JP2020180357A - アノードホルダ及びめっき装置 - Google Patents

アノードホルダ及びめっき装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2020180357A
JP2020180357A JP2019085593A JP2019085593A JP2020180357A JP 2020180357 A JP2020180357 A JP 2020180357A JP 2019085593 A JP2019085593 A JP 2019085593A JP 2019085593 A JP2019085593 A JP 2019085593A JP 2020180357 A JP2020180357 A JP 2020180357A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
anode holder
anode
plating
holder
tank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019085593A
Other languages
English (en)
Inventor
光敏 矢作
Mitsutoshi Yahagi
光敏 矢作
誠章 木村
Masaaki Kimura
誠章 木村
大成 池田
Hironari Ikeda
大成 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP2019085593A priority Critical patent/JP2020180357A/ja
Priority to PCT/JP2020/012184 priority patent/WO2020217796A1/ja
Priority to TW109111158A priority patent/TW202108829A/zh
Publication of JP2020180357A publication Critical patent/JP2020180357A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/06Suspending or supporting devices for articles to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/10Electrodes, e.g. composition, counter electrode
    • C25D17/12Shape or form
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D21/00Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating

Abstract

【課題】リンク機構を用いることなく、弁を操作することができるアノードホルダを提供する。【解決手段】アノードホルダは、アノードホルダの内部に形成され、アノードを収容するための内部空間と、内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、アノードホルダの外表面に形成され、内部空間に連通する孔と、孔をアノードホルダの外側から封止するための、アノードホルダの第1端部側に設けられた弁と、一端がアノードホルダの第1端部とは反対側の第2端部側から外部に突出するようにアノードホルダの内部に配置された第1ロッドと、を有する。第1ロッドは、軸方向に移動可能に構成される。第1ロッドが軸方向に移動したとき、弁は第1ロッドと同一の方向に移動するように構成される。【選択図】図8

Description

本発明は、アノードホルダ及びめっき装置に関する。
従来、半導体ウェハ等の表面に設けられた微細な配線用溝、ホール、又はレジスト開口部に配線を形成したり、半導体ウェハ等の表面にパッケージの電極等と電気的に接続するバンプ(突起状電極)を形成したりすることが行われている。この配線及びバンプを形成する方法として、例えば、電解めっき法、蒸着法、印刷法、ボールバンプ法等が知られているが、半導体チップのI/O数の増加、細ピッチ化に伴い、微細化が可能で性能が比較的安定している電解めっき法が多く用いられるようになってきている。
電解めっき法に用いるめっき装置は、半導体ウェハ等の基板を保持した基板ホルダと、アノードを保持したアノードホルダと、多種類の添加剤を含むめっき液を収容するめっき槽とを有する。このめっき装置において半導体ウェハ等の基板表面にめっき処理を行うときは、基板ホルダとアノードホルダがめっき槽内で対向配置される。この状態で基板とアノードとに電圧を印加することで、基板表面にめっき膜が形成される。なお、添加剤は、めっき膜の成膜速度を促進又は抑制する効果や、めっき膜の膜質を向上させる効果等を有する。
従来、アノードホルダに保持されるアノードとして、めっき液に溶解する溶解性アノード又はめっき液に溶解しない不溶性アノードが用いられている。不溶性アノードを用いてめっき処理を行った場合、アノードとめっき液との反応により酸素が発生する。めっき液の添加剤はこの酸素と反応して分解される。添加剤が分解されると、添加剤は上述した効果を失い、基板表面に所望の膜を得ることができないという問題がある(たとえば、特許文献1参照)。また、溶解性アノードとしてたとえば含リン銅を用いた場合、非電解時にアノードから発生する一価銅との反応により、添加剤、特に促進剤の変質が生じることも知られている。
また、溶解性アノードとしてたとえば含リン銅を用いた場合、めっき処理時のアノードの電解に伴い、アノードの表面にリン酸塩の被膜であるいわゆるブラックフィルムが形成される(たとえば、非特許文献1参照)。ブラックフィルムはめっき処理中にアノード表面から剥離する虞がある。剥離したブラックフィルムがめっき液中を移動して基板表面に付着すると、基板表面のブラックフィルムが付着した箇所にはめっき膜が形成されず、めっき不良となり、最終製品の歩留まり及び信頼性を低下させるという問題がある。このため、添加剤の分解及びブラックフィルムの基板表面への付着を抑制するための隔膜を設けたアノードホルダが知られている(たとえば、特許文献2参照)。
図11は隔膜を有する従来のアノードホルダの部分断面図である。図示のように、アノードホルダ110は、アノード105と、アノード105を収容するための空間を有するアノードホルダベース111と、アノードホルダベース111の前面に取り付けられたアノードマスク113と、アノードマスク113の前面に取り付けられた隔膜150と、アノード105の背面に接触する導電性の接触部材102と、接触部材102の背面から延びて図示しない外部電極へ接続される導電性の給電部材103と、を有する。
アノードホルダベース111は、アノード105が収容された空間と連通する孔112を有している。このアノードホルダ110がめっき液に浸漬されたとき、孔112を通過してアノード105が収容された空間にめっき液が流入し、アノード105がめっき液に
浸漬される。接触部材102は、外部電極から給電部材103を介してアノード105に電流を供給することができる。これにより、アノードホルダ110がめっき液に浸漬されたときに、アノード105と基板とがめっき液を介して通電される。
隔膜150は、たとえばイオン交換膜であり、アノード105が収容される空間の前面をアノードホルダ110の外部空間から隔離するように設けられている。アノード105近傍で発生した陽イオンは隔膜150を通過して、基板表面に到達することができる。一方で、隔膜150は、アノード105表面に形成されたブラックフィルムが隔膜150を通過することを防止し、ブラックフィルムがめっき槽内に拡散されることを抑制することができる。また、隔膜150は、めっき液中の添加剤がアノード105へ到達することを抑制し、添加剤の分解を抑制する。
しかしながら、上記従来のアノードホルダ110では、めっき液を導入するための孔112を介して、アノード105から剥離したブラックフィルムが、アノード105が収容される空間から外部へ流出し、めっき槽内に拡散する虞がある。また、めっき液中の添加剤が孔112を介してアノード105が収容された空間に拡散する虞がある。この場合、アノードとめっき液との反応により発生した酸素又は一価の銅と添加剤が反応し続け、添加剤が分解され続けることになる。
