JP2001034774A - 自由曲線の近似変換方法、装置及び記録媒体 - Google Patents
自由曲線の近似変換方法、装置及び記録媒体Info
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- JP2001034774A JP2001034774A JP11206853A JP20685399A JP2001034774A JP 2001034774 A JP2001034774 A JP 2001034774A JP 11206853 A JP11206853 A JP 11206853A JP 20685399 A JP20685399 A JP 20685399A JP 2001034774 A JP2001034774 A JP 2001034774A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 任意タイプで任意次数の自由曲線をＢ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線に近似変換可能とする。 【解決手段】 生成する近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次
数と許容誤差とを設定し、さらに近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ
曲線を生成するためのサンプリング点数を決める。そし
て元となる自由曲線１におけるサンプリング点間の長さ
が同じになるサンプリング点の位置を計算し、さらにサ
ンプリング点間のパラメーター間隔が同じになるような
サンプリング点のパラメーターを設定する。次いで上記
のパラメーターから近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅの曲線のノッ
トベクトルを計算する。そして得られたサンプリング点
の位置、サンプリング点のパラメーター、近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線の次数、及びノットベクトルから近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成する。
ｌｉｎｅ曲線に近似変換可能とする。 【解決手段】 生成する近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次
数と許容誤差とを設定し、さらに近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ
曲線を生成するためのサンプリング点数を決める。そし
て元となる自由曲線１におけるサンプリング点間の長さ
が同じになるサンプリング点の位置を計算し、さらにサ
ンプリング点間のパラメーター間隔が同じになるような
サンプリング点のパラメーターを設定する。次いで上記
のパラメーターから近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅの曲線のノッ
トベクトルを計算する。そして得られたサンプリング点
の位置、サンプリング点のパラメーター、近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線の次数、及びノットベクトルから近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自由曲線の近似変
換方法、装置及び記録媒体に関し、より詳細には、異シ
ステム間のデータ変換に適用される自由曲線の近似変換
技術に関する。
換方法、装置及び記録媒体に関し、より詳細には、異シ
ステム間のデータ変換に適用される自由曲線の近似変換
技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】特許第２８１１４３０号によれば、異シ
ステム間のデータ交換において、あるシステムのＢｅｚ
ｉｅｒ曲線を他のシステムのＢｅｚｉｅｒ曲線に変換し
ていた。しかし、上記の方法はＢｅｚｉｅｒ曲線同士の
変換にしか対応していないため、応用範囲が限られてい
る。
ステム間のデータ交換において、あるシステムのＢｅｚ
ｉｅｒ曲線を他のシステムのＢｅｚｉｅｒ曲線に変換し
ていた。しかし、上記の方法はＢｅｚｉｅｒ曲線同士の
変換にしか対応していないため、応用範囲が限られてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の問題点
を解決するために、任意タイプで任意次数の自由曲線を
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に近似変換することができる自由
曲線の近似変換方法、装置及びこれらを実施するための
記録媒体を提供することを目的とする。
を解決するために、任意タイプで任意次数の自由曲線を
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に近似変換することができる自由
曲線の近似変換方法、装置及びこれらを実施するための
記録媒体を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、自由
曲線を近似変換して近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を得る自
由曲線の近似変換方法において、求める前記近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定し、元の前記自由曲線にお
けるサンプリング点間の長さが同じになるように該サン
プリング点の位置を計算し、該サンプリング点間のパラ
メーター間隔が同じになるように各前記サンプリング点
のパラメーターを設定し、該パラメーターから前記近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノットベクトルを計算し、前記
サンプリング点の位置、前記サンプリング点のパラメー
ター、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及び前記
ノットベクトルから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生
成することを特徴とするものである。
曲線を近似変換して近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を得る自
由曲線の近似変換方法において、求める前記近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定し、元の前記自由曲線にお
けるサンプリング点間の長さが同じになるように該サン
プリング点の位置を計算し、該サンプリング点間のパラ
メーター間隔が同じになるように各前記サンプリング点
