JP2001013011A - 温度検出回路 - Google Patents
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/02—Details
- H03B5/04—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. power supply, load, temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
- H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
- H03B5/36—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device
Abstract
(57)【要約】
【課題】環境温度に応じた電気信号を生成する素子の製
造工程時における各種変動要因によらずに、同一温度下
においては実質的に同じディジタル出力を得ることがで
きることを特徴とする。 【解決手段】環境温度に応じて変化する電気信号を生成
するダイオード12と、この電気信号をディジタルデー
タに変換するADコンバータ13と、既知の任意の温度
下においてADコンバータ13で得られるディジタルデ
ータに応じた補正データを記憶する記憶回路21と、未
知の温度下においてADコンバータ13で得られるディ
ジタルデータと記憶回路21で記憶されている補正用デ
ータとの間で減算を行う演算回路22とを具備すること
を特徴としている。
造工程時における各種変動要因によらずに、同一温度下
においては実質的に同じディジタル出力を得ることがで
きることを特徴とする。 【解決手段】環境温度に応じて変化する電気信号を生成
するダイオード12と、この電気信号をディジタルデー
タに変換するADコンバータ13と、既知の任意の温度
下においてADコンバータ13で得られるディジタルデ
ータに応じた補正データを記憶する記憶回路21と、未
知の温度下においてADコンバータ13で得られるディ
ジタルデータと記憶回路21で記憶されている補正用デ
ータとの間で減算を行う演算回路22とを具備すること
を特徴としている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、置かれた環境の
温度に応じたディジタルデータを出力する温度検出回路
に係り、特に温度に応じた電気信号を発生する素子の製
造バラツキに起因する出力誤差の発生を抑制するように
した改良に関する。
温度に応じたディジタルデータを出力する温度検出回路
に係り、特に温度に応じた電気信号を発生する素子の製
造バラツキに起因する出力誤差の発生を抑制するように
した改良に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体機器システムには、その置かれた
環境の温度に応じて調整を図る必要があるものが多々あ
る。例えば、クロック信号を発生する水晶振動子を用い
た発振器は、環境温度に応じて発振周波数が変化するこ
とが知られている。すなわち、一般に、水晶振動子はそ
のカッティンク方法、厚みなどにより固有の振動数が決
まるが、その置かれた環境の温度変化によって発振周波
数が変動し、温度に対する周波数変動特性は三次関数で
表現される。
環境の温度に応じて調整を図る必要があるものが多々あ
る。例えば、クロック信号を発生する水晶振動子を用い
た発振器は、環境温度に応じて発振周波数が変化するこ
とが知られている。すなわち、一般に、水晶振動子はそ
のカッティンク方法、厚みなどにより固有の振動数が決
まるが、その置かれた環境の温度変化によって発振周波
数が変動し、温度に対する周波数変動特性は三次関数で
表現される。
【0003】このような発振器を環境温度によらない
で、常に一定周波数で発振させるためには、環境温度に
応じた制御信号を生成し、この制御信号に基づいて発振
器の動作を制御する必要がある。そして、環境温度に応
じた制御信号を生成するために温度検出回路が用いられ
ている。
で、常に一定周波数で発振させるためには、環境温度に
応じた制御信号を生成し、この制御信号に基づいて発振
器の動作を制御する必要がある。そして、環境温度に応
じた制御信号を生成するために温度検出回路が用いられ
ている。
【0004】図5は、従来、使用されているIC化され
た温度検出回路のブロック図である。この回路では、定
電流回路51からの一定電流をダイオード52に流し、
そのときにダイオード52のアノードに得られる順方向
降下電圧(Vf)をADコンバータ53でディジタル変
換することによって、環境温度に応じたディジタル出力
を得る。すなわち、この温度検出回路は、ダイオード5
2の順方向降下電圧(Vf)が持つ温度係数(一般に−
1.5mV/℃)を利用して温度を計測するものであ
る。
た温度検出回路のブロック図である。この回路では、定
電流回路51からの一定電流をダイオード52に流し、
そのときにダイオード52のアノードに得られる順方向
降下電圧(Vf)をADコンバータ53でディジタル変
