JP2736184B2 - 放射性廃棄物の放射能識別方法 - Google Patents
放射性廃棄物の放射能識別方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、老朽化した原子炉の解
体時に発生する廃棄物の放射能識別方法に理に関する。
体時に発生する廃棄物の放射能識別方法に理に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、放射能による汚染物と放射化物と
を識別するためには、識別の対象となる物質を破壊し、
直接、γ線を測定することにより、対象物の放射能の有
無を測定する方法がある。
を識別するためには、識別の対象となる物質を破壊し、
直接、γ線を測定することにより、対象物の放射能の有
無を測定する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のように
識別対象物質を破壊して対象物の放射能の有無を測定す
る方法では、老朽化した原子炉の解体時に発生する膨大
な量の廃棄物を処理する上で破壊という作業が増すた
め、全体の作業効率の低下を招くこと、また、破壊によ
り発生した粉塵などにより、作業員の外部被爆だけでな
く、内部被爆も考えられる。
識別対象物質を破壊して対象物の放射能の有無を測定す
る方法では、老朽化した原子炉の解体時に発生する膨大
な量の廃棄物を処理する上で破壊という作業が増すた
め、全体の作業効率の低下を招くこと、また、破壊によ
り発生した粉塵などにより、作業員の外部被爆だけでな
く、内部被爆も考えられる。
【０００４】本発明はかかる従来の問題点を解決するた
めになされたもので、その目的は、識別対象物を破壊す
ることなく放射能による汚染物と放射化物の識別を行う
ことができる放射性廃棄物の放射能識別方法を提供する
ことにある。
めになされたもので、その目的は、識別対象物を破壊す
ることなく放射能による汚染物と放射化物の識別を行う
ことができる放射性廃棄物の放射能識別方法を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】 本発明に係る放射性廃
棄物の放射能識別方法は、γ線エネルギーを測定する少
なくとも１台の放射線検出器で、放射性廃棄物を複数面
より散乱γ線及び直接γ線を測定する工程と、この測定
された散乱γ線及び直接γ線の比率を算出する工程と、
この算出された比率の相関を取ることにより放射能汚染
物及び放射化物を識別する工程とを有することを特徴と
している。
棄物の放射能識別方法は、γ線エネルギーを測定する少
なくとも１台の放射線検出器で、放射性廃棄物を複数面
より散乱γ線及び直接γ線を測定する工程と、この測定
された散乱γ線及び直接γ線の比率を算出する工程と、
この算出された比率の相関を取ることにより放射能汚染
物及び放射化物を識別する工程とを有することを特徴と
している。
【０００６】
【作用】図１に示すように、測定対象物３を中心に置
き、その測定対象物３の両側に２台の放射線検出器１を
向き合うように配置し、さらにその周囲に遮蔽容器２で
覆う。そして、図２に示すように、放射線検出器１より
得られる信号は、前置増幅器４を経て線形増幅器６で増
幅される。増幅された信号は、アナログ・ディジタル変
換器でアナログ信号はディジタル信号に変換され、プロ
セスメモリを通って信号処理されて計算機９で出力表示
される。
き、その測定対象物３の両側に２台の放射線検出器１を
向き合うように配置し、さらにその周囲に遮蔽容器２で
覆う。そして、図２に示すように、放射線検出器１より
得られる信号は、前置増幅器４を経て線形増幅器６で増
幅される。増幅された信号は、アナログ・ディジタル変
換器でアナログ信号はディジタル信号に変換され、プロ
セスメモリを通って信号処理されて計算機９で出力表示
される。
【０００７】図３のように、測定対象物３の表面に汚染
物１０が存在する汚染物Ａからのγ線は、物質にほとん
ど散乱されず、直接、放射線検出器１に検出される。し
かし、図４に示すように測定対象物３が放射化物Ｂの場
合には、放射能は汚染物Ａのように物質の表面上に存在
するものとは違い、その内部からγ線を放射することに
なる。放射化物Ｂに対しては、直接検出されるγ線のほ
かに汚染物Ａよりもより多くの散乱γ線が検出されるこ
とになる。
物１０が存在する汚染物Ａからのγ線は、物質にほとん
ど散乱されず、直接、放射線検出器１に検出される。し
かし、図４に示すように測定対象物３が放射化物Ｂの場
合には、放射能は汚染物Ａのように物質の表面上に存在
するものとは違い、その内部からγ線を放射することに
