JP2001140099A - めっき装置およびめっき方法 - Google Patents

めっき装置およびめっき方法

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JP2001140099A
JP2001140099A JP32710199A JP32710199A JP2001140099A JP 2001140099 A JP2001140099 A JP 2001140099A JP 32710199 A JP32710199 A JP 32710199A JP 32710199 A JP32710199 A JP 32710199A JP 2001140099 A JP2001140099 A JP 2001140099A
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plating
tank
opening
substrate
plated
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JP32710199A
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English (en)
Inventor
Kunio Katsuyama
邦夫 勝山
Ryuichi Sugano
龍一 菅野
Masahiko Ito
雅彦 伊藤
Hiromi Shiina
宏実 椎名
Hiroyuki Kadota
裕行 門田
Takeya Eguchi
武也 江口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kyowa Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Kyowa Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ディップ方式の利点を更に向上させるために、
自動化を可能にしてめっき処理作業の生産性(スループ
ット)を向上させ、かつ品質向上,装置の省フットプリ
ント,前工程との連携等が達成できる全自動化されため
っき装置およびめっき方法を提供する。 【解決手段】めっき槽1内に陽極板25を垂設し、該陽
極板に対向して被めっき物4を垂設し、めっき槽の側面
部に円形開口部3を設け、該開口部を塞ぐ形態で押付け
られ、また該開口部から引き離され、かつ被めっき物を
真空保持する基板ステージ5を設け、基板ステージの前
記開口部への塞ぎおよび引き離しを行うエアーシリンダ
ー35を設け、被めっき物をめっき槽内側に位置せしめ
てめっき槽のめっき液に接触せしめるめっきを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板上に金
属皮膜を形成するめっき装置およびめっき方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体基板上への金属皮膜を形成するめ
っき装置および方法としては、ディップ方式,フェイス
ダゥン方式(噴流式),フェイスアップ方式が知られて
いる。
【0003】ディップ方式は、めっき槽内に陽極板を垂
設し、これに対向して陰極板である被めっき物を垂設す
ることによって、すなわち縦型配設することによってめ
っきする方法として知られている。例えば、この方式と
しては特開平4−43990号公報が知られている。
【0004】フェイスダゥン方式は、上面に陰極電極を
内蔵した基板受け部を設け、めっき液を下から上方へ向
かって噴流するめっきセルと前記めっきセル下方に陽極
板が配置された構成となっており、基板を前記基板受け
部に自動設置した後、めっき液を下から噴流しめっき処
理を行うものである。
【0005】またフェイスアップ方式は、下面に陰極電
極を内蔵した基板受け部を設けためっきカップと前記め
っきカップ上方に陽極板が配置された構成となってお
り、基板をめっきカップの基板受け部を塞ぐ形態で密閉
した後、めっき液をめっきカップに充填しめっき処理を
行うものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】フェイスダゥン方式の
場合は、めっき処理時の気泡の残留についての配慮がな
く、基板面へ気泡が残り易く、気泡によるめっきの欠陥
やめっき膜厚分布精度に問題があった。
【0007】さらに、めっき処理の調整をめっき液の噴
流速度によって行っているため、陽極板と陰極板の間に
めっき処理の調整機構を配置できず、めっき膜厚分布の
調整が困難になっている。
【0008】またフェイスアップ方式の場合は、基板
(陰極板)のめっき面の上方に陽極板が配置されてお
り、陽極板のブラックフィルムの剥離脱落についての配
慮が難しいため、めっき面へ影響を及ぼすという問題が
あった。
【0009】これらの方式に対してディップ方式は、め
っき液の欠陥の低減,めっき膜厚分布精度の向上および
めっき膜厚分布制御を容易に行えるという利点がある。
【0010】本発明は、ディップ方式の利点を更に向上
