傾斜面73,74が設けられており、当
該スリット71及び導液板部62を通じて流出する純水
の飛散を防止できるようになっている。下部流出手段7
の下方にはその前後に位置して回収槽75が設けられて
おり、当該下部流出手段7及び上部流出手段6から流出
した純水と下流側処理槽4の処理液との混合液を回収し
て後述の再処理設備8に排出するようになっている。
を備えるとともに、当該液流通管路70の上方にスリッ
ト71を備えたノズル72から構成されている。ノズル
72の上面は、傾斜面73,74が設けられており、当
該スリット71及び導液板部62を通じて流出する純水
の飛散を防止できるようになっている。下部流出手段7
の下方にはその前後に位置して回収槽75が設けられて
おり、当該下部流出手段7及び上部流出手段6から流出
した純水と下流側処理槽4の処理液との混合液を回収し
て後述の再処理設備8に排出するようになっている。
【0022】また、本実施形態では、上部流出手段6に
おける導液板部62と下部流出手段7におけるノズル7
2のスリット71の位置は、その液体流出位置が前後に
ずれるよう設定されており、これにより、各流出手段か
ら流出された純水同士の衝突による飛沫の発生を抑えて
いる。
おける導液板部62と下部流出手段7におけるノズル7
2のスリット71の位置は、その液体流出位置が前後に
ずれるよう設定されており、これにより、各流出手段か
ら流出された純水同士の衝突による飛沫の発生を抑えて
いる。
【0023】上部及び下部流出手段6,7による液体の
流出は、基板Bの幅方向の長さ寸法よりも10mm〜5
0mm長い範囲で流出させることが好ましい。10mm
未満では飛沫の回収が充分に行えず、また、50mmを
越えても飛沫の回収効果に変化がないからである。
流出は、基板Bの幅方向の長さ寸法よりも10mm〜5
0mm長い範囲で流出させることが好ましい。10mm
未満では飛沫の回収が充分に行えず、また、50mmを
越えても飛沫の回収効果に変化がないからである。
【0024】図3に示したように、上記基板処理装置1
には、上部流出手段6及び下部流出手段7から流出した
液体の再処理設備8が付設されている。この再処理設備
8は、上記回収槽75で回収された液体を貯留する貯留
タンク80と、貯留タンク80内に貯留された液体を再
び上部流出手段6の液流管60及び下部流出手段7の液
流通管路70へ循環させる循環ポンプ81と、循環ポン
プ81で循環された液体を浄化させる浄化フィルタ82
とを備えている。そして、回収槽75で回収した液体を
浄化して再使用できるようになっている。浄化フィルタ
82は、再処理する液体に応じた通常のものを選択する
ことができる。
には、上部流出手段6及び下部流出手段7から流出した
液体の再処理設備8が付設されている。この再処理設備
8は、上記回収槽75で回収された液体を貯留する貯留
タンク80と、貯留タンク80内に貯留された液体を再
び上部流出手段6の液流管60及び下部流出手段7の液
流通管路70へ循環させる循環ポンプ81と、循環ポン
プ81で循環された液体を浄化させる浄化フィルタ82
とを備えている。そして、回収槽75で回収した液体を
浄化して再使用できるようになっている。浄化フィルタ
82は、再処理する液体に応じた通常のものを選択する
ことができる。
【0025】基板処理装置1は、制御コントローラ(図
示せず)を備えており、各処理槽における処理制御、基
板の搬送、上記各流出手段による液体の流出タイミン
グ、流出量等の各種の制御は、当該制御コントローラの
指示により行うようになしてある。
示せず)を備えており、各処理槽における処理制御、基
板の搬送、上記各流出手段による液体の流出タイミン
グ、流出量等の各種の制御は、当該制御コントローラの
指示により行うようになしてある。
【0026】次に、上記基板処理装置1における隣接処
理槽への飛沫の浸入防止方法について説明する。
理槽への飛沫の浸入防止方法について説明する。
【0027】基板Bが処理槽3内に搬送されると、上部
流出手段6による純水の流出が開始される。この純水の
流出のタイミングは、例えば、処理槽3における処理液
の噴射開始時よりも30〜50秒、好ましくは1分以上
早く開始されるよう設定することが好ましい。純水の流
出タイミングが遅れると、処理開始直後から発生する飛
沫の純水による回収効果が充分に得られないためであ
る。
流出手段6による純水の流出が開始される。この純水の
流出のタイミングは、例えば、処理槽3における処理液
の噴射開始時よりも30〜50秒、好ましくは1分以上
早く開始されるよう設定することが好ましい。純水の流
出タイミングが遅れると、処理開始直後から発生する飛
沫の純水による回収効果が充分に得られないためであ
る。
【0028】流出手段から前記帯状に流出させる液体の
液膜の厚さは、3〜5mmとする。3mm未満である
と、飛沫の回収効果が充分でなく、5mmを越えて流出
させてもさらなる回収効果が期待できないからである。
また、流出させる純水の温度は、特に限定されるもので
はないが、例えば、常温とすることが好ましい。
