JP2001116770A - 測定機器及びマスク試験方法 - Google Patents
測定機器及びマスク試験方法Info
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Abstract
(57)【要約】
テレコム・マスクに対する多チャネル波形の試験を高速
で行う。 【課題】 【解決手段】 取り込み回路210が被試験回路からのＭ
個の信号の各々の波形サンプルを取り込み、制御器230
がマスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生す
る。これら波形サンプル及びマスク・ピクセル・データ
をラスタ・メモリ250に蓄積する。ラスタ化回路240は、
このメモリの記憶場所を読み取り、Ｍ個の入力信号の波
形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶
位置に書き込まれて、マスク衝突を生じたを判断する。
表示手段280、290にＭ個の入力信号波形の総及びマスク
を表示する。
で行う。 【課題】 【解決手段】 取り込み回路210が被試験回路からのＭ
個の信号の各々の波形サンプルを取り込み、制御器230
がマスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生す
る。これら波形サンプル及びマスク・ピクセル・データ
をラスタ・メモリ250に蓄積する。ラスタ化回路240は、
このメモリの記憶場所を読み取り、Ｍ個の入力信号の波
形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶
位置に書き込まれて、マスク衝突を生じたを判断する。
表示手段280、290にＭ個の入力信号波形の総及びマスク
を表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、測定機器
及び多チャネル・マスク試験方法に関し、特に、テレコ
ム（テレコミュニケーション）マスク機能を用いる測定
機器及び試験方法に関する。
及び多チャネル・マスク試験方法に関し、特に、テレコ
ム（テレコミュニケーション）マスク機能を用いる測定
機器及び試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】テレコミュニケーション業界において
は、ＩＴＵ−Ｔ（International Telecommunication Un
ion-Telecommunication Sector）やＡＮＳＩ（American
National Standards Institute）などの通信標準化団
体が定めたパラメータに特定信号が適合するか否かの判
断を行う試験は一般的である。係る適合試験を行う主要
な方法では、オシロスコープにより取り込んだ波形のパ
ルス形状を「マスク」波形と比較する。このマスクは、
最小及び最大振幅値、所定のビット・レート、信号エッ
ジの所定の最小傾き（即ち、最小帯域幅）を有する経路
（２個のマスクの間の経路）を定義する。被試験信号が
経路の境界内に入る場合、この信号は試験を合格する。
この種の試験は、テレコム・マスク試験として知られて
いる。
は、ＩＴＵ−Ｔ（International Telecommunication Un
ion-Telecommunication Sector）やＡＮＳＩ（American
National Standards Institute）などの通信標準化団
体が定めたパラメータに特定信号が適合するか否かの判
断を行う試験は一般的である。係る適合試験を行う主要
な方法では、オシロスコープにより取り込んだ波形のパ
ルス形状を「マスク」波形と比較する。このマスクは、
最小及び最大振幅値、所定のビット・レート、信号エッ
ジの所定の最小傾き（即ち、最小帯域幅）を有する経路
（２個のマスクの間の経路）を定義する。被試験信号が
経路の境界内に入る場合、この信号は試験を合格する。
この種の試験は、テレコム・マスク試験として知られて
いる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】オシロスコープにおけ
る最近の新機能は、「マスクへの自動設定（AUTOSET TO
MASK）」である。（以下、この機能をマスク自動設定機
能と呼ぶ。）このマスク自動設定機能は、期待した信号
に適合するようにオシロスコープの水平、垂直及びトリ
ガの設定を自動的に設定して、オシロスコープの表示上
でマスクを重ねることである。自動設定マスク機能の操
作手順では、水平及び垂直のスケール（倍率）を規定値
に設定し、波形を取り込み、入力Ａ／Ｄ変換器の設定を
調整して波形のスケール（倍率／大きさ）及び位置を調
整し、マスクを表示する。
る最近の新機能は、「マスクへの自動設定（AUTOSET TO
MASK）」である。（以下、この機能をマスク自動設定機
能と呼ぶ。）このマスク自動設定機能は、期待した信号
に適合するようにオシロスコープの水平、垂直及びトリ
ガの設定を自動的に設定して、オシロスコープの表示上
でマスクを重ねることである。自動設定マスク機能の操
作手順では、水平及び垂直のスケール（倍率）を規定値
に設定し、波形を取り込み、入力Ａ／Ｄ変換器の設定を
調整して波形のスケール（倍率／大きさ）及び位置を調
整し、マスクを表示する。
【０００４】マスク自動設定機能により、取り込み波形
をセットアップ（調整）して、マスクを表示した後に、
テレコム・マスク（以下、単に、マスクと呼ぶこともあ
る）試験ソフトウェアにより、被試験波形がマスク領域
に侵入（即ち、波形とマスクの衝突、又はマスク・ヒッ
ト）していないかをチェックする。波形とマスクとが衝
突している場合、この波形は、適切なテレコミュニケー
ション規格に適応していない。
をセットアップ（調整）して、マスクを表示した後に、
テレコム・マスク（以下、単に、マスクと呼ぶこともあ
る）試験ソフトウェアにより、被試験波形がマスク領域
に侵入（即ち、波形とマスクの衝突、又はマスク・ヒッ
ト）していないかをチェックする。波形とマスクとが衝
突している場合、この波形は、適切なテレコミュニケー
ション規格に適応していない。
【０００５】テレコミュニケーション分野において、高
いコア及びアクセス・データ・レートには、ネットワー
ク・インタフェース・カードとして知られている大容量
のライン・カードが必要なことが認められる。かかる大
容量ライン・カードは、ＳＴＭ（Synchronous Transpor
t Module）１Ｅ信号（１秒当たり１５６Ｍビット）を６
３チャネルのＥ１信号（１秒当たり２Ｍビット）にダウ
ン・コンバート（ビット・レートを下げる）できる。多
チャネル装置は、ネットワーク・インタフェース・カー
ドに合うように設計されているので、多チャネルの合格
／不合格（pass/fail）試験を高速で行うことが必要で
重要となる。
いコア及びアクセス・データ・レートには、ネットワー
ク・インタフェース・カードとして知られている大容量
のライン・カードが必要なことが認められる。かかる大
容量ライン・カードは、ＳＴＭ（Synchronous Transpor
t Module）１Ｅ信号（１秒当たり１５６Ｍビット）を６
３チャネルのＥ１信号（１秒当たり２Ｍビット）にダウ
ン・コンバート（ビット・レートを下げる）できる。多
チャネル装置は、ネットワーク・インタフェース・カー
ドに合うように設計されているので、多チャネルの合格
／不合格（pass/fail）試験を高速で行うことが必要で
重要となる。
【０００６】テレコム信号をテレコミュニケーション規
格に適合させるために、テレコミュニケーション機器の
多チャネルのテレコム信号を高速に試験できるようにす
ることが求められている。
格に適合させるために、テレコミュニケーション機器の
多チャネルのテレコム信号を高速に試験できるようにす
ることが求められている。
【０００７】したがって、本発明の目的は、テレコミュ
ニケーション機器の多チャネルのテレコム信号を高速に