させるために、自動化を可能にしてめっき処理作業の生
産性(スループット)を向上させ、かつ品質向上,装置
の省フットプリント,前工程との連携等が達成できるめ
っき装置およびめっき方法を提供することを目的とす
る。
【0011】本発明は、更に被めっき物である半導体基
板のめっき液に対するセッティングを楽にしためっき装
置およびめっき方法を提供する。
【0012】また、本発明は、省スペース化を図ること
ができるめっき装置およびめっき方法を提供する。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、被めっき物、
例えば半導体基板の上に金属皮膜を形成するに当たり、
半導体基板を基板カセットから大気環境下で搬出して水
平位置決めし、かつ大気環境下で旋回,走行させて、め
っき槽内に垂設された陽極板に半導体基板を対向して垂
設し、半導体の一側をめっき液に接触させ、他側を大気
中で真空保持などの保持手段で垂直保持することを特徴
とする。
【0014】本発明は、具体的に次に掲げる装置,方法
を提供する。
【0015】本発明は、めっき槽内に陽極板を垂設し、
該陽極板に対向して被めっき物を垂設しためっき装置に
おいて、めっき槽はその側面部に開口部を有し、該開口
部を塞ぐ形態で押付けられ、また該開口部から引き離さ
れ、かつ被めっき物を真空保持する基板ステージを有
し、基板ステージの前記開口部へ塞ぎおよび引き離しを
行う押圧装置を有し、被めっき物をめっき槽内側に位置
せしめてめっき槽のめっき液に接触せしめるめっき装置
を提供する。
【0016】本発明は、更に前記めっき槽に連結されて
めっき槽内のめっき液を収容し、めっき液が前記開口部
の上端以上の位置でめっき槽を満たすに充分な容量を有
するめっき貯めを備えためっき装置を提供する。
【0017】本発明は、更に前記めっき槽内で、前記開
口部に近接してめっき液攪拌機構が設けてあるめっき装
置を提供する。
【0018】本発明は更に、前記開口部をめっき槽を構
成する取り外し可能な側板上に形成しためっき装置を提
供する。
【0019】本発明は、更に前記押圧装置は、前記基板
ステージを旋回させ、走行させるめっき装置を提供す
る。
【0020】本発明は、更に前記基板ステージは、ステ
ージ本体とステージ本体に載置され、被めっき物を保持
するめっき物真空保持部とから構成され、該めっき物真
空保持部はステージ本体から着脱自在であるめっき装置
を提供する。
【0021】本発明は、更に前記基板ステージは、基板
ステージ押し付け動力部を有し、該基板ステージ押付け
動力部に球面軸受けが設けられているめっき装置を提供
する。
【0022】本発明は、更に前記球面軸受けは、基板ス
テージの前記開口部への押付けのときに基板ステージの
シール部を開口部に回動密着させ、被めっき物の基板ス
テージへの保持のときは固定されるめっき装置を提供す
る。
【0023】本発明は、更にめっき物真空保持部は複数
設けられるめっき装置を提供する。
【0024】本発明は、めっき槽内に垂設された陽極板
に被めっき物を対向して垂設することによって被めっき
物にめっきを施すめっき方法において、めっき槽の外部
において水平位置決めし、真空保持した被めっき物を旋
回してめっき槽の側面に設けられた開口部に垂直方向に
配設し、次いでめっき槽内にめっき液を投入することに
よってめっきを行うめっき方法を提供する。
【0025】本発明は、めっき槽内に垂設された陽極板
に被めっき物を対向して垂設することによって被めっき
物にめっきを施すめっき方法において、被めっき物をそ
の一側はめっき槽内のめっき液に接触させ、その他側は
めっき槽外の大気環境下で真空保持してめっきを施すめ
っき方法を提供する。
【0026】本発明は、更に被めっき物を大気環境下で
カセットに保持し、大気環境下で水平位置決めし、かつ
大気環境下で旋回,走行させるめっき方法を提供する。
【0027】本発明は、半導体基板上に金属皮膜を形成
するめっき方法において、半導体基板を基板カセットか
ら大気環境下で搬出して水平位置決めし、かつ大気環境
下で旋回,走行させて、めっき槽内に垂設された陽極板
に半導体基板を対向して垂設し、半導体基板の一側をめ
っき液に接触させてめっきを施すめっき方法を提供す
る。
【0028】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につい
て、図面を参照し説明する。
【0029】図1は、本発明による一実施例のめっき装
置を示す。図において、めっき装置100は、めっき槽
1および基板ステージ2から構成される。めっき槽1
は、樹脂製の長方形体に形成されており、側面部41に
円形開口部3が設けられる。また、めっき槽1は、その
内部に間仕切り板18を有し、槽内は2つに区割され、
一方の部屋42にめっき液の排出管19が、そして他方
の部屋43にめっき液の導入管16が接続される。めっ
き液17は、円形開口部3が基板4によって閉塞される
時、間仕切板18を溢れるようにして満たされる。
【0030】円形開口部3の開口44の近傍に陰極電極
15が設けられる。
