JP3337228B2 - サンプルカットの生成及び評価方法 - Google Patents

サンプルカットの生成及び評価方法

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子的複製技術の分野に係わり、印刷版、例
えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための電子的彫刻機に
おけるサンプルカットの生成及び評価方法に関する。
電子的彫刻機において、カッティング工具として彫刻
針を有する彫刻機構が軸方向に回転印刷胴のところに沿
って運動する。彫刻制御信号により制御される印刷針は
１つの彫刻網目スクリーンにて配された凹み−インキセ
ルと称される−を印刷胴の套面内にカッティング形成す
る。彫刻制御信号は、彫刻アンプにて、画像信号値−こ
れらは、彫刻すべき“明”（白）及び暗“黒”を表す−
の周期的網目スクリーン信号（バイブレーション）重畳
により形成される。網目スクリーン信号が彫刻網目スク
リーン生成のため彫刻針の振動的ストローク運動を生じ
させるのに対し、画像信号値は、印刷胴の套面内に彫刻
されたインキセルの幾何学的寸法を規定する。
印刷版の彫刻の際彫刻されるインキセルが画像信号値
に相応するため、彫刻制御信号を校正しなければならな
い。このために、印刷版の彫刻前に、所謂サンプルカッ
トにより所定の階調値に対して試行インキセルが彫刻さ
れる、例えば階調値“明”及び“暗”に対して彫刻され
る。サンプルカット後、彫刻されるインキセルの実際寸
法が求められ、そして、試行彫刻に対して設定された階
調値を表すインキセルの幾何学的設定寸法と比較され
る。幾何学的寸法の比較により、例えば“明”“暗”及
び“バイブレーション”に対する調整セッティング値が
形成され、該調整セッティングにより、彫刻アンプは次
のように校正される即ち、事後の彫刻の際、実際に生成
されるインキセルが、適正な階調値に必要なインキセル
に相応するように校正される。
サンプルカットの後彫刻されるインキセルの幾何学的
寸法、例えば、横方向対角線、長手方向対角線、貫通連
結領域の幅及びウエブ幅を求めなければならない。
幾何学的実際寸法の検出は、以前はスケール尺度の組
込まれた、印刷胴上に載置された測定マイクロスコープ
を用いてインキセルの測定により行われた。
WO−Ａ−9419900からは、印刷胴の套面内に彫刻され
るインキセルの幾何学的実際寸法が、ビデオカメラで撮
像されたビデオスクリーン画像にて測定されるようにし
た方法が公知である。
実際上、彫刻品質を改善するため、試行インキセルの
ビデオ画像の一層より精確な評価に対する要求が提起さ
れている。
従って、本発明の課題とするところは、ビデオスクー
ン画像における試行インキセルを見出だすことが容易化
され、ひいては、彫刻された試行インキセルの幾何学的
実際寸法の自動化された精確な検出が確保されるよう
に、印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻のための
電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及び評価方
法を改良することにある。
前記課題は、請求項１の構成要件により解決される。
有利な実施形態及び発展形態がサブクレームに記載され
ている。
本発明を図１〜図４を用いて詳述する。
各図は、次の通りである。
図１は印刷版の彫刻のための電子的彫刻機の基本的実
施例を示す。
図２は、彫刻されるインキセルのビデオ画像を示す。
図３は、１つの測定帯域バンドの構成を示す。
図４は、１つの測定帯域バンド内での１つの測定区間
の自動的検出のグラフィカルな説明図である。
図５は、１つのインキセルの横方向対角線のグラフィ
カルな説明図である。
図６は１つのインキセルの長手方向対角線のグラフィ
カルな説明図である。
図７は２つのインキセルの貫通連結領域幅の測定のグ
ラフィカルな説明図である。
図８は、２つのインキセルのウエブ幅の測定のグラフ
ィカルな説明図である。
図９は、試行インキセルの彫刻測定面を有する彫刻さ
れた試行インキセルのビデオ画像を示す。
１つの印刷胴１は印刷胴駆動装置２により回転駆動さ
れる。胴１上での彫刻は、彫刻機構３を用いて行われ、
この彫刻機構は、カッティング工具として印刷針４を有
する電磁彫刻彫刻機構として構成されている。
彫刻機構３は彫刻車５上に配置されており、この彫刻
車駆動装置７により印刷胴４の軸方向に移動可能であ
る。
彫刻機構３の印刷針４は彫刻線ラインごとに回転印刷
