JP2001147271A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JP2001147271A JP2001147271A JP33117799A JP33117799A JP2001147271A JP 2001147271 A JP2001147271 A JP 2001147271A JP 33117799 A JP33117799 A JP 33117799A JP 33117799 A JP33117799 A JP 33117799A JP 2001147271 A JP2001147271 A JP 2001147271A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- space
- scintillator
- sample
- radiation
- center
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 低エネルギー放射線の検出感度を高める。
【解決手段】 試料皿３０は位置決め機構３２によって
上方に持ち上げられ、試料皿３０のエッジ３０Ａが底面
２２Ａに当接し、その結果、気密空間としての第１空間
１００が形成される。ポンプ３６の作用によって第１空
間１００及び第２空間１０２が減圧される。サンプル８
と第１シンチレータ１０との間のエアが排除されるた
め、検出感度を高められる。
上方に持ち上げられ、試料皿３０のエッジ３０Ａが底面
２２Ａに当接し、その結果、気密空間としての第１空間
１００が形成される。ポンプ３６の作用によって第１空
間１００及び第２空間１０２が減圧される。サンプル８
と第１シンチレータ１０との間のエアが排除されるた
め、検出感度を高められる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は放射線測定装置に関
し、特にシンチレータによって試料からのβ線等を検出
する装置に関する。
し、特にシンチレータによって試料からのβ線等を検出
する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射線測定装置において、試料からの放
射線の測定精度を高めるためにはバックグランドを低減
する必要がある。従来装置においては、例えば、試料を
収容した試料皿に対してシンチレータが対向配置され、
放射線の入射によりシンチレータから放出される光子が
光電子増倍管で検出される。その場合、一対の光電子増
倍管を配置し、それらの出力に対して同時計数を行え
ば、熱雑音などのノイズを除外可能であり、また、セン
ター検出器の外側にガード検出器を設け、双方の検出器
の出力に対して逆同時計数を行えば、宇宙線などのノイ
ズを除外可能である。
射線の測定精度を高めるためにはバックグランドを低減
する必要がある。従来装置においては、例えば、試料を
収容した試料皿に対してシンチレータが対向配置され、
放射線の入射によりシンチレータから放出される光子が
光電子増倍管で検出される。その場合、一対の光電子増
倍管を配置し、それらの出力に対して同時計数を行え
ば、熱雑音などのノイズを除外可能であり、また、セン
ター検出器の外側にガード検出器を設け、双方の検出器
の出力に対して逆同時計数を行えば、宇宙線などのノイ
ズを除外可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、３Ｈか
らの低エネルギーβ線などの放射線の測定を行う場合、
その飛程が短いことから、試料と検出器（特にシンチレ
ータの検出面）との間の空気層による放射線の減弱作用
が無視できないという問題がある。すなわち、そのよう
な空気層は検出感度を低下させる要因となるものであ
る。検出感度が低下すると、信号に対して相対的にバッ
クグランドレベルが増大し、その結果、信号がバックグ
ランドに埋没するという問題が生じる。それ故、上記の
ような各種のノイズを排除する手法を適用したとしても
測定精度を向上するのが困難であった。
らの低エネルギーβ線などの放射線の測定を行う場合、
その飛程が短いことから、試料と検出器（特にシンチレ
ータの検出面）との間の空気層による放射線の減弱作用
が無視できないという問題がある。すなわち、そのよう
な空気層は検出感度を低下させる要因となるものであ
る。検出感度が低下すると、信号に対して相対的にバッ
クグランドレベルが増大し、その結果、信号がバックグ
ランドに埋没するという問題が生じる。それ故、上記の
ような各種のノイズを排除する手法を適用したとしても
測定精度を向上するのが困難であった。
【０００４】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、低エネルギー放射線の測定精
度を高めることにある。
ものであり、その目的は、低エネルギー放射線の測定精
度を高めることにある。
【０００５】本発明の他の目的は、試料とシンチレータ
との間に存在する空気層の影響を少なくすることにあ
る。
との間に存在する空気層の影響を少なくすることにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】（１）上記目的を達成す
るために、本発明は、放射線を検出するシンチレータ
と、前記シンチレータの検出面に対して放射性試料を対
向させる位置決め機構と、前記放射性試料が位置決めさ
れた状態において、前記シンチレータの検出面と前記放
射性試料との間の第１空間を減圧可能な空間とする気密
機構と、前記第１空間を減圧する減圧手段と、を含むこ
とを特徴とする。
るために、本発明は、放射線を検出するシンチレータ
と、前記シンチレータの検出面に対して放射性試料を対
向させる位置決め機構と、前記放射性試料が位置決めさ
れた状態において、前記シンチレータの検出面と前記放
射性試料との間の第１空間を減圧可能な空間とする気密
機構と、前記第１空間を減圧する減圧手段と、を含むこ
とを特徴とする。
【０００７】上記構成によれば、シンチレータの検出面
に対して放射性試料を対向（通常、近接対向）させた状
態において、気密機構によって検出面と放射性試料との
間の空間（第１空間）が減圧可能な空間とされ、減圧手
段によって当該第１空間が減圧される。よって、放射線
試料から放射される放射線に対する空気層の減弱作用が
