JP2000512939A

JP2000512939A - サンプルカットの生成及び評価方法

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Publication number: JP2000512939A
Application number: JP11501265A
Authority: JP
Inventors: ゴットフリートヴァイトリッヒエルンスト−ルドルフ
Original assignee: Heidelberger Druckmaschinen AG
Current assignee: Heidelberger Druckmaschinen AG
Priority date: 1997-06-02
Filing date: 1998-05-27
Publication date: 2000-10-03
Anticipated expiration: 2018-05-27
Also published as: DE19722762A1; CN1265623A; EP0986466B1; WO1998055302A1; US6950212B1; CN1106281C; ES2165177T3; DE59802352D1; EP0986466A1; JP3337228B2

Abstract

(57)【要約】本発明は、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法に関する。“明”（白）と“暗”（黒）との間の彫刻すべき規定―階調値と周期的網目スクリーン信号（Ｒ）との間の彫刻すべき規定―階調値を表す彫刻データ（ＧＤ）から、彫刻網目スクリーンの生成のため彫刻機構（３）の彫刻針（４）の制御のための彫刻制御信号（ＧＳ）が形成される。彫刻針（４）により、彫刻線ラインごとに彫刻網目スクリーン間に配されるインキセルを彫刻形成し、前記インキセルの幾何学パラメータは、彫刻される実際値―階調値を規定するものである。試行彫刻の際試行インキセル（３３）が彫刻され、そのうちの１つのビデオ画像（３５）が生成される。彫刻網目スクリーンの網目スクリーンパラメータに依存して、ビデオ画像（３５）における試行インキセル（３３）の幾何学的パラメータの測定のため測定位置個所（４０）を選択された基準位置個所（４１）に対する座標上の間隔（△Ｘ、△Ｙ）として確定される。彫刻される試行インクキル（３３）の横方向対角線、長手方向対角線、貫通線分、ウエブ幅又はインキセル面のような試行インクキルの測定すべき幾何学的パラメータは、確定された測定位置個所（４０）にてビデオ画像（３５）の評価により測定され、そして、所定の設定階調値を表す、相応の試行インキセルと比較される。当該の比較により調整セッティング値を導出し、前記の調整セッティング値により、彫刻制御信号が校正され、ここで、彫刻された実際―階調値が彫刻すべき設定階調値に相応するようにしたのである。

Description

【発明の詳細な説明】サンプルカットの生成及び評価方法本発明は電子的複製技術の分野に係わり、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法に関する。電子的彫刻機において、カッテイング工具として彫刻針を有する彫刻機構が軸方向に回転印刷胴のところに沿って運動する。彫刻制御信号により制御される印刷針は１つの彫刻網目スクリーンにて配された凹片−インキセルと称される−を印刷胴の套面内にカッティング形成する。彫刻制御信号は、彫刻アンプにて、画像信号値―これらは、彫刻すべき“明”（白）及び暗“黒”を表す−の周期的網目スクリーン信号（バイブレーション）の重畳により形成される。網目スクリーン２信号が彫刻網目スクリーン生成のため彫刻針の振動的ストローク運動を生じさせるのに対し、画像信号値は、印刷胴の套面内に彫刻されるインキセルの幾何学的寸法を定める。印刷版の彫刻の際彫刻されるインキセルが画像信号値に相応するため、彫刻制御信号を校正ししなければならない。このために、印刷版の彫刻前に、所謂サンプルカットにより所定の階調値に対して試行インキセルが彫刻される、例えば階調値“明”及び“暗”に対して彫刻される。サンプルカット後、彫刻されるインキセルの実際寸法が求められ、そして、試行彫刻に対して設定された階調値を表すインキセルの幾何学的設定寸法と比較される。幾何学的寸法の比較により、例えば“明”“暗”及び“バイブレーション”に対する調整セッティング値が行われ、該調整セッティングにより、彫刻アンプは次のように校正される即ち、事後の彫刻の際、実際に生成されるインキセルが、適正な階調値に必要なインキセルに相応するように構成される。サンプルカットの後彫刻されるインキセルの幾何学的寸法、例えば、横方向対角線、長手方向対角線、貫通連結領域の幅及びウエブ幅を求めなければならない。幾何学的実際寸法の検出は、スケール尺度の組込まれた、印刷胴上に載置された測定マイクロスコープを用いてのインキセルの測定により、又は、撮像カメラにより撮像された彫刻されたインキセルのビデオ画像の評価により行われる。実際上、彫刻品質を改善するため、試行インキセルのビデオ画像の一層より精確な評価に対する要求が提起されている。従って、本発明の課題とするところは、彫刻された試行インキセルの幾何学的寸法の自動化された精確な検出が確保されるように、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法を改良することにある。前記課題は、請求項１の構成要件により解決される。有利な実施形態及び発展形態がサブクレームに記載されている。本発明を図１〜図４を用いて詳述する。各図は、次の通りである。図１は印刷版の彫刻のための電子的彫刻機の基本的実施例を示す。図２は、彫刻されるインキセルのビデオ画像を示す。図３は、１つの測定帯域バンドの構成を示す。図４は、１つの測定帯域バンドないでの１つの測定区間の自動的検出のグラフィカルな説明図である。図５は、１つのインキセルの横方向対角線のグラフィカルな説明図である。図６は１つのインキセルの長手方向対角線のグラフィカルな説明図である。図７は２つのインキセルの貫通部分幅の測定のグラフィカルな説明図である。図８は、２つのインキセルのウエブ幅の測定のグラフィカルな説明図である。図９は、試行インキセルの彫刻測定面を有する彫刻された試行インキセルのビデオ画像を示す。１つの印刷胴１は印刷胴駆動装置２により回転駆動される。胴１上での彫刻は、彫刻機構３を用いて行われ、この彫刻機構は、カッティング工具として印刷針４を有する電磁彫刻彫刻機構として構成されている。彫刻機構３は彫刻車５上に配置されており、この彫刻車駆動装置７により印刷胴４の軸方向に移動可能である。彫刻機構３の印刷針４は彫刻線ラインごとに回転印刷胴１の套面内に、１つの彫刻網目スクリーン内に配された一連のインキセルをカッティング形成する。一方、彫刻車５は彫刻機構３と共に送り方向に印刷胴１に沿って移動する。インキセルの彫刻は、図示の実施例では印刷胴１の周りに周方向に円形状に延びる個々の彫刻線上で行われ、ここで、彫刻車５はその１つの彫刻線のインキセルの彫刻後毎に次の彫刻線への送りステップを実行する。その種の彫刻方法は、例えば、米国特許第４０１３８２９号明細書に記載されている。代替選択的に彫刻を、印刷胴の周りにらせん状に延びる彫刻線としても行うこともでき、ここで、彫刻車５は、彫刻期間中連続的な送り運動を行う。彫刻機構３の彫刻針４は、彫刻制御信号ＧＳにより制御される。彫刻制御信号ＧＳは、彫刻アンプ８にて、１つの周期的網目スクリーン信号Ｒの、画像値Ｂとの重畳により形成され、前記画像値Ｂは、彫刻すべきインキセル“明”（白）及び“暗”（黒）を表すものである。周期的網目スクリーン信号Ｒが彫刻網目スクリーンの生成のための彫刻針４のストローク運動を生じさせるのに対して、画像信号値Ｂは、彫刻すべき階調値に応じて彫刻すべきインキセルのそれぞれの幾何学的寸法、例えば侵入深度、横方向対角線及び長手方向対角線を規定する。彫刻網目スクリーンは、網目スクリーン角度及び網目スクリーン幅に関して、網目スクリーン信号Ｒ、印刷胴の周速度、彫刻機構３の軸方向送りステップ幅により定められる。アナログ画像信号Ｂは、Ｄ／Ａ変換器９にて彫刻データＧＤから得られ、この彫刻データＧＤは、彫刻データメモリ１０内に格納され、ここから彫刻線毎に読出され、Ｄ／Ａ変換器９に供給される。１つのインキセルに対する各彫刻個所には彫刻網目スクリーンにて、少なくとも１つの彫刻データが対応付けられ、この彫刻データは、就中、“明”と“暗”との間での彫刻すべき階調値を彫刻情報として含み、ここで、例えば階調値“明”には彫刻データＧＤ＝１６１が対応付けられ、階調値“暗”には彫刻データＧＤ＝１が対応付けられる。