換することによって、環境温度に応じたディジタル出力
を得る。すなわち、この温度検出回路は、ダイオード5
2の順方向降下電圧(Vf)が持つ温度係数(一般に−
1.5mV/℃)を利用して温度を計測するものであ
る。
【0005】ところが、ICの製造工程時における各種
変動要因により、ダイオード52の特性にバラツキが生
じ、これにより、同一温度下においてディジタル出力に
差が生じるという問題があった。
変動要因により、ダイオード52の特性にバラツキが生
じ、これにより、同一温度下においてディジタル出力に
差が生じるという問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の温度
検出回路では、環境温度に応じた電気信号を生成する素
子の製造工程時における各種変動要因により、同一温度
下においてディジタル出力に差が生じてしまう。この結
果、この温度検出回路からのディジタル出力に基づいて
動作が制御されるシステムでは、制御性と安定性が損な
われるという問題かある。
検出回路では、環境温度に応じた電気信号を生成する素
子の製造工程時における各種変動要因により、同一温度
下においてディジタル出力に差が生じてしまう。この結
果、この温度検出回路からのディジタル出力に基づいて
動作が制御されるシステムでは、制御性と安定性が損な
われるという問題かある。
【0007】この発明は上記のような事情を考慮してな
されたものであり、その目的は、環境温度に応じた電気
信号を生成する素子の製造工程時における各種変動要因
によらずに、同一温度下においては実質的に同じディジ
タル出力を得ることができる温度検出回路を提供するこ
とにある。
されたものであり、その目的は、環境温度に応じた電気
信号を生成する素子の製造工程時における各種変動要因
によらずに、同一温度下においては実質的に同じディジ
タル出力を得ることができる温度検出回路を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の温度検出回路
は、環境温度に応じて変化する電気信号を生成する電気
信号生成手段と、上記電気信号をディジタルデータに変
換する変換手段と、既知の任意の温度下において上記変
換手段で得られるディジタルデータに応じた補正用デー
タを記憶する記憶手段と、未知の温度下において上記変
換手段で得られるディジタルデータと上記記憶手段で記
憶されている補正用データとの間で減算を行う演算手段
とを具備している。
は、環境温度に応じて変化する電気信号を生成する電気
信号生成手段と、上記電気信号をディジタルデータに変
換する変換手段と、既知の任意の温度下において上記変
換手段で得られるディジタルデータに応じた補正用デー
タを記憶する記憶手段と、未知の温度下において上記変
換手段で得られるディジタルデータと上記記憶手段で記
憶されている補正用データとの間で減算を行う演算手段
とを具備している。
【0009】また、上記発明における電気信号生成手段
及び変換手段は、環境温度が1度変化する毎に、電気信
号をディジタル変換して得られるディジタルデータが1
ビット変化するように構成されている。
及び変換手段は、環境温度が1度変化する毎に、電気信
号をディジタル変換して得られるディジタルデータが1
ビット変化するように構成されている。
【0010】また、上記発明における記憶手段には、既
知の任意の温度下において変換手段で得られるディジタ
ルデータをSa、基準温度の際に演算手段から出力され
るディジタルデータの期待値をSk、既知の任意の温度
のデータをTa、基準温度のデータをTkとしたとき
に、Sa−(Ta−Tk)−Skで与えられるデータが
補正用データとして記憶される。
知の任意の温度下において変換手段で得られるディジタ
ルデータをSa、基準温度の際に演算手段から出力され
るディジタルデータの期待値をSk、既知の任意の温度
のデータをTa、基準温度のデータをTkとしたとき
に、Sa−(Ta−Tk)−Skで与えられるデータが
補正用データとして記憶される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明を
実施の形態により説明する。
実施の形態により説明する。
【0012】図1は、この発明の温度検出回路の一実施
の形態に係るブロック図である。この温度検出回路はI
C化され、温度検出部10と補正部20とから構成され
ている。
の形態に係るブロック図である。この温度検出回路はI
C化され、温度検出部10と補正部20とから構成され
ている。
【0013】温度検出部10は、一定電流を出力する定
電流回路11と、ダイオード12と、ADコンバータ1
3とから構成されている。定電流回路11とダイオード
12のアノード・カソード間は、電源電圧Vccの供給
ノードと接地電圧のノードとの間に直列接続されてい
る。すなわち、定電流回路11から出力される一定電流
がダイオード12に流れ、このときにダイオード12の
アノードに順方向降下電圧(Vf)が生じる。そして、
ダイオード12に生じた電圧が上記ADコンバータ13
に供給され、ディジタルデータに変換される。
電流回路11と、ダイオード12と、ADコンバータ1