液膜の厚さは、3〜5mmとする。3mm未満である
と、飛沫の回収効果が充分でなく、5mmを越えて流出
させてもさらなる回収効果が期待できないからである。
また、流出させる純水の温度は、特に限定されるもので
はないが、例えば、常温とすることが好ましい。
【0029】処理槽3での基板Bの処理中に発生する飛
沫は、かかる純水によって回収される。処理槽3内にお
ける処理終了後、飛沫の周りこみにより基板Bの裏面に
付着した処理液を洗浄するための下部流出手段7からの
液体の流出が開始される。そして、ローラコンベア5の
駆動により処理槽3内の基板Bが処理槽4に搬送され
る。基板の搬送速度は、流出手段から流出される液体が
搬送中の基板に到達した際の当該液体の飛散を防ぐ上で
毎分2〜3m程度とすることが好ましい。
沫は、かかる純水によって回収される。処理槽3内にお
ける処理終了後、飛沫の周りこみにより基板Bの裏面に
付着した処理液を洗浄するための下部流出手段7からの
液体の流出が開始される。そして、ローラコンベア5の
駆動により処理槽3内の基板Bが処理槽4に搬送され
る。基板の搬送速度は、流出手段から流出される液体が
搬送中の基板に到達した際の当該液体の飛散を防ぐ上で
毎分2〜3m程度とすることが好ましい。
【0030】搬送口2内では、上部・下部流出手段6,
7から流出される帯状の純水により、処理槽3における
処理中に基板表裏面に付着した飛沫の洗浄が行われる。
7から流出される帯状の純水により、処理槽3における
処理中に基板表裏面に付着した飛沫の洗浄が行われる。
【0031】その後、基板Bが処理槽4側に搬送された
後、流出手段による純水の流出を停止する。そして、処
理槽3に搬送された新たな基板の処理と同期させて処理
槽4内では所定の乾燥処理が行われる。この際にも上記
手順と同様に上部流出手段6による純水の流出を行うこ
とで、処理槽3側に搬送された新たな基板の処理に起因
する飛沫の処理槽4側への浸入を防ぐことができ、処理
槽3における処理及び処理槽4における乾燥を同時に行
うことが出来る。
後、流出手段による純水の流出を停止する。そして、処
理槽3に搬送された新たな基板の処理と同期させて処理
槽4内では所定の乾燥処理が行われる。この際にも上記
手順と同様に上部流出手段6による純水の流出を行うこ
とで、処理槽3側に搬送された新たな基板の処理に起因
する飛沫の処理槽4側への浸入を防ぐことができ、処理
槽3における処理及び処理槽4における乾燥を同時に行
うことが出来る。
【0032】このように、上記実施形態の基板処理装置
1によれば、上部流出手段6から流出させた帯状の純水
で処理槽3における処理中に発生する処理液の飛沫を回
収できるので、当該処理槽3における処理中の飛沫の処
理槽4への浸入を確実に防ぐことができる。また、処理
槽3,4間の隔壁2の搬送口20に上下に対向させて配
設した上部・下部流出手段6,7からの純水の流出が、
処理槽3での処理後の基板Bの洗浄液を兼ねているの
で、基板表裏に付着した処理槽3の処理液の飛沫を確実
に洗浄することができ、これにより、処理槽3の処理液
の処理槽4への浸入を防ぐことができるほか、処理槽4
に搬送した後直ちに乾燥処理を施すことができる。しか
も、上部・下部流出手段6,7を処理槽3,4を画成す
る隔壁2に配設しているので、装置の小型化を図ること
ができる。
1によれば、上部流出手段6から流出させた帯状の純水
で処理槽3における処理中に発生する処理液の飛沫を回
収できるので、当該処理槽3における処理中の飛沫の処
理槽4への浸入を確実に防ぐことができる。また、処理
槽3,4間の隔壁2の搬送口20に上下に対向させて配
設した上部・下部流出手段6,7からの純水の流出が、
処理槽3での処理後の基板Bの洗浄液を兼ねているの
で、基板表裏に付着した処理槽3の処理液の飛沫を確実
に洗浄することができ、これにより、処理槽3の処理液
の処理槽4への浸入を防ぐことができるほか、処理槽4
に搬送した後直ちに乾燥処理を施すことができる。しか
も、上部・下部流出手段6,7を処理槽3,4を画成す
る隔壁2に配設しているので、装置の小型化を図ること
ができる。
【0033】また、純水の再処理設備8を付設している
ので、洗浄液を無駄なく利用することが出来る。
ので、洗浄液を無駄なく利用することが出来る。
【0034】本発明に係る基板処理装置は、上記実施形
態におけるように、上部流出手段6及び下部流出手段7
を共に設けることが好ましいが、基板の裏面への飛沫の
回り込みによる影響が無視できる場合には、上部流出手
段のみを設けて基板処理装置を構成することができる。
態におけるように、上部流出手段6及び下部流出手段7
を共に設けることが好ましいが、基板の裏面への飛沫の
回り込みによる影響が無視できる場合には、上部流出手
段のみを設けて基板処理装置を構成することができる。
【0035】また、上部及び下部流出手段から流出させ
る液体は、上記実施形態におけるように、下流処理槽が
乾燥処理槽である場合は、純水とすることが好ましい
が、下流処理槽での処理が乾燥処理以外の場合には、当