のパラメーターを設定し、該パラメーターから前記近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノットベクトルを計算し、前記
サンプリング点の位置、前記サンプリング点のパラメー
ター、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及び前記
ノットベクトルから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生
成することを特徴とするものである。
【０００５】請求項２の発明は、請求項１の発明におい
て、制御点の分布が不均等である前記自由曲線に対し
て、制御点の分布が均等であるような前記近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とするものである。
て、制御点の分布が不均等である前記自由曲線に対し
て、制御点の分布が均等であるような前記近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とするものである。
【０００６】請求項３の発明は、請求項１の発明におい
て、元の前記自由曲線と前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
との許容誤差を指定し、近似変換の評価を行うための評
価位置を決定し、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成
した後、前記評価位置における元の前記自由曲線と前記
近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との距離を計算し、該距離が
前記許容誤差より大きければ、前記自由曲線上のサンプ
リング点の数を増やして前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
の生成を再度実行することを特徴とするものである。
て、元の前記自由曲線と前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
との許容誤差を指定し、近似変換の評価を行うための評
価位置を決定し、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成
した後、前記評価位置における元の前記自由曲線と前記
近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との距離を計算し、該距離が
前記許容誤差より大きければ、前記自由曲線上のサンプ
リング点の数を増やして前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
の生成を再度実行することを特徴とするものである。
【０００７】請求項４の発明は、請求項２の発明におい
て、制御点が多い曲線に対して、大きい値の許容誤差を
指定し、少ない制御点が均一に分布するような前記近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とするもの
である。
て、制御点が多い曲線に対して、大きい値の許容誤差を
指定し、少ない制御点が均一に分布するような前記近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とするもの
である。
【０００８】請求項５の発明は、請求項１の発明におい
て、元の前記自由曲線のタイプ及び次数に制限がないこ
とを特徴とするものである。
て、元の前記自由曲線のタイプ及び次数に制限がないこ
とを特徴とするものである。
【０００９】請求項６の発明は、求める前記近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定する手段と、元の前記自由
曲線におけるサンプリング点間の長さが同じになるよう
に該サンプリング点の位置を計算する手段と、該サンプ
リング点間のパラメーター間隔が同じになるように各前
記サンプリング点のパラメーターを設定する手段と、該
パラメーターから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノッ
トベクトルを計算する手段と、前記サンプリング点の位
置、前記サンプリング点のパラメーター、前記近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及び前記ノットベクトルから
前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成する手段とを有す
ることを特徴とするものである。
ｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定する手段と、元の前記自由
曲線におけるサンプリング点間の長さが同じになるよう
に該サンプリング点の位置を計算する手段と、該サンプ
リング点間のパラメーター間隔が同じになるように各前
記サンプリング点のパラメーターを設定する手段と、該
パラメーターから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノッ
トベクトルを計算する手段と、前記サンプリング点の位
置、前記サンプリング点のパラメーター、前記近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及び前記ノットベクトルから
前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成する手段とを有す
ることを特徴とするものである。
【０００１０】請求項７の発明は、請求項１乃至５のい
ずれか１に記載の自由曲線の近似変換方法を実施するた
めの、または請求項６に記載の自由曲線の近似変換装置
の機能を実現するためのプログラムを記録したコンピュ
ータ読み取り可能な記録媒体である。
ずれか１に記載の自由曲線の近似変換方法を実施するた
めの、または請求項６に記載の自由曲線の近似変換装置
の機能を実現するためのプログラムを記録したコンピュ
ータ読み取り可能な記録媒体である。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１及び図２は、本発明の実施例
を説明するための図で、変換前の自由曲線である３次Ｂ
−ｓｐｌｉｎｅ曲線の例を図１に、図１の曲線を変換し
た後の近似した３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を図２に示す
ものである。本実施例においては、制御点の分布が不均
等であるＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を制御点の分布が均等で
あるようなＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に近似する。本発明は
