JP2000335062A - 印刷検査方法 - Google Patents
印刷検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高速・高精度で印刷物を検査する印刷検査方
法を提供する。 【解決手段】 印刷物（被検査物）のパターンを取り込
み、検査画像として記憶する。基準画像から検査画像を
減算処理して付加欠陥検出信号を検出し、また、検査画
像から基準画像を減算処理して、欠如欠陥検出信号を検
出する。次に、付加欠陥検出信号または欠如欠陥検出信
号について、基準画像の画像境界部に設定した基準画像
マスク、または、検査画像の画像境界部に設定した検査
画像マスクを用いて、マスク処理をし、各種の印刷不良
（異物、詰まり、欠け、欠損）を検出する。
法を提供する。 【解決手段】 印刷物（被検査物）のパターンを取り込
み、検査画像として記憶する。基準画像から検査画像を
減算処理して付加欠陥検出信号を検出し、また、検査画
像から基準画像を減算処理して、欠如欠陥検出信号を検
出する。次に、付加欠陥検出信号または欠如欠陥検出信
号について、基準画像の画像境界部に設定した基準画像
マスク、または、検査画像の画像境界部に設定した検査
画像マスクを用いて、マスク処理をし、各種の印刷不良
（異物、詰まり、欠け、欠損）を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、印刷物における印
刷不良の有無を検査する方法に関する。
刷不良の有無を検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】チューブ・ボトルなどの容器その他の表
面には印刷機により印刷が行われる。たとえば自動化さ
れた製造ラインにおいて印刷が行なわれる場合、印刷直
後や最終の外観検査工程で、被検査物の表面の印刷物に
対して印刷欠陥（付着異物を含む）の有無が検査され
る。従来の印刷検査では、パターンマッチングを利用し
て、被検査物の印刷物について得られた検査画像につい
て基準画像との差異を求め、差異があると印刷不良とす
る方法が多く行われている。このとき、被検査物が良品
であっても、それを取りこんだ検査画像には、印刷機で
の印刷時または検査時に発生する、傾き、ずれ、伸縮な
どの誤差が含まれており、それを補正しきれないことが
ある。このため、基準画像とパターンマッチングを行な
った場合、そのような誤差の生じた被検査物を不良と誤
って判定してしまう場合がある。
面には印刷機により印刷が行われる。たとえば自動化さ
れた製造ラインにおいて印刷が行なわれる場合、印刷直
後や最終の外観検査工程で、被検査物の表面の印刷物に
対して印刷欠陥（付着異物を含む）の有無が検査され
る。従来の印刷検査では、パターンマッチングを利用し
て、被検査物の印刷物について得られた検査画像につい
て基準画像との差異を求め、差異があると印刷不良とす
る方法が多く行われている。このとき、被検査物が良品
であっても、それを取りこんだ検査画像には、印刷機で
の印刷時または検査時に発生する、傾き、ずれ、伸縮な
どの誤差が含まれており、それを補正しきれないことが
ある。このため、基準画像とパターンマッチングを行な
った場合、そのような誤差の生じた被検査物を不良と誤
って判定してしまう場合がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】これを防ぐため、画像
境界部にマスクを作成し、その部分を検査対象外とする
方法がある（特開平４−３３９６５３号公報参照）。こ
れにより、画像のわずかなずれなどを不良と判断するこ
となく、印刷の欠陥のみを検出できる。この方法では、
基準画像と検査画像のパターンマッチングで得られた画
像にマスク処理を行うと、画像境界部のパターンマッチ
ングのわずかなずれにより発生したノイズは消去できる
が、しかし、同時に、パターンマッチングで検出された
印刷欠陥や付着異物にもマスクがかかってしまう。よっ
て、微小な欠陥／異物は検出できなくなってしまい、高
精度の検査が実現できなくなる。
境界部にマスクを作成し、その部分を検査対象外とする
方法がある（特開平４−３３９６５３号公報参照）。こ
れにより、画像のわずかなずれなどを不良と判断するこ
となく、印刷の欠陥のみを検出できる。この方法では、
基準画像と検査画像のパターンマッチングで得られた画
像にマスク処理を行うと、画像境界部のパターンマッチ
ングのわずかなずれにより発生したノイズは消去できる
が、しかし、同時に、パターンマッチングで検出された
印刷欠陥や付着異物にもマスクがかかってしまう。よっ
て、微小な欠陥／異物は検出できなくなってしまい、高
精度の検査が実現できなくなる。
【０００４】本発明の目的は、高速・高精度で印刷物を
検査する印刷検査方法を提供することである。
検査する印刷検査方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の印刷検査方法で
は、あらかじめ基準パターンを記憶しておく。印刷物
（被検査物）のパターンを取り込み、検査画像として記
憶する。次に、あらかじめ記憶しておいた基準画像の画
像境界部にマスクを作成し、基準画像マスクとして設定
する。また、検査画像の画像境界部にマスクを作成し、
検査画像マスクとして設定する。ここで、基準画像と検
査画像の位置合わせを行い、減算処理をおこなう。基準
画像から検査画像を減算処理すると、検査画像の濃度値
が低い場合のみ信号（付加欠陥検出信号）が検出され
る。また、検査画像から基準画像を減算処理すると、基
準画像の濃度値が低い場合のみ信号（欠如欠陥検出信
号）が検出される。したがって、基準画像から検査画像
を減算処理すると、付加欠陥（画像境界部ノイズを含
む）が検出可能であり、検査画像から基準画像を減算処
理すると、欠如欠陥（画像境界部ノイズを含む）が検出
