JPH0644043B2 - 半導体放射線検出装置 - Google Patents
半導体放射線検出装置Info
- Publication number
- JPH0644043B2 JPH0644043B2 JP1081136A JP8113689A JPH0644043B2 JP H0644043 B2 JPH0644043 B2 JP H0644043B2 JP 1081136 A JP1081136 A JP 1081136A JP 8113689 A JP8113689 A JP 8113689A JP H0644043 B2 JPH0644043 B2 JP H0644043B2
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- Japan
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- radiation
- semiconductor radiation
- semiconductor
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- radiation detecting
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は一般に半導体放射線検出装置に関し、特に、原
子力発電プラントを始め、放射線を用いた検査機器が設
定されている医療機関や放射線を用いた加工機器が設定
されている事業所等において、放射線場の監視を行なう
ために用いられる半導体放射線検出装置に関する。
子力発電プラントを始め、放射線を用いた検査機器が設
定されている医療機関や放射線を用いた加工機器が設定
されている事業所等において、放射線場の監視を行なう
ために用いられる半導体放射線検出装置に関する。
（従来の技術） 従来、監視が必要な放射線場が生ずる代表的な施設であ
る原子力発電プラントにおいては、以下に記載するよう
な態様にて放射線の計測が実施されている。
る原子力発電プラントにおいては、以下に記載するよう
な態様にて放射線の計測が実施されている。
(イ)施設環境或いは原子力発電所周辺の放射線レベルや
放射能汚染度を測定するための携帯形装置として、例え
ば、空間γ線量率を測定する電離箱サーベイメータを始
めとする各種サーベイメータが、又、固定形装置とし
て、例えば、排気中や排水中の放射能を測定するプロセ
スモニタを始めとする各種モニタ装置が用いられてい
る。
放射能汚染度を測定するための携帯形装置として、例え
ば、空間γ線量率を測定する電離箱サーベイメータを始
めとする各種サーベイメータが、又、固定形装置とし
て、例えば、排気中や排水中の放射能を測定するプロセ
スモニタを始めとする各種モニタ装置が用いられてい
る。
(ロ)原子力発電所内外で採取した各種サンプルの放射能
測定するための分析用放射線測定装置としては、例え
ば、β線放出核種の放射能を測定するＧＭ計数装置や、
Υ線放出核種の同定、定量測定をするシンチレーション
検出装置、α線、γ線放出核種の同定、定量測定を行な
う半導体放射線検出装置等が、夫々用いられている。
測定するための分析用放射線測定装置としては、例え
ば、β線放出核種の放射能を測定するＧＭ計数装置や、
Υ線放出核種の同定、定量測定をするシンチレーション
検出装置、α線、γ線放出核種の同定、定量測定を行な
う半導体放射線検出装置等が、夫々用いられている。
(ハ)作業者等、個人の被曝線量の測定を行なうための個
人モニタとして、１ケ月等の集積線量を測定するフィル
ムバッジや、１日の被曝線量を測定するポケット線量計
等が夫々用いられている。
人モニタとして、１ケ月等の集積線量を測定するフィル
ムバッジや、１日の被曝線量を測定するポケット線量計
等が夫々用いられている。
（発明が解決しようとする課題） ところで、上述した各種装置のうち、(イ)のタイプの装
置、例えば、電離箱サーベイメータにおいては、放射線
の正確な測定は可能なものの空間的な分布状況の測定に
は不向きであり、その他のサーベイメータに関しても、
リアルタイムで且つ正確な放射線場の測定ができない。
置、例えば、電離箱サーベイメータにおいては、放射線
の正確な測定は可能なものの空間的な分布状況の測定に
は不向きであり、その他のサーベイメータに関しても、
リアルタイムで且つ正確な放射線場の測定ができない。
又、(ロ)のタイプの分析用放射線測定装置においても、
上記と同様にリアルタイムで放射線の検出ができない。
更に(ハ)のタイプの個人モニタに関しても、既に照射さ
れた放射線量を事後に測定するものであって、時間的、
空間的に変化する放射線場を可視化し、作業者等が積極
的に強放射線場を避けるのに利用することはできなかっ