3とから構成されている。定電流回路11とダイオード
12のアノード・カソード間は、電源電圧Vccの供給
ノードと接地電圧のノードとの間に直列接続されてい
る。すなわち、定電流回路11から出力される一定電流
がダイオード12に流れ、このときにダイオード12の
アノードに順方向降下電圧(Vf)が生じる。そして、
ダイオード12に生じた電圧が上記ADコンバータ13
に供給され、ディジタルデータに変換される。
【0014】補正部20は、補正用データを記憶する例
えば不揮発性メモリ素子などからなる記憶回路21と、
上記温度検出部10から出力されるディジタルデータと
上記記憶回路21に記憶されこの記憶回路21から読み
出される上記補正用データとの間で減算を行って、補正
されたディジタルデータを出力する演算回路22とから
構成されている。
えば不揮発性メモリ素子などからなる記憶回路21と、
上記温度検出部10から出力されるディジタルデータと
上記記憶回路21に記憶されこの記憶回路21から読み
出される上記補正用データとの間で減算を行って、補正
されたディジタルデータを出力する演算回路22とから
構成されている。
【0015】ここで、上記記憶回路21には、予め、あ
る既知温度の環境下で得られたADコンバータ13のデ
ィジタルデータを元にして計算された補正用データが書
き込まれている。
る既知温度の環境下で得られたADコンバータ13のデ
ィジタルデータを元にして計算された補正用データが書
き込まれている。
【0016】このような構成において、任意の環境温度
下でADコンバータ13でディジタル変換されたディジ
タルデータが演算回路22に供給されると、演算回路2
2はこのディジタル変換されたディジタルデータと、予
め、記憶回路21に記憶されている補正用データとの間
で減算を行って、補正されたディジタルデータを出力す
る。
下でADコンバータ13でディジタル変換されたディジ
タルデータが演算回路22に供給されると、演算回路2
2はこのディジタル変換されたディジタルデータと、予
め、記憶回路21に記憶されている補正用データとの間
で減算を行って、補正されたディジタルデータを出力す
る。
【0017】ここで、上記記憶回路21に記憶される補
正用データの作成方法について説明する。なお、温度検
出部10は、ADコンバータ13から出力されるディジ
タルデータが、環境温度が1℃変化する毎に1ビット変
化するような構成にされているとする。
正用データの作成方法について説明する。なお、温度検
出部10は、ADコンバータ13から出力されるディジ
タルデータが、環境温度が1℃変化する毎に1ビット変
化するような構成にされているとする。
【0018】まず、ある基準温度Tkを決めておく。こ
の基準温度Tkを例えば25℃とする。そして、いま、
既知の環境温度Ta(例えば28℃)下において、AD
コンバータ13から出力されるディジタルデータを測定
する。このディジタルデータをSaとし、例えば8ビッ
ト出力を16進表示したときに、Saが(87H)であ
ったとする。そして、基準温度Tk(25℃)の時に演
算回路22から出力したい期待値Skを(80H)(同
様に16進表示)とする。
の基準温度Tkを例えば25℃とする。そして、いま、
既知の環境温度Ta(例えば28℃)下において、AD
コンバータ13から出力されるディジタルデータを測定
する。このディジタルデータをSaとし、例えば8ビッ
ト出力を16進表示したときに、Saが(87H)であ
ったとする。そして、基準温度Tk(25℃)の時に演
算回路22から出力したい期待値Skを(80H)(同
様に16進表示)とする。
【0019】既知の環境温度Ta(28℃)下における
ディジタルデータSa(87H)と基準温度Tk(25
℃)下におけるディジタルデータの期待値Sk(80
H)との関係を図2の特性図に示す。
ディジタルデータSa(87H)と基準温度Tk(25
℃)下におけるディジタルデータの期待値Sk(80
H)との関係を図2の特性図に示す。
【0020】このとき、上記補正用データをYとする
と、Yは以下の式で与えられる。
と、Yは以下の式で与えられる。
【0021】 Y=Sa−(Ta−Tk)−Sk … (1) ここで、上記(1)式に各値を代入すると、次式のよう
になる。
になる。
【0022】 Y=87H−(28−25)−80H =87H−03H−80H =04H … (2) すなわち、記憶回路21には16進表示で(04H)と
いうデータが記憶される。
いうデータが記憶される。
【0023】そして、未知の温度下において、ADコン
バータ13でディジタル変換されたディジタルデータが
演算回路22に供給されると、演算回路22はこのディ
ジタル変換されたディジタルデータから、予め、記憶回
路21に記憶されている補正用データ(04H)を減算
することによって、補正されたディジタルデータを出力
する。
バータ13でディジタル変換されたディジタルデータが
演算回路22に供給されると、演算回路22はこのディ
ジタル変換されたディジタルデータから、予め、記憶回
路21に記憶されている補正用データ(04H)を減算
