JP2000331162A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JP2000331162A
JP2000331162A JP11143261A JP14326199A JP2000331162A JP 2000331162 A JP2000331162 A JP 2000331162A JP 11143261 A JP11143261 A JP 11143261A JP 14326199 A JP14326199 A JP 14326199A JP 2000331162 A JP2000331162 A JP 2000331162A
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JP11143261A
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Shigeru Okayama
茂 岡山
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Sharp Manufacturing Systems Corp
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Sharp Corp
Sharp Manufacturing Systems Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥のある検査対象の画像情報の保存件数を
増やせ、かつ再現性の良い画像処理装置を提供する。 【解決手段】 検査対象である複数の部品40を載置し
たトレイ30をCCDカメラ2で撮像し、A/D変換し
て得られた画像データをフレームメモリ5に格納する。
CPU6は、パターンマッチングを行って欠陥の有無を
判定する。欠陥有りと判定したときは、その欠陥有りと
する一部分の部分的欠陥画像データ70のみを切り出
し、取り込み画像データ全領域100での部分的欠陥画
像データ70の座標を示す付属情報80を部分的欠陥画
像データ70に関連付けて複合データ90としてRAM
8やEEPROM16などの記憶手段に保存する。再生
するときは、正常全画像データ200を読み出し、それ
に付属情報80の座標データに基づいて部分的欠陥画像
データ70を画像合成し、表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、欠陥検査用の画像
処理装置、特に生産ライン検査システムに装備されて生
産される半製品または製品の欠陥(例えば位置ずれな
ど)を検出するための画像処理装置にかかわり、詳しく
は欠陥のある検査対象の画像データの保存の件数を増や
すための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、検査対象をCCDカメラ等に
よって撮像して画像データを取得し、その画像データを
画像処理して判定基準と比較することにより欠陥の有無
を判定し、欠陥と判定したときにその欠陥のある検査対
象についての画像データを外部記憶装置に保存するよう
に構成された画像処理装置が知られている。このような
欠陥のある画像データを「NG画像データ」という。N
Gは「No Good」のことである。
【0003】欠陥有りと判定したときは、一般的には警
報または警告を発することが行われる。そのとき直ちに
生産ラインを停止するか、それともある程度時間をおい
て様子を見てから停止するか、あるいは定刻に停止する
かはともかくとして、欠陥有りのときには、歩留まりの
低下を抑制するため、その欠陥が何で、どこでどのよう
な原因によって欠陥が発生したのかの欠陥状況を見きわ
める必要がある。その場合に、欠陥有り判定時に保存し
ておいた画像データを再生して表示し、検査要員等がそ
の欠陥のある検査対象の映像を見て、欠陥状況を判断す
る。そして、その判断の結果に基づいて、該当する原因
を見いだし、補修や部品交換などのメンテナンスを行
う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の技術に
は次のような問題点がある。欠陥有り判定時に保存する
のは欠陥のある検査対象の画像データ(NG画像デー
タ)の全体についてである。すなわち、画像処理に際し
てCCDカメラ等より取り込んだ1フレーム分の画像デ
ータをフレームメモリに格納するが、欠陥有りと判定し
たときは、その1フレーム分全体の画像データを丸ごと
保存するようにしている。
【0005】しかし、このような欠陥のあるNG画像デ
ータを保存しておく記憶エリアの記憶容量にはおのずと
一定の限界がある。その記憶エリアの記憶容量として、
複数フレーム分を確保しているが、規定フレーム分のN
G画像データの格納がなされてしまうと、メモリフルの
状態になる。このメモリフルの状態は、特に、欠陥が連
続して発生する場合、あるいは間欠的ではあっても頻繁
に発生する場合に陥る。このような場合、ソフトウェア
によって異なるが、それ以上のNG画像データの保存を
禁止する手法があり、また、最も古いNG画像データを
破棄したうえで最新のNG画像データを格納するという
手法もある。前者の場合には、最新の欠陥についてのN
G画像データが得られないという不都合がある。後者の
場合には、最も古い欠陥についてのNG画像データが得
られなくなって、欠陥原因解析において根本原因が突き
止めにくくなるおそれがある。いずれにしても、記憶エ
リアの記憶容量に限界があるので、欠陥有りのときに1
フレーム分全体の画像データを丸ごと保存することが大
きな原因となっている。
【0006】記憶容量を大きくすれば、対応ができるマ
ージンが増大するが、それではコストアップは避けられ
ない。
【0007】また、欠陥のある1フレーム分全体の画像
