JP2001124815A5

JP2001124815A5 -

Info

Publication number: JP2001124815A5
Application number: JP2000272879A
Authority: JP
Filing date: 2000-09-08
Publication date: 2005-03-03
Anticipated expiration: 2020-09-08

Claims

プリント回路基板検査器において、該プリント回路基板検査器が、
電子分析器、
格子パターン平面において規則的なパターンに配列された接触点（２）の格子パターン（１）を含み、該接触点（２）は、該電子分析器（８）に電気的に接続され、該格子パターン（１）の数個の接触点（２）は、電気的に相互接続され、アダプタ及び／又はトランスレータにより該格子パターン（１）の該接触点（２）に接続可能な検査されるべき回路基板の検査点を電気的に走査することができるようになっており、
接触点狭側面（３）を各々が含む数個の格子ベース（４）が提供され、該接触点（２）は、該接触点狭側面（３）に配列され、
該格子ベース（４）は、トラックを備え、各トラックは、数個の接触点（２）に電気的に接続されると共に、該電子分析器（８）を接続するための端子接点（１４）に通じる端子接続（１３）を含むことにより、端子接点（１４）に数個の接触点（２）を電気的に接続し、該格子ベース（４）は、該格子パターン（１）を形成するための前記格子パターン平面内で接触点狭側面（３）に関して配列されることを特徴とするプリント回路基板検査器。
請求項１に記載の検査器において、
該格子ベース（４）は、表面を近接させて積み重ねられて配列される検査器。
請求項１又は２に記載の検査器において、
該格子ベース（４）は、各々多層的に構成され、各層は、電気的に絶縁するための中間層により他の層から分離され、前記各接触点は、前記接触点狭側面に対して横方向に延在している接触点トラック（９）に電気的に接続され、
数個のバストラック（１０）は、層の１つの表面上に設けられ、各接触点トラック（９）は、メッキされたスルーホール（１１）により前記バストラック（１０）の１つに電気的に接続される検査器。
請求項３に記載の検査器において、
層及び対応する中間層の厚さが、該格子パターン（１）の近接する接触点（２）の間隔に対応する検査器。
請求項３又は４に記載の検査器において、
該格子ベースの側面は、例えば、抵抗層又はプレプレッグ層である絶縁層を備える検査器。
請求項３乃至５のいずれかに記載の検査器において、
数個の接触点トラック（９）は、共通のバストラック（１０）に電気的に接続され、該接触点トラック（９）のうちの１つのみが、該電子分析器（８）を接続するための端子接続（１３）を備える検査器。
請求項１乃至６のいずれかに記載の検査器において、
各端子接続（１３）は、端子接点（１４）で終端され、近接する端子接点（１４）のセンタースペーシングは、該格子パターン（１）の近接する接触点（２）のセンタースペーシングよりも大きい検査器。
請求項７に記載の検査器において、
該格子ベース（４）の該端子接点（１４）は、該接触点狭側面（３）に対向する該狭側面（１２）上に配列される検査器。
請求項３乃至８のいずれかに記載の検査器において、
少なくとも２つの該バストラック（１０）が、電気的に相互接続される検査器。
請求項９に記載の検査器において、
端子接点（１４）のグループが、リンク基板により電気的に相互接続される検査器。
請求項９に記載の検査器において、
該バストラックは、該接触点狭側面（３）に対して横方向に延在している、該格子ベース（４）の側面領域まで延在しており、該バス接触点は、該格子ベースを介してあらかじめ形成されたバストラック（１０）をリンク基板により電気的に相互接続することができる該格子ベース上に形成される検査器。
請求項１乃至１１のいずれかに記載の検査器において、
前記格子パターン（１）が、近接する接触点（２）が各ケース内で電気的に相互接続された接触点の異なる配列に割り当てられているブロックに分割される検査器。