JPS6249282A - 放射能濃度モニタ - Google Patents
放射能濃度モニタInfo
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- JPS6249282A JPS6249282A JP19011485A JP19011485A JPS6249282A JP S6249282 A JPS6249282 A JP S6249282A JP 19011485 A JP19011485 A JP 19011485A JP 19011485 A JP19011485 A JP 19011485A JP S6249282 A JPS6249282 A JP S6249282A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は原子力ｈ１’２ ｉ＋見等から１ノ１出される
気体等の気体中のβ線およびγ線を検出して放射能潤度
を監視する敢射能淵度モニタに関づる。
気体等の気体中のβ線およびγ線を検出して放射能潤度
を監視する敢射能淵度モニタに関づる。
［発明の技術的背硬とその問題点］
放射・Ｐ１物質の取り扱いを訂町された事業所等Ｃ゛は
、施設内からの排気に関して連続的な放射能温度監視が
義務付けられでいる。
、施設内からの排気に関して連続的な放射能温度監視が
義務付けられでいる。
従来、このような敢射能淵度監ネ５）には、被測定気体
をガスヂエンパ内に導き、ぞの中に含まれる成用能淵度
を敢剣線測定器等により連続的に測定する測定装置が使
用される。このよう４ｆ測定装置には、たとえば電離箱
検出器、ＮａＩ（Ｔ、ｌ結晶シンナレーション検出器、
プラスデックシンＪレージ」ン検出器が多く用いられて
いる。
をガスヂエンパ内に導き、ぞの中に含まれる成用能淵度
を敢剣線測定器等により連続的に測定する測定装置が使
用される。このよう４ｆ測定装置には、たとえば電離箱
検出器、ＮａＩ（Ｔ、ｌ結晶シンナレーション検出器、
プラスデックシンＪレージ」ン検出器が多く用いられて
いる。
電離筒検出器（Δ、気体中のβ線（７′線）の電離作用
により発生した電荷を直接測定するものであり、主とし
て空気中での比電因１０大ぎいβ線に感度を有する。第
５図はこの電ｔｉｌ１箱検出器を示すもので、金属製の
ガスチェンバ１の軸に沿って陽（へとして中心電（水２
が配置されている。
により発生した電荷を直接測定するものであり、主とし
て空気中での比電因１０大ぎいβ線に感度を有する。第
５図はこの電ｔｉｌ１箱検出器を示すもので、金属製の
ガスチェンバ１の軸に沿って陽（へとして中心電（水２
が配置されている。
ＮａＩ（Ｔ’Ｃ）結晶シンデレージョン検出器（ｄ、第
６図に示すように、ガスチェンバ１日内に導入された気
体中のγ線がＮａＩ（Ｔ、、Ｃ＞結晶３に入射したとぎ
に発生する蛍光を光電了増イ８管４で電気信号に変換し
て取り出すもので、γ線のみに感度を右（る１、これは
、ＮａＩ（ＴｉＱ＞結晶３が潮解″１（１を有り−るた
め、アルミニウムブース５内に気密的に封止されている
ので、透過力の弱いβ線は、γ線と違ってアルミニウム
ケース５によって１ｓｆｌ市されるからである。
６図に示すように、ガスチェンバ１日内に導入された気
体中のγ線がＮａＩ（Ｔ、、Ｃ＞結晶３に入射したとぎ
に発生する蛍光を光電了増イ８管４で電気信号に変換し
て取り出すもので、γ線のみに感度を右（る１、これは
、ＮａＩ（ＴｉＱ＞結晶３が潮解″１（１を有り−るた
め、アルミニウムブース５内に気密的に封止されている
ので、透過力の弱いβ線は、γ線と違ってアルミニウム
ケース５によって１ｓｆｌ市されるからである。
一１ラスチックシンチレーシ・１ン検出器（，１１、第
“乙図に示Ｊよう（、＝、カス−１Ｆンバ′１０内）、
二装置された博いノ゛ラスチックシン°ブーレーク（３
内の発）いソＣガイド７を介しＣ光電Ｖｉ１曽イ１４管