た。
上記と同様にリアルタイムで放射線の検出ができない。
更に(ハ)のタイプの個人モニタに関しても、既に照射さ
れた放射線量を事後に測定するものであって、時間的、
空間的に変化する放射線場を可視化し、作業者等が積極
的に強放射線場を避けるのに利用することはできなかっ
た。
そのため、プラント内等の作業環境程度の弱放射線場に
おいて、ある程度以上の強度を持つ放射線場の空間的な
分布状況をリアルタイムで把握することができず、作業
者の放射線被曝の低減や作業能率の向上を図ることがで
きないという問題点があった。
おいて、ある程度以上の強度を持つ放射線場の空間的な
分布状況をリアルタイムで把握することができず、作業
者の放射線被曝の低減や作業能率の向上を図ることがで
きないという問題点があった。
従って、本発明の目的は、携帯自在で且つ放射線場の空
間的な分布状況をリアルタイムで把握することが可能
な、そしてそれにより作業者の放射線被曝の低減や作業
能率の向上を図ることができる半導体放射線検出装置を
提供することにある。
間的な分布状況をリアルタイムで把握することが可能
な、そしてそれにより作業者の放射線被曝の低減や作業
能率の向上を図ることができる半導体放射線検出装置を
提供することにある。
（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため本発明の半導体放射線検出装置
は、異なった種類の放射線源からの放射線の入射に応答
して検出信号を出力する複数種類の半導体放射線検出手
段と、上記複数種類の半導体放射線検出手段の出力信号
を夫々増幅して出力する複数の増幅手段と、上記複数の
増幅手段の出力信号を受けて夫々放射線種毎に異なる色
で可視表示を行う複数の表示手段とを、基体に搭載した
携帯可能な半導体放射線検出装置において、上記基体は
平板状部分を有し、上記半導体放射線検出手段、増幅手
段及び表示手段は上記基体の厚み方向に配置されると共
に、上記半導体放射線検出手段は上記基体の片面に、上
記表示手段は上記基体の反対面に、夫々マトリクス状に
配置されている、ことを特徴とする。
は、異なった種類の放射線源からの放射線の入射に応答
して検出信号を出力する複数種類の半導体放射線検出手
段と、上記複数種類の半導体放射線検出手段の出力信号
を夫々増幅して出力する複数の増幅手段と、上記複数の
増幅手段の出力信号を受けて夫々放射線種毎に異なる色
で可視表示を行う複数の表示手段とを、基体に搭載した
携帯可能な半導体放射線検出装置において、上記基体は
平板状部分を有し、上記半導体放射線検出手段、増幅手
段及び表示手段は上記基体の厚み方向に配置されると共
に、上記半導体放射線検出手段は上記基体の片面に、上
記表示手段は上記基体の反対面に、夫々マトリクス状に
配置されている、ことを特徴とする。
（作用） 基体の片面は複数の半導体放射線検出手段が二次元的に
配列された検出面となり、反対面は上記半導体放射線検
出手段に対応して複数の表示器が二次元的に配置された
表示面となる。従って、検出面を測定対象に向けると、
反対側の表示面に検出結果が二次元的（平面的）に表示
される。この表示面を監視することにより、放射線源の
位置を容易に割り出すことができる。その結果、汚染さ
れた箇所を素早く同定することができる。
配列された検出面となり、反対面は上記半導体放射線検
出手段に対応して複数の表示器が二次元的に配置された
表示面となる。従って、検出面を測定対象に向けると、
反対側の表示面に検出結果が二次元的（平面的）に表示
される。この表示面を監視することにより、放射線源の
位置を容易に割り出すことができる。その結果、汚染さ
れた箇所を素早く同定することができる。
また、検出面に、複数の放射線種を同時に検出するべ
く、複数種類の半導体放射線検出手段の組を二次元的に
配置し、検出結果を放射線種毎に定めた色で可視表示す
る。従って、放射線源の位置及び核種を素早く同定する
ことができる。
く、複数種類の半導体放射線検出手段の組を二次元的に
配置し、検出結果を放射線種毎に定めた色で可視表示す
る。従って、放射線源の位置及び核種を素早く同定する
ことができる。
（実施例） 以下、図面に基づき本発明の実施例について説明する。
第１図は、参考例の半導体放射線検出装置の全体的な構
成を示したブロック図である。
成を示したブロック図である。
第１図において、半導体放射線検出回路１は、放射線の
入射に応答して所定の検出信号、例えばパルス信号を出
力する。前置増幅回路３は、半導体放射線検出回路１か
ら出力されたパルス信号を増幅して出力する。ディスク
リミネータ５は、前置増幅回路３にて増幅されたパルス
信号中から波高値が予め定めた閾値以上のものを弁別し
て出力するようになっている。増幅回路７はディスクリ
