JP2001013260A - 異物検出機 - Google Patents
異物検出機Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 判定基準である判定位相点を、最も判定精度
が高くなる位相点に自動的に設定できる異物検出機を得
る。 【解決手段】 交番磁界中に物品を通過させ、その物品
に影響された磁界に基づいて物品に対する反応信号を発
生する反応信号発生回路２と、所定の異物を付加した物
品Ｐに対する第１テスト反応信号の位相−出力特性を記
憶する第１記憶手段７Ａと、異物を付加していない物品
Ｐに対する第２テスト反応信号の位相−出力特性を記憶
する第２記憶手段７と、前記第１テスト反応信号が第２
テスト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベ
ル差が最大となる位相点を判定位相点に設定する最適位
相設定手段９と、稼働時の物品Ｐの異物検出動作時に前
記判定位相点における物品Ｐの反応信号のレベルから異
物の有無を判定する判定手段１０を備えた。
が高くなる位相点に自動的に設定できる異物検出機を得
る。 【解決手段】 交番磁界中に物品を通過させ、その物品
に影響された磁界に基づいて物品に対する反応信号を発
生する反応信号発生回路２と、所定の異物を付加した物
品Ｐに対する第１テスト反応信号の位相−出力特性を記
憶する第１記憶手段７Ａと、異物を付加していない物品
Ｐに対する第２テスト反応信号の位相−出力特性を記憶
する第２記憶手段７と、前記第１テスト反応信号が第２
テスト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベ
ル差が最大となる位相点を判定位相点に設定する最適位
相設定手段９と、稼働時の物品Ｐの異物検出動作時に前
記判定位相点における物品Ｐの反応信号のレベルから異
物の有無を判定する判定手段１０を備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージする物
品またはパッケージされた物品（以下、単に「物品」と
いう）内に含まれている金属片などの異物の有無を検出
する異物検出機に関する。
品またはパッケージされた物品（以下、単に「物品」と
いう）内に含まれている金属片などの異物の有無を検出
する異物検出機に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の異物検出機は、交番磁界の中を検
出対象物である物品をコンベアで搬送し、その搬送方向
に並べて配置された２つの検出コイルに誘起される起電
力を差動増幅して位相検波し、この位相検波信号がある
判定レベルを超えると異物混入と判断する。このとき、
位相検波のための設定位相は、物品の影響を避けるため
に、物品だけの時に位相検波信号が最小になる値に設定
されている。ある物品に対する位相と位相検波信号の出
力の関係を示すと、図４の曲線Ｂのようになる。この場
合、設定位相を物品による位相検波信号が最小になるデ
ィップ点ｄとする。これに対して、異物の混入した物品
の位相と位相検波信号の出力の関係を示すと、曲線Ａの
ようになる。ここで明らかなように、設定位相点である
ディップ点ｄでは、信号Ａが信号Ｂよりレベルが高く、
この間に判定レベルを設定することで異物検出が可能と
なる。
出対象物である物品をコンベアで搬送し、その搬送方向
に並べて配置された２つの検出コイルに誘起される起電
力を差動増幅して位相検波し、この位相検波信号がある
判定レベルを超えると異物混入と判断する。このとき、
位相検波のための設定位相は、物品の影響を避けるため
に、物品だけの時に位相検波信号が最小になる値に設定
されている。ある物品に対する位相と位相検波信号の出
力の関係を示すと、図４の曲線Ｂのようになる。この場
合、設定位相を物品による位相検波信号が最小になるデ
ィップ点ｄとする。これに対して、異物の混入した物品
の位相と位相検波信号の出力の関係を示すと、曲線Ａの
ようになる。ここで明らかなように、設定位相点である
ディップ点ｄでは、信号Ａが信号Ｂよりレベルが高く、
この間に判定レベルを設定することで異物検出が可能と
なる。
【０００３】また、ディップ点ｄの位相を、判定に用い
る位相点（以下、「判定位相点」という）に自動的に設
定する異物検出機も知られている。
る位相点（以下、「判定位相点」という）に自動的に設