胴１の套面内に、１つの彫刻網目スクリーン内に配され
た一連のインキセルをカッティング形成する。一方、彫
刻車５は彫刻機構３と共に送り方向に印刷胴１に沿って
移動する。
インキセルの彫刻は、図示の実施例では印刷胴１の周
りに周方向に円形状に延びる個々の彫刻線上で行われ、
ここで、彫刻車５はその１つの彫刻線のインキセルの彫
刻後毎に次の彫刻線への送りステップを実行する。その
種の彫刻方法は、例えば、米国特許第4013829号明細書
に記載されている。代替選択的に彫刻を、印刷胴の周り
にらせん状に延びる彫刻線としても行うこともでき、こ
こで、彫刻車５は、彫刻期間中連続的な送り運動を行
う。
彫刻機構３の彫刻針４は、彫刻制御信号GSにより制御
される。彫刻制御信号GSは、彫刻アンプ８にて、１つの
周期的網目スクリーン信号Ｒの、画像値Ｂとの重畳によ
り形成され、前記画像値Ｂは、彫刻すべきインキセル
“明”（白）及び“暗”（黒）を表すものである。周期
的網目スクリーン信号Ｒが彫刻網目スクリーンの生成の
ための彫刻針４のストローク運動を生じさせるのに対し
て、画像信号値Ｂは、彫刻すべて階調値に応じて彫刻す
べきインキセルのそれぞれの幾何学的寸法、例えば侵入
深度、横方向対角線及び長手方向対角線を規定する。
彫刻網目スクリーンは、網目スクリーン角度及び網目
スクリーン幅に関して、網目スクリーン信号Ｒ、印刷胴
の周速度、彫刻機構３の軸方向送りステップ幅により定
められる。
アナログ画像信号Ｂは、D/A変換器９にて彫刻データG
Dから得られ、この彫刻データGDは、彫刻データメモリ1
0内に格納され、ここから彫刻線毎に読出され、D/A変換
器９に供給される。１つのインキセルに対する各彫刻個
所には彫刻網目スクリーンにて、少なくとも１つの彫刻
データが対応付けられ、この彫刻データは、就中、
“明”と“暗”との間の彫刻すべき階調値を彫刻情報と
して含み、ここで、例えば階調値“明”には彫刻データ
GD＝161が対応付けられ、階調値“暗”には彫刻データG
D＝１が対応付けられる。
印刷胴１には、XY座標系が配属されており、このXY座
標系のＸ軸は印刷胴１の軸方向に、そして、それのＹ軸
は、印刷胴１の周方向に配向されている。網目スクリー
ンにて配された、印刷胴１上の彫刻個所のＸ位置座標−
これは印刷胴１に関する彫刻機構３のインキセル４の軸
方向位置を規定する−は、彫刻車駆動部７により生ぜし
められる。印刷胴駆動部２に機械的に連結された位置発
信器には、相応のＹ位置座標を生じさせ、該Ｙ位置座標
は、彫刻機構３の彫刻針４に対する回転印刷胴１の相対
的周囲位置を規定する。彫刻個所の位置座標（X,Y）
は、線路12,13を介して制御装置14に供給される。
制御装置14は、線路15を介しての実際の彫刻個所のXY
位置座標に依存しての彫刻データメモリ10からの彫刻デ
ータの読出及びアドレッシングを制御する。更に、線路
16にて網目スクリーン信号Ｒを、彫刻網目スクリーンの
生成に必要な周波数で発生し、線路17上で彫刻車駆動部
７への制御命令S1を必要な送りステップ幅の調整セッテ
ィングのため、そして、彫刻中の彫刻機構３の連続的
に、又は、歩進的送りの制御のため発生し、線路18上で
印刷胴駆動部２へさらなる制御命令S2を、彫刻網目スク
リーンの制御に必要な印刷胴１の周速度の調整セッティ
ングのため発生する。
印刷版の本来の彫刻前サンプルカットの実施のため彫
刻機は、コンピュータ19を有し、該コンピュータ19は、
試行インキセルの彫刻に必要な彫刻データGD＊をD/A変
換器９に供給する。各彫刻データGD＊は、１つの試行イ
ンキセルの所定の設定階調値、ないし相応する幾何学的
プリセット設定値、例えば試行インキセルの設定横方向
対角線又は長手方向対角線を表す。
サンプルカットの際彫刻される試行インキセルの測定
のため、試行インキセルのビデオ画像の撮像のためのビ
デオカメラ21を有する印刷胴１の軸方向に移動可能な測
定車20及び線路22を介してビデオカメラ21に連結された
画像評価段23−これはビデオカメラ内に統合化してもよ
い−が、ビデオ画像における試行インキセルの測定のた
め設けられている。測定車21を使用するのが有利である
のは、殊にそれにより、それぞれ１つの彫刻機構３を以
て複数の彫刻系統ラインを彫刻できる多チャネル彫刻機
構においてである。この場合において、各彫刻系統ライ
ンに対して、１つの相応のサンプルカットを実施しなけ
ればならない。測定車20を、自動的にスピンドル24を介
して、測定車駆動部25により個々の彫刻系統ラインにお
