JPS62151780A - 放射能汚染検出装置 - Google Patents
放射能汚染検出装置Info
- Publication number
- JPS62151780A JPS62151780A JP29210185A JP29210185A JPS62151780A JP S62151780 A JPS62151780 A JP S62151780A JP 29210185 A JP29210185 A JP 29210185A JP 29210185 A JP29210185 A JP 29210185A JP S62151780 A JPS62151780 A JP S62151780A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- vacuum
- radiation
- container
- vacuum container
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
本発明は放射能汚染検出装置、特に試料表面の微弱な放
射能を検出する装置に関する。
射能を検出する装置に関する。
原子力産業分野あるいは放射性物質を取り扱う分野にお
いて、放射能汚染の防ＩＦには細心の注意が払われてい
る。例えば、放射性物質の加工、成形や取扱いに用いた
装置や物品を外部に持ち出し又は廃棄する場合において
は、この装置や物品の表面からのｔＩｌ射線放出による
弊害を防止するために、これら装置や物品表面の放（ト
）能濃度が［放射性同位元素等による放ＦＡ線障害の防
Ｊ１°にｌ３ＩＩＩする法律］に基づいて定めた管理基
準以下であることを確認する必要がある。
いて、放射能汚染の防ＩＦには細心の注意が払われてい
る。例えば、放射性物質の加工、成形や取扱いに用いた
装置や物品を外部に持ち出し又は廃棄する場合において
は、この装置や物品の表面からのｔＩｌ射線放出による
弊害を防止するために、これら装置や物品表面の放（ト
）能濃度が［放射性同位元素等による放ＦＡ線障害の防
Ｊ１°にｌ３ＩＩＩする法律］に基づいて定めた管理基
準以下であることを確認する必要がある。
［従来の技術］
第１図には、従来の放射能汚染検出装置の概略構成が示
され、試料１０に対向させてα線サーベイメータ検出器
１２が配置され、試料表面の放射能濃度、第１図装置に
おいては、α線サーベイメータ検出器１２によってα線
濃度が検出される。
され、試料１０に対向させてα線サーベイメータ検出器
１２が配置され、試料表面の放射能濃度、第１図装置に
おいては、α線サーベイメータ検出器１２によってα線
濃度が検出される。
前記α線状−ベイメータ検出器１２には、第２図に示Ｊ
°ように、ｔＩＩＩＪＩの入射面に外光をｍ蔽する遮光
膜１４が設けられており、この遮光膜１／１の近傍位置
にはシンチレータ板１６が配設されている。そして、シ
ンブレーク１反１６の１多方位１こ１には光電子増倍管
１８が設けられてＪ３す、放射線強度が光電子増倍管１
８によって電気信号に変換され、更にブリーダ回路２０
により所望の信号処理が行われ、図示されていない放射
線Ｊ１測部にて放射能濃度の表示が行われる。
°ように、ｔＩＩＩＪＩの入射面に外光をｍ蔽する遮光
膜１４が設けられており、この遮光膜１／１の近傍位置
にはシンチレータ板１６が配設されている。そして、シ
ンブレーク１反１６の１多方位１こ１には光電子増倍管
１８が設けられてＪ３す、放射線強度が光電子増倍管１
８によって電気信号に変換され、更にブリーダ回路２０
により所望の信号処理が行われ、図示されていない放射
線Ｊ１測部にて放射能濃度の表示が行われる。
しかしながら、この種の装置にＪ３いては、試料１０か
らの微弱放射線を高精度にて検出できないという欠点が
あった。
らの微弱放射線を高精度にて検出できないという欠点が
あった。
寸なわち、試料１０の形状が図示のごとく凸凹形状をし
ている場合には、凹部から放出される放射線を確実に検
出できないという問題がある。
ている場合には、凹部から放出される放射線を確実に検
出できないという問題がある。
ザなわら、α線の飛程は３〜４ｃｍであり、このため、
試料１０の凹面からα線サーベイメータ検出器１２のシ
ンチレータ面までの距離を前記放射線の飛程範囲内に設
定することは極めて困難であり、従って試ＦＩ１１０の
凸面からの放射線を検出することは可能であるが、試料
１０の凹面からの放射線検出が困難となり、このため、
試料１０の全表面から放出づる放射線量を高精度にて検
出することができないという欠点があった。
試料１０の凹面からα線サーベイメータ検出器１２のシ
ンチレータ面までの距離を前記放射線の飛程範囲内に設
定することは極めて困難であり、従って試ＦＩ１１０の
凸面からの放射線を検出することは可能であるが、試料
１０の凹面からの放射線検出が困難となり、このため、
試料１０の全表面から放出づる放射線量を高精度にて検
出することができないという欠点があった。
発明の目的
本発明は前記従来の課題に鑑みなされたものであり、そ
の目的は、凸凹形状の試料においてもこの試料表面から
放射される放射線を高精度にて検出することができる放
射能汚染検出装置を提供することにある。
