JP2001004815A - ビームスプリッタ - Google Patents

ビームスプリッタ

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JP2001004815A
JP2001004815A JP11170992A JP17099299A JP2001004815A JP 2001004815 A JP2001004815 A JP 2001004815A JP 11170992 A JP11170992 A JP 11170992A JP 17099299 A JP17099299 A JP 17099299A JP 2001004815 A JP2001004815 A JP 2001004815A
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JP
Japan
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light
beam splitter
reflection
transmitting substrates
substrates
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JP11170992A
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English (en)
Inventor
Katsushi Inoue
克司 井上
Yuko Kanazawa
祐孝 金澤
Yoshihisa Yamauchi
淑久 山内
Fumio Matsuzaka
文夫 松坂
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IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度変化や湿度変化による反射率の変動が極
めて小さいという利点を損なうことなく、反射面におけ
る反射率を従来より小さく抑えて出力光の損失を低減す
る。 【解決手段】 互いに屈折率が僅かに異なる一対の透光
基体10,11を溶着やオプティカルコンタクトなどに
より隙間なく密着させ、両透光基体10,11の境界面
を反射面12として形成し、両透光基体10,11の外
表面におけるレーザ光の入射面と出射面とには、反射防
止膜13,14を夫々コーティングする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ出力から非
常に小さな比率のモニタ光を取り出す場合などに用いる
ビームスプリッタに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は一般的なレーザ発振装置の一例を
示すもので、光共振器1を成す透過鏡2及び反射鏡3の
相互間にレーザ媒質4を配置し、該レーザ媒質4を図示
しない励起源により励起状態として光を出射させ、その
光を透過鏡2及び反射鏡3の相互間を往復させて前記レ
ーザ媒質4に対し入出射を繰り返させることにより光共
振を行わせて光のエネルギーを増幅し、透過鏡2を介し
レーザ光を発振し得るようにしてある。
【0003】この種のレーザ発振装置にあっては、レー
ザ出力のレベルを検出する目的でレーザ光の光路の途中
にビームスプリッタ5を配置し、該ビームスプリッタ5
によりレーザ光の一部をモニタ光(図中に二点鎖線で示
す)として反射させ、これを図示しないモニタ用パワー
メータなどに導いてレーザ出力のレベルを検出するよう
にしている。
【0004】図5に拡大して示す如く、従来における一
般的なビームスプリッタ5は、ウェッジ型の断面形状を
有し且つレーザ光の出射面に反射防止膜6をコーティン
グした透光基体7から成り、レーザ光の光路の途中に約
45゜の角度に傾斜して配置され、ノンコート面となっ
ている入射面を反射面8とした自然反射を利用してモニ
タ光(図中に二点鎖線で示す)を入射方向に対し略直角
な向きに取り出すようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、斯かる
従来のビームスプリッタ5においては、ノンコート面の
自然反射を利用しているので、温度変化や湿度変化によ
る反射率の変動が極めて小さいという利点がある反面、
その反射率が比較的大きくなってしまい、ビームスプリ
ッタ5を透過して出力される出力光の損失が大きくなる
という不具合があった。
【0006】即ち、ビームスプリッタ5の反射面8は、
