JP2005123873A - 固体撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 製品出荷後に撮像素子の画素欠陥を検出し記憶させる際に、その時の条件等によって有効な画素欠陥情報が消失することを防ぐことが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】 出荷後に新たに画素欠陥を検出した場合には、追記する時点より過去に追記された画素欠陥情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する。また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。
【選択図】 図1
【解決手段】 出荷後に新たに画素欠陥を検出した場合には、追記する時点より過去に追記された画素欠陥情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する。また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。
【選択図】 図1
Description
本発明は、CCD、CMOSセンサ等の固体撮像素子を用いた撮像装置、特に画素欠陥の補正技術に関するものである。
従来、固体撮像装置においては画素欠陥について次のような対応がなされている。即ち、画素数が少ない場合には画素欠陥のない素子を用いることによって画像上にキズが発生するのを防いでいる。また、画素数が増えてきた場合には画素欠陥をなくすことは非常に難しく、可能であっても歩留まり低下に伴うコストの上昇を招いている。そのため、製品出荷直前に画素欠陥の位置等を検査して製品固体毎に記憶させ、補正回路によってキズを目立たなくする処理を行った後に出荷している。
ところが、近年、製品出荷後の画素欠陥が問題になってきている。画素欠陥は宇宙線によって増加することが人工衛星に搭載された固体撮像装置での画素欠陥発生解析によって判明している。そのため、航空機等による地球上の運搬によっても発生する可能性があり、製品購入者が海外旅行等を行うことによって次第に画素欠陥が増加してしまう危険性がある。
そこで、このような課題を解決する方法として、例えば、特開平05−236358号公報には、自動的に画素欠陥情報を検出して記憶させる方法が提案されている(特許文献1参照)。
特開平05−236358号公報
特許文献1の方法では、新たに画素欠陥を検出した場合には、既記憶の画素欠陥情報に上書きしたり、既記憶情報を消去した後に記憶させたり、或いは記憶領域の中の空いている領域にのみ追記している。
画素欠陥の度合いは検出時の温度や蓄積時間によっても変化するため、検出動作を実行する時の蓄積時間が短すぎたり、自動的に検出する場合でも環境温度が低い場合には、適正に画素欠陥が検出されないことがあった。そのため、上述のように既記憶の画素欠陥情報に上書きしたり、既記憶情報を消去した後に記憶させると、もとの画素欠陥情報が消去してしまい、ほとんど何も検出されなかった無意味な情報を上書きすることがあった。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的は、もとの有効な画素欠陥情報を失うことがなく、環境温度等によらず画素欠陥を補正することが可能な撮像装置を提供することにある。
本発明は、上記目的を達成するため、固体撮像素子の画素欠陥を検出する手段と、検出された画素欠陥情報を記憶する手段と、前記画素欠陥情報に基づいて欠陥画素の画像信号を補正する手段とを有する撮像装置において、前記検出手段により検出された画素欠陥情報を前記記憶手段に追記する場合に、追記する時点より過去に追記された情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する手段を有することを特徴とする。
本発明によれば、過去に記録された画素欠陥情報を消去することなく画素欠陥情報を追記することにより、環境温度等によらず画素欠陥を補正することができる。また、記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きい順或いは検出時期の新しい順に順位付けを行い、順位の大きいものから追記することにより、効率的に欠陥画素を補正することができる。
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の撮像装置の一実施形態を示すブロック図である。なお、図1は本発明をデジタルスチルカメラに実施した場合のシステム構成を示す。また、本発明はデジタルスチルカメラに限ることなく、ビデオカメラ等にも使用することができる。
図1において、101は複数の画素を有するCCD撮像素子、102は撮像素子101の画像信号をデジタル化するCDS−A/Dコンバータ、103は画像を一時保存するメモリ、104はJPEG圧縮を行う圧縮回路、105は撮影データの信号処理を行うDSP回路である。
また、106はメモリ等を制御するメモリコントローラ、107はD/Aコンバータ、108はカラー液晶表示部、109はシャッタースイッチ、110は装置全体を制御するシステムコントローラ、111は最終画像を記憶するカードメモリ、112はファームウエアデータを記憶しておくFROM、113は画素欠陥を検出する時に操作するスイッチである。
被写体を撮影する場合には、被写体像が図示しない光学系によってCCD撮像素子101面上に結像される。CCD撮像素子101によって光電変換された電気信号はCCD出力信号としてCDS−A/Dコンバータ102に入力され、デジタル信号としてメモリコントローラ106を介して1画面分のデータがメモリ103に蓄えられる。