該下流処理槽で使用する処理液とすることもできる。
る液体は、上記実施形態におけるように、下流処理槽が
乾燥処理槽である場合は、純水とすることが好ましい
が、下流処理槽での処理が乾燥処理以外の場合には、当
該下流処理槽で使用する処理液とすることもできる。
【0036】<実施例>以下、本発明を実施例によりさ
らに具体的に説明する。図4に示したように、上流処理
槽3及び下流処理槽4を備えた装置内に試料台30、4
0を配置するとともに当該各試料台に基板Bを載置し、
上流側処理槽3に基板B表面に純水をスプレー噴射する
スプレーノズル31をセットし、上部流出手段6から純
水を帯状に流出させた場合と流出させない場合とで、処
理槽3内の基板Bに噴射された純水により生じる飛沫3
2の下流処理槽4への浸入について、下流側の処理槽に
設置した基板表面に付着した液滴の目視による計数値を
求め、流出の有無による飛沫の回収効果を調べた。
らに具体的に説明する。図4に示したように、上流処理
槽3及び下流処理槽4を備えた装置内に試料台30、4
0を配置するとともに当該各試料台に基板Bを載置し、
上流側処理槽3に基板B表面に純水をスプレー噴射する
スプレーノズル31をセットし、上部流出手段6から純
水を帯状に流出させた場合と流出させない場合とで、処
理槽3内の基板Bに噴射された純水により生じる飛沫3
2の下流処理槽4への浸入について、下流側の処理槽に
設置した基板表面に付着した液滴の目視による計数値を
求め、流出の有無による飛沫の回収効果を調べた。
【0037】<条件> 基板寸法:50mm×50mm 導液板部の長さL1:5mm 導液板部の下端から基板表面までの距離L2:10mm スプレーノズルからの純水の噴出量:毎秒5ml 噴射時間:1分間 上部流出手段からの液体の流出開始時間:スプレー噴射
前30秒 上部流出手段から流出される帯状液体の幅:100mm 上部流出手段から流出される液体の膜厚:5mm 純水を帯状に流出しなかった場合には下流側処理槽に設
置した基板上に150個の液滴の付着が確認されたが、
流出した場合には下流側基板上に液滴の付着は全く確認
されなかった。これにより、上部流出手段からの帯状の
液体の流出が飛沫の回収に極めて有効であることが確認
された。
前30秒 上部流出手段から流出される帯状液体の幅:100mm 上部流出手段から流出される液体の膜厚:5mm 純水を帯状に流出しなかった場合には下流側処理槽に設
置した基板上に150個の液滴の付着が確認されたが、
流出した場合には下流側基板上に液滴の付着は全く確認
されなかった。これにより、上部流出手段からの帯状の
液体の流出が飛沫の回収に極めて有効であることが確認
された。
【0038】
【発明の効果】本発明によれば、以下の効果を奏する。
【0039】上記第1の特徴を有する基板処理装置によ
れば、隣接する処理槽の隔壁の搬送口において帯状に流
出させた液体で処理中に発生する飛沫を回収させるよう
にしたので、当該隣接する処理槽への飛沫の浸入を確実
に防ぐことができる。
れば、隣接する処理槽の隔壁の搬送口において帯状に流
出させた液体で処理中に発生する飛沫を回収させるよう
にしたので、当該隣接する処理槽への飛沫の浸入を確実
に防ぐことができる。
【0040】上記第2の特徴を有する基板処理装置によ
れば、回り込みにより基板裏面に付着した飛沫の隣接処
理槽への浸入を確実に防止することができる。
れば、回り込みにより基板裏面に付着した飛沫の隣接処
理槽への浸入を確実に防止することができる。
【0041】上記特徴を有する基板処理装置の隣接処理
槽への飛沫の浸入防止方法によれば、各処理槽の隔壁の
搬送口において帯状に流出させた液体で処理中に発生す
る飛沫を回収させるようにしたので、当該隣接した処理
槽への飛沫の浸入を確実に防ぐことができる。
槽への飛沫の浸入防止方法によれば、各処理槽の隔壁の
搬送口において帯状に流出させた液体で処理中に発生す
る飛沫を回収させるようにしたので、当該隣接した処理
槽への飛沫の浸入を確実に防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の一実施形態の要部
を断面視した概略図である。
を断面視した概略図である。
【図2】図1の同実施形態の基板処理装置において液体
を流出させた状態を示す要部拡大断面図である。
を流出させた状態を示す要部拡大断面図である。
【図3】同実施形態の基板処理装置における液体の再処
理設備の処理系統を示す概略図である。
理設備の処理系統を示す概略図である。
【図4】実施例における装置内の配置を示す概略図であ
る。
る。
1:基板処理装置、2:隔壁、3,4:処理槽、6,
7:流出手段、62:導液板部、B:基板。
7:流出手段、62:導液板部、B:基板。
フロントページの続き Fターム(参考) 4D075 AC12 AC14 AC84 AC86 AC88 CA47 DA06 DC19 DC22 EA05 4F041 AA05 AB01 BA05 BA07 BA34 BA59 CA04 CA16 CA22
Claims (5)