定する異物検出機も知られている。
【０００４】しかし、物品によってはディップ点ｄで必
ずしも異物の検出感度が最大ではない場合があり、ま
た、物品が水分や塩分を多く含む漬物などの食品では、
図５に示すように、信号Ｂのディップ点ｄが明瞭でない
場合がある。このような場合、従来は信号Ａと信号Ｂの
レベル差の大きい判定位相点を試行錯誤的に求めるか、
または位相点を順次ずらして出力信号を測定し、図５に
示す信号Ａと信号Ｂの位相−出力特性曲線を作成し、こ
の位相−出力特性曲線から信号Ａが信号Ｂよりもレベル
が高く、かつ、両信号のレベルの差がレベル差が最も大
きくなる位相点を求めて、判定位相点に設定していた。
ずしも異物の検出感度が最大ではない場合があり、ま
た、物品が水分や塩分を多く含む漬物などの食品では、
図５に示すように、信号Ｂのディップ点ｄが明瞭でない
場合がある。このような場合、従来は信号Ａと信号Ｂの
レベル差の大きい判定位相点を試行錯誤的に求めるか、
または位相点を順次ずらして出力信号を測定し、図５に
示す信号Ａと信号Ｂの位相−出力特性曲線を作成し、こ
の位相−出力特性曲線から信号Ａが信号Ｂよりもレベル
が高く、かつ、両信号のレベルの差がレベル差が最も大
きくなる位相点を求めて、判定位相点に設定していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来のデ
ィップ点が明瞭でない物品の判定位相点の設定方法で
は、作業手間が多大になるという問題点があった。
ィップ点が明瞭でない物品の判定位相点の設定方法で
は、作業手間が多大になるという問題点があった。
【０００６】本発明は、前記のような課題を解決して、
自動的に最適な位相点を検出して判定位相点に設定でき
る異物検出機を得ることを目的とする。
自動的に最適な位相点を検出して判定位相点に設定でき
る異物検出機を得ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る異物検出機は、交番磁界中に物品を通
過させ、その物品に影響された磁界に基づいて物品に対
する反応信号を発生する反応信号発生回路と、所定の異
物またはこの異物を付加した物品に対する第１テスト反
応信号の位相−出力特性を記憶する第１記憶手段と、前
記異物を付加していない物品に対する第２テスト反応信
号の位相−出力特性を記憶する第２記憶手段と、前記第
１テスト反応信号が第２テスト反応信号よりもレベルが
高く、かつ両信号のレベル差が最大となる位相点を判定
位相点に設定する最適位相設定手段と、前記物品の異物
検出動作時に前記判定位相点における反応信号のレベル
から異物の有無を判定する判定手段とを備えたものであ
る。上記構成によれば、第１記憶手段に記憶された第１
テスト反応信号が、第２記憶手段に記憶された第２テス
ト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差
が最大となる位相点を判定位相点に設定し、物品の異物
検出時に、判定位相点における反応信号のレベルから異
物の有無を判定することができる。
に、本発明に係る異物検出機は、交番磁界中に物品を通
過させ、その物品に影響された磁界に基づいて物品に対
する反応信号を発生する反応信号発生回路と、所定の異
物またはこの異物を付加した物品に対する第１テスト反
応信号の位相−出力特性を記憶する第１記憶手段と、前
記異物を付加していない物品に対する第２テスト反応信
号の位相−出力特性を記憶する第２記憶手段と、前記第
１テスト反応信号が第２テスト反応信号よりもレベルが
高く、かつ両信号のレベル差が最大となる位相点を判定
位相点に設定する最適位相設定手段と、前記物品の異物
検出動作時に前記判定位相点における反応信号のレベル
から異物の有無を判定する判定手段とを備えたものであ
る。上記構成によれば、第１記憶手段に記憶された第１
テスト反応信号が、第２記憶手段に記憶された第２テス
ト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差
が最大となる位相点を判定位相点に設定し、物品の異物
検出時に、判定位相点における反応信号のレベルから異
物の有無を判定することができる。
【０００８】本発明の好ましい実施形態においては、前
記所定の異物を付加した物品を前記交番磁界中を通過さ
せたときに前記反応信号発生回路から得られる信号を第
１テスト反応信号として前記第１記憶手段に記憶させる
