JP2001091837A5 - - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項１】 レーザ光を発する光源と、
この光源からのレーザ光のスポットを試料の所定位置に保持させるスポット保持手段と、
前記試料からの光を検出する検出手段と、
前記試料に対してトリガ信号を発生するトリガ発生手段と、
前記トリか発生手段のトリガ信号に同期して同期信号を発生する同期信号発生手段と、
この同期信号発生手段の同期信号に応じて前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えるレーザ光切替え手段とを具備したことを特徴とする光走査型顕微鏡。
【請求項２】 前記同期信号発生手段の２つの同期信号間に複数の同期信号を発生する高速同期信号発生手段を有し、
前記レーザ光切替え手段は、前記高速同期信号発生手段の高速同期信号に応じて前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えることを特徴とする請求項１記載の光走査型顕微鏡。
【請求項３】 前記スポット保持手段は、前記同期信号発生手段の同期信号に同期させてレーザ光のスポット保持位置を移動可能にしたことを特徴とする請求項１または２記載の光走査型顕微鏡。
【請求項４】 波長の異なるレーザ光を発する複数の光源と、
これら光源からのレーザ光のスポットを試料の所定位置に保持させるスポット保持手段と、
前記試料からの光を検出する検出手段と、
前記試料に対してトリガ信号を発生するトリガ発生手段と、
前記トリか発生手段のトリガ信号に同期して同期信号を発生する同期信号発生手段と、
前記複数の光源に対応させて複数設けられ、前記同期信号発生手段の同期信号に応じて順に選択され、それぞれ前記試料に対する前記光源のレーザ光の照射の要否を切替えるレーザ光切替え手段とを具備したことを特徴とする光走査型顕微鏡。
【請求項５】 前記同期信号発生手段の２つの同期信号間に複数の同期信号を発生する高速同期信号発生手段を有し、
前記レーザ光切替え手段は、前記高速同期信号発生手段の高速同期信号に応じて順に選択され、それぞれ前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えることを特徴とする請求項４記載の光走査型顕微鏡。
【請求項６】 前記スポット保持手段は、前記同期信号発生手段の同期信号に同期させてレーザ光のスポット保持位置を移動可能にしたことを特徴とする請求項４または５記載の光走査型顕微鏡。
【請求項１】 レーザ光を発する光源と、
この光源からのレーザ光のスポットを試料の所定位置に保持させるスポット保持手段と、
前記試料からの光を検出する検出手段と、
前記試料に対してトリガ信号を発生するトリガ発生手段と、
前記トリか発生手段のトリガ信号に同期して同期信号を発生する同期信号発生手段と、
この同期信号発生手段の同期信号に応じて前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えるレーザ光切替え手段とを具備したことを特徴とする光走査型顕微鏡。
【請求項２】 前記同期信号発生手段の２つの同期信号間に複数の同期信号を発生する高速同期信号発生手段を有し、
前記レーザ光切替え手段は、前記高速同期信号発生手段の高速同期信号に応じて前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えることを特徴とする請求項１記載の光走査型顕微鏡。
【請求項３】 前記スポット保持手段は、前記同期信号発生手段の同期信号に同期させてレーザ光のスポット保持位置を移動可能にしたことを特徴とする請求項１または２記載の光走査型顕微鏡。
【請求項４】 波長の異なるレーザ光を発する複数の光源と、
これら光源からのレーザ光のスポットを試料の所定位置に保持させるスポット保持手段と、
前記試料からの光を検出する検出手段と、
前記試料に対してトリガ信号を発生するトリガ発生手段と、
前記トリか発生手段のトリガ信号に同期して同期信号を発生する同期信号発生手段と、
前記複数の光源に対応させて複数設けられ、前記同期信号発生手段の同期信号に応じて順に選択され、それぞれ前記試料に対する前記光源のレーザ光の照射の要否を切替えるレーザ光切替え手段とを具備したことを特徴とする光走査型顕微鏡。
【請求項５】 前記同期信号発生手段の２つの同期信号間に複数の同期信号を発生する高速同期信号発生手段を有し、
前記レーザ光切替え手段は、前記高速同期信号発生手段の高速同期信号に応じて順に選択され、それぞれ前記試料に対するレーザ光の照射の要否を切替えることを特徴とする請求項４記載の光走査型顕微鏡。
【請求項６】 前記スポット保持手段は、前記同期信号発生手段の同期信号に同期させてレーザ光のスポット保持位置を移動可能にしたことを特徴とする請求項４または５記載の光走査型顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26668299A JP4512219B2 (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 光走査型顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26668299A JP4512219B2 (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 光走査型顕微鏡 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001091837A JP2001091837A (ja) | 2001-04-06 |
| JP2001091837A5 true JP2001091837A5 (ja) | 2006-10-26 |
| JP4512219B2 JP4512219B2 (ja) | 2010-07-28 |
Family
ID=17434240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26668299A Expired - Fee Related JP4512219B2 (ja) | 1999-09-21 | 1999-09-21 | 光走査型顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4512219B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US20090325211A1 (en) * | 2007-10-06 | 2009-12-31 | Ye Fang | System and method for dual-detection of a cellular response |
| DE102010060121C5 (de) * | 2010-10-22 | 2023-09-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet |
Family Cites Families (4)
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| JPH01316715A (ja) * | 1988-06-17 | 1989-12-21 | Tokyo Electron Ltd | ビーム走査型光学顕微鏡 |
| JP3849176B2 (ja) * | 1996-06-11 | 2006-11-22 | 株式会社ニコン | 光走査型顕微鏡 |
| JPH1010436A (ja) * | 1996-06-24 | 1998-01-16 | Nikon Corp | 光走査型顕微鏡 |
| JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
-
1999
- 1999-09-21 JP JP26668299A patent/JP4512219B2/ja not_active Expired - Fee Related
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