低減され、その結果、シンチレータの検出感度を高める
ことができる。特に、低エネルギーβ線の測定などを高
精度に行える。
に対して放射性試料を対向（通常、近接対向）させた状
態において、気密機構によって検出面と放射性試料との
間の空間（第１空間）が減圧可能な空間とされ、減圧手
段によって当該第１空間が減圧される。よって、放射線
試料から放射される放射線に対する空気層の減弱作用が
低減され、その結果、シンチレータの検出感度を高める
ことができる。特に、低エネルギーβ線の測定などを高
精度に行える。
【０００８】望ましくは、前記気密機構は、前記放射線
試料を収容した試料皿と、前記シンチレータの周囲であ
って前記試料皿の縁部が接触する当接部位に配置された
第１シール部材と、を含む。
試料を収容した試料皿と、前記シンチレータの周囲であ
って前記試料皿の縁部が接触する当接部位に配置された
第１シール部材と、を含む。
【０００９】この構成によれば、試料皿の窪み内に放射
性試料が収容され、シンチレータ周囲に設けられた第１
シール部材に対する試料皿の縁部（周縁部）の当接（圧
接）によって、第１空間が減圧可能な空間とされる。具
体的には、試料皿、シンチレータ、シンチレータ周囲の
構造物（第１シール部材を含む）によって、減圧可能な
空間としての第１空間が形成される。第１シール部材は
例えば弾性作用を有する交換可能なＯリングで構成され
る。これは後述の第２シール部材に関しても同様であ
る。
性試料が収容され、シンチレータ周囲に設けられた第１
シール部材に対する試料皿の縁部（周縁部）の当接（圧
接）によって、第１空間が減圧可能な空間とされる。具
体的には、試料皿、シンチレータ、シンチレータ周囲の
構造物（第１シール部材を含む）によって、減圧可能な
空間としての第１空間が形成される。第１シール部材は
例えば弾性作用を有する交換可能なＯリングで構成され
る。これは後述の第２シール部材に関しても同様であ
る。
【００１０】望ましくは、前記試料皿には、前記減圧手
段からの圧力が伝達される開口が形成される。
段からの圧力が伝達される開口が形成される。
【００１１】第１空間に対する減圧方式については各種
のものが考えられるが、試料皿に開口を形成し、その開
口を利用してエア吸引を行えば、たとえシンチレータと
放射性試料とが近接対向した状態（第１空間があまり厚
みのない空間である場合）でも簡単に減圧を達成でき
る。もちろん、シンチレータ周囲の構造体に当該開口を
形成することも可能であるが、シンチレータ側には一般
に他の放射線検出用の構造物が存在しているため、放射
線試料側に開口を形成するのが望ましい。
のものが考えられるが、試料皿に開口を形成し、その開
口を利用してエア吸引を行えば、たとえシンチレータと
放射性試料とが近接対向した状態（第１空間があまり厚
みのない空間である場合）でも簡単に減圧を達成でき
る。もちろん、シンチレータ周囲の構造体に当該開口を
形成することも可能であるが、シンチレータ側には一般
に他の放射線検出用の構造物が存在しているため、放射
線試料側に開口を形成するのが望ましい。
【００１２】望ましくは、前記位置決め機構は、前記試
料皿を前記シンチレータの直下に位置決めする第１機構
と、前記試料皿の下面に当接して前記シンチレータ側へ
持ち上げる第２機構と、を含む。
料皿を前記シンチレータの直下に位置決めする第１機構
と、前記試料皿の下面に当接して前記シンチレータ側へ
持ち上げる第２機構と、を含む。
【００１３】この構成によれば、上下方向にあまり装置
の規模を増大させることなく、試料皿の交換（放射性試
料の交換）を円滑に行える。
の規模を増大させることなく、試料皿の交換（放射性試
料の交換）を円滑に行える。
【００１４】望ましくは、前記第２機構は、前記試料皿
の下面に当接するエレベータ部材と、前記開口に連通
し、前記減圧手段が接続された吸引口と、前記試料皿の
下面と前記エレベータ部材の上面との間に、前記吸引口
を取り囲むように配置される第２シール部材と、を含
む。
の下面に当接するエレベータ部材と、前記開口に連通
し、前記減圧手段が接続された吸引口と、前記試料皿の
下面と前記エレベータ部材の上面との間に、前記吸引口
を取り囲むように配置される第２シール部材と、を含
む。
【００１５】上記構成よれば、試料皿を昇降部材によっ
て持ち上げる際に吸引口の周囲と試料皿の下面との間が
シールされる。
て持ち上げる際に吸引口の周囲と試料皿の下面との間が
シールされる。
【００１６】（２）上記目的を達成するために、本発明
は、放射線を検出する平板型シンチレータと、前記平板
型シンチレータの検出面に対して放射性試料を対向させ
る位置決め機構と、前記放射性試料が位置決めされた状
態において、前記平板型シンチレータの検出面と前記放
射性試料との間の第１空間を気密空間とする第１気密機
構と、前記平板型シンチレータの裏面側に設けられた受
光器と、前記平板型シンチレータの裏面側の第２空間を
気密空間とする第２気密機構と、前記第１空間と前記第
２空間を減圧する減圧機構と、を含むことを特徴とす
る。
は、放射線を検出する平板型シンチレータと、前記平板
型シンチレータの検出面に対して放射性試料を対向させ
る位置決め機構と、前記放射性試料が位置決めされた状
態において、前記平板型シンチレータの検出面と前記放
射性試料との間の第１空間を気密空間とする第１気密機
構と、前記平板型シンチレータの裏面側に設けられた受
光器と、前記平板型シンチレータの裏面側の第２空間を
気密空間とする第２気密機構と、前記第１空間と前記第
２空間を減圧する減圧機構と、を含むことを特徴とす
る。
【００１７】望ましくは、前記第１空間と前記第２空間
とを連通する連通路が形成され、前記減圧機構は前記第
１空間に連結される。
とを連通する連通路が形成され、前記減圧機構は前記第
１空間に連結される。
【００１８】（３）上記目的を達成するために、本発明
は、放射線を検出するセンターシンチレータと、前記セ
ンターシンチレータで発生した光を検出する少なくとも
１つのセンター受光器と、を有するセンター検出器と、
前記センターシンチレータの検出面に対して放射性試料
を対向させる位置決め機構と、前記センターシンチレー
タの裏面に形成された第２空間を取り囲むように設けら
れたガードシンチレータと、前記ガードシンチレータで
発生した光を検出する少なくとも１つのガード受光器
と、を有するガード検出器と、前記センターシンチレー