の目的は、凸凹形状の試料においてもこの試料表面から
放射される放射線を高精度にて検出することができる放
射能汚染検出装置を提供することにある。
［発明の構成］
上記目的を達成するために、本発明は、内部に試Ｆ１４
Ｉ！置台が設（）られた真空容器と、真空容器の壁面に
固定配置された光電子増倍管と、光電子増倍管と試料間
に配置され真空容器に固定されたシンチレータ板とを含
み、試料表面の放射能汚染が真空雰囲気中で検出される
ことを特徴とする。
Ｉ！置台が設（）られた真空容器と、真空容器の壁面に
固定配置された光電子増倍管と、光電子増倍管と試料間
に配置され真空容器に固定されたシンチレータ板とを含
み、試料表面の放射能汚染が真空雰囲気中で検出される
ことを特徴とする。
［実施例］
第３図には、本発明に係る放射能汚染検出装置の構成が
示され、従来装置と同一部材には同一符号を付し、その
説明を省略する。本発明において特徴的なことは、−試
料表面からの放射線強度を真空雰囲気中において検出す
る構成としたことである。
示され、従来装置と同一部材には同一符号を付し、その
説明を省略する。本発明において特徴的なことは、−試
料表面からの放射線強度を真空雰囲気中において検出す
る構成としたことである。
すなわち、本発明においては、第４図に示すように、試
料表面からの放射線の飛程が真空度を高めることにより
大きくなることに着目し、従って前述のごとく本発明は
試料を真空雰囲気中に置いて、その放射能汚染量を検出
する構成とされる。
料表面からの放射線の飛程が真空度を高めることにより
大きくなることに着目し、従って前述のごとく本発明は
試料を真空雰囲気中に置いて、その放射能汚染量を検出
する構成とされる。
例えば、第４図において、５Ｍｅ Ｖのα線にあっては
、大気中で約３．５Ｃｒａの飛程であるが、真空度を約
２６１１１１１−１（７とすることにより飛程が１００
ｃｍに増大される。従って、このように真空度を高める
ことによって放射線の飛程を大きくでき、試料表面から
放出される放射線を確実に捕えることが可能となる。
、大気中で約３．５Ｃｒａの飛程であるが、真空度を約
２６１１１１１−１（７とすることにより飛程が１００
ｃｍに増大される。従って、このように真空度を高める
ことによって放射線の飛程を大きくでき、試料表面から
放出される放射線を確実に捕えることが可能となる。
本実施例において、真空容器２１の壁面には複数個の光
電子増倍管１８が点在配置される。そして、真空容器２
１の内部には試ＦＩＭ置台２２が設けられており、この
試料載置台２２に試料１０が載置される。そして、試料
１０と光電子増倍管１Ｂ間にはシンチレータ板１６が配
設される。一方、真空容Ｐ！ｉ２１には排気管２３が設
けられており、真空ポンプ２４を駆動することにより真
空容器内を真空雰囲気とすることが可能となる。
電子増倍管１８が点在配置される。そして、真空容器２
１の内部には試ＦＩＭ置台２２が設けられており、この
試料載置台２２に試料１０が載置される。そして、試料
１０と光電子増倍管１Ｂ間にはシンチレータ板１６が配
設される。一方、真空容Ｐ！ｉ２１には排気管２３が設
けられており、真空ポンプ２４を駆動することにより真
空容器内を真空雰囲気とすることが可能となる。
このように本実施例において、真空容器２１内を真空雰
囲気とすることにより、試料１０からの放射線の飛程を
大きくすることが可能となり、このため、試料１０の凹
部からの放射線放出量をも高精度にて検出することが可
能となる。
囲気とすることにより、試料１０からの放射線の飛程を
大きくすることが可能となり、このため、試料１０の凹
部からの放射線放出量をも高精度にて検出することが可
能となる。
また、本実施例においては、真空容器２１内を真空雰囲
気状態にして試料１０の微弱放射線を検出するため、真
空容器内のラドン聞を減少することができるので、測定
に際してのバックグラウンドを減少することが可能であ
り、この結果、検出感度が改善できるという利点がある
。
気状態にして試料１０の微弱放射線を検出するため、真
空容器内のラドン聞を減少することができるので、測定
に際してのバックグラウンドを減少することが可能であ
り、この結果、検出感度が改善できるという利点がある
。
更に、本実施例においては、前述したにうに真空容器２
１の壁面のほぼ全周にわたり光電子増倍管１８を複数個
点在配置する結果、試料１０の凸凹状面の向きをどちら
の方向に向けても試ＩＩ １０の微弱放射線を高精度に
て検出することがＣぎる。
１の壁面のほぼ全周にわたり光電子増倍管１８を複数個
点在配置する結果、試料１０の凸凹状面の向きをどちら
の方向に向けても試ＩＩ １０の微弱放射線を高精度に
て検出することがＣぎる。
そして、また試ＩＩのいわゆる４π測定が可能どなる。
この試料１０の放射線強度は、光電子増信管１８からの
電気信号を処理することにより図示ざれていない表示部
に表示することが可能となる。
電気信号を処理することにより図示ざれていない表示部
に表示することが可能となる。
本実施例においては、図示のごとく真空容器２１の各壁
面に配賢された光電子増倍管は各群ごとにブロック区分
され（Ａ−Ｄ）、各ブロックの光電子増倍管１８からの