透光基体7のノンコート面と大気との境界面を成してい
るので、いかに透光性の高い材質の透光基体7を採用し
ても、その透光基体7の材質と空気との屈折率の差が約
0.3以上程度(透光基体7の材質が石英の場合で約
0.5)となってしまうことが避けられず、一般的に、
入射してきたレーザ光の約4%程度が反射損失として生
じてしまっていた。
【0007】尚、レーザ出力が非常に大きい場合には、
モニタ出力レベルも大きなものとなってしまうので、こ
れを計測するパワーメータの容量も大きくしなければな
らなかった。
【0008】本発明は上述の実情に鑑みてなしたもの
で、温度変化や湿度変化による反射率の変動が極めて小
さいという利点を損なうことなく、反射面における反射
率を従来より小さく抑えて出力光の損失を低減すること
を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いに屈折率
が僅かに異なる一対の透光基体を隙間なく密着させ、両
透光基体の境界面を反射面として形成したことを特徴と
するビームスプリッタ、に係るものである。
【0010】而して、このようにすれば、一対の透光基
体を隙間なく密着させた境界面を反射面としたことによ
って、透光基体の夫々と大気との屈折率の差よりも小さ
く両透光基体の屈折率を近似させることが可能となり、
これにより前記反射面における反射率を大幅に低下させ
て反射面で発生する反射光を微量に抑え、両透光基体を
透過して出力される出力光の損失を少なくすることが可
能となる。
【0011】尚、このような一対の透光基体の境界面か
ら成る反射面の反射率は、温度変化や湿度変化による影
響を受けにくいことから非常に安定しており、入射光の
レベルに応じて常に一定割合の反射光を取り出すことが
可能となる。
【0012】また、両透光基体の外表面における少くと
も光の入射面と出射面とには、反射防止膜がコーティン
グされていることが好ましく、このようにすれば、光の
入射面と出射面とにおける反射を防止することが可能で
ある。
【0013】そして、一対の透光基体を隙間なく密着さ
せて両透光基体の境界面を反射面とするに際しては、両
透光基体の境界面を溶着したり、オプティカルコンタク
トにより接着したりすれば良い。
【0014】また、両透光基体の夫々が直角プリズムを
成し、該各直角プリズムの斜面同士が密着されて反射面
となっていることが好ましく、このようにすれば、反射
面に対し約45゜の角度を成す方向から入射光を入射し
た場合に、その入射方向に対し入射面及び出射面の何れ
も略直角を成すことになり、光路変位や出射方向の変化
を最小限に抑制しながら入射方向と略直角な向きに反射
光を取り出すことが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面を
参照しつつ説明する。
【0016】図1は本発明を実施する形態の一例を示す
もので、図示するビームスプリッタ9においては、互い
に屈折率が僅かに異なる一対の透光基体10,11を隙
間なく密着させ、両透光基体10,11の境界面を反射
面12として形成したことを特徴としており、特に本形
態例においては、先の図5の従来例の場合と同様にウェ
ッジ型の断面形状を有する板状物として形成された透光
基体10,11の相互を、そのウェッジ型の向きを合わ
せてW形に重ね合わせ、レーザ光(入射光)の光路の途
中に約45゜の角度に傾斜して配置するようにした場合
を例示している。
【0017】ここで、両透光基体10,11を隙間なく
密着させて両者の境界面を反射面12とするに際して
は、両透光基体10,11の境界面を溶着したり、オプ
ティカルコンタクト(ガラス材質の平面同士を精巧に研
磨して強く押し付けることにより接着剤を使わずに直接
接着する従来周知の光学的手法)により接着したりすれ
ば良い。
【0018】そして、両透光基体10,11の外表面に
おけるレーザ光の入射面と出射面とには、反射防止膜1
3,14を夫々コーティングしておき、これら入射面と
出射面とにおける余計な反射を防止し得るようにしてお
く。
【0019】而して、このようにすれば、一対の透光基
体10,11を隙間なく密着させた境界面を反射面12
としたことによって、透光基体10,11の夫々と大気
との屈折率の差よりも小さく両透光基体10,11の屈
折率を近似させることが可能となり、例えば一方の透光
基体10の材質を合成石英(屈折率n=1.4497
5)とした場合、他方の透光基体11の材質を溶融石英
(屈折率n=1.4498)、BK7(屈折率n=1.