ける所要の軸方向位置へ動かし得る。測定車駆動部25
は、線路26上の制御命令S3により制御装置14から制御さ
れる。
代替選択的にビデオカメラ21を彫刻機構３の領域内に
設けることもできる。ここで、ビデオ画像の撮像を例え
ば光伝送ケーブルを介して行い得る。
コンフィギュレーションメモリ27は試行インキセルの
彫刻及び測定に必要な、プリセット値を線路28を介して
はコンピュータ19へ供給し、線路28を介しては画像評価
段23へ供給する。測定結果は幾何学的実際値として画像
評価段23からコンピュータ19へ伝送される。コンピュー
タ19では、所定の幾何学的設定値と測定された実際値の
比較により、彫刻アンプの校正のための調整セッティン
グ値が得られ、この調整セッティング値は、線路21を介
して彫刻アンプ８に供給される。求められた調整セッテ
ィング値により彫刻アンプ８は次のように校正される、
即ち、印刷胴の事後の彫刻の際形成されるインキセルが
適正な階調値での彫刻に必要なインキセルに相応するよ
うに校正される。
彫刻針８の校正を自動的に印刷版の彫刻前に、又は印
刷版の彫刻中オンラインで行い得る。彫刻アンプ８の校
正を次のように手動的に実施することもできる、即ち、
コンピュータ19が求められた調整セッティング値をたん
に指示し、この調整セッティングを手動的に彫刻アンプ
に伝達するのである。
試行インキセルの彫刻のため、コンピュータ19は、例
えば、設定階調値“暗”（GD＊＝１）、“明”（GD＊＝
161）及び“明”と“暗”との間の中間階調値に対する
彫刻データ（GD＊）を呼出す。呼出された彫刻データ
（GD＊）は、彫刻機構３に対する彫刻制御信号GSに変換
される。彫刻機構３は彫刻網目スクリーンにて、相並ぶ
彫刻線32上で“明”（Ｌ）、“暗”（Ｔ）及び“中間階
調”（Ｍ）に対する少なくとも１つの“試行インキセ
ル"33を彫刻する。有利には、各彫刻線32上にて、複数
の同じ試行インキセル33が、例えば、選択可能な彫刻線
領域に亘って、彫刻される。横方向対角線及び長手方向
対角線のほかにウエブ幅をも検出しようとする場合、
“暗”に対する試行インキセル33を、少なくとも２つの
相並ぶ彫刻線32上で彫刻しなければならない。１つの相
応のサンプルカットを各色分解版に対して、ないし各彫
刻網目スクリーンに対して実施しなければならず、ここ
で、網目スクリーン角度及び網目スクリーン幅のような
種々のパラメータが、コンフィギュレーションメモリ27
内に格納されている。
サンプルカットの後、ビデオカメラ21は、彫刻された
試行インキセル33のビデオ画像を撮像する。試行インキ
セル33の撮像を印刷胴１の停止状態にて、又は印刷胴１
の回転状態のもとで相応の同期化を以て行い得る。
撮像されたビデオ画像を用いての画像評価段23におけ
る彫刻されたインキセル33の幾何学的パラメータの測定
について以降詳述する。
図２は、彫刻された試行インキセル33の、ビデオカメ
ラ21により撮像されたビデオ画像35を示す。図示されて
いるのは、水平及び垂直彫刻線からなる直交彫刻網目ス
クリーンであり、ここで垂直の彫刻線は彫刻線32であ
る。３つの相並ぶ彫刻線32上には、例えば“明”
（Ｌ）、“暗”（Ｔ）及び中間階調値（Ｍ）で彫刻され
たインキセル33が示してある。試行インキセルの重心
は、彫刻網目スクリーンの彫刻線の交点上に位置する。
確実な評価を確保するため、ビデオ画像の大きさは、次
のように選定されている、即ち、各設定階調値に対して
少なくとも１つの完全な試行インキセル33がビデオ画像
35内に位置するように選定されている。
ビデオ画像35は、多数のパイクセル36からなり、多数
のパイクセル36の位置は、ビデオ画像中XY測定系の位置
座標（Ｘ＊、Ｙ＊）により規定され、XY測定系の位置座
標（Ｘ＊、Ｙ＊）は、同様に印刷胴１の軸方向及び周方
向に配向されている。各パイクセル36にはそれぞれのグ
レー値を表す、例えば８ビットのビデオデータVDが対応
付けられており、その結果“黒”（VD＝０）と“白”
（VD＝255）との間に全部で254のグレー段階を区別し得
る。グレー値をフィルタリングにより、又は、限界値を
用いて、２つの値へ低減できる、即ち、例えば印刷胴１
の套面に来るパイクセルにはビデオデータVD＝０が対応
付けられ、試行インキセル33の面上に位置するパイクセ
ルにはビデオデータvD＝１が対応付けられるのである。
ビデオ画像35における試行インキセルの幾何学的パラ
メータの測定のため、ビデオ画像35に亘り移動可能な少
なくとも１つの測定フィールドが画定される。測定フィ
ールドは、実施例中縞状に構成されており、以下測定帯