電気信号が第５図に示すように、信号処理回路２６に導
かれ、この信号処理回路２６により所望の信号演算が行
われる。例えば、この信号処理回路２６から各ブロック
ごとの検出信号を取り出すことができるとともに、一方
のブロックと他方のブロックとの信号和を取り出ずこと
も可能である。また、場合によってｔよ各ブロックを構
成する光電子増倍管ごとに信号取出しを行うことも可能
である。従って、このような信号演算により試料表面か
らのｔｌｌ射線故躬強度を高精度にて検出できる。
面に配賢された光電子増倍管は各群ごとにブロック区分
され（Ａ−Ｄ）、各ブロックの光電子増倍管１８からの
電気信号が第５図に示すように、信号処理回路２６に導
かれ、この信号処理回路２６により所望の信号演算が行
われる。例えば、この信号処理回路２６から各ブロック
ごとの検出信号を取り出すことができるとともに、一方
のブロックと他方のブロックとの信号和を取り出ずこと
も可能である。また、場合によってｔよ各ブロックを構
成する光電子増倍管ごとに信号取出しを行うことも可能
である。従って、このような信号演算により試料表面か
らのｔｌｌ射線故躬強度を高精度にて検出できる。
［発明の効果コ
以上説明したように、本発明によれば、凸凹形状の試料
にあっても、この試料表面から放出される放射線強度を
高粘度にて検出することが可能どなる。
にあっても、この試料表面から放出される放射線強度を
高粘度にて検出することが可能どなる。
第１図は従来の放射能汚染検出装置を示す概略構成図、
第２図は第１図装置のα線サーベイメータ検出器の断面
図、 第３図は本発明に係る放射能汚染検出装置を示す構成図
、 第４図は放射線の各真空度に対する飛程を示す特性図、 第５図は本発明装置の信号処理を示すブロック図である
。 １０ ・・・ 試料 １６ ・・・ シンチレータ板 １８ ・・・ 光電子増倍管 ２１ ・・・ 真空容器 ２２ ・・・ 試料載５台。
図、 第３図は本発明に係る放射能汚染検出装置を示す構成図
、 第４図は放射線の各真空度に対する飛程を示す特性図、 第５図は本発明装置の信号処理を示すブロック図である
。 １０ ・・・ 試料 １６ ・・・ シンチレータ板 １８ ・・・ 光電子増倍管 ２１ ・・・ 真空容器 ２２ ・・・ 試料載５台。
Claims (2)
- （１）内部に試料載置台が設けられた真空容器と、真空
容器の壁面に固定配置された光電子増倍管と、光電子増
倍管と試料間に配置され真空容器に固定されたシンチレ
ータ板とを含み、試料表面の放射能汚染が真空雰囲気中
で検出されることを特徴とする放射能汚染検出装置。 - （２）特許請求の範囲（１）記載の装置において、光電
子増倍管は、真空容器のほぼ全周壁にわたって複数個点
在配置されることを特徴とする放射能汚染検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29210185A JPS62151780A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 放射能汚染検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29210185A JPS62151780A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 放射能汚染検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62151780A true JPS62151780A (ja) | 1987-07-06 |
| JPH0513472B2 JPH0513472B2 (ja) | 1993-02-22 |
Family
ID=17777558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29210185A Granted JPS62151780A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 放射能汚染検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62151780A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03261887A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Ngk Insulators Ltd | 放射性廃棄物の放射線測定装置 |
| JP2001147271A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-05-29 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
| US7267015B2 (en) | 2004-09-20 | 2007-09-11 | Quantum Corporation | System and method for testing media device doors |
-
1985