データをフレームメモリから読み出して該当の記憶エリ
アに転送するのには、比較的多くの時間がかかるという
問題もある。
【0008】本発明は上記した課題の解決を図るべく創
作したものであって、欠陥のある検査対象の画像情報の
保存の件数を増やすことのできる画像処理装置を提供す
ることを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記した課題の解決を図
ろうとする本発明にかかわる請求項1の画像処理装置
は、次のように構成してある。すなわち、撮像した検査
対象の画像データについての画像処理に基づいて欠陥の
有無を判定し、欠陥有りと判定したときに当該の欠陥有
りの一部分の画像データである部分的欠陥画像データの
みを切り出すとともに、取り込み画像データ全領域での
その部分的欠陥画像データが占める座標についての付属
情報とともに前記部分的欠陥画像データを保存するよう
に構成してあることを特徴としている。この構成による
と、次のような作用がある。すなわち、欠陥有りと判定
したときに、従来技術のように1枚分(1フレーム分)
全体の画像データを丸ごと保存するのではなく、その欠
陥を含んでいる一部分の画像データである部分的欠陥画
像データのみを選択的に切り出して保存するので、限ら
れた記憶容量の記憶エリアに対する欠陥のある検査対象
の画像情報の保存の件数を増やすことが可能となる。さ
らに、部分的欠陥画像データを記憶エリアに転送する時
間は、1枚分全体の画像データを転送する場合よりも短
くなる。また、保存するのが一部分を切り出した部分的
欠陥画像データであっても、取り込み画像データ全領域
でその部分的欠陥画像データが占める座標を示す付属情
報を併せて保存するから、部分的欠陥画像データを再現
したりチェックしたりするうえで不都合は生じない。
【0010】本発明にかかわる請求項2の画像処理装置
は、次のような構成となっている。すなわち、検査対象
の撮像手段と、撮像で得られる画像データの一時記憶手
段と、前記画像データを画像処理し判定基準に従って欠
陥の有無を判定する手段と、欠陥有りと判定したときに
当該の欠陥有りの部分的欠陥画像データのみを切り出す
手段と、取り込み画像データ全領域でのその部分的欠陥
画像データが占める座標についての付属情報を生成する
手段と、前記部分的欠陥画像データと前記付属情報とを
関連付ける手段と、その関連付けられた複合データを保
存する手段とを備えていることを特徴としている。この
構成は、請求項1の構成をより具体的に記述するもので
あって、請求項1と同様の作用を発揮する。
【0011】本発明にかかわる請求項3の画像処理装置
は、次のような構成となっている。すなわち、撮像した
検査対象の画像データについての画像処理に基づいて欠
陥の有無を判定し、欠陥有りと判定したときに当該の欠
陥有りの部分的欠陥画像データのみを切り出すととも
に、取り込み画像データ全領域でのその部分的欠陥画像
データが占める座標についての付属情報とともに前記部
分的欠陥画像データを保存し、再生に際してあらかじめ
登録しておいた正常全画像データに対して前記部分的欠
陥画像データを前記付属情報に基づいて位置合わせして
画像合成するように構成してあることを特徴としてい
る。この構成によると、次のような作用がある。すなわ
ち、請求項1と同様に、限られた記憶容量の記憶エリア
に対する欠陥のある検査対象の画像情報の保存の件数を
増やせるとともに、記憶エリアに対する部分的欠陥画像
データの転送が短時間に行え、さらに、保存するのは部
分的欠陥画像データであっても、再生に際しては正常全
画像データと画像合成した合成画像データとして再現す
ることが可能であり、その画像合成は取り込み画像デー
タ全領域に占める部分的欠陥画像データの座標を示す付
属情報に基づいて行われるので、正確な合成画像データ
を生成することができ、欠陥のある画像データの再現性
を良好なものにすることができて、欠陥原因等をチェッ
クするうえで不都合は生じない。
【0012】本発明にかかわる請求項4の画像処理装置
は、次のような構成となっている。すなわち、検査対象
の撮像手段と、撮像で得られる画像データの一時記憶手
段と、前記画像データを画像処理し判定基準に従って欠
陥の有無を判定する手段と、欠陥有りと判定したときに
当該の欠陥有りの部分的欠陥画像データのみを切り出す
手段と、取り込み画像データ全領域でのその部分的欠陥
画像データが占める座標についての付属情報を生成する
手段と、前記部分的欠陥画像データと前記付属情報とを
関連付ける手段と、その関連付けられた複合データを保
存する手段と、あらかじめ正常全画像データを登録して
おく手段と、再生に際して前記正常全画像データと前記
部分的欠陥画像データと前記付属情報とを読み出し前記
付属情報に基づいて前記部分的欠陥画像データを前記正
常全画像データに対して位置合わせして画像合成する手
段と、その画像合成で得られた合成画像データを読み出
して表示用の映像信号に変換する手段とを備えているこ
とを特徴としている。この構成は、請求項3の構成をよ
り具体的に記述するものであって、請求項3と同様の作
用を発揮する。
【0013】本発明にかかわる請求項5の画像処理装置
は、上記請求項1〜4において、前記検査対象が搬送さ
れるものであり、その搬送経路の所要の検査ポイントに
前記検査対象が到達したことを検出する到達検出手段を
備えており、この到達検出手段による検出信号をトリガ
として前記検査対象の撮像および欠陥判定を行うように
構成してあることを特徴としている。この構成による
と、検査対象が搬送されるものであっても、その検査対
象をタイミング良く撮像して、上記の作用を得ることが
可能となる。
【0014】本発明にかかわる請求項6の画像処理装置
は、上記請求項1〜5において、前記検査対象における
検査項目が取り込み画像データに含まれる複数の部分画