任意タイプで任意次数の自由曲線に適用できる。
を説明するための図で、変換前の自由曲線である３次Ｂ
−ｓｐｌｉｎｅ曲線の例を図１に、図１の曲線を変換し
た後の近似した３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を図２に示す
ものである。本実施例においては、制御点の分布が不均
等であるＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を制御点の分布が均等で
あるようなＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に近似する。本発明は
任意タイプで任意次数の自由曲線に適用できる。
【００１２】本発明は以下のステップにより実施され
る。 （１）近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数と許容誤差を指
定する。実用上、３次のＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線が望まし
い。 （２）近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成するためのサン
プリング点の数を決める。（近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
の次数＋１）個以上であればよい。 （３）元となる自由曲線（近似される変換前の３次Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線）１におけるサンプリング点間の長さ
が同じになるようなサンプリング点（両端点を含む）の
位置を計算する。曲線Ｃ（ｔ）の始点からパラメーター
ｔまでの長さｓは次の式より計算できる。
る。 （１）近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数と許容誤差を指
定する。実用上、３次のＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線が望まし
い。 （２）近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成するためのサン
プリング点の数を決める。（近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
の次数＋１）個以上であればよい。 （３）元となる自由曲線（近似される変換前の３次Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線）１におけるサンプリング点間の長さ
が同じになるようなサンプリング点（両端点を含む）の
位置を計算する。曲線Ｃ（ｔ）の始点からパラメーター
ｔまでの長さｓは次の式より計算できる。
【００１３】
【数１】
【００１４】ここで、Ｃ（ｔ）はパラメーターｔまでの
微分を意味する。サンプリング点間の長さは曲線の全長
を（サンプリング点数−１）で割ったものである。この
長さから、曲線Ｃ（ｔ）上のパラメーターｔを逆計算
し、サンプリング点の位置を計算する。
微分を意味する。サンプリング点間の長さは曲線の全長
を（サンプリング点数−１）で割ったものである。この
長さから、曲線Ｃ（ｔ）上のパラメーターｔを逆計算
し、サンプリング点の位置を計算する。
【００１５】（４）サンプリング点間のパラメーター間
隔が同じになるように各サンプリング点のパラメーター
を設定する。つまり、サンプリング点間のパラメーター
間隔は１.０を（サンプリング点数−１）で割ったもの
である。これによって、サンプリング点間のパラメータ
ー間隔が曲線におけるサンプリング点間の長さに比例す
るので、生成した近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の制御点が
ほぼ均等に分布する。
隔が同じになるように各サンプリング点のパラメーター
を設定する。つまり、サンプリング点間のパラメーター
間隔は１.０を（サンプリング点数−１）で割ったもの
である。これによって、サンプリング点間のパラメータ
ー間隔が曲線におけるサンプリング点間の長さに比例す
るので、生成した近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の制御点が
ほぼ均等に分布する。
【００１６】（５）サンプリング点のパラメーターから
近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノットベクトルを計算す
る。計算の方法として、例えば、次の公知文献；Ｌｅｓ
ｌｉｅＰｉｅｇｌ，″Ｏｎ ＮＵＲＢＳ：Ａ Ｓｕｒｖ
ｅｙ″，ＩＥＥＥ ＣＧ＆Ａ，Ｊａｎｕａｒｙ，１９９
１，ｐｐ.５５−７１を参照できる。
近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノットベクトルを計算す
る。計算の方法として、例えば、次の公知文献；Ｌｅｓ
ｌｉｅＰｉｅｇｌ，″Ｏｎ ＮＵＲＢＳ：Ａ Ｓｕｒｖ
ｅｙ″，ＩＥＥＥ ＣＧ＆Ａ，Ｊａｎｕａｒｙ，１９９
１，ｐｐ.５５−７１を参照できる。
【００１７】（６）上記各ステップにて得たサンプリン
グ点の位置、サンプリング点のパラメーター、近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及びノットベクトルから近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線２を生成する。生成方法として、
例えば、上記公知文献を参照できる。この方法の特徴と
して、生成した近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線におけるサン
プリング点のパラメーターでの位置が元曲線のサンプリ
ング点の位置と一致するという点がある。
グ点の位置、サンプリング点のパラメーター、近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及びノットベクトルから近似
Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線２を生成する。生成方法として、
例えば、上記公知文献を参照できる。この方法の特徴と
して、生成した近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線におけるサン
プリング点のパラメーターでの位置が元曲線のサンプリ
ング点の位置と一致するという点がある。
【００１８】（７）評価位置を決め、評価位置における
元の自由曲線と近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との距離を計