タの検出面と前記放射性試料との間の第１空間を減圧空
間とする減圧手段と、を含むことを特徴とする。
は、放射線を検出するセンターシンチレータと、前記セ
ンターシンチレータで発生した光を検出する少なくとも
１つのセンター受光器と、を有するセンター検出器と、
前記センターシンチレータの検出面に対して放射性試料
を対向させる位置決め機構と、前記センターシンチレー
タの裏面に形成された第２空間を取り囲むように設けら
れたガードシンチレータと、前記ガードシンチレータで
発生した光を検出する少なくとも１つのガード受光器
と、を有するガード検出器と、前記センターシンチレー
タの検出面と前記放射性試料との間の第１空間を減圧空
間とする減圧手段と、を含むことを特徴とする。
【００１９】望ましくは、前記減圧手段により前記第２
空間も減圧空間とされる。
空間も減圧空間とされる。
【００２０】望ましくは、前記センター検出器はその受
光面が前記第２空間の内部に臨むように設けられ、前記
センター検出器の受光面は前記第２空間の減圧状態を保
持する強度を有する透明性をもった保護カバーによって
覆われる。
光面が前記第２空間の内部に臨むように設けられ、前記
センター検出器の受光面は前記第２空間の減圧状態を保
持する強度を有する透明性をもった保護カバーによって
覆われる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態を
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【００２２】図１には、本発明に係る放射線測定装置の
好適な実施形態が示されており、図１はその全体構成を
示す概略断面図である。
好適な実施形態が示されており、図１はその全体構成を
示す概略断面図である。
【００２３】図１に示す放射線測定装置は、サンプル８
から放出される放射線を検出する装置である。ここで、
サンプル８は、例えば放射性物質が付着した濾紙などで
ある。図１に示す例では、そのサンプル８が試料皿３０
内に収容されている。
から放出される放射線を検出する装置である。ここで、
サンプル８は、例えば放射性物質が付着した濾紙などで
ある。図１に示す例では、そのサンプル８が試料皿３０
内に収容されている。
【００２４】この放射線測定装置は、第１測定ユニット
及び第２測定ユニットを含む。第１測定ユニットは、サ
ンプル８からの放射線を検出する第１シンチレータ（セ
ンターシンチレータ）１０と、その第１シンチレータ１
０にて生じた光を検出する一対の光電子増倍管（ＰＭ
Ｔ）１２と、で構成される。ここで、第１シンチレータ
１０は例えば一定の薄い厚さをもった平板状のプラスチ
ックシンチレータによって構成される。
及び第２測定ユニットを含む。第１測定ユニットは、サ
ンプル８からの放射線を検出する第１シンチレータ（セ
ンターシンチレータ）１０と、その第１シンチレータ１
０にて生じた光を検出する一対の光電子増倍管（ＰＭ
Ｔ）１２と、で構成される。ここで、第１シンチレータ
１０は例えば一定の薄い厚さをもった平板状のプラスチ
ックシンチレータによって構成される。
【００２５】第２測定ユニットは、いわゆるガード検出
器として機能するものであり、第２シンチレータ（ガー
ドシンチレータ）１４と、第２シンチレータ１４にて生
じた光を検出する一対の光電子増倍管１６と、で構成さ
れる。この放射線測定装置に例えば宇宙線が入射する
と、第１シンチレータ及び第２シンチレータの両者で発
光が生じるため、いわゆる逆同時計数を行うことによっ
て、当該宇宙線による計数を除外可能である。これ自体
は周知の構成である。
器として機能するものであり、第２シンチレータ（ガー
ドシンチレータ）１４と、第２シンチレータ１４にて生
じた光を検出する一対の光電子増倍管１６と、で構成さ
れる。この放射線測定装置に例えば宇宙線が入射する
と、第１シンチレータ及び第２シンチレータの両者で発
光が生じるため、いわゆる逆同時計数を行うことによっ
て、当該宇宙線による計数を除外可能である。これ自体
は周知の構成である。
【００２６】第１測定ユニット及び第２測定ユニットに
ついてさらに説明すると、第２シンチレータ１４は外側
シェル１８の内部に収容されている。この外側シェル１
８は例えば無酸素銅などの部材によって構成されてお
り、その上部には一対の開口１８Ａ，１８Ｂが形成さ
れ、それらに挿通して一対の光電子増倍管１６が設けら
れている。それらの光電子増倍管１６を収容するために
第２シンチレータ１４には窪み１４Ａ，１４Ｂが形成さ
れている。また、外側シェル１８には、一対の開口１８
Ｃ，１８Ｄが形成され、またそれに対応して第２シンチ
レータ１４には貫通孔１４Ｄ，１４Ｅが形成されてい
る。それらの開口１８Ｃ，１８Ｄ及び貫通孔１４Ｄ，１
４Ｅを挿通して一対の光電子増倍管１２が設けられてい
る。
ついてさらに説明すると、第２シンチレータ１４は外側
シェル１８の内部に収容されている。この外側シェル１
８は例えば無酸素銅などの部材によって構成されてお
り、その上部には一対の開口１８Ａ，１８Ｂが形成さ
れ、それらに挿通して一対の光電子増倍管１６が設けら
れている。それらの光電子増倍管１６を収容するために
第２シンチレータ１４には窪み１４Ａ，１４Ｂが形成さ
れている。また、外側シェル１８には、一対の開口１８
Ｃ，１８Ｄが形成され、またそれに対応して第２シンチ
レータ１４には貫通孔１４Ｄ，１４Ｅが形成されてい
る。それらの開口１８Ｃ，１８Ｄ及び貫通孔１４Ｄ，１
４Ｅを挿通して一対の光電子増倍管１２が設けられてい
る。
【００２７】内側シェル２０は、例えば無酸素銅などの
部材で構成され、大別して底面壁２２と内部容器２４と
で構成される。内部容器２４には、開口２４Ａ，２４Ｂ
が形成されており、上述の一対の光電子増倍管１２の受
光面がその開口２４Ａ，２４Ｂに臨んでいる。本実施形
態においては、内部容器２４内の第２空間１０２の気密
性を保持するため、開口２４Ａ，２４Ｂには透明性を有
するシール部材２６が設けられている。すなわち、光電
子増倍管１２の受光面に近接してそれらのシール部材２
６が設けられている。後述のように、このシール部材２
６の作用によって第２空間１０２の気密性が保持され
る。すなわち後述する第１空間１００が減圧された場
合、その減圧と共に第２空間１０２も内部減圧される
が、その場合の第２空間１０２の内部圧力は上述のシー
ル部材２６によって保持される。
