JP3404486B2 - テスト彫刻の形成および評価方法 - Google Patents
テスト彫刻の形成および評価方法Info
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Description
【０００１】本発明は電子再現技術分野に係わるもので
あり、グラビア印刷用のグラビアシリンダを彫るための
電子グラビア印刷機におけるテスト彫刻の形成および評
価方法に関する。
あり、グラビア印刷用のグラビアシリンダを彫るための
電子グラビア印刷機におけるテスト彫刻の形成および評
価方法に関する。
【０００２】電子グラビア印刷機においては切削工具と
して彫刻針を備えた彫刻機構が、回転するグラビアシリ
ンダに沿って軸線方向で移動する。彫刻制御信号により
制御される彫刻針は、グラビアスクリーンないしはグラ
ビアパターン内に配置された一連のインキセルをグラビ
アシリンダの外被に彫り込む。彫刻制御信号は、彫刻す
べき色調値を「明」（白）と「暗」（黒）の間で表現す
る画像信号値と周期的なスクリーン信号ないしはパター
ン信号との重畳により形成される。スクリーン信号は、
グラビアスクリーン生成のため彫刻針の振動する上下運
動を生じさせるのに対し、画像信号値はグラビアシリン
ダ中に彫刻されるインキセルの形状値を定める。
して彫刻針を備えた彫刻機構が、回転するグラビアシリ
ンダに沿って軸線方向で移動する。彫刻制御信号により
制御される彫刻針は、グラビアスクリーンないしはグラ
ビアパターン内に配置された一連のインキセルをグラビ
アシリンダの外被に彫り込む。彫刻制御信号は、彫刻す
べき色調値を「明」（白）と「暗」（黒）の間で表現す
る画像信号値と周期的なスクリーン信号ないしはパター
ン信号との重畳により形成される。スクリーン信号は、
グラビアスクリーン生成のため彫刻針の振動する上下運
動を生じさせるのに対し、画像信号値はグラビアシリン
ダ中に彫刻されるインキセルの形状値を定める。
【０００３】彫刻される色調値を画像信号値により定め
られる色調値と一致させる目的で、彫刻制御信号を較正
しなければならない。このため実際の彫刻前にいわゆる
テスト彫刻が実施され、その際、所定の色調値に対する
テストインキセルがグラビアシリンダに彫られる。
られる色調値と一致させる目的で、彫刻制御信号を較正
しなければならない。このため実際の彫刻前にいわゆる
テスト彫刻が実施され、その際、所定の色調値に対する
テストインキセルがグラビアシリンダに彫られる。
【０００４】テスト彫刻後、彫られたテストインキセル
上に測定装置が配置され、テストインキセルの形状値た
とえば横方向対角線や縦方向対角線が測定される。
上に測定装置が配置され、テストインキセルの形状値た
とえば横方向対角線や縦方向対角線が測定される。
【０００５】その後、測定されたテストインキセルの形
状値がまえもって定められた形状値と比較される。そし
て比較の結果から調整値が取得され、それらを用いるこ
とで、以降の彫刻において形成されるインキセルの形状
値が色調値に即した再現に必要とされる形状値と一致す
るよう、彫刻制御信号が較正される。
状値がまえもって定められた形状値と比較される。そし
て比較の結果から調整値が取得され、それらを用いるこ
とで、以降の彫刻において形成されるインキセルの形状
値が色調値に即した再現に必要とされる形状値と一致す
るよう、彫刻制御信号が較正される。
【０００６】ＰＣＴ特許出願 PCT/DE 98/01441 により
すでに知られているのは、彫刻されたテストインキセル
の形状値を求めるために画像評価段の設けられたビデオ
カメラを用いることであり、これによればビデオカメラ
で撮影されたテストインキセルのビデオ画像中の形状値
が測定される。
すでに知られているのは、彫刻されたテストインキセル
の形状値を求めるために画像評価段の設けられたビデオ
カメラを用いることであり、これによればビデオカメラ
で撮影されたテストインキセルのビデオ画像中の形状値
が測定される。
【０００７】精確な測定のための前提条件は、ビデオカ
メラの手動によるまたは自動的なポジショニングに従
い、テストインキセルがビデオカメラにより撮影される
画像セクションに最適な解像度で完全に収まることであ
る。この条件は実際には必ずしも満たされておらず、殊
に彫刻針交換後には必ずしも満たされず、その結果、誤
った測定が行われてしまう。
メラの手動によるまたは自動的なポジショニングに従
い、テストインキセルがビデオカメラにより撮影される
画像セクションに最適な解像度で完全に収まることであ
る。この条件は実際には必ずしも満たされておらず、殊
に彫刻針交換後には必ずしも満たされず、その結果、誤
った測定が行われてしまう。
【０００８】したがって本発明の課題は、グラビア印刷
用のグラビアシリンダを彫るための電子グラビア印刷機
におけるテスト彫刻の形成および評価方法を、測定装置
たとえばビデオカメラなどのポジショニングに関して、
テスト彫刻において形成されるテストインキセルの自動
測定が高精度で保証されるよう改良することである。
用のグラビアシリンダを彫るための電子グラビア印刷機
におけるテスト彫刻の形成および評価方法を、測定装置
たとえばビデオカメラなどのポジショニングに関して、
テスト彫刻において形成されるテストインキセルの自動
測定が高精度で保証されるよう改良することである。
【０００９】この課題は請求項１の特徴により解決され
る。従属請求項には本発明の有利な実施形態が示されて
いる。
る。従属請求項には本発明の有利な実施形態が示されて
いる。
【００１０】次に、図１〜１３を参照しながら本発明に
ついて詳しく説明する。
ついて詳しく説明する。
【００１１】図１は、彫刻されたテストインキセルを測
定するための測定装置の配置構成に関する第１の実施例
を用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原
理図である。
定するための測定装置の配置構成に関する第１の実施例
を用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原
理図である。
【００１２】図２は、ビデオカメラのポジションエラー
補正前の彫刻されたテストインキセルのビデオ画像を示
す図である。
補正前の彫刻されたテストインキセルのビデオ画像を示
す図である。
【００１３】図３は、ストライプ状測定フィールドの構
成を示す図である。
成を示す図である。
【００１４】図４は、正方形測定フィールドの構成を示
す図である。
す図である。
【００１５】図５は、測定フィールド内の測定区間を自
動的に求めるためのグラフィック表示である。
動的に求めるためのグラフィック表示である。
【００１６】図６は、ある座標方向におけるテストイン
キセルのポジションエラー測定のためのグラフィック表
示である。
キセルのポジションエラー測定のためのグラフィック表
示である。
【００１７】図７は、別の座標方向におけるテストイン
キセルのポジションエラー測定のためのグラフィック表
示である。
キセルのポジションエラー測定のためのグラフィック表
示である。
【００１８】図８は、ビデオカメラのポジションエラー
補正後の彫刻されたテストインキセルのビデオ画像であ
る。
補正後の彫刻されたテストインキセルのビデオ画像であ
る。
【００１９】図９は、切り通し測定のためのグラフィッ
ク表示である。
ク表示である。
【００２０】図１０は、通路測定のためのグラフィック
表示である。
表示である。
【００２１】図１１は、彫刻されたテストインキセルを
測定するための測定装置の配置構成に関する第２の実施
例を用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本
原理図である。
測定するための測定装置の配置構成に関する第２の実施
例を用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本
原理図である。
【００２２】図１２は、グラビア印刷機におけるプロセ
スシーケンスを示す図である。
スシーケンスを示す図である。
【００２３】図１３は、ツインモードで動作するグラビ
ア印刷機におけるプロセスシーケンスを示す図である。
ア印刷機におけるプロセスシーケンスを示す図である。
【００２４】図１は、テスト彫刻において形成されたテ
ストインキセルを測定するための測定装置に関する第１
の実施例を用いてグラビア印刷用版型を彫刻するための
電子グラビア印刷機を描いた基本原理図である。この場
合、グラビア印刷機はたとえば Hell Gravure System G
mbH, Kiel, DE の HelioKlischograph （登録商標）で
ある。
ストインキセルを測定するための測定装置に関する第１
の実施例を用いてグラビア印刷用版型を彫刻するための
電子グラビア印刷機を描いた基本原理図である。この場
合、グラビア印刷機はたとえば Hell Gravure System G
mbH, Kiel, DE の HelioKlischograph （登録商標）で
ある。
【００２５】グラビアシリンダ１は、グラビアシリンダ
駆動部２により回転させられて駆動される。グラビアシ
リンダ１への彫刻は、切削工具として彫刻針４を備えた
彫刻機構３により行われる。彫刻機構３は彫刻キャリッ
ジ５上に設けられており、このキャリッジはスピンドル
６を用いることで彫刻キャリッジ駆動部７によりグラビ
アシリンダ１の軸線方向に移動可能である。
駆動部２により回転させられて駆動される。グラビアシ
リンダ１への彫刻は、切削工具として彫刻針４を備えた
彫刻機構３により行われる。彫刻機構３は彫刻キャリッ
ジ５上に設けられており、このキャリッジはスピンドル
６を用いることで彫刻キャリッジ駆動部７によりグラビ
アシリンダ１の軸線方向に移動可能である。
【００２６】彫刻針４は、グラビアラインごとにグラビ
アスクリーンまたはグラビアパターン内に配置された一
連のインキセルを回転するグラビアシリンダ１の外被へ