【0031】また、めっき槽1内には、基板4と陽極板
25との間に設けためっき液攪拌部材を含むめっき液攪
拌機械40が付属させてある。このようなめっき処理調
整機構を配置することによってめっき膜厚分布制御が容
易になる。
【0032】基板ステージ2は、大分して、基板4の真
空保持機構を有した基板受台5とステージ本体である胴
体6と旋回軸7から組合されており、旋回軸7をブラケ
ット8に内蔵した軸受9で回転支持し、動力伝達ベルト
10を介してモータ11で基板ステージ2を水平から垂
直へと旋回させる。逆動作も可能である。ブラケット8
はレール12上に配置され、モータ13によってボール
ネジ14を介して走行させる。基板受台5は、後述する
ように基板ステージ押し付け動力部によって円形開口部
3に押付けられ、開口44を閉塞させる。
【0033】円形開口部3は、めっき槽1の側板上に取
り外し可能に取り付けてある。めっき槽1の円形開口部
3と基板ステージ4の被めっき物真空保持部である基板
受台5を着脱自在に取り外し可能とすることにより、同
一装置で数種類の口径の異なる半導体基板(被めっき
物)のめっき処理を行うことができる。
【0034】めっき槽1と基板ステージ4とを一対のユ
ニットとしてあり、めっきプロセスに対応して配置・構
成を変えることが可能となり、拡張性のある全自動めっ
き装置とすることができる。全自動でカセットから半導
体基板(被めっき物)を取出し、一連のめっき処理プロ
セスを経て、最後に又、カセットに戻すことができる。
めっき方法についての特徴を記せば次のようになる。
【0035】めっき槽の外部において水平位置決めし、
真空保持した被めっき物を旋回してめっき槽の側面に設
けられた開竹部に垂直方向に配設し、次いでめっき槽内
にめっき液を投入することによってめっきを行う。
【0036】被めっき物をその一側はめっき槽内のめっ
き液に接触させ、その他側はめっき槽外の大気環境下で
真空保持してめっきを施す。
【0037】被めっき物を大気環境下でカセットに保持
し、大気環境下で水平位置決めし、かつ大気環境下で旋
回,走行させる。
【0038】半導体基板を基板カセットから大気環境下
で搬出して水平位置決めし、かつ大気環境下で旋回,走
行させて、めっき槽内に垂設された陽極板に半導体基板
を対向して垂設し、半導体基板の一側をめっき液に接触
させてめっきを施す。
【0039】図2は、本発明による一実施例のめっき装
置を示す系統図である。
【0040】以上の動作によって、めっき槽1の円形開
口部3は基板4を載せた基板ステージ2の旋回・走行・
押付動作により密閉され、さらに円形開口部3に内蔵さ
れた陰極電極15と基板4が接触する。めっき槽1が密
閉された後、めっき槽1の下方に設けられた導入管16
からめっき液17を導入し、めっき槽1内の間仕切り板
18を超えて排出管19よりめっき液17は排出され
る。排出されためっき液17は貯槽20へと導かれ、ポ
ンプ21,フィルター22を介して再度導入管16に導
かれて循環する構成となっている。めっき液17が循環
されると、めっき電源23から電線24を介して陽極板
25へと電流を印加し、めっき液17中を伝わって基板
4,陰極電極15,電線26,めっき電源23へと導か
れる。以上の動作によりめっき処理が行われる。
【0041】めっき貯めである貯槽20は、めっき液1
7が開口44の上端以上の位置でめっき槽1にめっき液
を満たし、このめっき液を全液排出管19から排出した
ときに全液を収容するに充分な容量を有するものとす
る。
【0042】めっき槽1内には、円形開口部3に近接し
てめっき液攪拌部材45が設けてある。
【0043】図3は本発明のめっき槽1の円形開口部3
の詳細図である。めっき槽1側面の円形開口部3にはめ
っき電源23からの電流を通電する陰極電極15と、基
板4とめっき槽1の密閉をするシール機構27を有して
いる。また、円形開口部3は基板受台5を押付ける際
に、位置ずれを抑制するためのテーパー状の案内部28
を設けており、さらにめっき液17の外部液垂れを一箇
所に集める排液口29を有している。
【0044】さらに、円形開口部3はパッキング30を
有しボルト31にてめっき槽1に固定されているため、
陰極電極15やシール機構27の定期的な交換の際は円
形開口部3を取外すことにより容易に交換することがで
きる。
【0045】また、めっき槽1本体を交換することな
く、円形開口部3のみを交換することにより、各種口径
の基板の処理に対応することが可能である。
【0046】図4は本発明の基板ステージ2の断面詳細
図である。基板受台5は3本の金属製のガイドピン32
に軸方向用軸受33にて支持され、球面軸受け34を介
してエアーシリンダ35と接続されている。ガイドピン
32は基板受台5が下降する時に空気溜りができぬ様
に、空気抜き穴36を有している。
【0047】基板4を受け取る際は、エアーシリンダ3
5は収縮状態にあり、この時基板受台5とガイドピン3
2とは、球面軸受け34が機能しないように軸方向用軸
受33にて水平方向に保持された状態になっている。こ
れにより、基板4の受け取る際には、基板受台5は一定