部材で構成され、大別して底面壁２２と内部容器２４と
で構成される。内部容器２４には、開口２４Ａ，２４Ｂ
が形成されており、上述の一対の光電子増倍管１２の受
光面がその開口２４Ａ，２４Ｂに臨んでいる。本実施形
態においては、内部容器２４内の第２空間１０２の気密
性を保持するため、開口２４Ａ，２４Ｂには透明性を有
するシール部材２６が設けられている。すなわち、光電
子増倍管１２の受光面に近接してそれらのシール部材２
６が設けられている。後述のように、このシール部材２
６の作用によって第２空間１０２の気密性が保持され
る。すなわち後述する第１空間１００が減圧された場
合、その減圧と共に第２空間１０２も内部減圧される
が、その場合の第２空間１０２の内部圧力は上述のシー
ル部材２６によって保持される。
【００２８】また、図示していないが、これらの測定ユ
ニット全体を包み込むように、外部からの放射線を遮蔽
するために鉛などの部材によって構成された遮蔽材が通
常設けられている。
ニット全体を包み込むように、外部からの放射線を遮蔽
するために鉛などの部材によって構成された遮蔽材が通
常設けられている。
【００２９】図１に示されるように、試料皿３０は位置
決め機構３２によって支持されている。本実施形態にお
いて、試料皿３０の底部には開口３０Ｂが形成されてお
り、ポンプ３６の作用によってその開口３０Ｂを介して
第１空間１００を減圧することが可能である。ここで、
第１空間１００はサンプル８と第１シンチレータ１０と
の間の空間を含む試料皿３０内部の空間である。なお、
サンプル８は多孔性を有するためそのような減圧作用に
対して影響を及ぼすものではなく、またサンプル８が気
密性を有する部材で構成されている場合には減圧作用が
第１シンチレータ１０側にも伝達されるような構造を採
用するのが望ましい。
決め機構３２によって支持されている。本実施形態にお
いて、試料皿３０の底部には開口３０Ｂが形成されてお
り、ポンプ３６の作用によってその開口３０Ｂを介して
第１空間１００を減圧することが可能である。ここで、
第１空間１００はサンプル８と第１シンチレータ１０と
の間の空間を含む試料皿３０内部の空間である。なお、
サンプル８は多孔性を有するためそのような減圧作用に
対して影響を及ぼすものではなく、またサンプル８が気
密性を有する部材で構成されている場合には減圧作用が
第１シンチレータ１０側にも伝達されるような構造を採
用するのが望ましい。
【００３０】ちなみに図１において符号３２Ａは吸引路
を示しており、符号３４はその吸引路とポンプ３６とを
連結するホース部材などを示している。
を示しており、符号３４はその吸引路とポンプ３６とを
連結するホース部材などを示している。
【００３１】図１に示されるように、符号１０４で示さ
れるように位置決め機構３２の作用によって試料皿３０
が上方に持ち上げられて、試料皿３０のエッジ３０Ａが
底面壁２２の下面である底面２２Ａに密着する。この結
果、第１空間１００が気密空間となり、ポンプ３６によ
る減圧を確実に実行することができる。また第１空間１
００は第２空間１０２に連通しており、それらの両空間
とも減圧されることになる。
れるように位置決め機構３２の作用によって試料皿３０
が上方に持ち上げられて、試料皿３０のエッジ３０Ａが
底面壁２２の下面である底面２２Ａに密着する。この結
果、第１空間１００が気密空間となり、ポンプ３６によ
る減圧を確実に実行することができる。また第１空間１
００は第２空間１０２に連通しており、それらの両空間
とも減圧されることになる。
【００３２】少なくとも、サンプル８と第１シンチレー
タ１０との間の空間が減圧されるため、例えば低エネル
ギーのβ線がサンプル８から放出されても、そのような
β線がエアによって減弱される割合を低減でき、その結
果、放射線の検出感度を高めることが可能となる。すな
わち、図１に示すようにサンプル８を第１シンチレータ
１０に対して近接させると共に、それら両者間における
気体分子をできる限り少なくすることによって効率的な
放射線の検出を実現可能である。
タ１０との間の空間が減圧されるため、例えば低エネル
ギーのβ線がサンプル８から放出されても、そのような
β線がエアによって減弱される割合を低減でき、その結
果、放射線の検出感度を高めることが可能となる。すな
わち、図１に示すようにサンプル８を第１シンチレータ
１０に対して近接させると共に、それら両者間における
気体分子をできる限り少なくすることによって効率的な
放射線の検出を実現可能である。
【００３３】ちなみに、第１空間１００と第２空間１０
２とが連通しているため、それらの空間の圧力は常に一
致しており、上記の減圧によっても第１シンチレータ１
０に対して圧力負荷は生じない。
２とが連通しているため、それらの空間の圧力は常に一
致しており、上記の減圧によっても第１シンチレータ１
０に対して圧力負荷は生じない。
【００３４】図２には、図１に示した放射線測定装置に
おける試料皿周辺の詳細な構成が示されている。なお、
図１に示した構成と同様の構成には同一符号を付しその
説明を省略する。
おける試料皿周辺の詳細な構成が示されている。なお、
図１に示した構成と同様の構成には同一符号を付しその
説明を省略する。
【００３５】内部容器２４の下側には台座２４Ｄが形成
されており、その台座２４Ｄに底面壁２２が連結されて
いる。そのような底面壁２２によって上記の第１シンチ
レータ１０が保持されている。
されており、その台座２４Ｄに底面壁２２が連結されて
いる。そのような底面壁２２によって上記の第１シンチ
レータ１０が保持されている。
【００３６】底面壁２２には第１シンチレータの周囲を
取り囲むように溝２２Ｂが形成されており、その溝２２
Ｂ内にはＯリングが収納されている。このＯリングは例
えばゴムなどの弾性部材で構成されるものである。
取り囲むように溝２２Ｂが形成されており、その溝２２
Ｂ内にはＯリングが収納されている。このＯリングは例
えばゴムなどの弾性部材で構成されるものである。
【００３７】ちなみに、第１シンチレータ１０の周囲の
いずれかの箇所には連通路１００Ａ及び１０２Ａが形成
され、それら連通路によって第１空間１００と第２空間
１０２とが常に連通状態にある。
いずれかの箇所には連通路１００Ａ及び１０２Ａが形成
され、それら連通路によって第１空間１００と第２空間
１０２とが常に連通状態にある。
【００３８】ここで、位置決め機構３２について詳述す
