JP2001074457A - レーザ測量機 - Google Patents

レーザ測量機

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JP2001074457A
JP2001074457A JP24730699A JP24730699A JP2001074457A JP 2001074457 A JP2001074457 A JP 2001074457A JP 24730699 A JP24730699 A JP 24730699A JP 24730699 A JP24730699 A JP 24730699A JP 2001074457 A JP2001074457 A JP 2001074457A
Authority
JP
Japan
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laser
scanning angle
lens group
reciprocating scanning
surveying instrument
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP24730699A
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English (en)
Inventor
Nobuaki Kawatani
信昭 川谷
Sadao Murano
貞夫 村野
Mitsuhiro Matsumoto
光弘 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Pentax Precision Co Ltd
Original Assignee
Asahi Seimitsu KK
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Seimitsu KK, Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Seimitsu KK
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Priority to US09/649,232 priority patent/US6782015B1/en
Priority to DE10043177A priority patent/DE10043177B4/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means
    • G01C15/004Reference lines, planes or sectors

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザプレーナにおいて、レーザ光の最適な
往復走査角度を該レーザ光の到達距離(ビームウエスト
位置)に応じて自動的に変化させるレーザ測量機を得
る。 【構成】 レーザ光のビームウエスト位置(ビーム径が
最も細くなる位置)を調節する装置を利用し、そのビー
ムウエスト位置に応じて往復走査角度を変化させるよう
にしたレーザ測量機

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は、可視光レーザ光線を投光するレ
ーザ測量機に関する。
【0002】
【従来技術及びその問題点】レーザ光線を回転走査させ
て水平または鉛直方向に平面ビームを投影する測量機
(いわゆるレーザプレーナ)では、近距離ではビームの
視認が容易であるが、遠距離になると単位長当たりの光
量が少なくなり、視認が困難となる。そこで、視認性を
向上させるため、ヘッド部を全周回転させずに一定範囲
内で反転駆動させることにより、単位長当たりの光量を
大きくしたものがある。例えば、特許第2829912
号公報では、往復走査角度設定回路で設定した往復走査
角度と、往復走査角度検出回路で検出する往復走査角度
が一致するように走査モータを反転駆動するよう構成さ
れた可視光レーザ測量機が示されている。
【0003】このレーザ測量機では、往復走査角度が小
さすぎると、近距離では十分な長さの直線ビームが得ら
れない。反対に往復走査角度が大きすぎると、遠距離で
はビームの光量が少なくなり視認が困難になる。従っ
て、最適な長さと光量のビームを得るためには、距離に
応じて往復走査角度を変化させる必要があり、その作業
を作業者がその都度行っていた。
【0004】
【発明の目的】本発明は、レーザ光の最適な往復走査角
度をレーザ光の到達距離(レーザプレーナによって平面
を描く距離)に応じて自動的に変化させるレーザ測量機
を得ることを目的とする。
【0005】
【発明の概要】本発明は、この種のレーザ測量機では一