彫り込む一方、彫刻キャリッジ５は彫刻機構３とともに
グラビアシリンダ１の軸線方向に沿って移動する。
アスクリーンまたはグラビアパターン内に配置された一
連のインキセルを回転するグラビアシリンダ１の外被へ
彫り込む一方、彫刻キャリッジ５は彫刻機構３とともに
グラビアシリンダ１の軸線方向に沿って移動する。
【００２７】彫刻針４は彫刻制御信号ＧＳにより制御さ
れる。この彫刻制御信号ＧＳは彫刻増幅器８において、
周期的なスクリーン信号Ｒと画像信号値Ｂとの重畳によ
り形成される。なお、画像信号値Ｂは、彫刻すべきイン
キセルの色調値を「明」から「暗」との間で表す。グラ
ビアスクリーン生成のため周期的なスクリーン信号Ｒが
彫刻針４の振動上下運動を生じさせる一方、画像信号値
Ｂは彫刻すべき色調値に応じて彫刻されるインキセルの
形状値を定める。
れる。この彫刻制御信号ＧＳは彫刻増幅器８において、
周期的なスクリーン信号Ｒと画像信号値Ｂとの重畳によ
り形成される。なお、画像信号値Ｂは、彫刻すべきイン
キセルの色調値を「明」から「暗」との間で表す。グラ
ビアスクリーン生成のため周期的なスクリーン信号Ｒが
彫刻針４の振動上下運動を生じさせる一方、画像信号値
Ｂは彫刻すべき色調値に応じて彫刻されるインキセルの
形状値を定める。
【００２８】アナログ画像信号値ＢはＤ／Ａ変換器９に
おいて彫刻データＧＤから得られ、これらのデータは彫
刻データメモリ１０に格納されていて、そこからグラビ
アラインごとに読み出され、Ｄ／Ａ変換器へ供給され
る。グラビアスクリーンにおける各彫刻位置に、少なく
とも１ｂｙｔｅから成る彫刻データＧＤが割り当てられ
ており、それらは彫刻情報として「明」から「暗」の間
で色調値を有している。
おいて彫刻データＧＤから得られ、これらのデータは彫
刻データメモリ１０に格納されていて、そこからグラビ
アラインごとに読み出され、Ｄ／Ａ変換器へ供給され
る。グラビアスクリーンにおける各彫刻位置に、少なく
とも１ｂｙｔｅから成る彫刻データＧＤが割り当てられ
ており、それらは彫刻情報として「明」から「暗」の間
で色調値を有している。
【００２９】この場合、グラビアシリンダ１の外被には
彫刻座標系が対応づけられており、その横座標はグラビ
アシリンダ１の軸線方向（彫刻機構のシフト方向）に配
向されており、縦座標はグラビアシリンダ１の周方向
（グラビアライン方向）に配向されている。彫刻座標系
の彫刻座標ｘＧおよびｙＧにおり、グラビアシリンダ１
上のインキセルに関する彫刻個所が規定される。グラビ
アキャリッジ駆動部７により彫刻座標ｘＧが形成され、
これによりグラビアシリンダ１におけるグラビアライン
の軸線方向位置が定められる。シリンダ駆動部２と機械
的に結合されている位置発生器１１により、対応する彫
刻座標ｙＧが形成され、これにより彫刻針４に対する回
転するグラビアシリンダ１の相対的な周囲位置が与えら
れる。彫刻個所の彫刻座標ｘＧとｙＧは、ライン１２，
１３を介して制御機構１４へ供給される。制御機構１４
はアドレッシングならびに彫刻データメモリ１０からの
彫刻データＧＤを、目下の彫刻個所の彫刻座標ｘＧおよ
びｙＧに依存してライン１５を介し制御する。さらに制
御機構１４は、グラビアスクリーン生成に必要とされる
周波数でライン１６上にスクリーン信号Ｒを発生させ
る。グラビアシリンダ１に対し相対的に彫刻機構３の軸
線方向での位置決めを行うため、および彫刻中に彫刻機
構３のシフト運動を制御するため、制御機構１４におい
て相応の制御命令Ｓ１がライン１７を介して彫刻キャリ
ッジ駆動部７に対し生成される。ライン１８における別
の制御命令Ｓ２によりシリンダ駆動部２が制御される。
彫刻座標系が対応づけられており、その横座標はグラビ
アシリンダ１の軸線方向（彫刻機構のシフト方向）に配
向されており、縦座標はグラビアシリンダ１の周方向
（グラビアライン方向）に配向されている。彫刻座標系
の彫刻座標ｘＧおよびｙＧにおり、グラビアシリンダ１
上のインキセルに関する彫刻個所が規定される。グラビ
アキャリッジ駆動部７により彫刻座標ｘＧが形成され、
これによりグラビアシリンダ１におけるグラビアライン
の軸線方向位置が定められる。シリンダ駆動部２と機械
的に結合されている位置発生器１１により、対応する彫
刻座標ｙＧが形成され、これにより彫刻針４に対する回
転するグラビアシリンダ１の相対的な周囲位置が与えら
れる。彫刻個所の彫刻座標ｘＧとｙＧは、ライン１２，
１３を介して制御機構１４へ供給される。制御機構１４
はアドレッシングならびに彫刻データメモリ１０からの
彫刻データＧＤを、目下の彫刻個所の彫刻座標ｘＧおよ
びｙＧに依存してライン１５を介し制御する。さらに制
御機構１４は、グラビアスクリーン生成に必要とされる
周波数でライン１６上にスクリーン信号Ｒを発生させ
る。グラビアシリンダ１に対し相対的に彫刻機構３の軸
線方向での位置決めを行うため、および彫刻中に彫刻機
構３のシフト運動を制御するため、制御機構１４におい
て相応の制御命令Ｓ１がライン１７を介して彫刻キャリ
ッジ駆動部７に対し生成される。ライン１８における別
の制御命令Ｓ２によりシリンダ駆動部２が制御される。
【００３０】互いに隣り合うグラビアライン２１におい
て後続の彫刻のために利用されないグラビアシリンダ１
のテスト彫刻領域２０においてテストインキセル１９を
彫刻するために、グラビア印刷機はテスト彫刻計算機２
２を有しており、この計算機は必要な彫刻データＧＤ*
をＤ／Ａ変換器９へ供給する。
て後続の彫刻のために利用されないグラビアシリンダ１
のテスト彫刻領域２０においてテストインキセル１９を
彫刻するために、グラビア印刷機はテスト彫刻計算機２
２を有しており、この計算機は必要な彫刻データＧＤ*
をＤ／Ａ変換器９へ供給する。
【００３１】テスト彫刻において形成されたテストイン
キセル１９の形状値を測定するため、図１に示されてい
る第１の実施例によれば、グラビアシリンダ１の軸線方
向にシフト可能な測定キャリッジ２３が設けられてお
り、これはテストインキセル１９のビデオ画像を撮影す
るためのビデオカメラ２４を備えている。さらにこの場
合、ライン２５を介してビデオカメラ２４と接続されて
いて撮影されたテストインキセル１９を測定するための
画像評価段２６と、ビデオ画像を監視するための監視モ
ニタ２７が設けられている。
キセル１９の形状値を測定するため、図１に示されてい
る第１の実施例によれば、グラビアシリンダ１の軸線方
向にシフト可能な測定キャリッジ２３が設けられてお
り、これはテストインキセル１９のビデオ画像を撮影す
るためのビデオカメラ２４を備えている。さらにこの場
合、ライン２５を介してビデオカメラ２４と接続されて
いて撮影されたテストインキセル１９を測定するための
画像評価段２６と、ビデオ画像を監視するための監視モ
ニタ２７が設けられている。
【００３２】測定すべきテストインキセルの形状値をた
とえば横方向対角線、縦方向対角線、切り通しの幅、な
らびに通路の幅とすることができる。
とえば横方向対角線、縦方向対角線、切り通しの幅、な
らびに通路の幅とすることができる。
【００３３】テストインキセル１９のビデオ撮影は、グ
ラビアシリンダ１が停止しているときまたはグラビアシ
リンダ１の回転中に相応に同期しているときに行うこと
ができる。ビデオカメラ２４を備えた測定キャリッジ２
３は、スピンドル２８および測定キャリッジ２９を用い
ることで、テスト彫刻領域２０に形成されたテストイン
キセル１９に向かって軸線方向に位置決めすることがで
きる。測定キャリッジ駆動部２９は、制御命令Ｓ３によ
りライン３０を介して制御機構１４から制御される。
ラビアシリンダ１が停止しているときまたはグラビアシ
リンダ１の回転中に相応に同期しているときに行うこと
ができる。ビデオカメラ２４を備えた測定キャリッジ２
３は、スピンドル２８および測定キャリッジ２９を用い
ることで、テスト彫刻領域２０に形成されたテストイン
キセル１９に向かって軸線方向に位置決めすることがで
きる。測定キャリッジ駆動部２９は、制御命令Ｓ３によ
りライン３０を介して制御機構１４から制御される。
【００３４】画像評価段２６においてビデオ画像に基づ
き測定されたテストインキセル１９の形状値は、ライン
３１を介してテスト彫刻計算機２２へ伝送される。テス
ト彫刻計算機２２において、測定された実際形状値とま
えもって定められた目標形状値との比較により、彫刻増
幅器８を較正するための調整値が得られる。そして彫刻
増幅器８へライン３２を介して供給される設定値によっ
て、彫刻増幅器８における彫刻制御信号ＧＳが較正さ
れ、この較正は、以降のグラビアシリンダ１の彫刻にあ
たり実際に形成されるインキセルが、色調に即した彫刻
に必要とされるインキセルに対応するように行われる。
き測定されたテストインキセル１９の形状値は、ライン
３１を介してテスト彫刻計算機２２へ伝送される。テス
ト彫刻計算機２２において、測定された実際形状値とま
えもって定められた目標形状値との比較により、彫刻増
幅器８を較正するための調整値が得られる。そして彫刻
増幅器８へライン３２を介して供給される設定値によっ
て、彫刻増幅器８における彫刻制御信号ＧＳが較正さ
れ、この較正は、以降のグラビアシリンダ１の彫刻にあ
たり実際に形成されるインキセルが、色調に即した彫刻
に必要とされるインキセルに対応するように行われる。
【００３５】彫刻制御信号ＧＳの較正を彫刻前に自動的
に行うことができるし、あるいは彫刻中、オンラインで
行うことができる。しかしこの較正を手動で実行しても
よく、その場合、テスト彫刻計算機２２は求められた調
整値を単に表示するだけであって、その後、その値を手
動で彫刻増幅器８に伝送する。
に行うことができるし、あるいは彫刻中、オンラインで
行うことができる。しかしこの較正を手動で実行しても
よく、その場合、テスト彫刻計算機２２は求められた調
整値を単に表示するだけであって、その後、その値を手
動で彫刻増幅器８に伝送する。
【００３６】テストインキセルの生成ならびに評価は以