る。プレート５１及びプレート５２は試料皿３０を支持
する台座として機能する。プレート５２は、後述のよう
にブロック５４などと共に昇降可能なプレートである。
プレート５１には開口部が形成され、その開口部を介し
てプレート５２が昇降する。放射線の測定時には２つの
プレート５１，５２の内でプレート５２が上昇し、試料
皿を上方へ付勢する。放射線測定後には、プレート５２
がプレート５１と同じレベルに位置決めされ、あるいは
必要に応じて、プレート５１の下方の待避位置へ位置決
めされる。その時点では、試料皿３０はプレート５１に
支持された状態となる。その状態において、プレート５
１が水平運動し、別の試料皿３０がプレート５２の上方
に位置決めされる。
る。プレート５１及びプレート５２は試料皿３０を支持
する台座として機能する。プレート５２は、後述のよう
にブロック５４などと共に昇降可能なプレートである。
プレート５１には開口部が形成され、その開口部を介し
てプレート５２が昇降する。放射線の測定時には２つの
プレート５１，５２の内でプレート５２が上昇し、試料
皿を上方へ付勢する。放射線測定後には、プレート５２
がプレート５１と同じレベルに位置決めされ、あるいは
必要に応じて、プレート５１の下方の待避位置へ位置決
めされる。その時点では、試料皿３０はプレート５１に
支持された状態となる。その状態において、プレート５
１が水平運動し、別の試料皿３０がプレート５２の上方
に位置決めされる。
【００３９】プレート５１の上面には突起５１Ｄが形成
されており、その突起５１Ｄは試料皿３０の下面に形成
された溝３０Ｃと係合する。これらの突起５１Ｄと溝３
０Ｃとの係合により試料皿３０の水平方向の位置決めが
行われる。
されており、その突起５１Ｄは試料皿３０の下面に形成
された溝３０Ｃと係合する。これらの突起５１Ｄと溝３
０Ｃとの係合により試料皿３０の水平方向の位置決めが
行われる。
【００４０】プレート５２には吸引孔５２Ｂが形成され
ており、その吸引孔５２Ｂ及び試料皿３０の開口３０Ｄ
を取り囲むように溝５２Ｃが形成されている。その溝５
２Ｃ内には試料皿３０の下面側をシールするためのＯリ
ング６０が収納配置されている。
ており、その吸引孔５２Ｂ及び試料皿３０の開口３０Ｄ
を取り囲むように溝５２Ｃが形成されている。その溝５
２Ｃ内には試料皿３０の下面側をシールするためのＯリ
ング６０が収納配置されている。
【００４１】プレート５２の下側にはブロック５４が設
けられており、そのブロック５４には開口部５４Ａが形
成され、その開口部５４Ａ内にプレート５２に形成され
た突出部５２Ａが挿入されている。それらの両者間には
Ｏリング６２が設けられている。ブロック５４内の開口
部はパイプ５６と連通しており、さらにそのパイプ５６
にはホース５８の一端が連結され、ホース５８の他端は
図１に示したポンプ３６に連結されている。よって、ポ
ンプ３６を駆動すると、ホース５８、パイプ５６及びブ
ロック５４の内部、プレート５２の吸引口５２Ｂ、及び
試料皿３０の開口３０Ｂを介して、吸引力が第１空間１
００に伝達され、さらにそれが第２空間１０２にも伝達
される。なお、図２において符号５９はプレート５２を
支持するベースを示している。
けられており、そのブロック５４には開口部５４Ａが形
成され、その開口部５４Ａ内にプレート５２に形成され
た突出部５２Ａが挿入されている。それらの両者間には
Ｏリング６２が設けられている。ブロック５４内の開口
部はパイプ５６と連通しており、さらにそのパイプ５６
にはホース５８の一端が連結され、ホース５８の他端は
図１に示したポンプ３６に連結されている。よって、ポ
ンプ３６を駆動すると、ホース５８、パイプ５６及びブ
ロック５４の内部、プレート５２の吸引口５２Ｂ、及び
試料皿３０の開口３０Ｂを介して、吸引力が第１空間１
００に伝達され、さらにそれが第２空間１０２にも伝達
される。なお、図２において符号５９はプレート５２を
支持するベースを示している。
【００４２】ここで試料皿３０について詳述すると、試
料皿３０の上端にはエッジ３０Ａが形成されており、そ
のエッジ３０Ａが上記のＯリング５０に圧接される。こ
れによって両者間における気密性が維持される。
料皿３０の上端にはエッジ３０Ａが形成されており、そ
のエッジ３０Ａが上記のＯリング５０に圧接される。こ
れによって両者間における気密性が維持される。
【００４３】試料皿３０には肩部３０Ｄが形成されてお
り、その肩部３０Ｄにサンプル８が載せられている。も
ちろん試料皿３０の内部構造としては各種のものを採用
可能である。ちなみに、この肩部３０Ｄによってサンプ
ル８が直接底部３０Ｅあるいは開口３０Ｂに密着するこ
とが防止されている。
り、その肩部３０Ｄにサンプル８が載せられている。も
ちろん試料皿３０の内部構造としては各種のものを採用
可能である。ちなみに、この肩部３０Ｄによってサンプ
ル８が直接底部３０Ｅあるいは開口３０Ｂに密着するこ
とが防止されている。
【００４４】位置決め機構３２は、本実施形態におい
て、図示されていないカム板及びシャフトを有してい
る。カム板はシャフトを回転軸として回転するものであ
り、その倒立状態においてはブロック５４の下面側が上
方へ押圧され、その結果、プレート５２が試料皿３０を
上方へ押し上げ、結果として、エッジ３０ＡがＯリング
５０と密着する。これと共に、Ｏリング６０が試料皿３
０の底部３０Ｆと密着する。このようなＯリング５０，
６０の作用によって第１空間１００が気密空間とされ
る。カム板の傾斜状態では、プレート５２がプレート５
１と同じ高さになるか、あるいは必要に応じてプレート
５１よりも低い位置に位置決めされる。その状態では、
試料皿３０がプレート５１上に載置され、また、プレー
ト５１の水平運動に応じて試料皿３０が水平運動する。
これにより試料皿３０が交換される。ちなみに、ベース
５９はプレート５１と一体化されていてもよく、あるい
は別体に構成されていてもよい。
て、図示されていないカム板及びシャフトを有してい
る。カム板はシャフトを回転軸として回転するものであ
り、その倒立状態においてはブロック５４の下面側が上
方へ押圧され、その結果、プレート５２が試料皿３０を
上方へ押し上げ、結果として、エッジ３０ＡがＯリング
５０と密着する。これと共に、Ｏリング６０が試料皿３
０の底部３０Ｆと密着する。このようなＯリング５０，
６０の作用によって第１空間１００が気密空間とされ