なる。放射化物Ｂに対しては、直接検出されるγ線のほ
かに汚染物Ａよりもより多くの散乱γ線が検出されるこ
とになる。
【０００８】よって、測定位置の異なる放射線検出器１
による測定対象物３の散乱γ線の計数と直接γ線の計数
との比を比較することにより、汚染物Ａと放射化物Ｂの
識別が可能となる。
による測定対象物３の散乱γ線の計数と直接γ線の計数
との比を比較することにより、汚染物Ａと放射化物Ｂの
識別が可能となる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１０】図１は本発明に係る放射性廃棄物の放射能
識別方法の構成を示す平面図であり、測定対象物３に対
し、２台の放射線検出器１を配置し、測定対象物３と放
射線検出器１を遮蔽容器２で覆い、天然放射能及び宇宙
線などのバックグラウンドを低減し、測定効率を向上さ
せるようにする。
識別方法の構成を示す平面図であり、測定対象物３に対
し、２台の放射線検出器１を配置し、測定対象物３と放
射線検出器１を遮蔽容器２で覆い、天然放射能及び宇宙
線などのバックグラウンドを低減し、測定効率を向上さ
せるようにする。
【００１１】ここでは、放射線検出器１として、ＮａΙ
（Ｔ１）シンチレーション検出器を使用した。
（Ｔ１）シンチレーション検出器を使用した。
【００１２】図２は、測定のためのシステムを示すもの
で、放射線検出器１に検出された放射線の信号は、前置
増幅器４を経て線形増幅器６で増幅される。増幅された
信号は、アナログ／ディジタル変換器７を経てアナログ
信号からデイジタル信号に変換され、プロセスメモリ８
を通って信号処理されて、計算機９で出力表示される
（図５、図６）。放射線検出器１には、高圧電源５が接
続されている。
で、放射線検出器１に検出された放射線の信号は、前置
増幅器４を経て線形増幅器６で増幅される。増幅された
信号は、アナログ／ディジタル変換器７を経てアナログ
信号からデイジタル信号に変換され、プロセスメモリ８
を通って信号処理されて、計算機９で出力表示される
（図５、図６）。放射線検出器１には、高圧電源５が接
続されている。
【００１３】図１ないし図４に示す測定では、汚染物１
０と放射線検出器１との距離が違うため、本来、図５お
よび図６にそれぞれ示した汚染面１０のγ線スペクトル
１１および反対面のγ線スペクトル１２の計数値は異な
るが、図５および図６では直接γ線の計数１３、１４と
散乱γ線の計数１５、１６の割合の違いを分かり易くす
るために、汚染面１０のγ線スペクトル１１の直接γ線
の計数１３を反対面のγ線スペクトル１２の直接γ線の
計数１４に規格化して示した。
０と放射線検出器１との距離が違うため、本来、図５お
よび図６にそれぞれ示した汚染面１０のγ線スペクトル
１１および反対面のγ線スペクトル１２の計数値は異な
るが、図５および図６では直接γ線の計数１３、１４と
散乱γ線の計数１５、１６の割合の違いを分かり易くす
るために、汚染面１０のγ線スペクトル１１の直接γ線
の計数１３を反対面のγ線スペクトル１２の直接γ線の
計数１４に規格化して示した。
【００１４】図５は、測定対象物３が放射化部のない汚
染物Ａの場合における汚染面１０に対する放射線検出器
１からのＣｏー６０のγ線スペクトルの出力表示１１で
あり、図６ではその反対面の放射線検出器１からのＣｏ
ー６０のγ線のスペクトルの出力表示１２である。
染物Ａの場合における汚染面１０に対する放射線検出器
１からのＣｏー６０のγ線スペクトルの出力表示１１で
あり、図６ではその反対面の放射線検出器１からのＣｏ
ー６０のγ線のスペクトルの出力表示１２である。
【００１５】図７は、汚染部と放射化部が混在する測定
対象部３の汚染部と放射化部の割合を種々に変えて、図
５および図６に示すγ線スペクトルを測定し、放射線検
出器１で測定した汚染面１０の直接γ線の計数１３と散
乱γ線の計数１５の比に対するその反対面の直接γ線の
計数１４と散乱γ線の計数１６の比の比率を縦軸とし、
汚染部の放射能と放射化部の放射能の比を横軸にとった
図である。
対象部３の汚染部と放射化部の割合を種々に変えて、図
５および図６に示すγ線スペクトルを測定し、放射線検
出器１で測定した汚染面１０の直接γ線の計数１３と散
乱γ線の計数１５の比に対するその反対面の直接γ線の
計数１４と散乱γ線の計数１６の比の比率を縦軸とし、
汚染部の放射能と放射化部の放射能の比を横軸にとった
図である。
【００１６】この図７において、汚染面１０の散乱γ線
の計数１５／直接γ線の計数１３に対する、反対面の散
乱γ線の計数１６／直接γ線の計数１４の比率が、1.0
に近いほど完全な放射化物Ｂであり、放射部の割合が少
