JP2000510979A

JP2000510979A - コインテスト装置および方法

Info

Publication number: JP2000510979A
Application number: JP09541928A
Authority: JP
Inventors: パンゼリ，エジオ; アル―ハシエミ，ブルハン
Original assignee: パンゼリ，エジオ; アル―ハシエミ，ブルハン
Priority date: 1996-05-21
Filing date: 1997-05-17
Publication date: 2000-08-22
Also published as: BR9709010A; EP0996098A2; NZ331979A; EP0900431A1; EP0900431B1; EP0996098A3; GB9819877D0; ZA974389B; DE69703103T2; GB9610603D0; WO1997044760A1; ES2150766T3; GB2327136A; HK1018919A1; DE69703103D1; CA2255642A1; TW352426B; CA2255642C; ATE196378T1; AR008601A1

Abstract

(57)【要約】レーザビーム（１３）がコイン（４）の表面上へ向けられレーザ検出器（３）を使用してコインによりレーザビームが遮られる所および遮られない所を検出して、コイン表面の１つの特徴の表示を得るコインテスト方法が提供される。コインの特徴はコインを識別するのに使用される。本発明はコインテスト装置にも関連しており、それはコイン（４）の表面上へレーザビーム（１３）を向けるレーザ源（１１）と、コインによりレーザが遮られる所および遮られない所を検出するレーザ検出器（３）と、レーザ検出器（３）の出力からコインを識別するのに使用されるコイン表面の１つの特徴の表示を得る信号処理装置（１４）とを含んでいる。

Description

【発明の詳細な説明】コインテスト装置および方法本発明はコインテスト装置およびコイン識別方法に関する。コインテストシステム、すなわちコイン鑑定機が、例えば、自動販売機や電話機において異なるコインを識別し鑑定するのに使用されている。例えば、自動販売機、公衆および構内電話機等のさまざまな目的に使用されるさまざまな電気機械および電磁コイン鑑定機がある。このような鑑定機は、例えば、空港、鉄道の駅、ギャンブル機械、産業、学校、病院、ホテル、もしくはオフショアプラットホーム等において多種の自動販売機やスロットマシンに使用することができる。自動販売機や電話機で作動するこのようなコイン鑑定機は、一般的に鑑別できる異なるコインの種類が非常に限定されている。発明の要約本発明の第１の特徴に従って、コインの表面へレーザビームが向けられレーザ検出器を使用してコインによりレーザが遮られる所および遮られない所が検出されて、コイン表面の寸法的特徴の表示を得るようにする、コインテスト方法が提供される。コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出することができる。コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出することができる。ビームはストリップ、もしくはその一部を次々に走査することができる。ビームは扇状として前記全てのすなわち各ストリップもしくはその一部に同時に入射することができる。レーザ検出器は、各々が個別にレーザ放射を検出できる、沢山の横に並べたピクセルを含むことができる。好ましくは、ビームは静止しておりコインがビームを通過する。コインはビームを通過する時に回転することができる。コインはビームを通過する時に案内に沿って移動することができる。コインはビームを通過する時に自由落下することができる。前記各ストリップの一端はコインの縁とし、他端はコインの縁ではない所定位置とすることができる。コインの縁に第２のレーザビームを向けてコインの縁および／もしくは厚さの１つの特徴を決定することができる。コイン縁の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴を決定すなわち検出することができる。コイン縁の所定距離内の溝および／もしくは隆起数をカウントすることができる。最初に述べたレーザビームから２次レーザビームを引き出すことができる。最初に述べたレーザビームの一部を転向させるプリズムにより最初に述べたレーザビームから２次レーザビームを引き出すことができる。好ましくは、コインとレーザの遮断点において、コインはレーザビームに絶対的に直交する。コインとレーザの遮断点において、レーザビームは実質的にレーザ放射の薄い平面状とすることができる。本発明の第２の特徴に従って、コインテスト装置が提供され、コイン表面上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザがコインにより遮られる所および遮られない所を検出するように適合され配置されたレーザ検出器と、コイン表面の寸法的特徴の表示をレーザ検出器の出力から得るように適合され配置された信号処理装置とを含んでいる。好ましくは、本装置はコイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている。本装置はコイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するように適合することができる。ビームは前記ストリップ、もしくはその一部を、次々に走査するようにすることができる。ビームは扇状として前記全てのすなわち各ストリップもしくはその一部に同時に入射するようにすることができる。好ましくは、レーザ源従ってビームは静止され装置はコインにビームを通過させるようにされる。本装置はビームを通過する時にコインがそれに沿って移動する案内を含むことができる。本装置は、使用時に、コインは自由落下してビームを通過するようにすることができる。使用時に、前記各ストリップの一端はコイン縁とし他端はコインの縁ではない所定位置とすることができる。本装置はコイン縁へ第２のレーザビームを向ける手段と、コインにより第２のビームが遮られる所を検出する手段と、そこからコインの縁および／もしくは厚さの１つの特徴を決定する手段とを含むことができる。本装置は最初に述べたレーザビームから第２のレーザビームを引き出す手段を含むことができる。最初に述べたレーザビームから第２のレーザビームを引き出す手段は最初に述べたレーザビームの一部を転向させるプリズムを含むことができる。レーザ検出器は、各々が個別にレーザ放射を検出することができる、多数の横に並べたピクセルを含むことができる。本発明の第３の特徴に従って、コインテスト装置が提供され、それは、コイン上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザがコインにより遮られる所および遮られない所を検出するように適合され配置されたレーザ検出器と、レーザ源とレーザ検出器との間を通過するレーザビームの一部をコインが遮ることができる特定経路に沿ってコインを移動できるように配置されたコイン案内と、レーザ検出器の出力を得るように適合され配置された信号処理装置とを含み、レーザビームの遮られる割合によりコインの幾何学的寸法の少なくとも１つの測度（大きさ、メジャー）が提供され、コインの前記測度をいくつかの既知のコインの対応する測度と比較することによりコインが識別される。少なくとも１つの測度は前記コインの表面上の幾何学的寸法により構成しもう１つの測度は前記コインの厚さにより構成して、表面および厚さの前記測度を前記いくつかの既知のコインの対応する測度と比較することができる。ある範囲の幾何学的寸法を反復測定して前記コインの表面領域の積分面積測定値を与えることができ、前記コインの前記面積測定値を前記いくつかの既知のコインの対応する面積測定値と比較することにより前記コインを識別することができる。コイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴を決定するすなわち検出することができる。コイン縁上の所定距離内の溝および／もしくは隆起の数をカウントすることができる。前記コインの幾何学的寸法の測度（大きさ、メジャー）、および前記いくつかの既知のコインの前記対応する大きさは全て前記各コインの直径もしくは、不規則な形状のコインの場合には、最大断面よりも小さいコインの測定値に関連することができる。前記レーザ源および前記レーザ検出器間を通過するレーザビームはその間を遠回りの非直接的ルートを介して進むことができる。レーザビームは１個以上のミラーやプリズムにより前記遠回りの非直接的ルートに沿って指向させることができる。経路は下部境界を有する通路を含み、それに沿って前記コインはその周縁を前記通路の前記下部境界により支持されながら装置内を進むことができる。レーザ源は、前記通路内の前記コインの主面に実質的に直交して、前記通路の一部の一方側から他方側へレーザビームを向けて、前記コインが前記通路の前記部分を通過する時にその上部領域によりレーザビームが遮られるように搭載することができる。レーザ検出器は、各々がレーザ放射を個別に検出することができる、多数の横に並べたピクセルの線形アレイを含むことができる。アレイは前記主面に実質的に平行にかつ通路の前記部分に沿った前記コインの進行方向を横切って延びることができ、前記いくつかのコインの最小直径よりも小さい第１の距離だけ前記下部境界から間隔がとられた下端、および前記いくつかのコインの最大直径よりも大きい第２の距離だけ前記下部境界から間隔がとられた上端を有することができ、前記レーザ検出器は通路の前記部分に沿って進むコインにより、複数の連続するサンプリング時点において、前記レーザビームが遮断される前記ピクセル数によって決まる出力を発生するように作動することができ、前記出力を所定の基準データレコードと比較してそれらのレコードのしずれが前記出力に対応するかを確認することができる。コインは遮断点において前記レーザビームに絶対的に直交するように前記経路に沿って進むことができる。好ましくは、前記コインにより遮られるレーザビームは遮断点において実質的にレーザ放射の薄い平面状である。本発明の第４の特徴に従って、コインテスト装置が提供され、それは、下部境界を有するコイン通路を定めるコイン案内であって、コインは前記下部境界によりその周縁を連続的に支持されながらそれに沿って装置内を通過することができるコイン案内と、通路内のコインの主面に実質的に直交して前記通路の一部の一方側から他方側へレーザビームを向けて、前記コインが前記通路の前記部分を通過する時にその上部領域によりレーザビームが遮られるように搭載されるレーザ源と、通路の前記部分の前記他方側にレーザ受光位置の線形アレイを含むレーザ検出器であって、前記アレイは前記主面に実質的に平行に延びかつ通路の前記部分に沿ったコインの進行方向を横切り、装置で使用されるいくつかのコインの最小径よりも小さい第１の距離だけ前記下部境界から間隔がとられた下端および前記いくつかのコインの最大径よりも大きい第２の距離だけ前記下部境界から間隔がとられた上端を有し、前記レーザ検出手段は通路の前記部分に沿って進むコインにより、複数の連続するサンプリング時点において、前記レーザビームが遮断される前記レーザ受光位置の数によって決まる出力を発生するように作動することができ、前記出力を所定の基準データレコードと比較してそれらのレコードのいずれが前記出力に対応するかを確認することができるレーザ検出器と、を含んでいる。