印刷胴１には、ＸＹ座標系が配属されており、このＸＹ座標系のＸ軸は印刷胴１の軸方向に、そして、それのＹ軸は、印刷胴１の周方向に配向されている。網目スクリーンにて配された、印刷胴１上の彫刻個所のＸ位置座標―これは印刷胴１に関する彫刻機構３のインキセル４の軸方向位置を規定する−は、彫刻車駆動部７により生ぜしめられる。印刷胴駆動部２に機械的に連結された位置発振器には、相応のＹ位置座標を生じさせ、該Ｙ位置座標は、彫刻機構３の彫刻針４に対する回転印刷胴１の相対的周囲位置を規定する。彫刻個所の位置座標（Ｘ，Ｙ）は線路１２，１３を介して制御装置１４に供給される。制御装置１４は、線路１５を介しての実際の彫刻個所のＸＹ位置座標に依存しての彫刻データメモリ１０からの彫刻データの読出及びアドレッシングを制御する。更に、線路１６にて網目スクリーン信号Ｒを、彫刻網目スクリーンの生成に必要な周波数で発生し、線路１７上で彫刻車駆動部７への制御命令Ｓ１を必要な送りステップ幅の調整セッティングのため、そして、彫刻中の彫刻機構３の連続的に、又は、歩進的送りの制御のため発生し、線路１８上で印刷胴駆動部２へさらなる制御命令Ｓ２を、彫刻網目スクリーンの制御に必要な印刷胴１の周速度の調整セッティングのため発生する。印刷版の本来の彫刻前サンプルカットの実施のため彫刻機は、コンピュータ１９を有し、該コンピュータ１９は、試行インキセルの彫刻に必要な彫刻データＧＤ＊をＤ／Ａ変換器９に供給する。各彫刻データＧＤ＊は、１つの試行インキセルの所定の設定階調値、ないし相応する幾何学的プリセット設定値、例えば試行インキセルの設定横方向対角線又は長手方向対角線を表す。サンプルカットの際彫刻される試行インキセルの測定のため、試行インキセルのビデオ画像の撮像のためのビデオカメラ２１を有する印刷胴１の軸方向に移動可能な測定車２０及び線路２２を介してビデオカメラ２１に連結された画像評価段２３―これはビデオカメラ内に統合化してもよい―が、ビデオ画像における試行インキセルの測定のため設けられている。測定車２１を使用するのが有利であるのは、殊にそれにより、それぞれ１つの彫刻機構３を以て複数の彫刻系統ラインを彫刻できる多チャネル彫刻機構においてである。この場合において、各彫刻系統ラインに対して、１つの相応のサンプルカットを実施しなければならない。測定車２０を、自動的にスピンドル２４を介して、測定車駆動部２５により個々の彫刻系統ラインにおける所要の軸方向位置へ動かし得る。測定車駆動部２５は、線路２６上の制御命令Ｓ３により制御装置１４から制御される。代替選択的にビデオカメラ２１を彫刻機構３の領域内に設けることもできる。ここで、ビデオ画像の撮像を例えば光伝送ケーブルを介して行い得る。コンフィギュレーションメモリ２７は試行インキセルの彫刻及び測定に必要な、プリセット値を線路２８を介してはコンピュータ１９へ供給し、線路２８を介しては画像評価段２３へ供給する。測定結果は幾何学的実際値として画像評価段２３からコンピュータ１９へ伝送される。コンピュータ１９では、所定の幾何学的設定値と測定された実際値の比較により、彫刻アンプの校正のための調整セッティング値が得られ、この調整セッティングは、線路２１を介して彫刻アンプ８に供給される。求められた調整セッティング値により彫刻アンプ８は次のように校正される、即ち、印刷胴の事後の彫刻の際形成されるインキセルが適正な階調値での彫刻に必要なインキセルに相応するように校正される。彫刻針８の校正を自動的に印刷版の彫刻前に、又は印刷版の彫刻中オンラインで行い得る。彫刻アンプ８の校正を次のように手動的に実施することもできる、即ち、コンピュータ１９が求められた調整セッティングをたんに指示し、この調整セッティングを手動的に彫刻アンプに伝達するのである。試行インキセルの彫刻のため、コンピュータ１９は、例えば、設定階調値“暗 ”（ＧＤ＊＝１）、“明”（ＧＤ＊＝１６１）及び“明”と“暗”との間の中間階調値に対する彫刻データ（Ｇ１）＊）を呼出す。呼出された彫刻データ（ＧＤ＊）は、彫刻機構３に対する彫刻制御信号ＧＳに変換される。彫刻機構３は彫刻網目スクリーンにて、相並ぶ彫刻線３２上で“明”（Ｌ）、“暗”（Ｔ）及び“中間階調値”（Ｍ）に対する少なくとも１つの“試行インキセル”３３を彫刻する。有利には、各彫刻線３２上にて、複数の同じ試行インキセル３３が、例えば、選択可能な彫刻線領域に亘って、彫刻される。横方向対角線及び長手方向対角線のほかにウエブ幅をも検出しようとする場合、“暗 ”に対する試行インキセル３３を、少なくとも２つの相並ぶ彫刻線３２上で彫刻しなければならない。１つの相応のサンプルカットを各色分解版に対して、ないし各彫刻網目スクリーンに対して実施しなければならず、ここで、網目スクリーン角度及び網目スクリーン幅のような種々のパラメータが、コンフィギュレーションメモリ２７内に格納されている。サンプルカットの後、ビデオカメラ２１は、彫刻されて試行インキセル３３のビデオ画像を撮像する。試行インキセル３３の撮像を印刷胴１の停止状態にて、又は印刷胴１の回転状態のもとで相応の同期化を以て行い得る。撮像されたビデオ画像を用いての画像評価段２３における彫刻されたインキセル３３の幾何学的パラメータの測定について以降詳述する。図２は、彫刻された試行インキセル３３の、ビデオカメラ２１により撮像されたビデオ画像３５を示す。図示されているのは、水平及び垂直彫刻線からなる直交彫刻網目スクリーンであり、ここで垂直の彫刻線は彫刻線３２である。３つの相並ぶ彫刻線３２上には、例えば“明”（Ｌ）、“暗 ”（Ｔ）及び中間階調値（Ｍ）で彫刻されたインキセル３３が示してある。試行インキセルの重心は、彫刻網目スクリーンの彫刻線の交点上に位置する。確実な評価を確保するため、ビデオ画像の大きさは、次のように選定されている、即ち、各設定階調値に対して少なくとも１つの完全な試行インキセル３３がビデオ画像３５内に位置するように選定されている。ビデオ画像３５は、多数のパイクセル３６からなり、多数のパイクセル３６の位置は、ビデオ画像中ＸＹ測定系の位置座標（Ｘ＊、Ｙ＊）により規定され、ＸＹ測定系の位置座標（Ｘ＊、Ｙ＊）は、同様に印刷胴１の軸方向及び周方向で配向されている。各パイクセル３６にはそれぞれのグレー値を表す、例えば８ビットのビデオデータＶＤが対応付けられており、その結果“黒”（ＶＤ＝０）と“ 白”（ＶＤ＝２５５）との間に仝部で２５４のグレー段階を区別し得る。グレー値をフィルタリングにより、又は、限界値を用いて、２つの値へ低減できる、即ち、例えば印刷胴１の套面に来るパイクセルにはビデオデータＶＤ＝０が対応付けられ、試行インキセル３３の面上に位置するパイクセルにはビデオデータｖＤ＝１が対応付けられるのである。ビデオ画像３５における試行インキセルの幾何学的パラメータの測定のため、ビデオ画像３５に亘り移動可能な少なくとも１つの測定フィールドが画定される。測定フィールドは、実施例中縞状に構成されており、以下測定帯域バンドと称され、この測定帯域バンドの長手方向拡がりは、少なくとも２つの彫刻線相互間の間隔に等しい。“明”、“暗”及び“中間階調値” に対する試行インキセル３３の測定は、相次いで１つの測定帯域３９又はそれぞれ１つの別個の測定帯域３９を以て行い得る。測定帯域３９は、ビデオ画像３５間で選択可能な測定個所４０上で移動され、ＸＹ測定系３７に関して１つの任意の方向に配向され得る。ここで、測定個所４０として、例えば測定帯域３９の中心点が規定されている。試行彫刻前に試行インキセル３３のうちの１つが基準インキセルとして選択され、その中心点がビデオ画像３５間で所望の測定個所４０上で測定帯域３９の位置定めのため基準点４１とするものである。有利には、基準点４１として、中心点としては１つの中間階調値Ｍに対する試行インキセルが選ばれる。測定帯域３９に対する測定個所４０の確定は、各色分解版に対する彫刻網目スクリーンの幾何学的関係に依存しての、基準個所４１からの座標的間隔（△Ｘ＊、△Ｙ＊）の設定により行われる。基準個所４１からの所定の間隔（△Ｘ＊、△ Ｙ＊）及び測定帯域３９の所望の配向をコンフィギュレーションメモリ２７間に記憶し得る。試行インキセル３３は、彫刻線３２上に位置するので、基準個所４１からの測定帯域３９の、Ｘ方向での間隔△Ｘ＊は、彫刻線間隔又は彫刻線間隔の倍数に等しい。これに対して、Ｙ方向での基準個所４１からの間隔△Ｙ＊は、何を測定すべきかに依存する。最大の横方向対角線（ｄ_Qmax）又は任意の横方向対角線（ｄ_Q）の測定のため、即ち、Ｘ方向（送り方向）でのインキセル面の拡がりの測定のため、測定帯域３９はそれの長手方向拡がりがＸ方向に配向される。最大の横方向対角線ｄ_Qmax の測定のため、基準個所４１からの間隔△Ｙ＊は零で、Ｙ方向で網目スクリーン幅に等しいか、又は網目スクリーン幅の倍数に等しい。任意の横方向対角線ｄ_Q の測定のため、Ｙ方向での基準個所からの相応の中間間隔が設定される。