像の位置ずれまたは品種違いとされていることを特徴と
している。本発明は、位置ずれや品種違いの判定に有効
な機能を発揮する。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかわる画像処理
装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0016】図1は実施の形態の画像処理装置の電気的
構成を示すブロック図である。図1において、符号の1
は当該の画像処理装置、2は撮影レンズや絞りなどを含
む光学系および固体撮像手段の代表例であるCCD(電
荷結合デバイス)などからなるCCDカメラであり、こ
のCCDカメラ2は、撮影レンズによってCCD上に光
学像を結像し、結像された光学像をCCDで光電変換し
て電気信号として出力するものである。3はCCDカメ
ラ2からのアナログの映像信号(CCD出力信号)をデ
ィジタル化して画像データに変換するA/D変換器、4
はCCDカメラ2、A/D変換器3およびフレームメモ
リ5に対してタイミング信号を出力して画像データの取
得のタイミング制御を行うとともに、フレームメモリ5
およびD/A変換器11に対してタイミング信号を出力
して取得の映像信号の表示のタイミング制御を行うカメ
ラ・表示コントローラ、5は画像データ一時記憶手段の
一例としてのフレームメモリ、6はシステム全体の制御
を司る制御手段の一例としてのCPU(中央演算処理装
置)、7はCPU6による演算・制御等のためのプログ
ラムを格納しているROM(リードオンリーメモリ)、
8はCPU6の演算・制御等を補助するとともにデータ
を格納するRAM(ランダムアクセスメモリ)、9は外
部との間でデータや制御信号の入出力を行う入出力イン
ターフェイス、10はCPU6、ROM7、RAM8、
カメラ・表示コントローラ4、フレームメモリ6および
入出力インターフェイス9を接続するバス、11はフレ
ームメモリ5からカメラ・表示コントローラ4を介して
の画像データをアナログの映像信号に変換するD/A変
換器、12は画像処理装置1に図示しないインターフェ
イスおよびケーブルを介して接続されているCRT(陰
極線管)や液晶ディスプレイ(LCD)などのモニタで
ある。フレームメモリ5は、少なくとも1フレーム分以
上の画像データを蓄積できる画像メモリであって、VR
AM、SRAM、DRAMなどが一般的に使用される
が、ここではバス10とは独立動作可能なVRAMを使
用しているものとする。なお、カメラ・表示コントロー
ラ4とフレームメモリ5とはパラレルなバスラインを介
して接続されている。また、入出力インターフェイス9
には、RAM8に必要な初期値、判定基準等のためのパ
ラメータ、しきい値、その他の条件、必要なデータなど
を設定入力したり、必要な指示を与えたりするためのワ
イヤードリモコンなどの入力操作部13や画像処理装置
1の内部の状況や判断結果などをオペレータや検査要員
等に知らせるための警報器14やインジケータをそれぞ
れ個別のケーブルを介して接続することが可能となって
いる。なお、ワイヤードリモコンに代えてワイヤレスリ
モコンを用いることも可能とし、この場合は、リモコン
受信機の出力端子を入出力インターフェイス9に接続す
るものとする。警報器14としては、LED(発光ダイ
オード)、蛍光表示管その他任意の発光素子、灯器、あ
るいはブザーなどの鳴動器が適用可能とする。さらに、
入出力インターフェイス9には、必要な外部記憶装置1
5を接続することができるものとする。その外部記憶装
置15としては、ハードディスクドライブなどの磁気記
録デバイス、MO(Magneto Optics)ディスクドライブ
やDVD(Digital Versatile Disk)‐RAMドライブ
などの光磁気記録デバイス、フラッシュメモリ、EEP
ROMその他の不揮発性メモリなどの半導体記憶デバイ
スなどがあり、さらにはVTR(ビデオテープレコー
ダ)などでもよいものとする。
【0017】図2は上記構成の画像処理装置1を適用す
る生産ライン検査システム20の概要を示す。図2にお
いて、符号の21は計測対象物30を搬送するコンベヤ
などの搬送手段、22は搬送手段21の近傍で搬送され
ていく計測対象物30の到達を検出するための到達検出
手段の一例としての光電センサであり、検査ポイントD
Pに配置されている。光電センサ22はケーブル23を
介して画像処理装置1の入出力インターフェイス9に接
続されている。なお、説明の便宜上、図2においては、
CCDカメラ2を画像処理装置1の外側に出して描いて
いるが、実際には、CCDカメラ2は画像処理装置1と
一体となっている。もっとも、CCDカメラ2を画像処
理装置1とは別体構成とし、両者をケーブルで接続した
態様としてもよい。Xは搬送手段21による搬送方向を
示す。
【0018】図2においては、計測対象物30として、
複数の部品40を所定間隔をおいて所定位置に載置した
トレイが示されている。図3はトレイ30とそれに載置
されている複数の部品40とを示す概略の平面図であ
る。符号の31はトレイ30の底部をなす載置面、32
はトレイ30の周囲の立ち上がり壁である。この例で
は、部品40を6個載置するようにしている。もっと
も、このような数値は単なる例示にすぎず、仕様に応じ
て適宜に変更してよいことはいうまでもない。CCDカ
メラ2は、搬送手段21によって搬送されていくトレイ
30および部品40をその真上から撮像するように、搬
送手段21の直上に配置されている。なお、後に説明す
るが、計測対象物30としては、何も部品を載置したト
レイに限る必要はなく、画像処理による検査が可能なも
のであれば、どのようなものを検査対象としてもよいこ
とを付記しておく。ここでのトレイ30は一例にすぎな
い。
【0019】次に、上記のように構成された実施の形態
の場合の生産ライン検査システム20に適用された画像