域バンドと称され、この測定帯域バンドの長手方向拡が
りは、少なくとも２つの彫刻線相互間の間隔に等しい。
“明”、“暗”及び“中間階調”に対する試行インキセ
ル33の測定は、相次いで１つの測定帯域39又はそれぞれ
１つの別個の測定帯域39を以て行い得る。
測定帯域39は、ビデオ画像35間で選択可能な測定個所
40上で移動され、XY測定系37に関して１つの任意の方向
に配向され得る。ここで、測定個所40として、例えば測
定帯域39の中心点が規定されている。
試行彫刻前に試行インキセル33のうちの１つが基準イ
ンキセルとして選択され、その中心点がビデオ画像35間
で所望の測定個所40上で測定帯域39の位置定めのため基
準点41とするものである。有利には、基準点41として、
中心点としては１つの中間階調値Ｍに対する試行インキ
セルが選ばれる。
測定帯域39に対する測定個所40の確定は、各色分解版
に対する彫刻網目スクリーンの幾何学的関係に依存して
の、基準個所41からの座標的間隔（△Ｘ＊、△Ｙ＊）の
設定により行われる。基準個所41からの所定の間隔（△
Ｘ＊、△Ｙ＊）及び測定帯域39の所望の配向をコンフィ
ギュレーションメモリ27間に記憶し得る。
試行インキセル33は、彫刻線32上に位置するので、基
準個所41からの測定帯域39の、Ｘ方向での間隔△Ｘ＊
は、彫刻線間隔又は彫刻線間隔の倍数に等しい。これに
対して、Ｙ方向での基準個所41からの間隔△Ｙ＊は、何
を測定すべきかに依存する。
最大の横方向対角線（dQmax）又は任意の横方向対角
線（dQ）の測定のため、即ち、Ｘ方向（送り方向）での
インキセル面の拡がりの測定のため、測定帯域39はそれ
の長手方向拡がりがＸ方向に配置される。最大の横方向
対角線dQmaxの測定のため、基準個所41からの間隔△Ｙ
＊は零で、Ｙ方向で網目スクリーン幅に等しいか、又は
網目スクリーン幅の倍数に等しい。任意の横方向対角線
dQの測定のため、Ｙ方向での基準個所からの相応の中間
間隔が設定される。Ｘ方向での基準個所41からの測定帯
域39の間隔△Ｘ＊は、２つの場合において零で、彫刻線
間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍数に等しい。
最大の長手方向対角線dLmax又は任意の長手方向対角
線dLの測定のため即ち、Ｙ方向（周方向）でのインキセ
ル面の拡がりの測定のため、測定帯域39は、それの長手
方向拡がりＹ方向に配向される。
貫通領域dDSの測定のため、即ち、１つの彫刻線上に
て彫刻される２つのインキセルを結ぶＸ方向での彫刻チ
ャネルの幅の測定の長手方向拡がりがＸ方向に配向され
る。Ｘ方向での基準個所41からの測定帯域39の間隔△Ｘ
＊は、零で彫刻線間隔に等しいか、又は彫刻線間隔の倍
数に等しい。Ｙ方向での基準個所p41からの間隔△Ｙ＊
は、Ｙ方向で零で網目スクリーン幅に等しいか、又は網
目スクリーン幅の倍数に等しい。
ウエブ幅dSBの測定のため、即ち、隣接する彫刻線上
で彫刻される２つの深いインキセル間に残っている材料
の幅の測定のため、測定帯域39は、有利に次のように回
転される、即ち、それの長手方向拡がりがウエブの延在
方向に対してほぼ垂直方向に配向されるように回転され
る。
測定帯域39は少なくとも１つの測定行ライン、有利に
は相互に並行に延びる複数の測定行ラインからなり、各
測定行ラインは複数のパイクセルを有し、それらのパイ
クセルの相互間隔は１つの長さインクリメントを表す。
従って、１つの測定区間でのパイクセル36のカウントに
より、測定区間の長さを長さインクリメントの倍数とし
て測定できる。
図3aは、14のパイクセル36を有する１つの測定行ライ
ン39'から成る１つの測定帯域39の構成を示す。
図３は、それぞれ14のパイクセル36を有する相互に並
行に延びる３つの測定行ライン39'から成る１つの測定
帯域39の構成を示す。
既述のように、インキセル面、ウエブ又は貫通領域の
縁が撮像されたビデオ画像35において１つの輪郭を形成
する。従って、横方向対角線、長手方向対角線ウエブ幅
及び貫通領域に対する測定区間が相応する輪郭の相互間
の間隔により定まる。
横方向対角線、長手方向対角線、ウエブ幅及び貫通領
域幅に対する測定区間の端点は、有利に測定帯域39を用
いて２つの隣接する輪郭の自動的識別により求められ、
ここで、１つの測定行ライン39′の各２つの順次連続す
るパイクセル36のビデオ画像VDは輪郭移行部について調
べられるようにするのである。
図４は、１つの測定行ライン39′及び相互間隔をおか