試験できる測定機器及びマスク試験方法を提供すること
である。
ニケーション機器の多チャネルのテレコム信号を高速に
試験できる測定機器及びマスク試験方法を提供すること
である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、多チャネル用
マスク試験を行う測定機器であって；被試験回路からの
Ｍ個の信号を受けるＭ個の信号入力端と、これらＭ個の
信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々の波形
サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と；マスク
を定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器
（２３０）と；波形サンプルと、マスクであることを示
すデータ値を有するマスクのピクセル・データとを蓄積
するメモリ（２５０）と；このメモリの記憶場所を読み
取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの信号の取り込んだ
波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記
憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるたを判断す
る比較回路（２４０）と；Ｍ個の信号入力端からの波形
の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う表示手段
（２８０、２９０）とを具えている。また、本発明は、
多チャネルのマスク試験を行う測定システムであって；
Ｎ個の入力チャネル及びＭ個の出力チャネルを有し（Ｎ
はＭより大きく、Ｍは１よりも大きい）、第１制御信号
に応答して、Ｍ個の出力チャネルのグループに対するＮ
個の入力チャネルからの選択を同時に行うマルチプレク
サ（５２０）と；第２制御信号に応答して動作する測定
機器（５３０）と；マルチプレクサ及び測定機器に結合
され、これら第１及び第２制御信号を発生する制御手段
（５４０）とを具え；Ｎ個の入力チャネルの各々が、被
試験回路（５１０）のＮ個の出力チャネルの夫々からの
信号を受け；測定機器（５３０）が、Ｍ個の出力チャネ
ルの各々に夫々結合されたＭ個の信号入力端と、これら
Ｍ個の信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々
の波形サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と、
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する
制御器（２３０）と、波形サンプル及びマスクであるこ
とを示すデータ値を有するマスクのピクセル・データと
を蓄積するメモリ（２５０）と、このメモリの記憶場所
を読み取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの上記信号の
取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積
している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じる
かを判断する比較回路（２４０）と、Ｍ個の信号入力端
からの波形の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う
表示手段（２８０、２９０）とを有することを特徴とし
ている。さらに、本発明は、マスク試験機能を有する測
定機器を含む測定システムにおいて多チャネル・マスク
試験を行う方法であって；Ｎ個のチャネルのグループか
ら同時にＭ個のチャネルを選択し；Ｍ個のチャネルに結
合したＭ個の入力チャネルの波形サンプルを取り込み；
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生し；
波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有
するマスクのピクセル・データとをメモリに蓄積し；こ
のメモリの記憶場所を読み取って、マスク・ピクセル・
データ及び波形サンプル・データを比較して、取り込ん
だ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している
記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断
し；波形サンプルをラスタ・メモリに展開し；マスク及
びＭ個の波形を表示スクリーンに同時に表示することを
特徴としている。
マスク試験を行う測定機器であって；被試験回路からの
Ｍ個の信号を受けるＭ個の信号入力端と、これらＭ個の
信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々の波形
サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と；マスク
を定義するマスク・ピクセル・データを発生する制御器
（２３０）と；波形サンプルと、マスクであることを示
すデータ値を有するマスクのピクセル・データとを蓄積
するメモリ（２５０）と；このメモリの記憶場所を読み
取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの信号の取り込んだ
波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記
憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるたを判断す
る比較回路（２４０）と；Ｍ個の信号入力端からの波形
の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う表示手段
（２８０、２９０）とを具えている。また、本発明は、
多チャネルのマスク試験を行う測定システムであって；
Ｎ個の入力チャネル及びＭ個の出力チャネルを有し（Ｎ
はＭより大きく、Ｍは１よりも大きい）、第１制御信号
に応答して、Ｍ個の出力チャネルのグループに対するＮ
個の入力チャネルからの選択を同時に行うマルチプレク
サ（５２０）と；第２制御信号に応答して動作する測定
機器（５３０）と；マルチプレクサ及び測定機器に結合
され、これら第１及び第２制御信号を発生する制御手段
（５４０）とを具え；Ｎ個の入力チャネルの各々が、被
試験回路（５１０）のＮ個の出力チャネルの夫々からの
信号を受け；測定機器（５３０）が、Ｍ個の出力チャネ
ルの各々に夫々結合されたＭ個の信号入力端と、これら
Ｍ個の信号入力端に結合され、Ｍ個の信号入力端の各々
の波形サンプルを取り込む取り込み回路（２１０）と、
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する
制御器（２３０）と、波形サンプル及びマスクであるこ
とを示すデータ値を有するマスクのピクセル・データと
を蓄積するメモリ（２５０）と、このメモリの記憶場所
を読み取り、Ｍ個の信号入力端の各々からの上記信号の
取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積
している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じる
かを判断する比較回路（２４０）と、Ｍ個の信号入力端
からの波形の総てと、マスクとを表す表示を同時に行う
表示手段（２８０、２９０）とを有することを特徴とし
ている。さらに、本発明は、マスク試験機能を有する測
定機器を含む測定システムにおいて多チャネル・マスク
試験を行う方法であって；Ｎ個のチャネルのグループか
ら同時にＭ個のチャネルを選択し；Ｍ個のチャネルに結
合したＭ個の入力チャネルの波形サンプルを取り込み；
マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生し；
波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値を有
するマスクのピクセル・データとをメモリに蓄積し；こ
のメモリの記憶場所を読み取って、マスク・ピクセル・
データ及び波形サンプル・データを比較して、取り込ん
だ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している
記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生じるかを判断
し；波形サンプルをラスタ・メモリに展開し；マスク及
びＭ個の波形を表示スクリーンに同時に表示することを
特徴としている。
【０００９】本発明の実施例によれば、Ｍ個の信号入力
チャネルを有する測定機器において、各チャネルからの
信号を表す個別のサンプル（波形サンプル）をマスク・
ピクセルと比較して、所定規格に適合するかしないかを
検出する。オシロスコープ（測定機器）の表示スクリー
ン上のマスク及び波形の初期位置は、マスク自動設定機
能で決める。ラスタ化回路（ラスタライザ）によりピク
セルをラスタ・メモリに展開する際に、マスク・ピクセ
ルと波形ピクセルとを比較して、波形ピクセル及びマス
ク・ピクセルの間の衝突（即ち、マスク・バイオレーシ
ョン）を略実時間で検出できる。取り込みは、同時且つ
繰り返し行われる。Ｍ個の信号入力チャネルの総てから
の取り込み波形は、後続の取り込み期間中に、マスクと
順次比較されて、スクリーンに描かれる。よって、略単
一の取り込み期間内に、Ｍ個の波形がテレコム・マスク
と適合するかを試験できる。マルチプレクサを用いたシ
ステムは、Ｎ個のチャネルのグループからＭ個のチャネ
ルを同時に選択して、Ｎ個のチャネルの総てを試験する
のに要する時間を短縮する。テレコム・マスクとの衝突
を視覚的に一層判りやすくするために、マスクと衝突し
たサンプルを表すピクセルの輝度を高くするのが好まし
い。
チャネルを有する測定機器において、各チャネルからの
信号を表す個別のサンプル（波形サンプル）をマスク・
ピクセルと比較して、所定規格に適合するかしないかを
検出する。オシロスコープ（測定機器）の表示スクリー
ン上のマスク及び波形の初期位置は、マスク自動設定機
能で決める。ラスタ化回路（ラスタライザ）によりピク
セルをラスタ・メモリに展開する際に、マスク・ピクセ
ルと波形ピクセルとを比較して、波形ピクセル及びマス
ク・ピクセルの間の衝突（即ち、マスク・バイオレーシ
ョン）を略実時間で検出できる。取り込みは、同時且つ
繰り返し行われる。Ｍ個の信号入力チャネルの総てから
の取り込み波形は、後続の取り込み期間中に、マスクと
順次比較されて、スクリーンに描かれる。よって、略単
一の取り込み期間内に、Ｍ個の波形がテレコム・マスク
と適合するかを試験できる。マルチプレクサを用いたシ
ステムは、Ｎ個のチャネルのグループからＭ個のチャネ
ルを同時に選択して、Ｎ個のチャネルの総てを試験する
のに要する時間を短縮する。テレコム・マスクとの衝突
を視覚的に一層判りやすくするために、マスクと衝突し
たサンプルを表すピクセルの輝度を高くするのが好まし
い。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の理解を助けるために、図
５を参照して、従来技術を更に説明する。図５は、従来
技術の多チャネル・テレコム・マスク試験装置１００の
簡略化したブロック図である。被試験ライン・カード
（被試験回路）１１０は、テレコム規格に適合するかを
試験するＮ個のチャネルのテレコム信号を含んでいる。
これらＮ個のチャネル（典型的には、６３チャネル）を
Ｎ対１のマルチプレクサ１２０（Ｎ個の入力の１つを選
択して出力するマルチプレクサ：典型的には、６３対１
のマルチプレクサ）に供給する。マルチプレクサ１２０
の単一の出力信号は、テレコム・マスク試験機能を有す
るオシロスコープ１３０の単一チャネルの信号入力端子
に供給する。
５を参照して、従来技術を更に説明する。図５は、従来
技術の多チャネル・テレコム・マスク試験装置１００の
簡略化したブロック図である。被試験ライン・カード
（被試験回路）１１０は、テレコム規格に適合するかを
試験するＮ個のチャネルのテレコム信号を含んでいる。
これらＮ個のチャネル（典型的には、６３チャネル）を
Ｎ対１のマルチプレクサ１２０（Ｎ個の入力の１つを選
択して出力するマルチプレクサ：典型的には、６３対１
のマルチプレクサ）に供給する。マルチプレクサ１２０
の単一の出力信号は、テレコム・マスク試験機能を有す
るオシロスコープ１３０の単一チャネルの信号入力端子
に供給する。
【００１１】動作において、オシロスコープ１３０は、
信号を取り込み、その信号がマスク試験を合格したか不
合格かを判断する。次に、このシーケンスをＮ回、例え
ば、６３回繰り返して、ライン・カード１１０の各チャ
ネルをチェックする。マルチプレクサ１２０及びオシロ
スコープ１３０は、ＧＰＩＢ制御器１４０により制御さ
れる。ＧＰＩＢ制御器１４０は、ＧＰＩＢ（汎用インタ
フェース・バス）制御機能を有するマイクロプロセッ
サ、マイクロコンピュータ、又は専用ＡＳＩＣ制御器で
もよい。図５の装置において、１度に、１つのチャネル
のみをマスクに対して試験する。したがって、ＧＰＩＢ
制御器１４０は、６３個の独立したスイッチング制御命
令をマルチプレクサ１２０に送らなければならない。マ
ルチプレクサの各切替選択の後に、整定時間（セットリ
ング・タイム）が必要な場合、ライン・カード１１０の
全体を試験する総合時間が延びる。多チャネル・ライン
・カードの試験速度は、テレコム分野において非常に重
要なことが理解できよう。
信号を取り込み、その信号がマスク試験を合格したか不
合格かを判断する。次に、このシーケンスをＮ回、例え
ば、６３回繰り返して、ライン・カード１１０の各チャ
ネルをチェックする。マルチプレクサ１２０及びオシロ
スコープ１３０は、ＧＰＩＢ制御器１４０により制御さ
れる。ＧＰＩＢ制御器１４０は、ＧＰＩＢ（汎用インタ
フェース・バス）制御機能を有するマイクロプロセッ
サ、マイクロコンピュータ、又は専用ＡＳＩＣ制御器で
もよい。図５の装置において、１度に、１つのチャネル
のみをマスクに対して試験する。したがって、ＧＰＩＢ
制御器１４０は、６３個の独立したスイッチング制御命
令をマルチプレクサ１２０に送らなければならない。マ
ルチプレクサの各切替選択の後に、整定時間（セットリ
ング・タイム）が必要な場合、ライン・カード１１０の
全体を試験する総合時間が延びる。多チャネル・ライン
・カードの試験速度は、テレコム分野において非常に重
要なことが理解できよう。
【００１２】図５に示す構成では、オシロスコープは、
テレコム・マスクに対して２チャネル以上をほぼ同時に
（例えば、１回の信号取り込み以内に）試験できないこ
とに留意されたい。
テレコム・マスクに対して２チャネル以上をほぼ同時に
（例えば、１回の信号取り込み以内に）試験できないこ
とに留意されたい。
【００１３】一方、本発明は、図１に示すようなハード
ウェア・アーキテクチャにより、多チャネル・ライン・
カード（被試験回路）のテレコム試験を実施するのに要
する時間を大幅に短縮できるという利点がある。図１
は、本発明の好適実施例の簡略化したブロック図であ
り、本発明を実施するのに有効な４チャネル・デジタル
・オシロスコープ（測定機器）２００を示す。かかるオ
シロスコープ２００は、例えば、本願出願人のテクトロ
ニクス・インコーポレイテッド製ＴＤＳ３０５４型デジ
タル・フォスファ・オシロスコープ（ＤＰＯ）でもよ
い。信号入力端の入力信号を取り込み回路２１０に供給
する。この取り込み回路２１０は、Ａ／Ｄ（アナログ・
デジタル）変換器２１９を具えている。取り込み回路２
１０は、供給された入力信号を高速で略連続的にサンプ
リングし、取り込んだサンプル（波形サンプル）を取り
