JP2001135746A - 接続パッドおよびicチップキャリア - Google Patents

接続パッドおよびicチップキャリア

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JP2001135746A
JP2001135746A JP31632399A JP31632399A JP2001135746A JP 2001135746 A JP2001135746 A JP 2001135746A JP 31632399 A JP31632399 A JP 31632399A JP 31632399 A JP31632399 A JP 31632399A JP 2001135746 A JP2001135746 A JP 2001135746A
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JP
Japan
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connection
pad
chip
hole
chip carrier
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JP31632399A
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English (en)
Inventor
Yosuke Ozaki
陽介 尾崎
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O K PRINT KK
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O K PRINT KK
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Publication date
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  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント配線基板の接続端子相互の間隔が小
さいときにも、接続パッドとプリント配線基板の接続端
子との接続の信頼性を高くする。 【構成】 樹脂板1にICチップパッド2、ボンディン
グパッド3、接続線4を形成し、樹脂板1に樹脂板5を
プリプレーグ7により接着し、樹脂板5にICチップ収
納穴6を設け、接続線4と接続されたスルホール8を形
成し、スルホール8内に樹脂9を充填し、スルホール8
に接続された接続パッド22を設け、接続パッド22を
スルホール8部に突出して設け、接続パッド22の上端
部の径を基部の径よりも小さくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は接続端子と接続され
る接続パッド、プリント配線基板にICチップを実装す
るために使用するICチップキャリアに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図5は従来のICチップキャリアを示す
正断面図、図6は図5に示したICチップキャリアを示
す平面図である。図に示すように、第1の樹脂板1のI
Cチップ(図示せず)が載置される部分にICチップパ
ッド2が形成され、樹脂板1にICチップの接続端子と
接続されるべきボンディングパッド3が形成され、ボン
ディングパッド3に接続された接続線4が形成され、樹
脂板1に第2の樹脂板5がプリプレーグ7により接着さ
れ、樹脂板5の中央部にICチップ収納穴6が設けら
れ、接続線4と接続されたスルホール8が形成され、ス
ルホール8内に樹脂9が充填され、スルホール8に接続
された接続パッド10が設けられ、接続パッド10はス
ルホール8部に突出して設けられ、接続パッド10の樹
脂板5の表面からの高さは約0.3mmである。
【0003】このICチップキャリアを用いてICチッ
プをプリント配線基板に実装するには、まずICチップ
をICチップパッド2部に載置し、ICチップの接続端
子をボンディングパッド3に接続する。つぎに、プリン
ト配線基板の接続端子にハンダクリームを塗布し、プリ
ント配線基板の接続端子とICチップキャリアの接続パ
ッド10との位置合わせをしたのち、加熱してハンダク
リームによりプリント配線基板の接続端子とICチップ
キャリアの接続パッド10とを接続する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような接
続パッド10を有するICチップキャリアにおいては、
図7に示すように、プリント配線基板11の接続端子1
2とICチップキャリアの接続パッド10とを接続した
場合に、接続端子12相互の間隔が小さいときには、接
続端子12に塗布するハンダクリームの量を多くして接
続用ハンダ13の量を多くすると、接続用ハンダ13が
接続端子12、接続パッド10の外側に大きく突出する
から、隣接する接続端子12、接続パッド10が短絡す
るおそれがあるので、接続用ハンダ13の量を多くする
ことができない。このため、プリント配線基板11にね
じれや反りがあり、局部的に接続端子12と接続パッド
10との距離が大きくなると、部分的に接続端子12と
接続パッド10とが接続されないことがあるから、接続
パッド10と接続端子12との接続の信頼性が低い。
【0005】本発明は上述の課題を解決するためになさ
れたもので、接続端子との接続の信頼性が高い接続パッ
ドを提供することを目的とし、またプリント配線基板の
接続端子相互の間隔が小さいときにも、接続パッドとプ
リント配線基板の接続端子との接続の信頼性が高いIC
チップキャリアを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明においては、基板にその表面から突出して設
けられかつ接続端子と接続される接続パッドにおいて、
上端部の径を基部の径よりも小さくする。
【0007】また、ICチップの接続端子と接続される
べきボンディングパッドと、上記ボンディングパッドに
接続されたスルホールと、上記スルホールと接続された
接続パッドとを有するICチップキャリアにおいて、上
記接続パッドの上端部の径を基部の径よりも小さくす
る。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る接続パッドを
有するICチップキャリアを示す正断面図、図2は図1
に示したICチップキャリアを示す平面図である。図に
示すように、樹脂板1にICチップパッド2、ボンディ
ングパッド3、接続線4が形成され、樹脂板1に樹脂板
5がプリプレーグ7により接着され、樹脂板5にICチ
ップ収納穴6が設けられ、接続線4と接続されたスルホ
ール8が形成され、スルホール8内に樹脂9が充填され
ている。すなわち、樹脂板1、樹脂板5等からなる基体
板21にICチップパッド2、ボンディングパッド3、
接続線4、スルホール8等が形成されている。また、ス
ルホール8に接続された接続パッド22が設けられ、接
続パッド22はスルホール8部に基板である基体板21
の表面から突出して設けられ、接続パッド22の基体板
21(樹脂板5)の表面からの高さは約0.3mmであ
