JP2001043542A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2001043542A JP2001043542A JP21510799A JP21510799A JP2001043542A JP 2001043542 A JP2001043542 A JP 2001043542A JP 21510799 A JP21510799 A JP 21510799A JP 21510799 A JP21510799 A JP 21510799A JP 2001043542 A JP2001043542 A JP 2001043542A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光スポットの光ディスクのトラックの横断時
に、フォーカスエラー信号に生じる乱れの打消しが可能
な光ディスク装置の提供。 【解決手段】 PD15により、第1の変調波信号S1
=(A+B)−(C+D)=Ao・sinθが、PD1
6a、16bにより第2の変調波信号S2=(E−F)
−(G−H)=Ao・cosθが検出され、無変調のフ
ォーカスエラー信号FEo≒FE−(k1/Ao)・c
osα・S1−(k1/Ao)・sinθ・S2によ
り、運転時に変調波信号にS1、S2を乗算し平均化処
理でB1、B2を求め、温度変化や経年変化に対応して
設定される定数K1=2・B1/(Ao)2 、定数K2
=−2B2/(Ao)2 による混合加算で、変調波信号
k1・sin(θ+α)を打消し、高サーボ帯域でもド
ライバの飽和、アクチュエータの消費電力が許容値逸脱
がなく安定したフォーカスサーボが可能になる。
に、フォーカスエラー信号に生じる乱れの打消しが可能
な光ディスク装置の提供。 【解決手段】 PD15により、第1の変調波信号S1
=(A+B)−(C+D)=Ao・sinθが、PD1
6a、16bにより第2の変調波信号S2=(E−F)
−(G−H)=Ao・cosθが検出され、無変調のフ
ォーカスエラー信号FEo≒FE−(k1/Ao)・c
osα・S1−(k1/Ao)・sinθ・S2によ
り、運転時に変調波信号にS1、S2を乗算し平均化処
理でB1、B2を求め、温度変化や経年変化に対応して
設定される定数K1=2・B1/(Ao)2 、定数K2
=−2B2/(Ao)2 による混合加算で、変調波信号
k1・sin(θ+α)を打消し、高サーボ帯域でもド
ライバの飽和、アクチュエータの消費電力が許容値逸脱
がなく安定したフォーカスサーボが可能になる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置に関
する。
する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置の光ディスクには、成形
時の熱歪みによって、僅かに反りとうねりが生じてお
り、さらに、光ディスクには、ターンテーブルへの搭載
時に、自重による撓みが生じると共に、光ディスクの中
心孔の加工精度による偏心も発生している。これらの要
因によって、光学ピックアップと光ディスクとの間に
は、常に0.2mm程度の面振れが存在するが、光学ピ
ックアップの対物レンズの焦点深度は±1μm程度なの
で、対物レンズを光軸方向に移動させて、光ディスクと
対物レンズ間の距離をレンズの焦点深度内に収めるフォ
ーカシング制御を行なう必要がある。このために、光学
ピックアップにより、フォーカスエラー信号を検出し、
検出したフォーカスエラー信号に基づいて、デジタルシ
ステムプロセッサによって、フォーカスエラー信号が、
予め設定された許容値以下になるような指令信号がドラ
イバに供給され、ドライバからのドライブ信号によっ
て、対物レンズが光軸方向に移送制御され、光ディスク
と対物レンズ間の距離をレンズの焦点深度内に収めるフ
ォーカシング制御が行なわれている。
時の熱歪みによって、僅かに反りとうねりが生じてお
り、さらに、光ディスクには、ターンテーブルへの搭載
時に、自重による撓みが生じると共に、光ディスクの中
心孔の加工精度による偏心も発生している。これらの要
因によって、光学ピックアップと光ディスクとの間に
は、常に0.2mm程度の面振れが存在するが、光学ピ
ックアップの対物レンズの焦点深度は±1μm程度なの
で、対物レンズを光軸方向に移動させて、光ディスクと
対物レンズ間の距離をレンズの焦点深度内に収めるフォ
ーカシング制御を行なう必要がある。このために、光学
ピックアップにより、フォーカスエラー信号を検出し、
検出したフォーカスエラー信号に基づいて、デジタルシ
ステムプロセッサによって、フォーカスエラー信号が、
予め設定された許容値以下になるような指令信号がドラ
イバに供給され、ドライバからのドライブ信号によっ
て、対物レンズが光軸方向に移送制御され、光ディスク
と対物レンズ間の距離をレンズの焦点深度内に収めるフ
ォーカシング制御が行なわれている。
【0003】前述のように、フォーカシング制御のため
には、フォーカスエラー信号を検出することが要求され
るが、このフォーカスエラー信号の検出法には、フーコ
法、スポットサイズ法、ナイフエッジ法、非点収差法な
どが知られており、これらの内で現在では、ナイフエッ
ジ法と非点収差とが主に利用されている。ナイフエッジ
法は 光路中の外乱に強いという利点があるが、光量損
失が多いことと、検出範囲が拡大すると極性が反転する
という難点があり、光学系も大型化するために、通常は
非点収差法が使用されることが多い。
には、フォーカスエラー信号を検出することが要求され
るが、このフォーカスエラー信号の検出法には、フーコ
法、スポットサイズ法、ナイフエッジ法、非点収差法な
どが知られており、これらの内で現在では、ナイフエッ
ジ法と非点収差とが主に利用されている。ナイフエッジ
法は 光路中の外乱に強いという利点があるが、光量損
失が多いことと、検出範囲が拡大すると極性が反転する
という難点があり、光学系も大型化するために、通常は
非点収差法が使用されることが多い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】非点収差法によるフォ
ーカスエラー信号の検出では、光学系を小型化すること
ができ、検出感度も高いが、光スポットが、光ディスク
のトラックを横切る際に、ナイフエッジ法よりもフォー
カスエラー信号に乱れが生じ易いという問題がある。こ
のフォーカスエラー信号に乱れが生じることは、非点収
差法に限らず、全てのフォーカスエラー信号の検出法に
対して問題となるが、図5に示すように、ランドLとグ
ルーブGで構成されるトラックが形成された光ディスク
1に、ランドLとグルーブGで2πとなる空間位相θを
定義設定することにする。ここで光スポット17を、矢
印Yで示す光ディスク1の半径方向に掃引移送させた場
合に、光学ピックアップから検出されるフォーカスエラ
ー信号FEには、光スポットが、光ディスク1のグルー
ブGの横断に起因する変調波が重畳され、フォーカスエ
ラー信号FEの波形に乱れが生じる。
ーカスエラー信号の検出では、光学系を小型化すること
ができ、検出感度も高いが、光スポットが、光ディスク
のトラックを横切る際に、ナイフエッジ法よりもフォー
カスエラー信号に乱れが生じ易いという問題がある。こ
のフォーカスエラー信号に乱れが生じることは、非点収
差法に限らず、全てのフォーカスエラー信号の検出法に
対して問題となるが、図5に示すように、ランドLとグ
ルーブGで構成されるトラックが形成された光ディスク
1に、ランドLとグルーブGで2πとなる空間位相θを
定義設定することにする。ここで光スポット17を、矢
印Yで示す光ディスク1の半径方向に掃引移送させた場
合に、光学ピックアップから検出されるフォーカスエラ
ー信号FEには、光スポットが、光ディスク1のグルー
ブGの横断に起因する変調波が重畳され、フォーカスエ
ラー信号FEの波形に乱れが生じる。
【0005】このようにして、検出されるフオーカスエ
ラー信号Eは、図6に信号FE1、FE2、FE3で示
すように、ほぼ正弦波状にトラックによる変調を受け、
一般には、トラックによる変調を受けない真のフォーカ
スエラー信号をFEo、空間位相をα、k1、k2・・
を定数として、検出されるフォーカスエラー信号FEは
次式で与えられる。
ラー信号Eは、図6に信号FE1、FE2、FE3で示
すように、ほぼ正弦波状にトラックによる変調を受け、
一般には、トラックによる変調を受けない真のフォーカ
スエラー信号をFEo、空間位相をα、k1、k2・・
を定数として、検出されるフォーカスエラー信号FEは
次式で与えられる。
【0006】 FE=FEo+k1・sin(θ+α)+k2・sin(2θ+α)+・・ (1)
【0007】この場合、実際には光学系のカットオフ周
波数のために、トラックによる変調の成分は、大部分が
基本波成分であり、これに2次成分が少しく重畳された
もので、3次以上の成分は極めて僅かであることが知ら
れている。一方で、光ディスク装置に要求されるデータ
の転送速度は、次第に高速化し光ディスクの回転数も年
々上がっており、高回転数化に対応してサーボのゲイン
が高められている。このために、フォーカスエラー信号
にトラックによる変調成分が含まれていると、シーク動
作で光スポットがトラックを横切る際に、サーボの位相
補償フィルタによる高周波帯域のゲインの増大によっ
て、アクチュエータのドライブ電流が増加し、ドライバ
動作が飽和してサーボ動作が乱れ、アクチュエータの消
費電力の増大によりノイズが増大するという問題が生じ
る。
波数のために、トラックによる変調の成分は、大部分が
基本波成分であり、これに2次成分が少しく重畳された
もので、3次以上の成分は極めて僅かであることが知ら
れている。一方で、光ディスク装置に要求されるデータ
の転送速度は、次第に高速化し光ディスクの回転数も年
々上がっており、高回転数化に対応してサーボのゲイン
が高められている。このために、フォーカスエラー信号
にトラックによる変調成分が含まれていると、シーク動
作で光スポットがトラックを横切る際に、サーボの位相
補償フィルタによる高周波帯域のゲインの増大によっ
て、アクチュエータのドライブ電流が増加し、ドライバ
動作が飽和してサーボ動作が乱れ、アクチュエータの消
費電力の増大によりノイズが増大するという問題が生じ
る。
【0008】本発明は、前述したような光ディスクのフ
ォーカスエラー信号検出の現状に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、光スポットが、光ディスクのトラッ
クを横切る際に、フォーカスエラー信号に生じる乱れを
打ち消し補償することが可能な光ディスク装置を提供す
ることにある。
ォーカスエラー信号検出の現状に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、光スポットが、光ディスクのトラッ
クを横切る際に、フォーカスエラー信号に生じる乱れを
打ち消し補償することが可能な光ディスク装置を提供す
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、光スポットが、光ディスク
の目的のトラック位置に掃引移送され、該トラック位置
において、前記光スポットのフォーカシングが行なわれ
る光ディスク装置であって、フォーカスエラー信号を検
出するフォーカスエラー信号検出手段と、前記光スポッ
トの前記トラックの横断により、変調を受けて乱れる前
記フォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調を受けた
第1の変調波信号を検出する第1の変調波検出手段と、
前記光スポットの前記トラックの横断により、変調を受
けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2の
変調を受け前記第1の変調波信号と90°位相を異にす
る第2の変調波信号を検出する第2の変調波検出手段
と、前記第1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算
し、前記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を乗算し
て、互いに加算することにより、前記フォーカスエラー
信号の前記トラックによる変調波成分を打ち消すように
演算処理を行なう演算処理手段とを有することを特長と
するものである。
に、請求項1記載の発明は、光スポットが、光ディスク
の目的のトラック位置に掃引移送され、該トラック位置
において、前記光スポットのフォーカシングが行なわれ
る光ディスク装置であって、フォーカスエラー信号を検
出するフォーカスエラー信号検出手段と、前記光スポッ
トの前記トラックの横断により、変調を受けて乱れる前
記フォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調を受けた
第1の変調波信号を検出する第1の変調波検出手段と、
前記光スポットの前記トラックの横断により、変調を受
けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2の
変調を受け前記第1の変調波信号と90°位相を異にす
る第2の変調波信号を検出する第2の変調波検出手段
と、前記第1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算
し、前記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を乗算し
て、互いに加算することにより、前記フォーカスエラー
信号の前記トラックによる変調波成分を打ち消すように
演算処理を行なう演算処理手段とを有することを特長と
するものである。
【0010】このような手段によると、サーボ帯域が高
く設定された状態でも、ドライバを飽和させず、アクチ
ュエータの消費電力の許容値からの逸脱を抑え、ノイズ
の発生を抑圧して安定したフォーカシングサーボが行な
われる。
く設定された状態でも、ドライバを飽和させず、アクチ
ュエータの消費電力の許容値からの逸脱を抑え、ノイズ
の発生を抑圧して安定したフォーカシングサーボが行な
われる。
【0011】同様に前記目的を達成するために、請求項
2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記フ
ォーカスエラー信号に前記第1の変調波信号を乗算し、
積分による平均化処理を行なって、前記第1のゲイン定
数を演算する第1の演算手段と、前記フォーカスエラー
信号に前記第2の変調波信号を乗算し、積分による平均
化処理を行なうことにより、前記第2のゲイン定数を演
算する第2の演算手段とが設けられていることを特徴と
するものである。
2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記フ
ォーカスエラー信号に前記第1の変調波信号を乗算し、
積分による平均化処理を行なって、前記第1のゲイン定
数を演算する第1の演算手段と、前記フォーカスエラー
信号に前記第2の変調波信号を乗算し、積分による平均
化処理を行なうことにより、前記第2のゲイン定数を演
算する第2の演算手段とが設けられていることを特徴と
するものである。
【0012】このような手段によると、請求項1記載の
発明での作用に加えて、第1の演算手段によって、フォ
ーカスエラー信号に第1の変調波信号が乗算され、積分
によって平均化処理が行なわれることにより、第1のゲ
イン定数が演算され、第2の演算手段によって、フォー
カスエラー信号に第2の変調波信号が乗算され、積分に
よって平均化処理が行なわれることにより、第2のゲイ
ン定数が演算され、光ディスク装置の運転時に、第1の
ゲイン定数と第2のゲイン定数とを、温度変化や特性変
化に対応して自動的に設定し、光スポットの光ディスク
のトラックの横切時に、フォーカスエラー信号に生じる
乱れの打ち消し補償が、温度変化や特性変化に適確に対
応した状態でより高精度に行なわれる。
発明での作用に加えて、第1の演算手段によって、フォ
ーカスエラー信号に第1の変調波信号が乗算され、積分
によって平均化処理が行なわれることにより、第1のゲ
イン定数が演算され、第2の演算手段によって、フォー
カスエラー信号に第2の変調波信号が乗算され、積分に
よって平均化処理が行なわれることにより、第2のゲイ
ン定数が演算され、光ディスク装置の運転時に、第1の
ゲイン定数と第2のゲイン定数とを、温度変化や特性変
化に対応して自動的に設定し、光スポットの光ディスク
のトラックの横切時に、フォーカスエラー信号に生じる
乱れの打ち消し補償が、温度変化や特性変化に適確に対
応した状態でより高精度に行なわれる。
【0013】同様に前記目的を達成するために、請求項
3記載の発明は、光スポットが、光ディスクの目的のト
ラック位置に掃引移送され、該トラック位置において、
前記光スポットのフォーカシングが行なわれる光ディス
ク装置であって、フォーカスエラー信号を検出するフォ
ーカスエラー信号検出手段と、前記光スポットの前記ト
ラックの横断により、変調を受けて乱れる前記フォーカ
スエラー信号に含まれ、第1の変調を受けた第1の変調
波信号を検出する第1の変調波検出手段と、前記光スポ
ット光の前記トラックの横断により、変調を受けて乱れ
る前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2の変調を受
け前記第1の変調波信号と90°位相を異にする第2の
変調波信号を検出する第2の変調波検出手段と、前記第
1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算する第1の乗
算手段と、前記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を
乗算する第2の乗算手段と、前記第1の乗算手段の出力
信号と前記第2の乗算手段の出力信号とを、前記フォー
カスエラー信号に加算する加算手段と、前記加算手段の
出力信号に前記第1の変調波信号を乗算し積分処理する
ことにより、前記第1の乗算手段に、前記第1のゲイン
定数をフィードバック設定する第1のゲイン定数設定手
段と、前記加算手段の出力信号に前記第2の変調波信号
を乗算し積分処理することにより、前記第2の乗算手段
に、前記第2のゲイン定数をフィードバック設定する第
2のゲイン設定手段とを有することを特徴とするもので
ある。
3記載の発明は、光スポットが、光ディスクの目的のト
ラック位置に掃引移送され、該トラック位置において、
前記光スポットのフォーカシングが行なわれる光ディス
ク装置であって、フォーカスエラー信号を検出するフォ
ーカスエラー信号検出手段と、前記光スポットの前記ト
ラックの横断により、変調を受けて乱れる前記フォーカ
スエラー信号に含まれ、第1の変調を受けた第1の変調
波信号を検出する第1の変調波検出手段と、前記光スポ
ット光の前記トラックの横断により、変調を受けて乱れ
る前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2の変調を受
け前記第1の変調波信号と90°位相を異にする第2の
変調波信号を検出する第2の変調波検出手段と、前記第
1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算する第1の乗
算手段と、前記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を
乗算する第2の乗算手段と、前記第1の乗算手段の出力
信号と前記第2の乗算手段の出力信号とを、前記フォー
カスエラー信号に加算する加算手段と、前記加算手段の
出力信号に前記第1の変調波信号を乗算し積分処理する
ことにより、前記第1の乗算手段に、前記第1のゲイン
定数をフィードバック設定する第1のゲイン定数設定手
段と、前記加算手段の出力信号に前記第2の変調波信号
を乗算し積分処理することにより、前記第2の乗算手段
に、前記第2のゲイン定数をフィードバック設定する第
2のゲイン設定手段とを有することを特徴とするもので
ある。
【0014】このような手段によると、光ディスク装置
の運転時に、温度変化や特性変化に対応して、第1のゲ
イン定数と第2のゲイン定数とが自動的に適確にフィー
ドバック設定され、光スポットの光ディスクのトラック
の横断時に、フォーカスエラー信号に生じる乱れの高精
度の打ち消し補償が、温度変化や特性変化により適確に
対応して行なわれ、サーボ帯域が高く設定された状態で
も、ドライバを飽和させず、アクチュエータの消費電力
の許容値よりの逸脱を抑え、ノイズの発生を抑圧した状
態で、より安定したフォーカシングサーボが行なわれ
る。
の運転時に、温度変化や特性変化に対応して、第1のゲ
イン定数と第2のゲイン定数とが自動的に適確にフィー
ドバック設定され、光スポットの光ディスクのトラック
の横断時に、フォーカスエラー信号に生じる乱れの高精
度の打ち消し補償が、温度変化や特性変化により適確に
対応して行なわれ、サーボ帯域が高く設定された状態で
も、ドライバを飽和させず、アクチュエータの消費電力
の許容値よりの逸脱を抑え、ノイズの発生を抑圧した状
態で、より安定したフォーカシングサーボが行なわれ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】[第1の実施の形態]本発明の第
1の実施の形態を、図1ないし図3を参照して説明す
る。図1は本実施の形態の検出信号パターンの説明図、
図2は本実施の形態の信号検出の説明図、図3は実施の
形態が適用される光ディスク装置のフォーカスサーボ系
の構成を示すブロック図である。
1の実施の形態を、図1ないし図3を参照して説明す
る。図1は本実施の形態の検出信号パターンの説明図、
図2は本実施の形態の信号検出の説明図、図3は実施の
形態が適用される光ディスク装置のフォーカスサーボ系
の構成を示すブロック図である。
【0016】本実施の形態が適用される光ディスクのフ
ォーカスサーボ系では、図3に示すように、光ディスク
1の記録・再生面に直角な方向に移送自在な対物レンズ
2が、光ディスク1に対向して配設され、また、光ディ
スク1に入射されるレーザ光の反射光を検出し、光ディ
スク1の記録・再生面と、反射光束の合焦点位置とのず
れを示すフォーカスエラー信号FEを出力する光学ピッ
クアップ5が設けられている。この光学ピックアップ5
から出力されるフォーカスエラー信号FEは、光学ピッ
クアップ5に接続されたADコンバータ6でAD変換さ
れ、ADコンバータ6に接続されたDSP(デジタルシ
ステムプロセッサ)7に入力され、DSP7に設けられ
ているフォーカスエラー信号検出手段によって検出され
る。DSP7には、システムコントローラ8が接続され
ており、DSP7はシステムコントローラ8からの指令
に基づいてサーボ制御を実行する。
ォーカスサーボ系では、図3に示すように、光ディスク
1の記録・再生面に直角な方向に移送自在な対物レンズ
2が、光ディスク1に対向して配設され、また、光ディ
スク1に入射されるレーザ光の反射光を検出し、光ディ
スク1の記録・再生面と、反射光束の合焦点位置とのず
れを示すフォーカスエラー信号FEを出力する光学ピッ
クアップ5が設けられている。この光学ピックアップ5
から出力されるフォーカスエラー信号FEは、光学ピッ
クアップ5に接続されたADコンバータ6でAD変換さ
れ、ADコンバータ6に接続されたDSP(デジタルシ
ステムプロセッサ)7に入力され、DSP7に設けられ
ているフォーカスエラー信号検出手段によって検出され
る。DSP7には、システムコントローラ8が接続され
ており、DSP7はシステムコントローラ8からの指令
に基づいてサーボ制御を実行する。
【0017】この場合、フォーカス制御に関しては、フ
ォーカスサーボ演算、フォーカス制御の引き込み、フォ
ーカス外れの検出の後処理などを実行し、DSP7から
出力されるドライブ信号Fdは、DSP7に接続された
DAコンバータ10でDA変換された後に、DAコンバ
ータ10に接続されたドライバ11に入力される。そし
て、ドライバ11からアクチュエータ3に駆動電流Id
が供給され、駆動電流Idによって、アクチュエータ3
が駆動され、対物レンズ2が光軸方向に移送されてサー
ボ制御動作が実行される。
ォーカスサーボ演算、フォーカス制御の引き込み、フォ
ーカス外れの検出の後処理などを実行し、DSP7から
出力されるドライブ信号Fdは、DSP7に接続された
DAコンバータ10でDA変換された後に、DAコンバ
ータ10に接続されたドライバ11に入力される。そし
て、ドライバ11からアクチュエータ3に駆動電流Id
が供給され、駆動電流Idによって、アクチュエータ3
が駆動され、対物レンズ2が光軸方向に移送されてサー
ボ制御動作が実行される。
【0018】本実施の形態では、図2に示すように、光
ディスク1の矢印X方向への回転時に、グルーブGとラ
ンドLとからなるトラックに直角方向に、光スポットが
掃引移送される際に、図示せぬ半導体レーザからの入射
光は、これも図示せぬグレーティングで分割され、先行
スポット12c、メインスポット12b、後行スポット
12aとして、光ディスク1上に互に空間位相をπ/2
ずつずれた位置にスポットを結ぶ。本実施の形態では、
光学ピックアップ5には、図1に示すように、光ディス
ク1からの反射光を受光する4分割型のフォトデテクタ
15、2分割型のフォトデテクタ16a、16bが設け
られている。すでに図6を参照して説明したように、フ
ォーカスエラー信号FEは、(1)式に示すように、ト
ラックによる変調を受けない真のフォーカスエラー信号
FEoに、空間位相がαで2π周期の変調成分信号が重
畳されたものとなっており、実際には、変調成分信号は
大部分が周期が2πの基本波である。
ディスク1の矢印X方向への回転時に、グルーブGとラ
ンドLとからなるトラックに直角方向に、光スポットが
掃引移送される際に、図示せぬ半導体レーザからの入射
光は、これも図示せぬグレーティングで分割され、先行
スポット12c、メインスポット12b、後行スポット
12aとして、光ディスク1上に互に空間位相をπ/2
ずつずれた位置にスポットを結ぶ。本実施の形態では、
光学ピックアップ5には、図1に示すように、光ディス
ク1からの反射光を受光する4分割型のフォトデテクタ
15、2分割型のフォトデテクタ16a、16bが設け
られている。すでに図6を参照して説明したように、フ
ォーカスエラー信号FEは、(1)式に示すように、ト
ラックによる変調を受けない真のフォーカスエラー信号
FEoに、空間位相がαで2π周期の変調成分信号が重
畳されたものとなっており、実際には、変調成分信号は
大部分が周期が2πの基本波である。
【0019】本実施の形態では、メインスポット12b
の反射光は、フォトデテクタ15で受光され、先行スポ
ット12cの反射光は、フォトデテクタ16aで受光さ
れ、後行スポット12aの反射光は、フォトデテクタ1
6bで受光され、図1に示すように、それぞれのフォト
デテクタでの受光スポットには、トラックの横断に伴っ
て変調を受けて明暗が生じ、フォトデテクタ15では、
4分割部分の各出力信号がA、B、C、Dとして得ら
れ、フォトデテクタ16aでは、2分割の各出力信号が
E、Fとして得られ、フォトデテクタ16bでは、2分
割の各出力信号がG、Hとして得られる。そして、光学
ピックアップ5において検出されるフォーカスエラー信
号FE、光スポットのトラック横断による第1の変調波
信号S1、光スポットのトラック横断による第2の変調
波信号S2は、それぞれ以下のようになる。
の反射光は、フォトデテクタ15で受光され、先行スポ
ット12cの反射光は、フォトデテクタ16aで受光さ
れ、後行スポット12aの反射光は、フォトデテクタ1
6bで受光され、図1に示すように、それぞれのフォト
デテクタでの受光スポットには、トラックの横断に伴っ
て変調を受けて明暗が生じ、フォトデテクタ15では、
4分割部分の各出力信号がA、B、C、Dとして得ら
れ、フォトデテクタ16aでは、2分割の各出力信号が
E、Fとして得られ、フォトデテクタ16bでは、2分
割の各出力信号がG、Hとして得られる。そして、光学
ピックアップ5において検出されるフォーカスエラー信
号FE、光スポットのトラック横断による第1の変調波
信号S1、光スポットのトラック横断による第2の変調
波信号S2は、それぞれ以下のようになる。
【0020】 FE=(A+C)−(B+D) (2)
【0021】 S1=(A+B)−(C+D) (3)
【0022】 S2=(E−F)−(G−H) (4)
【0023】ここで簡単のために、第1の変調波信号S
1の検出ゲインと、第2の変調波信号S2の検出ゲイン
とが等しく、Aoに調整設定されているものとすると、
S1、S2はそれぞれ以下のように表される。
1の検出ゲインと、第2の変調波信号S2の検出ゲイン
とが等しく、Aoに調整設定されているものとすると、
S1、S2はそれぞれ以下のように表される。
【0024】 S1=Ao・sinθ (5)
【0025】 S2=Ao・cosθ (6)
【0026】一方、(1)式において、三角法の公式を
用い(5)(6)式を代入すると次式が得られる。
用い(5)(6)式を代入すると次式が得られる。
【0027】 k1・sin(θ+α)=(k1/Ao)・cosα・S1 +(k1/Ao)・sinα・S2 (7)
【0028】(7)式から次式が得られる。
【0029】 FE−(k1/Ao)・cosα・S1−(k1/Ao)・sinα・S2 ≒FEo (8)
【0030】(8)式からsinαとcosαの位相差
を勘案すると、第1の変調波信号S1と第2の変調波信
号S2とに、次式で示される定数K1、K2をそれぞれ
乗算することにより、フォーカスエラー信号FEに対し
て、トラックの横断による変調波成分を打ち消し補償す
ることができることになる。
を勘案すると、第1の変調波信号S1と第2の変調波信
号S2とに、次式で示される定数K1、K2をそれぞれ
乗算することにより、フォーカスエラー信号FEに対し
て、トラックの横断による変調波成分を打ち消し補償す
ることができることになる。
【0031】 K1=−(k1/Ao)・cosα (9)
【0032】 K2=−(k1/Ao)・sinα (10)
【0033】(9)式及び(10)式により定数K1、
K2を求めて、装置の出荷時にトラックの横断による変
調波成分を打ち消し補償することができるが、この方式
では、温度変化や経年変化に適確に対応できないので、
本実施の形態では、DSP7に運転時にK1を演算する
第1の演算手段と、K2を演算する第2の演算手段とが
設けられている。この場合、光スポットを、空間角周波
数ω(θ=ωt)で、トラックと直角方向に掃引移送
し、その時のフォーカスエラー信号のトラックによる変
調成分k1・sin(ωt+α)にS1を乗算し、この
場合、発生する倍周波数の正弦波成分が積分により十分
に平滑化されるように、空間角周波数ωと時間平均の時
定数を設定して、演算を行い得られた信号を積分し時間
平均値を求めると次式が得られる。
K2を求めて、装置の出荷時にトラックの横断による変
調波成分を打ち消し補償することができるが、この方式
では、温度変化や経年変化に適確に対応できないので、
本実施の形態では、DSP7に運転時にK1を演算する
第1の演算手段と、K2を演算する第2の演算手段とが
設けられている。この場合、光スポットを、空間角周波
数ω(θ=ωt)で、トラックと直角方向に掃引移送
し、その時のフォーカスエラー信号のトラックによる変
調成分k1・sin(ωt+α)にS1を乗算し、この
場合、発生する倍周波数の正弦波成分が積分により十分
に平滑化されるように、空間角周波数ωと時間平均の時
定数を設定して、演算を行い得られた信号を積分し時間
平均値を求めると次式が得られる。
【0034】 B1=−(1/2)・k1・Ao・cosα (11)
【0035】同様に、フォーカスエラー信号のトラック
による変調成分k1・sin(ωt+α)にS2を乗算
し、得られた信号を積分し時間平均値を求めると次式が
得られる。
による変調成分k1・sin(ωt+α)にS2を乗算
し、得られた信号を積分し時間平均値を求めると次式が
得られる。
【0036】 B2=−(1/2)・k1・Ao・sinα (12)
【0037】そして、本実施の形態では、DSP7によ
って、(11)式及び(12)式に基づき、定数K1、
K2が、運転時に次式に基づいて設定される。
って、(11)式及び(12)式に基づき、定数K1、
K2が、運転時に次式に基づいて設定される。
【0038】 K1=−(k1/Ao)・cosα=2・B1/(Ao)2 (13)
【0039】 K2=−(k1/Ao)・sinα=−2B2/(Ao)2 (14)
【0040】このように、本実施の形態によると、光学
ピックアップ5に設けられているフォトデテクタ15に
より、フォーカスエラー信号FE=(A+C)−(B+
D)が検出され、また、第1の変調波信号S1=(A+
B)−(C+D)=Ao・sinθが検出される。さら
に、フォトデテクタ16a、16bによって、第2の変
調波信号S2=(E−F)−(G−H)=Ao・cos
θが検出される。そして、変調を受けないフォーカスエ
ラー信号FEoについて、FEo≒FE−(k1/A
o)・cosα・S1−(k1/Ao)・sinθ・S
2の関係があることから、定数K1、K2を、K1=−
(k1/Ao)・cosα、K2=−(k1/Ao)・
sinαに設定して演算を行なうことにより、フォーカ
スエラー信号FEから、光スポットのトラックの横断に
より生じる変調波信号k1・sin(θ+α)が打ち消
し補償される。
ピックアップ5に設けられているフォトデテクタ15に
より、フォーカスエラー信号FE=(A+C)−(B+
D)が検出され、また、第1の変調波信号S1=(A+
B)−(C+D)=Ao・sinθが検出される。さら
に、フォトデテクタ16a、16bによって、第2の変
調波信号S2=(E−F)−(G−H)=Ao・cos
θが検出される。そして、変調を受けないフォーカスエ
ラー信号FEoについて、FEo≒FE−(k1/A
o)・cosα・S1−(k1/Ao)・sinθ・S
2の関係があることから、定数K1、K2を、K1=−
(k1/Ao)・cosα、K2=−(k1/Ao)・
sinαに設定して演算を行なうことにより、フォーカ
スエラー信号FEから、光スポットのトラックの横断に
より生じる変調波信号k1・sin(θ+α)が打ち消
し補償される。
【0041】この場合、本実施の形態においては、DS
P7において、フォーカスエラー信号のトラックによる
変調成分k1・sin(ωt+α)にS1が乗算され、
変調成分k1・sin(ωt+α)にS2が乗算され、
得られた信号が積分され時間平均値が求められることに
より、B1=−(1/2)・k1・Ao・cosαと、
B2=−(1/2)・k1・Ao・sinαとが求めら
れる。そして、DSP7によって、定数K1、K2が、
運転時に、K1=2・B1/(Ao)2 、K2=−2B
2/(Ao)2 として自動的に設定される。
P7において、フォーカスエラー信号のトラックによる
変調成分k1・sin(ωt+α)にS1が乗算され、
変調成分k1・sin(ωt+α)にS2が乗算され、
得られた信号が積分され時間平均値が求められることに
より、B1=−(1/2)・k1・Ao・cosαと、
B2=−(1/2)・k1・Ao・sinαとが求めら
れる。そして、DSP7によって、定数K1、K2が、
運転時に、K1=2・B1/(Ao)2 、K2=−2B
2/(Ao)2 として自動的に設定される。
【0042】このために、本実施の形態によると、温度
変化や経年変化に対応して、定数K1、K2を運転時に
自動的に設定し、フォーカスエラー信号に重畳される光
スポットのトラック横断による変調波信号を打ち消し補
償することにより、サーボ帯域のゲインが高く設定され
ても、ドライバが飽和したり、アクチュエータの消費電
力が許容値を越えることがなくなり、安定したフォーカ
シングサーボを行なうことが可能になる。
変化や経年変化に対応して、定数K1、K2を運転時に
自動的に設定し、フォーカスエラー信号に重畳される光
スポットのトラック横断による変調波信号を打ち消し補
償することにより、サーボ帯域のゲインが高く設定され
ても、ドライバが飽和したり、アクチュエータの消費電
力が許容値を越えることがなくなり、安定したフォーカ
シングサーボを行なうことが可能になる。
【0043】[第2の実施の形態]本発明の第2の実施
の形態を、図4を参照して説明する。図4は本実施の形
態の要部の構成を示す説明図である。
の形態を、図4を参照して説明する。図4は本実施の形
態の要部の構成を示す説明図である。
【0044】本実施の形態では、DSP7に図4に示す
ような演算制御回路30が設けられており、フォーカス
エラー信号FEoに残っているトラックによる変調波信
号a・sinθ+b・cosθに、乗算器20において
信号S1が乗算され、積分器22で積分が行なわれる
が、積分器22において積分された演算信号D1は、次
式で表される。
ような演算制御回路30が設けられており、フォーカス
エラー信号FEoに残っているトラックによる変調波信
号a・sinθ+b・cosθに、乗算器20において
信号S1が乗算され、積分器22で積分が行なわれる
が、積分器22において積分された演算信号D1は、次
式で表される。
【0045】 D1=−(1/2)a・Ao・∫dt (15)
【0046】同様にして、変調波信号a・sinθ+b
・cosθに、乗算器21において信号S2が乗算さ
れ、積分器23において積分された演算信号D2は、次
式で表される。
・cosθに、乗算器21において信号S2が乗算さ
れ、積分器23において積分された演算信号D2は、次
式で表される。
【0047】 D2=−(1/2)b・Ao・∫dt (16)
【0048】これらの演算においては、信号S1、S2
を使用する乗算で発生する倍周波数の正弦波成分は、積
分により十分に平滑化されるように、トラック掃引の角
周波数ωとループゲインが設定される。
を使用する乗算で発生する倍周波数の正弦波成分は、積
分により十分に平滑化されるように、トラック掃引の角
周波数ωとループゲインが設定される。
【0049】演算器24でフィードバック設定される混
合ゲインの定数は、K1=K・D1=−K・(1/2)
・a・Ao・∫dtとなり、演算器25でフィードバッ
ク設定される混合ゲインの定数は、K2=K・D2=−
K・(1/2)・b・Ao・∫dtとなる。従って、定
数K1、K2による混合ゲイン処理を通じて、フォーカ
スエラー信号FEにフィードバックされる信号は、S1
側で−K・(1/2)・a・Ao2・∫dt・sinθ
となり、S2側で−K・(1/2)・b・Ao2 ・∫d
t・cosθとなる。
合ゲインの定数は、K1=K・D1=−K・(1/2)
・a・Ao・∫dtとなり、演算器25でフィードバッ
ク設定される混合ゲインの定数は、K2=K・D2=−
K・(1/2)・b・Ao・∫dtとなる。従って、定
数K1、K2による混合ゲイン処理を通じて、フォーカ
スエラー信号FEにフィードバックされる信号は、S1
側で−K・(1/2)・a・Ao2・∫dt・sinθ
となり、S2側で−K・(1/2)・b・Ao2 ・∫d
t・cosθとなる。
【0050】この演算制御回路30のループゲインを考
えてみると、変調信号において、aであったsinθの
項の大きさが、−K・(1/2)・a・Ao2 ・∫dt
で帰還され、同様に変調信号のbであったcosθの項
の大きさが、−K・(1/2)・b・Ao2 ・∫dtで
帰還されているので、この演算制御回路30は、一個の
積分項を有しゲインが(1/2)・K・Ao2 の負帰還
ループを有することになり、変調信号成分は、安定に定
常偏差なく収束され、収束された状態ではa→0、b→
0となって、フォーカスエラー信号FEoには、トラッ
クによる変調波信号は残らなくなる。このようにして、
本実施の形態によると、第1の実施の形態で得られる効
果に加えて、混合ゲインの定数K1、K2が、フィード
バックの手法により、自動的に最良ポイントに調整され
る。本実施のその他の部分の構成及びその他の動作は、
すでに説明した第1の実施の形態と同一なので、重複す
る説明は行なわない。
えてみると、変調信号において、aであったsinθの
項の大きさが、−K・(1/2)・a・Ao2 ・∫dt
で帰還され、同様に変調信号のbであったcosθの項
の大きさが、−K・(1/2)・b・Ao2 ・∫dtで
帰還されているので、この演算制御回路30は、一個の
積分項を有しゲインが(1/2)・K・Ao2 の負帰還
ループを有することになり、変調信号成分は、安定に定
常偏差なく収束され、収束された状態ではa→0、b→
0となって、フォーカスエラー信号FEoには、トラッ
クによる変調波信号は残らなくなる。このようにして、
本実施の形態によると、第1の実施の形態で得られる効
果に加えて、混合ゲインの定数K1、K2が、フィード
バックの手法により、自動的に最良ポイントに調整され
る。本実施のその他の部分の構成及びその他の動作は、
すでに説明した第1の実施の形態と同一なので、重複す
る説明は行なわない。
【0051】以上に説明したように、本実施の形態によ
ると、光ディスク装置の運転時に、温度変化や特性変化
に対応して、混合ゲインの定数K1、K2を、自動的に
適確にフィードバック設定することにより、光スポット
の光ディスクのトラックの横断時に、フォーカスエラー
信号に生じる乱れに対して、より高精度の打ち消し補償
を行なって、サーボ帯域が高く設定された状態でも、ド
ライバが飽和したり、アクチュエータの消費電力が許容
値を越えることがなく、ノイズの発生を抑圧してより安
定したフォーカシングサーボを行なうことが可能にな
る。
ると、光ディスク装置の運転時に、温度変化や特性変化
に対応して、混合ゲインの定数K1、K2を、自動的に
適確にフィードバック設定することにより、光スポット
の光ディスクのトラックの横断時に、フォーカスエラー
信号に生じる乱れに対して、より高精度の打ち消し補償
を行なって、サーボ帯域が高く設定された状態でも、ド
ライバが飽和したり、アクチュエータの消費電力が許容
値を越えることがなく、ノイズの発生を抑圧してより安
定したフォーカシングサーボを行なうことが可能にな
る。
【0052】
【発明の効果】請求項1記載の発明によると、光スポッ
トが、光ディスクの目的のトラック位置に掃引移送さ
れ、該トラック位置において、光スポットのフォーカシ
ングを行なう場合に、光スポットのトラック横断によっ
て、フォーカスエラー信号検出手段により検出されるフ
ォーカスエラー信号には、変調波成分が重畳されて波形
が乱れるが、第1の変調波検出手段によって、変調を受
けて乱れるフォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調