これに対して、アノードホルダの内部にめっき液を導入する孔に開閉可能な弁を設けたアノードホルダも知られている(特許文献3参照)。特許文献3に開示されたアノードホルダによれば、アノードが配置された内部空間と外部空間との間の添加剤及びブラックフィルムの拡散を防止することができる。
特許第2510422号 特開2010−185122号公報 特許第6285199号
エレクトロニクス実装学会誌 Vol.9 No.3 「IrO2/Ti不溶解性アノードを用いたビアフィリング用硫酸銅めっき」 p.180−185
特許文献3に開示されたアノードホルダでは、アノードホルダの下部に形成された孔を開閉する弁が、アノードホルダの内部に配置されている。また、この弁を開閉操作するためのプッシュロッドは、アノードホルダの被把持部の上面に設けられている。プッシュロッドが押し込まれることにより、弁が上昇して孔が開放される。即ち、このアノードホルダでは、プッシュロッドの押し下げ方向と、それによる弁の移動方向とが互いに逆になるように構成されている。このため、このアノードホルダにおいて弁を開閉するためには、プッシュロッド、中間部材、枢軸、及びシャフトから成るリンク機構を採用する必要があった。しかしながら、リンク機構を採用したアノードホルダは、リンク機構を採用しない場合に比べて機構が複雑であり、動作不良が生じる可能性が高くなる。
本発明は上記問題に鑑みてなされたものである。その目的は、リンク機構を用いることなく、弁を操作することができるアノードホルダを提供することである。
一態様によれば、めっき装置に用いられるアノードを保持するためのアノードホルダが提供される。このアノードホルダは、前記アノードホルダの内部に形成され、前記アノードを収容するための内部空間と、前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、前記アノードホルダの外表面に形成され、前記内部空間に連通する孔と、前記孔を前記アノードホルダの外側から封止するための、前記アノードホルダの第1端部側に設けられた弁と、一端が前記アノードホルダの前記第1端部とは反対側の第2端部側から外部に突出するように前記アノードホルダの内部に配置された第1ロッドと、を有する。前記第1ロッドは、軸方向に移動可能に構成され、前記第1ロッドが軸方向に移動したとき、前記弁は前記第1ロッドと同一の方向に移動するように構成される。
一態様によれば、めっき装置が提供される。このめっき装置は、上記アノードホルダと、前記アノードホルダを収容するように構成されるめっき槽と、を有する。
一態様によれば、めっき方法が提供される。このめっき方法は、アノードを収容するための内部空間と、前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、前記内部空間に連通する孔と、前記孔を封止するための弁と、を有するアノードホルダを準備し、前記弁を開放して前記内部空間にめっき液を導入した後、前記弁を閉じてめっきを行い、めっき後に、前記弁を閉じた状態で前記内部空間に前記めっき液を溜めながら、前記アノードホルダをめっき槽から取り出し、前記めっき槽の外部に前記内部空間の前記めっき液を排出する。
本実施形態に係るめっき装置の全体配置図である。 図1に示した第1のトランスポータ又は第2のトランスポータを示す概略側面図である。 図1に示したホルダ受け渡しユニットを拡大した概略図である。 図1に示しためっき槽の概略側断面図である。 図4に示した本実施形態に係るアノードホルダの平面図である。 図5に示した4−4断面におけるアノードホルダの側断面図である。 ホルダベースカバーを取り外した状態のアノードホルダの分解斜視図である。 ホルダベースカバーを取り外した状態のアノードホルダの平面図である。 図5に示した被把持部の拡大斜視図である。 めっき槽の構造の一例を示す概略図である。 隔膜を有する従来のアノードホルダの部分断面図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。以下で説明する図面において、同一のまたは相当する構成要素には、同一の符号を付して重複した説明を省略する。
図1は、本実施形態に係るめっき装置の全体配置図である。図1に示すように、このめっき装置100には、半導体ウェハ等の基板を収納したカセット10を搭載する2台のカセットテーブル12と、基板のオリフラ(オリエンテーションフラット)やノッチなどの位置を所定の方向に合わせるアライナ14と、基板ホルダ18に対して基板の着脱を行うための基板着脱部20と、めっき処理後の基板を高速回転させて乾燥させるスピンドライヤ17とが備えられている。これらのユニットの略中央には、これらのユニット間で基板を搬送する、例えば搬送用ロボットである基板搬送装置16が配置されている。
基板は、カセットテーブル12に搭載されたカセット10から、基板搬送装置16により取り出され、アライナ14に搬送される。アライナ14は、基板のオリフラやノッチな
どの位置を所定の方向に合わせる。その後、基板は基板搬送装置16により基板着脱部20へ搬送される。基板着脱部20は、レール22に沿って水平方向にスライド可能な平板状の載置プレート24を備えている。載置プレート24上には、2個の基板ホルダ18が水平状態で並列に載置される。基板搬送装置16は、2個の基板ホルダ18のうち一方の基板ホルダ18と基板の受渡しを行う。続いて、載置プレート24が水平方向にスライドされ、基板搬送装置16は他方の基板ホルダ18と基板の受渡しを行う。
また、めっき装置100には、基板ホルダ18の保管及び仮置きを行うストッカ26、基板を純水に浸漬させるプリウェット槽28、基板の表面に形成されたシード層表面の酸化膜を除去するプリソーク槽30、プリソーク後の基板を洗浄する第1の水洗槽32a、洗浄後の基板の水切りを行うブロー槽34、めっき後の基板を洗浄する第2の水洗槽32b、めっき処理を行うめっき槽50、及びメンテナンスが必要な基板ホルダ18等をめっき装置100から取り出すためのホルダ受け渡しユニット72が配置されている。
さらに、めっき装置100には、基板ホルダ18を基板とともに搬送する基板ホルダ搬送装置41が備えられている。基板ホルダ搬送装置41は、基板着脱部20及び上記各槽の側方に位置する。基板ホルダ搬送装置41は、基板着脱部20とストッカ26との間で基板を搬送する第1のトランスポータ42と、ストッカ26、プリウェット槽28、プリソーク槽30、第1の水洗槽32a、第2の水洗槽32b、ブロー槽34及びめっき槽50との間で基板を搬送する第2のトランスポータ44と、第1のトランスポータ42及び第2のトランスポータ44をガイドするガイドレール43を有している。なお、基板ホルダ搬送装置41は、第2のトランスポータ44を備えることなく、第1のトランスポータ42のみを備えるようにしてもよい。また、このめっき槽50の側方には、めっき槽50の内部に位置しめっき液を攪拌するパドル(図示せず)を駆動するパドル駆動装置36が配置されている。
第1のトランスポータ42は、載置プレート24に載置された、基板を保持した2つの基板ホルダ18を同時に把持し、ストッカ26まで搬送する。そして、第1のトランスポータ42は2つの基板ホルダ18を垂直な状態で下降させ、ストッカ26に吊下げ保持させる。第2のトランスポータ44は、ストッカ26に保持された2つの基板ホルダ18を把持し、順次、プリウェット槽28、プリソーク槽30、第1の水洗槽32a、めっき槽50、第2の水洗槽32b、ブロー槽34に搬送する。
第2のトランスポータ44は、各槽にて処理された基板を保持した2つの基板ホルダ18をストッカ26の所定の位置に戻す。第1のトランスポータ42は、ストッカ26の所定の位置に戻された2つの基板ホルダ18を把持し、基板着脱部20の載置プレート24上に搬送し、載置プレート24に水平に載置する。
続いて、基板搬送装置16は、レール22上の中央側に位置する基板ホルダ18からめっき処理後の基板を取出して、スピンドライヤ17に搬送する。スピンドライヤ17は、高速回転によって基板を水切りする。基板搬送装置16は、水切りされた基板をカセット10に戻す。他方の基板ホルダ18に装着された基板も、同様にスピンドライヤ17で水切りされた後、カセット10に戻される。
