JP2009510499A - 対象物の画像を生成するための装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
さらに、非線形的な試料相互作用を達成すべき場合には、一般的に低い照明強度(特に前述の解像度向上の際の照明側の低い効率)は不利である。
照明モジュールは、時間的に線形に、または時間的に周期的にも、位相を変化させることが可能である。周期的な変化としては、特にサイン形またはコサイン形の位相変化を実施し得る。
さらに、この装置は、対象物内の様々な深度での対象物の照明を、その深さでのビームの合焦によって行い、様々な深度のそれぞれで、複数の記録を実行し、それによって処理モジュールが対象物の様々な深度からの画像を生成できるように、照明モジュールと、記録モジュールと、処理モジュールとを制御する制御モジュールを備えることができる。もちろん様々な深度からの画像は、3次元表示の生成にも利用可能である。
上記の課題はさらに、冒頭に挙げた種類の方法であり、照明工程において、強度が時間的に変調される光ビームを対象物の上で移動させ、その際、ビームがスキャンしながらパターンを生じさせるように光ビームの移動と強度変調を同期させることが可能である方法によって解決される。
特に、対象物を記録するために、ビームの移動に同期して、ビームによって発生される試料放射を空間分解して検出することが可能である。このために従来の位置分解する検出器が使用可能である。特にライン検出器または平面検出器が使用可能である。
照明工程、記録工程、および生成工程は、複数回の実施が可能であり、その際、様々な照明工程において、試料の様々な深度にビームの合焦を実施することにより、試料の様々な深度からの画像が生成可能である。もちろん、これらの画像は、試料の3次元画像を生成するためにも利用可能である。
光ビームには、ここでは特に波長がUV領域からIR領域の光ビームが考慮される(例えば300nm〜1.5μmの範囲)。
図1に示された実施形態では、対象物の画像生成装置は走査型レーザ顕微鏡として形成されており、ビーム発生モジュール1と、スキャン・モジュール2と、対物レンズ3と、記録モジュール4と、処理モジュール5と、制御モジュール6とを含んでいる。
Claims (16)
- 対象物の画像を生成するための装置であって、
位相が時間的に変化するパターンで該対象物を照明可能な照明モジュール(1)と、
該パターンの該位相変化中に該対象物の複数の記録を実行する記録モジュール(4)と、
該記録から該画像を生成する処理モジュール(5)とを備える装置において、
該照明モジュール(1)が、光ビーム(S1)を該対象物の上で移動させて、該ビームがスキャンしながら該パターンを生じさせるように該光ビームの強度を該移動に同期して変調させることを特徴とする装置。 - 前記照明モジュール(1)が、前記ビーム(S1)を前記試料上に合焦させ、特に回折によって制限されて合焦させることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記照明モジュール(1)が、前記光ビーム(S1)を前記試料上に、点状または線状に合焦させることを特徴とする請求項1または2に記載の装置。
- 前記記録モジュール(4)が、前記ビーム(S1)の前記移動に同期して、前記ビームによって発生した試料放射(S2)を空間分解して検出する平面検出器(12)を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の装置。
- 前記平面検出器(12)が、マトリクス検出器またはライン検出器として形成されていることを特徴とする請求項4に記載の装置。
- 前記照明モジュール(1)が、前記位相を時間的に線形にまたは周期的に変化させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の装置。
- 前記照明モジュール(1)が、前記強度変調のための光学スイッチ(9)を備えていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記対象物内の様々な深度での前記対象物の前記照明を、前記深度への前記ビームの合焦によって行い、前記様々な深度のそれぞれで、複数の記録を実行することにより、前記処理モジュール(5)が前記対象物の様々な深度からの画像を生成できるように、前記照明モジュールと、前記記録モジュールと、前記処理モジュールと(1、4、5)を制御する制御モジュール(6)を備えることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の装置。
- 前記照明モジュール(1)が、複数の光ビームを発生させ、互いに間隔をあけて前記対象物上に合焦させ、前記対象物の上で移動させ、その際、前記ビームがスキャンしながら前記パターンを生じさせるように、前記ビームの前記強度を前記移動に同期して変化させることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の装置。
- 対象物の画像を生成するための方法であって、
位相が時間的に変化する周期的なパターンで該対象物を照明する工程と、
該位相変化中の該対象物を複数回記録する工程と、
該記録から該画像を生成する工程とを備える方法において、
該照明工程で、強度が時間的に変調される光ビームを該対象物の上で移動させ、その際、該ビームがスキャンしながら該パターンを生じさせるように該光ビームの該移動と該強度変調を同期させることを特徴とする方法。 - 前記ビームが、前記照明工程において合焦され、特に回折によって制限されて合焦されることを特徴とする請求項10に記載の方法。
- 前記ビームが、前記照明工程において点状または線状に合焦されることを特徴とする請求項10または11に記載の方法。
- 前記対象物の前記記録のために、前記ビームの前記移動に同期して、前記ビームによって発生される試料放射を空間分解して検出することを特徴とする請求項10乃至12のいずれか1項に記載の方法。
- 前記位相の前記時間的変化が、線形にまたは周期的に行われることを特徴とする請求項10乃至13のいずれか1項に記載の方法。
- 前記照明工程、前記記録工程、および前記生成工程が複数回実施され、その際、前記様々な照明工程において、前記試料の様々な深度に前記光ビームの合焦が行われ、それによって、前記試料の前記様々な深度からの画像が生成できることを特徴とする請求項10乃至14のいずれか1項に記載の方法。
- 強度が時間的に変調される複数の光ビームが、互いに間隔をあけて前記対象物上に合焦され、共に前記対象物の上で移動され、その際、該ビームがスキャンしながら前記パターンを生じさせるように、該光ビームの該移動と該強度変調を同期させることを特徴とする請求項10乃至15のいずれか1項に記載の方法。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
WO2011162186A1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像生成装置 |
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Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100045964A (ko) * | 2007-07-06 | 2010-05-04 | 내셔널 유니버시티 오브 싱가포르 | 형광 초점변조 현미경 시스템 및 방법 |