メモリ103内の撮影データはメモリコントローラ106を経由してDSP回路105に送られ、DSP回路15で信号処理され、更に、JPEG圧縮回路104で圧縮処理された後、図示しないI/Fを経由してカードメモリ111に記録される。システムコントローラ110はCCDドライバー(図示せず)を駆動する信号の発生或いはメモリコントローラ106の制御等を行う。
また、不図示の画像表示スイッチをオンにすれば、A/D変換されたデータはメモリ103に取り込まれることなくそのままDSP回路105に入力され、DSP回路105で信号処理された後、D/Aコンバータ107でアナログ化されてカラー液晶表示部108に出力される。カラー液晶表示部108は撮影した画像の表示に用いられる。
システムコントローラ110には画素欠陥スイッチ113が接続され、画素欠陥検出を行う時にユーザーがこの画素欠陥スイッチ113をオンすると、システムコントローラ110の制御によって画素欠陥検出を行う。この時、システムコントローラ110は、例えば、自動的にシャッターを押す等の制御を行い、その時のCCD撮像素子101の出力をA/Dコンバータ102から取り込み、各画素の信号レベルを検出する。そして、後述するように得られた信号レベルに基づいて画素欠陥を検出する。
同様に、システムコントローラ110にはFROM(不揮発性の書き換え可能メモリ)112が接続され、その中には検出された欠陥画素情報等が保持されている。
また、システムコントローラ110はメモリ103に画像データが取り込まれた直後、FROM112に書かれた画素欠陥情報に基づいて該当する番地の上下左右の同色周囲画素データの補間データで欠陥画素データを書き換え、信号処理することで欠陥画素の補正を行う。
図2は工場出荷時における画素欠陥情報を示す図である。図2の例では画素欠陥情報として8箇所の情報を記憶できるようになっており、工場出荷時には5箇所の情報が記憶されている。画素欠陥情報はCCD撮像素子101の画素欠陥位置を示す座標Xと座標Y、及び画素欠陥レベル(この場合単位:mV)から成り立っており、番号順位は欠陥レベルの大きい順になっている。欠陥レベルとしては、上述のようにCCD撮像素子101の信号レベルが用いられ、画素欠陥の程度が大きいほど信号レベルは大きくなる。
図3は工場出荷後に1回目の画素欠陥検出を行った時の結果を示す。1回目の画素欠陥検出動作では、新たに4,5,6番目の画素欠陥が検出されているが、1,2,3及び7,8番目の画素欠陥については既に記憶されているためそのままとし、新たに4,5,6番目の画素欠陥が記憶されている(*印で示す)。また順位については、7,8番目よりも欠陥レベルが大きいため上位として記憶されている。この場合、もともと記憶されていた情報は消去されておらず、新たな画素欠陥情報が追記されているので、欠陥情報を失うことがなく、いかなる環境温度でも画素欠陥を補正することが可能である。
図4は更に2回目の画素欠陥検出を行った時の結果を示す。この検出動作では図3に示す欠陥画素に加えて、座標X:900、座標Y:700、欠陥レベル:3の画素欠陥が検出されている。
また、すでに検出された座標位置ではあるが、座標X:250、座標Y:150、欠陥レベル:7の、欠陥レベルが上昇した画素欠陥が検出されている。この場合には、新たに検出された欠陥レベルを欠陥レベルとする。そのため、図4に示すように(**印で示す)、8番目の情報が入れ替わると共に4番目の情報の欠陥レベルが追記されている。
本実施形態では、より欠陥レベルの大きい欠陥画素情報を記憶させることができ、記憶領域が一杯になってしまっても、効果的に画素欠陥を記憶、補正することが可能である。即ち、図3、図4の例では、欠陥レベルの大きい順に画素欠陥情報を記憶させている。そのため、記憶領域が満杯であるか、或いは追記しようとする情報の全てを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きい順に画素欠陥情報を記憶させることによって、欠陥レベルの大きい欠陥画素を優先して補正するようにしている。
図5は欠陥画素情報として検出時期を要素として記憶させる場合の例を示す。図5の例では工場出荷時期を2001年1月とし、その工場出荷時に2番目の画素欠陥情報が記憶され、その時期も記憶されている。その後、約1年間経過後の2002年1月に画素欠陥検出動作が実行され、1番目の画素欠陥が新たに検出されている(*印)。この場合、1番目の画素欠陥の方が新しいため、上位に追記されている。なお、この例でも同様に画素欠陥情報は8個の情報を記憶できるようになっている。
本実施形態では、検出時期が新しい順に画素欠陥情報を記憶させており、記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、検出時期が新しい順に画素欠陥情報が記憶されるため、検出時期が新しい欠陥画素を優先して補正するようにしている。これは、検出時期が新しいほど画素欠陥の信頼度が高いという理由に基づいている。
なお、以上の実施形態では、欠陥レベルと検出時期を別に記憶する例を説明したが、もちろん両方とも記憶させても良い。その場合には、欠陥レベルの大きい順に記憶させるのか、或いは検出時期の新しい順に記憶させるのかを決めておけばよいし、或いは、ユーザーがいずれか1つを選択するようにすることも可能である。
また、画素欠陥検出を画素欠陥スイッチ113の操作によって実行すると説明したが、自動的にファームウエアによって実行することも可能である。その場合には、例えば、定期的に欠陥画素の検出を行う、或いは環境温度が一定温度以上変化した時に欠陥画素の検出を行う等の方法がある。更に、FROM112に記憶する画素欠陥情報の個数を8個としたが、それ以上の個数を記憶できるようにしても良いことは勿論である。