ε３Ｉ（１、ｌ、す１ハ月どし。
“乙図に示Ｊよう（、＝、カス−１Ｆンバ′１０内）、
二装置された博いノ゛ラスチックシン°ブーレーク（３
内の発）いソＣガイド７を介しＣ光電Ｖｉ１曽イ１４管
ε３Ｉ（１、ｌ、す１ハ月どし。
−で■艮り出すもので、薄いプラスヂックシンチレータ
（ま平均原子番舅か（ｌ（＜ ’ｌ’ Ｉ！ｉｊ ＋＝
矧してはどんと感度をした覆、β線（Ｊ対して感ｌσを
右部る４゜Ｊス−［のように、イア）′来の測定装置は
β線すしくは７′線のいずれかに感Ｉａを有１Ｊる検出
？ＭＴを使用じている１、このｌｊめ、１１１気中の欣
０４ ｒｌＵ淵葭を測定する場合、２種類の測定装置を
相合μて使用［−２、例えば、電離箱方式の測定装置と
Ｎε１１（−Ｔ−Ｒ）結晶検出器方式の測定装置を相合
ｔＪ−て、ぞれそ′れβ線およびγ線敢出核イ手の１５
’ｌ ０４ ｔｉｔ：温石を・測定しな（」ればならな
い、。
（ま平均原子番舅か（ｌ（＜ ’ｌ’ Ｉ！ｉｊ ＋＝
矧してはどんと感度をした覆、β線（Ｊ対して感ｌσを
右部る４゜Ｊス−［のように、イア）′来の測定装置は
β線すしくは７′線のいずれかに感Ｉａを有１Ｊる検出
？ＭＴを使用じている１、このｌｊめ、１１１気中の欣
０４ ｒｌＵ淵葭を測定する場合、２種類の測定装置を
相合μて使用［−２、例えば、電離箱方式の測定装置と
Ｎε１１（−Ｔ−Ｒ）結晶検出器方式の測定装置を相合
ｔＪ−て、ぞれそ′れβ線およびγ線敢出核イ手の１５
’ｌ ０４ ｔｉｔ：温石を・測定しな（」ればならな
い、。
そこで、第６図に示したＮａＩ（Ｉｆ）（ｆｉ出器を改
良し第８図に示すＪンうに、ＮａＩ（［、）結晶３表面
に薄い（／ＳＩ結晶層９等の他のシンチレータ層を作り
、波形弁別によりβ線あるいは低エネルギーＸ線とγ線
どの弁別をｔ＋ ５１−＞式の測定装置が考案８れでい
るが、この測定装置で（５１、β線の有効感度面を十分
広くどれ４１いため、空気中の飛程の短い似エネルキー
β１ｅ：ｊ）の放射能測定下限を低くとることがＣきな
いという問題がある。
良し第８図に示すＪンうに、ＮａＩ（［、）結晶３表面
に薄い（／ＳＩ結晶層９等の他のシンチレータ層を作り
、波形弁別によりβ線あるいは低エネルギーＸ線とγ線
どの弁別をｔ＋ ５１−＞式の測定装置が考案８れでい
るが、この測定装置で（５１、β線の有効感度面を十分
広くどれ４１いため、空気中の飛程の短い似エネルキー
β１ｅ：ｊ）の放射能測定下限を低くとることがＣきな
いという問題がある。
［発明の目的］
本発明はかかる点に対処してなされたちので、２種類の
測定装置を用いることなく′１つの測定装置により、β
線および７′線の敢剣能潤度を独〜”ｆにそれぞれ評１
ｉ１１ｉ覆−ることができ、かつ低ゴーネルギーβ線の
敢Ｑ」能測定下限を低くすることのできる敢ｑ」能）藺
度モニタを提供しようとり−る・しのである。
測定装置を用いることなく′１つの測定装置により、β
線および７′線の敢剣能潤度を独〜”ｆにそれぞれ評１
ｉ１１ｉ覆−ることができ、かつ低ゴーネルギーβ線の
敢Ｑ」能測定下限を低くすることのできる敢ｑ」能）藺
度モニタを提供しようとり−る・しのである。
［発明の）既要］
刀なわら本発明（３」１、通気型ガスチェンバど、この
ガスチェンバ内に７’７いに平行に設置された複数のβ
線検出用シンチレータ板と、前記ガスチェンバ内に挿入
され仝而を透光体でシールされたＴ線検出用シンデレ−
タと、このγ線検出用シンチレータと光学的に密着して
取り付Ｖ、Ｊられた光検出器とを備えた放射線検出器と
、この敢ｑ・１線検出Ｚ：からの検出信号を入力Ｉ）で
β線および７′線による信号をそれぞれ独立に旧教りる
敢Ｑ七１ヒ測定回路Ｊ−からなるｌ戊Ｑ；Ｉ ｒｌ給）
間庶（ニタで（（・）る、。
ガスチェンバ内に７’７いに平行に設置された複数のβ
線検出用シンチレータ板と、前記ガスチェンバ内に挿入
され仝而を透光体でシールされたＴ線検出用シンデレ−