り、接続パッド22の上端部すなわち図1紙面上部の径
は基部すなわち図1紙面下部の径よりも小さい。
【0009】つぎに、図3により図1、図2に示したI
Cチップキャリアの製造方法について説明する。まず、
図3(a)に示すように、片面に銅箔41を有する樹脂板
1の他面に銅箔および金メッキ層からなるICチップパ
ッド2、ボンディングパッド3、接続線4を形成する。
つぎに、樹脂板1と樹脂板5との間にプリプレーグ7を
挟み、樹脂板5と厚さが約0.3mmの銅板42との間
にプリプレーグ43を挟んだ状態で熱圧着することによ
り、樹脂板1、樹脂板5、銅板42を接着する。つぎ
に、図3(b)に示すように、スルホール用孔44を設け
たのち、無電解銅メッキおよび電解銅メッキを行なうこ
とにより、銅箔41、銅板42上およびスルホール用孔
44の内面に銅メッキ層45を設け、スルホール8を形
成する。つぎに、図3(c)に示すように、スルホール8
内に樹脂9を充填したのち、樹脂板1側、銅板42側の
表面にパネルメッキ層46を設ける。つぎに、パネルメ
ッキ層46、銅メッキ層45、銅箔41、銅板42を選
択的にエッチングすることにより、接続パッド22を設
ける。この場合、ICチップパッド2、ボンディングパ
ッド3が銅箔および金メッキ層からなるから、パネルメ
ッキ層46、銅メッキ層45、銅箔41、銅板42を選
択的にエッチングするときに、ICチップパッド2、ボ
ンディングパッド3が除去されることがなく、またIC
チップパッド2上に金メッキ層を設けるためにICチッ
プパッド2部とボンディングパッド3部とを接続してい
た銅箔が除去される。
【0010】このような接続パッド、ICチップキャリ
アにおいては、図4に示すように、プリント配線基板1
1の接続端子12とICチップキャリアの接続パッド2
2とを接続した場合に、接続端子12に塗布するハンダ
クリームの量を多くして接続用ハンダ31の量を多くし
たとしても、接続用ハンダ31が接続端子12、接続パ
ッド22の外側に大きく突出することがないから、接続
端子12相互の間隔が小さくとも、隣接する接続端子1
2、接続パッド22が短絡するおそれがないので、接続
用ハンダ31の量を多くすることができる。このため、
プリント配線基板11にねじれや反りがあり、局部的に
接続端子12と接続パッド22との距離が大きくなった
としても、部分的に接続端子12と接続パッド22とが
接続されないことがないから、接続パッド22とプリン
ト配線基板11の接続端子12との接続の信頼性が高
い。また、スルホール8内に樹脂9が充填されているか
ら、ICチップキャリア全体の熱膨張率がプリント配線
基板11全体の熱膨張率とほぼ等しいので、ICチップ
キャリアに熱応力が作用するのを防止することができ
る。また、スルホール8が樹脂板1側に貫通しているか
ら、ICチップキャリアをプリント配線基板11に接続
した後にも、ICチップキャリアに取り付けられたIC
チップの検査を行なうことができる。
【0011】なお、上述実施の形態においては、接続パ
ッド22の基体板21の表面からの高さを約0.3mm
としたが、接続パッドの基体板の表面からの高さを0.
1mm以上とすることが望ましく、0.2〜0.5mm
にするのがより望ましい。また、上述実施の形態におい
ては、樹脂板1、樹脂板5等からなる基体板21にIC
チップパッド2等を形成したが、樹脂板と金属板とから
なる基体板にICチップパッド等を形成してもよい。
【0012】
【発明の効果】本発明に係る接続パッドにおいては、接
続端子と接続用ハンダにより接続した場合に、接続用ハ
ンダの量を多くしたとしても、接続用ハンダが接続端
子、接続パッドの外側に大きく突出することがないか
ら、接続端子相互の間隔が小さくとも、隣接する接続端
子、接続パッドが短絡するおそれがないので、接続用ハ
ンダの量を多くすることができるため、接続パッドと接
続端子との接続の信頼性が高い。
【0013】また、本発明に係るICチップキャリアに
おいては、プリント配線基板の接続端子と接続パッドと
を接続用ハンダにより接続した場合に、接続用ハンダの
量を多くしたとしても、接続用ハンダが接続端子、接続
パッドの外側に大きく突出することがないから、接続端
子相互の間隔が小さくとも、隣接する接続端子、接続パ
ッドが短絡するおそれがないので、接続用ハンダの量を
多くすることができる。このため、プリント配線基板に
ねじれや反りがあり、局部的に接続端子と接続パッドと
の距離が大きくなったとしても、部分的に接続端子と接
続パッドとが接続されないことがないから、接続パッド
とプリント配線基板の接続端子との接続の信頼性が高
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る接続パッドを有するICチップキ
ャリアを示す正断面図である。
【図2】図1に示したICチップキャリアを示す平面図
である。
【図3】図1、図2に示したICチップキャリアの製造
方法の説明図である。
【図4】図1、図2に示したICチップキャリアの実装
状態を示す図である。
【図5】従来のICチップキャリアを示す正断面図であ
る。
【図6】図5に示したICチップキャリアを示す平面図
である。
【図7】図5、図6に示したICチップキャリアの実装
状態を示す図である。
【符号の説明】
3…ボンディングパッド 8…スルホール 22…接続パッド

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板にその表面から突出して設けられかつ
    接続端子と接続される接続パッドにおいて、上端部の径
    を基部の径よりも小さくしたことを特徴とする接続パッ
    ド。
  2. 【請求項2】ICチップの接続端子と接続されるべきボ
    ンディングパッドと、上記ボンディングパッドに接続さ
    れたスルホールと、上記スルホールと接続された接続パ
    ッドとを有するICチップキャリアにおいて、上記接続
    パッドの上端部の径を基部の径よりも小さくしたことを
    特徴とするICチップキャリア。
JP31632399A 1999-11-08 1999-11-08 接続パッドおよびicチップキャリア Pending JP2001135746A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8144300B2 (en) 2004-07-23 2012-03-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Printed circuit board and display device using the same

Cited By (1)

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US8144300B2 (en) 2004-07-23 2012-03-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Printed circuit board and display device using the same

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