処理装置1の動作を説明する。
【0020】駆動されている搬送手段21によって複数
の計測対象物(トレイ)30が所定の間隔を隔てて連続
的に搬送されていく。計測対象物30は、検査ポイント
DPの少し上手側において、図示しないアライメント装
置により、搬送手段21上における位置決めが行われて
いるものとする。検査ポイントDPに達した計測対象物
(トレイ)30があると、その検査ポイントDPに設置
されている到達検出手段22が動作する。到達検出手段
22が光電センサの場合は、次のような動作となる。光
電センサ22は、レーザーダイオードなどの発光素子と
フォトダイオードなどの受光素子からなり、発光素子か
ら出射したレーザービームなどが計測対象物30に当た
って反射し、その反射光を受光素子で捕捉し、電気信号
に変換し増幅することにより到達検出を行う。
【0021】計測対象物30が検査ポイントDPに到達
したことを到達検出手段22が検出すると、到達検出手
段22はその検出信号をトリガ信号として画像処理装置
1に送出する。画像処理装置1においては、その入出力
インターフェイス9を介して入力されてきたトリガ信号
がバス10を介してCPU6に与えられる。CPU6は
トリガ信号を入力すると、カメラ・表示コントローラ4
に起動信号を出力する。カメラ・表示コントローラ4は
起動信号を入力すると、CCDカメラ2、A/D変換器
3、フレームメモリ5およびD/A変換器11に対して
タイミング信号を出力する。
【0022】CCDカメラ2におけるCCDはタイミン
グ信号を入力すると、その電子シャッタを開き作動さ
せ、被写体である計測対象物30を撮像する。すなわ
ち、計測対象物30の光学像が撮像レンズを介してCC
Dの表面に結像し、CCDはその光学像を信号電荷とし
て蓄積しているが、タイミング信号を入力すると、感光
部のフォトダイオードから垂直転送CCDへの転送およ
び垂直転送CCDから水平転送CCDへの転送を行い、
出力アンプを介して映像信号として出力する。A/D変
換器3はタイミング信号の入力によって起動し、CCD
カメラ2から入力したアナログの映像信号(CCD出力
信号)をディジタルの画像データに変換する。このA/
D変換器3のビット数を例えば8ビットとすると、画像
データは256階調となる。フレームメモリ5はタイミ
ング信号を入力し、A/D変換器3と同期をとった状態
でA/D変換器3からの1フレーム分の画像データを格
納する。なお、8ビットについては、一例にすぎなく
て、仕様に応じて適宜に変更してよいことはいうまでも
ない。
【0023】カメラ・表示コントローラ4は、フレーム
メモリ5への画像データの書き込みと並行して、その書
き込んだ画像データをフレームメモリ5から読み出し、
D/A変換器11に転送する。D/A変換器11は、転
送されてきた画像データをアナログの映像信号に変換
し、モニタ12に出力する。なお、モニタ12に至る映
像信号は、図示しない所要のビデオエンコーダなどによ
りNTSC方式などモニタ12に適合した所要のフォー
マットに変換されているものとする。このようにして、
計測対象物30の到達を検出した時点から、その計測対
象物30を被写体像とする映像をモニタ12にリアルタ
イムに映出する。
【0024】カメラ・表示コントローラ4は1フレーム
分の画像データのフレームメモリ5に対する書き込みが
完了すると、その書き込み完了信号をCPU6に出力す
る。その書き込み完了信号を入力したCPU6は、RO
M7から読み出したプログラムおよびRAM8から読み
出した画像処理演算用条件に従って、フレームメモリ5
をアクセスし、フレームメモリ5に格納されている1フ
レーム分全体の画像データを読み出す。そして、1画素
単位または複数画素の集合であるブロック単位で所要の
画像処理のための演算を実行し、判定のための演算結果
をRAM8にストアする。次に、その演算結果とRAM
8から読み出した判定基準との比較を行い、演算結果が
正常であるか否かを判定する。
【0025】RAM8には、あらかじめ入力操作部13
から入出力インターフェイス9およびバス10を介して
画像処理演算用条件や判定基準が設定登録されている。
画像処理演算用条件としては、部品40を識別するため
の濃度値についてのしきい値や部品40の載置位置の良
否を判定するためのしきい値(上限値と下限値)や部品
40のサイズ、形状などの種別を判定するためなどの判
定基準がある。
【0026】トレイ30上の複数の部品40の載置状態
の良否判定の場合は、具体的に次のようになる。図4は
パターンマッチングの動作説明図である。図4におい
て、符号の50は図3に示す計測対象物すなわちトレイ
30についての画像データであるトレイ画像、51は載
置面31についての画像データである載置面画像、52
は立ち上がり壁32についての画像データである立ち上
がり壁画像、60は部品40についての画像データであ
る部品画像、100は取り込み画像データ全領域であ
る。図4に示すように、CCDカメラ2によって撮像さ
れ、フレームメモリ5に格納されている取り込み画像デ
ータ全領域100において、正規の部品画像60の位置
に対応してあらかじめ設定されている破線矩形で図示し
た計測サーチ領域DSを高速サーチして部品画像60ら
しきものを見いだし、RAM8から読み出した部品形状
に相当するテンプレート画像データと画素比較すること
のパターンマッチングに基づいて、二点鎖線矩形で図示
した計測対象基準画像検出領域DTを抽出し、その計測
対象基準画像検出領域DTでの両者の画像データの一致
度を算出し、その一致度が所定のしきい値以上となって
いるか否かを判断し、しきい値以上となっているときは
欠陥無しすなわち部品画像60についての位置ずれ無し
と判定し、しきい値未満のときは欠陥有りすなわち部品
画像60についての位置ずれ有りと判定する。また、一
致度が所定値以下(この所定値は前記のしきい値よりか