基板ホルダ18や後述するアノードホルダ60(図5等参照)のメンテナンス等を行うときは、第2のトランスポータ44は、基板ホルダ18をストッカ26から、アノードホルダ60をめっき槽50から取り出し、ホルダ受け渡しユニット72に搬送する。
図2は、図1に示した第1のトランスポータ42又は第2のトランスポータ44を示す概略側面図である。図2においては、便宜上、めっき槽50も示されている。図2に示す
ように、第1のトランスポータ42又は第2のトランスポータ44(以下、トランスポータ42,44という)は、支柱部46と、支柱部46から水平方向に延在するアーム45とを備えている。支柱部46及びアーム45は、ガイドレール43(図1参照)に沿って図中紙面奥行方向に移動可能である。したがって、アーム45は、図1に示した各槽の上方を移動することができる。アーム45は、アノードホルダ60を把持する2つの把持部47a,47bを有する。把持部47a,47bは、同様に基板ホルダ18も把持することができる。
めっき槽50は、その側壁の上部にアノードホルダ60を下側から支持するための一対の支持部材51−1,51−2を備えている。アノードホルダ60がめっき槽50内部に収納されるときは、アーム45が支柱部46に内蔵される昇降機構により下降され、アノードホルダ60は支持部材51−1,51−2により吊り下げ保持される。
図3は、図1に示したホルダ受け渡しユニット72を拡大した概略図である。図示のように、ホルダ受け渡しユニット72は、めっき装置100の内部に位置する開口エリア78と、開口エリア78を閉鎖する一対の扉73と、アノードホルダ60(図2等参照)及び基板ホルダ18(図1参照)を吊り下げ保持する吊り下げバー75と、吊り下げバー75を水平方向にガイドする一対のリニアガイド74と、を備えている。
吊り下げバー75及びリニアガイド74は、開口エリア78内に位置する。吊り下げバー75は、アノードホルダ60及び基板ホルダ18を下方から支持する2対のホルダ支持部77を備えている。基板ホルダ18やアノードホルダ60の部品交換等のメンテナンスを行うときに、第2のトランスポータ44は、基板ホルダ18又はアノードホルダ60を搬送し、ホルダ支持部77に吊り下げ保持させる。扉73は、両開きの扉であり、めっき装置100の外側に向かって開く。これにより、開口エリア78は、めっき装置100の外部と連通可能となる。メンテナンスを行う作業者は、扉73を開き、吊り下げバー75をリニアガイド74に沿って手前側(めっき装置100外側)に向かって引き出すことで、ホルダ支持部77に吊り下げられた基板ホルダ18又はアノードホルダ60を容易に取り出すことができる。
図4は、図1に示しためっき槽50の概略側断面図である。図4に示すように、このめっき槽50は、添加剤を含むめっき液Qを収容するめっき処理槽52(内槽)と、めっき処理槽52からオーバーフローしためっき液Qを受けて排出するめっき液排出槽54(外槽)と、めっき処理槽52とめっき液排出槽54とを仕切る仕切り壁55と、を有する。
アノード40を保持したアノードホルダ60と基板Wを保持した基板ホルダ18は、めっき処理槽52内のめっき液Qに浸漬され、アノード40と基板Wの面が平行になるように対向して配置される。アノード40と基板Wは、めっき処理槽52のめっき液Qに浸漬された状態で、めっき電源90により電圧が印加される。これにより、金属イオンが基板Wの被めっき面W1で還元され、被めっき面W1に膜が形成される。
めっき処理槽52は、槽内部にめっき液Qを供給するためのめっき液供給口56を有する。めっき液排出槽54は、めっき処理槽52からオーバーフローしためっき液Qを排出するためのめっき液排出口57を有する。めっき液供給口56はめっき処理槽52の底部に配置され、めっき液排出口57はめっき液排出槽54の底部に配置される。
めっき液Qがめっき液供給口56からめっき処理槽52に供給されると、めっき液Qはめっき処理槽52から溢れ、仕切り壁55を越えてめっき液排出槽54に流入する。めっき液排出槽54に流入しためっき液Qはめっき液排出口57から排出され、めっき液循環装置58が有するフィルタ等で不純物が除去される。不純物が除去されためっき液Qは、
めっき液循環装置58によりめっき液供給口56を介してめっき処理槽52に供給される。
次に、本実施形態に係るアノードホルダ60の詳細構造について説明する。図5は、図4に示した本実施形態に係るアノードホルダ60の平面図である。図6は、図5に示した4−4断面におけるアノードホルダ60の側断面図である。図7は、ホルダベースカバー63を取り外した状態のアノードホルダ60の分解斜視図である。図8は、ホルダベースカバー63を取り外した状態のアノードホルダ60の平面図である。なお、図8においては便宜上、被把持部64−2の一部が透過した状態のアノードホルダ60が示されている。また、図8においては、便宜上、アノード40が取り外された状態のアノードホルダ60が示されている。本明細書において、「上」及び「下」はアノードホルダ60がめっき槽50に鉛直に収容された状態における上及び下をいう。同様に、本明細書において、「前面」は、アノードホルダ60が基板ホルダと対向する側の面をいい、「背面」又は「裏面」は前面と逆側の面をいう。
図5から図7に示すように、本実施形態に係るアノードホルダ60は、アノード40を収容する内部空間61を有する略平板状のホルダベース62と、ホルダベース62の上部に形成された一対の被把持部64−1,64−2と、同じくホルダベース62の上部に形成された一対のアーム部70−1,70−2と、ホルダベース62の前面を覆うホルダベースカバー63と、内部空間61を覆うようにホルダベースカバー63の前面に設けられた隔膜66と、隔膜66の前面に設けられたアノードマスク67とを有する。なお、図6及び図7においては隔膜66が省略されている。
図5及び図8に示すように、ホルダベース62は、その下部の外表面から内部空間61まで延在し、内部空間61に連通する孔71を有する。また、ホルダベース62は、上端部側に位置し、内部空間61の一部を画定する上壁部133を有する。ホルダベース62は、上壁部133の幅方向両側に、一対の空気抜き用開口部120,121を有する。ホルダベース62がめっき液に浸漬されたとき、めっき液が孔71から内部空間61に流入するとともに、内部空間61の空気が空気抜き用開口部120,121から排出される。また、アノード40として不溶性アノードを用いた場合、めっき処理中にアノード40から発生する酸素も、空気抜き用開口部120,121を通じて排出される。図8に示すように、上壁部133の内面133a(下面)は、幅方向中央部から、空気抜き用開口部120,121に向かうにつれて、上端部側に傾斜するように構成される。これにより、内部空間61の気体が、上壁部133の内面133aに沿って空気抜き用開口部120,121に案内され、内部空間61に気体が残留することを防止することができる。
これらの空気抜き用開口部120,121は、アノードホルダ60がめっき槽50の内槽に収容されたとき、めっき液の液面よりも高い位置に位置づけられる。これにより、空気抜き用開口部120,121からめっき液が内部空間61に入り込むことが抑制できる。また、上壁部133の上面133b(上端部側の面)の少なくとも一部は、アノードホルダ60がめっき槽50の内槽に収容されたとき、めっき液の液面よりも低い位置に位置づけられる。基板ホルダ18等の搬送の際、基板ホルダ18等に付着しためっき液がアノードホルダ60に落下することがある。上壁部133の上面133bがめっき液の外部に露出した場合、上壁部133の上面133bにめっき液が落下し、そのめっき液に含まれる金属成分又は添加剤等が析出する虞がある。析出した金属成分又は添加剤等はパーティクルになる。そこで、上壁部133の上面133bの少なくとも一部がめっき液に浸漬されることにより、上壁部133の上面133bにおいてパーティクルが発生することを抑制することができる。
また、図6に示すように、ホルダベースカバー63の略中央部には、アノード40の径