第１書込手段、および／または、前記異物を付加してい
ない物品を前記交番磁界中を通過させたときに前記反応
信号発生回路から得られる信号を第２テスト反応信号と
して前記第２記憶手段に記憶させる第２書込手段を備え
ている。
記所定の異物を付加した物品を前記交番磁界中を通過さ
せたときに前記反応信号発生回路から得られる信号を第
１テスト反応信号として前記第１記憶手段に記憶させる
第１書込手段、および／または、前記異物を付加してい
ない物品を前記交番磁界中を通過させたときに前記反応
信号発生回路から得られる信号を第２テスト反応信号と
して前記第２記憶手段に記憶させる第２書込手段を備え
ている。
【０００９】上記構成によれば、第１記憶手段に第１テ
スト反応信号の位相−出力特性を記憶し、第２記憶手段
に第２テスト反応信号の位相−出力特性を記憶するの
で、最適位相設定手段において前記第１テスト反応信号
と前記第２テスト反応信号の同じ位相点のレベル値を読
み出すことで、前記第１テスト反応信号が前記第２テス
ト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差
が最大となる位相点の検出を自動的に行うことができ
る。
スト反応信号の位相−出力特性を記憶し、第２記憶手段
に第２テスト反応信号の位相−出力特性を記憶するの
で、最適位相設定手段において前記第１テスト反応信号
と前記第２テスト反応信号の同じ位相点のレベル値を読
み出すことで、前記第１テスト反応信号が前記第２テス
ト反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差
が最大となる位相点の検出を自動的に行うことができ
る。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて具体的に説明する。図１に、本発明の一実施形
態に係る異物検出機の構成を示す。図において、異物検
出機１は、コンベアＣによる物品Ｐの搬送路に交番磁界
Ｅを印加し、その交番磁界Ｅの中を通過する物品Ｐに対
する反応信号を発生する反応信号発生回路２を備えてい
る。
基づいて具体的に説明する。図１に、本発明の一実施形
態に係る異物検出機の構成を示す。図において、異物検
出機１は、コンベアＣによる物品Ｐの搬送路に交番磁界
Ｅを印加し、その交番磁界Ｅの中を通過する物品Ｐに対
する反応信号を発生する反応信号発生回路２を備えてい
る。
【００１１】この異物検出機は、さらに、前記反応信号
を位相検波した位相検波信号を出力する位相検波器３
と、位相検波信号を増幅する増幅器４と、この増幅器４
から出力される位相検波信号を異物検出動作時と後述す
るテスト時とで切り換える第１スイッチ５と、テスト時
に所定の異物入りの物品に対する第１位相検波信号Ａと
異物なしの物品に対する第２位相検波信号Ｂとを切り換
える第２スイッチ６と、第１および第２の記憶手段７
Ａ，７Ｂと、第１位相検波信号Ａの位相−出力特性を第
１記憶手段７Ａに記憶させる第１書込手段８Ａと、第２
位相検波信号Ｂの位相−出力特性を第２記憶手段７Ｂに
記憶させる第２書込手段８Ｂと、稼働時の判定基準とな
る判定位相点を自動的に設定する最適位相設定手段９
と、設定された判定位相点で検波動作するように位相検
波器３の検波位相を設定する検波位相設定器１３と、判
定レベルを自動的に設定する判定レベル設定手段１２
と、稼働時に前記判定位相点と判定レベルに基づいて合
否（異物の有無）を判定する判定手段１０と、各種の情
報を表示する表示装置１１とを備えている。
を位相検波した位相検波信号を出力する位相検波器３
と、位相検波信号を増幅する増幅器４と、この増幅器４
から出力される位相検波信号を異物検出動作時と後述す
るテスト時とで切り換える第１スイッチ５と、テスト時
に所定の異物入りの物品に対する第１位相検波信号Ａと
異物なしの物品に対する第２位相検波信号Ｂとを切り換
える第２スイッチ６と、第１および第２の記憶手段７
Ａ，７Ｂと、第１位相検波信号Ａの位相−出力特性を第
１記憶手段７Ａに記憶させる第１書込手段８Ａと、第２
位相検波信号Ｂの位相−出力特性を第２記憶手段７Ｂに
記憶させる第２書込手段８Ｂと、稼働時の判定基準とな
る判定位相点を自動的に設定する最適位相設定手段９
と、設定された判定位相点で検波動作するように位相検
波器３の検波位相を設定する検波位相設定器１３と、判
定レベルを自動的に設定する判定レベル設定手段１２
と、稼働時に前記判定位相点と判定レベルに基づいて合