なり低く設定されている)のときは、部品が存在してい
ないものと判定する。図4の場合は、すべての部品画像
60がトレイ画像50に対して適正な位置にあると判断
される。すなわち、トレイ30において複数の部品40
がすべて適正な位置関係で載置されていることになる。
【0027】図5の場合は、取り込み画像データ全領域
100において、1つの例えば左下の部品画像60が正
規の位置よりも判定基準以上にずれている。すなわち、
計測対象基準画像検出領域DTが判定基準以上にずれて
いて一致度がしきい値未満となっており、欠陥有りと判
定されることになる。この場合は、その判定基準以上に
ずれている1つの部品画像60について計測サーチ領域
DSでの画像データの切り出しを行い、それを欠陥のあ
る部分的欠陥画像データ70として保存する。つまり、
欠陥のある画像データの保存に際して、従来の技術の場
合のように取り込み画像データ全領域100の丸ごとを
対象とするのではなく、欠陥のある1つの部品画像60
の計測サーチ領域DSに相当する部分的欠陥画像データ
70のみを切り出して保存するのである。この場合に、
その切り出した部分的欠陥画像データ70の座標データ
を付属情報80として部分的欠陥画像データ70に関連
付けて保存する。
【0028】付属情報80である座標データとしては、
各計測サーチ領域DSの左上角部のX座標とY座標の組
み合わせでよく、それぞれ、(X1 ,Y1 ),(X1 ,
Y2),(X1 ,Y3 ),(X2 ,Y1 ),(X2 ,Y2
),(X2 ,Y3 )で表される。なお、このような各
計測サーチ領域DSについての座標データはあらかじめ
RAM8に設定登録されているものとする。
【0029】図5の場合には、付属情報80の座標デー
タとしては、(X1 ,Y3 )が選択される。CPU6
は、欠陥有りと判定した部品画像60についての部分的
欠陥画像データ70と対応する座標データである付属情
報80とを関連付けて複合データ90となし、この複合
データ90をバス10を介してRAM8に転送格納す
る。
【0030】なお、ここでは、RAM8は充分に大きな
記憶容量をもっているものとし、かつ、電源をオフして
も記憶内容が消えないように、RAM8に対してバック
アップを行っているものとする。そのバックアップは、
例えばリチウム電池でもよいし、大容量のキャパシタで
もよい。なお、RAM8に代えて、図1でバス10に接
続した二点鎖線で示すEEPROM16に複合データ9
0を保存するようにしてもよい。むしろ、その方が良
い。以下では、「RAM8やEEPROM16などの記
憶手段」と記述することとする。
【0031】図6の場合は、取り込み画像データ全領域
100において、1つの例えば右側中央の部品画像60
が正規の形状とは相違している。この場合も、一致度が
しきい値未満となっていて欠陥有りと判定されることに
なり、その欠陥の1つの部品画像60について計測サー
チ領域DSでの画像データの切り出しを行い、その欠陥
のある部分的欠陥画像データ70と対応する座標データ
を付属情報80として関連付け、複合データ90として
RAM8やEEPROM16などの記憶手段に保存す
る。図6の場合の付属情報80の座標データとしては、
右側中央の計測サーチ領域DSに対応した座標データ
(X2 ,Y2 )が付属情報80として選択される。
【0032】なお、部品画像60の面積すなわち画素数
が正規と異なる場合も同様の処理が行われる。欠陥有り
と判定される部品画像60が複数生じる場合もある。そ
のような一例を図7に示しておく。この場合は、欠陥の
あるそれぞれの部分的欠陥画像データ70とそれぞれに
対応する座標データを付属情報80として関連付け、複
合データ90としてRAM8やEEPROM16などの
記憶手段に保存することになる。
【0033】なお、以上のようなパターンマッチングに
よる画像処理の結果は、カメラ・表示コントローラ4お
よびD/A変換器11を介してモニタ12に表示され
る。また、CPU6は、1つでも欠陥を判定したとき
は、警告信号を出力する。その警告信号はバス10およ
び入出力インターフェイス9を介して外部に接続の警報
器14に送出され、その警報器14を動作させることに
より、オペレータに対してリアルタイムに異常(NG)
が発生したことを知らせる。
【0034】以上のCPU6による動作の概要を図8の
フローチャートに示しておく。なお、警告信号の出力は
ステップS7の直後であってもよい。
【0035】次に、欠陥原因の解析の作業の場合の動作
について説明する。
【0036】図9に示すように、RAM8やEEPRO
M16などの記憶手段には取り込み画像データ全領域1
00の正常な全画像データ200が格納されているもの
とする。この正常全画像データ200のRAM8やEE
PROM16などの記憶手段への格納については、トレ
イ30および複数の部品40の組み合わせ仕様に応じて
あらかじめ求めたものを外部記憶装置15に格納してお
き、必要に応じて選択して外部記憶装置15から入出力
インターフェイス9およびバス10を介してRAM8や
EEPROM16などの記憶手段に転送格納するのであ
る。また、CCDカメラ2から取り込んでフレームメモ
リ5に格納した取り込み画像データ全領域100につい
て正常と判断したときに、それを正常全画像データ20
0としてRAM8やEEPROM16などの記憶手段に
転送格納するのでもよい。あるいは、必ずしもRAM8
やEEPROM16などの記憶手段に格納しておく必要
はなく、外部記憶装置15に転送格納しておくのでもよ
い。
【0037】オペレータまたは別の検査要員やメンテナ
ンス要員が欠陥原因解析を行うときに、入力操作部13
からの所要の操作を行うと、CPU6は、正常全画像デ
ータ200を読み出し、次いで、異常(NG)とされた
部品画像60についての複合データ90すなわち部分的