込みメモリ２２０に蓄積する。
ウェア・アーキテクチャにより、多チャネル・ライン・
カード（被試験回路）のテレコム試験を実施するのに要
する時間を大幅に短縮できるという利点がある。図１
は、本発明の好適実施例の簡略化したブロック図であ
り、本発明を実施するのに有効な４チャネル・デジタル
・オシロスコープ（測定機器）２００を示す。かかるオ
シロスコープ２００は、例えば、本願出願人のテクトロ
ニクス・インコーポレイテッド製ＴＤＳ３０５４型デジ
タル・フォスファ・オシロスコープ（ＤＰＯ）でもよ
い。信号入力端の入力信号を取り込み回路２１０に供給
する。この取り込み回路２１０は、Ａ／Ｄ（アナログ・
デジタル）変換器２１９を具えている。取り込み回路２
１０は、供給された入力信号を高速で略連続的にサンプ
リングし、取り込んだサンプル（波形サンプル）を取り
込みメモリ２２０に蓄積する。
【００１４】動作において、デジタル・オシロスコープ
２００は、複数のプローブ（図示せず）が接触した被試
験回路の複数の個別ノードに存在する電圧を周期的にサ
ンプリングして、入力信号（即ち、波形）の動きに関す
る情報を取り込む。上述の如く、図１のオシロスコープ
２００は、ＴＤＳ３０５４型ＤＰＯの如き４チャネル・
デジタル・オシロスコープである。４チャネルが好まし
いが、本発明は、２チャネル・オシロスコープでも有効
である。オシロスコープ・プローブ及びオシロスコープ
２００の入力段は、入力信号を正確に再現するように、
又は、この入力信号を所定の倍率で減衰又は増幅して、
Ａ／Ｄ変換器２１９に供給するように設計されている。
Ａ／Ｄ変換器２１９の出力信号は、一連の多ビット・デ
ジタル・ワードであり、取り込みメモリ２２０に蓄積さ
れる。連続的に取り込んだ複数サンプルを取り込みメモ
リ２２０内の関連した連続アドレスの記憶場所に蓄積す
る。なお、これらサンプルは、時間軸（タイム・スケー
ル）に関連している。比較器であるラスタ化回路（ラス
タライザ）２４０が、これらアドレスにおけるデータを
結局はタイム・スケールに戻し、ラスタ・メモリ２５０
に蓄積する。輝度又はカラー・マッピング回路（マッパ
ー：輝度又は色を割り当てる回路）２８０の如き表示ハ
ードウェアにより、ラスタ・メモリ２５０の内容を読み
出し、データをラスタ走査表示器２９０に供給する。上
述のタイム・スケールは、オシロスコープのラスタ走査
表示器２９０のＸ軸に沿った水平距離として示される。
これらマッピング回路２８０及び表示器２９０が表示手
段を構成する。
２００は、複数のプローブ（図示せず）が接触した被試
験回路の複数の個別ノードに存在する電圧を周期的にサ
ンプリングして、入力信号（即ち、波形）の動きに関す
る情報を取り込む。上述の如く、図１のオシロスコープ
２００は、ＴＤＳ３０５４型ＤＰＯの如き４チャネル・
デジタル・オシロスコープである。４チャネルが好まし
いが、本発明は、２チャネル・オシロスコープでも有効
である。オシロスコープ・プローブ及びオシロスコープ
２００の入力段は、入力信号を正確に再現するように、
又は、この入力信号を所定の倍率で減衰又は増幅して、
Ａ／Ｄ変換器２１９に供給するように設計されている。
Ａ／Ｄ変換器２１９の出力信号は、一連の多ビット・デ
ジタル・ワードであり、取り込みメモリ２２０に蓄積さ
れる。連続的に取り込んだ複数サンプルを取り込みメモ
リ２２０内の関連した連続アドレスの記憶場所に蓄積す
る。なお、これらサンプルは、時間軸（タイム・スケー
ル）に関連している。比較器であるラスタ化回路（ラス
タライザ）２４０が、これらアドレスにおけるデータを
結局はタイム・スケールに戻し、ラスタ・メモリ２５０
に蓄積する。輝度又はカラー・マッピング回路（マッパ
ー：輝度又は色を割り当てる回路）２８０の如き表示ハ
ードウェアにより、ラスタ・メモリ２５０の内容を読み
出し、データをラスタ走査表示器２９０に供給する。上
述のタイム・スケールは、オシロスコープのラスタ走査
表示器２９０のＸ軸に沿った水平距離として示される。
これらマッピング回路２８０及び表示器２９０が表示手
段を構成する。
【００１５】従来技術と同様に、ラスタは、水平行と垂
直列とで構成されている。各行は、垂直軸（Ｙ軸）に沿
った位置番号で識別され、各列は、水平軸（Ｘ軸）に沿
った位置番号で識別される。典型的には、デジタル・オ
シロスコープにおいて、取り込みメモリの記憶場所のデ
ータ内容から得た電圧振幅値が、輝度の高いピクセルの
垂直位置（行番号）を決定し、取り込みメモリのアドレ
スから得た時間値が水平位置（列番号）を決定する。取
り込みメモリの内容及びアドレスを処理して、２次元ラ
スタ・メモリの内容を発生することは、「ラスタ化」と
して知られている。よって、ラスタ化を行う回路がラス
タ化回路（ラスタライザ）である。
直列とで構成されている。各行は、垂直軸（Ｙ軸）に沿
った位置番号で識別され、各列は、水平軸（Ｘ軸）に沿
った位置番号で識別される。典型的には、デジタル・オ
シロスコープにおいて、取り込みメモリの記憶場所のデ
ータ内容から得た電圧振幅値が、輝度の高いピクセルの
垂直位置（行番号）を決定し、取り込みメモリのアドレ
スから得た時間値が水平位置（列番号）を決定する。取
り込みメモリの内容及びアドレスを処理して、２次元ラ
スタ・メモリの内容を発生することは、「ラスタ化」と
して知られている。よって、ラスタ化を行う回路がラス
タ化回路（ラスタライザ）である。
【００１６】ラスタ化回路２４０は、取り込みメモリ２
２０の内容を読み出し、ラスタ・メモリ２５０の関連し
た記憶場所の内容を読み出し、これら２種類の内容を組
み合わせて（即ち、複合化して）、その結果の値をラス
タ・メモリ２５０に蓄積する。このように、ラスタ化回
路の出力をラスタ・メモリにピクセル・データとして蓄
積することを、本明細書では「展開」と呼ぶ。ほぼ同時
に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０は、ラスタ・メモ
リ２５０の内容を読み出し、これらデータを所定レート
で減衰させて、減衰させた値をラスタ・メモリ２５０に
蓄積して、後で表示する。この減衰機能により、デジタ
ル・オシロスコープの表示がアナログ・オシロスコープ
と同様に時間経過に伴って表示が減衰するようになる。
なお、同じ波形の繰り返しならば、常に同じ波形が書き
込まれるため、実質的に減衰が生じないように見える。
上述の総ての機能は、制御器（制御手段）２３０の制御
下で動作する。この制御器２３０は、例えば、パワーＰ
ＣＧ３マイクロプロセッサや、専用ＡＳＩＣでもよく、
また、これらの代わりに、制御器２３０を多数のプロセ
ッサで実現してもよい。４個の入力装置が制御器２３０
に結合している。
２０の内容を読み出し、ラスタ・メモリ２５０の関連し
た記憶場所の内容を読み出し、これら２種類の内容を組
み合わせて（即ち、複合化して）、その結果の値をラス
タ・メモリ２５０に蓄積する。このように、ラスタ化回
路の出力をラスタ・メモリにピクセル・データとして蓄
積することを、本明細書では「展開」と呼ぶ。ほぼ同時
に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０は、ラスタ・メモ
リ２５０の内容を読み出し、これらデータを所定レート
で減衰させて、減衰させた値をラスタ・メモリ２５０に
蓄積して、後で表示する。この減衰機能により、デジタ
ル・オシロスコープの表示がアナログ・オシロスコープ
と同様に時間経過に伴って表示が減衰するようになる。
なお、同じ波形の繰り返しならば、常に同じ波形が書き
込まれるため、実質的に減衰が生じないように見える。
上述の総ての機能は、制御器（制御手段）２３０の制御
下で動作する。この制御器２３０は、例えば、パワーＰ
ＣＧ３マイクロプロセッサや、専用ＡＳＩＣでもよく、
また、これらの代わりに、制御器２３０を多数のプロセ
ッサで実現してもよい。４個の入力装置が制御器２３０
に結合している。
【００１７】ラスタ・メモリ２５０の詳細を図２にラス