タと、このγ線検出用シンチレータと光学的に密着して
取り付Ｖ、Ｊられた光検出器とを備えた放射線検出器と
、この敢ｑ・１線検出Ｚ：からの検出信号を入力Ｉ）で
β線および７′線による信号をそれぞれ独立に旧教りる
敢Ｑ七１ヒ測定回路Ｊ−からなるｌ戊Ｑ；Ｉ ｒｌ給）
間庶（ニタで（（・）る、。
「発明の実ｆ′Ｊ１１１例］
以上、図面に示す実／ｌｆ！ｉ ｉ＜Ｉｌｌ １；二つ
いＣ本発明を６Ｙ庁１１に説明する。
いＣ本発明を６Ｙ庁１１に説明する。
第′１図は、本発明の敢ｑ・１能淵（９）に今の一実ｔ
＋（ｔ、ｉ例の要部を構成−りる敢ｑ・１線（４）出器
を・示すもの−で、この欣剣能Ｃ鳴−Ｕニタの放射線検
出器１０ ｉ、；Ｉ：遮光゛１（１を右１Ｊる刀゛スー
ｆ■”：）′バ１１ど、このカス１王ンバ１１内にＴ７
いに平行（こ設置された複数の１シスデックシン゛ル−
タ（反１２ど、ｆ「ｉｌじくカス−１１ンバ１１内に設
置され、全面を透明な力→スケース１３てシールされた
Ｎａｐ（王ｅ）結晶１／１と、このＮａＴ（’Ｔ、ｒ２
＞結晶１４（ご光学的に密肴して取り（ｄけられた光電
了増侶管１５ど／〕冒う十として構成され、ガスチェン
バ１′１は被測定気体の流入し１１６と流出「−１１７
を（＋ｉ＃え、気体（−１：矢印プ、向（こ流れる。。
＋（ｔ、ｉ例の要部を構成−りる敢ｑ・１線（４）出器
を・示すもの−で、この欣剣能Ｃ鳴−Ｕニタの放射線検
出器１０ ｉ、；Ｉ：遮光゛１（１を右１Ｊる刀゛スー
ｆ■”：）′バ１１ど、このカス１王ンバ１１内にＴ７
いに平行（こ設置された複数の１シスデックシン゛ル−
タ（反１２ど、ｆ「ｉｌじくカス−１１ンバ１１内に設
置され、全面を透明な力→スケース１３てシールされた
Ｎａｐ（王ｅ）結晶１／１と、このＮａＴ（’Ｔ、ｒ２
＞結晶１４（ご光学的に密肴して取り（ｄけられた光電
了増侶管１５ど／〕冒う十として構成され、ガスチェン
バ１′１は被測定気体の流入し１１６と流出「−１１７
を（＋ｉ＃え、気体（−１：矢印プ、向（こ流れる。。
このよ−うにイア１１成され１．：敢Ｑ’ｆ線検出器１
０ Ｔ−ｉ；ｉ、ブンスヂツクシンチレータ（反１２は
氏ゴさが’ｌ ｍｎｒ以＝ ６〜 干で゛（画めで薄く、それ故、γ線に対しては感度を有
さす、検出効率か１９さくこほとんど依存しイ（いβ線
に感度よく反応り、で発光する１３また通常Ｎａ■（’
１！Ｑ）結晶は、潮解１；ｉ、ｇ を有Ｊるため、アル
ミケースにシールされ、光電子増倍管との接触面のみ透
明なカラス板でシールされるが、この実施例ではＮａＩ
（Ｔ、Ｃ＞結晶１４全面か透明’、、Ｔ ５ ｍｍ厚さ
程度のガラスケース１３Ｔ゛シールされ、プラスチック
シンチレ−タ板１２からの発光も光電子増倍管１５によ
って検出されるようになっており、光電子増倍管１５は
プラスチックシンチレータ板１２どＮａ、Ｉ（Ｔｌ結晶
１４の双方の発光を捕えることができる。なお、Ｎａ１
（Ｔｌ）結晶１４は、このように、β線を阻止−するの
に充分４ｆ厚さのガラスケース１３で覆わｔｌでいるの
で、フ′線に対してのみ感度を＜ｑ−りる。
０ Ｔ−ｉ；ｉ、ブンスヂツクシンチレータ（反１２は
氏ゴさが’ｌ ｍｎｒ以＝ ６〜 干で゛（画めで薄く、それ故、γ線に対しては感度を有
さす、検出効率か１９さくこほとんど依存しイ（いβ線
に感度よく反応り、で発光する１３また通常Ｎａ■（’
１！Ｑ）結晶は、潮解１；ｉ、ｇ を有Ｊるため、アル
ミケースにシールされ、光電子増倍管との接触面のみ透
明なカラス板でシールされるが、この実施例ではＮａＩ
（Ｔ、Ｃ＞結晶１４全面か透明’、、Ｔ ５ ｍｍ厚さ
程度のガラスケース１３Ｔ゛シールされ、プラスチック
シンチレ−タ板１２からの発光も光電子増倍管１５によ
って検出されるようになっており、光電子増倍管１５は
プラスチックシンチレータ板１２どＮａ、Ｉ（Ｔｌ結晶
１４の双方の発光を捕えることができる。なお、Ｎａ１
（Ｔｌ）結晶１４は、このように、β線を阻止−するの