本装置は２個以上のレーザ源および２個以上のレーザ検出器を含むことができる。本発明の第５の特徴に従って、コイン識別方法が提供され、それは、ｉ）レーザ放射源とレーザ検出器との間を通るレーザビームの一部を遮るように特定経路に沿ってコインを進めるステップと、 ii）前記コインの幾何学的寸法の少なくとも１つの測度を確認する手段として、前記レーザビームの遮断される部分を測定するステップと、 iii）前記コインを識別するために、前記コインの前記測度をいくつかの既知のコインの対応する測度と比較するステップと、を含んでいる。少なくとも１つの測度は前記コインの表面上の幾何学的寸法により構成することができ、前記方法はさらに前記測度を前記いくつかの既知のコインの対応する測度と比較するために、前記コインの厚さの測度を確認するステップを含むことができる。本方法はさらに前記コインのいくつかの幾何学的寸法の測度を確認して前記コインの表面領域の積分面積測定値を与えるステップを含むことができ、前記コインは前記コインの前記面積測定値を前記いくつかの既知のコインの対応する面積測定値と比較して識別することができる。本方法はコイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴を決定すなわち検出するステップを含むことができる。本方法はさらに前記コイン上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数をカウントするステップを含むことができる。本明細書および添付請求の範囲において、“レーザ源”および“レーザ検出器 ”という用語には、それぞれ、レーザ放射源およびレーザ放射検出の機能を満たす任意の装置もしくは装置の組合せが含まれるものとする。レーザ源およびレーザ検出器は、各々が特許請求される本発明の働きを可能とする機能を満たすかぎり、単一構成要素、構成要素の一部、もしくは部品のアセンブリとすることができる。本発明のその他の好ましい特徴は添付請求の範囲から明らかであり、それら請求項の主題は本明細書に含まれている。図面本発明をより完全に理解するために、単なる例として、添付図に関連して本発明の実施例の説明を行い、ここに、図１はコインテスト装置の第１の実施例の側断面図。図１Ａは第１の実施例の構成要素の相対方位を示す図。図１Ｂは図解するために内部構成要素を省いた図１の実施例に使用するハウジングの側断面図。図１Ｃは図１Ｂのハウジングの外側面図。図１Ｄは図１Ｂのハウジングの斜視図。図２はコインテスト装置の第２の実施例の側断面図。図２Ａは図２のコインテスト装置の第２の実施例の構成要素の相対方位を示す図。図２Ｂは図２および図２Ａの第２の実施例の構成要素の３次元斜視図。図２Ｃは図２、図２Ａおよび図２Ｂの第２の実施例の、図面で右から左へ転がるコインを示す図。図２Ｄは傾斜方位に取り付けられた図２Ａのコイン案内を示す図。図２Ｅはコイン厚を測定する装置を示す図。図３は３つの文字Ｘ，Ｙ，Ｚを使ってもう１つの実施例で使用される３個の線形アレイの空間配置を表示することを示す図。図４はコインが自由落下する時にレーザビームを遮る第３の実施例を示す図。矢印はコインの落下方向を示す。図５および図６は、コインの主面に直交しないレーザ源およびレーザ検出器を本発明に組み込むこともできることを示すための別の実施例の略図。図７は図１の第１の実施例に使用するレーザユニットを示す図。図７Ａはパウエルレンズを使用してレーザビームを集束することを示す図。図７Ｂはパウエルレンズにより形成されるレーザビームがレーザ放射の面状もしくは線状であることを示す、図７Ａのレーザビームの平面図。図８は図１および図２の実施例に使用されるセンサユニットを示すいくつかの図。図９は図８に示すセンサユニットの内部部品の電気ブロック図。図９Ａは図８および図９のセンサユニットに関連するパルスを示す、並列接続線形アレイのタイミング図。図１０は図１の実施例で使用される第１世代エレクトロニクスで使用される回路図。図１０Ａは図１および図２の実施例で使用されるクロック信号発生回路のブロック回路図。図１０Ｂは“パワーオン”回路を示す図。図１１はレーザ電源の回路図。図１１Ａは図１および図２の装置で使用されるＹ−Ｚセンサアレイピンナウトを示す図。図１１Ｂはピクセルレイアウトを説明する図。図１１Ｃはアナログ／デジタル変換の３レベルコンバータを示す図。図１２は図１および図２の実施例で使用されるカウンタ回路のブロック回路図。図１２Ａはラッチの２つの回路図。図１２Ｂは２つのバッファーインターフェイスのブロック回路図。図１２Ｃは図１および図２の実施例に使用される主制御回路のブロック回路図。図１２Ｄは２つのスタティックメモリＲＡＭの回路図。図１２ＥはフラッシュメモリＥＥＰＲＯＭの回路図。図１２ＦはＬＣＤドライバ、リレーおよびホトトランジスタドライバを示す図。図１２ＧはリレーＰＩＮドライバおよびＰＩＮホトセンサーを示す図。図１２Ｈおよび図１２Ｉは実施例の回路に使用される印刷回路板を示す図。図１３は本発明の実施例において実施される計算に使用されるアルゴリズムの関数を描くｘｙ軸上のグラフ。図１３Ａはコインの縁内の溝の特徴を考慮してコインが識別される実施例を示す図。図１４は本発明の電気的構成要素の実施例を示すブロック図。図面は単なる説明用であって、必ずしも縮尺には従っていない。実施例では、説明の都合上、同じ構成要素には同じ番号が付けられている。例えば、各実施例におけるレーザ放射源には同じ参照番号が付されているが、それは同じ実施例であることを意味するものではない。実施例の説明第１の実施例図１にコインテスト装置２０の形で本発明の第１の実施例を示す。装置２０はハウジング５を含んでいる。円筒状レーザユニット１の形のレーザ源がハウジング５内の円筒状空洞５１内に滑動可能に搭載されている。レーザユニット１は従来のレーザダイオード１１およびレンズ群（両群共番号１２で示す）を含んでいる。レーザダイオード１１はレーザビーム１３を発生する（図１に点線で示す）。レンズ群１２はレーザビーム１３をそれがレーザユニット１の前面を去る時に扇状となるように変換する。レーザビームはレーザダイオード１１から点源として発生され、レンズ群１２により扇状へ拡げられてコイン上の大きい部分へ同時に入射できるようにされる。レーザビーム１３の形状は扇状レーザビームの形に拡がるようにされている。この平坦に拡がるレーザビームを作り出すために、特性の異なる２組のレンズが使用される。第１のレンズ群１２は矩形断面を有するレーザビームを高度にコリメートするように作用する。もう１つの円柱レンズ群１２によりレーザビームの断面は引き伸ばされて、ほとんど線分となるまで細長い矩形とされる。レーザダイオード１１からのレーザビーム１３はこれらのレンズを通過する。図１において、扇状のレーザビームはレーザユニット１内のレンズ１２を使用し、レーザユニット１の空洞５１内の位置をスライド調整して集束される。コインテスト装置２０はさらに下部境界６２および上部通路５２を有するチャネル６１を含むコイン案内を含み、その中にコイン４が示されている。コインはコイン挿入開口６２（図１Ｄに示す）により通路５２へ導入される。チャネル６１は通路に沿ってコイン４を案内する。コイン通路５２はハウジング部材５を横切って貫通している。コイン４はその周縁がコイン案内の下部境界６２により連続的に支持される。コイン４は装置内を図１の紙面に直交する方向へ進む。チャネル６１のレーザ源１１から遠い側で、ハウジング５はセンサーアレイユニット３の形のレーザ検出器を含んでいる。アレイユニット３は多数の横に並ベた個別の高速電荷蓄積器（ｃｈａｒｇｅａｃｃｕｍｕｌａｔｏｒ）およびピクセルを含んでいる（別々には図示せず）。これらの電荷蓄積器はレーザ放射に感応してそのエネルギレベルを検出かつ測定することができるピクセルを含んでいる。ピクセルは線形もしくはグリッド状方位の線形アレイとして構成されピクセルの隣接アレイを形成する。各電荷蓄積器は、非帯電状態において、レーザビーム１３が特定のピクセルを照光する時に帯電することができる。ピクセルはレーザビームの基本的成分である光子を検出するのに十分な感度である。センサーアレイユニット３はそれを後述する電子回路に接続するようにされたピン１９も含んでいる。レーザダイオード１１から発生されるレーザビーム１３はセンサーアレイユニット３へ向けられる。図１の実施例では、レーザビーム１３はレーザダイオード１１を出射した後で平坦な扇状ビームを形成するように指向される。扇状とはレーザダイオードを離れるにつれてレーザビームが拡がることである。平坦なビームとは細線もしくは線状平面のレーザビーム放射を形成することである。この扇状放射ビームの平面は一般的に線形アレイの中心へ向けられる。レーザビーム１３はレーザダイオード１１とセンサー３の線形アレイとの間を進む。レーザビーム１３は空洞５１に沿って軸方向に通路５２を横切るように送られる。このレーザビーム１３の軸は通路内のコインの主面に実質的に直交する。レーザビーム１３は被テストコイン４の表面上へ向けられる。コイン４はレーザダイオード１１とセンサーアレイユニット３間を通過するこのレーザビーム１３の一部を遮る。本実施例では、ビームは静止しておりコインがレーザビームを通過するように移動する。円形コインはビームを通過する時に回転し、非円形すなわち多角形コインはスライドしてビームを通過する。センサーアレイ３はレーザがコインに遮られる所および遮られない所を検出することができ、それはレーザビームにより照射されるピクセルにより電荷蓄積器が帯電されコインにより遮蔽されるピクセルにより電荷蓄積器は帯電されないためである。後述するように、帯電および非帯電蓄積器の情報を使用してコイン表面の１つの特徴の表示が得られる。図９を見れば、ピクセルおよび電荷蓄積器はレーザビームの吸収可能な最大および最小量子エネルギを測定することにより、飽和に基づいて働く。ピクセルがその最大飽和電荷の半分程度まで励起されると、ピクセルの制御論理によりピクセルがレーザビームから受け入れる正確なエネルギ量を求めることができる。次に、制御論理により電荷蓄積器を非帯電状態に対する“O”と見なすか帯電状態に対する“１”と見なすかが決定される。好ましい実施例では、線形センサーアレイユニット３の平面は通路５２内のコイン４の主面に実質的に平行に、かつコインのその通路に沿った進行方向を横切って延びている。図１において、アレイ３の下端は下部領域６２から第１の距離ｄだけ間隔がとられており、第１の距離ｄは装置で使用される任意のコインの最小径よりも小さい。アレイ３の上端は下部領域６２から第２の距離Ｄだけ間隔がとられており、第２の距離Ｄは任意のコインの最大径よりも大きい。したがって、レーザビーム１３はコイン４が通路に沿って進む時にその上部領域により遮られる。コイン４の上部領域がレーザビーム１３により遮られてコインの上部領域の寸法を測定できることが望ましい。