ミネータ５によって弁別されたパルス信号を受けてこれ
を増幅した後出力する。ＬＥＤ（発光ダイオード）表示
器９は、増幅回路７からの出力信号によって駆動されて
可視表示を行なう。
入射に応答して所定の検出信号、例えばパルス信号を出
力する。前置増幅回路３は、半導体放射線検出回路１か
ら出力されたパルス信号を増幅して出力する。ディスク
リミネータ５は、前置増幅回路３にて増幅されたパルス
信号中から波高値が予め定めた閾値以上のものを弁別し
て出力するようになっている。増幅回路７はディスクリ
ミネータ５によって弁別されたパルス信号を受けてこれ
を増幅した後出力する。ＬＥＤ（発光ダイオード）表示
器９は、増幅回路７からの出力信号によって駆動されて
可視表示を行なう。
前述した構成について更に詳述すれば以下のようであ
る。第１図を参照して、半導体放射線検出回路１は、ｐ
−ｎ接合型の半導体検出素子（ダイオード）１ｂに、可
変直流電圧源１ａから抵抗１ｃを介して逆バイアス電圧
を印加し、この逆バイアス電圧の印加により半導体検出
素子１ｂ内に形成された空乏層に放射線が入射すること
によってパルス電流が流れ、これをコンデンサ１ｄによ
りパルス電圧に変換して出力するように構成されてい
る。半導体検出素子１ｂには、ゲルマニウム又はシリコ
ンを用いた常温にて動作するｐ−ｎ接合型の素子が用い
られている。
る。第１図を参照して、半導体放射線検出回路１は、ｐ
−ｎ接合型の半導体検出素子（ダイオード）１ｂに、可
変直流電圧源１ａから抵抗１ｃを介して逆バイアス電圧
を印加し、この逆バイアス電圧の印加により半導体検出
素子１ｂ内に形成された空乏層に放射線が入射すること
によってパルス電流が流れ、これをコンデンサ１ｄによ
りパルス電圧に変換して出力するように構成されてい
る。半導体検出素子１ｂには、ゲルマニウム又はシリコ
ンを用いた常温にて動作するｐ−ｎ接合型の素子が用い
られている。
ＬＥＤ表示器９は入射した放射線の強度に応じて段階的
に駆動される複数個のＬＥＤを備えることが望ましい。
この場合には、各ＬＥＤを放射線の強度に応じて段階的
に駆動させるために段階的な閾値を持つ複数個のディス
クリミネータ５と増幅回路７とが各ＬＥＤに対応して設
けられる。
に駆動される複数個のＬＥＤを備えることが望ましい。
この場合には、各ＬＥＤを放射線の強度に応じて段階的
に駆動させるために段階的な閾値を持つ複数個のディス
クリミネータ５と増幅回路７とが各ＬＥＤに対応して設
けられる。
これら、半導体放射線検出回路１、前置増幅回路３、デ
ィスクリミネータ５、増幅回路７、及びＬＥＤ表示器９
は、携帯可能な大きさの一枚の基板１１上に実装されて
いる。
ィスクリミネータ５、増幅回路７、及びＬＥＤ表示器９
は、携帯可能な大きさの一枚の基板１１上に実装されて
いる。
このような構成の装置を携帯することにより、作業者は
いつでも作業空間内における放射線場の空間的な分布状
況を手早く可視的に把握することができ、ある程度以上
の強度を持った放射線場を事前に避け得ることができ
る。従って、ストリーミング等の予期しない漏洩等によ
る被曝が防止でき、作業者の放射線被曝の低減、作業能
率の向上を図ることが可能である。
いつでも作業空間内における放射線場の空間的な分布状
況を手早く可視的に把握することができ、ある程度以上
の強度を持った放射線場を事前に避け得ることができ
る。従って、ストリーミング等の予期しない漏洩等によ
る被曝が防止でき、作業者の放射線被曝の低減、作業能
率の向上を図ることが可能である。
第２図は、他の参考例の半導体放射線検出装置の全体的
な構成を示したブロック図である。
な構成を示したブロック図である。
この半導体放射線検出装置は、第１図にて図示した半導
体放射線検出回路１、前置増幅回路３、ディスクリミネ
ータ５、増幅回路７及びＬＥＤ表示器９を、夫々検出対
象たる放射線種の数に対応させて前記基板１１上に複数
組配設することとしたものである。即ち、検出回路１と
して、荷電粒子検出回路２１、γ線検出回路３１及びβ
線検出回路４１の３種類が設けられ、その各々について
第１図の半導体放射線検出回路１と同様の構成が組ま
れ、それらが全て同一基板１１上に搭載されている。そ
してＬＥＤ表示器２９，３９，４９は、検出対象に応じ
て赤、緑、青の異なる色光を発するものが選ばれてい
る。
体放射線検出回路１、前置増幅回路３、ディスクリミネ
ータ５、増幅回路７及びＬＥＤ表示器９を、夫々検出対
象たる放射線種の数に対応させて前記基板１１上に複数
組配設することとしたものである。即ち、検出回路１と
して、荷電粒子検出回路２１、γ線検出回路３１及びβ
線検出回路４１の３種類が設けられ、その各々について
第１図の半導体放射線検出回路１と同様の構成が組ま
れ、それらが全て同一基板１１上に搭載されている。そ