に充分４ｆ厚さのガラスケース１３で覆わｔｌでいるの
で、フ′線に対してのみ感度を＜ｑ−りる。
光電子増倍管１５によって捕えられＩごプラスブックシ
ンチレータ１２およびＮε１Ｉ（１，）結晶１４のそれ
ぞれの発光は電気イ菖Ｙ４に変換され測定回路に出力さ
れる３、第２図（Ｊ示（プ゛ロック図はこの出力信号を
処理ρｊる成用能測定回路を小−τ１１．）ので、この
敢Ｑ４能測定回路は、ｈ３１０ｉｌ線検出；そ１ｉ１０
をイ′［動させるための高１十電源１８と、このｆｔ’
！剣線検出線検出ｎ １０からの電気信と）を増幅りる
前置増幅器１５）および線形肋幅器２０と、β線の信ｇ
どγ線の１八号を波形によ【〕弁別し、β線の信号のみ
を取り出−夏波形弁別回路２１と、この波形弁別回路２
１１Ｊ冒らの出力パルスの高さ４分析し、所定の１１１
ざのパルスをｄｉ数−りる第１シングル′デーヤンネル
波高弁別回路２２ ａ＞よびβ線用カウンタ２３ど、線
形増幅器２０からの出力パルスの高さを分析りる第２シ
ングルヂＶンネル波高弁別回路２４ど、く二の第２シン
グルヂＸ・ンネル波高弁別回路２／１からのβ線および
γ線の両者を含む出カイ、）弓と、前記第１シングル′
ヤンネル波高弁別回路２２ ｈ冒らのβ線のみ含む出力
僧ｇを逆回］１、鴇１数を行う（二とによりγ線の信号
のみを取り出１逆回■）計数回路２りと、この逆回時ハ
１故回路２５からの出力パルスを旧教覆る７′線用カウ
ンタ２（５と、測定時間を設定りるタイマ２７どで４ｂ
１成されている。７（二こで゛、１ラスＩ−ツクシンチ
レータ１２のβ線による発光およびＮａ、Ｉ（−Ｌ！Ｑ
）結晶′１４のγ線による発光の発光パルスは第３図の
グーラフに示゛りように、減衰（立ち下がり）時間が責
なる。このグラフにおいて、曲線Ａはプラスデックシン
丁レータ１２の発光波形を、曲線［３はＮａＩ（Ｔｌ２
．）結晶１４の発光波形を示刃−６このグラフから明ら
かなように、ＮａＩ（−［）結晶１４で゛の発光に比べ
て、プラスチックシンテレ−９１２内での発光の減衰時
間は短い。Ｊ：たこの減衰時間は出ノＪ波高によらず、
（れぞれ一定である３、したがって、両者の検出信号を
波形弁別回路により、ピークから−・定レベルまでに立
ち下がる時間に比例した信号（こ変換すれば、第４図に
示すようにそれぞ１１の立ら下がり時間ｔ１および１２
に相当覆る地点に２′つのピークａ、［）が現れる。、
実際には、一般に市販の波形弁別回路（、：Ｌプラスチ
ックランチ１ノータ１２からの発光パルスの立ち下がり
時間１，１のスケールに対して最適化されており、かつ
ＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４からの発光パルスの立ち小がり
９一 時間１，２は↑１とかなり差があるため、Ｎａ１（ＴＪ
２ ＞結晶１４によるイ４８はスクールオーバーし、プ
ラスチックシンヂｌ）−タ１２（こＪ、る検出信号のみ
が時間スペクトルのピーク（ａ）どしく−現れる。した
がって、波形弁別によってβ線の信号のみを取り出りこ
とができる。またこのβ線の信号を元のβ線ｄ３よびフ
′線の両者を含む信号と逆回時計数を行うことにより、
ＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４によるγ線の信号も取り出すこ
とができる。
ンチレータ１２およびＮε１Ｉ（１，）結晶１４のそれ
ぞれの発光は電気イ菖Ｙ４に変換され測定回路に出力さ
れる３、第２図（Ｊ示（プ゛ロック図はこの出力信号を
処理ρｊる成用能測定回路を小−τ１１．）ので、この
敢Ｑ４能測定回路は、ｈ３１０ｉｌ線検出；そ１ｉ１０
をイ′［動させるための高１十電源１８と、このｆｔ’
！剣線検出線検出ｎ １０からの電気信と）を増幅りる
前置増幅器１５）および線形肋幅器２０と、β線の信ｇ
どγ線の１八号を波形によ【〕弁別し、β線の信号のみ
を取り出−夏波形弁別回路２１と、この波形弁別回路２