否（異物の有無）を判定する判定手段１０と、各種の情
報を表示する表示装置１１とを備えている。
【００１２】前記反応信号発生回路２は、送信コイル２
１に励磁電流を流して交番磁界Ｅを発生する磁界発生器
２２と、送信コイル２１および送信コイル２１から発生
する交番磁界Ｅの磁束を等量受ける位置に配置された一
対の受信コイル２３，２４により形成される磁気センサ
２５と、受信コイル２３，２４に誘起された電圧信号が
入力される差動増幅器２６とを備えている。
１に励磁電流を流して交番磁界Ｅを発生する磁界発生器
２２と、送信コイル２１および送信コイル２１から発生
する交番磁界Ｅの磁束を等量受ける位置に配置された一
対の受信コイル２３，２４により形成される磁気センサ
２５と、受信コイル２３，２４に誘起された電圧信号が
入力される差動増幅器２６とを備えている。
【００１３】異物が付加された物品Ｐが反応信号発生回
路２の交番磁界Ｅ中を通過したとき、前記磁気センサ２
５の２つの受信コイル２３，２４に交叉する磁束が不平
衡となって受信コイル２３，２４の誘起電圧に差を生じ
る。この差電圧信号は差動増幅器２６で増幅され、この
増幅された差電圧信号は位相検波器３で位相検波され、
この位相検波信号は増幅器４で増幅されて第１スイッチ
５に出力される。
路２の交番磁界Ｅ中を通過したとき、前記磁気センサ２
５の２つの受信コイル２３，２４に交叉する磁束が不平
衡となって受信コイル２３，２４の誘起電圧に差を生じ
る。この差電圧信号は差動増幅器２６で増幅され、この
増幅された差電圧信号は位相検波器３で位相検波され、
この位相検波信号は増幅器４で増幅されて第１スイッチ
５に出力される。
【００１４】次に、本実施形態の、物品Ｐの中に異物が
有るか否かを判定するための判定基準である「判定位相
点」および「判定レベル」の設定動作を説明する。ま
ず、第１スイッチ５を端子ａ側に切り換え、さらに、第
２スイッチ６を端子ａ側に切り換え、肉、漬物などの商
品にテスト用として所定の材質および寸法を有する異物
を付加した物品Ｐ（テストピース）を、コンベアＣで搬
送して、第１記憶手段７Ａに第１テスト反応信号Ａの位
相−出力特性を記憶させる。次に、第２スイッチ６を、
端子ｂ側に切り換え、異物を付加していない物品Ｐ（テ
ストピース）をコンベアＣで搬送して、第２記憶手段７
Ｂに第２テスト反応信号Ｂの位相−出力特性を記憶させ
る。
有るか否かを判定するための判定基準である「判定位相
点」および「判定レベル」の設定動作を説明する。ま
ず、第１スイッチ５を端子ａ側に切り換え、さらに、第
２スイッチ６を端子ａ側に切り換え、肉、漬物などの商
品にテスト用として所定の材質および寸法を有する異物
を付加した物品Ｐ（テストピース）を、コンベアＣで搬
送して、第１記憶手段７Ａに第１テスト反応信号Ａの位
相−出力特性を記憶させる。次に、第２スイッチ６を、
端子ｂ側に切り換え、異物を付加していない物品Ｐ（テ
ストピース）をコンベアＣで搬送して、第２記憶手段７
Ｂに第２テスト反応信号Ｂの位相−出力特性を記憶させ
る。
【００１５】次に、最適位相設定手段９は、第１記憶手
段７Ａと第２記憶手段７Ｂとから同じ位相点のレベル値
を順次読み出して、第１記憶手段７Ａに記憶されたレベ
ル値が第２記憶手段７Ｂに記憶されたレベル値よりも高
く、かつ両者のレベル差が最大となる位相点を探し、そ
の位相点を判定位相点に設定する。同時に判定レベル設
定手段１２は、異物の入っていない第２記憶手段７Ｂか
らの信号により異物混入と判断しないように、増幅器４
のゲインを設定する。以下、この最適位相設定動作を図
２のフローチャートを参照して具体的に説明する。
段７Ａと第２記憶手段７Ｂとから同じ位相点のレベル値
を順次読み出して、第１記憶手段７Ａに記憶されたレベ
ル値が第２記憶手段７Ｂに記憶されたレベル値よりも高
く、かつ両者のレベル差が最大となる位相点を探し、そ
の位相点を判定位相点に設定する。同時に判定レベル設
定手段１２は、異物の入っていない第２記憶手段７Ｂか
らの信号により異物混入と判断しないように、増幅器４
のゲインを設定する。以下、この最適位相設定動作を図
２のフローチャートを参照して具体的に説明する。
【００１６】最適位相設定手段９は、まず、ステップＳ
１で記憶している差信号のレベルを０にリセットし、Ｓ
２で位相を０°（図１の送信コイル２１と受信コイル２
３，２４の電圧位相が同一）にリセットする。つぎにＳ