可能である。なお、減算処理とは、たとえば、対応する
基準画像と検査画像を１画素の単位で比較し、基準画像
の濃度値から、対応する検査画像の濃度値を減算したも
の、または、検査画像の濃度値から、対応する基準画像
の濃度値を減算したものとする（減算結果が０未満の場
合は０とする）。そして、付加欠陥検出信号または欠如
欠陥検出信号について、基準画像マスクまたは検査画像
マスクを用いてマスク処理をし、各種の印刷不良を検出
する。たとえば、付加欠陥検出信号に対して、基準画像
マスク処理を施すと、画像境界部の、パターンマッチン
グのずれにより発生したノイズ（画像境界部ノイズ）は
消去され、付加欠陥のみが検出される。特に異物（印刷
されていない所に付着した欠陥）に対してはマスクがか
からず、そのまま検出できる。また、付加欠陥検出信号
に対して、検査画像マスク処理を施すと、画像境界部ノ
イズは消去され、付加欠陥のみが検出される。特に、詰
まり（印刷部の一部にあった抜けが無くなってしまう欠
陥）に対してはマスクがかからず、そのまま検出でき
る。一方、欠如欠陥検出信号に対して、基準画像マスク
処理を施すと、画像境界部ノイズは消去され、欠如欠陥
のみが検出される。特に欠け（印刷部の一部が欠けてし
まう欠陥）に対してはマスクがかからず、そのまま検出
できる。また、欠如欠陥検出信号に対して、検査画像マ
スク処理を施すと、画像境界部ノイズは消去され、欠如
欠陥のみが検出される。特に、欠損（文字などが無くな
ってしまう欠陥）に対してはマスクがかからず、そのま
ま検出できる。このように、上述の個々の印刷検査方法
では、ある特定の種類の印刷不良を検出できる。また、
以上のマスク処理方法を組合わせることにより、高精度
な検査、かつ、すべての欠陥の検出が可能となる。これ
により、良品の誤検出を少なくし、不良品の検出精度を
上げることができる。また、付加欠陥のみの検出などの
検査対象の選択も可能になる。
は、あらかじめ基準パターンを記憶しておく。印刷物
（被検査物）のパターンを取り込み、検査画像として記
憶する。次に、あらかじめ記憶しておいた基準画像の画
像境界部にマスクを作成し、基準画像マスクとして設定
する。また、検査画像の画像境界部にマスクを作成し、
検査画像マスクとして設定する。ここで、基準画像と検
査画像の位置合わせを行い、減算処理をおこなう。基準
画像から検査画像を減算処理すると、検査画像の濃度値
が低い場合のみ信号（付加欠陥検出信号）が検出され
る。また、検査画像から基準画像を減算処理すると、基
準画像の濃度値が低い場合のみ信号（欠如欠陥検出信
号）が検出される。したがって、基準画像から検査画像
を減算処理すると、付加欠陥（画像境界部ノイズを含
む）が検出可能であり、検査画像から基準画像を減算処
理すると、欠如欠陥（画像境界部ノイズを含む）が検出
可能である。なお、減算処理とは、たとえば、対応する
基準画像と検査画像を１画素の単位で比較し、基準画像
の濃度値から、対応する検査画像の濃度値を減算したも
の、または、検査画像の濃度値から、対応する基準画像
の濃度値を減算したものとする（減算結果が０未満の場
合は０とする）。そして、付加欠陥検出信号または欠如
欠陥検出信号について、基準画像マスクまたは検査画像
マスクを用いてマスク処理をし、各種の印刷不良を検出
する。たとえば、付加欠陥検出信号に対して、基準画像
マスク処理を施すと、画像境界部の、パターンマッチン
グのずれにより発生したノイズ（画像境界部ノイズ）は
消去され、付加欠陥のみが検出される。特に異物（印刷
されていない所に付着した欠陥）に対してはマスクがか
からず、そのまま検出できる。また、付加欠陥検出信号
に対して、検査画像マスク処理を施すと、画像境界部ノ
イズは消去され、付加欠陥のみが検出される。特に、詰
まり（印刷部の一部にあった抜けが無くなってしまう欠
陥）に対してはマスクがかからず、そのまま検出でき
る。一方、欠如欠陥検出信号に対して、基準画像マスク
処理を施すと、画像境界部ノイズは消去され、欠如欠陥
のみが検出される。特に欠け（印刷部の一部が欠けてし
まう欠陥）に対してはマスクがかからず、そのまま検出
できる。また、欠如欠陥検出信号に対して、検査画像マ
スク処理を施すと、画像境界部ノイズは消去され、欠如
欠陥のみが検出される。特に、欠損（文字などが無くな
ってしまう欠陥）に対してはマスクがかからず、そのま
ま検出できる。このように、上述の個々の印刷検査方法
では、ある特定の種類の印刷不良を検出できる。また、
以上のマスク処理方法を組合わせることにより、高精度
な検査、かつ、すべての欠陥の検出が可能となる。これ
により、良品の誤検出を少なくし、不良品の検出精度を
上げることができる。また、付加欠陥のみの検出などの
検査対象の選択も可能になる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の実施の形態の印刷検査方法を説明する。なお、図面
において、同じ参照記号は同一または同等のものを示
す。この印刷検査方法は、たとえば、自動化された製造
ラインにおいて、印刷直後、最終の外観検査工程などで
使用され、被検査物表面の印刷の欠陥や異物の付着の有
無を検査する。
明の実施の形態の印刷検査方法を説明する。なお、図面
において、同じ参照記号は同一または同等のものを示
す。この印刷検査方法は、たとえば、自動化された製造
ラインにおいて、印刷直後、最終の外観検査工程などで
使用され、被検査物表面の印刷の欠陥や異物の付着の有
無を検査する。
【０００７】図１に示す印刷検査装置は、ワーク回転ユ
ニット２、撮像装置３、反射照明４、２台の搬送機構
（搬入コンベア８と搬出コンベア９）、渡しユニット１
５および制御部５を備える。図２に示すように、搬入コ
ンベア８と搬出コンベア９は、並列に配置され、渡しユ
ニット１５は搬入コンベア８とワーク回転ユニット２の