位置に保持されており、位置精度を確保することができ
る。
【0048】図5は基板ステージ2をめっき槽1に押付
ける際の断面図である。この図を使用して基板ステージ
2の円形開口部3への塞ぎおよび引き離しを行う押圧装
置200について説明する。
【0049】基板4をめっき槽1に押し付ける際は、基
板4を保持した基板ステージ2を旋回させ、さらにめっ
き槽1の円形開口部3の近傍まで走行させる。
【0050】その後、基板受台5を基板ステージ押し付
け動力部であるエアーシリンダ35にて伸長させ、円形
開口部3に押付けるものである。
【0051】この時、エアーシリンダ35は伸長状態に
あり、基板受台5とガイドピン32との関係は、ガイド
ピン32のくびれ部37により嵌合部38が自由とな
り、球面軸受け35が機能し基板5をめっき槽1の円形
開口部3に回動密着させて均一に押し付けることができ
る。
【0052】さらに、上記により自由になった基板受台
5が自重によって傾かないように、ガイドピン32と基
板受台5の間に圧縮バネ39を設置し、基板受台5の傾
きを抑制することができる。
【0053】図6はめっき処理ステップを示すフロー図
である。
【0054】カセットに設置された被めっき物(基板)
は、搬送ロボットにより大気中でカセットから取り出さ
れ、基板の円周方向の位置決め・めっき前処理工程を経
て基板受台5に置かれる。
【0055】その後基板は真空保持機構で吸着(S1)
されたあと、基板ステージ旋回(S2),基板ステージ
走行(S3),基板受付押付(S4),導通チェック
(S5),めっき液供給(S6),めっき電源通電(S
7)のステップを経てめっき処理(S8)が行われる。
【0056】その後めっき液排出(S9)が行われ、基
板ステージが離脱(S10)され、基板ステージ走行
(S11),基板ステージ旋回(S12)のステップを
経て基板は基板受台から解放(S13)され、又搬送ロ
ボットにより後処理工程を経てカセットに戻す一連のめ
っき処理を全自動で行うことができる。
【0057】
【発明の効果】本発明のめっき装置およびめっき方法は
下記の効果を提供する。
【0058】1)被めっき物を大気環境下で調整し、垂
直に設置することにより、めっき面への気泡の残留や、
陽極板からのブラックフィルムの剥離脱落によるめっき
面への影響を抑制することができ、高品質のめっき膜面
の形成が可能となる。
【0059】2)更に被めっき物とこれに対向垂設され
た陽極板との間に、めっき処理調整機構を配置すること
ができるのでめっき膜厚分布制御が容易なめっき方法及
びめっき装置となる。
【0060】3)更に被めっき物はめっき槽の側板開口
部に基板ステージにより押厚押付け保持して設置する構
造とすることにより、従来のディップ式で採用されてい
た被めっき物を保持するホルダーの介在が不要となり、
全自動化に対して設計が容易となる。
【0061】4)更にめっき槽の側板に設けた開口部と
基板ステージの被めっき物真空保持部を取り外し可能と
することにより、同一装置で数種類の口径の異なる半導
体基板(被めっき物)のめっき処理を行うことができ
る。
【0062】5)更にめっき槽と基板ステージを一対の
めっきユニットとして、めっきプロセスに対応して配置
・構成を変えることが可能であり、拡張性のある全自動
めっき装置を提供することができる。
【0063】6)更に本発明の装置により全自動でカセ
ットから半導体基板(被めっき物)を取出し、一連のめ
っき処理プロセスを経て、最後に又、カセットに戻すこ
とが可能になり、めっき作業の生産性(スループット)
の向上,めっき前後工程との連携の容易化,めっき膜品
質の向上,装置設置の省スペース化等の点で効果が大き
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による一実施例のめっき装置を示す断面
図である。
【図2】本発明による一実施例のめっき装置を示す系統
図である。
【図3】めっき槽の円形開口部の詳細図である。
【図4】基板ステージの断面詳細図である。
【図5】基板ステージをめっき槽に押付けた際の図面で
ある。
【図6】めっき処理の一例を示すフロー図である。
【符号の説明】
1…めっき槽、2…基板ステージ、3…円形開口部、4
…基板(被めっき物)、5…基板受台、6…胴体、7…
旋回軸、8…ブラケット、9…球面軸受、10…動力伝
達ベルト、11…モータA、12…レール、13…モー
タB、14…ボールネジ、15…陰極電極、16…導入
管、17…めっき液、18…間仕切り板、19…排出
管、20…貯槽、21…ポンプ、22…フィルター、2
3…めっき電源、24…電源、25…陽極板、26…電
源、27…シール機構、28…テーパー案内部、29…
排液口、30…パッキング、31…ボルト、32…ガイ
ドピン、33…軸方向用軸受、34…球面軸受、35…
エアーシリンダー、36…空気抜き穴、37…くびれ
部、38…嵌合部、39…圧縮バネ、42,43…部
屋、44…開口、100…めっき装置、200…押圧装