Ｘ方向での基準個所４１からの測定帯域３９の間隔△Ｘ＊は、２つの場合において零で、彫刻線間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍数に等しい。最大の長手方向対角線ｄ_Lmax又は任意の長手方向対角線ｄ_Lの測定のため即ち、Ｙ方向（周方向）でのインキセル面の拡がりの測定のため、測定帯域３９は、それの長手方向拡がりがＹ方向に配向される。貫通領域ｄ_DSの測定のため、即ち、１つの彫刻線上にて彫刻される２つのインキセルを結ぶＸ方向での彫刻チャネルの幅の測定の長手方向拡がりがＸ方向に配向される。Ｘ方向での基準個所４１からの測定帯域３９の間隔△Ｘ＊は、零で彫刻線間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍数に等しい。Ｙ方向での基準個所ｐ４１からの間隔△Ｙ＊は、Ｙ方向で零で網目スクリーン幅に等しいか、又は網目スクリーン幅の倍数に等しい。ウエブ幅ｄ_SBの測定のため、即ち、隣接する彫刻線上で彫刻される２つの深いインキセル間に残っている材料の幅の測定のため、測定帯域３９は、有利に次のように回転される、即ち、それの長手方向拡がりがウエブの延在方向に対してほぼ垂直方向に配向されるように回転される。測定帯域３９は少なくとも１つの測定行ライン、有利には相互に並行に延びる複数の測定行ラインからなり、各測定行ラインは複数のパイクセルを有し、それらのパイクセルの相互間隔は１つの長さインクリメントを表す。従って、１つの測定区間でのパイクセル３６のカウントにより、測定区間の長さを長さインクリメントの倍数として測定できる。図３ａは、１４のパイクセル３６を有する１つの測定行ライン３９’から成る１つの測定帯域３９の構成を示す。図３は、それぞれ１４のパイクセル３６を有する相互に並行に延びる３つの測定行ライン３９’から成る１つの測定帯域３９の構成を示す。既述のように、インキセル面、ウエブ又は貫通領域の縁が撮像されたビデオ画像３５において１つの輪郭を形成する。従って、横方向対角線、長手方向対角線ウエブ幅及び貫通領域に対する測定区間が相応する輪郭の相互間の間隔により定まる。横方向対角線、長手方向対角線、ウエブ幅及び貫通領域幅に対する測定区間の端点は、有利に測定帯域３９を用いて２つの隣接する輪郭の自動的識別により求められ、ここで、１つの測定行ライン３９’の各２つの順次連続するパイクセル３６のビデオ画像ＶＤは輪郭移行部について調べられるようにするのである。図４は、１つの測定行ライン３９’及び相互間隔をおかれた２つの輪郭線４３を有する１つの測定帯域３９を示す。更に、個々のパイクセル３６に配属されたビデオデータＶＤが示してあり、ここで、輪郭線４３は、“０”から“１”へ、そして“１”から“０”への移行により表示されている。相互の輪郭識別により、測定区間４４の端点が求められ、この測定区間４４は、図示の場合では８パイクセルの長さである。そこにて、隣接するパイクセル３６のビデオデータＶＤが自動的輪郭識別のため調べられる順序が何を測定すべきかに依存する。横方向対角線ｄ_Q又は長手方向対角線ｄ_Lの測定の場合、ビデオデータＶＤは有利に１つの測定行ライン３９ ’の中央から、即ち１つのインキセル面の中央から縁まで調べられる。これに対して、貫通領域幅ｄ_DS又はウエブ幅ｄ_SBの測定の場合１つの測定行ライン３９’の端点から中央までビデオデータＶＤを調べると有利である。図５は、Ｘ方向に配向された測定帯域３９と共に１つの試行インキセル３３の最大の横方向対角線ｄ_Qmaxの測定の様子を示し、ここで、測定区間４４の端点は、試行インキセル３３の輪郭４３により規定される。図６は、Ｙ方向に配向された測定帯域３９と共に試行インキセル３３の最大の長手方向対角線ｄ_Lmaxの測定の様子を示す。図７は、階調値“暗”に対して１つの彫刻線３２上で相並んで彫刻される２つの試行インキセル３３の貫通領域ｄ_DSの測定の様子をＸ方向に配向された測定帯域３９と共に示す。図８は、彫刻線３２に対して横方向に配向された測定帯域３９と共に、相並んで彫刻される２つの試行インキセル３３のウエブ幅の測定の様子を示す。識別及び測定確実性の増大のため、及び最小ないし最小長さ及び面の測定のため、有利に、多数の測定行ライン３９’を有する測定帯域３９が使用される。識別―及び測定確実性を次のようにして改善し得る、即ち、各測定行ライン３９’の測定結果が相互に比較され、一致した場合のみ転送されるのである。最大及び最小の長さの検出のため、個々の測定行ライン３９’の測定結果が極値選択を施される。横方向対角線ｄ_Q及び長手方向対角線ｄ_L の測定の際有利には最大選択が実施され、ウエブ幅ｄ_SB及び貫通領域幅ｄ_DSの測定の場合は最小選択が実施される。１つのインキセル面の測定のため、個々の測定行ライン３９’の測定結果が加算される。本発明の有利な発展形態では測定確実性のさらなる改善のため、ビデオ画像３５の評価の際、各試行インキセル３３―それの最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxが測定されるーの周りに、付加的な所定の測定面４５がセッティングされ、前記所定の測定面４５の相応の試行インキセル３３のインキセル面に相応する。測定帯域３９の大きさは、測定面４５の大きさに適合され、その結果測定面４５内のすべてのパイクセル３６が測定帯域３９により捕捉され得る。その場合測定帯域３９により当該の試行インキセル３３のインキセル面が複数のパイクセル３３として求められ、ここで、そのようにパイクセル面を求めるため、測定帯域３９の各測定行ライン３９’にてカウントされた数のパイクセル３６が加算される。測定帯域３９を以て測定された試行インキセルの最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxから、当該の試行インキセル３３のインキセル面が計算される。試行インキセルの計算されたインキセル面と測定されたインキセル面との一致性が検出されない場合、試行インキセル３３の最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxに対して測定結果は無効化される。図９は、彫刻された試行インキセル３３のさらなるビデオ画像３５を示す。階調値“明”に対する試行インキセル３３’のインキセルの周りに測定面４５’が画定されている。階調値“暗”に対する試行インキセル３３”のインキセル面の周りに相応に一層大きな測定面４５”が画定されている。代替選択的に、試行インキセル３３の測定のため測定面４５”のたんに１つの部分測定面を使用することもできる、例えば、半分の測定面４５”に相応する部分測定面４６、又は測定面４５”の１／４に相応する部分測定面４７を使用することもできる。個々の部分測定面４６，４７にて求められた面成分から、全インキセル面を計算でき、ここで考慮すべきことは、面重心に対して対称的、又は非対称的面成分が問題となっているということである。本発明の方向のさらなる発展形態では、ビデオ画像３５内にて基準個所４１ないし選ばれた基準インキセルのインキセル面の特性的大きさを用いて求められる。このために選ばれたインキセルのインキセル面が設定される。次いでビデオ画像３５にて、すべての試行インキセルのインキセル面が個々のパイクセル３６のビデオデータＶＤの評価により検出され、その都度選ばれた基準インキセルのインキセル面と比較される。基準インキセル、ひいては、基準個所４１は、面の一致性が検出されると識別される。代替選択的ビデオ画像３５より小さい識別窓を画定できる。この場合において、識別窓は、歩進的にビデオ画像３５に亘って移動され、ここで、各窓位置にて相応の面比較が実施される。