間に配置される。ワーク回転ユニット２は回転ユニット
移動ステージ６に固定されている。この印刷検査装置
は、サーボ駆動の搬入コンベア８で被検査物１を検査部
まで搬送させ、複数の被検査物１をワーク回転ユニット
２の回転軸２'に同時に挿入し、サーボモーターにより
高速回転しながら撮像装置３の複数のラインセンサーに
て被検査物１を撮像し、撮像データを画像処理部５へ転
送して印刷欠陥を検査する。撮像の後、被測定物を、搬
入コンベア８と同期した搬出コンベア９に戻し、次工程
に進める。この装置では、複数の被検査物を同時に検査
することにより検査の高速と高精度を両立できる。以下
に、印刷検査装置について詳細に説明する。
ニット２、撮像装置３、反射照明４、２台の搬送機構
（搬入コンベア８と搬出コンベア９）、渡しユニット１
５および制御部５を備える。図２に示すように、搬入コ
ンベア８と搬出コンベア９は、並列に配置され、渡しユ
ニット１５は搬入コンベア８とワーク回転ユニット２の
間に配置される。ワーク回転ユニット２は回転ユニット
移動ステージ６に固定されている。この印刷検査装置
は、サーボ駆動の搬入コンベア８で被検査物１を検査部
まで搬送させ、複数の被検査物１をワーク回転ユニット
２の回転軸２'に同時に挿入し、サーボモーターにより
高速回転しながら撮像装置３の複数のラインセンサーに
て被検査物１を撮像し、撮像データを画像処理部５へ転
送して印刷欠陥を検査する。撮像の後、被測定物を、搬
入コンベア８と同期した搬出コンベア９に戻し、次工程
に進める。この装置では、複数の被検査物を同時に検査
することにより検査の高速と高精度を両立できる。以下
に、印刷検査装置について詳細に説明する。
【０００８】被検査物１の搬入について説明すると、例
えばスターホイール（図示しない）が搬入コンベア８の
一端（セット部）に設置され、被検査物１を搬入コンベ
ア８上に１個ずつ投入する。被検査物１は、サーボモー
ター１１を駆動源として搬入コンベア８上を移送され
る。搬入コンベア８は、複数の被検査物１を間欠的に搬
送できる。被検査物有無センサー１０により被検査物１
が所定位置まで到達したと判断されると、６個の被検査
物１が、同時に移送機構１４により水平方向に渡しユニ
ット１５上に移動される。次に、渡しユニット１５は上
昇しワーク回転ユニット２と同じ高さで停止する。さら
に、別の移送機構１４'は、６個の被検査物１を同時に
水平方向に移動して、円筒状の被検査物１の開口部をワ
ーク回転ユニット２の円筒状の回転軸２'に挿入する。
そして、被検査物１の内部に回転軸２'が入り込み、被
検査物１が回転軸２'に固定される。こうして、被検査
物１の表面が、撮像可能な位置に設置されたことにな
る。
えばスターホイール（図示しない）が搬入コンベア８の
一端（セット部）に設置され、被検査物１を搬入コンベ
ア８上に１個ずつ投入する。被検査物１は、サーボモー
ター１１を駆動源として搬入コンベア８上を移送され
る。搬入コンベア８は、複数の被検査物１を間欠的に搬
送できる。被検査物有無センサー１０により被検査物１
が所定位置まで到達したと判断されると、６個の被検査
物１が、同時に移送機構１４により水平方向に渡しユニ
ット１５上に移動される。次に、渡しユニット１５は上
昇しワーク回転ユニット２と同じ高さで停止する。さら
に、別の移送機構１４'は、６個の被検査物１を同時に
水平方向に移動して、円筒状の被検査物１の開口部をワ
ーク回転ユニット２の円筒状の回転軸２'に挿入する。
そして、被検査物１の内部に回転軸２'が入り込み、被
検査物１が回転軸２'に固定される。こうして、被検査
物１の表面が、撮像可能な位置に設置されたことにな
る。
【０００９】撮像に用いられるワーク回転ユニット２
は、例えばサーボモーター１３を駆動源とし、電磁クラ
ッチ１２にて回転と停止を行うものである。被検査物を
複数同時に搬送するので、２回転以上の安定した撮像時
間が設定できる。そこで、回転ユニット２にて被検査物
１を等速で回転させる。被検査物１の上方に設置された
撮像装置３は、ＣＣＤ等の光電素子が縦方向に１次元的
に配列されたラインセンサーを備え、制御部５に電気的
に接続されている。回転が安定すると、撮像装置３が、
等速で回転される被検査物１に対して、反射照明４から
照射された光による被測定物１からの反射光による像を
２回転の間、撮像する。この例では、６個の被検査物１
に対して、３台の撮像装置が設置され、１個おきに３個
の被検査物１を撮像する。撮像が終了すると、ワーク回
転ユニット２の位置を移動し、隣の被検査物１を撮像す
る。これにより、６個の被検査物１の表面の２回転分の
画像が得られる。制御部５では、得られた画像データに
基づいて印刷欠陥の有無が検出される。被検査物を複数
同時に搬送、検査することにより、２回転以上の安定し
た撮像時間がとれるので、制御部５は、被検査物と回転
軸２'の機械的な位置ずれなどにより生ずる印刷位置ず
れや回転方向の伸縮などの誤差の補正を行うことが可能
となり、検査精度が向上する。
は、例えばサーボモーター１３を駆動源とし、電磁クラ
ッチ１２にて回転と停止を行うものである。被検査物を
複数同時に搬送するので、２回転以上の安定した撮像時
間が設定できる。そこで、回転ユニット２にて被検査物
１を等速で回転させる。被検査物１の上方に設置された
撮像装置３は、ＣＣＤ等の光電素子が縦方向に１次元的
に配列されたラインセンサーを備え、制御部５に電気的
に接続されている。回転が安定すると、撮像装置３が、
等速で回転される被検査物１に対して、反射照明４から
照射された光による被測定物１からの反射光による像を
２回転の間、撮像する。この例では、６個の被検査物１
に対して、３台の撮像装置が設置され、１個おきに３個
の被検査物１を撮像する。撮像が終了すると、ワーク回
転ユニット２の位置を移動し、隣の被検査物１を撮像す
る。これにより、６個の被検査物１の表面の２回転分の
画像が得られる。制御部５では、得られた画像データに
基づいて印刷欠陥の有無が検出される。被検査物を複数
同時に搬送、検査することにより、２回転以上の安定し
た撮像時間がとれるので、制御部５は、被検査物と回転
軸２'の機械的な位置ずれなどにより生ずる印刷位置ず
れや回転方向の伸縮などの誤差の補正を行うことが可能
となり、検査精度が向上する。
【００１０】撮像が終わった複数の被測定物１は、移送
機構１４’により、挿入位置から抜き出され、上に持ち
上げられたあとで、搬入コンベア８と同期し動作する搬
出コンベア９に戻される。また、渡しユニット１５は下
降し、搬入コンベア８と同じ高さで停止する。印刷不良
が検出されない場合は、被検査物１をそのまま搬出コン
ベア９より排出する。欠陥品と判定された被検査物（不
良品）は、たとえばエアブロー１７により搬出コンベア
９から除いて系外へ排出し、次の工程にまで搬送しない
ようにする。
機構１４’により、挿入位置から抜き出され、上に持ち
上げられたあとで、搬入コンベア８と同期し動作する搬
出コンベア９に戻される。また、渡しユニット１５は下
降し、搬入コンベア８と同じ高さで停止する。印刷不良
が検出されない場合は、被検査物１をそのまま搬出コン
ベア９より排出する。欠陥品と判定された被検査物（不
良品）は、たとえばエアブロー１７により搬出コンベア
９から除いて系外へ排出し、次の工程にまで搬送しない
ようにする。
【００１１】制御部５は、モーター制御部５１、シーケ
ンサー５２、画像処理ユニット５３、ＲＯＭ５４、ＲＡ
Ｍ５５、インターフェース５６、表示部５７およびＣＰ
Ｕ５８を備えており、各部５１〜５７は、それぞれＣＰ
Ｕ５８に電気的に接続されている。ＣＰＵ５８は、ＲＯ
Ｍ５４に記憶された印刷検査装置の制御プログラムに従
って、データーなどを一時的に記録するＲＡＭ４４を用
いて、印刷検査装置を制御する。モーター制御部５１
は、サーボモーター７、１１、１３に供給する駆動電流
を制御する。シーケンサー５２は、被検査物有無センサ
ー１０などの信号のＯＮ／ＯＦＦを制御し、インターフ
ェース５６は、シーケンサー５２とＣＰＵ５８との入出
力を行う。表示部５７は、液晶表示パネルなどからな
り、検査結果などを表示する。
ンサー５２、画像処理ユニット５３、ＲＯＭ５４、ＲＡ
Ｍ５５、インターフェース５６、表示部５７およびＣＰ
Ｕ５８を備えており、各部５１〜５７は、それぞれＣＰ
Ｕ５８に電気的に接続されている。ＣＰＵ５８は、ＲＯ
Ｍ５４に記憶された印刷検査装置の制御プログラムに従
って、データーなどを一時的に記録するＲＡＭ４４を用
いて、印刷検査装置を制御する。モーター制御部５１
は、サーボモーター７、１１、１３に供給する駆動電流
を制御する。シーケンサー５２は、被検査物有無センサ
ー１０などの信号のＯＮ／ＯＦＦを制御し、インターフ
ェース５６は、シーケンサー５２とＣＰＵ５８との入出
力を行う。表示部５７は、液晶表示パネルなどからな
り、検査結果などを表示する。
【００１２】ＣＰＵ５８は、以下の（１）〜（３）に示
す機能を有する。 （１）モーター制御部５１を介してサーボモーター１７
の動作を制御してワーク回転ユニット２の回転を制御す
る機能。サーボモーター１１、１３の動作をそれぞれ制
御して搬入コンベア８と回転ユニット移動ステージ６を
制御する機能。 （２）画像処理ユニット５３からの信号に基づいて、印
刷検査欠陥の有無を検査し、不良品を系外へ移出する機
能。 （３）検査結果に基づいて表示部５７の表示内容を制御
する機能。
す機能を有する。 （１）モーター制御部５１を介してサーボモーター１７
の動作を制御してワーク回転ユニット２の回転を制御す
る機能。サーボモーター１１、１３の動作をそれぞれ制
御して搬入コンベア８と回転ユニット移動ステージ６を
制御する機能。 （２）画像処理ユニット５３からの信号に基づいて、印
刷検査欠陥の有無を検査し、不良品を系外へ移出する機
能。 （３）検査結果に基づいて表示部５７の表示内容を制御
する機能。
【００１３】次に、図４に示すＣＰＵ５８の制御のフロ
ーチャートに従って、この印刷検査装置の検査手順につ
いて説明する。検査が開始されると、搬入コンベア８が
作動され（ステップＳ１０）、ワーク回転ユニット２が
作動され（ステップＳ１２）、回転ユニット移動ステー
ジ６が作動され（ステップＳ１４）、反射照明４が点灯
される（ステップＳ１６）。これらの初期設定が終わる
と、被検査物（ワーク）１の搬入が開始される（ステッ
プＳ１８）。次に、被検査物が所定の検査位置に到達し
たことを示すワーク信号が入力されたか否かが判断され
る（ステップＳ２０）。入力されていない場合、待機し
た後で（ステップＳ２２）、ステップＳ２０に戻り、再
び判断する。
ーチャートに従って、この印刷検査装置の検査手順につ
いて説明する。検査が開始されると、搬入コンベア８が
作動され（ステップＳ１０）、ワーク回転ユニット２が
作動され（ステップＳ１２）、回転ユニット移動ステー
ジ６が作動され（ステップＳ１４）、反射照明４が点灯
される（ステップＳ１６）。これらの初期設定が終わる
と、被検査物（ワーク）１の搬入が開始される（ステッ
プＳ１８）。次に、被検査物が所定の検査位置に到達し
たことを示すワーク信号が入力されたか否かが判断され
る（ステップＳ２０）。入力されていない場合、待機し
た後で（ステップＳ２２）、ステップＳ２０に戻り、再
び判断する。
【００１４】ワーク信号が入力されると、６個の被検査
物１を移送し、ワーク回転ユニット２の回転軸２'に挿
入する（ステップＳ２４）。そして、回転クラッチ１２
を作動する（ステップＳ２６）。これにより被検査物１
が回転されるので、撮像部３により被検査物１の円筒表
面の画像を取り込み、得られた画像データにより印刷欠
陥の検査を開始する（ステップＳ２８）。撮影において
は、ワーク回転ユニット２の回転軸２'を中心に回転す