下のステップに従って実行される。
下のステップに従って実行される。
【００３７】ステップＡにおいて、テスト彫刻を実行す
るため、彫刻機構３が彫刻キャリッジ５とともに手動で
または自動的に彫刻キャリッジ駆動部７により軸線方向
にゼロ位置から目標位置へずらされる。この目標位置に
おいて、テスト彫刻のためにまえもって設定されたテス
ト彫刻領域２０内で第１のグラビアライン２１′が彫刻
されることになる。
るため、彫刻機構３が彫刻キャリッジ５とともに手動で
または自動的に彫刻キャリッジ駆動部７により軸線方向
にゼロ位置から目標位置へずらされる。この目標位置に
おいて、テスト彫刻のためにまえもって設定されたテス
ト彫刻領域２０内で第１のグラビアライン２１′が彫刻
されることになる。
【００３８】ステップＢにおいて、テストインキセル１
９を彫刻するためテスト彫刻計算機がたとえば目標値
「暗」「明」および「明」と「暗」の間の少なくともに
１つの中間調に対する彫刻データＧＤ* を呼び出す。呼
び出された彫刻データＧＤ* は、彫刻機構３のための彫
刻制御信号ＧＳに変換される。彫刻機構３は、第１のグ
ラビアライン２１′から出発して互いに隣り合うグラビ
アライン２１において、「明」「暗」および「中間調」
についてそれぞれ少なくとも１つのインキセルを彫刻す
る。有利には各グラビアライン２１，２１′についてテ
スト彫刻領域２０の広がりの中で、周方向において同じ
色調値の複数のテストインキセルが彫刻される。
９を彫刻するためテスト彫刻計算機がたとえば目標値
「暗」「明」および「明」と「暗」の間の少なくともに
１つの中間調に対する彫刻データＧＤ* を呼び出す。呼
び出された彫刻データＧＤ* は、彫刻機構３のための彫
刻制御信号ＧＳに変換される。彫刻機構３は、第１のグ
ラビアライン２１′から出発して互いに隣り合うグラビ
アライン２１において、「明」「暗」および「中間調」
についてそれぞれ少なくとも１つのインキセルを彫刻す
る。有利には各グラビアライン２１，２１′についてテ
スト彫刻領域２０の広がりの中で、周方向において同じ
色調値の複数のテストインキセルが彫刻される。
【００３９】ステップＣにおいて、彫刻されたテストイ
ンキセル１９の形状値を測定するため、ビデオカメラ２
４が測定キャリッジ２３とともに手動または自動的に、
測定キャリッジ駆動部２９によりゼロ位置から所定の測
定位置までずらされる。この測定位置は、測定すべきテ
ストインキセル１９をもつグラビアライン２１の目標位
置に相応し、たとえば第１のグラビアライン２１′の目
標位置までずらされる。
ンキセル１９の形状値を測定するため、ビデオカメラ２
４が測定キャリッジ２３とともに手動または自動的に、
測定キャリッジ駆動部２９によりゼロ位置から所定の測
定位置までずらされる。この測定位置は、測定すべきテ
ストインキセル１９をもつグラビアライン２１の目標位
置に相応し、たとえば第１のグラビアライン２１′の目
標位置までずらされる。
【００４０】ビデオカメラ２４は次のように調整するこ
とができる。すなわち、グラビアライン２１の測定位置
と目標位置が一致している場合、そのグラビアラインに
おける測定すべきテストインキセル１９がビデオ画像中
央の基準位置にくるようにし、たとえば画像中央の座標
原点をもつ測定座標系の縦座標上にくるようにする。こ
れにより、高い測定精度を達成するため、テストインキ
セル１９を最適な画像分解能でビデオカメラ２４により
完全に捉えることができるようになる。
とができる。すなわち、グラビアライン２１の測定位置
と目標位置が一致している場合、そのグラビアラインに
おける測定すべきテストインキセル１９がビデオ画像中
央の基準位置にくるようにし、たとえば画像中央の座標
原点をもつ測定座標系の縦座標上にくるようにする。こ
れにより、高い測定精度を達成するため、テストインキ
セル１９を最適な画像分解能でビデオカメラ２４により
完全に捉えることができるようになる。
【００４１】しかし実際には、彫刻針４をときおり交換
しなければならない。手間をかけてあとから調整を行わ
ないと、彫刻針交換時にもともとの彫刻針位置を失って
しまう可能性があり、彫刻座標値ｘＧおよびｙＧにより
規定された目標彫刻個所からずれた彫刻位置にテストイ
ンキセル１９が彫られてしまう。このような場合、所定
の軸線方向目標位置からずれた軸線方向実際位置をもつ
グラビアライン２１、２１′上にテストインキセル１９
が彫刻される。このため、グラビアライン２１、２１′
のまえもって定められた目標位置と一致した所定の測定
位置にビデオカメラ２４がずらされると、ずれたグラビ
アライン２１、２１′上に彫られたテストインキセル１
９の正および負の位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭが測定座標系
に対して発生する。したがってこのような位置誤差Δｘ
Ｍ、ΔｙＭに起因して、テストインキセル１９が最適な
画像分解能でビデオ画像内に完全には入らなくなってし
まい、その結果、テストインキセル形状値の測定におい
て不正確になってしまう。
しなければならない。手間をかけてあとから調整を行わ
ないと、彫刻針交換時にもともとの彫刻針位置を失って
しまう可能性があり、彫刻座標値ｘＧおよびｙＧにより
規定された目標彫刻個所からずれた彫刻位置にテストイ
ンキセル１９が彫られてしまう。このような場合、所定
の軸線方向目標位置からずれた軸線方向実際位置をもつ
グラビアライン２１、２１′上にテストインキセル１９
が彫刻される。このため、グラビアライン２１、２１′
のまえもって定められた目標位置と一致した所定の測定
位置にビデオカメラ２４がずらされると、ずれたグラビ
アライン２１、２１′上に彫られたテストインキセル１
９の正および負の位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭが測定座標系
に対して発生する。したがってこのような位置誤差Δｘ
Ｍ、ΔｙＭに起因して、テストインキセル１９が最適な
画像分解能でビデオ画像内に完全には入らなくなってし
まい、その結果、テストインキセル形状値の測定におい
て不正確になってしまう。
【００４２】このため測定精度を改善する目的で、本発
明によれば以下のことが提案される。すなわち、彫刻さ
れたテストインキセル１９の１つの選択し、選択された
テストインキセルの位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭをステップ
Ｄにおいて、ビデオ画像における基準位置たとえば測定
座標系の座標原点に対するテストインキセル測定個所の
座標距離として測定し、少なくとも選択されたテストイ
ンキセルの形状値を測定する前に、求められた位置誤差
ΔｘＭ、ΔｙＭをステップＥにおいて、ビデオカメラ２
４を新たな測定位置へずらすことにより較正し、および
／または選択されたテストインキセル１９′の測定位置
がビデオ画像の基準位置にくるようグラビアシリンダ１
を旋回させることで較正する。
明によれば以下のことが提案される。すなわち、彫刻さ
れたテストインキセル１９の１つの選択し、選択された
テストインキセルの位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭをステップ
Ｄにおいて、ビデオ画像における基準位置たとえば測定
座標系の座標原点に対するテストインキセル測定個所の
座標距離として測定し、少なくとも選択されたテストイ
ンキセルの形状値を測定する前に、求められた位置誤差
ΔｘＭ、ΔｙＭをステップＥにおいて、ビデオカメラ２
４を新たな測定位置へずらすことにより較正し、および
／または選択されたテストインキセル１９′の測定位置
がビデオ画像の基準位置にくるようグラビアシリンダ１
を旋回させることで較正する。
【００４３】このためステップＤにおいてまずはじめ
に、所定の測定位置へのビデオカメラ２４の位置決めに
あたり、測定座標系の座標原点に対し発生している選択
されたテストインキセル１９′の測定個所の位置誤差Δ
ｘＭ、ΔｙＭが、撮影されたビデオ画像に基づき画像評
価段２６において測定される。測定個所を測定座標系の
座標原点にシフトすべきテストインキセル１９′として
たとえば、「中間調」（Ｍ）を表すテストインキセル１
９または他のテストインキセル１９が選択される。選択
されたテストインキセル１９′の測定個所として、どの
形状値を確かめようとするのかに応じて、テストインキ
セルの中心点、テストインキセルの横方向対角線または
縦方向対角線の中心点、あるいは測定すべき通路または
切り通しの中心点が定められる。図２を参照しながら、
ビデオ画像中の選択されたテストインキセルにおける位
置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭの測定について説明する。
に、所定の測定位置へのビデオカメラ２４の位置決めに
あたり、測定座標系の座標原点に対し発生している選択
されたテストインキセル１９′の測定個所の位置誤差Δ
ｘＭ、ΔｙＭが、撮影されたビデオ画像に基づき画像評
価段２６において測定される。測定個所を測定座標系の
座標原点にシフトすべきテストインキセル１９′として
たとえば、「中間調」（Ｍ）を表すテストインキセル１
９または他のテストインキセル１９が選択される。選択
されたテストインキセル１９′の測定個所として、どの
形状値を確かめようとするのかに応じて、テストインキ
セルの中心点、テストインキセルの横方向対角線または
縦方向対角線の中心点、あるいは測定すべき通路または
切り通しの中心点が定められる。図２を参照しながら、
ビデオ画像中の選択されたテストインキセルにおける位
置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭの測定について説明する。
【００４４】図２には、彫刻されたテストインキセル１
９の撮影されたビデオ画像３５が示されており、これは
水平方向および垂直方向のスクリーンラインもしくはパ