よりも大きい径を有する環状の開口63aが形成されている。ホルダベースカバー63は、ホルダベース62とともに内部空間61を画定する。隔膜66は、開口63aの前面に設けられ、内部空間61を閉鎖する。隔膜66とアノードマスク67との間には、隔膜押え68が設けられる。また、ホルダベースカバー63の前面には、開口63aに沿って、例えばO−リング等からなる環状の第1シール部材84が設けられる。隔膜押え68により隔膜66が第1シール部材84に押圧されることで、隔膜66は開口63aを密閉する。これにより、隔膜66を介して内部空間61と外部空間とが仕切られる。
隔膜66は、例えば陽イオン交換膜のようなイオン交換膜、又は中性隔膜である。隔膜66は、めっき液中の添加剤やブラックフィルムを通過させることなく、めっき処理時にアノード側からカソード側へ陽イオンを通過させることができる。
アノードマスク67は、中央部に環状の開口を有する板状の部材であり、隔膜押え68の前面に着脱自在に取り付けられる。アノードマスク67の開口の径は、アノード40の外径よりも小さい。このため、アノードマスク67は、アノードマスク67が隔膜押え68に取り付けられたときに、図5に示した平面から見てアノード40の外周縁部を覆うように構成されている。これにより、アノードマスク67は、めっき処理時にアノード40の表面の電場を制御することができる。
ホルダベースカバー63はホルダベース62に対してねじ結合や溶着などにより密に固定されており、ホルダベースカバー63とホルダベース62との結合部は密着されている。なお、ホルダベースカバー63とホルダベース62は一体に形成してもよい。
図5、図7及び図8に示すように、被把持部64−1,64−2は、ホルダベース62の上部に形成された連結部62−1,62−2を介してホルダベース62と連結している。被把持部64−1,64−2は、連結部62−1,62−2からホルダベース62の幅方向中央側に延在する。被把持部64−1,64−2は、アノードホルダ60が各槽に搬送されるときに、図2に示したトランスポータ42,44の把持部47a,47b(以下把持部47と総称する)により把持される。アノードホルダ60が把持されるとき、把持部47(図5及び図8参照)は、被把持部64−1,64−2を上下方向から挟み込む。被把持部64−1,64−2の少なくともいずれか一方(図5及び図8に示す例では、被把持部64−1)は、その下面に位置決め用凹部131を有してもよい。その場合、把持部47は、位置決め用凹部131に対応する位置決め用凸部132を有する。把持部47が被把持部64−1,64−2を把持するとき、位置決め用凸部132が位置決め用凹部131に入り込むことで、把持部47はアノードホルダ60の適切な位置を把持することができる。
アーム部70−1,70−2は、連結部62−1,62−2から幅方向外側に延在する。アーム部70−1,70−2は、アノードホルダ60をめっき槽50に収容したときに、めっき槽50の支持部材51−1,51−2(図2参照)により下方から支持される。これにより、アノードホルダ60がめっき槽50に対して吊り下げ保持される。
アーム部70−1の下部には、アノード40に電圧を印加するための電極端子82が設けられる。電極端子82は、アノードホルダ60がめっき槽に収容されたときに、支持部材51−1(図2参照)に設けられる導電板と接触する。この導電板がめっき電源90の正極に接続されることで、電極端子82がめっき電源90(図4参照)と通電する。
また、図8に示すように、アノードホルダ60は、電極端子82とアノード40とを電気的に接続する第1給電部材88a及び第2給電部材88bを有する。第1給電部材88aは、アノード40の裏面側の略中央部に電気的に接続される。具体的には、第1給電部
材88aは、例えばねじ等から成る固定部材89により、アノード40に固定される。第2給電部材88bは、電極端子82と第1給電部材88aとを電気的に接続する。第1給電部材88aと第2給電部材88bは、アノード40の裏面側において、ボルト等の固定具97により互いに固定される。これにより、電極端子82、第1給電部材88a、及び第2給電部材88bを介して図4に示しためっき電源90によりアノード40に電圧を印加することができる。
固定具97は、ホルダベース62の空気抜き用開口部121(治具用開口の一例に相当する)から挿入されるドライバ等の治具96によって着脱される。アノード40をアノードホルダ60に装着するときは、まず、第1給電部材88aをアノード40の裏面に固定部材89により固定する。続いて、アノードマスク67、隔膜押え68、及び隔膜66を取り外した状態で、ホルダベースカバー63の開口63aからアノード40及び第1給電部材88aを内部空間61に配置する。最後に、空気抜き用開口部121から治具96を挿入して、固定具97により第1給電部材88aと第2給電部材88bとを接続する。アノード40をアノードホルダ60から取り外すときは、この逆の手順を行う。
図8に示すように、アノードホルダ60は、弁91と、第1ロッド92と、第2ロッド94と、連結部材93と、を有する。弁91は、孔71をアノードホルダ60の外側から封止するように構成され、アノードホルダ60の下端側に設けられる。第1ロッド92は、その一端(上側の端部)がアノードホルダ60の上端から外部に突出するように、アノードホルダ60の長手方向に沿って、アノードホルダ60の内部に設けられる。また、第2ロッド94は、その一端(下側の端部)が弁91と連結され、第1ロッド92と平行に延びる。連結部材93は、第1ロッド92と第2ロッド94を連結するように構成される。これにより、第1ロッド92の軸方向の移動と連動して、第2ロッド94及び弁91が軸方向に移動することができる。言い換えれば、第1ロッド92が軸方向に移動したとき、弁91が第1ロッドと同一の方向に移動することができる。
また、アノードホルダ60は、第1ロッド92がその軸方向に移動可能なように第1ロッド92をガイドするガイド部材95a,95bと、第2ロッド94がその軸方向に移動可能なように第2ロッド94をガイドするガイド部材98a,98bを有する。ガイド部材95a,95bは、連結部材93よりも上側と下側において、それぞれホルダベース62に固定される。同様に、ガイド部材98a,98bは、連結部材93よりも上側と下側において、それぞれホルダベース62に固定される。
第2ロッド94の連結部材93とガイド部材98bとの間には、ストッパ99が固定される。ストッパ99とガイド部材98bとの間には、ストッパ99を介して、弁91が閉じるように第2ロッド94を付勢するばね134が設けられる。本実施形態では、ばね134は、ストッパ99を介して第2ロッド94を間接的に付勢しているが、第2ロッド94にストッパ99の機能を有する部分を形成することで、第2ロッド94を直接的に付勢するようにしてもよい。ばね134が存在することより、通常時に弁91が孔71を封止することができる。
また、本実施形態では、第2ロッド94は、第1ロッド92よりもアノードホルダ60の幅方向中央側に位置する。これにより、本実施形態のアノードホルダ60のように内部空間61の下端側が円弧状である場合に、内部空間61の最下端付近に弁91を配置することができ、効率よく孔71からめっき液を排出することができる。なお、これに限らず、弁91の幅方向の位置を中央寄りにする必要がない場合は、第2ロッド94及び連結部材93を設けず、第1ロッド92の下端部に弁91を設けてもよい。この場合であっても、第1ロッド92が軸方向に移動したときに、弁91が第1ロッドと同一の方向に移動することができる。
図9は、図5に示した被把持部64−2の拡大斜視図である。図9においては一部が透過して示される。図示のように、第1ロッド92は、その一端がアノードホルダ60の開口部135から突出する。また、第1ロッド92の一端には、第1ロッド92と開口部135との隙間を覆うカバー127が設けられる。これにより、開口部135からめっき液がアノードホルダ60の内部に流入することが抑制される。また、アノードホルダ60は、第1ロッド92が周方向に回転することを防止するための回転防止ブロック129を有する。カバー127は、その内部に回転防止ブロック129と対応する形状の空洞を有し、回転防止ブロック129の少なくとも一部は、カバー127内の空洞に位置するようにアノードホルダ60に固定される。