してＬＥＤ表示器２９，３９，４９は、検出対象に応じ
て赤、緑、青の異なる色光を発するものが選ばれてい
る。
荷電粒子検出回路２１は、入射した放射線中、α線等の
荷電粒子を検出して所定の検出信号を出力する。又、γ
線検出回路３１は、入射放射線中のγ線を検出して所定
の検出信号を出力する。更にβ線検出回路４１は、入射
放射線中のβ線を検出して所定の検出信号を出力する。
それらの検出信号は夫々前置増幅、弁別、増幅の処理を
経て対応するＬＥＤ表示器２９，３９，４９を発光させ
る。
荷電粒子を検出して所定の検出信号を出力する。又、γ
線検出回路３１は、入射放射線中のγ線を検出して所定
の検出信号を出力する。更にβ線検出回路４１は、入射
放射線中のβ線を検出して所定の検出信号を出力する。
それらの検出信号は夫々前置増幅、弁別、増幅の処理を
経て対応するＬＥＤ表示器２９，３９，４９を発光させ
る。
このような構成とすることにより、赤色光、緑色光、青
色光の３色と、各ＬＥＤ表示器２９，３９，４９におけ
る夫々の輝度との組合せパターンが放射線場のプロファ
イルとして得られ、作業者等がこれを肉眼で目視するこ
とによって放射性同位元素（ＲＩ）の核種を同定するこ
とができる。又、前記ＬＥＤ表示器２９，３９，４９か
ら発せられる赤色光、緑色光、青色光とその輝度とをス
ペクトル分析回路５１にてスペクトル分析してより精密
な核種同定を行なうことも可能である。
色光の３色と、各ＬＥＤ表示器２９，３９，４９におけ
る夫々の輝度との組合せパターンが放射線場のプロファ
イルとして得られ、作業者等がこれを肉眼で目視するこ
とによって放射性同位元素（ＲＩ）の核種を同定するこ
とができる。又、前記ＬＥＤ表示器２９，３９，４９か
ら発せられる赤色光、緑色光、青色光とその輝度とをス
ペクトル分析回路５１にてスペクトル分析してより精密
な核種同定を行なうことも可能である。
第３図及び第４図は、本発明の第３の実施例に従う半導
体放射線検出装置の構成を示した概略説明図である。
体放射線検出装置の構成を示した概略説明図である。
本発明の実施例に従う半導体放射線検出装置は、第１図
にて図示した半導体放射線検出回路１、前置増幅回路
３、ディスクリミネータ５、増幅回路７及びＬＥＤ表示
器９を基板１１の厚み方向に配列すると共に、そのよう
な装置を基板１１の面に亘って複数個マトリクス状に配
置したものである。従って、基板１１の一方の面は半導
体検出回路１がマトリクス配列されて検出面Ａを構成
し、他面はＬＥＤ表示器９がマトリクス配列されて表示
面Ｂを構成する。
にて図示した半導体放射線検出回路１、前置増幅回路
３、ディスクリミネータ５、増幅回路７及びＬＥＤ表示
器９を基板１１の厚み方向に配列すると共に、そのよう
な装置を基板１１の面に亘って複数個マトリクス状に配
置したものである。従って、基板１１の一方の面は半導
体検出回路１がマトリクス配列されて検出面Ａを構成
し、他面はＬＥＤ表示器９がマトリクス配列されて表示
面Ｂを構成する。
このような装置は、例えば第５図のように作業者がこれ
を持って検出面Ａを検出対象側に向け、表示面Ｂを監視
することにより、放射線源の位置を容易に割り出すこと
ができ、放射能等の除染作業を行なうに際して、汚染さ
れた箇所を手早く同定することができる。
を持って検出面Ａを検出対象側に向け、表示面Ｂを監視
することにより、放射線源の位置を容易に割り出すこと
ができ、放射能等の除染作業を行なうに際して、汚染さ
れた箇所を手早く同定することができる。
第６図は、本発明の第２の実施例に従う半導体放射線検
出装置の構成を示した概略説明図である。
出装置の構成を示した概略説明図である。
この装置は、検出対象たる放射線種の数に対応した荷電
粒子検出回路２１、γ線検出回路３１、β線検出回路４
１等の半導体放射線検出回路、前置増幅回路２３，３
３，４３、ディスクリミネータ２５，３５，４５、増幅
回路２７，３７，４７、ＬＥＤ表示器２９，３９，４９
を基板１１の厚み方向に配列し、それを基板面に亘って
複数、マトリクス状に配置したものである。
粒子検出回路２１、γ線検出回路３１、β線検出回路４
１等の半導体放射線検出回路、前置増幅回路２３，３
３，４３、ディスクリミネータ２５，３５，４５、増幅
回路２７，３７，４７、ＬＥＤ表示器２９，３９，４９
を基板１１の厚み方向に配列し、それを基板面に亘って
複数、マトリクス状に配置したものである。
この装置を用いれば、放射線源位置の割り出しと共に、
放射線種の同定も容易に行える。
放射線種の同定も容易に行える。
以上説明したように、本発明の半導体放射線検出装置
は、複数の半導体放射線検出器が基板の一面にマトリク
ス状に配置されている検出面側を検出対象に向けて放射
線の検出を行い、この検出面と反対の面に、上記半導体