タ・メモリ３５０として示す。ラスタ・メモリ３５０
は、３個のプレーン・メモリ、即ち、グレー・スケール
（ＧＳ）プレーン３５３、ベクトル・プレーン３５４及
びＵＩ（ユーザ・インタフェース）プレーン３５６を具
えている。この構成をメモリ「プレーン」として考える
ことは容易であるが、これらは、高速ＳＲＡＭ表示メモ
リが実際に隣接したブロックであることが当業者には理
解できよう。
タ・メモリ３５０として示す。ラスタ・メモリ３５０
は、３個のプレーン・メモリ、即ち、グレー・スケール
（ＧＳ）プレーン３５３、ベクトル・プレーン３５４及
びＵＩ（ユーザ・インタフェース）プレーン３５６を具
えている。この構成をメモリ「プレーン」として考える
ことは容易であるが、これらは、高速ＳＲＡＭ表示メモ
リが実際に隣接したブロックであることが当業者には理
解できよう。
【００１８】波形データは、ラスタ化回路２４０によ
り、グレー・スケール・プレーン３５３に書き込まれ
る。また、制御器２３０が発生したマスク・データも、
後述のように、グレー・スケール・プレーン３５３に書
き込まれる。（なお、後述のように、マスク・データを
ベクトル・プレーン２５４に書き込むこともある。）こ
のグレー・スケール・プレーン３５３は、５１２×４０
２のマトリクスに配置された２０５８２４個のメモリ記
憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は、９ビットの
長さがある。これら９ビットが輝度及び色を定義すると
共に、そのピクセルがマスク・ピクセルであるか波形ピ
クセルであるかも定義する。
り、グレー・スケール・プレーン３５３に書き込まれ
る。また、制御器２３０が発生したマスク・データも、
後述のように、グレー・スケール・プレーン３５３に書
き込まれる。（なお、後述のように、マスク・データを
ベクトル・プレーン２５４に書き込むこともある。）こ
のグレー・スケール・プレーン３５３は、５１２×４０
２のマトリクスに配置された２０５８２４個のメモリ記
憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は、９ビットの
長さがある。これら９ビットが輝度及び色を定義すると
共に、そのピクセルがマスク・ピクセルであるか波形ピ
クセルであるかも定義する。
【００１９】ベクトル・プレーン３５４を用いて、演算
処理（例えば、チャネル１及びチャネル２からの信号の
和）結果の波形を表示するか、又は、以前に蓄積した基
準波形を表示する。ベクトル・プレーン３５４は、５１
２×４０２のマトリクスに配置された２０５８２４個の
メモリ記憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は２ビ
ットの長さである。なお、この２ビットは、所定ピクセ
ルに対して、３レベルの輝度と、オフ状態とを定義する
点に留意されたい。
処理（例えば、チャネル１及びチャネル２からの信号の
和）結果の波形を表示するか、又は、以前に蓄積した基
準波形を表示する。ベクトル・プレーン３５４は、５１
２×４０２のマトリクスに配置された２０５８２４個の
メモリ記憶場所の配列であり、各メモリ記憶場所は２ビ
ットの長さである。なお、この２ビットは、所定ピクセ
ルに対して、３レベルの輝度と、オフ状態とを定義する
点に留意されたい。
【００２０】ユーザ・インタフェース・プレーン３５６
を用いて、テキスト文字に関連したピクセル・データを
蓄積するが、このプレーン３５６は、６４０×４８０の
スクリーン領域全体をカバーする。よって、ユーザ・イ
ンタフェース・プレーン３５６は、６４０×４８０マト
リクスに配置された３０７２００個のメモリ記憶場所の
配列であり、各メモリ記憶場所は、４ビットの長さであ
る。この４ビットにより、所定ピクセルの色及び輝度を
定義する。
を用いて、テキスト文字に関連したピクセル・データを
蓄積するが、このプレーン３５６は、６４０×４８０の
スクリーン領域全体をカバーする。よって、ユーザ・イ
ンタフェース・プレーン３５６は、６４０×４８０マト
リクスに配置された３０７２００個のメモリ記憶場所の
配列であり、各メモリ記憶場所は、４ビットの長さであ
る。この４ビットにより、所定ピクセルの色及び輝度を
定義する。
【００２１】表示読出しハードウェア・ユニット３８０
により、３個のプレーン３５３、３５４及び３５６から
出力信号を読み出して組み合わせ、典型的には、６０Ｈ
ｚレートで表示を行う。このユニット３８０の出力信号
が輝度又はカラー・マッピング回路２８０に供給され
る。
により、３個のプレーン３５３、３５４及び３５６から
出力信号を読み出して組み合わせ、典型的には、６０Ｈ
ｚレートで表示を行う。このユニット３８０の出力信号
が輝度又はカラー・マッピング回路２８０に供給され
る。
【００２２】図３は、オシロスコープの表示スクリーン
の表示を示す図であり、この表示には、典型的なテレコ
ム・マスクの２個の部分４１０及び４２０が含まれてい
る。図１の制御器２３０は、表示メモリ（ラスタ・メモ
リ２５０）内に、制御器２３０からのテレコム・マスク
を描画する。このテレコム・マスクは、蓄積された一連
のＸ−Ｙポイントにより定義される一連のポリゴン（例
えば、台形）として描画される。このテレコム・マスク
は、その最終的な目的に応じて、２個のメモリ・プレー
ン３５３、３５４のいずれに書き込んでもよい。その目
的が単にテレコム・マスクを観察する場合や、スクリー
ンでテレコム・マスクを移動させる場合、このテレコム
・マスクをベクトル・プレーン３５４に描画する。しか
し、その目的が、マスク自動設定機能において、波形デ
ータと比較するためならば、テレコム・マスクをグレー
・スケール・プレーン３５３に描画する。これは、波形
データ及びテレコム・マスク・データをラスタ・メモリ
２５０のグレー・スケール・プレーン３５３に描画すれ
ば、波形データ及びテレコム・マスク・データの間の衝
突を検出するために（即ち、波形及びマスクの衝突の判
断のために）、ラスタ化回路２４０が波形データ及びテ
レコム・データを比較する際に、グレー・スケール・プ
レーン３５３のみにアクセスすればよいためである。な
お、ラスタ化回路２４０は、比較回路として機能し、波
形をラスタ・メモリ２５０に展開する際に、この波形と
ラスタ・メモリ２５０に蓄積されたマスクとを比較し
て、マスク及び波形が衝突していないか否かを判断し、
衝突した場合に衝突信号を発生する機能も備えている。
の表示を示す図であり、この表示には、典型的なテレコ
ム・マスクの２個の部分４１０及び４２０が含まれてい
る。図１の制御器２３０は、表示メモリ（ラスタ・メモ
リ２５０）内に、制御器２３０からのテレコム・マスク
を描画する。このテレコム・マスクは、蓄積された一連
のＸ−Ｙポイントにより定義される一連のポリゴン（例
えば、台形）として描画される。このテレコム・マスク
は、その最終的な目的に応じて、２個のメモリ・プレー
ン３５３、３５４のいずれに書き込んでもよい。その目
的が単にテレコム・マスクを観察する場合や、スクリー
ンでテレコム・マスクを移動させる場合、このテレコム
・マスクをベクトル・プレーン３５４に描画する。しか
し、その目的が、マスク自動設定機能において、波形デ
ータと比較するためならば、テレコム・マスクをグレー
・スケール・プレーン３５３に描画する。これは、波形
データ及びテレコム・マスク・データをラスタ・メモリ
２５０のグレー・スケール・プレーン３５３に描画すれ
ば、波形データ及びテレコム・マスク・データの間の衝
突を検出するために（即ち、波形及びマスクの衝突の判
断のために）、ラスタ化回路２４０が波形データ及びテ
レコム・データを比較する際に、グレー・スケール・プ
レーン３５３のみにアクセスすればよいためである。な
お、ラスタ化回路２４０は、比較回路として機能し、波
形をラスタ・メモリ２５０に展開する際に、この波形と
ラスタ・メモリ２５０に蓄積されたマスクとを比較し
て、マスク及び波形が衝突していないか否かを判断し、
衝突した場合に衝突信号を発生する機能も備えている。