れた２つの輪郭線43を有する１つの測定帯域39を示す。
更に、個々のパイクセル36に配属されたビデオデータVD
が示してあり、ここで、輪郭線43は、“0"から“1"へ、
そして“1"から“0"への移行により表示されている。相
互の輪郭識別により、測定区間44の端点が求められ、こ
の測定区間44は、図示の場合では８パイクセルの長さで
ある。
そこにて、隣接するパイクセル36のビデオデータVDが
自動的輪郭識別のため調べられる順序が何を測定すべき
かに依存する。横方向対角線dQ又は長手方向対角線dLの
測定の場合、ビデオデータVDは有利に１つの測定行ライ
ン39′の中央から、即ち１つのインキセル面の中央から
縁まで調べられる。
これに対して、貫通領域幅dDS又はウエブ幅dSBの測定
の場合１つの測定行ライン39′の端点から中央までビデ
オデータVDを調べると有利である。
図５は、Ｘ方向に配向された測定帯域39と共に１つの
試行インキセル33の最大の横方向対角線dQmaxの測定の
様子を示し、ここで、測定区間44の端点は、試行インキ
セル33の輪郭43により測定される。
図６は、Ｙ方向に配向された測定帯域39と共に試行イ
ンキセル33の最大の長手方向対角線dLmaxの測定の様子
を示す。
図７は、階調値“暗”に対して１つの彫刻線32上で相
並んで彫刻される２つの試行インキセル33の貫通領域d
DSの測定の様子をＸ方向に配向された測定帯域39と共に
示す。
図８は、彫刻線32に対して横方向に配向された測定帯
域39と共に、相並んで彫刻される２つの試行インキセル
33のウエブ幅の測定の様子を示す。
識別及び測定確実性の増大のため、及び最小ないし最
小長さ及び面の測定のため、有利に、多数の測定行ライ
ン39′を有する測定帯域39が使用される。
識別−及び測定確実性を次のようにして改善し得る、
即ち、各測定行ライン39′の測定結果が相互に比較さ
れ、一致した場合のみ転送されるのである。最大及び最
小の長さの検出のため、個々の測定行ライン39′の測定
結果が極値選択を施される。横方向対角線dQ及び長手方
向対角線dLの測定の際有利には最大選択が実施され、ウ
エブ幅dSB及び貫通領域幅dDSの測定の場合は最小選択が
実施される。１つのインキセル面の測定のため、個々の
測定行ライン39′の測定結果が加算される。
本発明の有利な発展形態では測定確実性のさらなる改
善のため、ビデオ画像35の評価の際、各施行インキセル
33−それの最大横方向対角線dQmax又は長手方向対角線d
Lmaxが測定される−の周りに、付加的な所定の測定面45
がセッティングされ、前記所定の測定面45の相応の施行
インキセル33のインキセル面に相応する。測定帯域39の
大きさは、測定面45の大きさに適合され、その結果測定
面45内のすべてのパイクセル36が測定帯域39により捕捉
され得る。
その場合測定帯域39により当該の施行インキセル33の
インキセル面が複数のパイクセル33として求められ、こ
こで、そのようにパイクセル面を求めるため、測定帯域
39の各測定行ライン39′にてカウントされた数のパイク
セル36が加算される。
測定帯域39を以て測定された施行インキセルの最大横
方向対角線dQmax又は長手方向対角線dLmaxから、当該の
試行インキセル33のインキセル面が計算される。試行イ
ンキセルの計算されたインキセル面と測定されたインキ
セル面との一致性が検出されない場合、試行インキセル
33の最大横方向対角線dQmax又は長手方向対角線dLmaxに
対して測定結果は無効化される。
図９は、彫刻された試行インキセル33のさらなるビデ
オ画像35を示す。階調値“明”に対する試行インキセル
33′のインキセルの周りに測定面45′が画定されてい
る。階調値“暗”に対する試行インキセル33″のインキ
セル面の周りに相応に一層大きな測定面45″が画定され
ている。代替選択的に、試行インキセル33の測定のため
測定面45″のたんに１つの部分測定面を使用することも
できる、例えば、半分の測定面45″に相応する部分測定
面46,又は測定面45″の1/4に相応する部分測定面47を使
用することもできる。個々の部分測定面46,47にて求め
られた面成分から、全インキセル面を計算でき、ここで
考慮すべきことは、面重心に対して対称的、又は非対称
的面成分が問題となっているということである。
本発明の方法のさらなる発展形態では、ビデオ画像35
内にて基準個所41ないし選ばれた基準インキセルが、当
該の選ばれた基準インキセルのインキセル面の特性的大
きさを用いて求められる。
このために選ばれたインキセルのインキセル面が設定