る被検査物１の印刷パターンを撮像して、被検査物表面
の任意の場所からの２回転分の画像（被検査物の映像信
号）を取り込む。そして、２回転分の画像から１回転分
の検査画像を切り出してＲＡＭ５５に記憶する。検査の
内容については後で説明する。画像の取り込みが終わる
と、回転クラッチ１２を停止する（ステップＳ３０）。
そして、被検査物１を回転軸２'より取り外し（ステッ
プＳ３２）、被検査物１を搬出コンベア９上に置き、次
工程に搬送する（ステップＳ３４）。印刷不良が検出さ
れていると（ステップＳ３６でＹＥＳ）、たとえばエア
ーブローを用いて、該当する被検査物１を搬出コンベア
９上から系外に排出し、不良品の流出を防止する（ステ
ップＳ３８）。印刷不良が検出されない場合は、被検査
物１をそのまま搬出コンベア９より次工程に排出する
（ステップＳ４０）。
物１を移送し、ワーク回転ユニット２の回転軸２'に挿
入する（ステップＳ２４）。そして、回転クラッチ１２
を作動する（ステップＳ２６）。これにより被検査物１
が回転されるので、撮像部３により被検査物１の円筒表
面の画像を取り込み、得られた画像データにより印刷欠
陥の検査を開始する（ステップＳ２８）。撮影において
は、ワーク回転ユニット２の回転軸２'を中心に回転す
る被検査物１の印刷パターンを撮像して、被検査物表面
の任意の場所からの２回転分の画像（被検査物の映像信
号）を取り込む。そして、２回転分の画像から１回転分
の検査画像を切り出してＲＡＭ５５に記憶する。検査の
内容については後で説明する。画像の取り込みが終わる
と、回転クラッチ１２を停止する（ステップＳ３０）。
そして、被検査物１を回転軸２'より取り外し（ステッ
プＳ３２）、被検査物１を搬出コンベア９上に置き、次
工程に搬送する（ステップＳ３４）。印刷不良が検出さ
れていると（ステップＳ３６でＹＥＳ）、たとえばエア
ーブローを用いて、該当する被検査物１を搬出コンベア
９上から系外に排出し、不良品の流出を防止する（ステ
ップＳ３８）。印刷不良が検出されない場合は、被検査
物１をそのまま搬出コンベア９より次工程に排出する
（ステップＳ４０）。
【００１５】図５と図６は、上述の検査のための画像処
理のフローチャートを示す。最初に、基準となる印刷パ
ターンをＣＣＤカメラなどの撮像装置３で取り込み、Ｒ
ＡＭ５５に基準画像として記憶する（Ｓ１００、Ｓ１０
２）。図７は、基準画像の１例を示す。次に、この基準
画像の画像境界部にマスクを作成し（Ｓ１０４）、基準
画像マスク（Ｂ）として設定する（Ｓ１０６）。図８
は、図７の基準画像についての基準画像マスクを示す。
そして、得られた基準画像を格納する（Ｓ１０８）。基
準画像の入力が終了する（Ｓ１１０でＹＥＳ）まで、Ｓ
１００に戻り、上述の処理を繰り返す。
理のフローチャートを示す。最初に、基準となる印刷パ
ターンをＣＣＤカメラなどの撮像装置３で取り込み、Ｒ
ＡＭ５５に基準画像として記憶する（Ｓ１００、Ｓ１０
２）。図７は、基準画像の１例を示す。次に、この基準
画像の画像境界部にマスクを作成し（Ｓ１０４）、基準
画像マスク（Ｂ）として設定する（Ｓ１０６）。図８
は、図７の基準画像についての基準画像マスクを示す。
そして、得られた基準画像を格納する（Ｓ１０８）。基
準画像の入力が終了する（Ｓ１１０でＹＥＳ）まで、Ｓ
１００に戻り、上述の処理を繰り返す。
【００１６】検査の際には、まず、被検査物の印刷パタ
ーンを取り込み（Ｓ１００、Ｓ１０２）、検査画像とし
て記憶する。ここで、図９は検査画像の１例を示す。こ
の検査画像は、異物（右下部）・詰まり（左上部）・欠
け（右上部）・欠損（左下部）の４種の不良を含んでい
る。ここで、「異物」とは、印刷されていないところに
付着した付加欠陥をいい、「詰まり」とは、印刷部の一
部にあった抜けがなくなってしまう欠如欠陥をいい、
「欠け」とは、印刷部の一部が欠けてしまう欠如欠陥を
いい、「欠損」とは、文字などが無くなってしまう欠如
欠陥をいう。次に、検査画像の画像境界部にマスクを作
成し（Ｓ１１２）、検査画像のマスク（Ａ）として設定
する（Ｓ１１４）。図１０は、図９の検査画像のマスク
を示す。そして、得られた検査画像を格納する（Ｓ１１
６）。
ーンを取り込み（Ｓ１００、Ｓ１０２）、検査画像とし
て記憶する。ここで、図９は検査画像の１例を示す。こ
の検査画像は、異物（右下部）・詰まり（左上部）・欠
け（右上部）・欠損（左下部）の４種の不良を含んでい
る。ここで、「異物」とは、印刷されていないところに
付着した付加欠陥をいい、「詰まり」とは、印刷部の一
部にあった抜けがなくなってしまう欠如欠陥をいい、
「欠け」とは、印刷部の一部が欠けてしまう欠如欠陥を
いい、「欠損」とは、文字などが無くなってしまう欠如
欠陥をいう。次に、検査画像の画像境界部にマスクを作
成し（Ｓ１１２）、検査画像のマスク（Ａ）として設定
する（Ｓ１１４）。図１０は、図９の検査画像のマスク
を示す。そして、得られた検査画像を格納する（Ｓ１１
６）。
【００１７】次に、基準画像と検査画像の位置合わせを
行い、減算処理をする。基準画像から検査画像を減算し
（Ｓ１１８）、減算結果を、付加欠陥（画像境界部ノイ
ズを含む）が検出可能な付加欠陥検出信号とする（Ｓ１
２０）。図１１は、図７の基準画像から図９の検査画像
を減算した結果を示す。また、逆に、検査画像から基準
画像を減算し（Ｓ１３０）、減算結果を、欠如欠陥（画
像境界部ノイズを含む）が検出可能な欠如欠陥検出信号
とする（Ｓ１３２）。図１２は、図９の検査画像から図
６の基準画像を減算した結果を示す。図１１に示す付加
欠陥検出信号と図１２に示す欠如欠陥検出信号には、い
ずれにもパターンマッチングのずれによるノイズが含ま
れている。ここで、減算処理とは、たとえば、対応する
画像を１画素の単位で比較し、濃度値を減算したもので
ある（減算結果が０未満の場合は０とする）。基準画像
から検査画像を減算すると、検査画像の濃度値が低い場
合のみ信号が検出されることになり、たとえば濃度値の
高いベース部に付いた黒点異物などの付加欠陥のみが検
出される。また、検査画像から基準画像を減算すると、
基準画像の濃度値が低い場合のみ信号が検出されること
になり、たとえば濃度値の低い欠けなどの欠如欠陥のみ
が検出される。
行い、減算処理をする。基準画像から検査画像を減算し
（Ｓ１１８）、減算結果を、付加欠陥（画像境界部ノイ
ズを含む）が検出可能な付加欠陥検出信号とする（Ｓ１
２０）。図１１は、図７の基準画像から図９の検査画像
を減算した結果を示す。また、逆に、検査画像から基準
画像を減算し（Ｓ１３０）、減算結果を、欠如欠陥（画
像境界部ノイズを含む）が検出可能な欠如欠陥検出信号
とする（Ｓ１３２）。図１２は、図９の検査画像から図
６の基準画像を減算した結果を示す。図１１に示す付加
欠陥検出信号と図１２に示す欠如欠陥検出信号には、い
ずれにもパターンマッチングのずれによるノイズが含ま
れている。ここで、減算処理とは、たとえば、対応する
画像を１画素の単位で比較し、濃度値を減算したもので
ある（減算結果が０未満の場合は０とする）。基準画像
から検査画像を減算すると、検査画像の濃度値が低い場
合のみ信号が検出されることになり、たとえば濃度値の
高いベース部に付いた黒点異物などの付加欠陥のみが検
出される。また、検査画像から基準画像を減算すると、
基準画像の濃度値が低い場合のみ信号が検出されること
になり、たとえば濃度値の低い欠けなどの欠如欠陥のみ
が検出される。
【００１８】まず、付加欠陥検出信号に対して、Ｓ１０
６で設定した基準画像マスクを用いてマスク処理を施す
（Ｓ１２２）。これにより、画像境界部の、パターンマ
ッチングのずれにより発生したノイズは基準画像マスク
をかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをかけずにそ
のまま検出される（Ｓ１２４）。その中で、異物に対し
てはマスクがかからず、そのまま検出することができ
る。詰まりに対してはマスクがかかり、検出面積が小さ
くなるので、微小な詰まりは検出できない場合がある。
図１３は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図８に
示す基準画像マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、異物はそのまま検出されている。一
方、詰まりは、その１部が検出されている。
６で設定した基準画像マスクを用いてマスク処理を施す
（Ｓ１２２）。これにより、画像境界部の、パターンマ
ッチングのずれにより発生したノイズは基準画像マスク
をかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをかけずにそ
のまま検出される（Ｓ１２４）。その中で、異物に対し
てはマスクがかからず、そのまま検出することができ
る。詰まりに対してはマスクがかかり、検出面積が小さ
くなるので、微小な詰まりは検出できない場合がある。
図１３は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図８に
示す基準画像マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、異物はそのまま検出されている。一
方、詰まりは、その１部が検出されている。
【００１９】また、付加欠陥検出信号に対して検査画像
マスク処理を施すと（Ｓ１２６）、画像境界部の、パタ
ーンマッチングのずれにより発生したノイズは検査画像
マスクをかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをかけ
ずにそのまま検出される（Ｓ１２８）。その中で、詰ま
りに対してはマスクがかからず、そのまま検出すること
ができる。異物に対してはマスクがかかり、検出面積が
小さくなるので、微小な異物は検出できない場合があ
る。図１５は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図
１０に示す検査マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、欠けはそのまま検出されている。一
方、異物は、その一部が検出されている。
マスク処理を施すと（Ｓ１２６）、画像境界部の、パタ
ーンマッチングのずれにより発生したノイズは検査画像
マスクをかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをかけ
ずにそのまま検出される（Ｓ１２８）。その中で、詰ま
りに対してはマスクがかからず、そのまま検出すること
ができる。異物に対してはマスクがかかり、検出面積が
小さくなるので、微小な異物は検出できない場合があ
る。図１５は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図
１０に示す検査マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、欠けはそのまま検出されている。一
方、異物は、その一部が検出されている。
【００２０】一方、欠如欠陥検出信号に対して、基準画
像マスク処理を施すと（Ｓ１３４）、画像境界部の、パ
ターンマッチングのずれにより発生したノイズは基準画
像マスクをかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをか
けずにそのまま検出される（Ｓ１３６）。その中で欠け
に対してはマスクがかからず、そのまま検出することが
できる。欠損に対してはマスクがかかり、検出面積が小
さくなるので微小な欠損が検出できない場合がある。図
１５は、図１２の欠如欠陥検出信号に対して、図８に示
す基準画像マスクを用いてマスク処理した結果を示す。
この例では、欠けはそのまま検出されている。一方、欠
損は、その一部が検出されている。
像マスク処理を施すと（Ｓ１３４）、画像境界部の、パ
ターンマッチングのずれにより発生したノイズは基準画
像マスクをかけて消去され、付加欠陥のみがマスクをか
けずにそのまま検出される（Ｓ１３６）。その中で欠け
に対してはマスクがかからず、そのまま検出することが
できる。欠損に対してはマスクがかかり、検出面積が小
さくなるので微小な欠損が検出できない場合がある。図
１５は、図１２の欠如欠陥検出信号に対して、図８に示
す基準画像マスクを用いてマスク処理した結果を示す。
この例では、欠けはそのまま検出されている。一方、欠
損は、その一部が検出されている。
【００２１】また、欠如欠陥検出信号に対して、検査画
像マスク処理を施すと（Ｓ１３８）、画像境界部の、パ
ターンマッチングのずれにより発生したノイズは検査画
像マスクをかけて消去され、欠如欠陥のみがマスクをか
けずにそのまま検出される（Ｓ１４０）。その中で、欠
損に対してはマスクがかからず、そのまま検出すること
ができる。欠けに対してはマスクがかかり、検出面積が
小さくなるので、微小な欠けは検出できない場合があ
る。図１６は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図
１０に示す検査マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、欠損はそのまま検出されている。一
方、欠けは、その１部が検出されている。
像マスク処理を施すと（Ｓ１３８）、画像境界部の、パ
ターンマッチングのずれにより発生したノイズは検査画
像マスクをかけて消去され、欠如欠陥のみがマスクをか
けずにそのまま検出される（Ｓ１４０）。その中で、欠
損に対してはマスクがかからず、そのまま検出すること
ができる。欠けに対してはマスクがかかり、検出面積が
小さくなるので、微小な欠けは検出できない場合があ
る。図１６は、図１１の付加欠陥検出信号に対して、図
１０に示す検査マスクを用いてマスク処理した結果を示
す。この例では、欠損はそのまま検出されている。一
方、欠けは、その１部が検出されている。
【００２２】以上のマスク処理の後の４種類の画像(図
１３から図１６）を、たとえば２値化して論理和をとる
ことにより、面積が大きい検出物が優先になるように重
ね合わせると（Ｓ１４２）、前記の４種類の不良につい
て、すべてをマスクがかからない状態で検出した画像
（図１７）を得ることができる。得られた結果を比較し
て判定し（Ｓ１４４）、その検査画像についての検査結
果を出力する（Ｓ１４６）。さらに、印刷検査が終了で
なければ（Ｓ１４８でＮＯ）、Ｓ１００に戻り、検査を
続ける。
１３から図１６）を、たとえば２値化して論理和をとる
ことにより、面積が大きい検出物が優先になるように重
ね合わせると（Ｓ１４２）、前記の４種類の不良につい
て、すべてをマスクがかからない状態で検出した画像
（図１７）を得ることができる。得られた結果を比較し
て判定し（Ｓ１４４）、その検査画像についての検査結
果を出力する（Ｓ１４６）。さらに、印刷検査が終了で
なければ（Ｓ１４８でＮＯ）、Ｓ１００に戻り、検査を
続ける。
【００２３】
【発明の効果】印刷検査において、画像境界部のパター
ンマッチングのずれにより発生したノイズにはマスクを
かけて消去し、印刷結果や付着異物にはマスクをかけず
にそのまま検出するので、良品の誤検出が少なくなり、
不良品の検出精度が上がる。
ンマッチングのずれにより発生したノイズにはマスクを
かけて消去し、印刷結果や付着異物にはマスクをかけず
にそのまま検出するので、良品の誤検出が少なくなり、
不良品の検出精度が上がる。
【図１】 円筒容器の印刷検査装置の構成を示す図
【図２】 印刷検査装置の平面図
【図３】 印刷検査装置の側面図
【図４】 搬送、検査手順のフローチャート
【図５】 画像処理の一部分のフローチャート
【図６】 画像処理の他の部分のフローチャート
【図７】 基準画像の１例の図式的な図
【図８】 基準画像マスクの１例の図式的な図
【図９】 検査画像の１例の図式的な図
【図１０】 検査画像マスクの１例の図式的な図
【図１１】 付加欠陥検出信号の１例の図式的な図
【図１２】 欠如欠陥検出信号の１例の図式的な図
【図１３】 付加欠陥検出信号の基準画像マスク処理後
の画像の１例の図式的な図
の画像の１例の図式的な図
【図１４】 付加欠陥検出信号の検査画像マスク処理後
の画像の１例の図式的な図
の画像の１例の図式的な図
【図１５】 欠如欠陥検出信号の基準画像マスク処理後
の画像の１例の図式的な図
の画像の１例の図式的な図
【図１６】 欠如欠陥検出信号の検査画像マスク処理後
の画像の１例の図式的な図
の画像の１例の図式的な図
【図１７】 画像境界部のノイズを消去し、かつ、欠陥
にはマスクをかけずに検出した画像の１例の図式的な図
にはマスクをかけずに検出した画像の１例の図式的な図
１ 被検査物、 ３ 撮像装置、 ５ 制御部、
５３ 画像処理ユニット、 ５８ ＣＰＵ。
５３ 画像処理ユニット、 ５８ ＣＰＵ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川合 彰 大阪府大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 Ｆターム(参考） 2C061 KK22 KK25 KK26 KK28 2G051 AA34 AB11 CA03 CA04 CA07 DA02 DA06 EA08 EA14 EB01 EB02 ED01 ED07 FA10 5B057 AA12 DA03 DB02 DC33
Claims (7)
- 【請求項１】 あらかじめ基準パターンを記憶してお
き、 被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶
し、 前記基準画像の画像境界部にマスクを作成し、基準画像
マスクとして設定し、 前記基準画像から前記検査画像を減算処理し、得られた
検出信号に対して、基準画像マスク処理を施し、 残った信号より付加欠陥についての品質を判定する印刷
検査方法。 - 【請求項２】 あらかじめ基準パターンを記憶してお
き、 被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶
し、 前記検査画像の画像境界部にマスクを作成し、検査画像
マスクとして設定し、 前記基準画像から前記検査画像を減算処理し、得られた
検出信号に対して、検査画像マスク処理を施し、 残った信号より付加欠陥についての品質を判定する印刷
検査方法。 - 【請求項３】 あらかじめ基準パターンを記憶してお
き、 被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶
し、 前記基準画像の画像境界部にマスクを作成し、基準画像
マスクとして設定し、 前記検査画像から前記基準画像を減算処理し、得られた
検出信号に対して、基準画像マスク処理を施し、 残った信号より欠如欠陥についての品質を判定する印刷
検査方法。 - 【請求項４】 あらかじめ基準パターンを記憶してお
き、 被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶
し、 前記検査画像の画像境界部にマスクを作成し、検査画像
マスクとして設定し、 前記検査画像から前記基準画像を減算処理し、得られた
検出信号に対して、検査画像マスク処理を施し、 残った信号より欠如欠陥についての品質を判定する印刷
検査方法。 - 【請求項５】 前記請求項１から請求項４までの方法を
２以上組み合わせて行うことを特徴とする印刷検査方
法。 - 【請求項６】 前記の減算処理は、基準画像と検査画像
を１画素単位で比較し、基準画像の濃度値から、対応す
る検査画像の濃度値を減算したものであることを特徴と
する請求項１または請求項２に記載された印刷検査方
法。 - 【請求項７】 前記の減算処理は、基準画像と検査画像
を１画素単位で比較し、検査画像の濃度値から、対応す
る基準画像の濃度値を減算したものであることを特徴と
する請求項３または請求項４に記載された印刷検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11149670A JP2000335062A (ja) | 1999-05-28 | 1999-05-28 | 印刷検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11149670A JP2000335062A (ja) | 1999-05-28 | 1999-05-28 | 印刷検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000335062A true JP2000335062A (ja) | 2000-12-05 |
Family
ID=15480277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11149670A Pending JP2000335062A (ja) | 1999-05-28 | 1999-05-28 | 印刷検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000335062A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006146919A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Xerox Corp | 画質欠陥を検出するためのシステム及び方法 |
| JP2014525042A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-09-25 | カーハーエス・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 検査ユニット |
| US20220286576A1 (en) * | 2021-03-04 | 2022-09-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device |
-
1999
- 1999-05-28 JP JP11149670A patent/JP2000335062A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006146919A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Xerox Corp | 画質欠陥を検出するためのシステム及び方法 |
| JP2014525042A (ja) * | 2011-07-28 | 2014-09-25 | カーハーエス・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 検査ユニット |
| US20220286576A1 (en) * | 2021-03-04 | 2022-09-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device |
| US11800037B2 (en) * | 2021-03-04 | 2023-10-24 | Ricoh Company, Ltd. | Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20050615 |