【００２３】図３において、オシロスコープの表示スク
リーン４００は、碁盤目状の目盛りを有する波形表示領
域と、この波形表示領域の右側及び下側の文字（絵文字
及び数字を含む）表示領域とから構成されている。波形
表示領域に表示されたテレコム・マスクは、上側部分４
１０及び下側部分４２０を有する。上側領域４１０及び
下側領域４２０の各々は、複数ポリゴン（例えば、台
形）から構成された複数の個別セグメントから構成され
ている。文字表示領域には、ユーザ・インタフェース・
プレーン３５６の記憶内容に基づいて、オシロスコープ
の設定情報等（メニュー）が表示されているが、本発明
の要旨ではないと共に、一般的なデジタル・オシロスコ
ープの設定情報の表示なので、詳細な説明を省略し、そ
の一部についてのみ後述する。
リーン４００は、碁盤目状の目盛りを有する波形表示領
域と、この波形表示領域の右側及び下側の文字（絵文字
及び数字を含む）表示領域とから構成されている。波形
表示領域に表示されたテレコム・マスクは、上側部分４
１０及び下側部分４２０を有する。上側領域４１０及び
下側領域４２０の各々は、複数ポリゴン（例えば、台
形）から構成された複数の個別セグメントから構成され
ている。文字表示領域には、ユーザ・インタフェース・
プレーン３５６の記憶内容に基づいて、オシロスコープ
の設定情報等（メニュー）が表示されているが、本発明
の要旨ではないと共に、一般的なデジタル・オシロスコ
ープの設定情報の表示なので、詳細な説明を省略し、そ
の一部についてのみ後述する。
【００２４】マスク自動設定機能は、表示スクリーン上
にテレコム・マスク４１０及び４２０を配置し（即ち、
ラスタ・メモリ２５０に書込み）、波形４３０、４４
０、４５０及び４６０を取り込み、公称値に調整すると
仮定する。上述のマスク自動設定機能の一部は、マスク
領域内での任意のピクセル・データの制御を行うと共
に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０による減衰を阻止
する（よって、マスクを連続的に再描画する必要がな
い）。
にテレコム・マスク４１０及び４２０を配置し（即ち、
ラスタ・メモリ２５０に書込み）、波形４３０、４４
０、４５０及び４６０を取り込み、公称値に調整すると
仮定する。上述のマスク自動設定機能の一部は、マスク
領域内での任意のピクセル・データの制御を行うと共
に、多機能ラスタ減衰ユニット２７０による減衰を阻止
する（よって、マスクを連続的に再描画する必要がな
い）。
【００２５】新たなデータをラスタ・メモリ２５０のグ
レー・スケール・プレーン３５３に書き込む前に、この
グレー・スケール・プレーン３５３の関連した記憶場所
から既存のデータが読出される点に留意されたい。この
既存データを新たなデータと組み合わせて、グレー・ス
ケール機能の内で、増分されたピクセル・データ（即
ち、輝度が高くなるピクセル・データ）を実現する。グ
レー・スケール機能の内で減分されたピクセル・データ
（即ち、輝度の低くなるデータ）は、多機能ラスタ減衰
ユニット２７０で実現する。この組み合わせたデータを
ラスタ・メモリ２５０のグレー・スケール・プレーン３
５３に書き戻す。
レー・スケール・プレーン３５３に書き込む前に、この
グレー・スケール・プレーン３５３の関連した記憶場所
から既存のデータが読出される点に留意されたい。この
既存データを新たなデータと組み合わせて、グレー・ス
ケール機能の内で、増分されたピクセル・データ（即
ち、輝度が高くなるピクセル・データ）を実現する。グ
レー・スケール機能の内で減分されたピクセル・データ
（即ち、輝度の低くなるデータ）は、多機能ラスタ減衰
ユニット２７０で実現する。この組み合わせたデータを
ラスタ・メモリ２５０のグレー・スケール・プレーン３
５３に書き戻す。
【００２６】本発明は、既存のデータと波形データとが
組み合わさったときに、そのポイントでの衝突検出動作
を行うようになっており、非常な高速で（１秒当たり約
千万ポイント）この機能動作を実行できる。よって、こ
のピクセルがテレコム・マスクの一部であることを既存
のピクセル・データが示しているならば、波形ピクセル
及びマスク・ピクセルの間の衝突（即ち、バイオレーシ
ョン）が検出され、制御器２３０は、衝突の警告を出
す。
組み合わさったときに、そのポイントでの衝突検出動作
を行うようになっており、非常な高速で（１秒当たり約
千万ポイント）この機能動作を実行できる。よって、こ
のピクセルがテレコム・マスクの一部であることを既存
のピクセル・データが示しているならば、波形ピクセル
及びマスク・ピクセルの間の衝突（即ち、バイオレーシ
ョン）が検出され、制御器２３０は、衝突の警告を出
す。
【００２７】波形ベースで（即ち、次の波形のピクセル
を処理する前に、波形全体を完全に試験するまで、一度
に単一波形の１ピクセルずつ）、４チャネルの出力信号
をマスクと順次比較する。この手順は高速に行われ、ユ
ーザにとって４チャネルの総てが同時に試験されている
ように思える。
を処理する前に、波形全体を完全に試験するまで、一度
に単一波形の１ピクセルずつ）、４チャネルの出力信号
をマスクと順次比較する。この手順は高速に行われ、ユ
ーザにとって４チャネルの総てが同時に試験されている
ように思える。
【００２８】上述のＴＤＳ３０５４型の如きＴＤＳ３０
００シリーズ・オシロスコープにおいて、各チャネル
は、異なる色（例えば、赤、緑、黄色、マゼンタ）の制
御押しボタンに関連しており、そのチャネルに関連した
波形が対応する色で表示スクリーン上に描かれる。すな
わち、緑色制御押しボタンを押してチャネル２を選択し
た場合、チャネル２の波形が緑色で表示スクリーンに描
かれる。したがって、図３の波形４３０、４４０、４５
０及び４６０は、４つの異なる色で現れる。好適には、
テレコム・マスク部分４１０及び４２０は、第５の色、
例えば、青で描かれる。マスク衝突（即ち、波形が少な
くとも１つのマスク・ピクセルと重なる）がユーザに表
示され、マスクと衝突した部分の波形の色は、波形のど
の部分がテレコム規格から完全に外れているかを示す。
００シリーズ・オシロスコープにおいて、各チャネル
は、異なる色（例えば、赤、緑、黄色、マゼンタ）の制
御押しボタンに関連しており、そのチャネルに関連した
波形が対応する色で表示スクリーン上に描かれる。すな
わち、緑色制御押しボタンを押してチャネル２を選択し
た場合、チャネル２の波形が緑色で表示スクリーンに描
かれる。したがって、図３の波形４３０、４４０、４５
０及び４６０は、４つの異なる色で現れる。好適には、
テレコム・マスク部分４１０及び４２０は、第５の色、
例えば、青で描かれる。マスク衝突（即ち、波形が少な
くとも１つのマスク・ピクセルと重なる）がユーザに表
示され、マスクと衝突した部分の波形の色は、波形のど
の部分がテレコム規格から完全に外れているかを示す。
【００２９】マスクと衝突しないピクセルは、黒背景に
対して表示されるので、波形軌跡（トレース）と背景と
の間の比較的良好なコントラストにより、容易に観察で
きる。しかし、マスクと衝突した波形は、青色のマスク
に対して表示され、波形軌跡と青色のマスクとの間のコ
ントラストが低下するので、容易には観察できない。こ
の点に関して、青のマスクの上に表示された緑の軌跡を
考察する。もし、マスクと衝突した波形ピクセルが、マ
スクと衝突しない波形の一部のピクセルよりも高い輝度
レベルで表示されると、マスクの衝突を一層容易に観察
できる。輝度を所望のレベルに明るくするには、次のよ
うに行う。ラスタ化回路２４０がラスタ・メモリ２５０
から所定ピクセルの現在の値を読み取り、この特定ピク
セルがテレコム・マスクの一部であると判断したと仮定
する。ラスタ・メモリ２５０の同じ記憶場所に書き込ま
れる波形ピクセルは、マスクと衝突することになり、マ
スク衝突が生じる。
対して表示されるので、波形軌跡（トレース）と背景と
の間の比較的良好なコントラストにより、容易に観察で
きる。しかし、マスクと衝突した波形は、青色のマスク