なくなるにつれて1.0 より小さくなる。また、その比率
が、汚染部の放射能／放射化部の放射能の比が１０程度
のところで変化するが、その変化が急激であるため汚染
物Ａと放射化物Ｂの識別性が良い。測定対象物３に対し
て、このような測定データを予め用意しておけば、γ線
の散乱具合が等しいような同形状の他の測定対象物３に
対する測定は、放射線検出器１一台による汚染面１０の
みの測定で識別が可能であるし、また上述したような放
射せん検出器１の二台による測定を行うことにより他の
形状の測定対象物３の識別も可能である。
の計数１５／直接γ線の計数１３に対する、反対面の散
乱γ線の計数１６／直接γ線の計数１４の比率が、1.0
に近いほど完全な放射化物Ｂであり、放射部の割合が少
なくなるにつれて1.0 より小さくなる。また、その比率
が、汚染部の放射能／放射化部の放射能の比が１０程度
のところで変化するが、その変化が急激であるため汚染
物Ａと放射化物Ｂの識別性が良い。測定対象物３に対し
て、このような測定データを予め用意しておけば、γ線
の散乱具合が等しいような同形状の他の測定対象物３に
対する測定は、放射線検出器１一台による汚染面１０の
みの測定で識別が可能であるし、また上述したような放
射せん検出器１の二台による測定を行うことにより他の
形状の測定対象物３の識別も可能である。
【００１７】以上の結果から明らかなように、本実施例
によれば、図１に示すように、測定対象物３の周囲に二
台の放射線検出器１を配することによって、汚染／放射
化放射能の識別ができる。
によれば、図１に示すように、測定対象物３の周囲に二
台の放射線検出器１を配することによって、汚染／放射
化放射能の識別ができる。
【００１８】汚染物Ａの汚染面１０は、常に汚染面測定
用の放射線検出器１側を向いているとは限らないこと
が、今後、解体廃棄物を処理する上で予想される。図８
に示すように、汚染面１０で放出されたγ線が測定対象
物３自体により散乱され、その散乱γ線が汚染面測定用
の放射線検出器１に検出される。このことは、本来、汚
染物Ａであるものを放射化物Ｂと誤って評価することに
なる。この欠点を補うため、図９に示すように、複数の
放射線検出器１を測定対象物３の周囲に配置し、測定対
象物３が、仮に汚染物Ａであったとしても、常に汚染面
１０が放射線検出器１にむいていることになり、正確か
つ高効率で評価できる。また、放射化物Ｂであった場
合、放射線検出器１ごとの評価の相違がみられず、汚染
物Ａと放射化物Ｂの識別ができる。
用の放射線検出器１側を向いているとは限らないこと
が、今後、解体廃棄物を処理する上で予想される。図８
に示すように、汚染面１０で放出されたγ線が測定対象
物３自体により散乱され、その散乱γ線が汚染面測定用
の放射線検出器１に検出される。このことは、本来、汚
染物Ａであるものを放射化物Ｂと誤って評価することに
なる。この欠点を補うため、図９に示すように、複数の
放射線検出器１を測定対象物３の周囲に配置し、測定対
象物３が、仮に汚染物Ａであったとしても、常に汚染面
１０が放射線検出器１にむいていることになり、正確か
つ高効率で評価できる。また、放射化物Ｂであった場
合、放射線検出器１ごとの評価の相違がみられず、汚染
物Ａと放射化物Ｂの識別ができる。
【００１９】図１０および図１１は、放射線検出器１を
一台配置し、複数台の放射線検出器１を配置した場合と
同等の測定を行うことを示した図である。図１０は、測
定対象物３を固定し、放射性検出器１を１８０度回転
し、都合２回のγ線測定を行う。図１１は、放射線検出
器１を固定し、測定対象物３を１８０度回転して都合２
回の測定を行う。
一台配置し、複数台の放射線検出器１を配置した場合と
同等の測定を行うことを示した図である。図１０は、測
定対象物３を固定し、放射性検出器１を１８０度回転
し、都合２回のγ線測定を行う。図１１は、放射線検出
器１を固定し、測定対象物３を１８０度回転して都合２
回の測定を行う。
【００２０】測定結果は、すべて述べた実施例の図５な
いし図７と同様にであるが、複数の放射線検出器１を配
置した場合と同等の測定評価を簡単な装置構成で行うこ
とができる。
いし図７と同様にであるが、複数の放射線検出器１を配
置した場合と同等の測定評価を簡単な装置構成で行うこ
とができる。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、測定対
象物を破壊することなく汚染物と放射化物の識別が可能
であるため、作業性が向上し、作業員の内部被爆を避け
ることができる。
象物を破壊することなく汚染物と放射化物の識別が可能