欠陥画像データ70とそれに関連する付属情報80とを
読み出す。付属情報80は、その部分的欠陥画像データ
70が正常全画像データ200においてどの位置を占め
るかについての座標データである。CPU6は、その座
標データに基づいて部分的欠陥画像データ70を正常全
画像データ200に対して上書き式に画像合成し、合成
画像データ300を生成する。図10は、その画像合成
の様子を示す。そして、その合成画像データ300をフ
レームメモリ5に転送格納し、カメラ・表示コントロー
ラ4およびD/A変換器11を介して合成画像データ3
00をモニタ12に送出し、モニタ12において合成画
像データ300の映像を映出する。
【0038】検査要員等は、その合成画像データ300
の映像の表示を見ることにより、欠陥の原因を究明す
る。必要に応じて、入力操作部13からの操作により、
モニタ12に映出されフレームメモリ5に格納されてい
る合成画像データ300について再度の画像処理を行う
ことも可能である。この場合に、合成画像データ300
の全体について欠陥の有無の判定を行う画像処理を実施
してもよいし、あらかじめ分かっている欠陥のある部分
的欠陥画像データ70の領域においてのみ画像処理を実
施してもよい。後者の場合は、欠陥のある部分的欠陥画
像データ70を指定するに際して、それに関連している
付属情報80の座標データに基づいて指定する。これに
よって、欠陥発生状況を再現することができる。
【0039】以上のCPU6による動作の概要を図11
のフローチャートに示しておく。
【0040】なお、異常(NG)とされた部分的欠陥画
像データ70とそれに関連する付属情報80との複合デ
ータ90をRAM8やEEPROM16などの記憶手段
に保存するに際して、必ずしも同一記憶エリアに保存す
ることは必須の要件ではない。欠陥有りの部分的欠陥画
像データ70と付属情報80とをRAM8やEEPRO
M16などの記憶手段の保存エリアの別の領域に分けて
保存し、両者を関係付けるデータ、すなわち当該の部分
的欠陥画像データ70を格納するアドレスと当該の付属
情報80を格納するアドレスとを関係付けたデータをさ
らに保存すればよいのである。
【0041】なお、RAM8やEEPROM16などの
記憶手段として大容量のものを採用し、多数の欠陥有り
の部分的欠陥画像データおよびそれに関連する付属情報
をまとめて、すなわちデータベース化して保存しておく
ようにすれば、異常の発生原因や発生箇所などについて
の解析を統計的に行う上で有利となる。検査要員や解析
要員は、欠陥の発生がいつから始まっていつまで続いた
か、欠陥が量的にどのように変化していったかを解析す
る。
【0042】以上のように、本実施の形態の画像処理装
置においては、トレイ画像50において複数の部品画像
60のうち1つでも欠陥有り(位置ずれや形状異常など
有り)と判定したとは、従来技術のように1フレーム分
全体の画像データを丸ごと保存するのではなく、その欠
陥を含んでいる部分的欠陥画像データ70のみを選択的
に切り出して保存するので、記憶容量が限られているR
AM8やEEPROM16などの記憶手段においても、
そのような部分的欠陥画像データ70の保存件数を増や
すことができる。すなわち、メモリフルになるまでの保
存件数が従来技術に比べて大幅に増加する。部分的欠陥
画像データ70とともに座標データを付属情報80とし
て保存するが、付属情報80の容量は少ないものです
む。6つの部品画像60のうち1つだけ欠陥があるとき
には、図5や図6から推測できるように使用する記憶容
量は従来技術の場合の6分の1以下となることは明らか
である。特に、欠陥が連続して発生した場合であって
も、あるいは間欠的ではあっても頻繁に発生する場合で
あっても、メモリフルに至るまでには充分なマージンを
確保することができる。したがって、新たな欠陥発生に
対してそれ以上の保存ができなくなってしまうまでの記
憶容量のゆとりがある。あるいは、最も古いNG画像デ
ータ(部分的欠陥画像データ)を破棄したうえで最新の
NG画像データ(部分的欠陥画像データ)を格納しなけ
ればならない状態に至るまでの記憶容量のゆとりがあ
る。したがって、欠陥の発生が多くて時系列的に累積し
ていっても、そのすべてのあるいはほとんど大部分の欠
陥有りの部分的欠陥画像データ70を保存しておくこと
ができ、あとでの欠陥原因解析を有利に進めることがで
きる。そして、この利点を発揮させるのに、ことさらに
記憶容量を大きくする必要がなくて、コスト面での負担
の増大を抑制できる。さらに、部分的欠陥画像データ7
0をRAM8やEEPROM16などの記憶手段に転送
する時間は、1フレーム分全体の画像データを丸ごと転
送する場合よりも短くなる。
【0043】そして、あとの欠陥原因解析において、欠
陥を示す映像を再生するに際しては、RAM8やEEP
ROM16などの記憶手段から正常全画像データ200
を読み出すとともに、異常(NG)とされた部分的欠陥
画像データ70を読み出し、付属情報80が示す座標デ
ータに基づいて部分的欠陥画像データ70を正常全画像
データ200の所定の位置において画像合成して、全体
の中で部分の欠陥を含んだ状態の合成画像データ300
を生成して、それをモニタ12に表示するので、欠陥の
ある画像データの再現性を良好なものにすることがで
き、欠陥原因等をチェックするうえで不都合は生じな
い。
【0044】以上、一つの実施の形態について説明して
きたが、本発明は次のように構成したものも含み得るも
のとする。
【0045】(1)重要と考えられる変形の実施の形態
として、異常(NG)とされた部分的欠陥画像データ7
0とそれに関連する付属情報80との複合データ90を
保存するデバイスとして、画像処理装置1に内蔵し、バ
ス10に接続した図1で二点鎖線で示すEEPROM1
6とするのが好ましい。EEPROM16は不揮発性メ