る。カム板の傾斜状態では、プレート５２がプレート５
１と同じ高さになるか、あるいは必要に応じてプレート
５１よりも低い位置に位置決めされる。その状態では、
試料皿３０がプレート５１上に載置され、また、プレー
ト５１の水平運動に応じて試料皿３０が水平運動する。
これにより試料皿３０が交換される。ちなみに、ベース
５９はプレート５１と一体化されていてもよく、あるい
は別体に構成されていてもよい。
【００４５】上述のように試料皿３０が上方へ持ち上げ
られて気密空間が形成されかつ減圧が行われた状態にお
いて第１シンチレータ１０によってサンプル８からの放
射線が検出され、第１シンチレータ１０にて生じた光が
図１に示した一対の光電子増倍管１２によって検出され
る。これによってサンプル８から放出される放射線の線
量などが検出されることになる。もちろん、宇宙線など
のバックグラウンドによる影響は上述した逆同時計数処
理によって除外される。放射線の検出が完了した時点で
は、必要に応じて第１空間１００などの大気開放を行
い、位置決め機構３２の作用によってプレート５２が下
方へ引き下げられ、その結果、試料皿３０がＯリング５
０から離脱することになる。そこで、例えばプレート５
１などを水平運動させて試料皿３０を交換することが可
能となる。
られて気密空間が形成されかつ減圧が行われた状態にお
いて第１シンチレータ１０によってサンプル８からの放
射線が検出され、第１シンチレータ１０にて生じた光が
図１に示した一対の光電子増倍管１２によって検出され
る。これによってサンプル８から放出される放射線の線
量などが検出されることになる。もちろん、宇宙線など
のバックグラウンドによる影響は上述した逆同時計数処
理によって除外される。放射線の検出が完了した時点で
は、必要に応じて第１空間１００などの大気開放を行
い、位置決め機構３２の作用によってプレート５２が下
方へ引き下げられ、その結果、試料皿３０がＯリング５
０から離脱することになる。そこで、例えばプレート５
１などを水平運動させて試料皿３０を交換することが可
能となる。
【００４６】そして、新しい試料皿３０が第１シンチレ
ータ１０の直下に位置決めされた後、上記の工程が繰り
返し実行され、次のサンプルについての放射線検出が繰
り返し実行される。
ータ１０の直下に位置決めされた後、上記の工程が繰り
返し実行され、次のサンプルについての放射線検出が繰
り返し実行される。
【００４７】上記の実施形態によれば、試料皿３０を持
ち上げた状態において、底面壁２２と試料皿３０との間
の空間としての第１空間１００を気密空間とすることが
でき、その状態においてポンプの作用によって第１空間
１００を減圧すれば、サンプル８と第１シンチレータ１
０との間におけるエアを排除でき、そのようなエアによ
る放出放射線の減弱作用を低減できるという利点があ
る。すなわち、上述したように特に低エネルギー放射線
の検出感度を高めることが可能となる。
ち上げた状態において、底面壁２２と試料皿３０との間
の空間としての第１空間１００を気密空間とすることが
でき、その状態においてポンプの作用によって第１空間
１００を減圧すれば、サンプル８と第１シンチレータ１
０との間におけるエアを排除でき、そのようなエアによ
る放出放射線の減弱作用を低減できるという利点があ
る。すなわち、上述したように特に低エネルギー放射線
の検出感度を高めることが可能となる。
【００４８】なお、図２に示した各Ｏリング５０，６
０，６２はそれぞれ交換自在に構成されている。
０，６２はそれぞれ交換自在に構成されている。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
低エネルギー放射線の測定精度を高められる。また、本
発明によれば試料とシンチレータとの間に存在する空気
層の影響を低減できる。
低エネルギー放射線の測定精度を高められる。また、本
発明によれば試料とシンチレータとの間に存在する空気
層の影響を低減できる。
【図１】 本発明に係る放射線測定装置の概略構成を示
す図である。
す図である。
【図２】 試料皿周辺の詳細な構成を示す断面図であ
る。
る。
８ サンプル、１０ 第１シンチレータ、１２ 光電子
増倍管、１４ 第２シンチレータ、１６ 光電子増倍
管、３０ 試料皿、３２ 位置決め機構、１００第１空
間、１０２ 第２空間。
増倍管、１４ 第２シンチレータ、１６ 光電子増倍
管、３０ 試料皿、３２ 位置決め機構、１００第１空
間、１０２ 第２空間。
フロントページの続き (72)発明者 谷口 功治 東京都三鷹市牟礼６丁目22番１号 アロカ 株式会社内 Ｆターム(参考） 2G088 EE26 FF05 GG11 GG18 GG20 JJ01 JJ10 JJ25 KK15 LL02 LL08 LL11 LL15
Claims (10)
- 【請求項１】 放射線を検出するシンチレータと、 前記シンチレータの検出面に対して放射性試料を対向さ
せる位置決め機構と、 前記放射性試料が位置決めされた状態において、前記シ
ンチレータの検出面と前記放射性試料との間の第１空間
を減圧可能な空間とする気密機構と、 前記第１空間を減圧する減圧手段と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記気密機構は、 前記放射線試料を収容した試料皿と、 前記シンチレータの周囲であって前記試料皿の縁部が接
触する当接部位に配置された第１シール部材と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の装置において、 前記試料皿には、前記減圧手段からの圧力が伝達される
開口が形成されたことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項４】 請求項２記載の装置において、 前記位置決め機構は、 前記試料皿を前記シンチレータの直下に位置決めする第
１機構と、 前記試料皿の下面に当接して前記シンチレータ側へ持ち
上げる第２機構と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項５】 請求項４記載の装置において、 前記第２機構は、 前記試料皿の下面に当接するエレベータ部材と、 前記開口に連通し、前記減圧手段が接続された吸引口
と、 前記試料皿の下面と前記エレベータ部材の上面との間