であるため、作業性が向上し、作業員の内部被爆を避け
ることができる。
【図１】本発明に係る放射性廃棄物の放射能識別方法の
構成を示す平面図である。
構成を示す平面図である。
【図２】測定のためのシステム図である。
【図３】汚染物の直接γ線を示す概略図である。
【図４】放射化物の直接γ線と散乱γ線の相違を示す概
略図である。
略図である。
【図５】放射線検出器１による汚染面のγ線スペクトル
の出力図である。
の出力図である。
【図６】放射線検出器１による反対面のγ線のスペクト
ルの出力図である。
ルの出力図である。
【図７】汚染部の放射能／放射化部の放射能の比を横軸
に汚染面の散乱γ線の計数／直接γ線の計数の比に対す
る反対面の散乱γ線の計数／直接γ線の計数の比の比率
を縦軸に取った関係図である。
に汚染面の散乱γ線の計数／直接γ線の計数の比に対す
る反対面の散乱γ線の計数／直接γ線の計数の比の比率
を縦軸に取った関係図である。
【図８】汚染物の汚染面に対して反対面からの測定を示
す図である。
す図である。
【図９】放射線検出器１を複数台配置した測定システム
図である。
図である。
【図１０】放射線検出器１を一台配置した測定システム
図である。
図である。
【図１１】放射線検出器１を一台配置した測定システム
図である。
図である。
１………放射線検出器 ２………遮蔽容器 ３………測定対象物 １０………汚染面 １１………汚染面からのγ線スペクトル １２………反対面からのγ線スペクトル Ａ………汚染物 Ｂ………放射化物
Claims (1)
- 【請求項１】 γ線エネルギーを測定する少なくとも１
台の放射線検出器で、放射性廃棄物を複数面より散乱γ
線及び直接γ線を測定する工程と、この測定された散乱
γ線及び直接γ線の比率を算出する工程と、この算出さ
れた比率の相関を取ることにより放射能汚染物及び放射
化物を識別する工程とを有することを特徴とする放射性
廃棄物の放射能識別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3147351A JP2736184B2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 放射性廃棄物の放射能識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3147351A JP2736184B2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 放射性廃棄物の放射能識別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04370786A JPH04370786A (ja) | 1992-12-24 |
| JP2736184B2 true JP2736184B2 (ja) | 1998-04-02 |
Family
ID=15428226
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3147351A Expired - Fee Related JP2736184B2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 放射性廃棄物の放射能識別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2736184B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6345583A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-26 | Hitachi Ltd | 表面汚染検査装置 |
-
1991
- 1991-06-19 JP JP3147351A patent/JP2736184B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04370786A (ja) | 1992-12-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971209 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080109 Year of fee payment: 10 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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