ターンラインから成る矩形のグラビアスクリーンないし
はグラビアパターンを有し、この場合、垂直方向のスク
リーンラインはグラビアライン２１である。互いに隣り
合う３つのグラビアライン２１上に、たとえば「明」
（Ｌ）、「暗」（Ｔ）および「中間調」（Ｍ）に対する
彫刻されたテストインキセル１９が描かれている。テス
トインキセル１９の重心は、グラビアスクリーンにおけ
るスクリーンラインの交点上にある。
９の撮影されたビデオ画像３５が示されており、これは
水平方向および垂直方向のスクリーンラインもしくはパ
ターンラインから成る矩形のグラビアスクリーンないし
はグラビアパターンを有し、この場合、垂直方向のスク
リーンラインはグラビアライン２１である。互いに隣り
合う３つのグラビアライン２１上に、たとえば「明」
（Ｌ）、「暗」（Ｔ）および「中間調」（Ｍ）に対する
彫刻されたテストインキセル１９が描かれている。テス
トインキセル１９の重心は、グラビアスクリーンにおけ
るスクリーンラインの交点上にある。
【００４５】ビデオ画像３５は複数のピクインキセル３
６から成り、ビデオ画像３５中のそれらの位置は、ビデ
オ画像３５に対応づけられた画像座標系３７の画像座標
ｘＶとｙＶにより規定されている。画像座標系３７の座
標軸はビデオ画像３５の縦方向および横方向に沿って配
向されており、座標原点３８はビデオ画像３５の１つの
頂点におかれる。また、測定座標系４０の座標軸は、画
像座標系３７の座標軸に対し平行に配向されている。ビ
デオ画像３５の中心点に位置する測定座標系４０の座標
原点３９は、画像座標系３８において画像座標ｘＶＭお
よびｙＶＭを有する。したがって座標に関して以下のよ
うな関係が生じる： ｘＭ＝ｘＶ−ｙＶＭ ｙＭ＝ｙＶ−ｙＶＭ たとえば、測定個所４１としてインキセル平面の中心点
をもつテストインキセル１９′が選択され、この測定個
所は画像座標系３７において画像座標ｘＶＢおよびｙ
ＶＢをもつ。したがって選択されたテストインキセル１
９′の位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭは測定座標系４０におい
て以下のようになる： ΔｘＭ＝ｘＶＢ−ｘＶＭ ΔｙＭ＝ｙＶＢ−ｙＶＭ 各ピクインキセル３６には、個々のグレー値を表すたと
えば８ｂｉｔのビデオデータＶＤが割り当てられている
ので、「黒」（ＶＤ＝０）と「白」（ＶＤ＝２５５）と
の間において全部で２５４個のグレー値を区別すること
ができる。これらのグレー値はフィルタリングにより、
または閾値を用いることで、２つの値に低減することが
でき、これは次のようにして行われる。すなわちたとえ
ば、グラビアシリンダ１の外被にあるピクインキセルに
はビデオデータＶＤ＝０を割り当て、テストインキセル
１９の外被にあるピクインキセルにはビデオデータＶＤ
＝１を割り当てる。その際、インキセル平面の輪郭（密
度が飛躍的に変化する部分）は、「０」から「１」また
は「１」から「０」へのビデオデータの移行によって表
す。
６から成り、ビデオ画像３５中のそれらの位置は、ビデ
オ画像３５に対応づけられた画像座標系３７の画像座標
ｘＶとｙＶにより規定されている。画像座標系３７の座
標軸はビデオ画像３５の縦方向および横方向に沿って配
向されており、座標原点３８はビデオ画像３５の１つの
頂点におかれる。また、測定座標系４０の座標軸は、画
像座標系３７の座標軸に対し平行に配向されている。ビ
デオ画像３５の中心点に位置する測定座標系４０の座標
原点３９は、画像座標系３８において画像座標ｘＶＭお
よびｙＶＭを有する。したがって座標に関して以下のよ
うな関係が生じる： ｘＭ＝ｘＶ−ｙＶＭ ｙＭ＝ｙＶ−ｙＶＭ たとえば、測定個所４１としてインキセル平面の中心点
をもつテストインキセル１９′が選択され、この測定個
所は画像座標系３７において画像座標ｘＶＢおよびｙ
ＶＢをもつ。したがって選択されたテストインキセル１
９′の位置誤差ΔｘＭ、ΔｙＭは測定座標系４０におい
て以下のようになる： ΔｘＭ＝ｘＶＢ−ｘＶＭ ΔｙＭ＝ｙＶＢ−ｙＶＭ 各ピクインキセル３６には、個々のグレー値を表すたと
えば８ｂｉｔのビデオデータＶＤが割り当てられている
ので、「黒」（ＶＤ＝０）と「白」（ＶＤ＝２５５）と
の間において全部で２５４個のグレー値を区別すること
ができる。これらのグレー値はフィルタリングにより、
または閾値を用いることで、２つの値に低減することが
でき、これは次のようにして行われる。すなわちたとえ
ば、グラビアシリンダ１の外被にあるピクインキセルに
はビデオデータＶＤ＝０を割り当て、テストインキセル
１９の外被にあるピクインキセルにはビデオデータＶＤ
＝１を割り当てる。その際、インキセル平面の輪郭（密
度が飛躍的に変化する部分）は、「０」から「１」また
は「１」から「０」へのビデオデータの移行によって表
す。
【００４６】画像座標系３７において、選択されたテス
トインキセル１９′の測定個所４１の画像座標値ｘＶＢ
およびｙＶＢを自動的に求めるため、たとえばストライ
プ状に形成された測定フィールド４２が規定され、これ
はビデオ画像３５の上をシフト可能であって、画像座標
系３７内で任意に配向させることができる。
トインキセル１９′の測定個所４１の画像座標値ｘＶＢ
およびｙＶＢを自動的に求めるため、たとえばストライ
プ状に形成された測定フィールド４２が規定され、これ
はビデオ画像３５の上をシフト可能であって、画像座標
系３７内で任意に配向させることができる。
【００４７】この測定フィールド４２は少なくとも１つ
の測定ライン４３から成り、有利には互いに平行に延在
する複数の測定ライン４３から成る。そして各測定ライ
ン４３は、画像座標系３７においてそれぞれ画像座標ペ
アｘＶＭＰおよびｙＶＭＰにより規定されている位置を
もつ複数のピクインキセル３６を有している。したがっ
て測定ライン４３内の各ピクインキセル３６について
も、座標系３７内の位置を確定することができる。測定
フィールド４２の長手方向の長さは少なくとも、２つの
グラビアライン２１の間隔と等しい。ピクインキセル３
６相互間の間隔は、それぞれ１つの長さ増分値を表す。
このため測定区間４４内のピクインキセル３６を計数す
ることにより、測定区間４４の長さを長さ増分値の倍数
として測定することができる。
の測定ライン４３から成り、有利には互いに平行に延在
する複数の測定ライン４３から成る。そして各測定ライ
ン４３は、画像座標系３７においてそれぞれ画像座標ペ
アｘＶＭＰおよびｙＶＭＰにより規定されている位置を
もつ複数のピクインキセル３６を有している。したがっ
て測定ライン４３内の各ピクインキセル３６について
も、座標系３７内の位置を確定することができる。測定
フィールド４２の長手方向の長さは少なくとも、２つの
グラビアライン２１の間隔と等しい。ピクインキセル３
６相互間の間隔は、それぞれ１つの長さ増分値を表す。
このため測定区間４４内のピクインキセル３６を計数す
ることにより、測定区間４４の長さを長さ増分値の倍数
として測定することができる。
【００４８】図３にはストライプ状の測定フィールド４
２の形状が示されており、これはたとえば複数のピクイ
ンキセル３６をもつ測定ライン４３から成る。
２の形状が示されており、これはたとえば複数のピクイ
ンキセル３６をもつ測定ライン４３から成る。
【００４９】図４には正方形の測定フィールド４２の形
状が示されており、これはたとえば各測定ライン４３に
それぞれ６つのピクインキセル３６をもつ６つの測定ラ
イン４３から成る。
状が示されており、これはたとえば各測定ライン４３に
それぞれ６つのピクインキセル３６をもつ６つの測定ラ
イン４３から成る。
【００５０】すでに説明したように、１つのテストイン
キセル１９におけるインキセル平面の周縁部は、撮影さ
れたビデオ画像３５において輪郭４５を成している。し
たがって、測定区間４４たとえばテストインキセル１９
における最大横方向対角線または最大縦方向対角線を測
定するための測定区間は、対応する輪郭４５相互間の個
々の間隔から得られる。
キセル１９におけるインキセル平面の周縁部は、撮影さ
れたビデオ画像３５において輪郭４５を成している。し
たがって、測定区間４４たとえばテストインキセル１９
における最大横方向対角線または最大縦方向対角線を測
定するための測定区間は、対応する輪郭４５相互間の個
々の間隔から得られる。
【００５１】測定区間４４の終端ピクインキセル３
６′、３６″は有利には測定フィールド４２自体を用い
ることで、隣り合う２つの輪郭４５の自動的な検出によ
り求められ、これは測定ライン４３において相前後して
続く２つのピクインキセル３６のビデオデータＶＤを、
その変化についてそれぞれ調べることによって行われ
る。
６′、３６″は有利には測定フィールド４２自体を用い
ることで、隣り合う２つの輪郭４５の自動的な検出によ
り求められ、これは測定ライン４３において相前後して
続く２つのピクインキセル３６のビデオデータＶＤを、
その変化についてそれぞれ調べることによって行われ
る。
【００５２】図５には、測定ライン４３および互いに隣
り合う２つの輪郭４５をもつ測定ストライプ４２が示さ
れている。さらにこの図には、個々のピクインキセル３
６に割り当てられたビデオデータＶＤも示されており、
この場合、輪郭４５は「０」から「１」への移行および
「１」から「０」への移行により表されている。自動的
な輪郭の検出により、図示の事例では９個のピクインキ
セル３６から成る測定区間４４において対応する終端ピ
クインキセル３６′、３６″が求められる。
り合う２つの輪郭４５をもつ測定ストライプ４２が示さ
れている。さらにこの図には、個々のピクインキセル３
６に割り当てられたビデオデータＶＤも示されており、
この場合、輪郭４５は「０」から「１」への移行および
「１」から「０」への移行により表されている。自動的
な輪郭の検出により、図示の事例では９個のピクインキ
セル３６から成る測定区間４４において対応する終端ピ
クインキセル３６′、３６″が求められる。