に、前記吸引口を取り囲むように配置される第２シール
部材と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項６】 放射線を検出する平板型シンチレータ
と、 前記平板型シンチレータの検出面に対して放射性試料を
対向させる位置決め機構と、 前記放射性試料が位置決めされた状態において、前記平
板型シンチレータの検出面と前記放射性試料との間の第
１空間を気密空間とする第１気密機構と、 前記平板型シンチレータの裏面側に設けられた受光器
と、 前記平板型シンチレータの裏面側の第２空間を気密空間
とする第２気密機構と、 前記第１空間と前記第２空間を減圧する減圧機構と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項７】 請求項６記載の装置において、 前記第１空間と前記第２空間とを連通する連通路が形成
され、 前記減圧機構は前記第１空間に連結されたことを特徴と
する放射線測定装置。 - 【請求項８】 放射線を検出するセンターシンチレータ
と、前記センターシンチレータで発生した光を検出する
少なくとも１つのセンター受光器と、を有するセンター
検出器と、 前記センターシンチレータの検出面に対して放射性試料
を対向させる位置決め機構と、 前記センターシンチレータの裏面に形成された第２空間
を取り囲むように設けられたガードシンチレータと、前
記ガードシンチレータで発生した光を検出する少なくと
も１つのガード受光器と、を有するガード検出器と、 前記センターシンチレータの検出面と前記放射性試料と
の間の第１空間を減圧空間とする減圧手段と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項９】 請求項８記載の装置において、 前記減圧手段により前記第２空間も減圧空間とされるこ
とを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項１０】 請求項９記載の装置において、 前記センター検出器はその受光面が前記第２空間の内部
に臨むように設けられ、 前記センター検出器の受光面は前記第２空間の減圧状態
を保持する強度を有する透明性をもった保護カバーによ
って覆われたことを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33117799A JP2001147271A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33117799A JP2001147271A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001147271A true JP2001147271A (ja) | 2001-05-29 |
Family
ID=18240758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33117799A Pending JP2001147271A (ja) | 1999-11-22 | 1999-11-22 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001147271A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007298285A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Hitachi Ltd | 荷電粒子測定装置 |
Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5723188A (en) * | 1980-07-17 | 1982-02-06 | Toshiba Corp | Simultaneous counter |
| JPS5728277A (en) * | 1980-07-28 | 1982-02-15 | Aloka Co Ltd | Radiation detector |
| JPS5965781A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-14 | Aloka Co Ltd | 低バツクグラウンド放射能測定方法 |
| JPS6035277U (ja) * | 1983-08-17 | 1985-03-11 | 株式会社東芝 | α線ダストモニタ |
| JPS62151780A (ja) * | 1985-12-26 | 1987-07-06 | Aloka Co Ltd | 放射能汚染検出装置 |
| JPS62287177A (ja) * | 1986-06-06 | 1987-12-14 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | ヨウ素１２９モニタ |
| JPS63148188A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-21 | バイクロン・コーポレイション | シンチレーション検出器及びその製造方法 |
| JPH03272490A (ja) * | 1990-03-22 | 1991-12-04 | Fuji Electric Co Ltd | ダストモニタ |
| JPH04290986A (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-15 | Fuji Electric Co Ltd | ダストサンプラ |
| JPH07159539A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Hitachi Ltd | ダストモニタ |
| JPH09211133A (ja) * | 1996-01-30 | 1997-08-15 | Toshiba Corp | 放射線モニタ |
| JPH10227866A (ja) * | 1997-02-14 | 1998-08-25 | Aloka Co Ltd | 放射線検出装置 |
-
1999
- 1999-11-22 JP JP33117799A patent/JP2001147271A/ja active Pending