３とＳ４で第１記憶手段７Ａと第２記憶手段７Ｂとか
ら、位相が０°の第１テスト反応信号Ａのレベル値と第
２テスト反応信号Ｂのレベル値を読み出し、Ｓ５で両信
号のレベル差を算出してＳ６でその位相とレベル差を一
旦記憶する。次に、Ｓ７で位相が１８０°でないときは
Ｓ８で位相点を１ステップ（例えば１°）進めてＳ３に
戻り、Ｓ３とＳ４で第１テスト反応信号Ａと第２テスト
反応信号Ｂのレベル値を読み出し、Ｓ５で両信号のレベ
ル差を算出し、記憶しているレベル差と比較して大きい
方をＳ６で残す、という動作を、位相が１８０°になる
まで順次実行し、位相が１８０°になったときＳ６に記
憶している最大レベル差の位相を「判定位相点」に設定
する。判定レベル設定手段１２は、この最大レベル差の
ほぼ１／２のレベル値を「判定レベル」に設定する。図
３は上記のようにして設定された判定位相点と判定レベ
ルを示している。
１で記憶している差信号のレベルを０にリセットし、Ｓ
２で位相を０°（図１の送信コイル２１と受信コイル２
３，２４の電圧位相が同一）にリセットする。つぎにＳ
３とＳ４で第１記憶手段７Ａと第２記憶手段７Ｂとか
ら、位相が０°の第１テスト反応信号Ａのレベル値と第
２テスト反応信号Ｂのレベル値を読み出し、Ｓ５で両信
号のレベル差を算出してＳ６でその位相とレベル差を一
旦記憶する。次に、Ｓ７で位相が１８０°でないときは
Ｓ８で位相点を１ステップ（例えば１°）進めてＳ３に
戻り、Ｓ３とＳ４で第１テスト反応信号Ａと第２テスト
反応信号Ｂのレベル値を読み出し、Ｓ５で両信号のレベ
ル差を算出し、記憶しているレベル差と比較して大きい
方をＳ６で残す、という動作を、位相が１８０°になる
まで順次実行し、位相が１８０°になったときＳ６に記
憶している最大レベル差の位相を「判定位相点」に設定
する。判定レベル設定手段１２は、この最大レベル差の
ほぼ１／２のレベル値を「判定レベル」に設定する。図
３は上記のようにして設定された判定位相点と判定レベ
ルを示している。
【００１７】上記のようにして判定位相点と判定レベル
が設定されたのち、実際の物品Ｐの検出動作が開始され
る。このとき、第１スイッチ５は接点ｂ側に接続され、
得られた検出動作時の反応信号が判定手段１０に入力さ
れて前記判定位相点のレベル値が判定レベル値と比較さ
れ、反応信号のレベル値が判定レベル値より小さいとき
は合格（異物なし）、大きいときは不合格（異物あり）
の判定がなされて、表示装置１１に表示される。
が設定されたのち、実際の物品Ｐの検出動作が開始され
る。このとき、第１スイッチ５は接点ｂ側に接続され、
得られた検出動作時の反応信号が判定手段１０に入力さ
れて前記判定位相点のレベル値が判定レベル値と比較さ
れ、反応信号のレベル値が判定レベル値より小さいとき
は合格（異物なし）、大きいときは不合格（異物あり）
の判定がなされて、表示装置１１に表示される。
【００１８】本実施形態によれば、異物を付加した物品
と、異物を付加していない物品を１回ずつコンベアで搬
送するだけで、判定位相点と判定レベルが自動的に設定
されるので、判定基準の設定作業が大幅に軽減される。
と、異物を付加していない物品を１回ずつコンベアで搬
送するだけで、判定位相点と判定レベルが自動的に設定
されるので、判定基準の設定作業が大幅に軽減される。
【００１９】また、設定される判定位相点は、第１テス
ト反応信号Ａが第２テスト反応信号Ｂよりもレベルが高
く、かつ両信号のレベル差が最大となる位相点であるの
で、判定精度が向上する。
ト反応信号Ａが第２テスト反応信号Ｂよりもレベルが高
く、かつ両信号のレベル差が最大となる位相点であるの
で、判定精度が向上する。
【００２０】なお、前記実施形態では、第１テスト反応
信号の位相−出力特性を得るのに、異物を付加した物品
を用いたが、物品の種類によっては、異物のみからなる
テストピースを流したときの第１テスト反応信号と物品
のみからなるテストピースを流したときの第２テスト反
応信号とを用いて、同様に最適の判定位相点を求めるこ
とができる。
信号の位相−出力特性を得るのに、異物を付加した物品
を用いたが、物品の種類によっては、異物のみからなる
テストピースを流したときの第１テスト反応信号と物品
のみからなるテストピースを流したときの第２テスト反
応信号とを用いて、同様に最適の判定位相点を求めるこ
とができる。
【００２１】また、前記実施形態では、テストピースを
実際に流して第１および第２のテスト反応信号を得てい