あるいは、コイン４の側部等の他の領域で寸法を測ることができる。しかしながら、コインがコイン案内の下部境界６２と接触している場合には、そのような接触によりコインの下部領域６２と接触している部分の正確な測定値を得ることが困難となる。コインの寸法は全体直径、不規則なコインの場合には、最大断面について測る必要はない。直径や最大断面の読取りを回避することにより、コインが転動面と接触する部分の測定に関連する問題が最小限に抑えられる。線形アレイ３のセンサーユニットはコインにより遮断されるピクセル数および遮断されないピクセル数によって決まる、連続する各サンプリング時点において、電気的出力を発生する。後述するように、好ましくはこの信号はコインが線形アレイ３を通過する時に何度もサンプリングされる。線形アレイ３のセンサーユニットは信号処理装置に接続され、それはこれらの出力を処理して当該コインを識別する。信号処理装置はマイクロコントローラ１４の形をしており、図１２Ｃおよび図１４に図示されている。マイクロコントローラ１４は複数の所定の基準データレコードのいずれが処理された出力に対応するを決定する比較手段を含んでいる。例えば、線形アレイ３からの処理された出力は多数の既知のコインのデータレコードと比較される。線形センサーから得られる処理された出力を既知のコインの対応するデータレコードと一致させることによりコイン４が識別される。ハウジング部材５は散乱されたレーザ放射をよく吸収する材料、例えばブラックポリカーボネート材料、で作られている。ハウジング５の外観を図１Ｃおよび図１Ｄに示す。設置される特定の環境に応じて他の設計を選択することができる。さらに、本発明の別の実施例では、コインテスト装置はそれ自体のハウジング内に設置されるのではなく、そのさまざまな構成要素を自動販売機や電話機等のそれを使用する装置の一部として一体的に製作することができる。これらの実施例では、コイン案内は特定装置の構成要素の一部として提供される。コイン案内は独立して識別できる構成要素ではないことも考えられる。このような実施例では、レーザビームにより遮られるコインを案内する全体装置の任意の特徴がコイン案内の機能を満たすものと考えられる。別の実施例では、コインテスト装置のさまざまな構造的構成要素をワンピースとして成型することができる。例えば、ミラーおよびプリズムをハウジングおよびコイン案内と同じ材料で成型することができる。製作手段としての成型の１つの利点が装置のコストを低減するのに使用される。図７にレンズ群を構成する別の実施例を示す。レーザビーム１３の好ましい形状はレーザダイオードからのレーザビームが通過するコリメーティングレンズ７４およびライン発生レンズ７２を使用して作られる。扇状ビームはレーザユニット１内の第２連のレンズ１２を使用し、かつ空洞５１内のレーザユニット１の軸方向位置を調整して集束される。図７に示すように、フロントセルアセンブリ７３を回転させることによりビームが集束されコリメートされる。ロッキングリング７４を使用して最終位置が固定される。線形アレイ３上のレーザビーム１３の最善入射線を作り出すために、レーザダイオードモジュールを設けたキーを使用してレンズアセンブリを回転させることができる。操作距離が大きいほど、線は長くかつ太くなる。第２の実施例本発明の第２の実施例を図２、図２Ａおよび図２Ｂに示す。レーザ検出器が２個の線形アレイ３Ｙ，３Ｚを含む点を除けば、この第２の実施例は第１の実施例と同じである。（ここでは概念を例示するために、ＸおよびＹは工学で使用される直交ｘおよびｙ軸用語とする。）レーザビーム１３がレーザダイオード１１から発生されてレンズ１２ａにより屈折され、さらにレンズ１２ｂにより屈折される。レーザビームを線へ集束させることは“パウエルレンズ”を使用して行われる。パウエルレンズにより集束されるレーザ放射の線にはその全長に沿って均一な強度を有するという独特な特徴がある。レーザビームの拡散効果を図７に示す。図７Ａはパウエルレンズ１２を使用してレーザビーム１３の角度を拡げる様子を示す。図７Ｂはパウエルレンズにより形成されるレーザビームがレーザ放射の薄い平面状であることを示す、図７Ａのレーザビームの平面図である。レーザビームがコイン４との遮断点に達する時間までに、レーザビーム１３はコイン４の主面に実質的に直交する経路に沿って指向される。レーザビームの一部はコイン４の縁へ向けられ、その周縁により遮られる。レーザビームの残りの一部は線形アレイ３Ｙに達する。したがって、線形アレイ３Ｙはコイン４の縁および／もしくは厚さの１つの特徴を決定することができる。図２Ｃは線形アレイ３Ｙ，３Ｚを転動通過するコイン４の側面図を示す。同時に、レーザビーム１３の一部がプリズム１２ｃにより転向される。プリズムの替わりにミラーを使用することができる。プリズム１２ｃはビームを直角に転向させてコインの縁へ達するようにする。他方の線形アレイ３Ｚに達するのは下向きビームの一部だけである。したがって、２個の線形アレイを使用してコイン４の表面および縁の異なる部分が測定される。コインとビームの臨界遮断点において、ビームがコイン４の主面に絶対的もしくは少なくとも実質的に直交することの利点は、ビームがその後さらに逸れることなく線形センサーを直接照光することである。したがって、線形センサーで測られる測定は実際のコインの正確な測度（大きさ、メジャー）となる。それとは対照的に、図４において、レーザビームがコインを鋭角で遮る場合には、線形センサーで測られる寸法はコインの実際の寸法よりも幾分大きくなる。しかしながら、既知のコインのデータ寸法がこの要因を考慮して計算される場合には、コインテスト装置はまだ有効に働く。したがって、本発明の最も広範な解釈にとって不可欠なものではないが、ビームは臨界遮断点においてコインの平面と絶対的に直角であることが望ましい。しかしながら、遮断点におけるコインとレーザビームの直交性の１つの利点は、直角ビームを使用してコイン縁の溝により生じる偏差を考慮できることである。ビームがコイン縁を実質的に鋭角で遮る場合には、ビームは溝の起伏に対して盲目的となることがお判りであろう。鋭角ビームは溝や隆起の無い滑らかな円周に出会うだけである。図２の第２の実施例では、コインの表面上へ向けられる第１のレーザビームとコインの縁上へ向けられる第２のレーザビームは、共に単一のレーザダイオード１１から発生される同じビームから引き出される。第２のレーザビームは第１のレーザビームの一部を転向させるプリズムにより第１のレーザビームから引き出される。しかしながら、本発明の別の実施例では、独立したレーザ源により独立したレーザビームを作り出すことができる。多数のレーザダイオードを使用することができる。本装置のコイン案内は使用時にコイン案内が傾くように取り付けられることが好ましい。コイン案内のこの傾斜方位を図２Ｄに示す。コイン案内の傾斜度によりコインはコイン案内に沿って移動する時にぐらつく危険性が最小限に抑えられる。コインはコイン案内に沿って移動する時に直立しておれば、ぐらつく危険性がある。数ミクロン程度の寸法を区別する装置の能力は、コイン案内のコインのどのように小さなミスアライメントでも装置の精度に影響を及ぼすことを意味する。ある程度の安定度を保証する１つの方法は、線形アレイを通過する前にコインを停止させ次にコインを解放して線形アレイを通過できるようにすることである。第３の実施例−自由落下実施例本発明はコインがコイン案内により連続的に支持される必要がない実施例を含むことができる。例えば、コイン案内はコインがレーザビームを遮る前の点までしかコインと接触しないようにすることができる。レーザビームを遮る瞬間に、コインは実際上自由落下していることがある。好ましくは、コインは自由空間を落下する時にその元の方位を解放し始める前にレーザビームを横切る。自由落下中にコインの表面や縁の任意の部分の寸法を測定することができる。レーザ放射を使用しないシステムに較べて、レーザを使用するコインの測定は自由落下中に測定を行えるように十分迅速に行うことができる。コインが自由落下中にレーザビームを遮る第３の実施例を図４に示す。この実施例では、長い線形センサー３が使用される。長いセンサーアレイを使用することにより、コインがセンサーアレイ３を通過する時に全面積および直径を測定することができる。この第３の実施例におけるレンズは広い扇状の拡がりを与えるように選択される。レーザビームの広角および長い線形センサーを組み合わせるとコインのより長い移動距離にわたってコインの寸法を測ることができる。自由落下コインはコイン案内上を転がるコインよりも迅速に移動するため、これは特に有用である。レーザビーム１３はコイン縁に鋭角で達する。コインの前面に関して測定が行われる。前記したように、鋭角であることは測定にビームの拡がりを考慮しなければならないことを意味する。別の実施例本発明はコインの主面に直交するレーザ源やレーザ検出器を有するものに限定されるものではない。図５および図６に示す別の実施例では、レーザビーム１３を転向させるのにミラーおよび／もしくはプリズム１２ｃが使用される。これら別の実施例では、レーザビーム１３はやはりコインの平面を直交して横切ることができる。ある実施例では、レーザ放射検出器へ向けてレーザ放射を送るのに光ファイバーを使用することができる。光ファイバーはレンズおよび／もしくはプリズムの複雑な配列を必要とする経路に沿ってレーザ放射を向けるのに使用することができる。ミラー、プリズム、および／もしくは光ファイバーを随意使用してレーザビームを転向させることにより、コンパクトな設計のコインテスト装置とすることができる。レーザレーザはコヒーレントであって指向性の高い放射源であるため、レーザダイオード等のレーザ放射源はこのようなコインテスト装置に特に適している。他のいかなる非レーザ放射および光も非コヒーレントである。レーザ放射の独特な特徴は誘導放射放出として知られる過程から生じ、通常の光は自発放出から生じる。レーザ放射は単一量子状態における光子および原子の閉じ込められたビームの誘導放出により生じる。また、レーザはこのような光源の動作寿命が長いため特に適している。（レーザ源の現在の代表的な値は１０，０００から８０，０００時間、１から９年である。レーザダイオードの寿命は５００，０００時間と推定されているものもある。）本発明の実施例の装置は、ＢＳ（ＥＮ）６０８２５に従って設定された出力電力を有する、オリジナル装置メーカ（ＯＥＭ）用に設計されたある範囲のレーザダイオードシステムを使用することができる。前記した装置に内蔵する場合には、装置が完全に標準に適合することを保証するようにさらに安全策を必要とすることがある。しかしながら、本発明は最も広い解釈においてこのような安全策を含むことに厳密に限定されるものではない。本発明の実施例において、レーザダイオード１１から出力されるレーザビームの面積は（高さｘ幅が）２．５ｍｍｘ１ｍｍであり、線形アレイ３へ達する拡張された面積は３０．０mmｘ１．２ｍｍである。レーザユニットは５−６Ｖの範囲の非調整電源からの正の電圧で作動する。しかしながら、発熱量が少ないと装置の予期寿命が延びる傾向があるため、より低い電圧を使用することが望ましい。このような状況では、±５％内に調整された図１１に示す４．５Ｖ電源がレーザユニットに使用される。レーザモジュールのケーシングは好ましくは供給電圧から絶縁される。本発明の実施例は、センサーユニット３の正規化された応答に応じて、６３５ｎｍから８４０ｎｍの範囲内の波長を有するレーザ放射を生じるレーザダイオード１１を使用する。レーザ放射の波長はセンサーユニット３の応答を最大限として装置の性能を高めるように選択される。しかしながら、本発明はレーザ放射の特定の波長を使用することには限定されず、例えば、ＵＶから近赤外スペクトル領域までまたがる３３０ｎｍから１５００ｎｍまでのある範囲のレーザ源を使用することができる。負の供給電圧で作動するレーザモジュールでＴＴＬディセーブル機能を利用することができる。ＴＴＬディセーブル入力へ加えられる＋４および＋７Ｖ間の入力によりレーザはターンオフされ０Ｖの入力によりターンオンされる。使用していない時は、この入力はフローティングしておくことができる。レーザはこの入力を使用して１０Ｈｚ以上の周波数でオン／オフ脈動させることができる。しかしながら、ダイオードの動作寿命を長くできる傾向があるため、前記した実施例ではレーザダイオードの連続的励起が望ましい。前記した実施例のレーザが最小供給電圧よりも高い電圧で、しかも／もしくは周囲よりも６０℃以上高い温度で作動している場合には、付加ヒートシンクを使用しなければならない。レーザダイオードケーシングの温度がその最大指定値を越える場合には、過早故障や破局的故障が生じることがある。レーザモジュールからの熱の放散を助けるために、好ましくはレーザユニット１はレーザダイオードおよびビームを集束するレンズを保持する円筒状ケーシングを有している（図１）。ケーシングはＰＭＭＡ（ポリメチルメタクリレート）で作られるが、アルミニウム等の他の材料で作ることもできる。線形センサーアレイ典型的な実施例で使用されるレーザ検出器は線形センサーアレイユニット３の形をしている。図８において、センサーアレイユニット３は図８、図９に示すホールドを有する製品集積センサ−ＣＭＯＳプロセス線形センサーアレイにより提供される。このようなセンサーは２５６ｘ１ピクセルアレイセンサー（各々が６３．５μｍｘ５５μｍでピクセル間間隔が８．５μｍ）を有する線形アレイ８１を含み、その各々が当該ピクセルにより受光されるレーザ放射量によって決まる信号を発生する。しかしながら、本発明の他の実施例は遥かに多数のピクセルセンサーを有する線形アレイを有利に内蔵することができる。例えば、多数のピクセルセンサーによりコインの測定過程中に大量の情報を引き出すことができる。したがって、後述するように、特に測定値の積分や加算を必要とする実施例では、情報量の増大により測定値の精度が高められる。ピクセルが小さくてより稠密にパッケージされるほど、コイン識別結果の精度は高くなることがお判りであろう。アレイは図９に示すような１２８ピクセルの２個の並列接続アレイにより形成される。１２８ピクセルの各々がスイッチ制御論理、電荷蓄積器、およびピクセルからのデータ列を調整する出力増幅器を含む１２８ビットシフトレジスタにより制御される。後述するパルス入力ＳＩにより決定される各サンプリング期間について、個別のピクセルからの出力はデジタルパルス列の形でセンサーユニット３のピン４および８（ＡＯ１およびＡＯ２）から送りだされる。図９からお判りのように、センサーアレイユニット３はクロック入力ＣＬＫ、外部トリガーパルス入力Ｓｌ１およびＳＩ２、および出力ＡＯ１（ピクセル１−１２８）およびＡＯ２（ピクセル１２９−２５６）を有している。アレイ接続は交互にシリアルとすることができる。図８において、２５６センサ一エレメントのアレイ８１は２５６の個別ピクセルを与える。ピクセルに達するレーザ放射エネルギーによりピクセルの下の領域内に電子−ホール対が発生される。ピクセル上のバイアスにより発生される電界により電子はエレメント内へ集められホールは基板内へ掃引される。各エレメント内に蓄積される電荷量は入射レーザ放射量およびサンプリング期間に直接比例する。レーザ放射を使用することは本発明の重要な特徴である。レーザ放射を利用しない従来の装置では本発明の利点を十分に達成することができない。ピクセル寸法は６３．５μｍｘ５５μｍであり中心間間隔は６３．５μｍである。各ピクセルは８．５μｍの距離だけ間隔がとられている。レーザ放射を使用することにより、本システムはおよそ±１ピクセル、すなわちおよそ６３．５μｍのステップでコインの寸法変化を検出することができる。それはレーザ放射が単一波長であり、光学光に伴う光散乱に較べてレーザビームの散乱はほんの僅かであるためである。レーザビームのこの特徴によりコイン寸法の極端に小さな違いを識別することができる。本実施例に使用されるレーザ放射源の波長はλ＝６７０ｎｍであるが、本発明は特定波長のレーザ放射に限定されるものではない。その結果、本実施例の装置を使用して１ピクセル、すなわち６３．５μｍすなわち０．０６３５ｍｍ、もの微細なコイン間の違いを識別することができる。幸いなことに、いくつかの通貨コインの直径が１ピクセルしか違わない場合には、それらのコインは厚さの寸法が実質的に異なっている。例えば、米国およびカナダの１セントコインは実質的に直径は同じであるが、厚さはおよそ１６０μ ｍすなわち０．１６ｍｍ異なっている。したがって、カナダおよび米国の１セントコインの直径は１ピクセルしか違わないが、厚さの違いにより識別することができる。したがって、コイン表面から寸法を測る他に、コイン厚さの寸法を測ることが望ましい。しかしながら、受け入れるコインの数が限定されておりこのようないくつかのコインのコイン間の違いが著しい場合には、コインテストは１つの寸法の測定値だけに依存することができる。図９Ａに示すように、２５６ｘ１アレイセンサーの動作は２つの期間を特徴としており、それはバイアスによりピクセル内に電荷が発生される積分期間ｔ_int （前記したサンプリング期間）、および１サンプリング期間に対するデジタル出力信号列が共通出力ＡＯ１およびＡＯ２から送られる出力期間ｔ_outである。積分期間はユニット３のピン２（ＳＩ１）およびピン１０（ＳＩ２）へ加えられる連続する制御パルスＳＩ間の間隔ｔ_intにより定義される。積分期間の必要な長さは入射レーザ放射量および所望の出力信号レベルによって決まる。実施例では、センサーは線形アレイを形成するように配置された２５６ピクセルからなっている。レーザ放射エネルギーが各ピクセルへ入射すると、光電流が発生される。次に、この電流はそのピクセルに関連するアクティブな積分回路により積分される。積分期間中に、サンプリングキャパシタがアナログスイッチを介して積分器の出力に接続される。各ピクセルに蓄積される電荷量はそのピクセルへのレーザエネルギーおよび積分時間に直接比例する。図１１Ａにおいて、積分器の出力およびリセットは２５６ビットシフトレジスタおよびリセット論理により制御される。ＳＩ１（ピン２）およびＳＩ２（ピン１０）へ論理１をクロックインすることにより出力サイクルが開始される。ホールドと呼ばれるもう１つの信号がＳＩ１およびＳＩ２の立上り縁から発生されて同時にセクション１および２へ送られる。それにより、２５６のサンプリングキャパシタの全てが各積分器から切り離されて積分器リセット期間が開始される。ＳＩパルスがシフトレジスタを介してクロックされると、サンプリングキャパシタに蓄えられた電荷はアナログ出力ＡＯに電圧を発生する電荷結合出力増幅器へ逐次接続される。積分器のリセット期間はＳＩパルスがクロックインされてから１８クロックサイク後に終わる。続いて、次の積分期間が開始される。１２８番目のクロック立上り縁において、ＳＩ１パルスはＳＯ１ピン１３（セクション１）上でクロックアウトされる。１２９番目のクロックサイクの立上り縁によりＳＯ１パルスが終止され、セクション１のアナログ出力ＡＯ１は高インピーダンス状態へ戻る。同様に、ＳＯ２が２５６番目のクロックパルスによりクロックアウトされる。ＳＯ２パルスを終止させてＡＯ２を高インピーダンス状態へ戻すのに２５７番目のクロックパルスが必要である。ＡＯは外部プルダウン抵抗を必要とするソースフォロアーにより駆動される。出力は、出力位相でない時は高インピーダンス状態である。通常、出力は電力入力が無ければ０Ｖであり、正規のフルスケール出力に対しては２Ｖである。別の実施例では、レーザ検出器はマトリクス方位に配置されたいくつかの線形センサーアレイユニットを含んでいる。このようなマトリクスセンサーを使用する利点はレーザ検出器に大きいレーザ表面積が与えられることである。第１世代エレクトロニクスクロック信号ＣＬＫおよび制御信号ＳＩは、例えば、図１０に示す任意適切なタイミング回路により発生することができ、そこでは５５５タイマ一回路１０１がクロック信号ＣＬＫを発生し、回路１０２として示す８ビットカウンタ７４ＬＳ５９０およびシュミットトリガー７４ＬＳ２２１が制御信号を発生する。センサーアレイユニット３は、例えば、一緒に連結されて１個の１２ビットカウンタ９２を形成する一連の３個の４ビットカウンタ７４ＬＳ１６０を含む図１０に示すカウンター回路へ出力デジタルパルス列を送る。このカウンタ９２はＡＮＤゲート９１から信号を受信し、それはクロック信号ＣＬＫおよびセンサーユニット３のデジタルシリアル信号出力を結合する。“１”もしくは“０”の値を有することができる各電荷蓄積器信号が線形アレイユニット３内のピクセルから発生されると、それはクロック信号ＣＬＫによりカウンター入力へクロックインされる。“１”に等しい電荷蓄積器信号によりカウンターは増分される。センサーアレイユニット３内の２５６のセンシングピクセルに関連する２５６ビット全てがセンサーユニット３から送られていると、センサーアレイユニット３からの信号ＳＯ２により１組のラッチ９３，７４ＬＳ３７３がトリガーされて２５６ピクセルのカウント結果がその出力にラッチされる。つぎに、これらの出力は図面に９４で示す７セグメントディスプレイドライバー７４ＬＳ４８により復号されて、７セグメントＬＥＤディスプレイ９５上に３桁の数を発生する。この数は当該コインの特定の被調査エリアに対応する。センサーアレイユニット３からの出力は、それをデータライブラリ１６内に格納され装置が識別しようとするコイン数に対応する所定の基準値と比較する主制御比較回路（図４）へ入力として加えられる。データライブラリはフラッシュＲＡＭの形とされている。ＥＥＰＲＯＭの形の比較回路１５を図１４に示す。比較回路は非テストコインを識別する出力信号ＳＣを与える。第２世代エレクトロニクスさらなる研究開発により引き出されている、本発明の実施例に使用される第２世代エレクトロニクスについて次に説明する。Ｙ−センサーアレイ図２Ｄに関して、このセンサーはコイン４の面積、半径および直径を間接的に測定する。それはコイン縁の溝および隆起の存在を検出してカウントすることができる。センサーアレイは２つのより小さいアレイＹＨおよびＹＬからなっている。各各が１２８ピクセルからなっている。これらのピクセルのレイアウトは図１１Ｂにダイヤグラム形式で説明されている。各走査中に、エレクトロニクスは１つの数Ｙを発生し、それは下記のように定義される。（露光されるピクセル数）＝０ならば、Ｙ＝０，さもなくばＹ＝（露光されるピクセル数）−１。２ＭＨｚのクロック周波数で作動して、センサーは各アレイの１２８ピクセル全部を６４．５ｎｓで出力することができる。