１１Ｊ冒らの出力パルスの高さ４分析し、所定の１１１
ざのパルスをｄｉ数−りる第１シングル′デーヤンネル
波高弁別回路２２ ａ＞よびβ線用カウンタ２３ど、線
形増幅器２０からの出力パルスの高さを分析りる第２シ
ングルヂＶンネル波高弁別回路２４ど、く二の第２シン
グルヂＸ・ンネル波高弁別回路２／１からのβ線および
γ線の両者を含む出カイ、）弓と、前記第１シングル′
ヤンネル波高弁別回路２２ ｈ冒らのβ線のみ含む出力
僧ｇを逆回］１、鴇１数を行う（二とによりγ線の信号
のみを取り出１逆回■）計数回路２りと、この逆回時ハ
１故回路２５からの出力パルスを旧教覆る７′線用カウ
ンタ２（５と、測定時間を設定りるタイマ２７どで４ｂ
１成されている。７（二こで゛、１ラスＩ−ツクシンチ
レータ１２のβ線による発光およびＮａ、Ｉ（−Ｌ！Ｑ
）結晶′１４のγ線による発光の発光パルスは第３図の
グーラフに示゛りように、減衰（立ち下がり）時間が責
なる。このグラフにおいて、曲線Ａはプラスデックシン
丁レータ１２の発光波形を、曲線［３はＮａＩ（Ｔｌ２
．）結晶１４の発光波形を示刃−６このグラフから明ら
かなように、ＮａＩ（−［）結晶１４で゛の発光に比べ
て、プラスチックシンテレ−９１２内での発光の減衰時
間は短い。Ｊ：たこの減衰時間は出ノＪ波高によらず、
（れぞれ一定である３、したがって、両者の検出信号を
波形弁別回路により、ピークから−・定レベルまでに立
ち下がる時間に比例した信号（こ変換すれば、第４図に
示すようにそれぞ１１の立ら下がり時間ｔ１および１２
に相当覆る地点に２′つのピークａ、［）が現れる。、
実際には、一般に市販の波形弁別回路（、：Ｌプラスチ
ックランチ１ノータ１２からの発光パルスの立ち下がり
時間１，１のスケールに対して最適化されており、かつ
ＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４からの発光パルスの立ち小がり
９一 時間１，２は↑１とかなり差があるため、Ｎａ１（ＴＪ
２ ＞結晶１４によるイ４８はスクールオーバーし、プ
ラスチックシンヂｌ）−タ１２（こＪ、る検出信号のみ
が時間スペクトルのピーク（ａ）どしく−現れる。した
がって、波形弁別によってβ線の信号のみを取り出りこ
とができる。またこのβ線の信号を元のβ線ｄ３よびフ
′線の両者を含む信号と逆回時計数を行うことにより、
ＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４によるγ線の信号も取り出すこ
とができる。
したがって、この実施例の敢０＝Ｉ能澗［ニタ１０では
、流入［１１６からガスチ］−ンバ１１内に導入された
気体中の散開性核種によりプラスブックシンチーレータ
板１２おＪ、びＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４が発光すると、
この発光を検出した光電子増倍管１５からの出力信号は
、前置増幅器１９および線形増幅器２０ににっで増幅さ
れ、波形弁別回路２１と第２シングルチヤ・ンネル波高
弁別回路２４に入力される。波形弁別回路２１に入力さ
れた信号は、ここでβ線の信号のみが取り出され、第１
シングルデセンネル波高弁別回路２２を経てβ線用カウ
ンタ２３によってｉ−＋数される。一方策２シングルチ
ャンネル波高弁別回路２／１に入力された信号は、逆開
時計数回路２５において、イ）１シングルチャンネル波
高弁別回路２２からの出力信号と逆回時計数が行われ、
γ線の信号のみが取り出されてγ線用カウンタ２Ｇによ
ってｒｌ数される。
、流入［１１６からガスチ］−ンバ１１内に導入された
気体中の散開性核種によりプラスブックシンチーレータ
板１２おＪ、びＮａＩ（Ｔｌ）結晶１４が発光すると、
この発光を検出した光電子増倍管１５からの出力信号は
、前置増幅器１９および線形増幅器２０ににっで増幅さ