モリであり、長期間の記憶が可能である。また、電気的
にデータ消去することも可能であり、非常に好都合であ
る。
【0046】(2)上記の(1)の変形として、EEP
ROMを入出力インターフェイス9を介して外部に接続
するのでもよい。
【0047】(3)複合データ90を保存する箇所とし
て、RAM8やEEPROM16などの記憶手段以外の
ものとして、外部記憶装置15を利用するように構成し
てもよい。その外部記憶装置15としては、例えば、ハ
ードディスクドライブなどの磁気記録デバイス、MO
(Magneto Optics)ディスクドライブやDVD‐RAM
ドライブなどの光磁気記録デバイス、フラッシュメモ
リ、EEPROMその他の不揮発性メモリなどの半導体
記憶デバイスなどがあり、さらにはVTR(ビデオテー
プレコーダ)などでもよいものとする。
【0048】(4)フレームメモリ5に代えてフィール
ドメモリでもよいし、その他のメモリでもよい。
【0049】(5)フレームメモリ5をシステムメモリ
としてのRAM8と共用することも可能である。
【0050】(6)計測対象物30が所定の検査ポイン
トDPに到達したことを検出する到達検出手段について
は、上記の実施の形態の光電センサ22に代えて、超音
波センサ、圧電センサ、リミットスイッチなど何であっ
てもよい。あるいは、CCDカメラ2で撮像して得られ
た画像データの画像処理に基づいて、すなわち画像デー
タに対して到達検出用のサーチウインドウを設定して、
ソフトウェア的に到達検出を判定するように構成しても
よい。
【0051】(7)計測対象物30としては何も複数の
部品40を載置したトレイ30に限る必要はなく、ま
た、検査対象としては何も部品40の位置ずれや形状相
違などに限る必要はなく、画像処理による検査が可能な
ものであれば、どのようなものを検査対象としてもよ
い。半製品または製品に貼り付けられ、あるいは印刷さ
れているラベルの面積の判定でもよいし、半製品または
製品そのもののサイズの判定など何であってもよい。
【0052】(8)カメラ・表示コントローラ4は、フ
レームメモリ5への画像データの書き込みと並行して、
その書き込んだ画像データをフレームメモリ5から読み
出し、D/A変換器11に転送し、モニタ12に映像を
リアルタイムで表示したが、このようなリアルタイムの
表示はしなくてもよい。つまり、モニタ12を異常判定
のときだけリアルタイムに表示動作させるようにしても
よいし、あるいはそれもなくして、異常の原因究明のと
きにだけ用いるようにすることも可能である。
【0053】(9)欠陥有りのときの部分的欠陥画像デ
ータ70等の保存に際しては、画像データを圧縮してか
ら保存するように構成してもよい。この場合、表示に際
しては画像伸張して表示するものとする。
【0054】(10)モデムカードやISDNカードを
利用して公衆回線あるいは専用回線を介して画像データ
等を遠隔の端末に送出するように構成してもよい。
【0055】(11)上記の実施の形態では、欠陥のあ
る検査対象の画像データについて部分的欠陥画像データ
70に付属情報80を関連付けて複合データ90とな
し、これを保存するようにしたが、これとともに、正常
とされるOK画像データについても同様に、付属情報を
関連付けて複合データとなして保存するように構成して
もよい。
【0056】(12)その他本発明の要旨と直接に関係
しない任意の事項については、公知の任意のものが適用
可能であり、また、公知以外のものであっても、本発明
の要旨を逸脱しない範囲において適用可能であることは
いうまでもない。
【0057】上記の(1)〜(12)は互いに独立した
事項であり、これらのうち任意の事項を任意数適当に組
み合わせてもよきものとする。
【0058】
【発明の効果】画像処理装置についての請求項1の発明
によれば、欠陥のある検査対象の画像情報の保存件数を
増やすことができるとともに、記憶エリアに対する部分
的欠陥画像データの転送を短時間に行うことができ、さ
らに保存するのが一部分を切り出した部分的欠陥画像デ
ータであっても、全領域での占める位置を示す付属情報
を併せて保存するから、欠陥有りの検査対象の映像の再
現およびチェックは良好に行うことができる。また、請
求項2の発明によっても、上記請求項1と同様の効果が
得られる。
【0059】請求項3の発明によれば、上記請求項1の
効果に加えて、再生に際して、正規の位置関係で部分的
欠陥画像データを正常全画像データに画像合成したうえ
で再生させるので、意義ある情報を欠損することなく、
良好で精度の高い再現性を確保することができ、欠陥原
因等をチェックするうえで好都合となる。また、請求項
4の発明によっても、上記請求項3と同様の効果が得ら
れる。
【0060】請求項5の発明によれば、生産ライン等で
搬送される検査対象について、検査対象をタイミング良
く撮像し、効率良く検査することができ、また、上記と
同様の効果が得られる。
【0061】請求項6の発明によれば、位置ずれまたは
品種違いの判定において、本発明を好適に実施すること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態の画像処理装置の電気的
構成を示すブロック図
【図2】 実施の形態の画像処理装置を適用する生産ラ
イン検査システムの概要の説明図
【図3】 実施の形態の生産ライン検査システムで搬送
されるトレイとそれに載置されている複数の部品とを示
す概略の平面図
【図4】 実施の形態の画像処理装置によるパターンマ
ッチングの動作説明図
【図5】 実施の形態の画像処理装置によるパターンマ
ッチングで欠陥有りすなわち位置ずれ有りと判定される
場合の動作説明図
【図6】 実施の形態の画像処理装置によるパターンマ
ッチングで欠陥有りすなわち形状相違と判定される場合
の動作説明図
【図7】 欠陥有りとされる部品画像が複数ある場合の