したがって、考えられる最大走査速度は１５，５０３スキャン／秒、すなわち４百万デジット“０”もしくは“１ ”/秒である。コインがアレイを１ｍ／秒で通過する場合には、コインは１ｍｍ毎におよそ１６回走査される。それはコインがアレイを通過する時にＹの最小値を決定するのに十分である。Ｙの最小値はコイン径に対応する。各走査中に、Ｕ２０４により発生されるＳＩパルスによりＹＬおよびＹＨ内の各ピクセルにおけるシフトアウトサイクルが開始される。Ｕ３Ｏ１がＹＬもしくはＹＨ内の“ハイ ”ピクセル数をカウント開始する。レーザＬに露光されるピクセルにより“ハイ ”出力が与えられコインに覆われたりレーザに露光されないピクセルにより“ロー”出力が与えられる。最初の“ロー”ピクセルに出会うとすぐに、Ｕ３０１はカウント停止する。ＹＨアレイを越えてコインに覆われる場合には、ＹＨの第１ピクセルは“ロー ”となる。Ｙの値は１２８よりも小さくなる、すなわちＹ７＝０。Ｕ３０１はＹＬアレイ内だけの“ハイ”ピクセルをカウントする。ＹＨアレイを越えてコインに覆われない場合には、ＹＨの第１ピクセルは“ハイ”となる。ＹＬの全てのピクセルが露光され、したがってＹは１２７よりも大きくなる、すなわちＹ７＝１。Ｕ３０１はＹＨアレイ内だけの“ハイ”ピクセルをカウントする。シフトアウトサイクルの終わりに、Ｕ３０１およびＹ７のカウント値はＹ値としてＵ２０５へラッチされ、後にＰＣ／もしくはマイクロコントローラにより読み出される。Ｙセンサーへの最初のＳＩパルスは２つのパワーアップリセットパルスＰＵＲ１およびＰＵＲ２により発生され、最初のシフトアウトサイクルが開始される。このシフトアウトサイクルの終わりにセンサーアレイはＳＩパルスの発生に使用されるＳＯパルスを発生する。このようにして、センサーはその最大速度でデータを不明確に走査しシフトアウトする。Ｚ−センサーアレイこのセンサーアレイはコイン厚さを直接測定する。アレイの最初の半分（ＺＬ）しか使用されない。図２Ｅに関して、ウィンドウＷが開くと、ＺＬアレイのある数のピクセルをレーザＬ’へ露光させることができる。コインがウィンドウを通過する時、コインにより遮断されるピクセル数はコイン厚さに直接比例する。ピクセル間の中心間間隔が判れば、コインの実際の厚さを計算することができる。Ｚ−センサーアレイはＹ-センサーアレイと並列に働いて、同じ２ＭＨｚおよびＳＩパルスを共有する。Ｕ３０１とは異なり、Ｕ３０２はＺＬアレイ内の“ハイ”ピクセル数をカウントするだけである。シフトアウトサイクルの終わりに、Ｕ３０２のカウント値がＺ値としてＵ２０６へラッチされ後にマイクロコントローラＵ１０１により読み出される。図１０Ａにおいて、クロック分配器Ｕ１０１は４ＭＨｚの周波数を発生する。クロック分配器から、７４ＬＳ７４Ｄ型フリップフロップ、Ｕ１０２Ａを使用して周波数が半分の２ＭＨｚへ分周される。フリップフロップはシュミットトリガーと共に使用されて、装置内で使用される回路のマイクロエレクトロニクスに対するタイミングが与えられる。論理を“パワーオフ”状態から“パワーオン”状態へリセットする回路を図１０Ｂに示す。リセット論理回路は２個の７４ＡＬＳ７４、スイッチおよびいくつかのシュミットトリガーを含んでいる。電流ドライバを設けたレーザ電源を図１１に示す。電源ドライバはダイオードを故障させてしまう駆動電流の変動に対して保護するのに使用される。図１１Ａに関して、図１１Ｃに示すように線形アレイピンアウトからレベルコンバータ１７へアナログ信号が送られる。図１１Ｃおよび図１４において、レベルコンバータ１７はアナログ信号をデジタル形式へ変換する。デジタル信号は図１２のカウンタ−Ｕ２０４（ＰＡＬ２２Ｖ１０）へ送られる。カウンターは励起状態にあるピクセルおよび励起状態にないピクセルをカウントする。次に、ピクセルのデジタルカウントが図１２Ａに示す２個のラッチＵ２０５，Ｕ２０６により処理される。図１２Ｂに示すように、デジタルカウントは互いに連携して働く２個の別々のバッファーへ個別に送られる。バッファー（Ｕ３０１，Ｕ３０２）はコントローラと線形アレイＹＺ間のインターフェイスを形成する。図１２Ｃにおいて、バッファーから受信されるデータを読み出すのにＩｎｔｅｌ^TM１９６ＮＵコントローラが使用される。コントローラはコインが線形アレイを通過する過程中にスタティックＲＡＭおよびＥＥＰＲＭ内に格納されたアルゴリズムおよび命令を制御する。この過程中に、線形アレイから得られるデータはフラッシュメモリ内に格納されたデータ情報と比較される。線形アレイから受信されたフローデータ情報のデジタル化に続いて、図１２Ｄに示すように、マイクロコントローラがデータを取り出して解析できるようになるまで、デジタル化された情報は２個のスタティックメモリＲＡＭ内に格納される。図１２Ｅにおいて、コントローラのための命令を格納するのにＥＥＰＲＯＭフラッシュメモリが使用される。これらの命令には装置の校正に関する校正データ、既知のコインのデータ、および数学アルゴリズムに使用される定数値が含まれる。ＬＣＤインテリジェントディスプレイドライバ−Ｕ４０１の回路を図１２Ｆおよび図１４（番号１８）に示す。ディスプレイドライバはＡ２５５１０である。図１２Ｆにおいて、ドライバーは２個のバルブ（図１２Ｇに示す）を開閉するのに使用されるリレーも駆動する。やはりドライバーにより制御されるホトセンサーが通路５２に出入りするコインを検出するのに使用される。図１２Ｈおよび図１２Ｉは実施例の回路で使用できる印刷回路板の例を示す。コイン識別コイン４によりレーザビーム１３の一部が線形センサーアレイ３を照光するのを防止されると、線形アレイ３はコインによりレーザが遮られる所および遮られない所を検出する。この情報はコイン表面の１つの特徴の表示を得るのに使用される。本発明の基本的な実施例では、コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部が確認され検出される。例えば、この細長いストリップは円形コインの直径、もしくは非円形コインの最大断面、もしくはこれらの測定値の一部とすることができる。この情報を得られれば、それを既知のコインの対応するデータと一致させることによりコインを識別することができる。本発明ではレーザを使用してこの情報が得られるため、より高速となり従来の装置および方法に較べてより多数のコインを識別することができる。本発明の別の実施例では、コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さが決定され検出される。ストリップはコイン縁で始まり、コイン上の所定の点まで延びている。例えば、図１３において、コインの被走査エリアは幅ｓのいくつかのストリップを含む。各ストリップの一端７０はコイン縁にあり、各ストリップの他端７１はコインの直径まで延びている。しかしながら、ストリップはコインの縁から任意の所定位置まで延びることができ、それはコインの縁ではないが直径である必要はない。好ましくは、レーザビームはストリップもしくはその一部を次々に走査する。図１３の実施例では、各々が６３．５ミクロン幅（すなわち、線形アレイセンサー３内の個別ピクセルの幅）のいくつかの走査線を使用してコインの被走査部に対応する一連の測定値が確立される。したがって、この過程は面積測定値のセグメントを積分する過程にたとえることができ、それを一緒に加算してコインの１つの特徴の表示が与えられる。多角形である英国５０ｐコイン等の変わった形のコインが表面積の測定により容易に識別される。このようなシステムは１０Ｈｚと５００ｋＨｚの間で作動することができ、典型的なクロック信号は５００ｋＨｚである。より最新の構成要素を使用する改良型システムは５ｋＨｚと２０００ｋＨｚの間で作動することができ、好ましいクロック信号は２ＭＨｚである。前記した実施例ではコインが線形アレイ３を転がって通過する時に毎秒およそ３９から１５，０００の測定値を作り出すことができる。次に、これらの結果はよく知られた方法で加算されてシステムにより走査される総面積の測度が得られる。ＯＥＭハードウェアの将来の開発により、毎秒の測定値数をより多くできる構成要素が得られるものと思われる。構成要素の測度のこれらの改良は本発明の範囲内に入り、エレクトロニクスの将来の進歩により本発明はより効率的に作動できるようになるものと予想される。本実施例において使用される反復系列では、各走査線は下記の面積を有し、Ａ＝ｙδθ ここに、ｙ＝ストリップの高さ δθ=感知素子の幅被走査線の総面積＝ｙδθ＋ｙ₁δθ＋ｙ₂δθ＋ｙ₃δθ．．．が得られる。前記関数式は図１３に示すグラフで表される。図１３において、各ストリップの高さはＹ値といわれる。コインを走査することによりＹ値が得られると、さまざまな数学的アルゴリズムによりコインのさまざまな寸法を計算することができる。そのようなアルゴリズムの１つは、中点則を応用した、台形則もしくはシンプソン則として知られている。このアルゴリズムの詳細は単なる例として与えられ、本発明は特定のいかなル数学的アルゴリズムにも限定されない。周期πの周期関数によるコイン回転の半サイクルについて考える。コインは各各が等幅のｎストリップへ概念的に分割される。各ストリップの幅ｓはπ／ｎに等しい。図１３に示すように座標はy₀，ｙ₁，ｙ₂，．．．ｙ_n-1，ｙ_nで示される。ここに、ｎ＝等幅のストリップ数ｓ＝各ストリップの幅括弧内の系列はy_n-1で止まることをお判り願いたい。ｙ_n式は次のサイクルの第１座標と考えられる。ｙ₀，ｙ₁，ｙ₂，．．．の値は規則正しい間隔の所与のアレイ値として得られる。関数値が規則正しい間隔で与えられない場合には、ｘに対するｙのグラフを描くことができ、ｘの規則正しい間隔で新しい１組のｙの値を読み取り、以下同様とすることができる、すなわち、コインが非常に高速で走査される場合には、テスト中のコインの速度や加速度の差を補償する補償回路の必要性が最小限に抑えられる。したがって、本実施例では、コインテスト装置は半径、直径および厚さ等の幾何学的距離を測定できるに止まらない。一部レーザビームの迅速な応答時間による高い走査速度により、コインテスト装置はある範囲の幾何学的寸法を反復測定することができる。それらの各測定値は反復積分されてコインの表面領域の面積測定値を与える。したがって、この面積測定値を他の既知のコインの対応する面積測定値と比較することによりコインが識別される。反復する一連の積分を使用してコインの表面積を求めることは、コインの縁溝による直径や半径の分散による問題が回避されるため、遥かに正確なコイン識別手段である。コインの幾何学的寸法、例えば直径、を測定する本発明の実施例では、溝による局所化された変動は溝の存在する位置で寸法が測られるかどうかによって、直径の全体測定値に影響を及ぼすことがある。それに対して、コインを識別する基礎として表面積の比較に頼る実施例では、溝の存在により生じる局所化された差による影響は少なくなる傾向がある。コイン表面の大きい面積の測定には溝による変動が考慮される。多数の微小レーザ検出ピクセルを有するレーザ検出器に接続されたレーザビームシステムを使用することは、極端に微細な寸法を測定できることを意味する。したがって、測定を溝の近くで行うか溝から離れて行うかによって測定値は異なってくる。