把持部47は、その幅方向に延びる延長板126を有する。延長板126は、把持部47がアノードホルダ60の被把持部64−2を把持するときに第1ロッド92の上方に位置するように、把持部47に取り付けられる。延長板126は、把持部47がアノードホルダ60の被把持部64−2を把持するときに第1ロッド92が通過し得る貫通孔126aを有する。また、延長板126には、貫通孔126aを上側から覆うように配置された、略円板状の押下部48を有する。押下部48は、延長板126に対して、言い換えれば把持部47に対して着脱可能に構成される。
押下部48が延長板126に取り付けられた状態で把持部47がアノードホルダ60の被把持部64−2を把持すると、押下部48は、第1ロッド92の上端と接触し、第1ロッド92をアノードホルダ60内に押し込むことができる。その結果、弁91は、連結部材93及び第2ロッド94を介して、第1ロッド92と同一の方向(即ち下方)に移動し、孔71が開放される。他方、把持部47がアノードホルダ60の被把持部64−2を解放すると、ばね134によって第2ロッド94が上方に付勢される。その結果、弁91が孔71を閉止する。
また、押下部48を延長板126から取り外した状態で把持部47がアノードホルダ60の被把持部64−2を把持すると、第1ロッド92は延長板126の貫通孔126aを通過する。したがって、第1ロッド92はアノードホルダ60内に押し込まれないから、把持部47は、弁91が孔71を閉止した状態でアノードホルダ60を把持することができる。これにより、例えば、アノードホルダ60の内部空間61のめっき液をめっき槽50内に流出させることなく、めっき槽50からアノードホルダ60を取り出すことができる。他方、押下部48を延長板126に取り付ければ、アノードホルダ60の内部空間61のめっき液をめっき槽50に排出した上で、めっき槽50からアノードホルダ60を取り出すことができる。
また、アノードホルダ60は、カバー127の位置を固定する固定部材128を有する。第1ロッド92がアノードホルダ60内に押し込まれた状態で、固定部材128でカバー127を固定することで、孔71が開放された状態を維持することができる。
再び図8を参照すると、アノードホルダ60のホルダベース62は、第1ロッド92と隣接する第1内壁面122(第1内壁面の一例に相当する)と、第1内壁面122と連続し、第1内壁面122よりも上端部側に設けられる凹部123を有する。凹部123は、第1内壁面122よりも、第1ロッド92との距離が大きい第2内壁面(第2内壁面の一例に相当する)を有する。凹部123がホルダベース62に形成されない場合、内部空間61のめっき液は、第1ロッド92と第1内壁面122との隙間を毛細管現象によって、めっき液の液面よりも上昇し得る。この場合、第1ロッド92又はホルダベース62の表面に、めっき液に含まれる金属成分又は添加剤等が析出する虞がある。そこで、本実施形態では、凹部123を設けることにより、内部空間61のめっき液が、凹部123を越え
てめっき液の液面よりも上昇することを抑制することができる。なお、凹部123は、アノードホルダ60がめっき槽50の内槽に収容されたとき、めっき液の液面よりも高い位置に位置づけられる。
アノードホルダ60のホルダベース62は、第2給電部材88bと隣接する第3内壁面124(第3内壁面の一例に相当する)と、第3内壁面124と連続し、第3内壁面124よりも上端部側に設けられる凹部125を有する。凹部125は、第3内壁面124よりも、第2給電部材88bとの距離が大きい第4内壁面(第4内壁面の一例に相当する)を有する。凹部125がホルダベース62に形成されない場合、内部空間61のめっき液は、第2給電部材88bと第3内壁面124との隙間を毛細管現象によって、めっき液の液面よりも上昇し得る。この場合、第2給電部材88b又はホルダベース62の表面に、めっき液に含まれる金属成分又は添加剤等が析出する虞がある。そこで、本実施形態では、凹部125を有することにより、内部空間61のめっき液が、凹部125を越えてめっき液の液面よりも上昇することを抑制することができる。なお、凹部125は、アノードホルダ60がめっき槽50の内槽に収容されたとき、めっき液の液面よりも高い位置に位置づけられる。
図10は、めっき槽50の構造の一例を示す概略図である。図10に示すように、めっき槽50は、アノードホルダ60を収容する内槽142と、内槽142からオーバーフローしためっき液を受ける外槽140と、を有する。図10に示すように、内槽142は、めっき液をオーバーフローさせる堰143を有する。堰143は、内槽142の開口部を形成する縁部142aよりも低い位置に設けられる。堰143を内槽142に設けることで、内槽142の所定の場所からめっき液をオーバーフローさせることができる。したがって、内槽142内のめっき液の水面高さは、堰143の高さと実質的に同一になる。
アノードホルダ60を内槽142に収容したときに図8に示した凹部123の少なくとも一部及び凹部125の少なくとも一部が、堰143よりも高く位置するように、アノードホルダ60又は内槽142が設計される。これにより、凹部123の少なくとも一部及び凹部125の少なくとも一部が、めっき液の液面よりも上方に位置するから、上述したように、めっき液が凹部123及び凹部125を越えて上昇することを抑制することができる。
また、アノードホルダ60を内槽142に収容したときに図8に示した空気抜き用開口部120,121が、堰143よりも高く位置するように、アノードホルダ60又は内槽142が設計される。これにより、空気抜き用開口部120,121が、めっき液の液面よりも上方に位置するから、上述したように、めっき液が空気抜き用開口部120,121からアノードホルダ60の内部に流入することを抑制できる。
さらに、アノードホルダ60の上壁部133の上面133bの少なくとも一部は、アノードホルダ60がめっき槽50の内槽に収容されたとき、堰143よりも低く位置するように、アノードホルダ60又は内槽142が設計される。これにより、上壁部133の上面133bの少なくとも一部が、めっき液の液面よりも低い位置に位置するから、上述したように、上壁部133の上面133bにおいてパーティクルが発生することを抑制することができる。
次に、図5から図8に示したアノードホルダ60を、図10に示しためっき槽50に収容するプロセスについて説明する。アノードホルダ60をめっき槽50に収容するときは、まず、図2に示したトランスポータ42,44の把持部47a,47bにより被把持部64−1,64−2が把持される。これにより、第1ロッド92が押下され、弁91が孔71から離れ、孔71が開放される。
トランスポータ42,44は、アーム45(図2参照)を下降させることで、孔71が開放された状態のアノードホルダ60をめっき槽50の内槽142に収容する。アノードホルダ60のアーム部70−1,70−2は、めっき槽50の支持部材51−1,51−2(図2参照)により下方から支持される。アノードホルダ60はめっき液に浸漬され、めっき液は解放された孔71を通じて内部空間61に流入する。これと同時に内部空間61の空気は一対の空気抜き用開口部120から排出され、内部空間61はめっき液で満たされる。
内部空間61がめっき液で満たされると、トランスポータ42,44は把持部47a,47b(図2参照)による被把持部64−1,64−2の把持を解除し、アーム45(図2参照)を上昇させる。アノードホルダ60はめっき槽50内に吊り下げ保持される。このとき、ばね134の付勢力により弁91が元の位置に戻される。これにより、弁91は孔71を封止する。
孔71が封止されると、アノードホルダ60の内部空間61に存在するめっき液は、めっき槽50内のめっき液と、隔膜66を介して隔離される。これにより、内部空間61に発生したブラックフィルムが内部空間61の外に拡散することを防止することができる。また、アノード40近傍で酸素又は一価の銅が発生しても、めっき槽50内のめっき液が内部空間61に入り込まないので、添加剤の分解の進行を防止することができる。