【００５３】図６には、選択されたテストインキセル１
９′における測定個所４１の画像座標値ｘＶＢを、１つ
の測定ライン４３から成るストライプ状の測定フィール
ド４２を用いて測定する様子が示されている。図示の実
施例では測定個所４１は、選択されたテストインキセル
１９′におけるインキセル平面の中心点である。測定フ
ィールド４２はその長手方向に沿って画像座標系３７の
横軸方向に配向されており、選択されたテストインキセ
ル１９′はその方向でシフトされる。測定区間４４の終
端ピクインキセル３６′、３６″は、選択されたテスト
インキセル１９′のインキセル平面における輪郭４５の
自動検出により求められる。これにより測定区間４４に
収まっているピクインキセル３６の個数が明からにな
り、この場合、測定区間４４の中央のピクインキセル３
６は選択されたテストインキセル１９′の測定個所４１
を表す。したがって画像座標系３７内における選択され
たテストインキセル１９′の測定個所４１の画像座標値
ｘＶＢは、測定区間４４における中央のピクインキセル
の座標値となる。
９′における測定個所４１の画像座標値ｘＶＢを、１つ
の測定ライン４３から成るストライプ状の測定フィール
ド４２を用いて測定する様子が示されている。図示の実
施例では測定個所４１は、選択されたテストインキセル
１９′におけるインキセル平面の中心点である。測定フ
ィールド４２はその長手方向に沿って画像座標系３７の
横軸方向に配向されており、選択されたテストインキセ
ル１９′はその方向でシフトされる。測定区間４４の終
端ピクインキセル３６′、３６″は、選択されたテスト
インキセル１９′のインキセル平面における輪郭４５の
自動検出により求められる。これにより測定区間４４に
収まっているピクインキセル３６の個数が明からにな
り、この場合、測定区間４４の中央のピクインキセル３
６は選択されたテストインキセル１９′の測定個所４１
を表す。したがって画像座標系３７内における選択され
たテストインキセル１９′の測定個所４１の画像座標値
ｘＶＢは、測定区間４４における中央のピクインキセル
の座標値となる。
【００５４】図７には、長手方向に沿って画像座標系３
７の縦軸方向に配向された測定フィールド４２を用い
て、選択されたテストインキセル１９′の測定個所４１
の画像座標値ｙＶＢをそれ相応に測定する様子が示され
ている。図示の実施例の場合も、測定個所はやはりイン
キセル平面の中心点である。したがって選択されたテス
トインキセル１９′における測定個所４１の画像座標値
ｙＶＢは、測定区間４４における中央のピクインキセル
３６の確定された座標値から得られる。
７の縦軸方向に配向された測定フィールド４２を用い
て、選択されたテストインキセル１９′の測定個所４１
の画像座標値ｙＶＢをそれ相応に測定する様子が示され
ている。図示の実施例の場合も、測定個所はやはりイン
キセル平面の中心点である。したがって選択されたテス
トインキセル１９′における測定個所４１の画像座標値
ｙＶＢは、測定区間４４における中央のピクインキセル
３６の確定された座標値から得られる。
【００５５】有利には、規定された色調値を表す選択さ
れたテストインキセル１９′が、ビデオ画像３５内で複
数の測定ライン４３から成る測定フィールド４２を用い
て自動的に「探索」される。この目的で、テストインキ
セル１９′のインキセル平面が所定の色調値に応じてピ
クインキセル３６の個数として設定される。対応する測
定フィールドが図４に示されている。測定フィールド４
２の大きさは所定のインキセル平面ないしはインキセル
面積の大きさに少なくとも対応し、したがってインキセ
ル平面に収まるすべてのピクインキセル３６を測定フィ
ールド４２によって捉えることができるようになる。測
定フィールド４２は、テストインキセル１９の彫刻個所
ごとにビデオ画像上をシフトされる。各彫刻個所ごと
に、該当するテストインキセル１９のインキセル平面な
いしはインキセル面積が測定フィールド４２を用いて測
定され、その際、個々の測定ライン４３において計数さ
れたピクインキセル３６が加算され、所定のインキセル
平面のピクインキセル数と比較される。この場合、まえ
もって定められたインキセル平面と測定されたインキセ
ル平面が一致していれば、テストインキセル１９が選択
されたテストインキセル１９′として識別される。
れたテストインキセル１９′が、ビデオ画像３５内で複
数の測定ライン４３から成る測定フィールド４２を用い
て自動的に「探索」される。この目的で、テストインキ
セル１９′のインキセル平面が所定の色調値に応じてピ
クインキセル３６の個数として設定される。対応する測
定フィールドが図４に示されている。測定フィールド４
２の大きさは所定のインキセル平面ないしはインキセル
面積の大きさに少なくとも対応し、したがってインキセ
ル平面に収まるすべてのピクインキセル３６を測定フィ
ールド４２によって捉えることができるようになる。測
定フィールド４２は、テストインキセル１９の彫刻個所
ごとにビデオ画像上をシフトされる。各彫刻個所ごと
に、該当するテストインキセル１９のインキセル平面な
いしはインキセル面積が測定フィールド４２を用いて測
定され、その際、個々の測定ライン４３において計数さ
れたピクインキセル３６が加算され、所定のインキセル
平面のピクインキセル数と比較される。この場合、まえ
もって定められたインキセル平面と測定されたインキセ
ル平面が一致していれば、テストインキセル１９が選択
されたテストインキセル１９′として識別される。
【００５６】ステップＥにおいて、測定された位置誤差
ΔｘＭとΔｙＭが測定機構２３のシフトおよび／または
グラビアシリンダ１の旋回により補償調整される。この
ような補償調整は、監視モニタ２７においてビデオ画像
を手動で視覚的なコントロールしながら行うこともでき
るし、あるいは制御機構１４によりシリンダ駆動部２お
よび／または彫刻キャリッジ駆動部７の自動的な制御に
より行うこともできる。ビデオ画像の評価により、選択
されたテストインキセル１９′の測定個所４１が測定座
標系４０の座標原点３８と一致していることが判明した
とき、画像評価段２６がライン３３を介して制御機構１
４へそれ相応の命令Ｓ４を供給し、このようにして有利
には、彫刻されたテスト平面１９に関する形状値の精確
な決定が保証される。
ΔｘＭとΔｙＭが測定機構２３のシフトおよび／または
グラビアシリンダ１の旋回により補償調整される。この
ような補償調整は、監視モニタ２７においてビデオ画像
を手動で視覚的なコントロールしながら行うこともでき
るし、あるいは制御機構１４によりシリンダ駆動部２お
よび／または彫刻キャリッジ駆動部７の自動的な制御に
より行うこともできる。ビデオ画像の評価により、選択
されたテストインキセル１９′の測定個所４１が測定座
標系４０の座標原点３８と一致していることが判明した
とき、画像評価段２６がライン３３を介して制御機構１
４へそれ相応の命令Ｓ４を供給し、このようにして有利
には、彫刻されたテスト平面１９に関する形状値の精確
な決定が保証される。
【００５７】図８には、位置誤差ΔｘＭおよびΔｙＭを
補正した後のビデオ画像３５が示されている。このとき
ビデオ画像３５において、選択されたテストインキセル
１９′の測定個所４１と測定座標系４０の座標原点３８
とが一致している。
補正した後のビデオ画像３５が示されている。このとき
ビデオ画像３５において、選択されたテストインキセル
１９′の測定個所４１と測定座標系４０の座標原点３８
とが一致している。
【００５８】たいていの事例では、測定機構２３のシフ
トにより軸線方向の位置誤差ΔｘＭだけを補償すれば十
分である。それというのも、グラビアライン方向におい
てたいていは１つの色調値に対し複数のテストインキセ
ル１９が彫刻され、したがってある色調値の少なくとも
１つのテストインキセル１９がビデオカメラ２４の撮影
領域内に位置しているからである。
トにより軸線方向の位置誤差ΔｘＭだけを補償すれば十
分である。それというのも、グラビアライン方向におい
てたいていは１つの色調値に対し複数のテストインキセ
ル１９が彫刻され、したがってある色調値の少なくとも
１つのテストインキセル１９がビデオカメラ２４の撮影
領域内に位置しているからである。
【００５９】位置誤差ΔｘＭおよびΔｙＭが補償調整さ
れた後、ステップＦにおいて、ビデオカメラ２４により
撮影された図８に示されているようなビデオ画像３５が
評価段２６において自動的に評価されることで、彫刻さ
れたテストインキセル１９の形状値が求められる。有利
にはこの測定は、位置誤差ΔｘＭおよびΔｙＭの測定に
すでに使われたものと同じ測定フィールド４２を用いて
実行される。
れた後、ステップＦにおいて、ビデオカメラ２４により
撮影された図８に示されているようなビデオ画像３５が
評価段２６において自動的に評価されることで、彫刻さ
れたテストインキセル１９の形状値が求められる。有利
にはこの測定は、位置誤差ΔｘＭおよびΔｙＭの測定に
すでに使われたものと同じ測定フィールド４２を用いて
実行される。
【００６０】テストインキセル１９において図６の測定
区間４４に対応する最大横方向対角線ｄＱｍａｘあるい
は任意の横方向対角線ｄＱを測定するために、図６にす
でに示されているような測定フィールド４２が、その長
手方向に沿って測定座標系４０の縦軸方向に配向され
る。
区間４４に対応する最大横方向対角線ｄＱｍａｘあるい
は任意の横方向対角線ｄＱを測定するために、図６にす
でに示されているような測定フィールド４２が、その長
手方向に沿って測定座標系４０の縦軸方向に配向され
る。
【００６１】他方、切り通しｄＤＳを測定するために、
つまりグラビアライン２１上に彫刻された２つのテスト
インキセル１９をつなぐ測定座標系４０の横軸方向にお
ける彫刻溝の幅を測定するために、測定フィールド４２
は今度はその長手方向に沿って横軸方向に配向される。
切り通しｄＤＳの測定については図９に描かれている。
つまりグラビアライン２１上に彫刻された２つのテスト