することによって、補正されたディジタルデータを出力
する。
【0024】いま、環境温度が28℃の場合、ADコン
バータ13でディジタル変換されたディジタルデータは
16進表示で(87H)となり、演算回路22はこのデ
ータ(87H)から補正用データ(04H)を減算す
る。すると、減算結果のデータは(83H)となる。こ
のデータ(83H)は、基準温度Tk(25℃)下にお
けるディジタルデータの期待値Sk(80H)に対して
3℃高いことを示しているので、補正後の出力データ
(83H)は基準温度Tk(25℃)よりも3℃高い2
8℃の温度に対応したディジタルデータとなっている。
バータ13でディジタル変換されたディジタルデータは
16進表示で(87H)となり、演算回路22はこのデ
ータ(87H)から補正用データ(04H)を減算す
る。すると、減算結果のデータは(83H)となる。こ
のデータ(83H)は、基準温度Tk(25℃)下にお
けるディジタルデータの期待値Sk(80H)に対して
3℃高いことを示しているので、補正後の出力データ
(83H)は基準温度Tk(25℃)よりも3℃高い2
8℃の温度に対応したディジタルデータとなっている。
【0025】環境温度が30℃の場合、ADコンバータ
13でディジタル変換されたディジタルデータは16進
表示で(89H)となり、演算回路22はこのデータ
(89H)から補正用データ(04H)を減算する。す
ると、減算結果のデータは(85H)となる。このデー
タ(85H)は、基準温度Tk(25℃)下におけるデ
ィジタルデータの期待値Sk(80H)に対して5℃高
いことを示しているので、補正後の出力データ(85
H)は基準温度Tk(25℃)よりも5℃高い30℃の
温度に対応したディジタルデータとなっている。
13でディジタル変換されたディジタルデータは16進
表示で(89H)となり、演算回路22はこのデータ
(89H)から補正用データ(04H)を減算する。す
ると、減算結果のデータは(85H)となる。このデー
タ(85H)は、基準温度Tk(25℃)下におけるデ
ィジタルデータの期待値Sk(80H)に対して5℃高
いことを示しているので、補正後の出力データ(85
H)は基準温度Tk(25℃)よりも5℃高い30℃の
温度に対応したディジタルデータとなっている。
【0026】さらに、環境温度が例えば23℃の場合、
ADコンバータ13ディジタル変換されたディジタルデ
ータは16進表示で(82H)となり、演算回路22は
このデータ(82H)から補正用データ(04H)を減
算する。すると、減算結果のデータは(7EH)とな
る。このデータ(7EH)は、基準温度Tk(25℃)
下におけるディジタルデータの期待値Sk(80H)に
対して2℃低いことを示しているので、補正後の出力デ
ータ(7EH)は基準温度Tk(25℃)よりも2℃低
い23℃の温度に対応したディジタルデータとなってい
る。
ADコンバータ13ディジタル変換されたディジタルデ
ータは16進表示で(82H)となり、演算回路22は
このデータ(82H)から補正用データ(04H)を減
算する。すると、減算結果のデータは(7EH)とな
る。このデータ(7EH)は、基準温度Tk(25℃)
下におけるディジタルデータの期待値Sk(80H)に
対して2℃低いことを示しているので、補正後の出力デ
ータ(7EH)は基準温度Tk(25℃)よりも2℃低
い23℃の温度に対応したディジタルデータとなってい
る。
【0027】このように、上記実施の形態によれば、既
知の温度(例えば上述した28℃)の下でディジタル変
換して得られるディジタルデータに基づいて補正用デー
タを生成し、この補正用データを記憶回路21に記憶さ
せ、未知の温度を測定する際にこの補正用データを用い
て補正を行うようにしている。このため、製造工程時に
おける各種変動要因により、個々の温度検出回路内のダ
イオード12の特性にバラツキが生じ、これにより、同
一温度下においてADコンバータ13から出力されるデ
ィジタルデータに差が生じたとしても、演算回路22か
ら出力されるディジタルデータには実質的に差が生じな
くなる。
知の温度(例えば上述した28℃)の下でディジタル変
換して得られるディジタルデータに基づいて補正用デー
タを生成し、この補正用データを記憶回路21に記憶さ
せ、未知の温度を測定する際にこの補正用データを用い
て補正を行うようにしている。このため、製造工程時に
おける各種変動要因により、個々の温度検出回路内のダ
イオード12の特性にバラツキが生じ、これにより、同
一温度下においてADコンバータ13から出力されるデ
ィジタルデータに差が生じたとしても、演算回路22か
ら出力されるディジタルデータには実質的に差が生じな
くなる。
【0028】なお、上記補正用データYは、例えば演算
回路22に対し必要なデータを与えることによって、こ
の演算回路22で作成するようにしてもよい。
回路22に対し必要なデータを与えることによって、こ
の演算回路22で作成するようにしてもよい。
【0029】次に、この発明の応用例について説明す
る。図3は、この発明の温度検出回路で得られる環境温
度に応じたディジタルデータを利用することによって、