れ、波形弁別回路２１と第２シングルチヤ・ンネル波高
弁別回路２４に入力される。波形弁別回路２１に入力さ
れた信号は、ここでβ線の信号のみが取り出され、第１
シングルデセンネル波高弁別回路２２を経てβ線用カウ
ンタ２３によってｉ−＋数される。一方策２シングルチ
ャンネル波高弁別回路２／１に入力された信号は、逆開
時計数回路２５において、イ）１シングルチャンネル波
高弁別回路２２からの出力信号と逆回時計数が行われ、
γ線の信号のみが取り出されてγ線用カウンタ２Ｇによ
ってｒｌ数される。
このように構成された放削能濶度七二つは、第６図に示
す従来のＮａｌ （Ｔｆ）シンチレ−タ」ン検出器を用
いた方式と比較（ッた場合、複数のプラスチックシンチ
レータ１２はほとんど遮蔽効果を有しないため、γ線の
計測に関して、従来の方式とほぼ同等の性能を有する。
す従来のＮａｌ （Ｔｆ）シンチレ−タ」ン検出器を用
いた方式と比較（ッた場合、複数のプラスチックシンチ
レータ１２はほとんど遮蔽効果を有しないため、γ線の
計測に関して、従来の方式とほぼ同等の性能を有する。
ただし、Ｎａ１（１２＞結晶のまわりを従来と異なり反
射材でさえぎっていないので、光の集光特性が悪り−１
１ネルギー分解能が悪化する傾向があるか、核種分析を
必要としない場合には、測定効率はほとんど変らない。
射材でさえぎっていないので、光の集光特性が悪り−１
１ネルギー分解能が悪化する傾向があるか、核種分析を
必要としない場合には、測定効率はほとんど変らない。
また第７図示す従来のプラスヂツクシンヂ１ノーシ］ン
検出器、第８図の検出器と比較すると、プラスデックシ
ンチレータ１２のも仙人面積を広くとれるため、空気中
の飛程の短い低下ネルギーのβ線放出核種（４二対して
検出効率が向ドーリ−る３、［発明の効果］ 以十の説明から１つ明らかイ【Ｊ、う）こ本発明の成用
能濃度モニタで【Ｊｌｌ、２種の測定装置を使用Ｖす′
に、γ線ａ３よσβ線双方の放Ｑ＝１能を効率よく測定
覆ることかでさ、かつ低−［ネルギーβ線の測定ト限を
低くすることができる。
検出器、第８図の検出器と比較すると、プラスデックシ
ンチレータ１２のも仙人面積を広くとれるため、空気中
の飛程の短い低下ネルギーのβ線放出核種（４二対して
検出効率が向ドーリ−る３、［発明の効果］ 以十の説明から１つ明らかイ【Ｊ、う）こ本発明の成用
能濃度モニタで【Ｊｌｌ、２種の測定装置を使用Ｖす′
に、γ線ａ３よσβ線双方の放Ｑ＝１能を効率よく測定
覆ることかでさ、かつ低−［ネルギーβ線の測定ト限を
低くすることができる。
第１図は本発明の成用能濶度しニタの一実施例の要部を
示す断面図、第２図はｈ−（射能測定回路の構成を示ず
ブ［］ツク図、第３図はプラスチックシンチレータのβ
線による発光パルスとＮａＩ（Ｔｆ！、）結晶のγ線に
よる発光パルスのそれぞれの波形を示づグラーノ、第４
図はプラスチックシンブレークのβ線による発ソ］−パ
ルスとＮａＩ（１℃）結晶の７′線による発光パルスの
それぞれの立ら下がり時間の分布スペク１ヘルを示すグ
ラフ、第５図は電離箱方式による敢ｑ１線検出器の断面
図、第６図はＮａＩ（Ｔｆ）のシンチレーション検Ｌ１
１器の断面図、第７図はプラスヂックシンヂレーシ］ン
検出器の断面図、第８図はＮａＩ（丁β）結晶とＣｓＩ
結晶を組み合わせた従来の検出器の断面図で必る。 １０・・・・・・・・・放射線検出器 １１・・・・・・・・・ガスチェンバ １２・・・・・・・・・プラスチックシンチレータ１３
・・・・・・・・・ガラスケース １４・・・・・・・・・Ｎａｌ （Ｔｆ！、）結晶１５
・・・・・・・・・光電子増倍管 １６・・・・・・・・・高圧電源 １７・・・・・・・・・前置増幅器 １８・・・・・・・・・線形増幅器 １９・・・・・・・・・波形弁別回路 ２０・・・・・・・・・第１シングルチャンネル波高弁
別回路 ２１・・・・・・・・・β線用カウンタ２２・・・・・