算する。評価位置の決め方として、例えば、元の自由曲
線のいくつかの固定位置か、元の自由曲線におけるサン
プリング点位置の中間位置を利用することが考えられ
る。すべての距離が許容誤差以下であれば、処理を終了
する。そうでなければ、元の自由曲線上のサンプリング
点の数を増やして上記（３）へ戻る。図２に示す近似し
た３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線は、図１の３次Ｂ−ｓｐｌ
ｉｎｅ曲線を０.０１の許容誤差で近似したものであ
る。
元の自由曲線と近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との距離を計
算する。評価位置の決め方として、例えば、元の自由曲
線のいくつかの固定位置か、元の自由曲線におけるサン
プリング点位置の中間位置を利用することが考えられ
る。すべての距離が許容誤差以下であれば、処理を終了
する。そうでなければ、元の自由曲線上のサンプリング
点の数を増やして上記（３）へ戻る。図２に示す近似し
た３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線は、図１の３次Ｂ−ｓｐｌ
ｉｎｅ曲線を０.０１の許容誤差で近似したものであ
る。
【００１９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、以下のような効果が得られる。請求項１に記
載された発明によると、指定した次数のＢ−ｓｐｌｉｎ
ｅ曲線に自由曲線を近似することができる。
によると、以下のような効果が得られる。請求項１に記
載された発明によると、指定した次数のＢ−ｓｐｌｉｎ
ｅ曲線に自由曲線を近似することができる。
【００２０】請求項２に記載された発明によると、制御
点の分布が不均等である自由曲線に対して、制御点の分
布が均等であるような近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成
することができる。
点の分布が不均等である自由曲線に対して、制御点の分
布が均等であるような近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成
することができる。
【００２１】請求項３に記載された発明によると、元の
自由曲線と近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との指定許容誤差
に応じた近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することがで
きる。
自由曲線と近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との指定許容誤差
に応じた近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することがで
きる。
【００２２】請求項４に記載された発明によると、制御
点が多い曲線に対して、大きい値の許容誤差を指定し、
少ない制御点が均一に分布しているような近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線を生成することができる。
点が多い曲線に対して、大きい値の許容誤差を指定し、
少ない制御点が均一に分布しているような近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線を生成することができる。
【００２３】請求項５に記載された発明によると、元の
自由曲線のタイプと次数を制限することなく近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線を生成することができる。
自由曲線のタイプと次数を制限することなく近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線を生成することができる。
【００２４】請求項６に記載された発明によると、指定
した次数のＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に自由曲線を近似する
ことができる装置が得られる。
した次数のＢ−ｓｐｌｉｎｅ曲線に自由曲線を近似する
ことができる装置が得られる。
【００２５】請求項７に記載された発明によると、請求
項１乃至６の発明を実施化するためのプログラムを記憶
した記録媒体が得られる。
項１乃至６の発明を実施化するためのプログラムを記憶
した記録媒体が得られる。
【図１】 変換前の３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の例を示
す図である。
す図である。
【図２】 図１の曲線を変換した後の近似した３次Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線を示す図である。
ｓｐｌｉｎｅ曲線を示す図である。
１…元となる自由曲線（変換前の３次Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ
曲線）、２…近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線。
曲線）、２…近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線。
Claims (7)
- 【請求項１】 自由曲線を近似変換して近似Ｂ−ｓｐｌ
ｉｎｅ曲線を得る自由曲線の近似変換方法において、求
める前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定し、元
の前記自由曲線におけるサンプリング点間の長さが同じ
になるように該サンプリング点の位置を計算し、該サン
プリング点間のパラメーター間隔が同じになるように各
前記サンプリング点のパラメーターを設定し、該パラメ
ーターから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線のノットベク
トルを計算し、前記サンプリング点の位置、前記サンプ
リング点のパラメーター、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲
線の次数、及び前記ノットベクトルから前記近似Ｂ−ｓ
ｐｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とする自由曲線の
近似変換方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の自由曲線の近似変換方
法おいて、制御点の分布が不均等である前記自由曲線に
対して、制御点の分布が均等であるような前記近似Ｂ−
ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とする自由曲線