101 CCD撮像素子
102 CDS−A/Dコンバータ
103 メモリ
104 JPEG圧縮回路
105 DSP回路
106 メモリコントローラ
107 D/Aコンバータ
108 カラー液晶表示部
109 シャッタースイッチ
110 システムコントローラ
111 カードメモリ
112 FROM
113 画素欠陥スイッチ
102 CDS−A/Dコンバータ
103 メモリ
104 JPEG圧縮回路
105 DSP回路
106 メモリコントローラ
107 D/Aコンバータ
108 カラー液晶表示部
109 シャッタースイッチ
110 システムコントローラ
111 カードメモリ
112 FROM
113 画素欠陥スイッチ
Claims (5)
- 固体撮像素子の画素欠陥を検出する手段と、検出された画素欠陥情報を記憶する手段と、前記画素欠陥情報に基づいて欠陥画素の画像信号を補正する手段とを有する撮像装置において、前記検出手段により検出された画素欠陥情報を前記記憶手段に追記する場合に、追記する時点より過去に追記された情報を消去することなく、新たに検出された画素欠陥情報を追記する手段を有することを特徴とする固体撮像装置。
- 前記追記手段は、前記記憶手段の記憶領域が満杯か、或いは追記しようとする情報の全てを記憶しきれない場合には、前記記憶手段に記憶されている既画素欠陥情報と追記しようとする画素欠陥情報に含まれている属性情報を比較して順位付けを行い、その上位から順に追記することを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。
- 前記画素欠陥情報は欠陥画素の位置情報とそれ以外の少なくとも1つの属性情報を含んでおり、既画素欠陥情報の位置と同じ位置に画素欠陥が検出された場合には、前記属性情報を比較して順位の大きい方を選択することを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。
- 前記属性情報は、画素欠陥の程度を示す欠陥レベルであることを特徴とする請求項2又は3に記載の固体撮像装置。
- 前記属性情報は、画素欠陥の検出時期であることを特徴とする請求項2又は3に記載の固体撮像装置。
Priority Applications (2)
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---|---|---|---|
JP2003356442A JP2005123873A (ja) | 2003-10-16 | 2003-10-16 | 固体撮像装置 |
US10/955,446 US7657116B2 (en) | 2003-10-08 | 2004-09-30 | Correction method of defective pixel in image pickup device and image processing apparatus using the correction method |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003356442A JP2005123873A (ja) | 2003-10-16 | 2003-10-16 | 固体撮像装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010050656A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | Panasonic Corp | 欠陥画素検出装置および欠陥画素補正装置 |
JP2013093816A (ja) * | 2011-10-27 | 2013-05-16 | Canon Inc | 撮像装置、その制御方法及びプログラム |
US8920942B2 (en) | 2006-03-23 | 2014-12-30 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Organic electroluminescent element, display device and illuminating device |
-
2003
- 2003-10-16 JP JP2003356442A patent/JP2005123873A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8920942B2 (en) | 2006-03-23 | 2014-12-30 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Organic electroluminescent element, display device and illuminating device |
JP2010050656A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | Panasonic Corp | 欠陥画素検出装置および欠陥画素補正装置 |
US8169514B2 (en) | 2008-08-21 | 2012-05-01 | Panasonic Corporation | Defective pixel detecting device, defective pixel detecting method, record medium storing a program for detecting defective pixels, and imaging apparatus |
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