される。次いでビデオ画像35にて、すべての試行インキ
セルのインキセル面が個々のパイクセル36のビデオデー
タVDの評価により検出され、その都度選ばれた基準イン
キセルのインキセル面と比較される。基準インキセル、
ひいては、基準個所41は、面の一致性が検出されると識
別される。
代替選択的ビデオ画像35より小さい識別窓を画定でき
る。この場合において、識別窓は、歩進的にビデオ画像
35に亘って移動され、ここで、各窓位置にて相応の面比
較が実施される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−108666（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−32571（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−191001（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−98848（ＪＰ，Ａ) 特表 平９−502936（ＪＰ，Ａ) 特表 平８−507722（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B41C 1/02 - 1/05

Claims (27)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】印刷版、例えば凹版印刷用の印刷版の彫刻
    のための電子的彫刻機におけるサンプルカットの生成及
    び評価方法において、 “明”（白）と“暗”（黒）との間の彫刻すべき規定−
    階調値を示す彫刻データ（GD）と周期的網目スクリーン
    信号（Ｒ）とから、彫刻網目スクリーンの生成のため彫
    刻機構（３）の彫刻針（４）の制御のための彫刻制御信
    号（GS）を形成し、 彫刻針（４）により、彫刻線ラインごとに彫刻網目スク
    リーン内に配されるインキセルを彫刻形成し、前記イン
    キセルの幾何学的パラメータは、彫刻される実際値−階
    調値を規定するものであり、 印刷胴（１）の面状の彫刻のため彫刻機構（３）は、印
    刷胴（１）の軸方向に向けられた送り運動を行なうよう
    にし、 印刷胴（１）の本来の彫刻前に行われる試行彫刻の際所
    定の規定−階調値に対して施行インキセル（33）を彫刻
    し、 試行彫刻の際彫刻された試行インキセル（33）により１
    つのビデオ画像（35）を生成し、 彫刻された試行インキセル（33）の幾何学的パラメータ
    を測定し、所定の設定階調値を規定する幾何学的パラメ
    ータと比較し、 当該の比較により調整セッティング値を導出し、前記の
    調整セッティング値により、彫刻制御信号が校正され、
    ここで、彫刻された実際−階調値が彫刻すべき設定階調
    値に相応するようにした当該のサンプルカットの生成及
    び評価方法において、 撮像されたビデオ画像（35）にて、当該のビデオ画像に
    対応付けられたXY測定系（37）における基準位置個所
    （41）として所定の設定階調値のうちの１つに対するイ
    ンキセル（33）を選択し、 彫刻網目スクリーンの網目スクリーンパラメータに依存
    して、ビデオ画像（35）における試行インキセル（33）
    の幾何学的パラメータの測定のため測定位置個所（40）
    を選択された基準位置個所（41）に対する座標上の間隔
    （△Ｘ、△Ｙ）として確定し、 試行インキセル（３）の幾何学的パラメータを確定され
    た測定位置個所（40）にてビデオ画像（35）の評価によ
    り測定するようにしたことを特徴とするサンプルカット
    の生成及び評価方法。
  2. 【請求項２】試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び
    少なくとも１つの“中間階調”に対する試行インキセル
    （33）を彫刻することを特徴とする請求項１記載の方
    法。
  3. 【請求項３】試行彫刻の際設定階調値“明”“暗”及び
    少なくとも１つの“中間階調”に対する試行インキセル
    （33）を、それぞれ隣接する彫刻線ライン（32）上で彫
    刻することを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
  4. 【請求項４】各彫刻線ライン（32）上で、試行インキセ