【手続補正書】【提出日】平成１１年１２月８日（１９９９．１２．８）【補正内容】明細書サンプルカットの生成及び評価方法本発明は電子的複製技術の分野に係わり、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法に関する。電子的彫刻機において、カッティング工具として彫刻針を有する彫刻機構が軸方向に回転印刷胴のところに沿って運動する。彫刻制御信号により制御される印刷針は１つの彫刻網目スクリーンにて配された凹み―インキセルと称される−を印刷胴の套面内にカッティング形成する。彫刻制御信号は、彫刻アンプにて、画像信号値―これらは、彫刻すべき“明”（白）及び暗“黒”を表す−の周期的網目スクリーン信号（バイブレーション）重畳により形成される。網目スクリーン信号が彫刻網目スクリーン生成のため彫刻針の振動的ストローク運動を生じさせるのに対し、画像信号値は、印刷胴の套面内に彫刻されたインキセルの幾何学的寸法を規定する。印刷版の彫刻の際彫刻されるインキセルが画像信号値に相応するため、彫刻制御信号を校正しなければならない。このために、印刷版の彫刻前に、所謂サンプルカットにより所定の階調値に対して試行インキセルが彫刻される、例えば階調値“明”及び“暗”に対して彫刻される。サンプルカット後、彫刻されるインキセルの実際寸法が求められ、そして、試行彫刻に対して設定された階調値を表すインキセルの幾何学的設定寸法と比較される。幾何学的寸法の比較により、例えば“明”“暗”及び“バイブレーション”に対する調整セッティング値が形成され、該調整セッティングにより、彫刻アンプは次のように校正される即ち、事後の彫刻の際、実際に生成されるインキセルが、適正な階調値に必要なインキセルに相応するように校正される。サンプルカットの後彫刻されるインキセルの幾何学的寸法、例えば、横方向対角線、長手方向対角線、貫通連結領域の幅及びウエブ幅を求めなければならない。幾何学的実際寸法の検出は、以前はスケール尺度の組込まれた、印刷胴上に載置された測定マイクロスコープを用いてのインキセルの測定により行われた。ＷＯ−Ａ−９４１９９００からは、印刷胴の套面内に彫刻されるインキセルの幾何学的実際寸法が、ビデオカメラで撮像されたビデオスクリーン画像にて測定されるようにした方法が公知である。実際上、彫刻品質を改善するため、試行インキセルのビデオ画像の一層より精確な評価に対する要求が提起されている。従って、本発明の課題とするところは、ビデオスクーン画像における試行インキセルを見出だすことが容易化され、ひいては、彫刻された試行インキセルの幾何学的実際寸法の自動化された精確な検出が確保されるように、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法を改良することにある。前記課題は、請求項１の構成要件により解決される。有利な実施形態及び発展形態がサブクレームに記載されている。本発明を図１〜図４を用いて詳述する。各図は、次の通りである。図１は印刷版の彫刻のための電子的彫刻機の基本的実施例を示す。図２は、彫刻されるインキセルのビデオ画像を示す。図３は、１つの測定帯域バンドの構成を示す。図４は、１つの測定帯域バンド内での１つの測定区間の自動的検出のグラフィカルな説明図である。図５は、１つのインキセルの横方向対角線のグラフィカルな説明図である。図６は１つのインキセルの長手方向対角線のグラフィカルな説明図である。図７は２つのインキセルの貫通連結領域幅の測定のグラフィカルな説明図である。図８は、２つのインキセルのウエブ幅の測定のグラフィカルな説明図である。図９は、試行インキセルの彫刻測定面を有する彫刻された試行インキセルのビデオ画像を示す。１つの印刷胴１は印刷胴駆動装置２により回転駆動される。胴１上での彫刻は、彫刻機構３を用いて行われ、この彫刻機構は、カッティング工具として印刷針４を有する電磁彫刻彫刻機構として構成されている。彫刻機構３は彫刻車５上に配置されており、この彫刻車駆動装置７により印刷胴４の軸方向に移動可能である。彫刻機構３の印刷針４は彫刻線ラインごとに回転印刷胴１の套面内に、１つの彫刻網目スクリーン内に配された一連のインキセルをカッティング形成する。一方、彫刻車５は彫刻機構３と共に送り方向に印刷胴１に沿って移動する。インキセルの彫刻は、図示の実施例では印刷胴１の周りに周方向に円形状に延びる個々の彫刻線上で行われ、ここで、彫刻車５はその１つの彫刻線のインキセルの彫刻後毎に次の彫刻線への送りステップを実行する。その種の彫刻方法は、例えば、米国特許第４０１３８２９号明細書に記載されている。代替選択的に彫刻を、印刷胴の周りにらせん状に延びる彫刻線としても行うこともでき、ここで、彫刻車５は、彫刻期間中連続的な送り運動を行う。彫刻機構３の彫刻針４は、彫刻制御信号ＧＳにより制御される。彫刻制御信号ＧＳは、彫刻アンプ８にて、１つの周期的網目スクリーン信号Ｒの、画像値Ｂとの重畳により形成され、前記画像値Ｂは、彫刻すべきインキセル“明”（白）及び“暗”（黒）を表すものである。周期的網目スクリーン信号Ｒが彫刻網目スクリーンの生成のための彫刻針４のストローク運動を生じさせるのに対して、画像信号値Ｂは、彫刻すべき階調値に応じて彫刻すべきインキセルのそれぞれの幾何学的寸法、例えば侵入深度、横方向対角線及び長手方向対角線を規定する。彫刻網目スクリーンは、網目スクリーン角度及び網目スクリーン幅に関して、網目スクリーン信号Ｒ、印刷胴の周速度、彫刻機構３の軸方向送りステップ幅により定められる。アナログ画像信号Ｂは、Ｄ／Ａ変換器９にて彫刻データＧＤから得られ、この彫刻データＧＤは、彫刻データメモリ１０内に格納され、ここから彫刻線毎に読出され、Ｄ／Ａ変換器９に供給される。１つのインキセルに対する各彫刻個所には彫刻網目スクリーンにて、少なくとも１つの彫刻データが対応付けられ、この彫刻データは、就中、“明”と“暗”との間での彫刻すべき階調値を彫刻情報として含み、ここで、例えば階調値“明”には彫刻データＧＤ＝１６１が対応付けられ、階調値“暗”には彫刻データＧＤ＝１が対応付けられる。印刷胴１には、ＸＹ座標系が配属されており、このＸＹ座標系のＸ軸は印刷胴１の軸方向に、そして、それのＹ軸は、印刷胴１の周方向に配向されている。網目スクリーンにて配された、印刷胴１上の彫刻個所のＸ位置座標―これは印刷胴１に関する彫刻機構３のインキセル４の軸方向位置を規定する−は、彫刻車駆動部７により生ぜしめられる。印刷胴駆動部２に機械的に連結された位置発信器には、相応のＹ位置座標を生じさせ、該Ｙ位置座標は、彫刻機構３の彫刻針４に対する回転印刷胴１の相対的周囲位置を規定する。彫刻個所の位置座標（Ｘ，Ｙ）は線路１２，１３を介して制御装置１４に供給される。制御装置１４は、線路１５を介しての実際の彫刻個所のＸＹ位置座標に依存しての彫刻データメモリ１０からの彫刻データの読出及びアドレッシングを制御する。更に、線路１６にて網目スクリーン信号Ｒを、彫刻網目スクリーンの生成に必要な周波数で発生し、線路１７上で彫刻車駆動部７への制御命令Ｓ₁を必要な送りステップ幅の調整セッテイングのため、そして、彫刻中の彫刻機構３の連続的に、又は、歩進的送りの制御のため発生し、線路１８上で印刷胴駆動部２へさらなる制御命令Ｓ２を、彫刻網目スクリーンの制御に必要な印刷胴１の周速度の調整セッティングのため発生する。印刷版の本来の彫刻前サンプルカットの実施のため彫刻機は、コンピュータ１９を有し、該コンピュータ１９は、試行インキセルの彫刻に必要な彫刻データＧＤ＊をＤ／Ａ変換器９に供給する。各彫刻データＧＤ＊は、１つの試行インキセルの所定の設定階調値、ないし相応する幾何学的プリセット設定値、例えば試行インキセルの設定横方向対角線又は長手方向対角線を表す。サンプルカットの際彫刻される試行インキセルの測定のため、試行インキセルのビデオ画像の撮像のためのビデオカメラ２１を有する印刷胴１の軸方向に移動可能な測定車２０及び線路２２を介してビデオカメラ２１に連結された画像評価段２３―これはビデオカメラ内に統合化してもよい−が、ビデオ画像における試行インキセルの測定のため設けられている。測定車２１を使用するのが有利であるのは、殊にそれにより、それぞれ１つの彫刻機構３を以て複数の彫刻系統ラインを彫刻できる多チャネル彫刻機構においてである。この場合において、各彫刻系統ラインに対して、１つの相応のサンプルカットを実施しなければならない。測定車２０を、自動的にスピンドル２４を介して、測定車駆動部２５により個々の彫刻系統ラインにおける所要の軸方向位置へ動かし得る。測定車駆動部２５は、線路２６上の制御命令Ｓ₃により制御装置１４から制御される。代替選択的にビデオカメラ２１を彫刻機構３の領域内に設けることもできる。ここで、ビデオ画像の撮像を例えば光伝送ケーブルを介して行い得る。コンフィギュレーションメモリ２７は試行インキセルの彫刻及び測定に必要な、プリセット値を線路２８を介してはコンピュータ１９へ供給し、線路２８を介しては画像評価段２３へ供給する。測定結果は幾何学的実際値として画像評価段２３からコンピュータ１９へ伝送される。コンピュータ１９では、所定の幾何学的設定値と測定された実際値の比較により、彫刻アンプの校正のための調整セッティング値が得られ、この調整セッティング値は、線路２１を介して彫刻アンプ８に供給される。求められた調整セッティング値により彫刻アンプ８は次のように校正される、即ち、印刷胴の事後の彫刻の際形成されるインキセルが適正な階調値での彫刻に必要なインキセルに相応するように校正される。彫刻針８の校正を自動的に印刷版の彫刻前に、又は印刷版の彫刻中オンラインで行い得る。彫刻アンプ８の校正を次のように手動的に実施することもできる、即ち、コンピュータ１９が求められた調整セッティング値をたんに指示し、この調整セッティングを手動的に彫刻アンプに伝達するのである。