置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 雅彦 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日立 協和エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 椎名 宏実 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日立 協和エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 門田 裕行 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日立 協和エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 江口 武也 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日立 協和エンジニアリング株式会社内

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】めっき槽内に陽極板を垂設し、該陽極板に
    対向して被めっき物を垂設しためっき装置において、 めっき槽はその側面部に開口部を有し、 該開口部を塞ぐ形態で押付けられ、また該開口部から引
    き離され、かつ被めっき物を真空保持する基板ステージ
    を有し、 基板ステージの前記開口部への塞ぎおよび引き離しを行
    う押圧装置を有し、 被めっき物をめっき槽内側に位置せしめてめっき槽のめ
    っき液に接触せしめることを特徴とするめっき装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記めっき装置に連結されてめっき槽内のめっき液を収
    容し、めっき液が前記開口部の開口の上端以上の位置で
    めっき装置を満たすに充分な容量を有するめっき貯めを
    備えたことを特徴とするめっき装置。
  3. 【請求項3】請求項1において、 前記めっき槽内で、前記開口部に近接してめっき液攪拌
    部材が設けてあることを特徴とするめっき装置。
  4. 【請求項4】請求項1において、 前記開口部をめっき槽を構成する取り外し可能に側板上
    に形成したことを特徴とするめっき装置。
  5. 【請求項5】請求項1において、 前記押圧装置は、前記基板ステージを旋回させ、走行さ
    せることを特徴とするめっき装置。
  6. 【請求項6】請求項1において、 前記基板ステージは、ステージ本体とステージ本体に設
    置され、被めっき物を保持するめっき物真空保持部とか
    ら構成され、該めっき物真空保持部はステージ本体から
    着脱自在であることを特徴とするめっき装置。
  7. 【請求項7】請求項6において、 前記基板ステージは、基板ステージ押し付け動力部を有
    し、外基板ステージ押付け動力部に球面軸受けが設けら
    れていることを特徴とするめっき装置。
  8. 【請求項8】請求項7において、 前記球面軸受けは、基板ステージの前記開口部への押付
    けのときに基板ステージのシール部を開口部に回動密着
    させ、被めっき物の基板ステージへの保持のときは固定
    されることを特徴とするめっき装置。
  9. 【請求項9】請求項6において、 めっき物真空保持部は寸法の異なる数種の保持部を設置
    可能なることを特徴とするめっき装置。
  10. 【請求項10】めっき槽内に垂設された陽極板に被めっ
    き物を対向して垂設することによって被めっき物にめっ
    きを施すめっき方法において、 めっき槽の外部において水平位置決めし、真空保持した
    被めっき物を旋回してめっき槽の側面に設けられた開口
    部に垂直方向に配設し、 次いでめっき槽内にめっき液を投入することによってめ
    っきを行うことを特徴とするめっき方法。
  11. 【請求項11】めっき槽内に垂設された陽極板に被めっ
    き物を対向して垂設することによって被めっき物にめっ
    きを施すめっき方法において、 被めっき物をその一側はめっき槽内のめっき液に接触さ
    せ、その他側はめっき槽外の大気環境下で真空保持して
    めっきを施すことを特徴とするめっき方法。
  12. 【請求項12】請求項11において、 被めっき物を大気環境下でカセットに保持し、大気環境
    下で水平位置決めし、かつ大気環境下で旋回,走行させ
    ることを特徴とするめっき方法。
  13. 【請求項13】半導体基板上に金属皮膜を形成するめっ
    き方法において、 半導体基板を基板カセットから大気環境下で搬出して水
    平位置決めし、 かつ大気環境下で旋回,走行させて、めっき槽内に垂設
    された陽極板に半導体基板を対向して垂設し、半導体基
    板の一側をめっき液に接触させてめっきを施すことを特
    徴とするめっき方法。
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