般に、レーザ光のビームウエスト位置(ビーム径が最も
細くなる位置)を調節する装置が備えられており、目標
物にビームウエスト位置を一致させる調整を行う事実に
着目し、そのビームウエスト位置に応じて往復走査角度
を変化させれば、往復走査長によらず適当な視認性が得
られるという着眼に基づいて完成されたものである。
【0006】本発明によるレーザ測量機は、レーザ光
源;このレーザ光源からのレーザ光を透過する可動レン
ズ群を有しこの可動レンズ群を光軸方向に移動させるこ
とによりレーザ光のビームウエスト位置を変更させるビ
ームウエスト位置変更光学系;このビームウエスト位置
変更光学系を透過したレーザ光を出力する回転可能なヘ
ッド部;このヘッド部を、設定された往復走査角度で往
復反転走査させるヘッド部動作制御手段;及びビームウ
エスト位置変更光学系の可動レンズ群の位置情報に応じ
て、ヘッド部動作制御手段の往復走査角度を設定する往
復走査角度設定手段;を有することを特徴としている。
【0007】往復走査角度設定手段は、予めビームウエ
スト位置変更光学系の可動レンズ群の位置と、ヘッド部
動作制御手段の往復走査角度とを対応させて記憶したテ
ーブルを備えておき、可動レンズ群の位置情報に基づき
このテーブルから対応する往復走査角度を選択すること
ができる。あるいは、ビームウエスト位置変更光学系の
可動レンズ群の位置からヘッド部動作制御手段の往復走
査角度を演算する演算式を備えておき、可動レンズ群の
位置情報に基づきこの演算式を用いて往復走査角度を演
算してもよい。
【0008】
【発明の実施の形態】以下図示実施形態に基づいて本発
明を説明する。図1は、本発明を適用したレーザ測量機
の全体を示す縦断面図である。このレーザ測量機11
は、略円筒状のハウジング12と、ハウジング12の内
方に設けられた投光装置13とを有している。ハウジン
グ12の上方には、投光装置13上部の回転投光部(ヘ
ッド部)15を囲繞する円筒状の透明部材16が固定さ
れ、下方には、レーザ測量機11の駆動用バッテリ(図
示せず)を収納するバッテリケース17が固定されてい
る。
【0009】ハウジング12は、上部中央に略有底円筒
状の摺動案内部19を有し、下部中央に円孔12aを有
している。この円孔12aは、バッテリケース17の中
央部に形成した円孔17aと位置が合致していて、上方
からのレーザ光束をレーザ測量機11の下方外方に射出
させる。また有底円筒状をなす摺動案内部19は、その
底部中央に摺動孔19aを有している。
【0010】投光装置13は、上下方向の軸穴(レーザ
光路)20aを有する中空軸部材20と、この中空軸部
材20の上方に、ベアリング15aを介して回転自在に
支持された回転投光部15とを有している。中空軸部材
20はその外面に球面の一部からなる膨出部21を有
し、この膨出部21は、ハウジング12の摺動孔19a
にその球面部を当接させた状態で、中空軸部材20(回
転投光部15)の軸aの方向を任意の方向に傾けること
を可能にしている。
【0011】中空軸部材20には、その下端部に、レー
ザ光路20aと直交するレーザ光路20bが形成されて
いる。このレーザ光路20bには、可視レーザ光束を発
する半導体レーザ23と、この半導体レーザ23からの
光束を断面楕円状の平行光束に変換するコリメートレン
ズ24が設けられ、レーザ光路20aとの交叉部には、
コリメートレンズ24からのレーザ光束を受ける偏光ビ
ームスプリッタ27が設けられている。
【0012】この偏光ビームスプリッタ27は、図2に
示すように、レーザ光路20aと20bに対してともに
45゜をなす偏光分離面27aを有し、その上面には、
1/4λ板28が接着されている。この1/4λ板28
は、入射光の偏光方向を90゜回転させる。また1/4
λ板28は上面に、レーザ光束を所定割合でペンタプリ
ズム35に向けて透過し、かつ、残りのレーザ光束を偏
光ビームスプリッタ27に向けて反射する、反射率10
〜20%程度の半透膜28aを有している。偏光ビーム
スプリッタ27の下方には、ウェッジプリズム29a、
29bが設けられている。
【0013】回転投光部15は、図1に示すように、中
空軸部材20と同心のプリズム収納部15aを有してい
る。このプリズム収納部15a内には、回転投光部15
と一体に回転するようペンタプリズム35が固定されて
いる。このペンタプリズム35は、図2に示すように、
レーザ光束が入射するレーザ光路20aと直交する光入
射面35cと、この光入射面35cと所定角度をなす、
所要の反射率の半透膜14を備えた第1反射面35a
と、この第1反射面35aで反射したレーザ光束を回転
軸aと直交する方向に向けて反射する第2反射面35b
と、この第2反射面35bで反射したレーザ光束を射出
する、光入射面35cと90゜をなす光射出面35dと
を有している。第2反射面35bには、増反射膜がアル