放射線検出器に対応してマトリクス状に配置された複数
の表示器によって、各半導体放射線検出器による検出結
果を平面的に表示するので、放射線源の位置を容易に割
り出すことができる。また、検出すべき放射線種の数に
対応した複数の放射線検出器の組を上記基板の片面にマ
トリクス状に配置することによって、放射線源の位置の
割り出しと共に放射線種の同定も素早く行える。
は、複数の半導体放射線検出器が基板の一面にマトリク
ス状に配置されている検出面側を検出対象に向けて放射
線の検出を行い、この検出面と反対の面に、上記半導体
放射線検出器に対応してマトリクス状に配置された複数
の表示器によって、各半導体放射線検出器による検出結
果を平面的に表示するので、放射線源の位置を容易に割
り出すことができる。また、検出すべき放射線種の数に
対応した複数の放射線検出器の組を上記基板の片面にマ
トリクス状に配置することによって、放射線源の位置の
割り出しと共に放射線種の同定も素早く行える。
第１図は参考例の半導体放射線検出装置の全体的な構成
を示したブロック図、第２図は他の参考例の半導体放射
線検出装置の全体的な構成を示したブロック図、第３図
は本発明の実施例に従う半導体放射線検出装置の構成を
示した概略断面図、第４図は本発明の上記実施例に従う
半導体放射線検出装置の構成を示した概略斜視図、第５
図は上記実施例の使用方法の一例を示した説明図、第６
図は本発明の他の実施例に従う半導体放射線検出装置の
構成を示した概略断面図である。 １…半導体放射線検出回路、３，２３，３３，４３…前
置増幅回路、５，２５，３５，４５…ディスクリミネー
タ、７，２７，３７，４７…増幅回路、９，２９，３
９，４９…ＬＥＤ表示器、１１…基板、２１…荷電粒子
検出回路、３１…γ線検出回路、４１…β線検出回路。
を示したブロック図、第２図は他の参考例の半導体放射
線検出装置の全体的な構成を示したブロック図、第３図
は本発明の実施例に従う半導体放射線検出装置の構成を
示した概略断面図、第４図は本発明の上記実施例に従う
半導体放射線検出装置の構成を示した概略斜視図、第５
図は上記実施例の使用方法の一例を示した説明図、第６
図は本発明の他の実施例に従う半導体放射線検出装置の
構成を示した概略断面図である。 １…半導体放射線検出回路、３，２３，３３，４３…前
置増幅回路、５，２５，３５，４５…ディスクリミネー
タ、７，２７，３７，４７…増幅回路、９，２９，３
９，４９…ＬＥＤ表示器、１１…基板、２１…荷電粒子
検出回路、３１…γ線検出回路、４１…β線検出回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久保川 俊彦 神奈川県鎌倉市梶原４―７―１ 株式会社 野村総合研究所内 (72)発明者 高木 栄 神奈川県鎌倉市梶原４―７―１ 株式会社 野村総合研究所内 (56)参考文献 特開 昭57−100365（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−266383（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−313086（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−103591（ＪＰ，Ａ) 実開 昭58−42677（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】異なった種類の放射線源からの放射線の入
射に応答して検出信号を出力する複数種類の半導体放射
線検出手段と、前記複数種類の半導体放射線検出手段の
出力信号を夫々増幅して出力する複数の増幅手段と、前
記複数の増幅手段の出力信号を受けて夫々放射線種毎に
異なる色で可視表示を行う複数の表示手段とを、基体に
搭載した携帯可能な半導体放射線検出装置において、 前記基体は平板状部分を有し、 前記半導体放射線検出手段、増幅手段及び表示手段は前
記基体の厚み方向に配置されると共に、前記半導体放射
線検出手段は前記基体の片面に、前記表示手段は前記基
体の反対面に、夫々マトリクス状に配置されている、 ことを特徴とする半導体放射線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1081136A JPH0644043B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導体放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1081136A JPH0644043B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導体放射線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02259589A JPH02259589A (ja) | 1990-10-22 |