環境温度の変化によらないで常に一定周波数で発振させ
ることができる発振器の構成を示している。
る。図3は、この発明の温度検出回路で得られる環境温
度に応じたディジタルデータを利用することによって、
環境温度の変化によらないで常に一定周波数で発振させ
ることができる発振器の構成を示している。
【0030】この発振器は発振源として水晶振動子31
を用いたものであり、この水晶振動子31の両端子相互
間にはインバータ32及び帰還用抵抗33が並列接続さ
れている。上記水晶振動子31の各端子と接地電圧のノ
ードとの間にはそれぞれ容量性負荷としてのキャパシタ
34、35が挿入されており、さらに一方のキャパシタ
34に対して直列にバリキャップ素子36が接続されて
いる。
を用いたものであり、この水晶振動子31の両端子相互
間にはインバータ32及び帰還用抵抗33が並列接続さ
れている。上記水晶振動子31の各端子と接地電圧のノ
ードとの間にはそれぞれ容量性負荷としてのキャパシタ
34、35が挿入されており、さらに一方のキャパシタ
34に対して直列にバリキャップ素子36が接続されて
いる。
【0031】一般に、水晶振動子を用いた発振器は、水
晶振動子に接続される容量性負荷を変化させることで、
その発振周波数が変化することが知られている。従っ
て、バリキャップ素子36に入力する制御信号の電圧値
を変えることで、発振周波数が変化する。
晶振動子に接続される容量性負荷を変化させることで、
その発振周波数が変化することが知られている。従っ
て、バリキャップ素子36に入力する制御信号の電圧値
を変えることで、発振周波数が変化する。
【0032】いま、環境温度が変化すると、これに応じ
て水晶振動子固有の振動数が変化し、発振周波数か変化
することになる。そこで、バリキャップ素子36に対
し、環境温度の変化に応じた電圧を持つ制御信号を与
え、温度変化による水晶振動子固有の振動数の変化を打
ち消す方向にバリキャップ素子36の容量を変化させる
ことで、環境温度によらずに常に一定周波数で発振させ
ることができる。この場合、バリキャップ素子36に与
えられる制御信号の電圧値は、前記図1に示す温度検出
回路から出力される補正後のディジタルデータに基づい
て設定される。
て水晶振動子固有の振動数が変化し、発振周波数か変化
することになる。そこで、バリキャップ素子36に対
し、環境温度の変化に応じた電圧を持つ制御信号を与
え、温度変化による水晶振動子固有の振動数の変化を打
ち消す方向にバリキャップ素子36の容量を変化させる
ことで、環境温度によらずに常に一定周波数で発振させ
ることができる。この場合、バリキャップ素子36に与
えられる制御信号の電圧値は、前記図1に示す温度検出
回路から出力される補正後のディジタルデータに基づい
て設定される。
【0033】なお、この発明は上記した実施の形態に限
定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々変形できることはいうまでもない。例えば、上記し
た実施の形態では、環境温度に応じた電気信号を得るた
めに定電流回路とダイオードを用いた回路を用いる場合
について説明したが、これは他に、例えば図4(a)に
示すように所定の温度係数を持つ一対の抵抗41、42
による電圧分割回路を用いるように変形してもよく、ま
たは、図4(b)に示すように先の定電流回路11の代
わりに抵抗43を用いた回路を用いるように変形しても
よく、さらには図4(c)に示すよう先のにダイオード
12の代わりに所定の温度係数を持つ抵抗44を用いた
回路を用いるように変形してもよい。
定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々変形できることはいうまでもない。例えば、上記し
た実施の形態では、環境温度に応じた電気信号を得るた
めに定電流回路とダイオードを用いた回路を用いる場合
について説明したが、これは他に、例えば図4(a)に
示すように所定の温度係数を持つ一対の抵抗41、42
による電圧分割回路を用いるように変形してもよく、ま
たは、図4(b)に示すように先の定電流回路11の代
わりに抵抗43を用いた回路を用いるように変形しても
よく、さらには図4(c)に示すよう先のにダイオード
12の代わりに所定の温度係数を持つ抵抗44を用いた
回路を用いるように変形してもよい。
【0034】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
環境温度に応じた電気信号を生成する素子の製造工程時
における各種変動要因によらずに、同一温度下において
は実質的に同じディジタル出力を得ることができる温度
検出回路を提供することができる。
環境温度に応じた電気信号を生成する素子の製造工程時
における各種変動要因によらずに、同一温度下において
は実質的に同じディジタル出力を得ることができる温度
検出回路を提供することができる。
【図1】この発明の温度検出回路の一実施の形態に係る
ブロック図。
ブロック図。
【図2】既知の環境温度Ta下におけるディジタルデー
タSaと基準温度Tk下におけるディジタルデータの期
待値Skとの関係を示す特性図。