ミニウム蒸着等により形成されている。また第1反射面
35aには、半透膜14を挟んで楔型プリズム34が貼
着されている。この楔型プリズム34は、図1上部に位
置する射出面34aからの射出レーザ光がレーザ光路2
0aの軸aと同一方向を向くように、該射出面34aが
ペンタプリズム35の光入射面35cと平行をなしてい
る。
【0014】該収納部15aの側壁には、ペンタプリズ
ム35で反射して偏向され光射出面35dから出射する
レーザ光束を装置外方に投光するための投光用窓33が
形成されている。また、収納部15aの上方は開放さ
れ、透明部材16に形成した円孔16aには透光部材3
6が嵌め込まれている。
【0015】中空軸部材20は、該軸部材の軸aにそれ
ぞれ直交し、かつ互いに直交する駆動用アーム37と3
9(図3)を一体に有している。この駆動用アーム3
7、39は膨出部21の最上部から下方に傾斜させて形
成され、それぞれの先端部に、膨出部21の球心に向け
た駆動ピン40、41を有している。
【0016】ハウジング12の内壁には、この駆動用ア
ーム37と駆動ピン40に対応させて、上皿42a及び
下皿42bを有するブラケット42が設けられている。
上皿42aには支持孔43aが形成され、下皿42bに
は、支持孔43aと対向する位置に支持孔43bが形成
されている。支持孔43aと43bには、調整用スクリ
ュー45両端の軸部が回転自在に嵌合されている。ま
た、ブラケット42の下皿42bには、第1レベル調整
用モータ44が固定され、このモータ44の回転軸に固
定したピニオン49は、スクリュー45の下端部に固定
した伝達ギヤ50と噛み合っている。このスクリュー4
5には、該スクリュー45とで送りねじ機構を構成す
る、ハウジング12に対する相対回転を規制された調整
用ナット46が螺合されている。上記駆動ピン40に、
該ナット46の外周に固定された作動ピン47が上方か
ら当接されている。
【0017】図3に示すように、ハウジング12の内壁
には、駆動用アーム39と駆動ピン41に対応させて、
ブラケット78が設けられている。このブラケット78
は、ブラケット42に対応するもので、調整用スクリュ
ー79両端の軸部が回転自在に嵌合されている。また、
ブラケット78に固定された第2レベル調整用モータ7
5の回転軸に固定されたピニオン76は、スクリュー7
9の下端部に固定した伝達ギヤ77と噛み合っている。
このスクリュー79には、該スクリュー79とで送りね
じ機構を構成する、ハウジング12に対する相対回転を
規制された調整用ナット80が螺合されている。上記駆
動ピン41に、このナット80の外周に固定された作動
ピン81が上方から当接されている。
【0018】ハウジング12はその内壁に、図3に示す
ように、互いに直交する駆動用アーム37と39とでな
す角を二等分する方向に設けた支持突起51を有してい
る。中空軸部材20は、支持突起51と中空軸部材20
間に設けられた引張りばね52によりそれぞれ同等の力
で上方に付勢された駆動ピン40、41を、作動ピン4
7、81にその下方から弾接させている。つまり中空軸
部材20は、その下部の膨出部21が摺動孔19aによ
り支持された状態で支持突起51に向けて付勢されるた
め、マイクロコンピュータ(以後マイコンと称する)8
2の信号に基づき駆動するモータ44、75によって昇
降される作動ピン47、81により、その回転軸aの方
向が任意の方向に調整可能とされている。また、中空軸
部材20の下部には、アーム37、39とそれぞれ反対
方向に突出させたブラケット70、71が設けられ、該
両ブラケット70、71には、レベル検知センサ72、
73が取付けられている。該センサ72、73による検
知信号はマイコン82に送られる。
【0019】また中空軸部材20の上部には、図1に示
すように、外方に向けて突出させたブラケット65が設
けられている。このブラケット65に、回転用モータ6
6が固定されており、このモータ66の回転軸に固定さ
れたピニオン67が、回転投光部15の外周に固定され
た伝達ギヤ69と噛み合っている。従って、マイコン8
2の信号に基づきモータ66を回転駆動すると、ピニオ
ン67、伝達ギヤ69を介して回転投光部15が中空軸
部材20上で回転駆動される。さらに、この中空軸部材
20の上部のブラケット65と反対側には、回転検知セ
ンサ83が上方に向けて設けられている。この回転検知
センサ83は、その上方の伝達ギヤ69の裏面に設けた
所定のパターン(図示せず)に光束を照射し、その反射
光を受光して該受光信号をマイコン82に送る。マイコ
ン82は、この受光信号の入力に基づいて回転投光部1
5の回転角を演算する。
【0020】中空軸部材20のレーザ光路20a内に
は、偏光ビームスプリッタ27の上方に位置させて、偏
光ビームスプリッタ27側から順に、負のパワーを持つ
第1レンズ群(可動レンズ群)31と、正のパワーを持
つ第2レンズ群32とが設けられている。第1レンズ群
31は、該光路20a内で光軸方向に進退可能な円筒部
材30に支持されて、第2レンズ群32に対し進退可能
に構成されている。この第1レンズ群31と第2レンズ
群32は、ビームエキスパンダ(ビームウエスト位置変
更光学系)Bを構成するもので、第1レンズ群31を光
軸方向に移動させることにより、半導体レーザ23から
射出されコリメートレンズ24を介して平行光束に変換
されたレーザ光のビーム径が変換される。
【0021】また中空軸部材20には、外方に向けて上
下で対をなすブラケット55と53が設けられている。
これらブラケット53、55には、それぞれに対向する
ギヤ支持孔53a、55aが形成され、両ギヤ支持孔5
3a、55aには、レンズ移動スクリュー56両端の軸
部が回転自在に嵌合されている。また、ブラケット53
に固定したレンズ移動モータ59の回転軸に固定したピ
ニオン60は、スクリュー56の下端部に固定した伝達
ギヤ61と噛み合っている。このスクリュー56には、
該スクリュー56とで送りねじ機構を構成するレンズ移
動ナット57が螺合されている。さらに、中空軸部材2
0の上記円筒部材30と対応する壁部には挿入窓63が
形成され、この挿入窓63には、両端部を円筒部材30
とレンズ移動ナット57にそれぞれ固定したリンク62
が貫通している。従って、レンズ移動モータ59をマイ
コン82の信号に基づき駆動することにより、送りねじ
機構を介して円筒部材30を昇降させ、第1レンズ群3
1を第2レンズ群32に対して進退させて両者間の間隔
を変え、射出レーザ光束のビーム径及びビームウエスト
位置を変更させることができる。
【0022】ところで、往復反転走査するレーザ光束を
壁等に照射したとき、その壁面に投射されたレーザ光の
一端から他端までの長さ(以下、「走査線の長さ」とい
う)と測定距離の関係を往復走査角度別に示すと図4の
ようになる。図の網部分が視認性が良好な部分で、それ
以外は視認性が不良な部分である。走査線の長さが長く
なると、遠距離においては十分な輝度が得られず視認性
が悪化する。従って、遠距離においては、往復走査角度
を小さくして走査線の長さを短くすると視認性を良好に
することができる。また、近距離においては、往復走査
角度の大小によらず視認性は良好であるが、往復走査角
度を小さくすると、測定基準平面の面積が小さくなり実
用的ではない。従って、往復走査角度は、遠距離におい
ては小さく、近距離においては大きくなる関係で設定す
ることが好ましい。
【0023】一方、上述の通り、第1レンズ群31を進
退させることによってレーザ光のビームウエスト位置を
変更させることができる。第1レンズ群31の位置とビ
ームウエスト位置は相関関係にあり、第1レンズ群31
の位置を決定すると、その位置に応じたビームウエスト
位置が決定される。すなわち、第1レンズ群31の位置
とビームウエスト位置とは一対一で対応している。従っ
て、この関係を予め数値化しておけば、第1レンズ群3
1の位置を検出することにより、その検出結果から、レ
ーザ光のビームウエスト位置を求めることができる。従
って、目標物とビームウエスト位置とが一致するように
第1レンズ群31を移動させ、そのときの第1レンズ群
31の位置を検出することにより、目標物までの距離を
求めることができる。なお、目標物にビームウエスト位
置を一致させるには、目標物上でビーム径が最小となる
ように第1レンズ群31を移動調整すればよい。
【0024】本実施形態では、このビームウエスト位置
に応じてレーザ光の往復走査角度を決定する。すなわ
ち、目標物にビームウエスト位置を一致させたときの第
1レンズ群31の位置により、往復走査角度を決定する
のである。
【0025】第1レンズ群31の位置は、直接検出して
も、間接的に検出してもよい。本実施形態では、第1レ
ンズ群31の位置を直接検出する代わりにレンズ移動モ
ータ59の回転量を検出し、この回転量によってレーザ
光の往復走査角度を決定している。すなわち、第1レン
ズ群31が基準位置(例えば一方の移動端)にあるとき
のレンズ移動モータ59の位置を基準回転位置として予
め定め、その基準回転位置からの回転量を検出し、その
回転量から対応する往復走査角度を決定している。具体
的には、図5に示すように、ビームウエスト位置、即
ち、目標物までの距離に対応するレンズ移動モータ59
の基準回転位置からの回転量と、回転投光部15の往復
走査角度とを予め対応させて決定して、その往復走査角
度で回転投光部15を走査させている。このように制御
すると、レーザ光の往復走査角度を自動的に最適な角度
に設定し、近距離と遠距離とを問わず、往復走査するレ
ーザ光の視認性を良好にすることができる。
【0026】図6は、レーザ測量機内部の制御回路周辺