の近似変換方法。 - 【請求項３】 請求項１に記載の自由曲線の近似変換方
法おいて、元の前記自由曲線と前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎ
ｅ曲線との許容誤差を指定し、近似変換の評価を行うた
めの評価位置を決定し、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線
を生成した後、前記評価位置における元の前記自由曲線
と前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線との距離を計算し、該
距離が前記許容誤差より大きければ、前記自由曲線上の
サンプリング点の数を増やして前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎ
ｅ曲線の生成を再度実行することを特徴とする自由曲線
の近似変換方法。 - 【請求項４】 請求項２に記載の自由曲線の近似変換方
法おいて、制御点が多い曲線に対して、大きい値の許容
誤差を指定し、少ない制御点が均一に分布するような前
記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生成することを特徴とす
る自由曲線の近似変換方法。 - 【請求項５】 請求項１に記載の自由曲線の近似変換方
法おいて、元の前記自由曲線のタイプ及び次数に制限が
ないことを特徴とする自由曲線の近似変換方法。 - 【請求項６】 自由曲線を近似変換して近似Ｂ−ｓｐｌ
ｉｎｅ曲線を得る自由曲線の近似変換装置において、求
める前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数を指定する手
段と、元の前記自由曲線におけるサンプリング点間の長
さが同じになるように該サンプリング点の位置を計算す
る手段と、該サンプリング点間のパラメーター間隔が同
じになるように各前記サンプリング点のパラメーターを
設定する手段と、該パラメーターから前記近似Ｂ−ｓｐ
ｌｉｎｅ曲線のノットベクトルを計算する手段と、前記
サンプリング点の位置、前記サンプリング点のパラメー
ター、前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線の次数、及び前記
ノットベクトルから前記近似Ｂ−ｓｐｌｉｎｅ曲線を生
成する手段とを有することを特徴とする自由曲線の近似
変換装置。 - 【請求項７】 請求項１乃至５のいずれか１に記載の自
由曲線の近似変換方法を実施するための、または請求項
６に記載の自由曲線の近似変換装置の機能を実現するた
めのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な
記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11206853A JP2001034774A (ja) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 自由曲線の近似変換方法、装置及び記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11206853A JP2001034774A (ja) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 自由曲線の近似変換方法、装置及び記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001034774A true JP2001034774A (ja) | 2001-02-09 |
Family
ID=16530141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11206853A Pending JP2001034774A (ja) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 自由曲線の近似変換方法、装置及び記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001034774A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014016894A1 (ja) | 2012-07-23 | 2014-01-30 | 富士通株式会社 | 形状データ生成方法及び装置 |
| US8803885B1 (en) | 2011-09-07 | 2014-08-12 | Infragistics, Inc. | Method for evaluating spline parameters for smooth curve sampling |
| US11779221B2 (en) | 2021-06-18 | 2023-10-10 | Canon U.S.A., Inc. | Apparatus, method and storage medium for lumen curve simplification for editing in one or more images, such as in optical coherence tomography images |
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| JPH09179992A (ja) * | 1995-12-23 | 1997-07-11 | Nec Corp | スプライン曲線及びスプライン曲面の生成方法及び生成装置 |
| JPH10240329A (ja) * | 1997-02-26 | 1998-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | 曲線の微小線分化方法およびスプライン補間機能を有する数値制御装置 |
| JPH10320026A (ja) * | 1997-05-20 | 1998-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | 数値制御装置及び方法 |
-
1999
- 1999-07-21 JP JP11206853A patent/JP2001034774A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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|
| A977 | Report on retrieval |
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|
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