| JPH0644043B2 true JPH0644043B2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=13737986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1081136A Expired - Lifetime JPH0644043B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導体放射線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0644043B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7780913B2 (en) * | 2005-08-26 | 2010-08-24 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Paint for detection of corrosion and warning of chemical and radiological attack |
| EP2625546A2 (en) * | 2010-10-07 | 2013-08-14 | H. Lee Moffitt Cancer Center And Research Institute, Inc. | Method and apparatus for detection of radioactive isotopes |
| JP6497646B2 (ja) * | 2014-04-08 | 2019-04-10 | 清水建設株式会社 | 放射線可視化装置による放射性物質監視方法 |
| WO2021261198A1 (ja) * | 2020-06-25 | 2021-12-30 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 | 放射線検出器 |
| WO2024023857A1 (en) * | 2022-07-26 | 2024-02-01 | Alma Mater Studiorum - Università di Bologna | Detection system of ionizing radiation emitted by sources, such as radioactive samples and the like, detection sensors and detection method |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2492989A1 (fr) * | 1980-10-24 | 1982-04-30 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif portatif de mesure de rayonnements ionisants utilisant un detecteur a semi-conducteur et a compensation electronique |
| JPS5842677U (ja) * | 1981-09-14 | 1983-03-22 | 株式会社日立製作所 | 放射線モニタ |
| JPS62103591A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-14 | Fuji Electric Co Ltd | 体表面モニタ |
| JPS63266383A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-02 | Hitachi Ltd | 個人被曝線量計 |
| JPS63313086A (ja) * | 1987-06-15 | 1988-12-21 | Shimadzu Corp | 小型放射線線量計 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1081136A patent/JPH0644043B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02259589A (ja) | 1990-10-22 |
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