るので、異物検出機ごとの出力特性の相違に影響される
ことなく、判定レベルを設定できるが、異物検出機ごと
の出力特性の差異を無視できるときは、予め第１テスト
反応信号のデータを、前記第１の記憶手段７Ａに直接記
憶させておいてもよい。
実際に流して第１および第２のテスト反応信号を得てい
るので、異物検出機ごとの出力特性の相違に影響される
ことなく、判定レベルを設定できるが、異物検出機ごと
の出力特性の差異を無視できるときは、予め第１テスト
反応信号のデータを、前記第１の記憶手段７Ａに直接記
憶させておいてもよい。
【００２２】さらに、前記実施形態では、異物をスチー
ルボールのような磁性金属としたが、ステンレスのよう
な非磁性金属であっても同様に適用でき、同様の効果が
得られる。また、金属の種類を変えて複数回テストし、
第１テスト反応信号を複数記憶し、第２テスト反応信号
に対して、第１テスト反応信号の最も望ましい出力が得
られる位相を求めることもできる。
ルボールのような磁性金属としたが、ステンレスのよう
な非磁性金属であっても同様に適用でき、同様の効果が
得られる。また、金属の種類を変えて複数回テストし、
第１テスト反応信号を複数記憶し、第２テスト反応信号
に対して、第１テスト反応信号の最も望ましい出力が得
られる位相を求めることもできる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る異物検出機
は、所定の異物を付加した物品に対する第１テスト反応
信号の位相−出力特性を第１記憶手段に記憶させ、前記
異物を付加していない物品に対する第２テスト反応信号
の位相−出力特性を第２記憶手段に記憶させ、最適位相
設定手段で、前記第１記憶手段と第２記憶手段から前記
第１テスト反応信号と第２テスト反応信号の同じ位相点
のレベル値を読み出して、レベル差を算出し、各位相点
のレベル差を比較し、第１テスト反応信号が第２テスト
反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差が
最大となる位相点を検出し、その位相点を判定位相点に
設定し、稼働時の物品内の異物の有無の判定を、前記判
定位相点の反応信号のレベルで判定するように構成した
ものであるから、最大レベル差の得られる位相点を自動
的に検出して判定位相点に設定されるので、判定基準の
設定作業が軽減されるとともに、判定精度が向上する。
は、所定の異物を付加した物品に対する第１テスト反応
信号の位相−出力特性を第１記憶手段に記憶させ、前記
異物を付加していない物品に対する第２テスト反応信号
の位相−出力特性を第２記憶手段に記憶させ、最適位相
設定手段で、前記第１記憶手段と第２記憶手段から前記
第１テスト反応信号と第２テスト反応信号の同じ位相点
のレベル値を読み出して、レベル差を算出し、各位相点
のレベル差を比較し、第１テスト反応信号が第２テスト
反応信号よりもレベルが高く、かつ両信号のレベル差が
最大となる位相点を検出し、その位相点を判定位相点に
設定し、稼働時の物品内の異物の有無の判定を、前記判
定位相点の反応信号のレベルで判定するように構成した
ものであるから、最大レベル差の得られる位相点を自動
的に検出して判定位相点に設定されるので、判定基準の
設定作業が軽減されるとともに、判定精度が向上する。
【図１】本発明の一実施形態に係る異物検出機の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】本実施形態の最適位相設定手段の判定位相点の
設定手順を示すフローチャートである。
設定手順を示すフローチャートである。
【図３】本実施形態の判定レベルを説明するための第１
テスト反応信号と第２テスト反応信号の位相−出力特性
図である。
テスト反応信号と第２テスト反応信号の位相−出力特性
図である。
【図４】従来の判定位相点を示す第１テスト反応信号と
第２テスト反応信号の位相−出力特性図である。
第２テスト反応信号の位相−出力特性図である。
【図５】他の従来例の判定位相点を示す第１テスト反応
信号と第２テスト反応信号の位相−出力特性図である。
信号と第２テスト反応信号の位相−出力特性図である。
１…異物検出機、２…反応信号発生回路、３…位相検波
器、４…増幅器、５…第１スイッチ、６…第２スイッ
チ、７Ａ…第１記憶手段、７Ｂ…第２記憶手段、８Ａ…
第１書込手段、８Ｂ…第２書込手段、９…最適位相設定
手段、１０…判定手段、１１…表示装置、１２…判定レ