- 1985-12-26 JP JP29210185A patent/JPS62151780A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03261887A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Ngk Insulators Ltd | 放射性廃棄物の放射線測定装置 |
| JP2001147271A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-05-29 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
| US7267015B2 (en) | 2004-09-20 | 2007-09-11 | Quantum Corporation | System and method for testing media device doors |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0513472B2 (ja) | 1993-02-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6278115B1 (en) | X-ray inspection system detector with plastic scintillating material | |
| US2892091A (en) | Continuous alpha air monitor | |
| US4897550A (en) | Apparatus for the characterization of fissile material having at least one neutron radiation detector located in a gamma radiation detection scintillator | |
| US5525804A (en) | Background canceling surface alpha detector | |
| WO2001007900A1 (fr) | Dispositif de detection photographique numerique de rayonnement pour objets de grande dimension | |
| CN109696700B (zh) | 极低水平超铀核素放射性废物包检测系统 | |
| US3233102A (en) | Apparatus relating to the detection and measurement of radioactivity in relatively large bodies | |
| JPS62151780A (ja) | 放射能汚染検出装置 | |
| US2954473A (en) | Cerenkov radiation fission product detector | |
| US4019057A (en) | Device for determining the spatial distribution of radioactivity within an object | |
| JP4528268B2 (ja) | シンチレーション検出器および放射線検出装置 | |
| US3699338A (en) | Oscillating monitor for fissile material | |
| JPH06510162A (ja) | ガス流ガイガ・ミュラー形検出器およびイオン化放射のモニタ方法 | |
| US3291986A (en) | Monitor for air-borne beryllium | |
| JPH04235379A (ja) | 放射能測定方法 | |
| JPH11109036A (ja) | α放射能測定方法およびその装置 | |
| US3202819A (en) | Beta and gamma measuring apparatus for fluids | |
| US3835325A (en) | Radiation detectors using multiple scintillation crystal pieces | |
| JP3040326B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| FI86345B (fi) | Foerfarande och anordning foer raettande av maetningsfel vid vaetskescintillationsraekning. | |
| JPH1164527A (ja) | ガスモニタ及び水モニタ | |
| JP2005172771A (ja) | α・β線検出装置及びα・β線検出方法 | |
| JPS628539Y2 (ja) | ||
| JP2001264272A (ja) | 陽電子消滅γ線測定方法および装置 | |
| JP2736184B2 (ja) | 放射性廃棄物の放射能識別方法 |