インキセル１９をつなぐ測定座標系４０の横軸方向にお
ける彫刻溝の幅を測定するために、測定フィールド４２
は今度はその長手方向に沿って横軸方向に配向される。
切り通しｄＤＳの測定については図９に描かれている。
【００６２】また、通路ｄＳＢを測定するために、つま
り隣り合うグラビアライン２１、２１′上に彫刻された
２つの深いインキセルの間の残された材料の幅を測定す
るために好適には、その長手方向に沿って上記通路の延
びに対しほぼ垂直に配向されるよう、測定フィールド４
２を旋回させる。通路ｄＳＢの測定については図１０に
描かれている。
り隣り合うグラビアライン２１、２１′上に彫刻された
２つの深いインキセルの間の残された材料の幅を測定す
るために好適には、その長手方向に沿って上記通路の延
びに対しほぼ垂直に配向されるよう、測定フィールド４
２を旋回させる。通路ｄＳＢの測定については図１０に
描かれている。
【００６３】図１１には、彫刻されたテストインキセル
１９を測定するための測定装置に関する第２の実施例を
用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を原理的に示した
図である。
１９を測定するための測定装置に関する第２の実施例を
用いて版型彫刻用電子グラビア印刷機を原理的に示した
図である。
【００６４】この実施例の場合、ビデオカメラ２４は図
１に描かれていたように別個の測定機構２３上に配置さ
れているのではなく、彫刻キャリッジ５上で彫刻機構３
の隣りに配置されており、この場合、ビデオカメラ２４
は彫刻機構３の彫刻針４から構造に起因する軸線方向間
隔Ｂをおいて設置される。彫刻されたテストインキセル
１９のビデオ画像３５はたとえば光ガイトケーブルを介
して記録され、このケーブルの光入射面は、軸線方向に
対し垂直にかつ彫刻機構３における彫刻針４の尖端が辿
る平面内に配置されている。これに対する代案として、
彫刻されたテストインキセル１９のビデオ画像３５をじ
かにビデオカメラ２４によって撮影することもできる。
その場合には、テストインキセル１９の彫刻後、彫刻キ
ャリッジ５上に取り付けられたビデオカメラ２４はまず
はじめ、軸線方向間隔Ｂだけテスト彫刻領域２０内の所
定の測定位置に向けてずらされる。ついで位置誤差Δｘ
ＭおよびΔｙＭが測定され補正されて、彫刻されたテス
トインキセル１９が測定される。
１に描かれていたように別個の測定機構２３上に配置さ
れているのではなく、彫刻キャリッジ５上で彫刻機構３
の隣りに配置されており、この場合、ビデオカメラ２４
は彫刻機構３の彫刻針４から構造に起因する軸線方向間
隔Ｂをおいて設置される。彫刻されたテストインキセル
１９のビデオ画像３５はたとえば光ガイトケーブルを介
して記録され、このケーブルの光入射面は、軸線方向に
対し垂直にかつ彫刻機構３における彫刻針４の尖端が辿
る平面内に配置されている。これに対する代案として、
彫刻されたテストインキセル１９のビデオ画像３５をじ
かにビデオカメラ２４によって撮影することもできる。
その場合には、テストインキセル１９の彫刻後、彫刻キ
ャリッジ５上に取り付けられたビデオカメラ２４はまず
はじめ、軸線方向間隔Ｂだけテスト彫刻領域２０内の所
定の測定位置に向けてずらされる。ついで位置誤差Δｘ
ＭおよびΔｙＭが測定され補正されて、彫刻されたテス
トインキセル１９が測定される。
【００６５】図１２には、グラビア印刷機における動作
シーケンスが図式によって概略的に描かれている。この
場合、ビデオカメラ２４は図１１による実施例に即して
彫刻キャリッジ５上で彫刻機構３の隣りに取り付けられ
ているものとする。
シーケンスが図式によって概略的に描かれている。この
場合、ビデオカメラ２４は図１１による実施例に即して
彫刻キャリッジ５上で彫刻機構３の隣りに取り付けられ
ているものとする。
【００６６】ａ）ステップＡとＢに従い、彫刻機構３を
彫刻機構５とともに、彫刻すべきグラビアライン２１の
所定の軸線方向目標位置４７へシフトさせ、グラビアラ
イン２１上で軸線方向実際位置４８にテストインキセル
１９を彫刻する。この実際位置は、軸線方向の位置誤差
Δｘに起因して目標位置４７からずれている。
彫刻機構５とともに、彫刻すべきグラビアライン２１の
所定の軸線方向目標位置４７へシフトさせ、グラビアラ
イン２１上で軸線方向実際位置４８にテストインキセル
１９を彫刻する。この実際位置は、軸線方向の位置誤差
Δｘに起因して目標位置４７からずれている。
【００６７】ｂ）ステップＣに従い、キャリッジ機構５
のシフトにより、グラビアライン２１の所定の目標位置
４７と一致している所定の測定位置４７上にビデオカメ
ラ２４を位置決めする。
のシフトにより、グラビアライン２１の所定の目標位置
４７と一致している所定の測定位置４７上にビデオカメ
ラ２４を位置決めする。
【００６８】ｃ）ステップＤに従い、所定の測定位置４
７においてビデオカメラ２４の位置誤差Δｘを測定す
る。
７においてビデオカメラ２４の位置誤差Δｘを測定す
る。
【００６９】ｄ）ステップＥに従い、彫刻機構５を新た
な測定位置にシフトすることで、ビデオカメラ２４の位
置誤差Δｘを補正する。
な測定位置にシフトすることで、ビデオカメラ２４の位
置誤差Δｘを補正する。
【００７０】ｅ）ステップＦに従い、実際位置４８のグ
ラビアライン２１上に彫られた彫刻されたテストインキ
セル１９を、ビデオカメラ２４の新たな測定位置４８の
おいて測定する。
ラビアライン２１上に彫られた彫刻されたテストインキ
セル１９を、ビデオカメラ２４の新たな測定位置４８の
おいて測定する。
【００７１】グラビアシリンダ上に軸線方向に互いに並
置された複数のグラビアストランドをそれぞれ１つの対
応づけられた彫刻機構によって彫る場合、いわゆるグラ
ビア印刷機のツインモードにおいても、この方法を有利
に使用することができる。
置された複数のグラビアストランドをそれぞれ１つの対
応づけられた彫刻機構によって彫る場合、いわゆるグラ
ビア印刷機のツインモードにおいても、この方法を有利
に使用することができる。
【００７２】グラビアシリンダ１上に複数のグラビアス
トランドをそれぞれ１つの対応づけられた彫刻機構３に
よって彫る場合、各彫刻機構３ごとに別個のテスト彫刻
を実行しなければならない。テスト彫刻を測定するため
グラビア印刷機に、図１に示した実施例によるビデオカ
メラ２４の設けられたシフト可能な測定機構２３を装備
させることができる。各グラビアストランドにおける個
々のテスト彫刻を測定するために、ビデオカメラ２４は
それぞれグラビアストランドの幅だけ個々の測定位置へ
向けて軸線方向にシフトされる。この場合、先に説明し
たステップＡ〜Ｆが各測定位置において実行される。も
ちろん、各測定機構３に図１１に示した実施例に従いビ
デオカメラ２４を対応づけることもできる。
トランドをそれぞれ１つの対応づけられた彫刻機構３に
よって彫る場合、各彫刻機構３ごとに別個のテスト彫刻
を実行しなければならない。テスト彫刻を測定するため
グラビア印刷機に、図１に示した実施例によるビデオカ
メラ２４の設けられたシフト可能な測定機構２３を装備
させることができる。各グラビアストランドにおける個
々のテスト彫刻を測定するために、ビデオカメラ２４は
それぞれグラビアストランドの幅だけ個々の測定位置へ
向けて軸線方向にシフトされる。この場合、先に説明し
たステップＡ〜Ｆが各測定位置において実行される。も
ちろん、各測定機構３に図１１に示した実施例に従いビ
デオカメラ２４を対応づけることもできる。
【００７３】グラビア印刷機のいわゆるツインモードの
場合、それぞれ１つの彫刻機構３、３* によって彫られ
る２つのグラビアシリンダ１、１* が互いに機械的に結
合されている。これらの彫刻機構３、３* は共通の彫刻
機構５上に互いに一定の間隔において取り付けられてお
り、これは軸線方向で両方のグラビアシリンダ１、１*
に沿って移動する。各彫刻機構３、３* によって、該当
するグラビアシリンダ１、１* にテスト彫刻が彫られ
る。テスト彫刻を測定するためグラビア印刷機は彫刻キ
ャリッジ５上で各彫刻機構３、３* の隣りに、図１１に
よる実施例に従いビデオカメラ２４、２４* を有してい
る。この場合、動作シーケンスが変えられることにな
る。
場合、それぞれ１つの彫刻機構３、３* によって彫られ
る２つのグラビアシリンダ１、１* が互いに機械的に結
合されている。これらの彫刻機構３、３* は共通の彫刻
機構５上に互いに一定の間隔において取り付けられてお
り、これは軸線方向で両方のグラビアシリンダ１、１*
に沿って移動する。各彫刻機構３、３* によって、該当
するグラビアシリンダ１、１* にテスト彫刻が彫られ
る。テスト彫刻を測定するためグラビア印刷機は彫刻キ
ャリッジ５上で各彫刻機構３、３* の隣りに、図１１に
よる実施例に従いビデオカメラ２４、２４* を有してい
る。この場合、動作シーケンスが変えられることにな
る。
【００７４】図１３には、ツインモードで動作するグラ
ビア印刷機の動作シーケンスが概略的に示されている。
この場合、それぞれビデオカメラ２４、２４* は図１１
による実施例に従い彫刻機構３、３* の隣りで共通の彫
刻機構５上に取り付けられている。
ビア印刷機の動作シーケンスが概略的に示されている。
この場合、それぞれビデオカメラ２４、２４* は図１１
による実施例に従い彫刻機構３、３* の隣りで共通の彫
刻機構５上に取り付けられている。
【００７５】ａ）ステップＡおよびＢに従い共通の彫刻
機構５により彫刻機構３、３* が、彫刻すべきグラビア
ライン２１、２１* の所定の軸線方向目標位置４７、４
７* へシフトされ、位置誤差ΔｘおよびΔｘ* に起因し
て目標位置４７、４７* からずれている軸線方向実際位
置４８、４８* でグラビアライン２１、２１* 上にテス
トインキセル１９、１９* が彫刻される。
機構５により彫刻機構３、３* が、彫刻すべきグラビア
ライン２１、２１* の所定の軸線方向目標位置４７、４