のブロック図である。マイコン82には、レンズ移動モ
ータ59を制御するレンズ移動モータ制御回路101、
レンズ移動モータ制御回路101に接続されている駆動
量測定回路102、半導体レーザ23を制御するレーザ
制御回路103、レベル調整用モータ44、75を制御
する自動整準回路104、及び回転用モータ66を制御
する回転投光部制御回路105が接続されている。ま
た、マイコン82には、メモリ106が接続され、メモ
リ106には、上述のように設定されたレンズ移動モー
タ59の回転量と回転投光部15の往復走査角度が対応
テーブルとして記憶されている。
【0027】次に、上記レーザ測量装置11の全体的な
作動を説明する。先ず、レーザ測量装置11を三脚を介
して、所望の位置に配置する。無調整の状態において回
転投光部15の軸心(回転軸a)は、一般に鉛直線と一
致せず、またレベル検知センサ72、73は、水平状態
とはされていない。この状態で駆動スイッチ(図示せ
ず)をオンすると、マイコン82が、演算角度偏差に基
づき、自動整準回路104を介して、第1、第2レベル
調整用モータ44、75をそれぞれに回転駆動する。例
えば、調整用モータ44が回転駆動されると、スクリュ
ー45が回転されてレベル調整用ナット46が昇降され
る。このとき、ナット46の作動ピン47には、引張り
ばね52により付勢された駆動ピン40が弾接されてい
るため、中空軸部材20が該駆動ピン40を介して膨出
部21の球心を中心として回動され、回転投光部15が
鉛直方向に対して傾けられる。また調整用モータ75が
駆動されると、レベル調整用スクリュー79に伝達され
てレベル調整用ナット80が昇降される。このとき、該
ナット80の作動ピン81には、引張りばね52により
付勢された駆動ピン41が弾接されているため、上記同
様、回転投光部15が鉛直方向に対して傾けられる。
【0028】そして、投光装置13が傾動されて整準が
進むと、レベル検知センサ72、73からの検出値が基
準水平度に近づき、角度偏差が最終的に0となるため、
投光装置13(回転投光部15)は該傾動調整により、
レーザ光束投光時の水平方向位置を定められ、よって整
準作業が完了する。
【0029】この整準作業が完了した状態において、マ
イコン82からレーザ制御回路103を介して駆動信号
が出力され、半導体レーザ23が発振を開始する。この
半導体レーザ23から射出されるレーザ光束は、コリメ
ートレンズ24によって断面楕円状の平行光束に変換さ
れた後、偏光ビームスプリッタ27によって上方に向か
う光束L1と下方に向かう光束L2 とに分割される。
【0030】いま、偏光ビームスプリッタ27に入射す
るレーザ光束L0 が、偏光分離面27aの入射面に対し
垂直な振動方向を有するS偏光成分のみからなりP偏光
成分を持たない直線偏光であるとすると、レーザ光束L
0 は、偏光分離面27aで全て反射されて90゜偏向さ
れ、図2の上方に向かう。このとき、1/4λ板28は
光の振動方向を90゜回転させるように偏光ビームスプ
リッタ27に貼付されているため、レーザ光束L0は1
/4λ板28を透過して円偏光のレーザ光束L1となっ
てペンタプリズム35に向かう。また、半透膜28aで
反射したレーザ光束L1は、1/4λ板28を再び透過
してさらに振動方向が90゜回転する結果、入射時とは
直交する方向に振動するP偏光成分の直線偏光に変換さ
れ、偏光分離面27aを透過しレーザ光束L2として同
図下方に向かい、ウェッジプリズム29a、29bを透
過した後、下部外方に射出される。
【0031】他方、上方に向かうレーザ光束L1は、第
1、第2レンズ群31、32を透過し、ペンタプリズム
35の光入射面35cを透過した後、第1、第2反射面
35a、35bで順に反射されて進路を90゜偏向さ
れ、略水平方向に向けて光射出面35dから射出され
る。レーザ光束L1のうち、第1反射面35aを透過し
た光は、進路を変化させることなく、該第1反射面35
aと楔型プリズム34とでなすハーフミラー面を透過し
て、レーザ光束L1と同軸のレーザ光束L4として上方に
向けて投光される。
【0032】また、目標物でのビーム径が最小になるよ
うに、図示しない操作レバーや操作釦等を操作して、レ
ンズ移動モータ59を回転させて第1レンズ群31の位
置を調整する。すなわち、レーザ光のビームウエスト位
置と目標物を一致させる。レーザ光のビームウエスト位
置が目標物と一致したか否かの判定は人間の目で行い、
目標物が近ければ操作者が判定し、遠ければ目標物の近
くに別の人を配置して、その人間が判定を行ってもよ
い。調整が終了すると、マイコン82が駆動量測定回路
102を介してレンズ移動モータ59の回転量を検出
し、この検出結果から、メモリ106内のレンズ移動モ
ータ59の回転量と回転投光部15の往復走査角度の対
応テーブルに基づいて、回転用モータ66の回転範囲