に対して表示され、波形軌跡と青色のマスクとの間のコ
ントラストが低下するので、容易には観察できない。こ
の点に関して、青のマスクの上に表示された緑の軌跡を
考察する。もし、マスクと衝突した波形ピクセルが、マ
スクと衝突しない波形の一部のピクセルよりも高い輝度
レベルで表示されると、マスクの衝突を一層容易に観察
できる。輝度を所望のレベルに明るくするには、次のよ
うに行う。ラスタ化回路２４０がラスタ・メモリ２５０
から所定ピクセルの現在の値を読み取り、この特定ピク
セルがテレコム・マスクの一部であると判断したと仮定
する。ラスタ・メモリ２５０の同じ記憶場所に書き込ま
れる波形ピクセルは、マスクと衝突することになり、マ
スク衝突が生じる。
【００３０】より一層見やすくするために、この衝突し
た波形ピクセルの表示輝度を増加させるには、波形サン
プル値をラスタ・メモリ２５０に蓄積する前に、この波
形サンプル値の２ビットを変更する。この変更により、
輝度又はカラー・マッピング回路２８０の異なる部分を
用いる。次に、その特定波形の表示輝度値を既存の値よ
りも大幅に増加させる。ラスタ・メモリ２５０のその記
憶場所に蓄積された特定データ・ワードは、そのピクセ
ルの輝度値や、そのピクセルの色（即ち、波形軌跡の残
りの部分と同じ色）を表すが、テレコム・マスクに属す
る特定のピクセル記憶場所の指示は維持する。その結果
得られる表示は、マスク衝突のポイントにおけるマスク
に対する波形のコントラストが大きくなる。
た波形ピクセルの表示輝度を増加させるには、波形サン
プル値をラスタ・メモリ２５０に蓄積する前に、この波
形サンプル値の２ビットを変更する。この変更により、
輝度又はカラー・マッピング回路２８０の異なる部分を
用いる。次に、その特定波形の表示輝度値を既存の値よ
りも大幅に増加させる。ラスタ・メモリ２５０のその記
憶場所に蓄積された特定データ・ワードは、そのピクセ
ルの輝度値や、そのピクセルの色（即ち、波形軌跡の残
りの部分と同じ色）を表すが、テレコム・マスクに属す
る特定のピクセル記憶場所の指示は維持する。その結果
得られる表示は、マスク衝突のポイントにおけるマスク
に対する波形のコントラストが大きくなる。
【００３１】図４は、本発明による多チャネル・テレコ
ム・マスク試験システム５００の簡略化したブロック図
である。被試験ライン・カード（被試験回路）５１０
は、テレコム規格に適合するかが試験されるＮ個のチャ
ネルのテレコム信号を含んでいる。これらＮ個のチャネ
ル（典型的には６３チャネル）の信号をＮ対４マルチプ
レクサ（この場合、６３対４マルチプレクサ）５２０に
供給する。このマルチプレクサ５２０の４つの出力信号
を、テレコム・マスク試験機能を有する４チャネル・オ
シロスコープ（例えば、上述のＴＤＳ３０５４型ＤＰ
Ｏ）５３０の４個の信号入力端子に供給する。マルチプ
レクサ５２０及びオシロスコープ５３０は、ＧＰＩＢ制
御器５４０により制御される。すなわち、ＧＰＩＢ制御
器５４０は、第１制御信号によりマルチプレクサ５２０
の選択動作を制御し、第２制御信号によりオシロスコー
プ５３０の動作を制御する。ＧＰＩＢ制御器５４０は、
ＧＰＩＢ（汎用インタフェース・バス）制御機能を有す
るマイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、専用Ａ
ＳＩＣ制御器でもよい。
ム・マスク試験システム５００の簡略化したブロック図
である。被試験ライン・カード（被試験回路）５１０
は、テレコム規格に適合するかが試験されるＮ個のチャ
ネルのテレコム信号を含んでいる。これらＮ個のチャネ
ル（典型的には６３チャネル）の信号をＮ対４マルチプ
レクサ（この場合、６３対４マルチプレクサ）５２０に
供給する。このマルチプレクサ５２０の４つの出力信号
を、テレコム・マスク試験機能を有する４チャネル・オ
シロスコープ（例えば、上述のＴＤＳ３０５４型ＤＰ
Ｏ）５３０の４個の信号入力端子に供給する。マルチプ
レクサ５２０及びオシロスコープ５３０は、ＧＰＩＢ制
御器５４０により制御される。すなわち、ＧＰＩＢ制御
器５４０は、第１制御信号によりマルチプレクサ５２０
の選択動作を制御し、第２制御信号によりオシロスコー
プ５３０の動作を制御する。ＧＰＩＢ制御器５４０は、
ＧＰＩＢ（汎用インタフェース・バス）制御機能を有す
るマイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、専用Ａ
ＳＩＣ制御器でもよい。
【００３２】動作において、オシロスコープ５３０は、
４つの信号を同時に取り込み、これら信号がテレコム・
マスク試験を合格か不合格かを順次判断する。次に、こ
のシーケンスをＮ回、例えば、１６回繰り返して、４チ
ャネルのグループ内のライン・カード５１０の各チャネ
ルを同時にチェックする。よって、上述の如く、本発明
は、図１に示したハードウェア・アーキテクチャの利点
を達成でき、多チャネル・ライン・カードのテレコム試
験に要する時間を大幅に短縮できる。本発明のシステム
においては、マスクに対して４つの信号を同時に試験す
るので、試験時間の短縮が実現できる。また、時間短縮
ができるのは、図５の従来装置が必要とするスイッチン
グ制御信号の数に対して、４分の１の数のスイッチング
制御信号を図４のＮ個のチャネル・マルチプレクサ５２
０に送ればよいためでもある（なお、関連した遅延時間
及びセットリング・タイムも４分の１になる）。
４つの信号を同時に取り込み、これら信号がテレコム・
マスク試験を合格か不合格かを順次判断する。次に、こ
のシーケンスをＮ回、例えば、１６回繰り返して、４チ
ャネルのグループ内のライン・カード５１０の各チャネ
ルを同時にチェックする。よって、上述の如く、本発明
は、図１に示したハードウェア・アーキテクチャの利点
を達成でき、多チャネル・ライン・カードのテレコム試
験に要する時間を大幅に短縮できる。本発明のシステム
においては、マスクに対して４つの信号を同時に試験す
るので、試験時間の短縮が実現できる。また、時間短縮
ができるのは、図５の従来装置が必要とするスイッチン
グ制御信号の数に対して、４分の１の数のスイッチング
制御信号を図４のＮ個のチャネル・マルチプレクサ５２
０に送ればよいためでもある（なお、関連した遅延時間
及びセットリング・タイムも４分の１になる）。
【００３３】よって、上述した本発明の装置、システム
及び方法では、テレコム・マスクに対する多チャネル波
形の試験を非常な高速で行える。
及び方法では、テレコム・マスクに対する多チャネル波
形の試験を非常な高速で行える。
【００３４】本発明をデジタル・オシロスコープに関連
させて説明したが、本発明は、ロジック・アナライザ、
コミュニケーション・ネットワーク・アナライザなどの
他の測定機器にも適用できることが理解できよう。
させて説明したが、本発明は、ロジック・アナライザ、
コミュニケーション・ネットワーク・アナライザなどの
他の測定機器にも適用できることが理解できよう。
【００３５】上述では、Ｘ−Ｙポイントでマスクを発生
して予め蓄積したが、独自のマスクを作成するために、
測定機器のデータ・ポートを介してパーソナル・コンピ
ュータから独自のデータをダウンロードできることも当
業者には明らかであろう。
して予め蓄積したが、独自のマスクを作成するために、
測定機器のデータ・ポートを介してパーソナル・コンピ
ュータから独自のデータをダウンロードできることも当
業者には明らかであろう。
【００３６】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、多チャネ
ルの入力信号をを略実時間で同時に処理できるので、テ
レコム・マスクに対する多チャネル波形の試験を非常な
高速で行える。
ルの入力信号をを略実時間で同時に処理できるので、テ
レコム・マスクに対する多チャネル波形の試験を非常な
高速で行える。
【図１】本発明と共に使用するのに適するオシロスコー
プ（測定機器）の簡略化されたブロック図である。
プ（測定機器）の簡略化されたブロック図である。