・・・・第２シングルチャンネル波高弁別回路 ２３・・・・・・・・・逆開時計数回路２４・・・・・
・・・・γ線用カウンタ２５・・・・・・・・・タイマ 出願人 ［１本原子力事業株式会ネ１出願人
株式会社 東 芝 代理人弁理士 須 山 佐 − 第１図
示す断面図、第２図はｈ−（射能測定回路の構成を示ず
ブ［］ツク図、第３図はプラスチックシンチレータのβ
線による発光パルスとＮａＩ（Ｔｆ！、）結晶のγ線に
よる発光パルスのそれぞれの波形を示づグラーノ、第４
図はプラスチックシンブレークのβ線による発ソ］−パ
ルスとＮａＩ（１℃）結晶の７′線による発光パルスの
それぞれの立ら下がり時間の分布スペク１ヘルを示すグ
ラフ、第５図は電離箱方式による敢ｑ１線検出器の断面
図、第６図はＮａＩ（Ｔｆ）のシンチレーション検Ｌ１
１器の断面図、第７図はプラスヂックシンヂレーシ］ン
検出器の断面図、第８図はＮａＩ（丁β）結晶とＣｓＩ
結晶を組み合わせた従来の検出器の断面図で必る。 １０・・・・・・・・・放射線検出器 １１・・・・・・・・・ガスチェンバ １２・・・・・・・・・プラスチックシンチレータ１３
・・・・・・・・・ガラスケース １４・・・・・・・・・Ｎａｌ （Ｔｆ！、）結晶１５
・・・・・・・・・光電子増倍管 １６・・・・・・・・・高圧電源 １７・・・・・・・・・前置増幅器 １８・・・・・・・・・線形増幅器 １９・・・・・・・・・波形弁別回路 ２０・・・・・・・・・第１シングルチャンネル波高弁
別回路 ２１・・・・・・・・・β線用カウンタ２２・・・・・
・・・・第２シングルチャンネル波高弁別回路 ２３・・・・・・・・・逆開時計数回路２４・・・・・
・・・・γ線用カウンタ２５・・・・・・・・・タイマ 出願人 ［１本原子力事業株式会ネ１出願人
株式会社 東 芝 代理人弁理士 須 山 佐 − 第１図
Claims (2)
- （１）通気型ガスチェンバと、このガスチェンバ内に互
いに平行に設置された複数のβ線検出用シンチレータ板
と、前記ガスチェンバ内に挿入され全面を透光体でシー
ルされたγ線検出用シンチレータと、このγ線検出用シ
ンチレータと光学的に密着して取り付けられた光検出器
とを備えた放射線検出器と、この放射線検出器からの検
出信号を入力してβ線およびγ線による信号をそれぞれ
独立に計数する放射能測定回路とからなることを特徴と
する放射能濃度モニタ。 - （２）放射能測定回路は前記放射線検出器の出力信号を
増幅する増幅器と、この増幅器の出力信号を入力してβ
線の信号のみ取り出す波形弁別回路と、この波形弁別回
路に接続される第１シングルチャンネル波高弁別回路と
、この第１シングルチャンネル波高弁別回路からの出力
パルスを計数するβ線用カウンタと、前記増幅器に接続
される第２シングルチャンネル波高弁別回路と、この第
２シングルチャンネル波高弁別回路からの出力信号と、
前記第１シングルチャンネル波高弁別回路からの出力信
号を逆同時計数を行うことによりγ線の信号のみ取り出
す逆同時計数回路と、この逆同時計数回路からの出力パ
ルスを計数するγ線用カウンタとを備えた特許請求の範
囲第１項記載の放射能濃度モニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19011485A JPS6249282A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 放射能濃度モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19011485A JPS6249282A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 放射能濃度モニタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6249282A true JPS6249282A (ja) | 1987-03-03 |