- 【請求項1】 搬送口を有する隔壁を隔てて連設された
複数の処理槽を備えており、前記搬送口を通じて前記各
処理槽内に基板を搬送して該基板の処理を行う基板処理
装置において、前記搬送口に前記基板の幅よりも広い幅
に亘って液体を帯状に流出させる流出手段を配設したこ
とを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、
前記流出手段を、前記搬送口の上下に対向して配設した
ことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の基板処理装置に
おいて、前記流出手段が、前記基板の表面に前記液体を
帯状に導く導液板部を備えていることを特徴とする基板
処理装置。 - 【請求項4】 搬送口を有する隔壁を隔てて連設された
複数の処理槽を備えた基板処理装置における該隣接処理
槽への飛沫の浸入防止方法であって、前記搬送口におい
て基板の幅よりも広い幅に亘って液体を帯状に流出さ
せ、帯状に流出させた該液体で飛沫を回収することを特
徴とする基板処理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入防止
方法。 - 【請求項5】 請求項4に記載の基板処理装置の隣接処
理槽への飛沫の浸入防止方法において、前記帯状に流出
する液体の液膜の厚さを3〜5mmとすることを特徴と
する基板処理装置の隣接処理槽への飛沫の浸入防止方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33474799A JP2001156035A (ja) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | 基板処理装置及びその隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33474799A JP2001156035A (ja) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | 基板処理装置及びその隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001156035A true JP2001156035A (ja) | 2001-06-08 |
Family
ID=18280784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33474799A Pending JP2001156035A (ja) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | 基板処理装置及びその隣接処理槽への飛沫の浸入防止方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001156035A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100333840C (zh) * | 2002-12-27 | 2007-08-29 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 液晶显示器表面处理方法 |
KR100933125B1 (ko) | 2007-08-28 | 2009-12-21 | 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
KR20230029222A (ko) * | 2021-08-24 | 2023-03-03 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
-
1999
- 1999-11-25 JP JP33474799A patent/JP2001156035A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100333840C (zh) * | 2002-12-27 | 2007-08-29 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 液晶显示器表面处理方法 |
KR100933125B1 (ko) | 2007-08-28 | 2009-12-21 | 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 |
KR20230029222A (ko) * | 2021-08-24 | 2023-03-03 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
KR102618629B1 (ko) | 2021-08-24 | 2023-12-27 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
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