を受けた第1の変調波信号が検出され、第2の変調波検
出手段によって、変調を受けて乱れるフォーカスエラー
信号に含まれ、第2の変調を受け、第1の変調波信号と
90°位相を異にする第2の変調波信号が検出され、演
算処理手段によって、第1の変調波信号に第1のゲイン
定数が乗算され、第2の変調波信号に第2のゲイン定数
が乗算され、互いに加算することにより、フォーカスエ
ラー信号のトラックによる変調波成分を打ち消し補償す
るように演算処理が行なわれる。このようにして、サー
ボ帯域が高く設定されても、ドライバが飽和したり、ア
クチュエータの消費電力が許容値を越えることがなく、
ノイズの発生を抑圧して安定したフォーカシングサーボ
を行なうことが可能になる。
トが、光ディスクの目的のトラック位置に掃引移送さ
れ、該トラック位置において、光スポットのフォーカシ
ングを行なう場合に、光スポットのトラック横断によっ
て、フォーカスエラー信号検出手段により検出されるフ
ォーカスエラー信号には、変調波成分が重畳されて波形
が乱れるが、第1の変調波検出手段によって、変調を受
けて乱れるフォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調
を受けた第1の変調波信号が検出され、第2の変調波検
出手段によって、変調を受けて乱れるフォーカスエラー
信号に含まれ、第2の変調を受け、第1の変調波信号と
90°位相を異にする第2の変調波信号が検出され、演
算処理手段によって、第1の変調波信号に第1のゲイン
定数が乗算され、第2の変調波信号に第2のゲイン定数
が乗算され、互いに加算することにより、フォーカスエ
ラー信号のトラックによる変調波成分を打ち消し補償す
るように演算処理が行なわれる。このようにして、サー
ボ帯域が高く設定されても、ドライバが飽和したり、ア
クチュエータの消費電力が許容値を越えることがなく、
ノイズの発生を抑圧して安定したフォーカシングサーボ
を行なうことが可能になる。
【0053】請求項2記載の発明によると、請求項1記
載の発明で得られる効果に加えて、第1の演算手段によ
って、フォーカスエラー信号に第1の変調波信号が乗算
され、積分によって平均化処理が行なわれることによ
り、第1のゲイン定数が演算され、第2の演算手段によ
って、フォーカスエラー信号に第2の変調波信号が乗算
され、積分によって平均化処理が行なわれることによ
り、第2のゲイン定数が演算されるので、光ディスク装
置の運転時に、第1のゲイン定数と第2のゲイン定数と
を自動設定して、温度変化や特性変化に対応して、光ス
ポットの光ディスクのトラックの横断時に、フォーカス
エラー信号に生じる乱れに対して高精度の打ち消し補償
を行なうことが可能になる。
載の発明で得られる効果に加えて、第1の演算手段によ
って、フォーカスエラー信号に第1の変調波信号が乗算
され、積分によって平均化処理が行なわれることによ
り、第1のゲイン定数が演算され、第2の演算手段によ
って、フォーカスエラー信号に第2の変調波信号が乗算
され、積分によって平均化処理が行なわれることによ
り、第2のゲイン定数が演算されるので、光ディスク装
置の運転時に、第1のゲイン定数と第2のゲイン定数と
を自動設定して、温度変化や特性変化に対応して、光ス
ポットの光ディスクのトラックの横断時に、フォーカス
エラー信号に生じる乱れに対して高精度の打ち消し補償
を行なうことが可能になる。
【0054】請求項3記載の発明によると、光スポット
が、光ディスクの目的のトラック位置に掃引移送され、
該トラック位置において、光スポットのフォーカシング
を行なう場合に、光スポットのトラック横断によって、
フォーカスエラー信号検出手段により検出されるフォー
カスエラー信号には、変調波成分が重畳されて波形が乱
れるが、第1の変調波検出手段によって、変調を受けて
乱れるフォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調を受
けた第1の変調波信号が検出され、第2の変調波検出手
段によって、変調を受けて乱れる前記フォーカスエラー
信号に含まれ、第2の変調を受け第1の変調波信号と9
0°位相を異にする第2の変調波信号が検出され、第1
の乗算手段により第1の変調波信号に第1のゲイン定数
が乗算され、第2の乗算手段により第2の変調波信号に
第2のゲイン定数が乗算され、加算手段により第1の乗
算手段の出力信号と第2の乗算手段の出力信号とが、フ
ォーカスエラー信号に加算される。そして、第1のゲイ
ン定数設定手段により加算手段の出力信号に第1の変調
波信号が乗算され、積分処理されることにより、第1の
ゲイン定数が、第1の乗算手段にフィードバック設定さ
れ、第2のゲイン定数設定手段により、加算手段の出力
信号に第2の変調波信号が乗算され積分処理されること
により、第2のゲイン定数が、第2の乗算手段にフィー
ドバック設定される。
が、光ディスクの目的のトラック位置に掃引移送され、
該トラック位置において、光スポットのフォーカシング
を行なう場合に、光スポットのトラック横断によって、
フォーカスエラー信号検出手段により検出されるフォー
カスエラー信号には、変調波成分が重畳されて波形が乱
れるが、第1の変調波検出手段によって、変調を受けて
乱れるフォーカスエラー信号に含まれ、第1の変調を受
けた第1の変調波信号が検出され、第2の変調波検出手
段によって、変調を受けて乱れる前記フォーカスエラー
信号に含まれ、第2の変調を受け第1の変調波信号と9
0°位相を異にする第2の変調波信号が検出され、第1
の乗算手段により第1の変調波信号に第1のゲイン定数
が乗算され、第2の乗算手段により第2の変調波信号に
第2のゲイン定数が乗算され、加算手段により第1の乗
算手段の出力信号と第2の乗算手段の出力信号とが、フ
ォーカスエラー信号に加算される。そして、第1のゲイ
ン定数設定手段により加算手段の出力信号に第1の変調
波信号が乗算され、積分処理されることにより、第1の
ゲイン定数が、第1の乗算手段にフィードバック設定さ
れ、第2のゲイン定数設定手段により、加算手段の出力
信号に第2の変調波信号が乗算され積分処理されること
により、第2のゲイン定数が、第2の乗算手段にフィー
ドバック設定される。
【0055】このようにして、光ディスク装置の運転時
に、温度変化や特性変化に対応して、第1のゲイン定数
と第2のゲイン定数とを自動的に適確にフィードバック
設定することにより、光スポットの光ディスクのトラッ
クの横断時に、フォーカスエラー信号に生じる乱れに対
して、より高精度の打ち消し補償を行なって、サーボ帯
域が高く設定された状態でも、ドライバが飽和したり、
アクチュエータの消費電力が許容値を越えることがな
く、ノイズの発生を抑圧してより安定したフォーカシン
グサーボを行なうことが可能になる。
に、温度変化や特性変化に対応して、第1のゲイン定数
と第2のゲイン定数とを自動的に適確にフィードバック
設定することにより、光スポットの光ディスクのトラッ
クの横断時に、フォーカスエラー信号に生じる乱れに対
して、より高精度の打ち消し補償を行なって、サーボ帯
域が高く設定された状態でも、ドライバが飽和したり、