    ル（33）を１つの彫刻線ライン領域に亘って彫刻するこ
    とを特徴とする請求項１から３までのうちいずれか少な
    くとも１項記載の方法。
  5. 【請求項５】基準位置個所（41）として、彫刻される試
    行インキセル（33）の面中心点を選択することを特徴と
    する請求項１から４までのうちいずれか少なくとも１項
    記載の方法。
  6. 【請求項６】基準位置個所（41）として、設定階調値
    “中間階調”に対する、彫刻される試行インキセル（3
    3）の面中心点を選択することを特徴とする請求項１か
    ら５までのいずれかうち少なくとも１項記載の方法。
  7. 【請求項７】試行インキセルの測定すべき幾何学的パラ
    メータは、彫刻される試行インキセル（33）の横方向対
    角線、長手方向対角線、貫通連結領域、ウエブ幅又はセ
    ルの面積であるようにしたことを特徴とする請求項１か
    ら６までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。
  8. 【請求項８】ビデオ画像（35）をパイクセル（36）に細
    分化し、 ビデオ画像（35）に亘り確定された測定位置個所（40）
    上へ移動可能な測定フィールド（39）を、試行インキセ
    ルの幾何学的パラメータの測定のため生じさせ、 測定フィールド（39）は、複数のパイクセル（36）を有
    する少なくとも１つの測定行ライン（39′）を有し、前
    記の測定行ラインの相互間隔は、長さインクリメントを
    表すものであり、 ビデオ画像（35）中で１つの測定区間（44）の相当する
    測定行ライン（39′）のパイクセルの数を計数し、 測定区間（44）の長さを、長さの増分（インクリメン
    ト）の倍数として求めることを特徴とする請求項１から
    ７までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。
  9. 【請求項９】ビデオ画像（35）における測定区間（44）
    を１つの試行インキセル（33）に所属する２つの輪郭の
    間隔により確定することを特徴とする請求項８記載の方
    法。
  10. 【請求項１０】試行インキセル（33）の輪郭（43）をビ
    デオ画像（35）の自動的評価により識別することを特徴
    とする請求項８又は９記載の方法。
  11. 【請求項１１】試行インキセル（33）の輪郭（43）を測
    定帯域バンド（39）の少なくとも１つの測定行ライン
    （39′）を用いて識別することを特徴とする請求項８か
    ら10までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。
  12. 【請求項１２】ビデオ画像（35）の各パイクセルに１つ
    のビデオデータ（VD）を対応付け、前記ビデオデータ
    （VD）は、当該のパイクセル（36）が１つの試行インキ
    セルの構成部分であるか、又はそうでないかを表示する
    ものであり、 測定行ライン（39′）の各２つの順次連続するパイクセ
    ル（36）のビデオデータ（36）を変化に関して調べ、 ビデオデータ（VD）の検出された変化を輪郭（43）とし
    て識別することを特徴とする請求項８から11までのうち
    いずれか少なくとも１項記載の方法。
  13. 【請求項１３】ビデオデータ（VD）の検査チェックを、
    測定行ライン（39′）の中央から端部までの横方向対角
    線及び長手方向対角線の輪郭（43）の識別のため行うこ
    とを特徴とする請求項12記載の方法。
  14. 【請求項１４】ビデオデータ（VD）の検査チェックを、
    測定行ライン（39′）の中央から端部までの貫通連結領
    域及びウエブ幅の識別のため行うことを特徴とする請求
    項12又は13記載の方法。
  15. 【請求項１５】測定フィールド（39）の中心点を測定個
    所位置（40）として規定することを特徴とする請求項１
    から14までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。
  16. 【請求項１６】“明”、“暗”及び“中間階調”に対す
    る試行インキセルにそれぞれ１つの別個の測定帯域バン
    ド（39）を対応付けることを特徴とする請求項８から15
    までのうちいずれか少なくとも１項記載の方法。