DK200801722A (en) | 2008-12-05 | 2010-06-06 | Unisensor As | Optical sectioning of a sample and detection of particles in a sample |
RU2548597C2 (ru) * | 2009-12-04 | 2015-04-20 | Юнисенсор А/С | Система и способ для связанной со временем микроскопии биологических организмов |
BR112012022130A2 (pt) | 2010-03-04 | 2016-10-25 | Unisensor As | sistema para conter uma amostra de fluido, e, método para prover uma amostra de fluido para um aparelho de escaneamento óptico |
WO2018229833A1 (ja) * | 2017-06-12 | 2018-12-20 | オリンパス株式会社 | 内視鏡システム |
CN107966826B (zh) * | 2017-12-27 | 2019-07-05 | 中国科学院半导体研究所 | 一种小型结构光照明超分辨显微成像系统 |
JP7093409B2 (ja) | 2018-06-05 | 2022-06-29 | オリンパス株式会社 | 内視鏡システム |
CN112236067A (zh) | 2018-06-05 | 2021-01-15 | 奥林巴斯株式会社 | 内窥镜系统 |
JP7016832B2 (ja) | 2019-04-19 | 2022-02-07 | 信越化学工業株式会社 | ポリシラザン硬化被膜のパターニング方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997006509A1 (en) * | 1995-08-03 | 1997-02-20 | Gim Systems Ltd. | Imaging measurement system |
JP2000506634A (ja) * | 1997-04-04 | 2000-05-30 | イシス イノヴェーション リミテッド | 顕微鏡撮像装置および方法 |
JP2002323660A (ja) * | 2001-04-07 | 2002-11-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置 |
JP2003084206A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Nikon Corp | 格子照明顕微鏡 |
JP2004013117A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-01-15 | Nikon Corp | 顕微鏡照明装置 |
JP2004109348A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Institute Of Physical & Chemical Research | 顕微鏡装置 |
JP2004170977A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置 |
JP2004535596A (ja) * | 2001-05-03 | 2004-11-25 | ケーエルエー・テンコール・テクノロジーズ・コーポレーション | 光ビームに試料全体を走査させるためのシステムおよび方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6587221B1 (en) * | 1999-10-29 | 2003-07-01 | Xerox Corporation | Scanning device and method |
DE10118463A1 (de) * | 2001-04-07 | 2002-10-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe |
DE10155002A1 (de) | 2001-11-08 | 2003-05-22 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997006509A1 (en) * | 1995-08-03 | 1997-02-20 | Gim Systems Ltd. | Imaging measurement system |
JP2000506634A (ja) * | 1997-04-04 | 2000-05-30 | イシス イノヴェーション リミテッド | 顕微鏡撮像装置および方法 |
JP2002323660A (ja) * | 2001-04-07 | 2002-11-08 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置 |
JP2004535596A (ja) * | 2001-05-03 | 2004-11-25 | ケーエルエー・テンコール・テクノロジーズ・コーポレーション | 光ビームに試料全体を走査させるためのシステムおよび方法 |
JP2003084206A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Nikon Corp | 格子照明顕微鏡 |
JP2004013117A (ja) * | 2002-06-11 | 2004-01-15 | Nikon Corp | 顕微鏡照明装置 |
JP2004109348A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Institute Of Physical & Chemical Research | 顕微鏡装置 |
JP2004170977A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 分解能の深度で試料を光学的に把握する方法および配置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011162186A1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像生成装置 |
WO2011162187A1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像生成装置 |
JP2012008261A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像生成装置 |
EP2587297A4 (en) * | 2010-06-23 | 2014-08-13 | Hamamatsu Photonics Kk | IMAGE GENERATING DEVICE |
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