メンテナンス等のときにアノード40又は隔膜66を交換する場合には、まず、めっき槽50内に配置されたアノードホルダ60の被把持部64−1,64−2をトランスポータ42,44の把持部47a,47b(図2参照)が把持する。このとき、図9に示した押下部48が延長板126に取り付けられている場合は、弁91が孔71から離れ、孔71が開放される。トランスポータ42,44は把持されたアノードホルダ60をめっき液から取り出し、めっき槽50の上方に静止させる。これにより、内部空間61のめっき液は、開放された孔71からめっき槽50内に排出される。また、図9に示した押下部48が延長板126に取り付けられていない場合は、弁91が孔71を封止したままであるので、内部空間61内にめっき液が収容されたまま、アノードホルダ60がめっき槽50から取り出される。なお、内部空間61内に収容されためっき液は、アノード40近傍で発生した酸素又は一価の銅により変質している場合がある。このため、内部空間61のめっき液をめっき槽50内に排出した場合、めっき槽50内が汚染されるおそれがある。そこで、内部空間61内にめっき液が収容されたまま、アノードホルダ60をめっき槽50から取り出し、めっき槽50の外部(例えば、第2の水洗槽32b)にめっき液を排出することにより、めっき槽50の汚染を避けることができる。具体的には、押下部48を取り外したトランスポータ42,44がアノードホルダ60を把持して第2の水洗槽32b内に設置し、その後、延長板126に押下部48を取り付けることで、内部空間61内のめっき液を第2の水洗槽32b内に排出する。あるいは、押下部48を取り付ける代わりに、水洗槽32bが専用に備えるアクチュエータ又は手動の押下工具を使って第1ロッド92を押し下げるようにしてもよい。なお、排出する場所(排出先)は水洗槽32bに限られず、例えば専用のめっき液排出槽を設けてもよい。
アノードホルダ60は、第2の水洗槽32bおよびブロー槽34を経由して洗浄され、乾燥された後、ホルダ受け渡しユニット72(図3参照)に搬送される。アノードホルダ60の洗浄は、例えばアノードホルダ60を孔71が開放された状態で第2の水洗槽32b内に挿入し、第2の水洗槽32b内に純水を供給することにより行われる。これにより、アノードホルダ60の内部空間61内も洗浄することができる。その後、アノードホルダ60は、ホルダ受け渡しユニット72から作業者により取り出されて、アノード40又は隔膜66が交換される。
以上で説明したように、アノードホルダ60の弁91は、アノードホルダ60の外側に位置し、第1ロッド92が軸方向に移動したときに、第1ロッド92と同一の方向に移動することができる。これにより、リンク機構のような運動方向を変換する機構を設ける必要がない。その結果、このような機構を原因としたアノードホルダ60の動作不良が生じることがない。
以上、本発明の実施形態について説明したが、上述した発明の実施の形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物が含まれることはもちろんである。また、上述した課題の少なくとも一部を解決できる範囲、または、効果の少なくとも一部を奏する範囲において、特許請求の範囲及び明細書に記載された各構成要素の任意の組み合わせ、又は省略が可能である。
以下に本明細書が開示する形態のいくつかを記載しておく。
第1形態によれば、めっき装置に用いられるアノードを保持するためのアノードホルダが提供される。このアノードホルダは、前記アノードホルダの内部に形成され、前記アノードを収容するための内部空間と、前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、前記アノードホルダの外表面に形成され、前記内部空間に連通する孔と、前記孔を前記アノードホルダの外側から封止するための、前記アノードホルダの第1端部側に設けられた弁と、一端が前記アノードホルダの前記第1端部とは反対側の第2端部側から外部に突出するように前記アノードホルダの内部に配置された第1ロッドと、を有する。前記第1ロッドは、軸方向に移動可能に構成される。前記第1ロッドが軸方向に移動したとき、前記弁は前記第1ロッドと同一の方向に移動するように構成される。
第1形態によれば、アノードホルダの弁は、アノードホルダの外側に位置し、第1ロッドが軸方向に移動したときに、第1ロッドと同一の方向に移動することができる。これにより、リンク機構のような運動方向を変換する機構を設ける必要がない。その結果、このような機構を原因としたアノードホルダの動作不良が生じることがない。
第2形態は、第1形態のアノードホルダにおいて、一端が前記弁に連結され、前記第1ロッドと平行に延びる第2ロッドと、前記第1ロッドと前記第2ロッドとを連結する連結部材と、を有し、前記第2ロッドは、前記第1ロッドよりも、前記アノードホルダの幅方向中央側に位置することを要旨とする。
第2形態によれば、第2ロッドは、第1ロッドよりもアノードホルダの幅方向中央側に位置する。これにより、内部空間の下端側が円弧状である場合に、内部空間の最下端付近に弁を配置することができ、効率よく孔からめっき液を排出することができる。
第3形態は、第2形態のアノードホルダにおいて、前記弁が閉じるように前記第2ロッドを直接的又は間接的に付勢する付勢部材を有することを要旨とする。
第3形態によれば、通常時に弁が孔を封止することができる。
第4形態は、第1形態から第3形態のいずれかのアノードホルダにおいて、前記第1ロッドの前記一端が通過する開口部と、前記第1ロッドと前記開口部との隙間を覆うカバーと、を有することを要旨とする。
第4形態によれば、開口部からめっき液がアノードホルダの内部に流入することが抑制される。
第5形態は、第1形態から第4形態のいずれかのアノードホルダにおいて、前記第1ロッドと隣接する第1内壁面と、前記第1内壁面と連続する第2内壁面と、を有し、前記第2内壁面は、前記第1内壁面よりも前記第1ロッドとの距離が大きく、前記第1内壁面よりも前記第2端部側に設けられることを要旨とする。
第5形態によれば、第1内壁面と第1ロッドとの間を毛細管現象によりめっき液が液面よりも上昇したとしても、第2内壁面においてめっき液の上昇を抑制することができる。その結果、第1ロッド又はアノードホルダの表面に、めっき液に含まれる金属成分又は添加剤等が析出することを抑制することができる。
第6形態は、第5形態のアノードホルダにおいて、前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記アノードホルダの前記第2内壁面の少なくとも一部は、前記内槽の堰よりも高く位置することを要旨とする。
第6形態によれば、第2内壁面の少なくとも一部が内槽の堰、即ちめっき液の液面よりも高く位置するので、第2内壁面において、めっき液が毛細管現象により上昇することを抑制することができる。
第7形態は、第1形態から第6形態のいずれかのアノードホルダにおいて、前記アノードホルダの外部に設けられる電極端子と、前記アノードの裏面に電気的に接続された第1給電部材と、前記電極端子と前記第1給電部材とを電気的に接続する第2給電部材と、前記第1給電部材と前記第2給電部材とを着脱可能に固定する固定具と、前記固定具を着脱するための治具を挿入可能な治具用開口と、を有することを要旨とする。
第7形態によれば、第1給電部材と第2給電部材とが互いに固定具により着脱可能に固定される。これにより、アノードの裏面に第1給電部材を接続した状態でアノードホルダの内部空間にアノードを収容し、その後第1給電部材と第2給電部材を固定することができる。
第8形態は、第7形態のアノードホルダにおいて、前記第2給電部材と隣接する第3内壁面と、前記第3内壁面と連続する第4内壁面と、を有し、前記第4内壁面は、前記第3内壁面よりも前記第2給電部材との距離が大きく、前記第3内壁面よりも前記第2端部側に設けられることを要旨とする。
第8形態によれば、第3内壁面と第2給電部材との間を毛細管現象によりめっき液が液面よりも上昇したとしても、第4内壁面においてめっき液の上昇を抑制することができる。その結果、第2給電部材又はアノードホルダの表面に、めっき液に含まれる金属成分又は添加剤等が析出することを抑制することができる。
第9形態は、第8形態のアノードホルダにおいて、前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記アノードホルダの前記第4内壁面の少なくとも一部は、前記内槽の堰よりも高く位置することを要旨とする。
第9形態によれば、第4内壁面の少なくとも一部が内槽の堰、即ちめっき液の液面よりも高く位置するので、第4内壁面において、めっき液が毛細管現象により上昇することを
抑制することができる。
第10形態は、第1形態から第9形態のいずれかのアノードホルダにおいて、前記第1端部側に位置し、前記内部空間を画定する上壁部と、前記上壁部の幅方向両側に設けられた一対の空気抜き用開口部と、を有することを要旨とする。