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5723188A (en) * | 1980-07-17 | 1982-02-06 | Toshiba Corp | Simultaneous counter |
| JPS5728277A (en) * | 1980-07-28 | 1982-02-15 | Aloka Co Ltd | Radiation detector |
| JPS5965781A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-14 | Aloka Co Ltd | 低バツクグラウンド放射能測定方法 |
| JPS6035277U (ja) * | 1983-08-17 | 1985-03-11 | 株式会社東芝 | α線ダストモニタ |
| JPS62151780A (ja) * | 1985-12-26 | 1987-07-06 | Aloka Co Ltd | 放射能汚染検出装置 |
| JPS62287177A (ja) * | 1986-06-06 | 1987-12-14 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | ヨウ素１２９モニタ |
| JPS63148188A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-21 | バイクロン・コーポレイション | シンチレーション検出器及びその製造方法 |
| JPH03272490A (ja) * | 1990-03-22 | 1991-12-04 | Fuji Electric Co Ltd | ダストモニタ |
| JPH04290986A (ja) * | 1991-03-20 | 1992-10-15 | Fuji Electric Co Ltd | ダストサンプラ |
| JPH07159539A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Hitachi Ltd | ダストモニタ |
| JPH09211133A (ja) * | 1996-01-30 | 1997-08-15 | Toshiba Corp | 放射線モニタ |
| JPH10227866A (ja) * | 1997-02-14 | 1998-08-25 | Aloka Co Ltd | 放射線検出装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007298285A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Hitachi Ltd | 荷電粒子測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3741006B2 (ja) | 荷電粒子測定装置およびその測定方法 | |
| JP3561891B2 (ja) | マイクロプレート遮光手段及び発光測定装置 | |
| KR100515908B1 (ko) | 피처리기판의위치맞춤장치및그에쓰이는피처리기판용이적장치 | |
| JP6114629B2 (ja) | 回転可能状態検出装置及び回転可能状態検出方法、並びにこれを用いた基板処理装置及び基板処理方法 | |
| US8756978B2 (en) | Leak detector with optical tracer gas detection | |
| JP5126035B2 (ja) | ランプユニットおよび光センサ | |
| JP2019066473A (ja) | 測定室、測定室の動作方法、測定室の化学発光測定方法及び化学発光検出装置 | |
| JP2001147271A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JP2011203102A (ja) | 試料ホルダ及び試料分析方法 | |
| CN218584802U (zh) | 一种应用于免疫分析仪的检测盘 | |
| JP2008107203A (ja) | Ｘ線検出器 | |
| CN116106225A (zh) | 一种促甲状腺激素检测装置 | |
| JP2513093B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| JPH08271336A (ja) | 光音響分光測定装置 | |
| CN210465236U (zh) | 光信号检测的避光结构 | |
| JP2011013029A (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| JPH05294405A (ja) | 基板検出装置 | |
| JPH07270426A (ja) | 血液等の凝集データ収集装置 | |
| JP2000162161A (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| CN220120998U (zh) | 放射性气体探测装置 | |
| CN212459390U (zh) | 气体检测装置 | |
| JPS62151780A (ja) | 放射能汚染検出装置 | |
| WO2004114359A1 (ja) | 光検出管 | |
| JP2000241312A (ja) | ダストサンプラ及びダストモニタ | |
| JP2001264272A (ja) | 陽電子消滅γ線測定方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20060824 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20060824 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081226 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090331 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20100615 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |