JP4613090B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
図1はこの発明の実施の形態1における検査装置を示す構成図である。
図3はこの発明の実施の形態2における検査装置の構成図であり、図1に示した実施の形態1と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。
図4はこの発明の実施の形態3における検査装置の構成図であり、図1に示した実施の形態1と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。
図7はこの発明の実施の形態4における検査装置の構成図であり、図4に示した実施の形態3と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。
図8はこの発明の実施の形態5における検査装置の構成図であり、図1に示した実施の形態1と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。
図10はこの発明の実施の形態6における検査装置の構成図であり、図1に示した実施の形態1と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。
3a,3b,3c,3d 照明手段、4 回転装置(相対位置変更手段)、
5,5a,5b 撮像手段、13 撮像同期手段、14 画像歪み補正手段、
15 波長選択手段、16 偏光手段。
Claims (6)
- 多結晶基板上に配線パターンが形成されてなる被検査物の表面に対して略水平方向から光を照射する照明手段と、上記被検査物と照明手段との相対位置を変更する相対位置変更手段と、この相対位置変更手段により変更された互いに異なる相対位置においてそれぞれ撮像を行う撮像手段と、この撮像手段により撮像された各画像データを記憶する撮像結果記憶手段と、この撮像結果記憶手段に記憶されている各画像データを二値化する二値化手段と、この二値化手段により二値化された各画像データについて上記相対位置を一致させて論理積演算を行う論理積演算手段と、この論理積演算手段により得られた演算結果を用いて上記配線パターンの欠陥を抽出する欠陥抽出手段と、上記欠陥抽出手段により得られた欠陥抽出結果に基づいて上記配線パターンの良否判定を行う判定手段と、を備えることを特徴とする検査装置。
- 上記相対位置変更手段の代わりに、複数の照明手段を上記被検査物に対する照明方向が異なるようにそれぞれ配置するとともに、上記各照明手段の照明タイミングと上記撮像手段の撮像タイミングとを制御する撮像同期手段を付加したしたことを特徴とする請求項1記載の検査装置。
- 上記撮像手段はラインセンサカメラであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の検査装置。
- 上記撮像手段により撮像された画像の歪みを補正する画像歪み補正手段を付加したことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 上記撮像手段の前面に、入射光の波長を選択する波長選択手段を付加したことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の検査装置。
- 上記撮像手段の前面に、偏光手段を付加したことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の検査装置。
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