  17. 【請求項１７】測定フィールド（39）を縞状の測定帯域
    バンドとして構成し、 測定帯域バンド（39）の長手方向拡がり寸法の大きさを
    少なくとも、２つの彫刻線ライン（32）の相互間隔であ
    るようにしたことを特徴とする請求項16記載の方法。
  18. 【請求項１８】測定帯域バンド（39）は測定位置個所
    （40）にてそれの長手方向拡がり寸法がXY測定系（37）
    に関して任意の方向に、配向されるようにしたことを特
    徴とする請求項16又は17項記載の方法。
  19. 【請求項１９】測定帯域バンド（39）は、それの長手方
    向拡がり寸法が、XY測定系（37）のＸ方向（送り方向）
    に、横方向対角線及び貫通連結領域の測定のため配向さ
    れるようにしたことを特徴とする請求項16から18までの
    うちいずれか１項記載の方法。
  20. 【請求項２０】測定帯域バンド（39）は、それの長手方
    向拡がり寸法が、XY測定系（37）のＹ方向に、長手方向
    対角線の測定（周方向）の測定のため配向されるように
    したことを特徴とする請求項16から19までのうちいずれ
    か１項記載の方法。
  21. 【請求項２１】測定帯域バンド（39）は、それの長手方
    向拡がり寸法がXY測定系（37）にてウエブ幅の測定のた
    めウエブの延在方向に対して横断方向、例えば垂直方向
    に配向されることを特徴とする請求項16から20までのう
    ちいずれか１項記載の方法。
  22. 【請求項２２】測定帯域バンド（39）に相互に並行に配
    された複数の測定行ライン（39′）を設け、 個々の測定行ライン（39′）により得られた測定結果を
    相互に比較し、 １つの測定行ライン（39′）の測定結果を、相互に比較
    される測定結果の一致の際のみ測定確実性の増大のため
    転送することを特徴とする請求項16から21までのうちい
    ずれか１項記載の方法。
  23. 【請求項２３】測定帯域バンド（39）に相互に並行に配
    された複数の測定行ライン（39′）を設け 個々の測定行ライン（39′）により得られた測定結果か
    ら極値を選択し、 前記測定結果のうち最大又は最小値を転送するようにし
    たことを特徴とする請求項16から22までのうちいずれか
    １項記載の方法。
  24. 【請求項２４】測定帯域バンド（39）に、相互に並行に
    配された測定行ライン（39′）を設け、 個々の測定行ライン（39′）により得られた測定結果
    を、セルの面積の大きさの検出のため加算し、 和を測定結果として転送することを特徴とする請求項16
    から23までのうちいずれか１項記載の方法。
  25. 【請求項２５】測定帯域バンド（39）を用いて、１つの
    試行インキセル（33）の最大の横方向対角線又は長手方
    向対角線を測定し、 測定された最大の横方向対角線又は長手方向対角線か
    ら、当該の試行インキセル（33）のセルの面を計算し、 測定帯域バンド（39）を用いて、当該の試行インキセル
    （33）のインキセルの面積を測定し、 測定された、そして、計算されたインキセルの面積を相
    互に比較し、 最大の横方向対角線又は長手方向対角線に対する測定結
    果を、測定された、そして、計算されたインキセルの面
    積の一致の際転送することを特徴とする請求項16から24
    までのうちいずれか１項記載の方法。
  26. 【請求項２６】基準位置個所（41）であるべき試行イン
    キセル（33）をビデオ画像（35）にて自動的に求めるこ
    とを特徴とする請求項１から25までのうちいずれか１項
    記載の方法。
  27. 【請求項２７】基準位置個所（41）として選ばれた試行
    インキセル（33）のセルの面積を設定し、 ビデオ画像（35）にて、すべての試行インキセル（33）
    のインキセルの面積をビデオデータ（VD）を用いて検出
    し、 試行インキセル（33）の検出されたインキセルの面積を
    所定のインキセルの面積と比較し、 それの測定されたインキセルの面積が所定のインキセル
    の面積と一致する試行インキセル（33）を基準位置個所
    （41）としてマーキングすることを特徴とする請求項１
    から26までのうちいずれか１項記載の方法。
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