【図２】図１のオシロスコープに用いるメモリの複数プ
レーンを示すブロック図である。
レーンを示すブロック図である。
【図３】本発明の一実施例に応じたテレコム・マスク及
び多数の波形を表示するスクリーンを示す図である。
び多数の波形を表示するスクリーンを示す図である。
【図４】本発明による多チャネル・テレコム・マスク試
験
験
【図５】従来の多チャネル・テレコム・マスク試験を行
う測定システムの構成を示すブロック図である。
う測定システムの構成を示すブロック図である。
１００ 多チャネル・テレコム・マスク試験装置 １１０、５１０ 被試験ライン・カード（被試験回路） １２０、５２０ マルチプレクサ １３０、５３０ オシロスコープ １４０、５４０ ＧＰＩＢ制御器 ２００ デジタル・オシロスコープ（測定機器） ２１０ 取り込み回路（取り込み手段） ２１９ Ａ／Ｄ変換器 ２２０ 取り込みメモリ ２３０ 制御器（制御手段） ２４０ ラスタ化回路（比較回路） ２５０、３５０ ラスタ・メモリ ２７０ 多機能ラスタ減衰ユニット ２８０ 輝度又はカラー・マッピング回路（表示手段） ２９０ ラスタ走査表示器（表示手段） ３５３ グレー・スケール・プレーン ３５４ ベクトル・プレーン ３５６ ユーザ・インタフェース・プレーン ３８０ 表示読出しハードウェア ４００ 表示スクリーン ４１０、４２０ マスク ４３０、４４０、４５０、４６０ 波形 ５００ 測定システム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 スティーブン・シー・ハーリング アメリカ合衆国 オレゴン州 97007 ビ ーバートン サウス・ウェスト テルライ ド・テラス 15018
Claims (7)
- 【請求項１】 多チャネル用マスク試験を行う測定機器
であって、 被試験回路からのＭ個の信号を受けるＭ個の信号入力端
と、 該Ｍ個の信号入力端に結合され、上記Ｍ個の信号入力端
の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路と、 マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する
制御器と、 上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値
を有する上記マスクのピクセル・データとを蓄積するメ
モリと、 該メモリの記憶場所を読み取り、上記Ｍ個の信号入力端
の各々からの上記信号の取り込んだ波形サンプルがマス
ク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれ
て、マスク衝突が生じるかを判断する比較回路と、 上記Ｍ個の信号入力端からの上記波形の総てと、上記マ
スクとを表す表示を同時に行う表示手段とを具えた測定
機器。 - 【請求項２】 上記比較回路がラスタ化回路であり、 上記メモリがラスタ・メモリであり、 上記波形サンプルを上記ラスタ・メモリに展開する際
に、上記マスクであることを示すデータ値を有する上記
ピクセル・データを上記ラスタ化回路が試験して上記比
較を行うと共に、 上記比較を波形単位で順次行うことを特徴とする請求項
１の測定機器。 - 【請求項３】 多チャネルのマスク試験を行う測定シス
テムであって、 Ｎ個の入力チャネル及びＭ個の出力チャネルを有し（Ｎ
はＭより大きく、Ｍは１よりも大きい）、第１制御信号
に応答して、Ｍ個の出力チャネルのグループに対するＮ
個の入力チャネルからの選択を同時に行うマルチプレク
サと、 第２制御信号に応答して動作する測定機器と、 上記マルチプレクサ及び上記測定機器に結合され、上記
第１及び第２制御信号を発生する制御手段とを具え、 上記Ｎ個の入力チャネルの各々が、被試験回路のＮ個の
出力チャネルの夫々からの信号を受け、 上記測定機器が、 上記Ｍ個の出力チャネルの各々に夫々結合されたＭ個の
信号入力端と、 該Ｍ個の信号入力端に結合され、上記Ｍ個の信号入力端
の各々の波形サンプルを取り込む取り込み回路と、 マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生する
制御器と、 上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値
を有する上記マスクのピクセル・データとを蓄積するメ
モリと、 該メモリの記憶場所を読み取り、上記Ｍ個の信号入力端
の各々からの上記信号の取り込んだ波形サンプルがマス
ク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれ
て、マスク衝突が生じるたを判断する比較回路と、 上記Ｍ個の信号入力端からの上記波形の総てと、上記マ
スクとを表す表示を同時に行う表示手段とを有すること
を特徴とする測定システム。 - 【請求項４】 上記比較回路がラスタ化回路であり、 上記メモリがラスタ・メモリであり、 上記波形サンプルを上記ラスタ・メモリに展開する際
に、上記マスクであることを示すデータ値を有する上記
ピクセル・データを上記ラスタ化回路が試験して上記比
較を行うと共に、 上記比較を波形単位で順次行うことを特徴とする請求項
３の測定システム。 - 【請求項５】 マスク試験機能を有する測定機器を含む
測定システムにおいて多チャネル・マスク試験を行う方
法であって、 Ｎ個のチャネルのグループから同時にＭ個のチャネルを
選択し（ＮはＭより大きく、Ｍは１よりも大きい）、 上記Ｍ個のチャネルに結合したＭ個の入力チャネルの波
形サンプルを取り込み、 マスクを定義するマスク・ピクセル・データを発生し、 上記波形サンプルと、マスクであることを示すデータ値
を有する上記マスクのピクセル・データとをメモリに蓄
積し、 該メモリの記憶場所を読み取って、上記マスク・ピクセ
ル・データ及び上記波形サンプル・データを比較して、
上記取り込んだ波形サンプルがマスク・ピクセルを現在
蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突が生
じるかを判断し、 上記波形サンプルをラスタ・メモリに展開し、 上記マスク及び上記Ｍ個の波形を表示スクリーンに同時
に表示することを特徴とする多チャネル・マスク試験方
法。 - 【請求項６】 上記波形サンプルを上記ラスタ・メモリ
に展開する際に、上記マスクであることを示すデータ値
を有する上記ピクセル・データをラスタ化回路が試験し
て上記比較を行うと共に、 上記比較を波形単位で順次行うことを特徴とする請求項
５の方法。 - 【請求項７】 上記マスク及び上記Ｍ個の波形を表示ス
クリーンに同時に表示するステップでは、 上記波形の各々をＭ個の異なる色の１つで表示し、上記
マスクをＭ＋１番目の色で表示することを特徴とする請
求項５の方法。
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| US60/155977 | 1999-09-24 | ||
| US09/619067 | 2000-07-19 | ||
| US09/619,067 US6778931B1 (en) | 1999-09-24 | 2000-07-19 | Test and measurement instrument having multi-channel telecommunications mask testing capability |
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| JP2000257806A Expired - Fee Related JP3674000B2 (ja) | 1999-09-24 | 2000-08-28 | 測定機器及びマスク試験方法 |
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2000
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