試行インキセルの彫刻のため、コンピュータ１９は、例えば、設定階調値“暗 ”（ＧＤ＊＝１）、“明” （ＧＤ＊＝１６１）及び“明”と“暗”との間の中間階調値に対する彫刻データ（ＧＤ＊）を呼出す。呼出された彫刻データ（ＧＤ＊）は、彫刻機構３に対する彫刻制御信号ＧＳに変換される。彫刻機構３は彫刻網目スクリーンにて、相並ぶ彫刻線３２上で“明”（Ｌ）、“暗”（Ｔ）及び“中間階調”（Ｍ）に対する少なくとも１つの“試行インキセル”３３を彫刻する。有利には、各彫刻線３２上にて、複数の同じ試行インキセル３３が、例えば、選択可能な彫刻線領域に亘って、彫刻される。横方向対角線及び長手方向対角線のほかにウエブ幅をも検出しようとする場合、“暗”に対する試行インキセル３３を、少なくとも２つの相並ぶ彫刻線３２上で彫刻しなければならない。１つの相応のサンプルカットを各色分解版に対して、ないし各彫刻網目スクリーンに対して実施しなければならず、ここで、網目スクリーン角度及び網目スクリーン幅のような種々のパラメータが、コンフィギュレーションメモリ２７内に格納されている。サンプルカットの後、ビデオカメラ２１は、彫刻された試行インキセル３３のビデオ画像を撮像する。試行インキセル３３の撮像を印刷胴１の停止状態にて、又は印刷胴１の回転状態のもとで相応の同期化を以て行い得る。撮像されたビデオ画像を用いての画像評価段２３における彫刻されたインキセル３３の幾何学的パラメータの測定について以降詳述する。図２は、彫刻された試行インキセル３３の、ビデオカメラ２１により撮像されたビデオ画像３５を示す。図示されているのは、水平及び垂直彫刻線からなる直交彫刻網目スクリーンであり、ここで垂直の彫刻線は彫刻線３２である。３つの相並ぶ彫刻線３２上には、例えば“明”（Ｌ）、“暗”（Ｔ）及び中間階調値（Ｍ）で彫刻されたインキセル３３が示してある。試行インキセルの重心は、彫刻網目スクリーンの彫刻線の交点上に位置する。確実な評価を確保するため、ビデオ画像の大きさは、次のように選定されている、即ち、各設定階調値に対して少なくとも１つの完全な試行インキセル３３がビデオ画像３５内に位置するように選定されている。ビデオ画像３５は、多数のパイクセル３６からなり、多数のパイクセル３６の位置は、ビデオ画像中ＸＹ測定系の位置座標（Ｘ＊、Ｙ＊）により規定され、ＸＹ測定系の位置座標（Ｘ＊、Ｙ＊）は、同様に印刷胴１の軸方向及び周方向に配向されている。各パイクセル３６にはそれぞれのグレー値を表す、例えば８ビットのビデオデータＶＤが対応付けられており、その結果“黒”（ＶＤ＝０）と“ 白”（ＶＤ＝２５５）との間に全部で２５４のグレー段階を区別し得る。グレー値をフィルタリングにより、又は、限界値を用いて、２つの値へ低減できる、即ち、例えば印刷胴１の套面に来るパイクセルにはビデオデータＶＤ＝０が対応付けられ、試行インキセル３３の面上に位置するパイクセルにはビデオデータｖＤ＝１が対応付けられるのである。ビデオ画像３５における試行インキセルの幾何学的パラメータの測定のため、ビデオ画像３５に亘り移動可能な少なくとも１つの測定フィールドが画定される。測定フィールドは、実施例中縞状に構成されており、以下測定帯域バンドと称され、この測定帯域バンドの長手方向拡がりは、少なくとも２つの彫刻線相互間の間隔に等しい。“明”、“暗”及び“中間階調”に対する試行インキセル３３の測定は、相次いで１つの測定帯域３９又はそれぞれ１つの別個の測定帯域３９を以て行い得る。測定帯域３９は、ビデオ画像３５間で選択可能な測定個所４０上で移動され、ＸＹ測定系３７に関して１つの任意の方向に配向され得る。ここで、測定個所４０として、例えば測定帯域３９の中心点が規定されている。試行彫刻前に試行インキセル３３のうちの１つが基準インキセルとして選択され、その中心点がビデオ画像３５間で所望の測定個所４０上で測定帯域３９の位置定めのため基準点４１とするものである。有利には、基準点４１として、中心点としては１つの中間階調値Ｍに対する試行インキセルが選ばれる。測定帯域３９に対する測定個所４０の確定は、各色分解版に対する彫刻網目スクリーンの幾何学的関係に依存しての、基準個所４１からの座標的間隔（△Ｘ＊、△Ｙ＊）の設定により行われる。基準個所４１からの所定の間隔（△Ｘ＊、△ Ｙ＊）及び測定帯域３９の所望の配向をコンフィギュレーションメモリ２７間に記憶し得る。試行インキセル３３は、彫刻線３２上に位置するので、基準個所４１からの測定帯域３９の、Ｘ方向での間隔△Ｘ＊は、彫刻線間隔又は彫刻線間隔の倍数に等しい。これに対して、Ｙ方向での基準個所４１からの間隔△Ｙ＊は、何を測定すべきかに依存する。最大の横方向対角線（ｄ_Qmax）又は任意の横方向対角線（ｄ_Q）の測定のため、即ち、Ｘ方向（送り方向）でのインキセル面の拡がりの測定のため、測定帯域３９はそれの長手方向拡がりがＸ方向に配向される。最大の横方向対角線ｄ_Qmax の測定のため、基準個所４１からの間隔△Ｙ＊は零で、Ｙ方向で網目スクリーン幅に等しいか、又は網目スクリーン幅の倍数に等しい。任意の横方向対角線ｄ_Q の測定のため、Ｙ方向での基準個所からの相応の中間間隔が設定される。Ｘ方向での基準個所４１からの測定帯域３９の間隔△Ｘ＊は、２つの場合において零で、彫刻線間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍数に等しい。最大の長手方向対角線ｄ_Lmax又は任意の長手方向対角線ｄ_Lの測定のため即ち、Ｙ方向（周方向）でのインキセル面の拡がりの測定のため、測定帯域３９は、それの長手方向拡がりがＹ方向に配向される。貫通領域ｄ_DSの測定のため、即ち、１つの彫刻線上にて彫刻される２つのインキセルを結ぶＸ方向での彫刻チャネルの幅の測定の長手方向拡がりがＸ方向に配向される。Ｘ方向での基準個所４１からの測定帯域３９の間隔△Ｘ＊は、零で彫刻線間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍数に等しい。Ｙ方向での基準個所ｐ４１からの間隔△Ｙ＊は、Ｙ方向で零で網目スクリーン幅に等しいか、又は網目スクリーン幅の倍数に等しい。ウエブ幅ｄ_SBの測定のため、即ち、隣接する彫刻線上で彫刻される２つの深いインキセル間に残っている材料の幅の測定のため、測定帯域３９は、有利に次のように回転される、即ち、それの長手方向拡がりがウエブの延在方向に対してほぼ垂直方向に配向されるように回転される。測定帯域３９は少なくとも１つの測定行ライン、有利には相互に並行に延びる複数の測定行ラインからなり、各測定行ラインは複数のパイクセルを有し、それらのパイクセルの相互間隔は１つの長さインクリメントを表す。従って、１つの測定区間でのパイクセル３６のカウントにより、測定区間の長さを長さインクリメントの倍数として測定できる。図３ａは、１４のパイクセル３６を有する１つの測定行ライン３９’から成る１つの測定帯域３９の構成を示す。図３は、それぞれ１４のパイクセル３６を有する相互に並行に延びる３つの測定行ライン３９’から成る１つの測定帯域３９の構成を示す。既述のように、インキセル面、ウエブ又は貫通領域の縁が撮像されたビデオ画像３５において１つの輪郭を形成する。従って、横方向対角線、長手方向対角線ウエブ幅及び貫通領域に対する測定区間が相応する輪郭の相互間の間隔により定まる。横方向対角線、長手方向対角線、ウエブ幅及び貫通領域幅に対する測定区間の端点は、有利に測定帯域３９を用いて２つの隣接する輪郭の自動的識別により求められ、ここで、１つの測定行ライン３９’の各２つの順次連続するパイクセル３６のビデオ画像ＶＤは輪郭移行部について調べられるようにするのである。図４は、１つの測定行ライン３９’及び相互間隔をおかれた２つの輪郭線４３を有する１つの測定帯域３９を示す。更に、個々のパイクセル３６に配属されたビデオデータＶＤが示してあり、ここで、輪郭線４３は、“０”から“１”へ、そして“１”から“０”への移行により表示されている。相互の輪郭識別により、測定区間４４の端点が求められ、この測定区間４４は、図示の場合では８パイクセルの長さである。そこにて、隣接するパイクセル３６のビデオデータＶＤが自動的輪郭識別のため調べられる順序が何を測定すべきかに依存する。横方向対角線ｄ_Q又は長手方向対角線ｄ_Lの測定の場合、ビデオデータＶＤは有利に１つの測定行ライン３９ ’の中央から、即ち１つのインキセル面の中央から縁まで調べられる。これに対して、貫通領域幅ｄ_DS又はウエブ幅ｄ_SBの測定の場合１つの測定行ライン３９’の端点から中央までビデオデータＶＤを調べると有利である。図５は、Ｘ方向に配向された測定帯域３９と共に１つの試行インキセル３３の最大の横方向対角線ｄ_Qmaxの測定の様子を示し、ここで、測定区間４４の端点は、試行インキセル３３の輪郭４３により規定される。図６は、Ｙ方向に配向された測定帯域３９と共に試行インキセル３３の最大の長手方向対角線ｄ_Lmaxの測定の様子を示す。