パターンマッチングの動作説明図
【図8】 実施の形態の画像処理装置のパターンマッチ
ングの際の動作を示す概略のフローチャート
【図9】 実施の形態の画像処理装置においてその記憶
手段に格納されている正常全画像データのフォーマット
【図10】 実施の形態の画像処理装置における正常全
画像データと部分的欠陥画像データとの画像合成の動作
説明図
【図11】 実施の形態の画像処理装置における欠陥原
因解析の際の動作を示す概略のフローチャート
【符号の説明】
1…画像処理装置、2…CCDカメラ、3…A/D変換
器、4…カメラ・表示コントローラ、5…フレームメモ
リ、6…CPU、7…ROM、8…RAM、9…入出力
インターフェイス、10…バス、11…D/A変換器、
12…モニタ、13…入力操作部、14…警報器、15
…外部記憶装置、16…EEPROM、20…生産ライ
ン検査システム、21…搬送手段、22…到達検出手段
(光電センサ)、23…ケーブル、30…計測対象物
(トレイ)、31…載置面、32…立ち上がり壁、40
…部品、50…トレイ画像、51…載置面画像、52…
立ち上がり壁画像、60…部品画像、70…部分的欠陥
画像データ、80…付属情報、90…複合データ、10
0…取り込み画像データ全領域、200…正常全画像デ
ータ、300…合成画像データ、DP…検査ポイント、
DS…計測サーチ領域、DT…計測対象基準画像検出領
域、X…搬送方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G051 AA90 AB02 AB20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA12 EA14 EB01 EB02 ED07 FA10 5B057 BA02 BA11 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CB19 CC03 CE08 CE09 CH11 DA03 DA16 DB02 DB09

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮像した検査対象の画像データについて
    の画像処理に基づいて欠陥の有無を判定し、欠陥有りと
    判定したときに当該の欠陥有りの部分的欠陥画像データ
    のみを切り出すとともに、取り込み画像データ全領域で
    のその部分的欠陥画像データが占める座標についての付
    属情報とともに前記部分的欠陥画像データを保存するよ
    うに構成してあることを特徴とする画像処理装置。
  2. 【請求項2】 検査対象の撮像手段と、撮像で得られる
    画像データの一時記憶手段と、前記画像データを画像処
    理し判定基準に従って欠陥の有無を判定する手段と、欠
    陥有りと判定したときに当該の欠陥有りの部分的欠陥画
    像データのみを切り出す手段と、取り込み画像データ全
    領域でのその部分的欠陥画像データが占める座標につい
    ての付属情報を生成する手段と、前記部分的欠陥画像デ
    ータと前記付属情報とを関連付ける手段と、その関連付
    けられた複合データを保存する手段とを備えていること
    を特徴とする画像処理装置。
  3. 【請求項3】 撮像した検査対象の画像データについて
    の画像処理に基づいて欠陥の有無を判定し、欠陥有りと
    判定したときに当該の欠陥有りの部分的欠陥画像データ
    のみを切り出すとともに、取り込み画像データ全領域で
    のその部分的欠陥画像データが占める座標についての付
    属情報とともに前記部分的欠陥画像データを保存し、再
    生に際してあらかじめ登録しておいた正常全画像データ
    に対して前記部分的欠陥画像データを前記付属情報に基
    づいて位置合わせして画像合成するように構成してある
    ことを特徴とする画像処理装置。
  4. 【請求項4】 検査対象の撮像手段と、撮像で得られる
    画像データの一時記憶手段と、前記画像データを画像処
    理し判定基準に従って欠陥の有無を判定する手段と、欠
    陥有りと判定したときに当該の欠陥有りの部分的欠陥画
    像データのみを切り出す手段と、取り込み画像データ全
    領域でのその部分的欠陥画像データが占める座標につい
    ての付属情報を生成する手段と、前記部分的欠陥画像デ
    ータと前記付属情報とを関連付ける手段と、その関連付
    けられた複合データを保存する手段と、あらかじめ正常
    全画像データを登録しておく手段と、再生に際して前記
    正常全画像データと前記部分的欠陥画像データと前記付
    属情報とを読み出し前記付属情報に基づいて前記部分的
    欠陥画像データを前記正常全画像データに対して位置合
    わせして画像合成する手段と、その画像合成で得られた
    合成画像データを読み出して表示用の映像信号に変換す
    る手段とを備えていることを特徴とする画像処理装置。
  5. 【請求項5】 前記検査対象が搬送されるものであり、
    その搬送経路の所要の検査ポイントに前記検査対象が到
    達したことを検出する到達検出手段を備えており、この
    到達検出手段による検出信号をトリガとして前記検査対
    象の撮像および欠陥判定を行うように構成してあること
    を特徴とする請求項1から請求項4までのいずれかに記
    載の画像処理装置。
  6. 【請求項6】 前記検査対象における検査項目が取り込
    み画像データに含まれる複数の部分画像の位置ずれまた
    は品種違いとされていることを特徴とする請求項1から
    請求項5までのいずれかに記載の画像処理装置。
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