(往復走査角度)を設定するとともに、その回転範囲内
で回転用モータ66を往復反転させる。回転投光部15
が鉛直方向の回転軸aを中心に反転駆動し始めるため、
ペンタプリズム35から水平方向に射出されるレーザ光
束L22が一定角度範囲の水平基準面を描く。
【0033】なお、本実施形態では、第2レンズ群32
を固定しかつ第1レンズ群31を該第2レンズ群32に
対し進退可能に構成したが、第1レンズ群31を固定
し、第2レンズ群32を該第1レンズ群31に対し進退
可能に支持して、ビームエキスパンダを構成することも
できる。
【0034】また、本実施形態では、第1レンズ群31
の位置を、レンズ移動モータ59の基準位置からの回転
量を検出して、その回転量から往復走査角度を設定する
構成としたが、伝達ギア61の回転量やリンク62の移
動量から第1レンズ群31の位置を検出し、これらの移
動量を回転投光部15の往復走査角度と対応させる構成
としてもよい。
【0035】さらに、本実施形態では、レンズ移動モー
タ59の回転量に対応する回転投光部15の往復走査角
度を予め計算してメモリ106に記憶する構成とした
が、検出したレンズ移動モータ59の回転量から回転投
光部15の往復走査角度を演算によって求める構成とし
てもよい。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、レーザ光の最適な往復
走査角度を該レーザ光の到達距離(ビームウエスト位
置)に応じて自動的に変化させるレーザ測量機を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるレーザ測量機の全体を示す縦断面
図である。
【図2】同レーザ測量機の投光光学系等を拡大して示す
側面図である
【図3】同レーザ測量機の要部を上部から見た平面図で
ある
【図4】走査線の長さと測定距離の関係を示すグラフ図
である。
【図5】ビームウエスト位置とレンズ移動モータの回転
量と往復走査角度との対応を示す図である。
【図6】本発明によるレーザ測量機の制御回路のブロッ
ク図である。
【符号の説明】
11 レーザ測量機 15 回転投光部(ヘッド部) 23 半導体レーザ(レーザ光源) 31 第1レンズ群(可動レンズ群) 32 第2レンズ群 59 レンズ移動モータ 101 レンズ移動モータ制御回路 102 駆動量測定回路 B ビームエキスパンダ(ビームウエスト位置変更光学
系)
フロントページの続き (72)発明者 村野 貞夫 東京都練馬区東大泉二丁目5番2号 旭精 密株式会社内 (72)発明者 松本 光弘 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源;このレーザ光源からのレー
    ザ光を透過する可動レンズ群を有しこの可動レンズ群を
    光軸方向に移動させることによりレーザ光のビームウエ
    スト位置を変更させるビームウエスト位置変更光学系;
    このビームウエスト位置変更光学系を透過したレーザ光
    を出力する回転可能なヘッド部;このヘッド部を、設定
    された往復走査角度で往復反転走査させるヘッド部動作
    制御手段;及び上記ビームウエスト位置変更光学系の可
    動レンズ群の位置情報に応じて、上記ヘッド部動作制御
    手段の往復走査角度を設定する往復走査角度設定手段;
    を有することを特徴とするレーザ測量機。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のレーザ測量機において、
    上記往復走査角度設定手段は、上記ビームウエスト位置
    変更光学系の可動レンズ群の位置と、上記ヘッド部動作
    制御手段の往復走査角度とを対応させて記憶したテーブ
    ルを備え、該可動レンズ群の位置情報に基づきこのテー
    ブルから対応する往復走査角度を選択するレーザ測量
    機。
  3. 【請求項3】 請求項1記載のレーザ測量機において、
    上記往復走査角度設定手段は、上記ビームウエスト位置
    変更光学系の可動レンズ群の位置から、上記ヘッド部動
    作制御手段の往復走査角度を演算する演算式を備え、該
    可動レンズ群の位置情報に基づきこの演算式を用いて上
    記往復走査角度を演算するレーザ測量機。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296031A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Sokkia Co Ltd レーザ測量機
JP2007315844A (ja) * 2006-05-24 2007-12-06 Matsushita Electric Works Ltd ビームスプリッタ及びそれを用いたレーザ墨出し器