図７は、階調値“暗”に対して１つの彫刻線３２上で相並んで彫刻される２つの試行インキセル３３の貫通領域ｄ_DSの測定の様子をＸ方向に配向された測定帯域３９と共に示す。図８は、彫刻線３２に対して横方向に配向された測定帯域３９と共に、相並んで彫刻される２つの試行インキセル３３のウエブ幅の測定の様子を示す。識別及び測定確実性の増大のため、及び最小ないし最小長さ及び面の測定のため、有利に、多数の測定行ライン３９’を有する測定帯域３９が使用される。識別―及び測定確実性を次のようにして改善し得る、即ち、各測定行ライン３９’の測定結果が相互に比較され、一致した場合のみ転送されるのである。最大及び最小の長さの検出のため、個々の測定行ライン３９’の測定結果が極値選択を施される。横方向対角線ｄ_Q及び長手方向対角線ｄ_Lの測定の際有利には最大選択が実施され、ウエブ幅ｄ_SB及び貫通領域幅ｄ_DSの測定の場合は最小選択が実施される。１つのインキセル面の測定のため、個々の測定行ライン３９’の測定結果が加算される。本発明の有利な発展形態では測定確実性のさらなる改善のため、ビデオ画像３５の評価の際、各試行インキセル３３―それの最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxが測定される−の周りに、付加的な所定の測定面４５がセッティングされ、前記所定の測定面４５の相応の試行インキセル３３のインキセル面に相応する。測定帯域３９の大きさは、測定面４５の大きさに適合され、その結果測定面４５内のすべてのパイクセル３６が測定帯域３９により捕捉され得る。その場合測定帯域３９により当該の試行インキセル３３のインキセル面が複数のパイクセル３３として求められ、ここで、そのようにパイクセル面を求めるため、測定帯域３９の各測定行ライン３９’にてカウントされた数のパイクセル３６が加算される。測定帯域３９を以て測定された試行インキセルの最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxから、当該の試行インキセル３３のインキセル面が計算される。試行インキセルの計算されたインキセル面と測定されたインキセル面との一致性が検出されない場合、試行インキセル３３の最大横方向対角線ｄ_Qmax又は長手方向対角線ｄ_Lmaxに対して測定結果は無効化される。図９は、彫刻された試行インキセル３３のさらなるビデオ画像３５を示す。階調値“明”に対する試行インキセル３３’のインキセルの周りに測定面４５’が画定されている。階調値“暗”に対する試行インキセル３３”のインキセル面の周りに相応に一層大きな測定面４５”が画定されている。代替選択的に、試行インキセル３３の測定のため測定面４５”のたんに１つの部分測定面を使用することもできる、例えば、半分の測定面４５”に相応する部分測定面４６，又は測定面４５”の１／４に相応する部分測定面４７を使用することもできる。個々の部分測定面４６，４７にて求められた面成分から、全インキセル面を計算でき、ここで考慮すべきことは、面重心に対して対称的、又は非対称的面成分が問題となっているということである。本発明の方法のさらなる発展形態では、ビデオ画像３５内にて基準個所４１ないし選ばれた基準インキセルが、当該の選ばれた基準インキセルのインキセル面の特性的大きさを用いて求められる。このために選ばれたインキセルのインキセル面が設定される。次いでビデオ画像３５にて、すべての試行インキセルのインキセル面が個々のパイクセル３６のビデオデータＶＤの評価により検出され、その都度選ばれた基準インキセルのインキセル面と比較される。基準インキセル、ひいては、基準個所４１は、面の一致性が検出されると識別される。代替選択的ビデオ画像３５より小さい識別窓を画定できる。この場合において、識別窓は、歩進的にビデオ画像３５に亘って移動され、ここで、各窓位置にて相応の面比較が実施される。請求の範囲 1. 印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法において、 “明”（白）と“暗”（黒）との間の彫刻すべき規定―階調値を表す彫刻データ（ＧＤ）と周期的網目スクリーン信号（Ｒ）とから、彫刻網目スクリーンの生成のため彫刻機構（３）の彫刻針（４）の制御のための彫刻制御信号（ＧＳ）を形成し、彫刻針（４）により、彫刻線ラインごとに彫刻網目スクリーン内に配されるインキセルを彫刻形成し、前記インキセルの幾何学的パラメータは、彫刻される実際値―階調値を規定するものであり、印刷胴（１）の面状の彫刻のため彫刻機構（３）は、印刷胴（１）の軸方向に向けられた送り運動を行なうようにし、印刷胴（１）の本来の彫刻前に行われる試行彫刻の際所定の規定―階調値に対して試行インキセル（３３）を彫刻し、試行彫刻の際彫刻された試行インキセル（３３）により１つのビデオ画像（３５）を生成し、彫刻された試行インキセル（３３）の幾何学的パラメータを測定し、所定の設定階調値を規定する幾何学的パラメータと比較し、当該の比較により調整セッティング値を導出し、前記の調整セッティング値により、彫刻制御信号が校正され、ここで、彫刻された実際−階調値が彫刻すべき設定階調値に相応するようにした当該のサンプルカットの生成及び評価方法において、撮像されたビデオ画像（３５）にて、当該のビデオ画像に対応付けられたＸＹ測定系（３７）における基準位置個所（４１）として所定の設定階調値のうちの１つに対するインキセル（３３）を選択し、彫刻網目スクリーンの網目スクリーンパラメータに依存して、ビデオ画像（３５）における試行インキセル（３３）の幾何学的パラメータの測定のため測定位置個所（４０）を選択された基準位置個所（４１）に対する座標上の間隔（△Ｘ、△Ｙ）として確定し、試行インキセル（３）の幾何学的パラメータを確定された測定位置個所（４０）にてビデオ画像（３５）の評価により測定するようにしたことを特徴とするサンプルカットの生成及び評価方法。 2. 試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び少なくとも１つの“中間階調” に対する試行インキセル（３３）を彫刻することを特徴とする請求項１記載の方法。 3. 試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び少なくとも１つの“中間階調” に対する試行インキセル（３３）を、それぞれ隣接する彫刻線ライン（３２）上で彫刻することを特徴とする請求項１又は２記載の方法。 4. 各彫刻線ライン（３２）上で、試行インキセル（３３）を１つの彫刻線ライン領域に亘って彫刻することを特徴とする請求項１から３までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 5. 基準位置個所（４１）として、彫刻される試行インキセル（３３）の面中心点を選択することを特徴とする請求項１から４までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 6. 基準位置個所（４１）として、設定階調値“中間階調”に対する、彫刻される試行インキセル（３３）の面中心点を選択することを特徴とする請求項１から５までのいずれかうち少なくとも１項記載の方法。 7. 試行インキセルの測定すべき幾何学的パラメータは、彫刻される試行インキセル（３３）の横方向対角線、長手方向対角線、貫通連結領域、ウエブ幅又はインキセル面であるようにしたことを特徴とする請求項１から６までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 8. ビデオ画像（３５）をパイクセル（３６）に細分化し、ビデオ画像（３５）に亘り確定された測定位置個所（４０）上へ移動可能な測定フィールド（３９）を、試行インキセルの幾何学的パラメータの測定のため生じさせ、測定フィールド（３９）は、複数のパイクセル（３６）を有する少なくとも１つの測定行ライン（３９’）を有し、前記の測定行ラインの相互間隔は、長さインクリメントを表すものであり、ビデオ画像（３５）中で１つの測定区間（４４）に相当する測定行ライン（３９’）のパイクセルの数を計数し、測定区間（４４）の長さを、長さインクリメントの倍数として求めることを特徴とする請求項１から７までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 9. ビデオ画像（３５）における測定区間（４４）を１つの試行インキセル（３３）に所属する２つの輪郭の間隔により確定することを特徴とする請求項８記載の方法。 10．試行インキセル（３３）の輪郭（４３）をビデオ画像（３５）の自動的評価により識別することを特徴とする請求項８又は９記載の方法。 11．試行インキセル（３３）の輪郭（４３）を測定帯域バンド（３９）の少なくとも１つの測定行ライン（３９’）を用いて識別することを特徴とする請求項８から１０までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 12．ビデオ画像（３５）の各パイクセルに１つのビデオデータ（ＶＤ）を対応付け、前記ビデオデータ（ＶＤ）は、当該のパイクセル（３６）が１つの試行インキセルの構成部分であるか、又はそうでないかを表示するものであり、測定行ライン（３９’）の各２つの順次連続するパイクセル（３６）のビデオデータ（３６）を変化にに関して調べ、ビデオデータ（ＶＤ）の検出された変化を輪郭（４３）として識別することを特徴とする請求項８から１１までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 13．ビデオデータ（ＶＤ）の検査チェックを、測定行ライン（３９’）の中央から端部までの横方向対角線及び長手方向対角線の輪郭（４３）の識別のため行うことを特徴とする請求項１２記載の方法。 14．ビデオデータ（ＶＤ）の検査チェックを、測定行ライン（３９’）の中央から端部までの貫通連結領域及びウエブ幅の識別のため行うことを特徴とする請求項１２又は１３記載の方法。 15．測定フィールド（３９）の中心点を測定個所位置（４０）として規定することを特徴とする請求項１から１４までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 16．“明”、“暗”及び“中間階調”に対する試行インキセルにそれぞれ１つの別個の測定帯域バンド（３９）を対応付けることを特徴とする請求項８から１５までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 17．測定フィールド（３９）を縞状の測定帯域バンドとして構成し、測定帯域バンド（３９）の長手方向拡がり寸法の大きさを少なくとも２つの彫刻線ライン（３２）の相互間隔であるようにしたことを特徴とする請求項１６記載の方法。 18．測定帯域バンド（３９）は測定位置個所（４０）にてそれの長手方向拡がり寸法がＸＹ測定系（３７）に関して任意の方向に、配向されるようにしたことを特徴とする請求項１６又は１７項記載の方法。 19．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法が、ＸＹ測定系（３７）のＸ方向（送り方向）に、横方向対角線及び貫通連結領域の測定のため配向されるようにしたことを特徴とする請求項１６から１８までのうちいずれか１項記載の方法。 20．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法が、ＸＹ測定系（３７）のＹ方向に、長手方向対角線の測定（周方向）の測定のため配向されるようにしたことを特徴とする請求項１６から１９までのうちいずれか１項記載の方法。 21．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法がＸＹ測定系（３７）にてウエブ幅の測定のためウエブの延在方向に対して横断方向、例えば垂直方向に配向されることを特徴とする請求項１６から２０までのうちいずれか１項記載の方法。 22．測定帯域バンド（３９）に相互に並行に配された複数の測定行ライン（３９’）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果を相互に比較し、１つの測定行ライン（３９’）の測定結果を、相互に比較される測定結果の一致の際のみ測定確実性の増大のため転送することを特徴とする請求項１６から２１までのうちいずれか１項記載の方法。 23．測定帯域バンド（３９）に相互に並行に配された複数の測定行ライン（３９’）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果に極値選択を施し、最大又は最小の測定結果を転送するようにしたことを特徴とする請求項１６から２２までのうちいずれか１項記載の方法。 24．測定帯域バンド（３９）に、相互に並行に配された測定行ライン（３９’ ）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果を、１つの面の大きさの検出のため加算し、和を測定結果として転送することを特徴とする請求項１６から２３までのうちいずれか１項記載の方法。 25．測定帯域バンド（３９）を用いて、１つの試行インキセル（３３）の最大の横方向対角線又は長手方向対角線を測定し、測定された最大の横方向対角線又は長手方向対角線から、当該の試行インキセル（３３）のインキセル面を計算し、測定帯域バンド（３９）を用いて、当該の試行インキセル（３３）のインキセル面を測定し、測定された、そして、計算されたインキセル面を相互に比較し、最大の横方向対角線又は長手方向対角線に対する測定結果を、測定された、そして、計算されたインキセル面の一致の際転送することを特徴とする請求項１６から２４までのうちいずれか１項記載の方法。 26．基準位置個所（４１）であるべき試行インキセル（３３）をビデオ画像（３５）にて自動的に求めることを特徴とする請求項１から２５までのうちいずれか１項記載の方法。 27．基準位置個所（４１）として選ばれた試行インキセル（３３）のインキセル面を設定し、ビデオ画像（３５）にて、すべての試行インキセル（３３）のインキセル面をビデオデータ（ＶＤ）を用いて検出し、試行インキセル（３３）の検出されたインキセル面を所定のインキセル面と比較し、それの測定されたインキセル面が所定のインキセル面と一致する試行インキセル（３３）を基準位置個所（４１）としてマーキングすることを特徴とする請求項１から２６までのうちいずれか１項記載の方法。

───────────────────────────────────────────────────── 【要約の続き】線分、ウエブ幅又はインキセル面のような試行インクキルの測定すべき幾何学的パラメータは、確定された測定位置個所（４０）にてビデオ画像（３５）の評価により測定され、そして、所定の設定階調値を表す、相応の試行インキセルと比較される。当該の比較により調整セッティング値を導出し、前記の調整セッティング値により、彫刻制御信号が校正され、ここで、彫刻された実際 ―階調値が彫刻すべき設定階調値に相応するようにしたのである。

Claims

【特許請求の範囲】 1. 印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方法において、 “明”（白）と“暗”（黒）との間の彫刻すべき規定―階調値を表す彫刻データ（ＧＤ）と周期的網目スクリーン信号（Ｒ）とから、彫刻網目スクリーンの生成のため彫刻機構（３）の彫刻針（４）の制御のための彫刻制御信号（ＧＳ）を形成し、彫刻針（４）により、彫刻線ラインごとに彫刻網目スクリーン内に配されるインキセルを彫刻形成し、前記インキセルの幾何学的パラメータは、彫刻される実際値―階調値を規定するものであり、印刷胴（１）の面状の彫刻のため彫刻機構（３）は、印刷胴（１）の軸方向に向けられた送り運動を行なうようにし、印刷胴（１）の本来の彫刻前に行われる試行彫刻の際所定の規定―階調値に対して試行インキセル（３３）を彫刻し、彫刻された試行インキセル（３３）の幾何学的パラメータを測定し、所定の設定階調値を規定する幾何学的パラメータと比較し、当該の比較により調整セッテイング値を導出し、前記の調整セッティング値により、彫刻制御信号が校正され、ここで、彫刻された実際―階調値が彫刻すべき設定階調値に相応するようにした当該のサンプルカットの生成及び評価方法において、試行彫刻の際彫刻される試行インキセル（３３）により、１つのビデオ画像（３５）を生成し、当該のビデオ画像に配属されたＸＹ測定系（３７）における基準位置個所（４１）として所定の設定階調値のうちの１つを選択し、彫刻網目スクリーンの網目スクリーンパラメータに依存して、ビデオ画像（３５）における試行インキセル（３３）の幾何学的パラメータの測定のため測定位置個所（４０）を選択された基準位置個所（４１）に対する座標上の間隔（△Ｘ、△Ｙ）として確定し、試行インキセル（３）の幾何学的パラメータを確定された測定位置個所（４０）にてビデオ画像（３５）の評価により測定するようにしたことを特徴とするサンプルカットの生成及び評価方法。 2. 試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び少なくとも１つの“中間階調” に対する試行インキセル（３３）を彫刻することを特徴とする請求項１記載の方法。 3. 