タSaと基準温度Tk下におけるディジタルデータの期
待値Skとの関係を示す特性図。
【図3】この発明の応用例に係る発振器の回路図。
【図4】この発明の変形例の回路図。
【図5】従来の温度検出回路のブロック図。
10…温度検出部、 11…定電流回路、 12…ダイオード、 13…ADコンバータ、 20…補正部、 21…記憶回路、 22…演算回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀧場 明 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 (72)発明者 伊藤 佳充 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 (72)発明者 稲田 真次 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 Fターム(参考) 2F056 JT06 JT08
Claims (3)
- 【請求項1】 環境温度に応じて変化する電気信号を生
成する電気信号生成手段と、 上記電気信号をディジタルデータに変換する変換手段
と、 既知の任意の温度下において上記変換手段で得られるデ
ィジタルデータに応じた補正用データを記憶する記憶手
段と、 未知の温度下において上記変換手段で得られるディジタ
ルデータと上記記憶手段で記憶されている補正用データ
との間で減算を行う演算手段とを具備したことを特徴と
する温度検出回路。 - 【請求項2】 前記電気信号生成手段及び変換手段は、
環境温度が1度変化する毎に、前記電気信号をディジタ
ル変換して得られるディジタルデータが1ビット変化す
るように構成されていることを特徴とする請求項1に記
載の温度検出回路。 - 【請求項3】 前記記憶手段には、 既知の任意の温度下において前記変換手段で得られるデ
ィジタルデータをSa、基準温度の際に前記演算手段か
ら出力されるディジタルデータの期待値をSk、既知の
任意の温度のデータをTa、基準温度のデータをTkと
したときに、Sa−(Ta−Tk)−Skで与えられる
データが前記補正用データとして記憶されることを特徴
とする請求項2に記載の温度検出回路。
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JP11186989A JP2001013011A (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 温度検出回路 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2001013011A true JP2001013011A (ja) | 2001-01-19 |
JP2001013011A5 JP2001013011A5 (ja) | 2004-07-22 |
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ID=16198264
Family Applications (1)
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JP (1) | JP2001013011A (ja) |
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WO2010043932A1 (en) * | 2008-10-17 | 2010-04-22 | Freescale Semiconductor, Inc. | Temperature compensation in a phase-locked loop |
WO2022051913A1 (zh) * | 2020-09-08 | 2022-03-17 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 晶体振荡器、芯片和电子设备 |
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US5081431A (en) * | 1990-01-26 | 1992-01-14 | Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. | Digital temperature-compensated oscillator |
JP2621058B2 (ja) | 1991-01-18 | 1997-06-18 | 株式会社ケンウッド | デジタル制御形温度補償水晶発振器 |
-
1999
- 1999-06-30 JP JP11186989A patent/JP2001013011A/ja not_active Abandoned
-
2000
- 2000-06-29 US US09/606,016 patent/US6337603B1/en not_active Expired - Fee Related
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