測定値のこの差は、１つの直径や半径の測定値だけを頼りにすると、測定が溝の近くで行われたか溝から離れて行われたかが確かでないことがあるため、コインの識別に不確かさを導入することがあることを意味している。ある範囲の測定値に積分を行って表面積測定値を得る場合には、表面領域の積分面積を比較することによりコイン間の比較が行われる。したがって、溝周り寸法の局所化された変動により積分領域の総表面積に著しい変動は生じない。速度制御により、被走査像の和から被測定コインの実寸法が与えられる。この速度制御は自由落下もしくは回転を生じる前にコインを停止するスロットを使用して達成することができる。さらに、面積測定値をコイン識別の基礎として使用することは、多角形コイン等の、非円形コインを測定するのに特に有利である。このような非円形コインについては、コインのどの部分が測定されるかに応じて横断測定値は非常に異なる値を生じる。しかしながら、このようなコイン上の領域の表面積測定値によりこれらのコインを既知の他のコインと比較するための基礎として普遍的に使用できる面積測定値が得られる。溝カウンティングによるコイン識別通常コインには周縁周り、場合によっては、ある通貨のコインに見られる内部穴の縁に溝が設けられている。これらの溝によりコインの縁に隆起が与えられる。図１３Ａに示すように、コインの複数のストリップが読み取られる実施例では、センサーアレイユニット３の分解能はコイン縁に刻まれている溝を装置が識別できるようにされている。溝の識別は前記した他の幾何学的特徴の識別と共に使用したり、コインを識別する唯一の手段として使用することができる。溝の検出により装置は、例えば、重量や直径等の他のいかなる比較も必要とせずまたインダクタンス方法を実施することなく異なるコインを識別することができる。例えば、典型的な隆起の断面積は一般的に０．０１ｍｍ²から０．０４ｍｍ²の範囲であり、それは各感知ピクセルのサイズのおよそ３倍から１１倍である。したがって、このようなアレイセンサー３により個別の隆起の面積を明確に決定することができる。まれに一対のコインが同一直径、厚さ、および／もしくは表面積を有する場合であっても、これらのコインが同じ溝寸法を共有することはありそうにもない。したがって、コイン溝の特徴識別は幾何学的寸法が非常に似ているコインであっても、多数のコインを識別する非常に正確な手段である。図１３Ａに示すように、コイン縁上の所定距離ｘ内に現れる溝数をカウントすることもできる。所定距離内の溝数をカウントすることによりコインを識別することの利点は、摩耗および／もしくは破損により生じるコイン内の寸法差が装置および方法に及ぼす影響が少ないことである。コインの物理的寸法が摩耗により幾分変化する場合であっても、所定距離内の溝数は一定である。さらに、コインの破損が小部分に局所化されている場合でも、装置がコインの非破損縁を読み取ればコインを識別することができる。もう１つの実施例では、走査動作からの完全な１組の出力を解析することにより当該コインのプロフィールのデジタルに定義された像を作り出すことができる。次に、測定した像を予め記憶されたいくつかのデジタル像と比較して当該コインを識別することができる。コインの任意の破損隆起の面積を補償する処理手段が提供される。このような補償は、例えば、非破損隆起の規則正しい形状を解析して達成することができる。本装置は格納された像から予め設定されたパーセンテージ以上異なるいかなるコインも拒絶するように設定することができる。このような変動は、例えば、コインの摩耗によるものである。さらに別の実施例では、レーザ放射検出器は１０２４ｘ１ピクセルのアレイを形成する１２８ピクセルの８セクションからなる線形センサーアレイを含むことができる。線形センサーアレイの広い平面を使用することができるが、本発明の実施例のこのような変動は線形アレイの設計の技術的発展に依存すると考えられる。本発明の実施例は製品自動販売機、電話機、錠、ギャンブル機械、および自動両替装置等の多数のコインもしくはトークン作動装置に使用することができる。実施例はコインの価値をクレジットカードや他の信用勘定の貸方へ記入できるように、現金受入装置内で使用することができる。このようなコインテスト装置は世界中の通貨の多数の金属コインを識別するように設計することができる。本発明は磁気インダクタンス方法に頼らないため、非金属コインもテストすることができる。本装置は非通貨トークンを識別するのに使用することもできる。世界中の通貨のコインが極端に精密にしかも、最も重要なことであるが、繰返し可能な公差で鋳造される。ある通貨は僅か数ミクロンの違いしかない。したがって、数ミクロンのレベルで測定したコインの幾何学的寸法および／もしくは領域の測度を求め、次に既知のコインの測度のデータレコードと比較することにより特別なコインを識別することができる。この精度は従来の装置および過程を使用して容易に区別できなかったコインセットを本発明により区別できることを意味する。また、本発明に従った装置は多数のコインに使用できることも意味する。ミクロンオーダ等の微細な公差を区別しようとしない従来のコインテスト装置は、いずれも限定された通貨セット、例えば、コイン毎の寸法がかなり異なる１つの国のコインにしか有用ではない傾向がある。これら従来の装置はあるコインが僅か数ミクロンしか寸法が違わない大きいセットのコインに対して有効に使用されるとは思われない。例えば、実験では、本発明の１つの装置は１組の１００を越える異なるコインをうまく区別することができたが、本発明は遥かに大きいセットの異なるコインを区別することができる。単なる例として実施例を提示してきたが、添付した請求の範囲の精神および範囲内で修正が可能である。

【手続補正書】特許法第１８４条の８第１項【提出日】平成１０年７月７日（１９９８．７．７）【補正内容】明細書コインテスト装置および方法本発明はコインテスト装置およびコイン識別方法に関する。コインテストシステム、すなわちコイン鑑定機が、例えば、自動販売機や電話機において異なるコインを識別し鑑定するのに使用されている。例えば、自動販売機、公衆および構内電話機等のさまざまな目的に使用されるさまざまな電気機械および電磁コイン鑑定機がある。このような鑑定機は、例えば、空港、鉄道の駅、ギャンブル機械、産業、学校、病院、ホテル、もしくはオフショアプラットホーム等において多種の自動販売機やスロットマシンに使用することができる。自動販売機や電話機で作動するこのようなコイン鑑定機は、一般的に鑑別できる異なるコインの種類が非常に限定されている。英国特許出願ＧＢ−Ａ−２，２１２，３１３にはコインの縁へある角度で光線が向けられるコイン分類装置が開示されている。コインが正当な直径であれば、光線の一部は第１の検出器へ直線で通され光線の一部は直線経路上にない第２の検出器へ反射（散乱）される。ＧＢ−Ａ−２，２１２，３１３のシステムは両方の検出器により受光されてコインが光線を一部反射する正当な直径であることを識別するある光を頼りにしている。いずれの検出器にも受光されないか、あるいは全ての光が直進検出器により受光される場合には、コインは所望の直径でない。このシステムは考えられる１つの光源としてレーザダイオードを示唆している。欧州公開特許出願ＥＰ−Ａ−０，６２９，９７９には光電流および線形センサーアレイを使用して供給されるある量の新しいコインが正しいサイズを有することを保証するシステムが開示されている。発明の要約本発明の第１の特徴に従って、コインの表面へレーザビームが向けられレーザ検出器を使用してコイン表面の寸法的特徴の表示を得るようにする、コインテスト方法が提供され、前記レーザ検出器はレーザビームがコインにより遮られる所および遮られない所を検出することを特徴としている。コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出することができる。最初に述べたレーザビームから２次レーザビームを引き出すことができる。最初に述べたレーザビームの一部を転向させるプリズムにより最初に述べたレーザビームから２次レーザビームを引き出すことができる。好ましくは、コインとレーザの遮断点において、コインはレーザビームに絶対的に直交する。コインとレーザの遮断点において、レーザビームは実質的にレーザ放射の薄い平面状とすることができる。本発明の第２の特徴に従って、コインテスト装置が提供され、コイン表面上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザ検出器と、コイン表面の寸法的特徴の表示をレーザ検出器の出力から得るように適合され配置された信号処理装置とを含み、前記レーザ検出器はレーザがコインにより遮られる所と遮られない所を検出するように適合および配置されている。好ましくは、本装置はコイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている。本装置はコイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにすることができる。ビームは前記ストリップ、もしくはその一部を、次々に走査するようにすることができる。ビームは扇状として前記全てのすなわち各ストリップもしくはその一部に同時に入射するようにすることができる。例えば、実験では、本発明の１つの装置は１組の１００を越える異なるコインをうまく区別することができたが、本発明は遥かに大きいセットの異なるコインを区別することができる。単なる例として実施例を提示してきたが、添付した請求の範囲の範囲内で修正が可能である。請求の範囲１．コイン（４）の表面上へレーザビーム（１３）が向けられ、レーザ検出器（３）を使用してコイン表面の寸法的特徴の表示を得るようにされているコインテスト方法であって、前記レーザ検出器はコインによりレーザビームが遮られる所および遮られない所を検出することを特徴とするコインテスト方法。２．請求項１記載の方法であって、コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さが決定すなわち検出される方法。３．請求項２記載の方法であって、コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さが決定すなわち検出される方法。４．請求項３記載の方法であって、ビームが前記ストリップもしくはその前記一部を次々に走査する方法。５．請求項２から請求項４のいずれか一項記載の方法であって、前記ビームは前記全てのすなわち各ストリップ、もしくはその一部、に同時に入射するように扇状とされている方法。６．前記いずれかの項記載の方法であって、前記レーザ検出器は各々が個別にレーザ放射を検出することができる多数の横に並べたピクセルを含む方法。７．請求項１から請求項６のいずれか一項記載の方法であって、前記ビームは静止しておりコインがビームを通過する方法。８．請求項７記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に回転する方法。９．請求項７もしくは請求項８記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に案内（６１）に沿って移動する方法。１０．