試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び少なくとも１つの“中間階調” に対する試行インキセル（３３）を、それぞれ隣接する彫刻線ライン（３２）上で彫刻することを特徴とする請求項１又は２記載の方法。 4. 各彫刻線ライン（３２）上で、試行インキセル（３３）を１つの彫刻線ライン領域に亘って彫刻することを特徴とする請求項１から３までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 5. 基準位置個所（４１）として、彫刻される試行インキセル（３３）の面中心点を選択することを特徴とする請求項１から４までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 6. 基準位置個所（４１）として、設定階調値“中間階調”に対する、彫刻される試行インキセル（３３）の面中心点を選択することを特徴とする請求項１から５までのいずれかうち少なくとも１項記載の方法。 7. 試行インキセルの測定すべき幾何学的パラメータは、彫刻される試行インキセル（３３）の横方向対角線、長手方向対角線、貫通連結領域、ウエブ幅又はインキセル面であるようにしたことを特徴とする請求項１から６までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 8. ビデオ画像（３５）をパイクセル（３６）に細分化し、ビデオ画像（３５）に亘り確定された測定位置個所（４０）上へ移動可能な測定フィールド（３９）を、試行インキセルの幾何学的パラメータの測定のため生じさせ、測定フィールド（３９）は、複数のパイクセル（３６）を有する少なくとも１つの測定行ライン（３９’）を有し、前記の測定行ラインの相互間隔は、長さインクリメントを表すものであり、ビデオ画像（３５）中で１つの測定区間（４４）に相当する測定行ライン（３９’）のパイクセルの数を計数し、測定区間（４４）の長さを、長さインクリメントの倍数として求めることを特徴とする請求項１から７までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 9. ビデオ画像（３５）における測定区間（４４）を１つの試行インキセル（３３）に所属する２つの輪郭の間隔により確定することを特徴とする請求項１から８までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 10．試行インキセル（３３）の輪郭（４３）をビデオ画像（３５）の自動的評価により識別することを特徴とする請求項１から９までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 11．試行インキセル（３３）の輪郭（４３）を測定帯域バンド（３９）の少なくとも１つの測定行ライン（３９’）を用いて識別することを特徴とする請求項１から１０までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 12．ビデオ画像（３５）の各パイクセルに１つのビデオデータ（ＶＤ）を対応付け、前記ビデオデータ（ＶＤ）は、当該のパイクセル（３６）が１つの試行インキセルの構成部分であるか、又はそうでないかを表示するものであり、測定行ライン（３９’）の各２つの順次連続するパイクセル（３６）のビデオデータ（３６）を変化にに関して調べ、ビデオデータ（ＶＤ）の検出された変化を輪郭（４３）として識別することを特徴とする請求項１から１１までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 13．ビデオデータ（ＶＤ）の検査チェックを、測定行ライン（３９’）の中央から端部までの横方向対角線及び長手方向対角線の輪郭（４３）の識別のため行うことを特徴とする請求項１から１２までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 14．ビデオデータ（ＶＤ）の検査チェックを、測定行ライン（３９’）の中央から端部までの貫通連結領域及びウエブ幅の識別のため行うことを特徴とする請求項１から１３までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 15．測定フィールド（３９）の中心点を測定個所位置（４０）として規定することを特徴とする請求項１から１４までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 16．“明”、“暗”及び“中間階調”に対する試行インキセルにそれぞれ１つの別個の測定帯域バンド（３９）を対応付けることを特徴とする請求項１から１５までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 17．測定フィールド（３９）を縞状の測定帯域バンドとして構成し、測定帯域バンド（３９）の長手方向拡がり寸法の大きさを少なくとも２つの彫刻線ライン（３２）の相互間隔であるようにしたことを特徴とする請求項１から１６までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 18．測定帯域バンド（３９）は測定位置個所（４０）にてそれの長手方向拡がり寸法がＸＹ測定系（３７）に関して任意の方向に、配向されるようにしたことを特徴とする請求項１から１７までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。 19．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法が、ＸＹ測定系（３７）のＸ方向（送り方向）に、横方向対角線及び貫通連結領域の測定のため配向されるようにしたことを特徴とする請求項１から１８までのうちいずれか１項記載の方法。 20．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法が、ＸＹ測定系（３７）のＹ方向に、長手方向対角線の測定（周方向）の測定のため配向されるようにしたことを特徴とする請求項１から１９までのうちいずれか１項記載の方法。 21．測定帯域バンド（３９）は、それの長手方向拡がり寸法がＸＹ測定系（３７）にてウエブ幅の測定のためウエブの延在方向に対して横断方向、例えば垂直方向に配向されることを特徴とする請求項１から２０までのうちいずれか１項記載の方法。 22．測定帯域バンド（３９）に相互に並行に配された複数の測定行ライン（３９’）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果を相互に比較し、１つの測定行ライン（３９’）の測定結果を、相互に比較される測定結果の一致の際のみ測定確実性の増大のため転送することを特徴とする請求項１から２１までのうちいずれか１項記載の方法。 23．測定帯域バンド（３９）に相互に並行に配された複数の測定行ライン（３９’）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果に極値選択を施し、最大又は最小の測定結果を転送するようにしたことを特徴とする請求項１から２２までのうちいずれか１項記載の方法。 24．測定帯域バンド（３９）に、相互に並行に配された測定行ライン（３９’ ）を設け、個々の測定行ライン（３９’）により得られた測定結果を、１つの面の大きさの検出のため加算し、和を測定結果として転送することを特徴とする請求項１から２３までのうちいずれか１項記載の方法。 25．測定帯域バンド（３９）を用いて、１つの試行インキセル（３３）の最大の横方向対角線又は長手方向対角線を測定し、測定された最大の横方向対角線又は長手方向対角線から、当該の試行インキセル（３３）のインキセル面を計算し、測定帯域バンド（３９）を用いて、当該の試行インキセル（３３）のインキセル面を測定し、測定された、そして、計算されたインキセル面を相互に比較し、最大の横方向対角線又は長手方向対角線に対する測定結果を、測定された、そして、計算されたインキセル面の一致の際転送することを特徴とする請求項１から２４までのうちいずれか１項記載の方法。 26．基準位置個所（４１）であるべき試行インキセル（３３）をビデオ画像（３５）にて自動的に求めることを特徴とする請求項１から２５までのうちいずれか１項記載の方法。 27．基準位置個所（４１）として選ばれた試行インキセル（３３）のインキセル面を設定し、ビデオ画像（３５）にて、すべての試行インキセル（３３）のインキセル面をビデオデータ（ＶＤ）を用いて検出し、試行インキセル（３３）の検出されたインキセル面を所定のインキセル面と比較し、それの測定されたインキセル面が所定のインキセル面と一致する試行インキセル（３３）を基準位置個所（４１）としてマーキングすることを特徴とする請求項１から２６までのうちいずれか１項記載の方法。