７* へシフトされ、位置誤差ΔｘおよびΔｘ* に起因し
て目標位置４７、４７* からずれている軸線方向実際位
置４８、４８* でグラビアライン２１、２１* 上にテス
トインキセル１９、１９* が彫刻される。
【００７６】ｂ）ステップＣに従い、グラビアライン２
１における所定の第１の目標位置４７と一致している所
定の第１の測定位置４７に、共通の彫刻機構５のシフト
によりビデオカメラ２４が位置決めされる。
１における所定の第１の目標位置４７と一致している所
定の第１の測定位置４７に、共通の彫刻機構５のシフト
によりビデオカメラ２４が位置決めされる。
【００７７】ｃ）ステップＤに従い、所定の第１の測定
位置４７において第１のビデオカメラ２４の位置誤差Δ
ｘが測定される。
位置４７において第１のビデオカメラ２４の位置誤差Δ
ｘが測定される。
【００７８】ｄ）ステップＥに従い、第１のビデオカメ
ラ２４の測定された位置誤差Δｘが、新たな第１の測定
位置４８への共通の彫刻キャリッジ５のシフトにより補
正される。
ラ２４の測定された位置誤差Δｘが、新たな第１の測定
位置４８への共通の彫刻キャリッジ５のシフトにより補
正される。
【００７９】ｅ）ステップＦに従い、グラビアライン２
１上で第１の実際位置４８に彫られた第１のグラビアシ
リンダ１に彫刻されたテストインキセル１９の形状値
が、第１のビデオカメラ２４の新たな第１の測定位置５
０において測定される。
１上で第１の実際位置４８に彫られた第１のグラビアシ
リンダ１に彫刻されたテストインキセル１９の形状値
が、第１のビデオカメラ２４の新たな第１の測定位置５
０において測定される。
【００８０】ｆ）ステップＤに従い、共通の彫刻機構５
の目下の位置において第２のビデオカメラ２４* の位置
誤差Δｘが測定される。
の目下の位置において第２のビデオカメラ２４* の位置
誤差Δｘが測定される。
【００８１】ｇ）第２のビデオカメラ２４* のために新
たな位置誤差Δｘ*ｎｅｕが計算される。
たな位置誤差Δｘ*ｎｅｕが計算される。
【００８２】ｈ）ステップＥに従い、共通の彫刻キャリ
ッジ５のシフトにより新たな第２の測定位置４８* へ、
第２のビデオカメラ２４* の計算された位置誤差Δｘ*
ｎｅｕが補正される。
ッジ５のシフトにより新たな第２の測定位置４８* へ、
第２のビデオカメラ２４* の計算された位置誤差Δｘ*
ｎｅｕが補正される。
【００８３】ｉ）ステップＦに従い、グラビアライン２
１* 上で第２の実際位置４８* に彫られた第２のグラビ
アシリンダ１* に彫刻されたテストインキセル１９の形
状値が、第２のビデオカメラ２４* の新たな第２の測定
位置５０* において測定される。 ［図面の簡単な説明］
１* 上で第２の実際位置４８* に彫られた第２のグラビ
アシリンダ１* に彫刻されたテストインキセル１９の形
状値が、第２のビデオカメラ２４* の新たな第２の測定
位置５０* において測定される。 ［図面の簡単な説明］
【図１】彫刻されたテストインキセルを測定するための
測定装置の配置構成に関する第１の実施例を用いて版型
彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原理図である。
測定装置の配置構成に関する第１の実施例を用いて版型
彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原理図である。
【図２】ビデオカメラのポジションエラー補正前の彫刻
されたテストインキセルのビデオ画像を示す図である。
されたテストインキセルのビデオ画像を示す図である。
【図３】ストライプ状測定フィールドの構成を示す図で
ある。
ある。
【図４】正方形測定フィールドの構成を示す図である。
【図５】測定フィールド内の測定区間を自動的に求める
ためのグラフィック表示である。
ためのグラフィック表示である。
【図６】ある座標方向におけるテストインキセルのポジ
ションエラー測定のためのグラフィック表示である。
ションエラー測定のためのグラフィック表示である。
【図７】別の座標方向におけるテストインキセルのポジ
ションエラー測定のためのグラフィック表示である。
ションエラー測定のためのグラフィック表示である。
【図８】ビデオカメラのポジションエラー補正後の彫刻
されたテストインキセルのビデオ画像である。
されたテストインキセルのビデオ画像である。
【図９】切り通し測定のためのグラフィック表示であ
る。
る。
【図１０】通路測定のためのグラフィック表示である。
【図１１】彫刻されたテストインキセルを測定するため
の測定装置の配置構成に関する第２の実施例を用いて版
型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原理図であ
る。
の測定装置の配置構成に関する第２の実施例を用いて版
型彫刻用電子グラビア印刷機を描いた基本原理図であ
る。
【図１２】グラビア印刷機におけるプロセスシーケンス
を示す図である。
を示す図である。
【図１３】ツインモードで動作するグラビア印刷機にお
けるプロセスシーケンスを示す図である。
けるプロセスシーケンスを示す図である。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B41C 1/045
B41C 1/18
G06T 1/00
Claims (29)
- 【請求項１】 彫刻すべき色調値を「明」から「暗」の
間で表す彫刻データ（ＧＤ）と、グラビアスクリーン形
成用の周期的なスクリーン信号（Ｒ）から、彫刻機構
（３）の彫刻針（４）を制御するための彫刻制御信号
（ＧＳ）を形成し、 彫刻針（４）によりグラビアシリンダ（１）にグラビア
ラインごとに、グラビアスクリーンに配置された一連の
インキセルを彫り込み、該インキセルの形状値により彫
刻された色調値が決まり、 本来の彫刻の前に、まえもって定められた色調値につい
てテストインキセル（１９）を彫り、 該テストインキセル（１９）のビデオ画像（３５）をビ
デオカメラ（２４）を用いて撮影し、 ビデオ画像（３５）中のテストインキセル（１９）の形
状値を求め、所定の色調値の形状値と比較し、 彫刻された色調値がまえもって定められた色調値に対応
するよう、比較結果に依存して彫刻制御信号（ＧＳ）を
較正する形式の、 グラビア印刷用グラビアシリンダを彫刻するための電子
グラビア印刷機におけるテスト彫刻の形成および評価方
法において、 ビデオカメラ（２４）を、まえもって定められた軸線方
向測定位置に位置決めし、 彫刻されたテストインキセルのうち１つのテストインキ
セル（１９′）を選択し、 選択されたテストインキセル（１９′）の測定個所（４
１）とビデオ画像（３５）中の基準個所（３９）との位
置偏差を、位置誤差（ΔｘＭ，ΔｙＭ）として求め、 求められた該位置誤差（ΔｘＭ，ΔｙＭ）を、新たな測
定位置へビデオカメラ（２４）を軸線方向にシフトする
ことにより、および／またはグラビアシリンダ（１）の
旋回により、選択されたテストインキセル（１９′）の
測定個所（４１）がビデオ画像（３５）の基準位置（３
９）の領域内に少なくとも位置するよう較正し、 ついで少なくとも選択されたテストインキセル（１
９′）の形状値を測定することを特徴とする、 グラビア印刷用グラビアシリンダを彫刻するための電子
グラビア印刷機におけるテスト彫刻の形成および評価方
法。 - 【請求項２】 「明」と「暗」の間の中間調を表すテス
トインキセル（１９′）を選択する、請求項１記載の方
法。 - 【請求項３】 前記測定個所（４１）を、選択されたテ
ストインキセル（１９′）の平面中心点とする、請求項
１または２記載の方法。 - 【請求項４】 前記測定個所（４１）を、選択されたテ
ストインキセル（１９′）の横方向対角線または縦方向
対角線の中心点とする、請求項１または２記載の方法。 - 【請求項５】 前記測定個所（４１）を、選択されたテ
ストインキセル（１９′）における切り通しまたは通路
の中心点とする、請求項１または２記載の方法。 - 【請求項６】 ビデオ画像（３５）において選択された
テストインキセル（１９′）の位置偏差を求めるための
基準個所（３９）を画像中央に位置させる、請求項１か
ら５のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項７】 ビデオ画像（３５）において選択された
テストインキセル（１９′）の位置偏差を求めるための
基準個所（３９）を、ビデオ画像（３５）における測定
座標系（４０）の座標原点とする、請求項１から６のい
ずれか１項記載の方法。 - 【請求項８】 前記ビデオ画像（３５）をピクセル（３
６）に分割し、 ビデオ画像（３５）における該ピクセル（３６）の位置
を、ビデオ画像（３５）に対応づけられたビデオ画像座
標系（３７）の座標（ｘＶ，ｙＶ）により定義する、 請求項１から７のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項９】 ビデオ画像（３５）をピクセル（３６）
に分割し、 ビデオ画像（３５）上をシフト可能な測定フィールド
（４２）を形成し、該測定フィールド（４２）は複数の
ピクセル（３６）をもつ少なくとも１つの測定ライン
（４３）を有し、それらのピクセルの位置をビデオ画像
（３５）内で前記ビデオ画像座標系（３７）の座標（ｘ
Ｖ，ｙＶ）により定め、 ビデオ画像（３５）内の測定区間（４４）の長さを、前
記測定ライン（４３）のピクセル（３６）の個数として
求める、 請求項１から８のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項１０】 前記測定フィールド（４２）をストラ
イプ状に形成する、請求項１から９のいずれか１項記載
の方法。 - 【請求項１１】 前記測定フィールド（４２）はビデオ
画像（３５）内で任意に配向可能である、請求項１から
１０のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項１２】 前記測定区間（４４）は、１つのテス