請求項７記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に自由落下する方法。１１．請求項２から請求項５のいずれか一項記載の方法、もしくは請求項２から請求項５のいずれか一項に従属する請求項６から請求項１０のいずれか一項記載の方法であって、前記各ストリップの一端はコインの縁にあり他端はコインの縁ではない所定位置にある方法。１２．請求項３記載の方法、もしくは請求項３に従属する請求項４から請求項１１のいずれか一項記載の方法であって、コイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴が決定すなわち検出される方法。１３．請求項３記載の方法、もしくは請求項３に従属する請求項４から請求項１２のいずれか一項記載の方法であって、コイン縁上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数がカウントされる方法。１４．請求項１から請求項１３のいずれか一項記載の方法であつて、第２のレーザビームがコイン縁へ向けられコインの縁および／もしくは厚さの特徴を決定するように検出される方法。１５．請求項１４記載の方法であって、前記第２のレーザビームは前記第１のレーザビームから引き出される方法。１６．請求項１５記載の方法であって、前記第２のレーザビームは前記第1 のレーザビームの一部を転向させるプリズムにより前記第１のレーザビームから引き出される方法。１７．前記いずれか一項記載の方法であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記コインは前記レーザビームに絶対的に直交する方法。１８．前記いずれか一項記載の方法であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記レーザビームは実質的にレーザ放射の薄い平面状である方法。１９．コインテスト装置であって、コインの表面上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザ検出器と、レーザ検出器の出力からコイン表面の寸法的特徴の表示を得るように適合され配置された信号処理装置と、を含み、前記レーザ検出器はコインによりレーザが遮られる所および遮られない所を検出するように適合され配置されていることを特徴とするコインテスト装置。２０．請求項１９記載の装置であって、コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている装置。２１．請求項２０記載の装置であって、コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている装置。２２．請求項２１記載の装置であって、ビームが前記ストリップもしくはその一部を次々に走査するようにされている装置。２３．請求項２０から請求項２２のいずれか一項記載の装置であって、前記ビームは前記全部すなわち各ストリップもしくはその一部に同時に入射するように扇状とされている装置。２４．請求項１９から請求項２３のいずれか一項記載の装置であって、レーザ源したがってビームは静止しており装置はコインにビームを通過させるようにされている装置。２５．請求項２４記載の装置であって、コインがビームを通過する時にそれに沿って動くコイン案内を含む装置。５１．コインテスト装置であって、該装置は、下部境界を有するコイン通路を規定するコイン案内であって、コインは前記下部境界によりその周縁において連続的に支持されながら前記コイン案内に沿って装置内を進むことができるコイン案内と、前記通路内のコインの主面に実質的に直交して前記通路の一部の一方側から他方側へレーザビームを向けて、コインが前記通路の前記一部を通過する時にその上部領域によりレーザビームが遮られるように搭載されているレーザ源と、前記通路の前記一部の前記他方側にレーザ受光位置の線形アレイを含むレーザ検出器であって、前記アレイは前記主面に実質的に平行にかつ通路の前記一部に沿ったコインの進行方向を横切って延びており、装置で使用されるいくつかのコインの最小径よりも小さい第１の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた下端と、前記いくつかのコインの最大径よりも大きい第２の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた上端とを有し、前記レーザ検出手段は通路の前記一部に沿って進むコインにより連続する複数のサンプリング時点において前記レーザビームが遮断される前記レーザ受光位置数によって決まる出力を発生するように作動し、前記出力を所定の基準データレコードと比較してそれらのデータのいずれが前記出力に対応するかを確認することができるコインテスト装置。５２．請求項３６から請求項５１のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記コインテスト装置は非通貨トークンである前記コインで作動するようにされているコインテスト装置。５３．請求項３６から請求項５２のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記装置は２個以上のレーザ源と２個以上のレーザ検出器を含むコインテスト装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＧＨ，ＨＵ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ

Claims

【特許請求の範囲】１．コインの表面上へレーザビームが向けられ、レーザ検出器を使用してコインによりレーザが遮られる所および遮られない所が検出されて、コイン表面の寸法的特徴の表示を得るようにされているコインテスト方法。２．請求項１記載の方法であって、コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さが決定すなわち検出される方法。３．請求項２記載の方法であって、コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さが決定すなわち検出される方法。４．請求項３記載の方法であって、ビームが前記ストリップもしくはその前記一部を次々に走査する方法。５．請求項２から請求項４のいずれか一項記載の方法であって、前記ビームは前記全てのすなわち各ストリップ、もしくはその一部、に同時に入射するように扇状とされている方法。６．前記いずれかの項記載の方法であって、前記レーザ検出器は各々が個別にレーザ放射を検出することができる多数の横に並べたピクセルを含む方法。７．請求項１から請求項６のいずれか一項記載の方法であって、前記ビームは静止しておりコインがビームを通過する方法。８．請求項７記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に回転する方法。９．請求項７もしくは請求項８記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に案内に沿って移動する方法。１０．請求項７記載の方法であって、前記コインはビームを通過する時に自由落下する方法。１１．請求項２から請求項５のいずれか一項記載の方法、もしくは請求項２から請求項５のいずれか一項に従属する請求項６から請求項１０のいずれか一項記載の方法であって、前記各ストリップの一端はコインの縁にあり他端はコインの縁ではない所定位置にある方法。１２．請求項３記載の方法、もしくは請求項３に従属する請求項４から請求項１１のいずれか一項記載の方法であって、コイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴が決定すなわち検出される方法。１３．請求項３記載の方法、もしくは請求項３に従属する請求項４から請求項１２のいずれか一項記載の方法であって、コイン縁上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数がカウントされる方法。１４．請求項１から請求項１３のいずれか一項記載の方法であって、第２のレーザビームがコイン縁へ向けられコインの縁および／もしくは厚さの特徴を決定するように検出される方法。１５．請求項１４記載の方法であって、前記第２のレーザビームは前記第１のレーザビームから引き出される方法。１６．請求項１５記載の方法であって、前記第２のレーザビームは前記第１のレーザビームの一部を転向させるプリズムにより前記第１のレーザビームから引き出される方法。１７．前記いずれか一項記載の方法であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記コインは前記レーザビームに絶対的に直交する方法。１８．前記いずれか一項記載の方法であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記レーザビームは実質的にレーザ放射の薄い平面状である方法。１９．コインテスト装置であって、コインの表面上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザがコインにより遮られる所および遮られない所を検出するように適合され配置されたレーザ検出器と、レーザ検出器の出力からコイン表面の寸法的特徴の表示を得るように適合され配置された信号処理装置と、を含むコインテスト装置。２０．請求項１９記載の装置であって、コイン表面の少なくとも１つの細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている装置。２１．請求項２０記載の装置であって、コイン表面の複数の細長いストリップの少なくとも一部の長さを決定すなわち検出するようにされている装置。２２．請求項２１記載の装置であって、ビームが前記ストリップもしくはその一部を次々に走査するようにされている装置。２３．請求項２０から請求項２２のいずれか一項記載の装置であって、前記ビームは前記全部すなわち各ストリップもしくはその一部に同時に入射するように扇状とされている装置。２４．請求項１９から請求項２３のいずれか一項記載の装置であって、レーザ源したがってビームは静止しており装置はコインにビームを通過させるようにされている装置。２５．請求項２４記載の装置であって、コインがビームを通過する時にそれに沿って動くコイン案内を含む装置。２６．請求項２４記載の装置であって、使用時に、コインはビームを通過する時に自由落下するようにされている装置。２７．請求項２０から請求項２３のいずれか一項記載の装置、もしくは請求項２０から請求項２３のいずれか一項に従属する請求項２４から請求項２６のいずれか一項記載の装置であって、使用時に、前記各ストリップの一端はコインの縁にあり他端はコインの縁ではない所定位置にある装置。２８．請求項２１記載の装置、もしくは請求項２１に従属する請求項２２から請求項２７のいずれか一項記載の装置であって、コイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴が決定すなわち検出される装置。２９．