50669)、YAG(屈折率n=1.82)などとす
れば良く、合成石英/溶融石英の組み合わせで両者の境
界面を成す反射面12の反射率が約5.9×10
-8(%)、合成石英/BK7の組み合わせで両者の境界
面を成す反射面12の反射率が約6.9×10
-2(%)、合成石英/YAGの組み合わせで両者の境界
面を成す反射面12の反射率が約1.86(%)とな
り、前記反射面12における反射率の大幅な低減化を図
ることが可能となる。
【0020】そして、このように、反射面12における
反射率の大幅な低減化を図ることができれば、図中に二
点鎖線で示す如き反射面12で反射して取り出されるモ
ニタ光(反射光)が微量に抑えられ、両透光基体10,
11を透過して出力される出力光の損失が少なくなる。
【0021】また、このような一対の透光基体10,1
1の境界面から成る反射面12の反射率は、温度変化や
湿度変化による影響を受けにくいことから非常に安定し
ており、レーザ光のレベルに応じて常に一定割合のモニ
タ光を取り出すことが可能である。
【0022】従って、上記形態例によれば、温度変化や
湿度変化による反射率の変動が極めて小さいという利点
を損なうことなく、反射面12における反射率を従来よ
り小さく抑えて出力光の損失を低減することができ、ま
た、モニタ出力レベルを小さく抑えることができてモニ
タ用パワーメータの容量も小さくすることができる。
【0023】図2は本発明の別の形態例を示すもので、
ウェッジ型の断面形状を有する透光基体10,11の相
互を、そのウェッジ型の向きを逆にしてN形に重ね合わ
せたものであり、この場合も両透光基体10,11の外
表面におけるレーザ光の入射面と出射面とに対し反射防
止膜13,14をコーティングするようにしてある。
【0024】而して、このようにした場合には、入射時
の屈折を出射時の屈折により相殺して入射方向と出射方
向とを略平行に維持することが可能となり、レーザ光の
出射方向の変化を最小限に抑制することが可能となる。
【0025】図3は本発明の更に別の形態例を示すもの
で、両透光基体10,11の夫々を直角プリズムにより
構成し、該各直角プリズムの斜面同士を密着させて反射
面12としたものであり、この場合も両透光基体10,
11の外表面におけるレーザ光の入射面と出射面とに対
し反射防止膜13,14をコーティングするようにして
ある。
【0026】而して、このようにすれば、反射面12に
対し約45゜の角度を成す方向からレーザ光を入射した
場合に、その入射方向に対し入射面及び出射面の何れも
略直角を成すことになるので、入射時や出射時における
屈折が殆どなくなり、光路変位や出射方向の変化を最小
限に抑制しながら入射方向と略直角な向きにモニタ光を
取り出すことが可能となる。
【0027】尚、本発明のビームスプリッタは、上述の
形態例にのみ限定されるものではなく、図示以外の形状
の透光基体を適宜に採用しても良いこと、その他、本発
明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得
ることは勿論である。
【0028】
【発明の効果】上記した本発明のビームスプリッタによ
れば、温度変化や湿度変化による反射率の変動が極めて
小さいという利点を損なうことなく、反射面における反
射率を従来より小さく抑えて出力光の損失を低減するこ
とができるという優れた効果を奏し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施する形態の一例を示す概略図であ
る。
【図2】本発明の別の形態例を示す概略図である。
【図3】本発明の更に別の形態例を示す概略図である。
【図4】一般的なレーザ発振装置の一例を示す概略図で
ある。
【図5】従来のビームスプリッタの一例を示す概略図で
ある。
【符号の説明】
9 ビームスプリッタ 10 透光基体 11 透光基体 12 反射面 13 反射防止膜 14 反射防止膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山内 淑久 東京都江東区豊洲三丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社東二テクニカルセンタ ー内 (72)発明者 松坂 文夫 東京都江東区豊洲三丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社東二テクニカルセンタ ー内 Fターム(参考) 2H042 CA06 CA14 CA16 CA17 DB01 DE07

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに屈折率が僅かに異なる一対の透光
    基体を隙間なく密着させ、両透光基体の境界面を反射面
    として形成したことを特徴とするビームスプリッタ。
  2. 【請求項2】 両透光基体の外表面における少くとも光
    の入射面と出射面とに対し反射防止膜がコーティングさ
    れていることを特徴とする請求項1に記載のビームスプ
    リッタ。
  3. 【請求項3】 両透光基体の境界面が溶着されているこ
    とを特徴とする請求項1又は2に記載のビームスプリッ
    タ。
  4. 【請求項4】 両透光基体の境界面がオプティカルコン
    タクトにより接着されていることを特徴とする請求項1
    又は2に記載のビームスプリッタ。
  5. 【請求項5】 両透光基体の夫々が直角プリズムを成
    し、該各直角プリズムの斜面同士が密着されて反射面と
    なっていることを特徴とする請求項1、2、3又は4に
    記載のビームスプリッタ。
JP11170992A 1999-06-17 1999-06-17 ビームスプリッタ Pending JP2001004815A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011518312A (ja) * 2007-12-14 2011-06-23 インテクプラス カンパニー、リミテッド 立体形状測定装置
KR101453136B1 (ko) 2008-05-09 2014-10-27 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 광 스플리터 장치
JP2018205398A (ja) * 2017-05-31 2018-12-27 日本電気硝子株式会社 光学素子、及び光学素子の製造方法

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KR101453136B1 (ko) 2008-05-09 2014-10-27 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. 광 스플리터 장치
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