トインキセル（１９）に属する２つの輪郭（４５）相互
間の間隔に対応する、請求項１から１１のいずれか１項
記載の方法。 - 【請求項１３】 １つのテストインキセル（１９）の輪
郭（４５）をビデオ画像（３５）の自動的な評価により
識別する、請求項１から１２のいずれか１項記載の方
法。 - 【請求項１４】 １つのテストインキセル（１９）の輪
郭を測定フィールド（４２）における少なくとも１つの
測定ライン（４３）を用いて識別する、請求項１３記載
の方法。 - 【請求項１５】 ビデオ画像（３５）の各ピクセル（３
６）に、該当するピクセル（３６）がテストインキセル
（１９）の構成部分であるか否かを表すビデオデータ
（ＶＤ）を割り当て、 測定フィールド（４２）の測定ライン（４３）において
相前後するそれぞれ２つのピクセル（３６）のビデオデ
ータ（ＶＤ）を変化について調べ、 ビデオデータ（ＶＤ）の検出された変化を輪郭（４５）
として識別する、 請求項１４記載の方法。 - 【請求項１６】 ビデオ画像（３５）において選択され
たテストインキセル（１９′）を、シフト可能な測定フ
ィールド（４２）を用いて自動的に識別する、請求項１
から１５のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項１７】 選択されるテストインキセル（１
９′）のインキセル平面またはインキセル面積の大きさ
をまえもって定め、 選択されたテストインキセル（１９′）の少なくともイ
ンキセル平面に相当する大きさをもつ測定フィールド
（４２）を規定し、 該測定フィールド（４２）をテストインキセルごとにビ
デオ画像（３５）上でシフトさせ、 該測定フィールド（４２）の各位置で個々のテストイン
キセル（１９）のインキセル平面を測定して、まえもっ
て定められたインキセル平面と比較し、 少なくとも近似的に平面または面積が一致していれば、
テストインキセル（１９）を選択されたテストインキセ
ル（１９′）として識別する、 請求項１６記載の方法。 - 【請求項１８】 選択されたテストインキセル（１
９′）のインキセル平面の大きさを、ピクセル（３６）
の個数としてまえもって定め、 前記測定フィールド（４２）は、互いに平行に配向され
た複数の測定ライン（４３）を有し、 １つのテストインキセル（１９）のインキセル面積を、
個々の測定ライン（４３）におけるインキセル平面内に
収まるピクセル（３６）の加算により求め、 平面または面積の比較にあたり、まえもって定められた
ピクセル（３６）の個数と測定されたピクセル（３６）
の個数とを比較する、 請求項１７記載の方法。 - 【請求項１９】 選択されたテストセル（１９′）の測
定個所（４１）とビデオ画像（３５）中のその位置を、
シフト可能な測定フィールド（４２）を用いて自動的に
求める、請求項１から１８のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２０】 前記測定個所（４１）を、選択された
テストインキセル（１９′）の平面中心点とし、 選択されたテストインキセル（１９′）の横方向対角線
または縦方向対角線を、測定フィールド（４２）を用い
て測定区間（４４）として測定し、前記平面中心点を横
方向対角線の半分または縦方向対角線の半分の位置とす
る、 請求項１９記載の方法。 - 【請求項２１】 互いに結合された２つのグラビアシリ
ンダ（１，１*）をそれぞれ１つの彫刻機構（３，３*）
により彫刻し、 彫刻機構（３，３*）を１つの共通の彫刻キャリッジ
（５）上に配置し、 各彫刻機構（３，３*）に１つのビデオカメラ（２４，
２４*）を対応づけ、 第１のビデオカメラ（２４）をまえもって定められた第
１の測定位置（４７）に位置決めし、 まえもって定められた測定位置（４７）において第１の
ビデオカメラ（２４）の軸線方向の位置誤差（Δｘ）を
測定し、 該第１のビデオカメラ（２４）の測定された軸線方向の
位置誤差（Δｘ）を、前記共通の彫刻キャリッジ（５）
を新たな第１の測定位置（４８）にシフトすることによ
り補正し、 第１のグラビアシリンダ（１）に彫刻されたテストイン
キセル（１９）の形状値を、第１のビデオカメラ（２
４）の該新たな第１の測定位置（５０）において測定
し、 第２のビデオカメラ（２４*）の軸線方向の位置誤差
（Δｘ*）を、共通の彫刻キャリッジ（５）の目下の位
置で測定し、 第２のビデオカメラ（２４*）について新たな軸線方向
位置誤差（Δｘ*ｎｅｕ）を計算し、 第２のビデオカメラ（２４*）の計算された軸線方向の
位置誤差（Δｘ*ｎｅｕ）を、前記共通の彫刻キャリッ
ジ（５）を新たな第２の測定位置（４８*）にシフトす
ることにより補正し、 第２のグラビアシリンダ（１*）に彫刻されたテストイ
ンキセル（１９）の形状値を、第１のビデオカメラ（２
４）の新たな第１の測定位置（５０）で測定する、 請求項１から２０のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２２】 テスト彫刻において、「明」と「暗」
および少なくとも１つの「中間調」の色調値に対するテ
ストインキセル（１９）を彫刻する、請求項１から２１
のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２３】 「明」と「暗」および「中間調」の色
調値に対するテストインキセル（１９）を、それぞれ隣
り合うグラビアライン（２１）上に彫刻する、請求項１
から２２のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２４】 各グラビアライン（２１）上に少なく
とも１つのテストインキセル（１９）を彫刻する、請求
項１から２３のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２５】 彫刻すべき形状値を、彫刻されたテス
トインキセル（１９）の横方向対角線、縦方向対角線、
切り通し、通路の幅またはインキセルの面積とする、請
求項１から２４のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２６】 測定座標系（４０）における通路幅
を、横断方向でたとえば通路の延び方向に対し垂直に測
定するため、ストライプ状の測定フィールド（４２）を
その長手方向に沿って配向する、請求項１から２５のい
ずれか１項記載の方法。 - 【請求項２７】 前記測定フィールド（４２）は、互い
に平行に配置された複数の測定ライン（４３）を有し、 個々の測定ライン（４３）により得られた測定結果を互
いに比較し、 測定精度を高めるため、互いに比較された測定結果が一
致したときだけ、１つの測定ライン（４３）の測定結果
を転送する、請求項１から２６のいずれか１項記載の方
法。 - 【請求項２８】 前記測定フィールド（４２）は、互い
に平行に配置された複数の測定ライン（４３）を有し、 個々の測定ライン（４３）により得られた測定結果に対
し極値選択を実行し、 最も大きい測定結果または最も小さい測定結果だけを転
送する、 請求項１から２７のいずれか１項記載の方法。 - 【請求項２９】 前記測定フィールド（４２）を、選択
されたテストインキセル（１９′）の位置偏差の測定に
も、テストインキセル（１９）の形状値の測定にも使用
する、請求項１から２８のいずれか１項記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19835303.0 | 1998-08-05 | ||
| DE19835303A DE19835303B4 (de) | 1998-08-05 | 1998-08-05 | Verfahren zur Erzeugung und Auswertung einer Probegravur |
| PCT/DE1999/002175 WO2000008842A1 (de) | 1998-08-05 | 1999-07-14 | Verfahren zur erzeugung und auswertung einer probegravur |
Publications (2)
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|---|---|
| JP2002522266A JP2002522266A (ja) | 2002-07-23 |
| JP3404486B2 true JP3404486B2 (ja) | 2003-05-06 |
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|---|---|---|---|
| JP2000564368A Expired - Fee Related JP3404486B2 (ja) | 1998-08-05 | 1999-07-14 | テスト彫刻の形成および評価方法 |
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| DE10215694A1 (de) * | 2002-04-10 | 2003-10-23 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren und Herstellen einer Druckform |
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| AT501045B8 (de) * | 2004-10-28 | 2007-02-15 | Oesterreichische Banknoten U S | Vorrichtung zum gravieren |
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|---|---|---|---|---|
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