請求項２１記載の装置、もしくは請求項２１に従属する請求項２２から請求項２８のいずれか一項記載の装置であって、コイン縁上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数がカウントされる装置。３０．請求項１９から請求項２９のいずれか一項記載の装置であって、コインの縁へ第２のレーザビームを向ける手段と、第２のビームがコインにより遮られている所を検出する手段と、そこからコインの縁および／もしくは厚さの特徴を決定する手段とを含む装置。３１．請求項３０記載の装置であって、前記第２のレーザビームを前記第１のレーザビームから引き出す手段を含む装置。３２．請求項３１記載の装置であって、前記第２のレーザビームを前記第１のレーザビームから引き出す手段は前記第１のレーザビームの一部を転向させるプリズムを含む装置。３３．請求項１９から請求項３２のいずれか一項記載の装置であって、前記レーザ検出器は各々が個別にレーザ放射を検出することができる多数の横に並ベたピクセルを含む装置。３４．請求項１９から請求項３３のいずれか一項記載の装置であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記コインは前記レーザビームに絶対的に直交する装置。３５．請求項１９から請求項３４のいずれか一項記載の装置であって、前記コインと前記レーザの遮断点において、前記レーザビームは実質的にレーザ放射の薄い平面状である装置。３６．コインテスト装置であって、コインの表面上へレーザビームを向けるように適合され配置されたレーザ源と、レーザがコインにより遮られる所および遮られない所を検出するように適合され配置されたレーザ検出器と、レーザ源とレーザ検出器間を通過するレーザビームの一部をコインが遮られるようにコインを特定の経路に沿って進めることができるようにされているコイン案内と、レーザ検出器の出力を得るように適合され配置された信号処理装置と、を含み、レーザビームの遮られる割合はコインの幾何学的寸法の少なくとも１つの大きさを与え、コインの前記大きさをいくつかの既知のコインの対応する大きさと比較することによりコインを識別することができるコインテスト装置。３７．請求項３６記載のコインテスト装置であって、少なくとも１つの大きさは前記コインの表面上の幾何学的寸法により構成され、もう１つの大きさは前記コインの厚さにより構成され前記表面および厚さの前記大きさは前記いくつかの既知のコインの対応する大きさと比較されるコインテスト装置。３８．請求項３６もしくは請求項３７のいずれかの項記載のコインテスト装置であって、ある範囲の幾何学的寸法が反復測定されて前記コインの表面領域の積分面積測定値が与えられ、前記コインの前記面積測定値を前記いくつかの既知のコインの対応する面積測定値と比較することにより前記コインを識別することができるコインテスト装置。３９．請求項３８記載のコインテスト装置であって、コイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴が決定すなわち検出されるコインテスト装置。４０．請求項３８から請求項３９のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、コイン縁上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数がカウントされるコインテスト装置。４１．請求項３６から請求項４０のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記コインの前記幾何学的寸法の大きさ、および前記いくつかの既知のコインの前記対応する大きさは全て各コインの直径もしくは、不規則な形のコインの場合には、その最大断面よりも小さいコインの測定値に関連しているコインテスト装置。４２．請求項３６から請求項４１のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記レーザ源と前記レーザ検出器の間を通過する前記レーザビームはその間を遠回りの非直接的ルートを介して進むコインテスト装置。４３．請求項４２記載のコインテスト装置であって、前記レーザビームは１個以上のミラーもしくはプリズムにより前記遠回りの非直接的ルートに沿って指向されるコインテスト装置。４４．請求項３６から請求項４３のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記経路は下部境界を有する通路を含み、前記コインは前記通路の下部境界によりその周縁で連続的に支持されながら前記通路に沿って装置内を進むことができるコインテスト装置。４５．請求項４４記載のコインテスト装置であって、前記レーザ源は前記通路内の前記コインの主面に実質的に直交して前記通路の一部の一方側から他方側へレーザビームを向けて、コインが前記通路の前記一部を通過する時にその上部領域によりレーザビームが遮られるように搭載されているコインテスト装置。４６．請求項３６から請求項４５のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記レーザ検出器は各々が個別にレーザ放射を検出することができる多数の横に並べられたピクセルの線形アレイを含むコインテスト装置。４７．請求項４５に従属する場合の請求項４６記載のコインテスト装置であって、前記アレイは前記主面に実質的に平行にかつ通路の前記一部に沿った前記コインの進行方向を横切って延びており、前記いくつかのコインの最小径よりも小さい第１の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた下端と、前記いくつかのコインの最大径よりも大きい第２の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた上端とを有し、前記レーザ検出器は通路の前記一部に沿って進むコインにより連続する複数のサンプリング時点において前記レーザビームが遮断される前記ピクセル数によって決まる出力を発生するように作動し、前記出力を所定の基準データレコードと比較してそれらのレコードのいずれが前記出力に対応するかを確認することができるコインテスト装置。４８．請求項４６もしくは請求項４７のいずれかの項記載のコインテスト装置であって、前記各ピクセルは電荷蓄積器もしくは電荷検出器の一部であるコインテスト装置。４９．請求項３６から請求項４８のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記コインは遮断点において前記レーザビームに絶対的に直交するように前記経路に沿って進むコインテスト装置。５０．請求項３６から請求項４９のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記コインにより遮られる前記レーザビームは、遮断点において、実質的にレーザ放射の薄い平面状とされているコインテスト装置。５１．コインテスト装置であって、該装置は、下部境界を有するコイン通路を規定するコイン案内であって、コインは前記下部境界によりその周縁において連続的に支持されながら前記コイン案内に沿って装置内を進むことができるコイン案内と、前記通路内のコインの主面に実質的に直交して前記通路の一部の一方側から他方側へレーザビームを向けて、コインが前記通路の前記一部を通過する時にその上部領域によりレーザビームが遮られるように搭載されているレーザ源と、前記通路の前記一部の前記他方側にレーザ受光位置の線形アレイを含むレーザ検出器であって、前記アレイは前記主面に実質的に平行にかつ通路の前記一部に沿ったコインの進行方向を横切って延びており、装置で使用されるいくつかのコインの最小径よりも小さい第１の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた下端と、前記いくつかのコインの最大径よりも大きい第２の距離だけ前記下部境界から間隔のとられた上端とを有し、前記レーザ検出手段は通路の前記一部に沿って進むコインにより連続する複数のサンプリング時点において前記レーザビームが遮断される前記レーザ受光位置数によって決まる出力を発生するように作動し、前記出力を所定の基準データレコードと比較してそれらのデータのいずれが前記出力に対応するかを確認することができるコインテスト装置。５２．請求項３６から請求項５１のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記コインは非通貨トークンであるコインテスト装置。５３．請求項３６から請求項５２のいずれか一項記載のコインテスト装置であって、前記装置は２個以上のレーザ源と２個以上のレーザ検出器を含むコインテスト装置。５４．コインもしくはトークン作動装置で使用される請求項３６から請求項５３のいずれか一項記載のコインテスト装置。５５．請求項３６から請求項５３のいずれか一項記載のコインテスト装置を含むコインもしくはトークン作動装置。５６．コイン識別方法であって、ｉ）レーザ放射源とレーザ検出器との間を通過するレーザビームの一部を遮るように特定経路に沿ってコインを進めるステップと、 ii）前記レーザビームの遮られる割合を前記コインの少なくとも１つの幾何学的大きさを確認する手段として測定するステップと、 iii）前記コインを識別するために前記コインの前記大きさをいくつかの既知のコインの対応する大きさと比較するステップと、を含むコイン識別方法。５７．請求項５６記載の方法であって、前記少なくとも１つの大きさは前記コインの表面上の幾何学的寸法により構成され、前記方法はさらに前記大きさを前記いくつかの既知のコインの対応する大きさと比較するために前記コインの厚さの大きさを確認するステップを含む方法。５８．請求項５６もしくは請求項５７のいずれかの項記載の方法であつて、前記方法はさらに前記コインのいくつかの幾何学的寸法の大きさを確認して前記コインの表面領域の積分面積測定値を与えるステップを含み、前記コインはその前記面積測定値を前記いくつかの既知のコインの対応する面積測定値と比較することにより識別することができる方法。５９．請求項５８記載の方法であって、さらにコイン縁上の溝および／もしくは隆起の寸法的特徴を決定すなわち検出するステップを含む方法。６０．請求項５８もしくは請求項５９のいずれか一項記載の方法であって、さらに前記コイン上の所定距離内の溝および／もしくは隆起数をカウントするステップを含む方法。６１．請求項５６から請求項６０のいずれか一項記載の方法であって、前記レーザ検出器は各々がレーザ放射を個別に検出することができるピクセルの少なくとも１つの線形アレイを含む方法。６２．請求項６１記載の方法であって、前記少なくとも１つのアレイは電荷蓄積器もしくは電荷検出器のアレイを含む方法。６３．請求項５６から請求項６２のいずれか一項記載の方法であって、前記コインは遮断点において前記レーザビームに絶対的に直交するように前記経路に沿って進められる方法。６４．請求項５６から請求項６３のいずれか一項記載の方法であって、前記コインの価値がクレジットカードや貸方勘定の貸方に記入される方法。６５．実質的に前記しかつ添付図に例示したコインテスト方法。６６．実質的に前記しかつ添付図に例示したコインテスト装置。