ベル設定手段。
器、４…増幅器、５…第１スイッチ、６…第２スイッ
チ、７Ａ…第１記憶手段、７Ｂ…第２記憶手段、８Ａ…
第１書込手段、８Ｂ…第２書込手段、９…最適位相設定
手段、１０…判定手段、１１…表示装置、１２…判定レ
ベル設定手段。
Claims (2)
- 【請求項１】 交番磁界中に物品を通過させ、その物品
に影響された磁界に基づいて物品に対する反応信号を発
生する反応信号発生回路と、 所定の異物またはこの異物を付加した物品に対する第１
テスト反応信号の位相−出力特性を記憶する第１記憶手
段と、 前記異物を付加していない物品に対する第２テスト反応
信号の位相−出力特性を記憶する第２記憶手段と、 前記第１テスト反応信号が第２テスト反応信号よりもレ
ベルが高く、かつ両信号のレベル差が最大となる位相点
を判定位相点に設定する最適位相設定手段と、 前記物品の異物検出動作時に前記判定位相点における反
応信号のレベルから異物の有無を判定する判定手段とを
備えた異物検出機。 - 【請求項２】 請求項１において、 前記所定の異物を付加した物品を前記交番磁界中を通過
させたときに前記反応信号発生回路から得られる信号を
第１テスト反応信号として前記第１記憶手段に記憶させ
る第１書込手段、および／または、 前記異物を付加していない物品を前記交番磁界中を通過
させたときに前記反応信号発生回路から得られる信号を
第２テスト反応信号として前記第２記憶手段に記憶させ
る第２書込手段を備えている異物検出機。
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|---|---|---|---|
| JP18541199A JP4002034B2 (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 異物検出機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18541199A JP4002034B2 (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 異物検出機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001013260A true JP2001013260A (ja) | 2001-01-19 |
| JP4002034B2 JP4002034B2 (ja) | 2007-10-31 |
Family
ID=16170330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18541199A Expired - Fee Related JP4002034B2 (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 異物検出機 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4002034B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003014866A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-15 | Ishida Co Ltd | 金属検出装置および金属検出システム |
| WO2004086095A1 (ja) | 2003-03-12 | 2004-10-07 | Anritsu Industrial Solutions Co., Ltd. | 金属検出装置 |
| JP2008097196A (ja) * | 2006-10-10 | 2008-04-24 | Fuji Xerox Co Ltd | 物体検知装置 |
| CN112882126A (zh) * | 2021-01-20 | 2021-06-01 | 安洁无线科技（苏州）有限公司 | 异物检测功能测试系统 |
-
1999
- 1999-06-30 JP JP18541199A patent/JP4002034B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4002034B2 (ja) | 2007-10-31 |
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