Family
ID=16252612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19011485A Pending JPS6249282A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 放射能濃度モニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6249282A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH034166A (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-10 | Toshiba Ceramics Co Ltd | ウエハ表面の不純物量の測定方法 |
| JPH0378292U (ja) * | 1989-11-29 | 1991-08-07 | ||
| WO2015128905A1 (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-03 | 株式会社ＡＮＳｅｅＮ | 波形弁別装置、波形弁別方法及び波形弁別プログラム |
| EP2635921A4 (en) * | 2010-11-03 | 2015-11-25 | James M Ryan | SPECTROMETERS FOR NEUTRONS OF TWO TYPES OF THREE PLATES OF DIFFERENT MATERIALS |
| US9435899B1 (en) | 2015-05-21 | 2016-09-06 | Mitsubishi Electric Corporation | Radioactive gas monitoring device |
| US9507035B2 (en) | 2010-11-03 | 2016-11-29 | University Of New Hampshire | Tri-material dual-species neutron/gamma spectrometer |
| US10768320B2 (en) | 2017-05-11 | 2020-09-08 | University Of New Hampshire | Field deployable neutron/gamma spectrometer |
| CN112925004A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-08 | 中广核研究院有限公司 | β-γ甄别探测装置 |
-
1985
- 1985-08-29 JP JP19011485A patent/JPS6249282A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US9435899B1 (en) | 2015-05-21 | 2016-09-06 | Mitsubishi Electric Corporation | Radioactive gas monitoring device |
| US10768320B2 (en) | 2017-05-11 | 2020-09-08 | University Of New Hampshire | Field deployable neutron/gamma spectrometer |
| CN112925004A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-08 | 中广核研究院有限公司 | β-γ甄别探测装置 |
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