第11形態は、第10形態のアノードホルダにおいて、前記上壁部の内面は、幅方向中央部から前記一対の空気抜き用開口部に向かうにつれて前記第1端部側に傾斜することを要旨とする。
第11形態によれば、内部空間の気体が、上壁部の内面に沿って空気抜き用開口部に案内され、内部空間に気体が残留することを防止することができる。
第12形態は、第10形態から第11形態のアノードホルダにおいて、前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記上壁部の前記一対の空気抜き用開口部は前記内槽の堰よりも高く位置し、且つ前記上壁部の第1端部側の面の少なくとも一部が、前記内槽の堰よりも低く位置することを要旨とする。
第12形態によれば、空気抜き用開口部が、内槽の堰、即ちめっき液の液面よりも上方に位置するから、めっき液が空気抜き用開口部からアノードホルダの内部に流入することを抑制できる。また、上壁部の上面の少なくとも一部が、内槽の堰、即ちめっき液の液面よりも低い位置に位置するから、上壁部の上面においてパーティクルが発生することを抑制することができる。
第13形態によれば、めっき装置が提供される。このめっき装置は、第1形態から第12形態のいずれかのアノードホルダと、前記アノードホルダを収容するように構成されるめっき槽と、を有する。
第14形態によれば、第6形態、第9形態、第12形態を引用する第13形態のめっき装置において、前記めっき槽は、前記内槽及び前記外槽を有することを要旨とする。
第15形態によれば、第13形態又は第14形態のめっき装置において、前記アノードホルダを搬送するためのトランスポータを有し、前記アノードホルダは、前記トランスポータによって把持される被把持部を有し、前記トランスポータは、前記アノードホルダの前記被把持部を把持する把持部と、前記把持部に着脱可能に取り付けられた押下部と、を有し、前記トランスポータが前記アノードホルダの前記被把持部を把持したとき、前記押下部によって前記アノードホルダの前記第1ロッドが前記アノードホルダ内に押し込まれて、前記弁が開くように構成されることを要旨とする。
第16形態によれば、めっき方法が提供される。このめっき方法は、アノードを収容するための内部空間と、前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、前記内部空間に連通する孔と、前記孔を封止するための弁と、を有するアノードホルダを準備し、前記弁を開放して前記内部空間にめっき液を導入した後、前記弁を閉じてめっきを行い、めっき後に、前記弁を閉じた状態で前記内部空間に前記めっき液を溜めながら、前記アノードホルダをめっき槽から取り出し、前記めっき槽の外部に前記内部空間の前記めっき液を排出する。
第17形態によれば、第16形態のめっき方法において、前記内部空間の前記めっき液
を、めっき後の基板及び基板ホルダを洗浄する洗浄槽に排出することを要旨とする。
第18形態によれば、第16形態又は第17形態のめっき方法において、前記内部空間の前記めっき液を排出した後、前記内部空間を洗浄することを要旨とする。
42…トランスポータ
47…把持部
48…押下部
50…めっき槽
60…アノードホルダ
61…内部空間
64…被把持部
66…隔膜
71…孔
82…電極端子
88a…第1給電部材
88b…第2給電部材
91…弁
92…第1ロッド
93…連結部材
94…第2ロッド
96…治具
97…固定具
120…空気抜き用開口部
121…空気抜き用開口部
122…第1内壁面
123…凹部
124…第3内壁面
125…凹部
126…延長板
127…カバー
133…上壁部
133a…内面
133b…上面
135…開口部
140…外槽
142…内槽
143…堰

Claims (18)

  1. めっき装置に用いられるアノードを保持するためのアノードホルダであって、
    前記アノードホルダの内部に形成され、前記アノードを収容するための内部空間と、
    前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、
    前記アノードホルダの外表面に形成され、前記内部空間に連通する孔と、
    前記孔を前記アノードホルダの外側から封止するための、前記アノードホルダの第1端部側に設けられた弁と、
    一端が前記アノードホルダの前記第1端部とは反対側の第2端部側から外部に突出するように前記アノードホルダの内部に配置された第1ロッドと、を有し、
    前記第1ロッドは、軸方向に移動可能に構成され、
    前記第1ロッドが軸方向に移動したとき、前記弁は前記第1ロッドと同一の方向に移動するように構成される、アノードホルダ。
  2. 請求項1に記載されたアノードホルダにおいて、
    一端が前記弁に連結され、前記第1ロッドと平行に延びる第2ロッドと、
    前記第1ロッドと前記第2ロッドとを連結する連結部材と、を有し、
    前記第2ロッドは、前記第1ロッドよりも、前記アノードホルダの幅方向中央側に位置する、アノードホルダ。
  3. 請求項2に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記弁が閉じるように前記第2ロッドを直接的又は間接的に付勢する付勢部材を有する、アノードホルダ。
  4. 請求項1から3のいずれか一項に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記第1ロッドの前記一端が通過する開口部と、
    前記第1ロッドと前記開口部との隙間を覆うカバーと、を有する、アノードホルダ。
  5. 請求項1から4のいずれか一項に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記第1ロッドと隣接する第1内壁面と、前記第1内壁面と連続する第2内壁面と、を有し、
    前記第2内壁面は、前記第1内壁面よりも前記第1ロッドとの距離が大きく、前記第1内壁面よりも前記第2端部側に設けられる、アノードホルダ。
  6. 請求項5に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、
    前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、
    前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記アノードホルダの前記第2内壁面の少なくとも一部は、前記内槽の堰よりも高く位置する、アノードホルダ。
  7. 請求項1から6のいずれか一項に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記アノードホルダの外部に設けられる電極端子と、
    前記アノードの裏面に電気的に接続された第1給電部材と、
    前記電極端子と前記第1給電部材とを電気的に接続する第2給電部材と、
    前記第1給電部材と前記第2給電部材とを着脱可能に固定する固定具と、
    前記固定具を着脱するための治具を挿入可能な治具用開口と、を有する、アノードホルダ。
  8. 請求項7に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記第2給電部材と隣接する第3内壁面と、前記第3内壁面と連続する第4内壁面と、を有し、
    前記第4内壁面は、前記第3内壁面よりも前記第2給電部材との距離が大きく、前記第3内壁面よりも前記第2端部側に設けられる、アノードホルダ。
  9. 請求項8に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、
    前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、
    前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記アノードホルダの前記第4内壁面の少なくとも一部は、前記内槽の堰よりも高く位置する、アノードホルダ。
  10. 請求項1から9のいずれか一項に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記第1端部側に位置し、前記内部空間を画定する上壁部と、