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006005216A1 (de) * 2006-02-06 2007-08-09 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur Bestimmung einer Ausrichtung
DE602006014263D1 (de) * 2006-07-03 2010-06-24 Trimble Ab Vermessungsinstrument und Verfahren zur Steuerung eines Vermessungsinstruments
DE102010042430B4 (de) * 2010-10-14 2017-01-26 Robert Bosch Gmbh Markierungslichtvorrichtung zum Erzeugen einer Standardlichtebene
US9541382B2 (en) * 2011-12-19 2017-01-10 Kabushiki Kaisha Topcon Rotation angle detecting apparatus and surveying instrument
CN105823471B (zh) * 2015-01-28 2020-03-17 株式会社拓普康 三维位置计测系统
US10466341B1 (en) * 2015-10-30 2019-11-05 Physical Optics Corporation Integrative optical platform assembly with an optical detection system
CN109520432B (zh) * 2018-12-28 2024-01-02 哈工大鞍山工业技术研究院有限公司 一种可调量程的激光位移传感器
US20220229181A1 (en) * 2021-01-21 2022-07-21 Ultracker Technology Co., Ltd. Laser rangefinder

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4062634A (en) 1975-02-10 1977-12-13 Spectra-Physics, Inc. System for controlling attitude of laser beam plane
US5499262A (en) * 1992-03-18 1996-03-12 Rohm Co., Ltd. Semiconductor laser light source unit
JP2829912B2 (ja) 1992-05-22 1998-12-02 株式会社トプコン レーザ測量機
US5825555A (en) * 1994-09-19 1998-10-20 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Beam projecting apparatus
US5991102A (en) * 1994-11-25 1999-11-23 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Beam protecting device
CH693579A5 (de) 1996-04-29 2003-10-15 Ammann Lasertechnik Laserstrahl-Nivelliereinrichtung sowie ein Verfahren zum Betrieb dieser Laserstrahl-Nivelliereinrichtung.
US5818645A (en) * 1996-07-16 1998-10-06 Management Graphics, Inc. Multimode optical source and image scanning apparatus using the same
JP4090119B2 (ja) * 1998-06-17 2008-05-28 株式会社トプコン 回転レーザ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296031A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Sokkia Co Ltd レーザ測量機
JP2007315844A (ja) * 2006-05-24 2007-12-06 Matsushita Electric Works Ltd ビームスプリッタ及びそれを用いたレーザ墨出し器

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