アクチュエータの消費電力が許容値を越えることがな
く、ノイズの発生を抑圧してより安定したフォーカシン
グサーボを行なうことが可能になる。
【図1】本発明の一実施の形態の検出信号パターンの説
明図である。
明図である。
【図2】同実施の形態の信号検出の説明図である。
【図3】同実施の形態が適用される光ディスク装置のフ
ォーカスサーボ系の構成を示すブロック図である。
ォーカスサーボ系の構成を示すブロック図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態の要部の構成を示す
説明図である。
説明図である。
【図5】光ディスク装置におけるフォーカスエラー信号
のトラックの横断による変調の説明図である。
のトラックの横断による変調の説明図である。
【図6】光ディスク装置におけるフォーカスエラー信号
の特性図である。
の特性図である。
1・・光ディスク、2・・対物レンズ、3・・アクチュ
エータ、5・・光学ピックアップ、7・・DSP、8・
・システムコントローラ、11・・ドライバ、12a・
・後行スポット、12b・・メインスポット、12c・
・先行スポット、15・・フォトデテクタ、16a、1
6b・・フォトデテクタ、30・・演算制御回路。
エータ、5・・光学ピックアップ、7・・DSP、8・
・システムコントローラ、11・・ドライバ、12a・
・後行スポット、12b・・メインスポット、12c・
・先行スポット、15・・フォトデテクタ、16a、1
6b・・フォトデテクタ、30・・演算制御回路。
Claims (3)
- 【請求項1】 光スポットが、光ディスクの目的のトラ
ック位置に掃引移送され、該トラック位置において、前
記光スポットのフォーカシングが行なわれる光ディスク
装置であって、 フォーカスエラー信号を検出するフォーカスエラー信号
検出手段と、 前記光スポットの前記トラックの横断により、変調を受
けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第1の
変調を受けた第1の変調波信号を検出する第1の変調波
検出手段と、 前記光スポットの前記トラックの横断により、変調を受
けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2の
変調を受け前記第1の変調波信号と90°位相を異にす
る第2の変調波信号を検出する第2の変調波検出手段
と、 前記第1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算し、前
記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を乗算して、互
いに加算することにより、前記フォーカスエラー信号の
前記トラックによる変調波成分を打ち消すように演算処
理を行なう演算処理手段とを有することを特徴とする光
ディスク装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の光ディスク装置におい
て、 前記フォーカスエラー信号に前記第1の変調波信号を乗
算し、積分による平均化処理を行なって、前記第1のゲ
イン定数を演算する第1の演算手段と、 前記フォーカスエラー信号に前記第2の変調波信号を乗
算し、積分による平均化処理を行なうことにより、前記
第2のゲイン定数を演算する第2の演算手段とが設けら
れていることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項3】 光スポットが、光ディスクの目的のトラ
ック位置に掃引移送され、該トラック位置において、前
記光スポットのフォーカシングが行なわれる光ディスク
装置であって、 フォーカスエラー信号を検出するフォーカスエラー信号
検出手段と、 前記光スポットの前記トラックの横断により、変調を受
けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第1の
変調を受けた第1の変調波信号を検出する第1の変調波
検出手段と、 前記光スポット光の前記トラックの横断により、変調を
受けて乱れる前記フォーカスエラー信号に含まれ、第2
の変調を受け前記第1の変調波信号と90°位相を異に
する第2の変調波信号を検出する第2の変調波検出手段
と、 前記第1の変調波信号に第1のゲイン定数を乗算する第
1の乗算手段と、 前記第2の変調波信号に第2のゲイン定数を乗算する第
2の乗算手段と、 前記第1の乗算手段の出力信号と前記第2の乗算手段の
出力信号とを、前記フォーカスエラー信号に加算する加
算手段と、 前記加算手段の出力信号に前記第1の変調波信号を乗算
し積分処理することにより、前記第1の乗算手段に、前
記第1のゲイン定数をフィードバック設定する第1のゲ
イン定数設定手段と、 前記加算手段の出力信号に前記第2の変調波信号を乗算
し積分処理することにより、前記第2の乗算手段に、前
記第2のゲイン定数をフィードバック設定する第2のゲ
イン設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21510799A JP2001043542A (ja) | 1999-07-29 | 1999-07-29 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21510799A JP2001043542A (ja) | 1999-07-29 | 1999-07-29 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001043542A true JP2001043542A (ja) | 2001-02-16 |
Family
ID=16666878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21510799A Pending JP2001043542A (ja) | 1999-07-29 | 1999-07-29 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001043542A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100498455B1 (ko) * | 2002-11-07 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 서보 시스템의 루프이득을 제어하기 위한 장치 및 방법 |
-
1999
- 1999-07-29 JP JP21510799A patent/JP2001043542A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100498455B1 (ko) * | 2002-11-07 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 서보 시스템의 루프이득을 제어하기 위한 장치 및 방법 |
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