    前記上壁部の幅方向両側に設けられた一対の空気抜き用開口部と、を有する、アノードホルダ。
  11. 請求項10に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記上壁部の内面は、幅方向中央部から前記一対の空気抜き用開口部に向かうにつれて前記第1端部側に傾斜する、アノードホルダ。
  12. 請求項10又は11に記載されたアノードホルダにおいて、
    前記めっき装置は、前記アノードホルダを収容するように構成される内槽と、前記内槽からオーバーフローしためっき液を受ける外槽とを有し、
    前記内槽は、前記めっき液がオーバーフローする堰を有し、
    前記アノードホルダが前記内槽に収容されたとき、前記上壁部の前記一対の空気抜き用開口部は前記内槽の堰よりも高く位置し、且つ前記上壁部の第1端部側の面の少なくとも一部が、前記内槽の堰よりも低く位置する、アノードホルダ。
  13. 請求項1から12のいずれか一項に記載されたアノードホルダと、
    前記アノードホルダを収容するように構成されるめっき槽と、を有する、めっき装置。
  14. 請求項6、請求項9、又は請求項12を引用する請求項13に記載されためっき装置において、
    前記めっき槽は、前記内槽及び前記外槽を有する、めっき装置。
  15. 請求項13又は14に記載されためっき装置において、
    前記アノードホルダを搬送するためのトランスポータを有し、
    前記アノードホルダは、前記トランスポータによって把持される被把持部を有し、
    前記トランスポータは、前記アノードホルダの前記被把持部を把持する把持部と、前記把持部に着脱可能に取り付けられた押下部と、を有し、
    前記トランスポータが前記アノードホルダの前記被把持部を把持したとき、前記押下部によって前記アノードホルダの前記第1ロッドが前記アノードホルダ内に押し込まれて、前記弁が開くように構成される、めっき装置。
  16. アノードを収容するための内部空間と、前記内部空間の前面を覆うように構成される隔膜と、前記内部空間に連通する孔と、前記孔を封止するための弁と、を有するアノードホルダを準備し、
    前記弁を開放して前記内部空間にめっき液を導入した後、前記弁を閉じてめっきを行い、
    めっき後に、前記弁を閉じた状態で前記内部空間に前記めっき液を溜めながら、前記アノードホルダをめっき槽から取り出し、
    前記めっき槽の外部に前記内部空間の前記めっき液を排出する、めっき方法。
  17. 請求項16に記載されためっき方法において、
    前記内部空間の前記めっき液を、めっき後の基板及び基板ホルダを洗浄する洗浄槽に排出する、めっき方法。
  18. 請求項16又は17に記載されためっき方法において、
    前記内部空間の前記めっき液を排出した後、前記内部空間を洗浄する、めっき方法。
JP2019085593A 2019-04-26 2019-04-26 アノードホルダ及びめっき装置 Pending JP2020180357A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019085593A JP2020180357A (ja) 2019-04-26 2019-04-26 アノードホルダ及びめっき装置
PCT/JP2020/012184 WO2020217796A1 (ja) 2019-04-26 2020-03-19 アノードホルダ、めっき装置、及びめっき方法
TW109111158A TW202108829A (zh) 2019-04-26 2020-04-01 陽極固持器、鍍覆裝置、及鍍覆方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019085593A JP2020180357A (ja) 2019-04-26 2019-04-26 アノードホルダ及びめっき装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2020180357A true JP2020180357A (ja) 2020-11-05

Family

ID=72941997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019085593A Pending JP2020180357A (ja) 2019-04-26 2019-04-26 アノードホルダ及びめっき装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2020180357A (ja)
TW (1) TW202108829A (ja)
WO (1) WO2020217796A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022107551A1 (ja) * 2020-11-20 2022-05-27 三友セミコンエンジニアリング株式会社 めっき装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114929946A (zh) * 2020-12-09 2022-08-19 株式会社荏原制作所 镀覆装置、以及基板支架操作方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6576110B2 (en) * 2000-07-07 2003-06-10 Applied Materials, Inc. Coated anode apparatus and associated method
JP6285199B2 (ja) * 2014-02-10 2018-02-28 株式会社荏原製作所 アノードホルダ及びめっき装置
JP6795915B2 (ja) * 2016-06-10 2020-12-02 株式会社荏原製作所 アノードに給電可能な給電体及びめっき装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022107551A1 (ja) * 2020-11-20 2022-05-27 三友セミコンエンジニアリング株式会社 めっき装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020217796A1 (ja) 2020-10-29
TW202108829A (zh) 2021-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6285199B2 (ja) アノードホルダ及びめっき装置
JP4664320B2 (ja) めっき方法
JP3979847B2 (ja) めっき装置
US6699380B1 (en) Modular electrochemical processing system
US20090301395A1 (en) Plating apparatus and plating method
JP3883378B2 (ja) めっき装置及び方法
US20150090584A1 (en) Plating apparatus and cleaning device used in the plating apparatus
WO2020217796A1 (ja) アノードホルダ、めっき装置、及びめっき方法
US20120255864A1 (en) Electroplating method
KR102565317B1 (ko) 기판 세정 방법
US20120145552A1 (en) Electroplating method
JP3778281B2 (ja) 基板ホルダ及びめっき装置
JP2002363794A (ja) 基板ホルダ及びめっき装置
US11643744B2 (en) Apparatus for electrochemically processing semiconductor substrates
JP2003247098A (ja) めっき装置
JP2002363793A (ja) 基板ホルダ及びめっき装置
JP2002363797A (ja) 電気接点及びその製造方法、並びにめっき装置